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关于xps考试题及答案一、单项选择题（每题2分，共20分）1. XPS（X射线光电子能谱）技术主要用于分析材料的哪种性质？A. 化学成分B. 晶体结构C. 表面形貌D. 电子结构答案：A2. XPS分析中，最常用的X射线源是哪种？A. 铜靶X射线B. 铝靶X射线C. 镁靶X射线D. 钼靶X射线答案：C3. 在XPS分析中，以下哪种元素的光电子峰最容易被检测到？A. 碳（C）B. 氧（O）C. 钠（Na）D. 金（Au）答案：A4. XPS技术中，以下哪种效应会影响光电子的动能？A. 表面电荷效应B. 光电子的自旋效应C. 光电子的轨道效应D. 光电子的振动效应答案：A5. XPS分析中，如何消除样品表面的污染？A. 通过高温退火B. 通过化学清洗C. 通过物理抛光D. 通过紫外光照射答案：C6. XPS分析中，以下哪种元素的光电子峰具有最高的结合能？A. 氢（H）B. 氦（He）C. 锂（Li）D. 铍（Be）答案：B7. XPS分析中，如何确定样品表面的化学状态？A. 通过测量光电子的动能B. 通过测量光电子的波长C. 通过测量光电子的强度D. 通过测量光电子的角分布答案：A8. XPS分析中，以下哪种元素的光电子峰最难被检测到？A. 碳（C）B. 氧（O）C. 钠（Na）D. 铅（Pb）答案：D9. XPS分析中，如何提高光电子的检测灵敏度？A. 增加X射线的强度B. 增加样品的面积C. 增加光电子的能量D. 增加检测器的灵敏度答案：D10. XPS分析中，以下哪种元素的光电子峰具有最低的结合能？A. 氢（H）B. 氦（He）C. 锂（Li）D. 铍（Be）答案：A二、多项选择题（每题3分，共15分）11. XPS技术可以用于分析以下哪些材料？A. 金属B. 半导体C. 绝缘体D. 生物材料答案：ABCD12. XPS分析中，以下哪些因素会影响光电子的动能？A. 样品表面的电荷效应B. 光电子的自旋效应C. 样品表面的功函数D. 光电子的轨道效应答案：AC13. XPS分析中，以下哪些方法可以用来消除样品表面的污染？A. 高温退火B. 化学清洗C. 物理抛光D. 紫外光照射答案：BCD14. XPS分析中，以下哪些元素的光电子峰具有较高的结合能？A. 碳（C）B. 氧（O）C. 钠（Na）D. 铅（Pb）答案：BD15. XPS分析中，以下哪些因素会影响光电子的检测灵敏度？A. X射线的强度B. 样品的面积C. 光电子的能量D. 检测器的灵敏度答案：AD三、判断题（每题2分，共10分）16. XPS技术不能用于分析材料的晶体结构。
X-射线荧光光谱分析复习试题一、填空题（每空1分，共24分）1.X-射线荧光光谱分析法具有、快速、、和应用范围广等优点。
答：准确；简便；效率高。
2. 根据分离元素谱线的方法不同，X-射线光谱仪可分成两类，即和能量色散谱仪，其中能量色散谱仪是用按能量区分特征X射线进行分析，一般高精度的能量色散谱仪主要由、和组成。
答：波长色散光谱仪；探测器；激发源；Si（Li）半导体探测器；多通道脉冲高分析器。
3. 在X-射线荧光光谱分析中，元素的谱线强度受样品的、、和仪器测量条件等因素的影响，在定量分析中要先用适当的方法进行。
答：元素组成；粒度大小；均匀性；校正。
4.散射内标法是指采用散射靶比值法、、散射谱线强度比值法校正吸收-增强效应、、和仪器误差等影响。
答：背景比值法；相干和非相干；粒度大小；表面结构。
5.当以经验系数法校正基本效应时，用一系列进行测量，采用回归方法求取各待测元素的，元素间效应的和。
答：标准样品；工作曲线常数；影响系数；谱线重叠系数。
6.土壤样品的处理方法，常取决于试样的、、及其含量范围、所需的分析精密度和。
答：性质；数量级；待测元素；准确度。
二、选择、判断题（每题2分，共16分）1. X-射线荧光光谱分析分析土壤样品时，元素检出限高低与无关。
A、单位含量计数率的大小；B、测量时间的长短；C、样品制备；D、背景的计数率答： C2.下列选项中，不是能量色散谱仪与波长色散谱仪相比所具有的优点。
A、分析速度快；B、体积小；C、成本低；D、分辨率高。
答：D3.判断下列说法是否正确。
⑴波长色散谱仪以探测器的个数区分，可分为平面晶体谱仪和曲面晶体谱仪。
（）⑵ X-射线荧光光谱分析法适用于土壤的主、次组分和痕量元素含量测定。
（）⑶在现代X射线光谱分析中，制样技术不是误差的主要来源。
（）⑷在X-射线荧光光谱的土壤分析中，可不破坏试样进行多元素分析。
（）⑸采用散射线内标校正基体效应，当土壤的主元素的含量范围变化较大时，其结果就会产生较大误差。
X-ray科目一考试您的姓名： [填空题] *_________________________________1、从辐射产生的来源可将辐射源分为天然辐射源和（）。
