材料分析复习题
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(a)以 为半径作一球；
(b)将球心置于衍射晶面与入射线的交点。
(c)初基入射矢量由球心指向倒易阵点的原点。
(d)落在球面上的倒易点即是可能产生反射的晶面。
(e)由球心到该倒易点的矢量即为衍射矢量。
布拉格方程
布拉格方程的导出、各项参数的意义，作为产生衍射的必要条件的含义。
布拉格方程只是确定了衍射的方向,在复杂点阵晶脆中不同位置原子的相同方向衍射线,因彼此间有确定的位相关系而相互干涉,使得某些晶面的布拉格反射消失即出现结构消光,因此产生衍射的充要条件是满足布拉格方程的同时结构因子不为零
PDF、ASTM、JCPDS卡片组成以及各项目的含义
索引
数字索引（哈那瓦特索引）、字母索引的建立方法与原理，为什么要引入哈那瓦特索引。
索引中各项的含义
物相定性相分析
利用哈那瓦特索引进行单相物相分析的一般步骤。
(1)计算相对强度(归－化)
(2)按强度大小排列值
(3)从前反射区中选取强度最大的三根衍射线
综合题
1. 请总结一下，前面所学的测试方法中，相分析的方法有那几种？元素成分分析的方法有那几种？简述一下它们的优缺点
2. 一种材料中含有CaCO3相，应用何方法分析？如要监测铁元素的影响应用何方法？为什么？
3. 一种样品其某中元素的含量在10－3克/ 克以下，你认为应用那种方法分析合适？为什么？
试题类型举例：
5．薄晶体衍射花样的特点？它与零层倒易平面的关系？为何能用电子衍射花样进行相分析？电子衍射时，电子是透过样品的，因此要求样品很薄，这样参与衍射的原子层仅有几十~几百个原子层面。在布拉格角处强度分布很宽，所以即使略为偏离布拉格条件的电子束也不能忽略其强度，即亦可能产生衍射，因此可在一个方向上获得多个晶面衍射所形成的衍射花样。这些花样与原来实际晶体之间具有一定的相关性，事实上它们与该方向的零层倒易平面近似重合，由此即可分析原来晶体的结构。
多晶衍射花样：相同晶面间距的晶面所产生的衍射斑点构成以透射斑点为中心的同心圆。
10．单晶衍射花样的特点？衍射花样的基本标定方法。（衍射花样中测量那些基本参数）
单晶衍射花样：各个晶面产生的衍射斑点构成以透射斑为中心的平行四边型。
指数直接标定法:已知相机常数和样品的晶体结构
(a)测量靠近中心斑点的几个衍射斑点至中心斑点距离及R1、R2、R3、R4，(如图所示)。；
(g) 一旦决定了两个斑点，那未其它斑点可以根据矢量运算求得。
(h) 根据晶带定理求零层倒易截面法线的方向，即晶带轴的指数。
11．衍射花样指标化的表示方法。
所有衍射花样仅限于立方晶系
第十一章
1．什么是质厚衬度?形成的基本原理是什么?（物镜光栏的作用）
2．提高复型图像衬度有那些途径?为什么?
