EL检测仪的使用方法及组件隐裂图像评估
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便携式组件EL检测仪操作手册
便携式EL检测仪
设备简介:
便携式组件EL检测仪是欧普泰利用光伏组件EL发光原理研发的可检测太阳能组件内部隐裂,通过检测确保光伏组件的发电效率,该设备构造简单,操作方便,便于携带,适用于流动性用户现场检测.
便携式组件EL检测仪为检测太阳能电站组件及来料太阳能电池板的检测设备.
便携式组件EL检测仪的特点优势Features
1。
全天候检测:独家研发的滤光片与暗室使得全天24小时检测变成可能
2. 自动对焦功能: 运用激光技术使得成像系统可以自动对焦
3. 测距功能:运用蓝牙技术轻松观测到测试距离
4. 无线数据传输: 运用wife技术实现平板/手机远程无线控制拍照与图像传输
5. 移动电源:自主开发的移动电源使现场通电变得轻松方便
便携式组件EL检测仪配置
售后服务:
1.保修期:一年
2.保修期内发生的非人为以及非不可抗拒因素(如地震火灾等自然灾害)造成的的固件损坏,承诺完全免费维修。
3.售后支持:24小时内给予答复处理(工作日)同时提供现场及远程技术支持.
4。
保修期外按照公司服务标准
5。
进行工作人员设备的安装使用故障处理培训6.提供操作手册等相关电子及书面手册。
EL检测仪的使用方法及组件隐裂图像评估精品课件(一)随着现代科技的发展,电子元器件逐渐被广泛应用于各个领域。
然而,电子元器件的质量问题却时有发生,这不仅会影响机器的正常运行,还可能会产生较大的安全隐患。
因此,对于电子元器件的质量检测显得尤为重要。
当前,EL检测仪成为了电子元器件质量检测的主要工具之一。
本文将介绍EL检测仪的使用方法及组件隐裂图像评估精品课件。
一、EL检测仪的使用方法1. 准备工作在使用EL检测仪之前,必须要做好准备工作。
首先,需要准备好电子元器件样本和EL检测仪。
其次,在操作之前应详细阅读EL检测仪的使用说明书,并熟悉仪器的使用方法。
最后,对检测环境进行专门安排,保持环境干净,安静,避免对实验的干扰。
2. 开始检测a. 将样品固定在检测台上,接通电源并启动仪器。
b. 在软件界面上选择对应的检测模式,并对检测参数进行设置。
c. 等待仪器自检完成后,可以开始进行检测。
d. 检测过程中,仪器会自动采集样品的光电流数据,并通过软件实时显示样品的发光图像。
e. 检测完成后,可以通过分析光电流数据来确定样品的质量状况,并对发光图像进行评估。
3. 注意事项在使用EL检测仪时,需要注意以下事项:a. 严格按照使用说明书要求进行操作。
b. 应根据实际需求选择适当的检测模式和参数。
c. 在检测过程中应保持安静,避免干扰检测结果。
d. 每次检测完毕后应及时清理仪器,以保证其正常使用。
二、组件隐裂图像评估精品课件组件隐裂图像评估精品课件是一种基于EL检测仪的解决方案,可以帮助用户更好地评估电子元器件的质量。
该课件主要包括以下内容:1. 课件简介介绍课件的目的和使用场景。
2. 检测流程详细介绍EL检测仪的使用流程,并附带相关图片和说明。
3. 组件隐裂检测标准介绍常见的组件隐裂检测标准,包括对检测参数的要求等。
4. 组件隐裂图像篇该篇主要针对检测过程中产生的图像,对图像分析过程进行详细叙述,并提供了评估图像质量的方法。
电致发光(EL)检测方法及其应用Willurpimd, Jacky电致发光,又称场致发光,英文名为Electroluminescence,简称EL。
目前,电致发光成像技术已被很多太阳能电池和组件厂家使用,用于检测产品的潜在缺陷,控制产品质量。
一、EL测试原理EL的测试原理如图1所示【1】,晶体硅太阳电池外加正向偏置电压,电源向太阳电池注入大量非平衡载流子,电致发光依靠从扩散区注入的大量非平衡载流子不断地复合发光,放出光子;再利用CCD相机捕捉到这些光子,通过计算机进行处理后显示出来,整个的测试过程是在暗室中进行。
本征硅的带隙约为1.12eV,这样我们可以算出晶体硅太阳电池的带间直接辐射复合的EL光谱的峰值应该大概在1150nm附近,所以,EL的光属于近红外光(NIR)。
图1 EL测试原理图EL图像的亮度正比于电池片的少子扩散长度与电流密度(见图2【2】),有缺陷的地方,少子扩散长度较低,所以显示出来的图像亮度较暗。
通过EL图像的分析可以有效地发现硅材料缺陷、印刷缺陷、烧结缺陷、工艺污染、裂纹等问题。
图2 EL强度决定于正向注入电流密度和少子扩散长度二、EL图像分析1.隐裂硅材料的脆度较大,因此在电池生产过程中,很容易产生裂片,裂片分两种,一种是显裂,另一种是隐裂。
前者是肉眼可直接观察到,但后者则不行。
后者在组件的制作过程中更容易产生碎片等问题,影响产能。
通过EL图就可以观测到,如图3所示,由于(100)面的单晶硅片的解理面是(111),因此,单晶电池的隐裂是一般沿着硅片的对角线方向的“X”状图形。
图3 单晶硅电池的隐裂EL图及区域放大图但是由于多晶硅片存在晶界影响,有时很难区分其与隐裂,见图4的红圈区域。
所以给有自动分选功能的EL测试仪带来困难。
图4 多晶片的EL图2.断栅印刷不良导致的正面银栅线断开,从图5的EL图中显示为黑线状。
这是因为栅线断掉后,从busbar上注入的电流在断栅附近的电流密度较小,致EL发光强度下降。
光伏板el试验方法
光伏板EL试验方法,也称为光伏EL检测测试,是光伏行业为验证产品、原料、工艺、电站等最终性能是否符合行业标准而按照规定的方法、程序进行的实验室及户外检测。
该方法主要是利用EL测试仪(电致发光),给组件
通反向电压,通过专用相机拍摄组件图片,暗色部分可以看到隐裂、PID、
二极管导通等情况。
在光伏电站建设初期,需要对来料组件进行EL检测,以控制组件出厂质量,以及检查组件运输是否对组件造成影响。
如有EL缺陷可及时与生产制造商
进行沟通处理,避免之后电站质量问题责任划分不清的问题。
具体试验方法如下:
1. 室内EL检测:如现场有室内条件,可找一间封闭的屋子作为测试地点。
测试前需要将屋内的窗户和门进行完全遮挡,以免阳光照射穿透影响测试效果(屋内日光灯对测试无影响)。
测试时,将每块组件斜放在墙体或者其他物体上,使用便携式EL检测仪对组件进行EL测试;测试电源可选用市电测试电源(外供220V)或自供电测试电源(型号:ZS-A10H)。
2. 室外暗室EL检测(白天检测):大多数电站现场不具备室内条件,可以
利用便携式EL检测仪中的便携式暗室,在现场快速搭建暗室进行EL测试。
暗室的外部材料采用防风防水防红外材料,有效的将阳光进行遮挡。
测试时,将每块组件搬运到暗室内部,依靠两侧的组件支撑架进行EL检测(如夜晚
测试无需暗室测试)。
以上内容仅供参考,如需更多信息,建议查阅光伏行业相关书籍或咨询专业人士。