[单选题] *A、核电厂B、医疗照射C、氡照射D、人工辐射源(正确答案)2、居民所受天然辐射年有效剂量的范围是（）mSv。
[单选题] *A、＜1B、1～5(正确答案)C、5～10D、＞103、我国居民所受天然辐射年有效剂量是3.1 mSv。
天然辐射源主要来自（）。
*A、宇宙射线(正确答案)B、宇生放射性核素(正确答案)C、原生放射性核素(正确答案)D、辐射育种E、核电站运行4、人工辐射源主要有核设施、核技术应用的辐射源和核试验落下灰等。
在人工辐射源中，（）产生的人均年有效剂量最大。
[单选题] *A、工业探伤B、核能发电C、医疗照射(正确答案)D、辐射育种5、电离辐射的医学应用十分广泛和普遍，主要分三大类应用，为（）。
*A、X射线诊断和介入(正确答案)B、放射治疗(正确答案)C、辐射育种D、核医学(正确答案)E、核磁共振6、电离辐射广泛应用于工业。
以下哪些应用属于电离辐射的工业应用（）。
*A、核磁共振B、各类核子秤(正确答案)C、工业辐照(正确答案)D、工业射线探伤(正确答案)E、放射性测井(正确答案)7、目前，核技术已经应用到了哪些人类生产活动领域中（）。
*A、石油、煤炭等资源勘探及矿物成分分析(正确答案)B、辐照食品(正确答案)C、工业探伤(正确答案)D、核医学、放射诊断和治疗(正确答案)E、农作物抗病、耐旱(正确答案)8、辐射的本质是（）。
[单选题] *A、能量(正确答案)B、质量C、数量D、速度9、非电离辐射是指能量（），不能从原子、分子或其他束缚态放出电子的辐射，包括热辐射、可见光、微波和无线电波等。
[单选题] *A、高B、低(正确答案)C、强D、多10、电离辐射能使物质原子或分子中的电子成为自由态，原因是（）。
X射线荧光光谱思考题一、填空题1．波长（单位为nm）为λ的X射线，其能量（以eV为单位）是____________。
2．在X射线强度测量中，如果在时间t秒内测得的X射线光子总计数为N，则总计数的相对标准偏差为____________。
3．假定测量的X射线光子计数遵循高斯分布，测量计数率为10kcps的谱线时，如果测量时间为4秒钟，则强度测量的相对标准偏差为____________。
4．按分光方式的不同，X射线荧光光谱可分为____________和____________。
5．在波长色散X射线荧光光谱分析中，如果某谱线用LiF200（2d=0.4028nm）晶体分光时，在2θ坐标上的光谱峰出现在60º处，那么改用LiF220（2d=0.2848nm）晶体分光后，光谱峰出现在2θ坐标上的位置是____________。
6．在XRF分析中，如果某样品的密度为5g/cm3，样品对测量谱线的质量吸收系数为200cm2/g，在出射角为30度的仪器中测量时，样品的“无限厚”是____________微米。
7．试举出X射线荧光光谱分析中的2种制样方法____________和____________。
8．试举出X射线荧光光谱分析中的2种基体校正方法____________和____________。
9．试举出2种影响X射线在样品中的质量吸收系数大小的因素_________和_________。
10．X射线与物质相互作用，能产生X射线荧光的作用是____________吸收。
二、选择题1．以下几种波长的射线，属于X射线的是：（）(A) 0.001nm (B) 1nm (C) 100nm (D) 1000nm2. 以下几种射线中，能激发锌（Zn）的K系谱线的是：（）(A) Fe Kα谱线(B) Cu Kα谱线(C) Zn Kα谱线(D) Br Kα谱线3. 以下几种射线中，激发铁（Fe）的K系谱线最有效的是：（）(A) Cr Kα谱线(B) Ni Kα谱线(C) Zn Kα谱线(D) Rh Kα谱线4. 波长为λ的X射线照射到以下哪种物质时，产生最强康普顿（Compton）散射的是：（）(A) 碳(B) 氧化铁(C) 硫酸铜(D) 银5. 在X射线荧光光谱中，对于波长为λ的X射线荧光，样品达到“无限厚”时，厚度最大的物质是：（）(A) 硼酸(B) 二氧化硅(C) 硫酸铜(D) 铅6. 以下几种元素中，K系谱线的荧光产额最高的是：（）(A) 铁(B) 镍(C) 铜(D) 银7. 以下几种元素中，Kβ/Kα强度比最高的是：（）(A) 钾(B) 镍(C) 溴(D) 银8. 在X射线荧光光谱分析的熔融法制样中，以下几种物质中可以做脱模剂的是：（）(A) 碘化钾(B) 硝酸铵(C) 过氧化钡(D) 硫酸钡9. 在X射线荧光光谱分析中，薄样法的优点是：（）(A) 强度高(B) 背景低(C) 重复性好(D) 谱线干扰少10. 以下几种探测器中，一般不用于波长色散X射线荧光光谱仪中的是：（）(A) 流气正比计数器(B) 闪烁计数器(C) 半导体计数器(D) 封闭式正比计数器三、简答题1.简述X射线荧光光谱的基本原理、特点和作用。