3．什么是衍射衬度？其形成的基本原理是什么？
(2)选区衍射是有误差的，这种误差就是像与衍射谱的不对应性。造成这种误差的原因是：
磁旋转角：像和谱所使用的中间镜电流不同，磁旋转角不同。
物镜球差：Csa3
物镜聚焦：Da 后两种引起的总位移 h= Csa3±Da
因此，为减小选区衍射的的误差，需采用正确的选区方法。
9．多晶衍射花样的特点？衍射花样的标定。利用多晶衍射花样测定相机常数的方法。
第二章X射线的方向
晶体几何学基础
晶体的定义、空间点阵的构建、七大晶系尤其是立方晶系的点阵几种类型
在自然界中，其结构有一定的规律性的物质通常称之为晶体
晶向指数、晶面指数（密勒指数）定义、表示方法，在空间点阵中的互对应
晶带、晶带轴、晶带定律，立方晶系的晶面间距表达式
倒易点阵定义、倒易矢量的性质
厄瓦尔德作图法及其表述，它与布拉格方程的等同性证明
6．简要说明厄瓦尔德作图法，并证明它与布拉格方式的等同性。
7．试用厄瓦尔德作图法导出电子衍射的基本公式：Lλ=Rd（相机长度、相机常数的意义？）
8．选区衍射的意义？为何要正确操作？
（1）选区衍射是通过在物镜象平面上插入选区光阑限制参加成象和衍射的区域来实现的。其目的是能够做到选区衍射和选区成象的一致性。
4．电子衍射花样形成的原理是什么？为何能进行相分析？
布拉格定律告诉我们，当一束平行的相干电子波射向一晶体时，在满足布拉格定律的情况下，将会产生一定的衍射，这些衍射线在通过透镜后，在焦面上将会聚于一点。如果一个晶体同时有几族晶面产生衍射，在物镜后焦面上均会聚成一些衍射斑点，这些衍射斑点经后级透镜成像后就记录下来，它们之间具有一定的规律,构成一定的花样，这就是我们所记录的衍射花样。
(b)根据衍射基本公式，求出相应的晶面间距；
(c) 因为晶体结构足已知的，每一 d值即为该晶体某一晶面族的晶面间距。故可根据d值定出相应的晶面族指数。
(d) 测定各衍射斑点之间的夹角φ。
(e) 决定离开中心斑点最近衍射斑点的指数。
(f) 决定第二斑点的指数。第二个斑点的指数不能任选，因为它和第一个斑点间的夹角必须符合夹角公式。
等组成的联合装置，所用的试样形状是。（X射线发生器、测角仪、探测器、控制与记录单元，平板）
二、名词解释
1、连续X射线：当高速运动的电子(带电粒子)与原子核内电场作用而减速时会产生电磁辐射,这种辐射所产生的X射线波长是连续的,故称之为～。
2、二次特征辐射（X射线荧光）：由X射线所激发出的二次特征X射线叫X射线荧光。
4．复型样品的基本制备方法有几种？简述塑料－碳二级的基本制备方法，并用图示之。
5．薄膜样品的制备易点阵的概念、厄瓦尔德作图法的应用。
2．晶带定律及其应用。
3．二维零层倒易点阵的画法（立方晶系）。如：试画出面心立方点阵及其（001）晶带轴的二维零层倒易点分布。
6.二次电子像景深很大，样品凹坑底部都能清楚地显示出来，从而使图像的立体感很强，其原因何在?
第十三章
1．为什么能用X射线进行成分分析？
2．利用何种X射线进行成分分析？为什么？
3．波谱仪进行成分分析的原理？能谱仪进行成分分析的原理？（定性、定量）
4．能谱仪、波谱仪进行成分分析的优缺点？两者的主要差别？
一、填空
在光学系统中除衍射效应影响其分辨本领外，像差的存在是影响透镜分辨本领的主要因素，磁透镜的像差主要有：、、。（像散、球差、色差）
X射线衍射仪是由____________________、_____________________、___________________、__________________
复习的重点及思考题
第一章X射线的性质
X射线产生的基本原理。
X射线的本质―――电磁波、高能粒子、物质
X射线谱――管电压、电流对谱的影响、短波限的意义等
高能电子与物质相互作用可产生哪两种X射线？产生的机理？
连续X射线：当高速运动的电子(带电粒子)与原子核内电场作用而减速时会产生电磁辐射,这种辐射所产生的X射线波长是连续的,故称之为～
干涉指数引入的意义，与晶面指数（密勒指数）的关系
干涉指数HKL与Miller指数hkl之间的关系有：
H= nh ,K= nk ,L= nl
不同点：（1）密勒指数是实际晶面的指数，而干涉晶面指数不一定；
（2）干涉指数HKL与晶面指数( Miller指数) hkl之间的明显差别是：
干涉指数中有公约数，而晶面指数只能是互质的整数。
特征(标识)X射线：由原子内层电子跃迁所产生的X射线叫做特征X射线。
X射线与物质的相互作用
两类散射的性质
二次特征辐射（X射线荧光）、饿歇效应产生的机理与条件
二次特征辐射（X射线荧光）：由X射线所激发出的二次特征X射线叫X射线荧光。
俄歇电子：俄歇电子的产生过程是当原子内层的一个电子被电离后，处于激发态的电子将产生跃迁，多余的能量以无辐射的形式传给另一层的电子，并将它激发出来。这种效应称为俄歇效应。