光谱培训试题及答案详解一、选择题（每题2分，共20分）1. 光谱分析中，波长最长的是：A. 紫外光B. 可见光C. 红外光D. X射线答案：C2. 光谱仪中，用于将光分散成不同波长的部件是：A. 光源B. 探测器C. 分光器D. 滤光片答案：C3. 下列哪种物质在紫外光谱中不会产生吸收峰？A. 氢气B. 氧气C. 氮气D. 二氧化碳答案：C4. 光谱分析中，用于定量分析的参数是：A. 波长B. 吸收度C. 光谱带宽D. 光强答案：B5. 光谱仪的分辨率是指：A. 光谱仪能够检测到的最小波长变化B. 光谱仪能够检测到的最大波长变化C. 光谱仪能够检测到的最小光强变化D. 光谱仪能够检测到的最大光强变化答案：A6. 光谱分析中，用于定性分析的参数是：A. 波长B. 吸收度C. 光谱带宽D. 光强答案：A7. 光谱仪的灵敏度是指：A. 光谱仪能够检测到的最小波长变化B. 光谱仪能够检测到的最大波长变化C. 光谱仪能够检测到的最小光强变化D. 光谱仪能够检测到的最大光强变化答案：C8. 在光谱分析中，如果样品的浓度增加，其吸收峰会：A. 变宽B. 变窄C. 变高D. 变低答案：C9. 下列哪种光源不适合用于光谱分析？A. 氙灯B. 钨灯C. 激光D. LED答案：B10. 在光谱分析中，样品的制备对分析结果的影响是：A. 可以忽略B. 非常重要C. 无关紧要D. 有时重要答案：B二、填空题（每题2分，共20分）1. 光谱分析中，波长最短的是________。
答案：伽马射线2. 光谱仪中，用于检测不同波长光强度的部件是________。
答案：探测器3. 光谱分析中，样品的浓度与吸收峰的________成正比。
答案：高度4. 光谱分析中，样品的________会影响光谱仪的分辨率。
答案：颗粒大小5. 光谱分析中，如果样品的浓度增加，其吸收峰的________会增加。
答案：面积6. 光谱分析中，样品的________会影响光谱仪的灵敏度。
光谱岗位试题姓名得分一、填空题（每空1分，共40分）1. 原子荧光光谱法是以_______ 在辐射能激发下发射的进行定量分析的分析法。
2. 吸收光谱法和紫外-可见分光光度法的基本原理是相同，它们都遵循吸收定律-----该定律的数学表达式为=3. 原子吸收分光光度计的开关机顺序：预热30min后，打开电脑软件及,设置分析程序，调整光斑后依次打开、、,进行能量调整、进样、测量、读数；试验完毕时，先关闭，再关闭（注意：放水）、，最后关闭软件。
4. 原子荧光光谱仪一般由四部分组成，分别是、、5. 原子荧光光谱仪的检测系统主要包括、以及放大系统和输出装置。
6. 在原子荧光分析中，样品分析时，标准溶液的应和样品的完全一致，同时必须做o7. _____________________________________________________________________________________ 用原子荧光法测定神时，水样必须用预先还原五价碑As至 ___________________________________________ As,还原速度受的影响，室温低于15笆时，至少应放置________________________________ o8. 用原子荧光法测定地下水中的碑，碑易于生成不稳定的,在酸性溶液中，以强还原剂硼氢化钾（钠）与碑生成,由载气导入,用氧氢火焰燃烧后产生自由原子云。
9. 原子吸收光谱分析方法中，目前应用比较广泛的主要方法有 , o10. 过低的炉高会导致干扰，过高的炉高会导致下降，一般建议炉高mm。
11 .原子荧光法中载气的作用是将氢化物带入石英炉的内管,过高的载气会, 过低的流速则难以迅速的将氢化物带入石英炉，一半可选用ml/m i n =12. 原子荧光光度法测定汞时，水样消解时必须加入保持不褪。
13. 原子荧光法分析中所用的玻璃器皿均需用溶液浸泡小时，或_热震荡洗后，再用洗后方可使用。
X射线荧光光谱理论考试题库(选择题)1.X-射线荧光光谱分析土壤样品时,元素检出限高低与有关。
(C)A、单位含量计数率的大小;B、测量时间的长短;C、样品制备;D、背景的计数率2.下列选项中,不是能量色散光谱仪和波长色散光谱仪相比所具有的有点。
(D)A、分析速度快;B、体积小;C、成本低;D、分辨率高3.X射线荧光熔融法测定矿石中全铁,钴是作为加入的。
(B)A、氧化剂;B、内标元素;C、重吸收剂;D、脱模剂4.X射线荧光熔融法中加入碘化物或溴化物作用是。
(B)A、助溶剂;B、脱模剂;C、内标;D、熔剂5.原子的K层电子被逐出后,其空穴可以被外层中任一电子所填充,从而可以产生一系列的谱线,称为谱。
(C)A、L系;B、M系;C、K系;D、N系6.波长色散X射线荧光光谱仪当X射线光管的光电压超过靶材料的时,开始出现靶材质的特征光谱。
(A)A、临界激发电势;B、电压;C、电流;D、功率7.X射线荧光熔融法中影响熔样主要因素是、熔样时间和脱模剂用量。