(4)在索引中找出值对应的那一组
(5)按次强线的面间距找到接近的那一相再看值是否一致
(6)如三强线值一致,再选取八强线进行对应比较,如符合得较好,则记下卡片号
(7)由卡片上的数据,划出属于该相的线条
(8)记下该相相应的物理参数
物相定性分析结果的表示
第七章
1.光学显微镜的局限性的根本原因是什么？
2.显微系统分辨本领的含义？影响分辨本领的因素？（阿贝公式）
在理想晶体中，如果晶体保持在确定的位向，则晶体的会由于消光现象而出现明暗相间的条纹，此时：因为同一条纹上晶体的厚度是相同的，所以这种条纹叫做等厚条纹。
第十二章
1. SEM中电子束入射固体样品表面会激发哪些信号?它们有哪些特点和用途?（列举至少两种）
2．何为二次电子？何为背反射电子？两者的图像区别？
(1)在扫描电镜中通常采用两种信号观察样品的表面形貌，即：（a）二次电子，（b）背反射电子
相同点：当干涉指数也互为质数时，它就代表一族真实的晶面。
所以说，干涉指数是晶面指数的推广，是广义的晶面指数。
第三章X射线衍射强度
结构因子
原子散射因子、结构因子、系统消光的定义与意义
系统消光：在X射线衍射过程中，把因原子在晶体中位置不同或原子种类不同而引起的某些方向上的衍射线消失的现象称为系统消光。
结构因子：定量表征原子排布以及原子种类对衍射强度影响规律的参数称为结构因子，即晶体结构对衍射强度的影响因子。
2、区分密勒指数(晶面指数)与干涉晶面指数的异同点。
第五章 X射线物相分析
原理
根据X射线衍射图谱进行定性的相分析的依据
每种结晶物质都有特定的结构参数，这些参数均影响这X射线衍射线的位置、强度。
位置：晶胞的形状、大小，即面间距d。
强度：晶胞内原子的种类、数目、位置。
尽管物质的种类多种多样，但却没有两种物质的衍射图是完全相同的。因此，一定物质的衍射线条的位置、数目、及其强度，就是该种物质的特征。当试样中存在两种或两种以上的物质时，它们的衍射花样，即衍射峰，会同时出现，但不会干涉，仅仅衍射线条强度的简单叠加。根据此原理就可以从混合物的衍射花样中将物相一个一个地寻找出来。
(b)将球心置于衍射晶面与入射线的交点。
(c)初基入射矢量由球心指向倒易阵点的原点。
(d)落在球面上的倒易点即是可能产生反射的晶面。
(e)由球心到该倒易点的矢量即为衍射矢量。
布拉格方程
布拉格方程的导出、各项参数的意义，作为产生衍射的必要条件的含义。
布拉格方程只是确定了衍射的方向,在复杂点阵晶脆中不同位置原子的相同方向衍射线,因彼此间有确定的位相关系而相互干涉,使得某些晶面的布拉格反射消失即出现结构消光,因此产生衍射的充要条件是满足布拉格方程的同时结构因子不为零
PDF、ASTM、JCPDS卡片组成以及各项目的含义
索引
数字索引（哈那瓦特索引）、字母索引的建立方法与原理，为什么要引入哈那瓦特索引。
索引中各项的含义
物相定性相分析
利用哈那瓦特索引进行单相物相分析的一般步骤。
(1)计算相对强度(归－化)
(2)按强度大小排列值
(3)从前反射区中选取强度最大的三根衍射线
综合题
1. 请总结一下，前面所学的测试方法中，相分析的方法有那几种？元素成分分析的方法有那几种？简述一下它们的优缺点
2. 一种材料中含有CaCO3相，应用何方法分析？如要监测铁元素的影响应用何方法？为什么？
3. 一种样品其某中元素的含量在10－3克/ 克以下，你认为应用那种方法分析合适？为什么？
试题类型举例：
5．薄晶体衍射花样的特点？它与零层倒易平面的关系？为何能用电子衍射花样进行相分析？电子衍射时，电子是透过样品的，因此要求样品很薄，这样参与衍射的原子层仅有几十~几百个原子层面。在布拉格角处强度分布很宽，所以即使略为偏离布拉格条件的电子束也不能忽略其强度，即亦可能产生衍射，因此可在一个方向上获得多个晶面衍射所形成的衍射花样。这些花样与原来实际晶体之间具有一定的相关性，事实上它们与该方向的零层倒易平面近似重合，由此即可分析原来晶体的结构。
多晶衍射花样：相同晶面间距的晶面所产生的衍射斑点构成以透射斑点为中心的同心圆。
10．单晶衍射花样的特点？衍射花样的基本标定方法。（衍射花样中测量那些基本参数）
单晶衍射花样：各个晶面产生的衍射斑点构成以透射斑为中心的平行四边型。
指数直接标定法:已知相机常数和样品的晶体结构
(a)测量靠近中心斑点的几个衍射斑点至中心斑点距离及R1、R2、R3、R4，(如图所示)。；
(g) 一旦决定了两个斑点，那未其它斑点可以根据矢量运算求得。
(h) 根据晶带定理求零层倒易截面法线的方向，即晶带轴的指数。
11．衍射花样指标化的表示方法。
所有衍射花样仅限于立方晶系
第十一章
1．什么是质厚衬度?形成的基本原理是什么?（物镜光栏的作用）
2．提高复型图像衬度有那些途径?为什么?
3．什么是衍射衬度？其形成的基本原理是什么？
(2)选区衍射是有误差的，这种误差就是像与衍射谱的不对应性。造成这种误差的原因是：
磁旋转角：像和谱所使用的中间镜电流不同，磁旋转角不同。
物镜球差：Csa3
物镜聚焦：Da 后两种引起的总位移 h= Csa3±Da
因此，为减小选区衍射的的误差，需采用正确的选区方法。
9．多晶衍射花样的特点？衍射花样的标定。利用多晶衍射花样测定相机常数的方法。
第二章X射线的方向
晶体几何学基础
晶体的定义、空间点阵的构建、七大晶系尤其是立方晶系的点阵几种类型
在自然界中，其结构有一定的规律性的物质通常称之为晶体
晶向指数、晶面指数（密勒指数）定义、表示方法，在空间点阵中的互对应
晶带、晶带轴、晶带定律，立方晶系的晶面间距表达式
倒易点阵定义、倒易矢量的性质
厄瓦尔德作图法及其表述，它与布拉格方程的等同性证明
6．简要说明厄瓦尔德作图法，并证明它与布拉格方式的等同性。
7．试用厄瓦尔德作图法导出电子衍射的基本公式：Lλ=Rd（相机长度、相机常数的意义？）
8．选区衍射的意义？为何要正确操作？
（1）选区衍射是通过在物镜象平面上插入选区光阑限制参加成象和衍射的区域来实现的。其目的是能够做到选区衍射和选区成象的一致性。
4．电子衍射花样形成的原理是什么？为何能进行相分析？
布拉格定律告诉我们，当一束平行的相干电子波射向一晶体时，在满足布拉格定律的情况下，将会产生一定的衍射，这些衍射线在通过透镜后，在焦面上将会聚于一点。如果一个晶体同时有几族晶面产生衍射，在物镜后焦面上均会聚成一些衍射斑点，这些衍射斑点经后级透镜成像后就记录下来，它们之间具有一定的规律,构成一定的花样，这就是我们所记录的衍射花样。
(b)根据衍射基本公式，求出相应的晶面间距；
(c) 因为晶体结构足已知的，每一 d值即为该晶体某一晶面族的晶面间距。故可根据d值定出相应的晶面族指数。
(d) 测定各衍射斑点之间的夹角φ。
(e) 决定离开中心斑点最近衍射斑点的指数。
(f) 决定第二斑点的指数。第二个斑点的指数不能任选，因为它和第一个斑点间的夹角必须符合夹角公式。
等组成的联合装置，所用的试样形状是。（X射线发生器、测角仪、探测器、控制与记录单元，平板）
二、名词解释
1、连续X射线：当高速运动的电子(带电粒子)与原子核内电场作用而减速时会产生电磁辐射,这种辐射所产生的X射线波长是连续的,故称之为～。
2、二次特征辐射（X射线荧光）：由X射线所激发出的二次特征X射线叫X射线荧光。
4．复型样品的基本制备方法有几种？简述塑料－碳二级的基本制备方法，并用图示之。
5．薄膜样品的制备易点阵的概念、厄瓦尔德作图法的应用。
2．晶带定律及其应用。
3．二维零层倒易点阵的画法（立方晶系）。如：试画出面心立方点阵及其（001）晶带轴的二维零层倒易点分布。
6.二次电子像景深很大，样品凹坑底部都能清楚地显示出来，从而使图像的立体感很强，其原因何在?