(A)A、熔样温度;B、氧化剂;C、模具;D、熔剂量8.X射线荧光光谱仪采用“二点校正”时,α值应在之间。
(B)A、0.5~1.5B、0.8~1.2C、0.9~1.1D、0.6~1.49.X射线荧光熔融法测定铁矿石中全铁时,Fe测的是Fe Kβ谱线;内标钴测的是谱线。
(A)A、CoKαB、CoKβC、CoLαD、CoLβ10.X射线荧光光谱法中,当试样的有效照射面积缩小时,元素的X射线荧光强度。
(B)A、增大B、减小C、不变D、先减小后增大11.X射线荧光分析时基体效应的基体,是指分析时试样中除元素本身外其它所有的元素。
(C)A、气体B、惰性C、分析D、氧化剂12.由X射线管发出的一次X射线激发样品,使样品所含元素辐射出二次X射线,即X射线。
(B)A、光子B、荧光C、光谱D、线束113.元素的X射线特征光谱波长倒数的平方根与原子序数成。
(B)A、反比B、正比C、无关D、规律14.X射线管的高能电子在一次碰撞中耗尽其全部的能量,所产生的X射线光子具有最大的能量,它的波长最短,称为。
X射线荧光光谱理论考试题库（判断题）1．在波长色散X荧光光谱中，色散装置的核心部件是晶体。
（√）2．因X荧光分析中背景很大部分可能来源于入射X射线的散射。
然而元素越重散射越少，所以重元素光谱上的背景几乎无大的影响；相反在测量低浓度的轻元素时背景就成为限制因素。
（√）3．X荧光分析中因为光管上加有高压，故此冷却光管的水应为蒸馏水。
( × ) 4．X射线短波以τ射线为界，长波边与真空紫外线区域相邻。
( √ ) 5．对于波长长于3.5埃的X射线来说荧光产额不到0.1，这是X射线法用于长波时的灵敏度固有限制。
( √ )6．光电子出射时有可能再次发出原子中的其他电子，产生新的光电子，这个过程称为光电效应。
（×）7．在X荧光分析中，我们用K线测量中到高原子序数的元素。
（×）8．在X射线荧光光谱分析土壤样品时，可不破坏试样进行多元素分析。
（√）9．采用散射线内标校正基体效应，当土壤的主元素的含量范围变化较大时，其结果就会产生较大误差。
（√）10．主量子数代表电子绕原子序数为Z的原子核运动范围的大小，即轨道半径的大小。
（√）11．在X荧光分析中我们用K线测量中到高原子序数的元素。
（×）12．布拉格公式nλ=2d*sinθ中，d为晶面距，θ为布拉格衍射角。
（√）13．充气正比探测器所用P10气体中氩气的所占比例为90%，甲烷所占的比例为10%。
（√）14．采用散射线内标校正基体效应，当土壤的主元素的含量范围变化较大时，其结果就会产生较大误差。
（√）15．在X-射线荧光光谱的土壤分析中，采用粉末压片法进行土壤样品的制备，可保证粒度大小、组分均匀，并避免矿物效应等问题。
（×）16．波长色散光谱仪以探测器的个数区分，可分为平面晶体光谱仪和曲面晶体光谱仪。
（×）17．X射线的本质和光一样，都是电磁辐射，X射线的波长较短，能量较大。
（√）18．新的或放置了较长时间(2周以上)的X射线管，开机后必须进行老化处理。
X射线荧光光谱理论考试题库（填空题）1．根据探测方法的不同，可将X荧光光谱仪分为波长色散光谱仪和能量色散光谱仪两大类。
2．布拉格衍射公式为( nλ=2d*sinθ )，式中n为常数，称为衍射级数；λ为谱线波长。
3．X射线为波长在0.1-100埃之间的电磁波。
4．X射线探测器的主要技术指标探测效率、能量分辨率。
5．大部分X荧光光谱仪器仪上装有充气正比探测器，所用气体为P10气，即氩气和甲烷混合气体，其中甲烷用作猝灭性气体。
6．原子受激发产生X射线光子的概率叫荧光产额。
7．流气式正比计数器主要用于重元素分析，闪烁计数器用于轻元素测定。
8．波长色散X射线荧光光谱仪的激发源为X-光管。
9．在样品和晶体之间的准直器，其作用是将样品发射出的X射线荧光通过准直器变为平行光束照射到晶体，该准直器又称为入射狭缝。
10．WDX光谱仪主要组成部分为光管、色散装置、入射准直器或入射狭缝、晶体、出射准直器或出射狭缝和探测器。
11．当以经验系数法校正基体效应时，用一系列的标准样品进行测量，采用回归方法求取各待测元素的工作曲线常数，元素间效应的影响系数和谱线重叠系数。
12．土壤样品的处理方法，常取决于试样的性质、数量级、待测元素及其含量范围、所需的分析精度和准确度。
13．X射线管产生的X射线光谱，被称作原级X射线谱，它是由连续谱和特征谱组成。
14．在矿石分析中，由于同一元素间会以不同的价态、不同的结构、不同的晶体存在。
这种微观上的差别无法用机械方法除去，这称为矿物效应。
15．用于能量色失散X荧光光谱仪的Si（Li）探测器，须在液氮中冷却工作。
16．X射线荧光分析粉末试样时，采用玻璃熔片法可以消除基体效应和矿物效应带来的分析误差。
17．X射线波长范围，其短波段与γ射线长波段相重叠，其长波段则与真空紫外的短波段相重叠。
18．X射线荧光分析中特征X射线光谱的产生过程可以分两步：第一步：高能量子与原子发生碰撞，从中驱逐出一个内层电子。