第十三章
1．为什么能用X射线进行成分分析？
2．利用何种X射线进行成分分析？为什么？
3．波谱仪进行成分分析的原理？能谱仪进行成分分析的原理？（定性、定量）
4．能谱仪、波谱仪进行成分分析的优缺点？两者的主要差别？
一、填空
在光学系统中除衍射效应影响其分辨本领外，像差的存在是影响透镜分辨本领的主要因素，磁透镜的像差主要有：、、。（像散、球差、色差）
X射线衍射仪是由____________________、_____________________、___________________、__________________
复习的重点及思考题
第一章X射线的性质
X射线产生的基本原理。
X射线的本质―――电磁波、高能粒子、物质
X射线谱――管电压、电流对谱的影响、短波限的意义等
高能电子与物质相互作用可产生哪两种X射线？产生的机理？
连续X射线：当高速运动的电子(带电粒子)与原子核内电场作用而减速时会产生电磁辐射,这种辐射所产生的X射线波长是连续的,故称之为～
干涉指数引入的意义，与晶面指数（密勒指数）的关系
干涉指数HKL与Miller指数hkl之间的关系有：
H= nh ,K= nk ,L= nl
不同点：（1）密勒指数是实际晶面的指数，而干涉晶面指数不一定；
（2）干涉指数HKL与晶面指数( Miller指数) hkl之间的明显差别是：
干涉指数中有公约数，而晶面指数只能是互质的整数。
特征(标识)X射线：由原子内层电子跃迁所产生的X射线叫做特征X射线。
X射线与物质的相互作用
两类散射的性质
二次特征辐射（X射线荧光）、饿歇效应产生的机理与条件
二次特征辐射（X射线荧光）：由X射线所激发出的二次特征X射线叫X射线荧光。
俄歇电子：俄歇电子的产生过程是当原子内层的一个电子被电离后，处于激发态的电子将产生跃迁，多余的能量以无辐射的形式传给另一层的电子，并将它激发出来。这种效应称为俄歇效应。
(4)在索引中找出值对应的那一组
(5)按次强线的面间距找到接近的那一相再看值是否一致
(6)如三强线值一致,再选取八强线进行对应比较,如符合得较好,则记下卡片号
(7)由卡片上的数据,划出属于该相的线条
(8)记下该相相应的物理参数
物相定性分析结果的表示
第七章
1.光学显微镜的局限性的根本原因是什么？
2.显微系统分辨本领的含义？影响分辨本领的因素？（阿贝公式）
在理想晶体中，如果晶体保持在确定的位向，则晶体的会由于消光现象而出现明暗相间的条纹，此时：因为同一条纹上晶体的厚度是相同的，所以这种条纹叫做等厚条纹。
第十二章
1. SEM中电子束入射固体样品表面会激发哪些信号?它们有哪些特点和用途?（列举至少两种）
2．何为二次电子？何为背反射电子？两者的图像区别？
(1)在扫描电镜中通常采用两种信号观察样品的表面形貌，即：（a）二次电子，（b）背反射电子
相同点：当干涉指数也互为质数时，它就代表一族真实的晶面。
所以说，干涉指数是晶面指数的推广，是广义的晶面指数。
第三章X射线衍射强度
结构因子
原子散射因子、结构因子、系统消光的定义与意义
系统消光：在X射线衍射过程中，把因原子在晶体中位置不同或原子种类不同而引起的某些方向上的衍射线消失的现象称为系统消光。
结构因子：定量表征原子排布以及原子种类对衍射强度影响规律的参数称为结构因子，即晶体结构对衍射强度的影响因子。
2、区分密勒指数(晶面指数)与干涉晶面指数的异同点。
第五章 X射线物相分析
原理
根据X射线衍射图谱进行定性的相分析的依据
每种结晶物质都有特定的结构参数，这些参数均影响这X射线衍射线的位置、强度。
位置：晶胞的形状、大小，即面间距d。
强度：晶胞内原子的种类、数目、位置。
尽管物质的种类多种多样，但却没有两种物质的衍射图是完全相同的。因此，一定物质的衍射线条的位置、数目、及其强度，就是该种物质的特征。当试样中存在两种或两种以上的物质时，它们的衍射花样，即衍射峰，会同时出现，但不会干涉，仅仅衍射线条强度的简单叠加。根据此原理就可以从混合物的衍射花样中将物相一个一个地寻找出来。