X射线辐射源计量检定人员考试题姓名：分数：一、填空题：（每空4分）1、X射线照射量的法定计量单位是库仑每千克（C/kg），而大多数照射量计以往使用为单位，它等于C/kg。
2、带电粒子穿过物质运动时，损失能量的主要方式是和。
3、X射线的质是指其特性，常用的大小来表示。
4、控制外照射危害的三个要素是、和屏蔽。
5、辐射剂量测量按量值范围可分为由高到低的下列四个水平（量级），即：辐射加工水平、、和环境水平。
二、选择题：（每题4分）1、辐射的能量一般是指（）A 辐射的总能量B 辐射交给物质的能量C 物质从辐射吸收的能量D辐射粒子具有的动能2、按照射量的定义，照射量适用于（）A 带电粒子辐射B X、γ辐射C非带电粒子辐射 D 中子辐射3、测定X射线的半值层时，吸收片的最佳位置是（）A尽量靠近辐射源 B 尽量靠近探测器C离开射线源和探测器的距离大致相等4、激发电压为100kV的过滤X射线，其半值层通常用（）的厚度表示。
A 铝B 铜C锡D铅5、检定X射线辐射防护仪器的非线性时，为了给出不同的照射量率，下列欲采用的方法中正确的是（）A 改变X光机高压B 改变X光机附加过滤C 改变X光机电流三、简答题：（每题10分）1、X辐射防护仪器的检定项目中，哪些属于常规检定，哪些属于专项检定？并分别说明其检定周期。
2、在检定或使用电离室剂量计时，通常应注意的仪器安全问题是什么？四、计算题：（每题20分）1、为检查某剂量仪表的测量重复性，在恒定照射条件下，测量仪表十次读数分别为：78.5；78.0；79.0；78.0；79.5；78.5；78.0；77.0；78.5；78.0，求此仪表的重复性。
放射科x线考试题及答案一、单项选择题（每题2分，共40分）1. X线摄影中，与被检部位平行的X线束称为：A. 原发射线B. 散射线C. 中心线D. 斜射线答案：C2. 下列哪项不是X线的特性：A. 穿透性B. 电离性C. 荧光效应D. 磁性答案：D3. 人体组织对X线的吸收能力最强的是：A. 肌肉B. 骨骼C. 脂肪D. 空气答案：B4. 影响X线对比度的因素不包括：A. X线量B. 被照体厚度C. 被照体密度D. 曝光时间答案：D5. 在X线摄影中，被照体与胶片之间的距离称为：A. 焦点距离B. 物体距离C. 焦距D. 胶片距离答案：B6. 胸部X线摄影时，常用的摄影体位是：A. 后前位B. 前后位C. 侧位D. 斜位答案：A7. 下列哪项不是X线防护的原则：A. 时间防护B. 距离防护C. 屏蔽防护D. 增加辐射剂量答案：D8. X线管的焦点大小通常用微米（μm）表示，其数值越小，表示：A. 焦点越大B. 焦点越小C. 分辨率越高D. 穿透力越强答案：B9. 在X线摄影中，影响影像清晰度的主要因素是：A. 胶片的颗粒度B. 增感屏的荧光效率C. X线的焦点大小D. 被照体的厚度答案：C10. 胸部X线摄影时，若要减少心脏的影像，应采取的措施是：A. 增加曝光时间B. 减少曝光时间C. 增加被照体厚度D. 减少被照体厚度答案：D11. X线摄影中，为了提高影像对比度，可以采取的措施是：A. 增加曝光时间B. 减少曝光时间C. 增加被照体厚度D. 减少被照体厚度答案：B12. 下列哪项不是X线影像增强的方法：A. 使用增感屏B. 增加曝光量C. 使用高对比度胶片D. 减少曝光量答案：D13. 在X线摄影中，为了减少散射线的影响，可以采取的措施是：A. 增加曝光时间B. 减少曝光时间C. 使用滤线器D. 增加被照体厚度答案：C14. 胸部X线摄影时，若要减少膈肌的影像，应采取的措施是：A. 增加曝光时间B. 减少曝光时间C. 增加被照体厚度D. 减少被照体厚度答案：B15. 在X线摄影中，为了提高影像清晰度，可以采取的措施是：A. 增加曝光时间B. 减少曝光时间C. 增加被照体厚度D. 减少被照体厚度答案：B16. X线摄影中，为了减少运动模糊，可以采取的措施是：A. 增加曝光时间B. 减少曝光时间C. 增加被照体厚度D. 减少被照体厚度答案：B17. 在X线摄影中，为了减少胶片的颗粒度，可以采取的措施是：A. 增加曝光量B. 减少曝光量C. 使用高感光度胶片D. 使用低感光度胶片答案：C18. 下列哪项不是X线影像质量控制的内容：A. 对比度控制B. 清晰度控制C. 颗粒度控制D. 曝光量控制答案：D19. 在X线摄影中，为了减少胶片的灰雾，可以采取的措施是：A. 增加曝光量B. 减少曝光量C. 使用高感光度胶片D. 使用低感光度胶片答案：B20. 下列哪项不是X线影像伪影的来源：A. 运动伪影B. 散射伪影C. 增感屏伪影D. 胶片过期答案：D二、多项选择题（每题3分，共30分）21. X线摄影中，影响影像对比度的因素包括：A. 被照体的密度B. 被照体的厚度C. 胶片的感光度D. X线的焦点大小答案：A, B, C22. 在X线摄影中，为了提高影像质量，可以采取的措施包括：A. 增加曝光量B. 减少曝光量C. 使用高感光度胶片D. 使用低感光度胶片答案：C, D23. 下列哪些因素会影响X线影像的清晰度：A. 胶片的颗粒度B. 增感屏的荧光效率C. X线的焦点大小D. 被照体的厚度答案：A, B, C24. 在X线摄影中，为了减少散射线的影响，可以采取的措施包括：A. 增加曝光时间B. 减少曝光时间C. 使用滤线器D. 增加被照体厚度答案：C25. 下列哪些因素会影响X线影像的颗粒度：A. 胶片的感光度B. 增感屏的荧光效率C. X线的焦点大小D. 曝光量答案：A, B, D26. 在X线摄影中，为了减少运动模糊，可以采取的措施包括：A. 增加曝光时间B. 减少曝光时间C. 使用快速胶片D. 使用慢速胶片答案：B, C27. 下列哪些因素会影响X线影像的对比度：A. 被照体的密度B. 被照体的厚度C. 胶片的感光度D. 曝光量答案：A, B, C, D28. 在X线摄影中，为了减少胶片的灰雾，可以采取的措施包括：A. 增加曝光量B. 减少曝光量C. 使用高感光度胶片D. 使用低感光度胶片答案：B, D29. 下列哪些因素会影响X线影像的清晰度：A. 胶片的颗粒度B. 增感屏的荧光效率C. X线的焦点大小D. 被照体的厚度答案：A, B, C30. 在X线摄影中，为了提高影像质量，可以采取的措施包括：A. 增加曝光量B. 减少曝光量C. 使用高感光度胶片D. 使用低感光度胶片答案：C, D三、判断题（每题1分，共10分）31. X线具有电离性，因此可以用于治疗某些疾病。
一、判断题（在括号内，将正确的划√，错误的划×，每题1分，共16分）（×）1、连续谱X射线在穿透一定厚度的物体上，将产生“硬化”，即最短波长缩小，穿透物体的能力提高。
（√）2、半衰期就是某一元素的原子核经衰变至其原有原子核总数的一半所需的时间。
（√）3、对于非增感型胶片，在较大的黑度范围内梯度近似与黑度成正比。
（×）4、人体不同部位如果受到相同剂量的照射，则将产生相同的辐射生物效应。
（×）5、在底片上未焊透缺陷的影像总是出现在焊缝的中心线上。
（√）6、1贝可（bq）是指每秒钟有原子衰变一次的放射性活度。
（√）7、采用荧光增感屏进行曝光时将导致互易律失效。
（√）8、对直径较大的两管对接的环焊缝，源在外单壁透照方式是透照方式最多的透照方式。
（√）9、显影时间过长会使影像的颗粒度增大、底片的灰雾度增高。
（√）10、水洗不充分的底片，存放期间将变成棕黄色。
（√）11、决定射线照相影像质量的基本因素是影像的对比度、不清晰度、颗粒度。
（×）12、在图像增强器中实现的转换过程是：射线－荧光－电子。
（×）13、X射线机的有效焦点尺寸是实际焦点在垂直于管轴方向的投影尺寸，在透照场中这是焦点的最小尺寸。
（√）14、近年，国外一些重要标准（如欧洲标准等），规定A级技术的底片黑度应不低于2.0。
（√）16、个人剂量笔的读数是射线照射量的累积值。
（√）17、在光子与物质的相互作用时，放射光子的能量被吸收、散射，导致透射射线强度降低。
（√）18、胶片的粒度主要决定于乳剂层中卤化银颗粒的平均尺寸的大小。
（√）19、金属陶瓷X射线管与玻璃壳X射线管相比下面六个优点：抗震性强，不易破碎、金属壳不存在电击穿和表面放电问题、管内真空度高，各项电性能好、体积小，重量轻、寿命长、容易装焊铍或钼窗口以放射软X射线、制造工艺简单。
（×）20、质量控制、质量管理、质量保证是同一概念的不同表述。
光谱分析模拟试题一、单项选择题（每小题1分，共20小题20分）1. 节日焰火有不同的颜色是由于：A，不同的物质在激发后会发射出不同波长的光； B ，火药有不同的焰色；C，燃放的高度不同； D ，温度的不同2. 下列辐射中，频率最高的是：A，X射线； B ，远紫外； C ，远红外； D ，可见光3. 下列元素中, 共振线波长最长的是:A,Cl; B,Mg; C,Rb; D,Si4. 当总角量子数L=1时，习惯上用哪个字母表示?A,S B,P C,D D,F5. 原子发射光谱定量分析成份复杂的废液时，应选哪种激发光源？A，火焰； B ，电弧； C ，等离子体； D ，火花6. 原子发射光谱法中的三标准试样法的工作曲线的纵坐标－横坐标是：A，黑度差－浓度的对数； B ，黑度差－浓度；C，相对强度的对数－浓度； D ，黑度－浓度的对数7. 能够测量谱线黑度的仪器叫：A，阿贝比长仪； B ，光谱投影仪；C，光栅摄谱仪； D ，测微光度计8. 下列元素中，激发电位最低的是：A,Cs; B,Na; C,Fe; D,Cl9. 在下列激发光源中，电极头温度最高的是：A，直流电弧； B ，交流电弧；C，火花； D ，等离子体10. 用X射线荧光法分析下列元素时, 灵敏度最高的可能是:A,C; B,Ag; C,K; D,Mg11. 为了增加火焰原子吸收中的试液提升量，可以：A，使用富燃焰； B ，提高火焰温度；C，增加燃烧器高度； D ，增大载气流量12. 引起谱线变宽最主要的因素是:A, 自然宽度; B, 同位素变宽;C, 多谱勒变宽; D, 自吸变宽.13. 当产生了１％吸收时，其吸收值为：A，0.01; B,0.001; C,0.0044; D,0.4414. 为了使原子吸收的测量误差最小，试液中被测元素的浓度最好是特征浓度的多少倍？A，4 ； B ，10 ； C ，44 ； D ，10015. 原子吸收法中的物理干扰能用什么方法消除？A，加保护剂； B ，加释放剂；C，扣除背景； D ，用标准加入法进行分析16. 原子吸收中的物理干扰可用哪种方法克服？A，采用标准加入法； B ，加入释放剂；C，提高原子化温度； D ，使用富燃焰17. 特征X射线荧光是由哪种跃迁产生的?A, 热能使气态原子内层电子产生跃迁;B, 辐射能使基态原子外层电子产生跃迁;C, 辐射射能使分子中的电子能级产生跃迁;D, 辐射能使原子内层电子产生跃迁18. 原子荧光光谱法与X射线荧光法在下面哪点上有共同性？A，光源； B ，单色器； C ，检测器； D ，光致发光19. 下列哪种基团容易使单重态转变成三重态？A, 氨基；B, 羟基C, 羧基； D ，碘20. 下列物质中，荧光效率最高的是：A，对－联三苯； B ，苯； C ，联苯二、填空题（每小题２分，共10小题20 分）1. 元素只有一个价电子，所以它们的光谱最简单。
X射线荧光光谱理论考试考试题库（简答题）X射线荧光光谱理论考试题库（简答题）1．X荧光进行定性分析的基础是什么？答：化学元素在受到适当的激发时发射出特征辐射。
2．X荧光进行定量分析的基础是什么？答：受激引发的特征辐射强度与样品中元素的含量成正比关系。
3．请列出几种探测器(两种以上)？答：充气正比探测器、闪烁探测器、半导体探测器。
4．X荧光分析中所用探测器的作用是什么？答：将X射线转换成一种能量形式，这种能量可在一定的时间内被测量和积分。
5．X荧光分析中对所使用的分光晶体有哪些要求：答：X荧光分析中，色散装置中所用的分光晶体应有好的反射率、色散率，温度效应小，较好的物理性质，小的晶体荧光、异常反射。
6．波长色散X荧光光谱仪的组成部分是什么，各部分的作用是什么？答：波长色散X荧光光谱仪的主要组成部分为：X光管、色散装置和探测器。
各部分作用：X光管作为激发源；色散装置分离出单一波长以供检测；探测器用于检出信号。
7．X荧光分析中，脉冲高度选择器的作用是什么？答：脉冲高度选择器的作用是以能量分离的方式，将适当窄的波长范围与整个波谱分开，以利于检测。
8．请解释何为X射线荧光。
答：当来自X射线管具有足够能量的初级（一次）X射线与试样中的原子发生碰撞时，并从该原子中逐出一个内层电子（如K电子），就在此壳层中形成一个空穴，随后由较外层的一个电子跃迁来填充此空穴，同时发射出二次X射线光电子，即X射线荧光。
9．简述滤光片的作用。
答：消除或降低来自X射线管发射的原级X射线谱，尤其是靶材的特征X射线谱对待测元素的干扰，可改善峰背比，提高分析的灵敏度。
10．请写出X光管产生X射线的机理。
答：用电流加热灯丝，在灯丝周围形成高电子密度区，电子在加于阳极和灯丝之间的大电位差的作用下，沿阳极聚焦管加速，高速电子打在阳极上，产生X射线辐射。
11．充气探测器探测X射线的原理是什么？答：X射线光子通过窗口进入探测器，电离惰性气体，电离产生的初始电子对数目与入射线的能量成正比。
X荧光光谱仪培训测试题姓名：得分：一.填空题1.RoHs指令检测的元素及其管控范围＿＿＿＿＿2.仪器指示灯分别代表：＿＿＿＿＿＿＿＿＿＿＿＿3.测试软件的名称为：＿＿＿4.测量模式有：＿＿＿＿＿＿＿＿，选择＿＿＿＿.5.仪器预热时间一般为：＿＿，测试时间为：＿＿；当待机＿＿以上需重新预热；测试时当计数率低于＿＿时，需将测量时间改为＿＿.6.初始化需要放入＿＿，峰通道为：＿＿，当不是此值时需再次初始化直到它为正确值，初始化一般做＿＿次；选侧不同的曲线前需重新初始化，一般＿＿小时需初始化一次.7.测试塑料类型的样品时间为＿＿，前200S测＿＿，需在系统-系统设置-检测元素-测量塑料中的CrCl含量选项前打勾.8.测试时将样品放入测试窗口，轻轻的合上盖子，确认＿＿＿已闭合好，软件上点开始测量，输入＿＿＿＿，选择相应的＿＿＿＿.9.测试完成时会自动弹出＿＿＿＿，需点击＿＿＿＿，测试报告才会生成；＿＿＿＿，＿＿＿＿此时也可以根据需要做相应的修改.10.仪器工作的温度范围是：＿＿＿，当超出＿＿℃时仪器会报警，并自动停止测量，起到保护仪器的作用.二.问答题1. 简述仪器操作的步骤2. 列举仪器使用过程中的注意事项3. 仪器数据如何恢复？答案：一.填空题1. Pb＜1000.Cd＜100.Cr＜1000.Hg＜1000.Br＜1000.2.绿色是220V电源，黄色是高压工作3.Mearohs20084.自动测量，手动测量，手动测量5.1800S,200S,4H，1000，300S6.Ag银校正片，1105,3次，1-2H7.400S,CrCl8.微动开关，样品名称，校正曲线9.检测结果，保存报告，报告设置，标准设置10.15-30℃，45℃二.问答题1.开机—预热—初始化—测试2.A.不要碰触探测器，即使是擦拭也不要。
B.测试样品轻拿轻放，盖子轻开轻关，确保微动开关闭合良好C.每天测试样品前一定要预热初始化D.测试过程中，黄灯亮时不能打开盖子3.进F盘，解压缩备份的数据，将解压出来的所有文件复制，粘贴到Mearohs软件的安装文件夹中，取代所有的文件。
历年射线理论考试试题及答案22021年射线理论考试Ⅰ、Ⅱ试题（答案2）一、是非题（在括号内正确的填上“√”，错误的填上“×”）1、荧光增感屏或金属荧光增感屏，由于荧光亮度产生的荧光作用于接受的射线照相量率的大小是不成正比的，因此照相量率低的时候，曝光时间比通常计算所得的要高，这种现象称之谓“反比定律失效”。
(√ )2、高度运动的电子，在与钯金属的原子核外电场作用时，发射出连续x射线。
（√ ） 3、铅箔增感屏之所以有增感作用，是因为X与г射线能从铅中激发出电子来，从而使胶片感光，达到增感的目的。
（√ ）4、透照某工件，采用金属荧光增感，管电流5mA，透照时间4分钟，获得底片的黑度为1.8，若其他条件不变，把管电流改为10mA，透照时间改为2分钟，底片黑度仍不变。
（× ）5、当选用100KV--200KV的管电压进行透照时，对铅增感屏的增感系数是不变的。
（×）6、在x射线机窗口前考虑光片的目的是吸收软x射线，增大宽容度和减少散射线对底片的影响。
（√ ）7、透照同一工件，铅箔增感比荧光增感，获得的底片清晰度高，而对比度低。
（×） 8、荧光增感屏或金属荧光增感屏，由于荧光亮度产生的荧光作用于接受的射线照相量率的大小是不成正比的，因此照相量率低的时候，曝光时间比通常计算所得的要高，这种现象称之谓“反比定律失效”。
(√ )9、用强光观察高黑度的底片时，由于界限识别对比度△D min增大，从而扩大了可识别的黑度范围。
（√ ）10、为了提高射线照相的对比度，在照相胶片选定后，选用的射线能量越低越好。
（× ） 11、通常把胶片本身引起的不清晰度称为胶片不清晰度或固有不清晰度。
（√ ） 12、散射线不影响射线照相底片的对比度，而影响底片的清晰度。
( × )13、底片的黑度取决于射线强度与曝光时间的乘积，即曝光量，但当采用荧光或金属荧光增感屏时，射线强度与曝光时间不成反比关系。
X射线荧光光谱理论考试题库（填空题）
1 •根据探测方法的不同，可将X荧光光谱仪分为—波长色散光谱仪 _______ 和—能量色散光谱仪
两大类。
2•布拉格衍射公式为（n入=2d*sin 9 ），式中n为常数，称为_衍射级数_ ；入为_谱线波长_。
3. X射线为波长在_0.1-100埃—之间的电磁波。
4. X射线探测器的主要技术指标—探测效率 _、—能量分辨率_。
5•大部分X荧光光谱仪器仪上装有充气正比探测器，所用气体为P10气，即—氩气和甲烷—混合气体，其中甲烷用作—猝灭性气体_。
6 •原子受激发产生X射线光子的概率叫_荧光产额_。
7 •流气式正比计数器主要用于—重—元素分析，闪烁计数器用于—轻—元素测定。
8 •波长色散X射线荧光光谱仪的激发源为_X-光管_。
9•在样品和晶体之间的准直器，其作用是将样品发射出的X射线荧光通过准直器变为—平行光束一照射到晶体，该准直器又称为—入射狭缝_。
10. WDX光谱仪主要组成部分为—光管—、—色散装置_、入射准直器或入射狭缝、晶体、出射准直器或出射狭缝和探测器。
11. 当以经验系数法校正基体效应时，用一系列的—标准样品—进行测量，采用回归方法求取各待测元素的—工作曲线常数—，元素间效应的—影响系数—和—谱线重叠系数—。
12•土壤样品的处理方法，常取决于试样的—性质_、数量级—、待测元素—及其含量范围、所需的分析精度和—准确度—o
13. X射线管产生的X射线光谱，被称作原级X射线谱，它是由—连续谱—和—特征谱—组成。
14•在矿石分析中，由于同一元素间会以不同的价态、不同的结构、不同的晶体存在。
这种微观上的差别无法用机械方法除去，这称为—矿物效应o
15•用于能量色失散X荧光光谱仪的_Si （Li）_探测器，须在—液氮—中冷却工作。
16. X射线荧光分析粉末试样时，采用玻璃熔片法可以消除—基体效应—和—矿物效应—带来的分析误差。
17. X射线波长范围，其短波段与―丫―射线长波段相重叠，其长波段则与—真空紫外—的短波段相重叠。
18. X射线荧光分析中特征X射线光谱的产生过程可以分两步：第一步：高能量子与原子发生碰
撞，从中驱逐出一个—内层—电子。
第二步：由较外层电子补充，同时释放能量，放射出X射线
19. X射线荧光光谱仪分光方法有平行法和—聚焦—法，分别用平晶和—弯晶—分光。
20. 能量色散X射线荧光光谱仪是利用X射线荧光具有不同—能量—的特点，将其分开，依靠—半导体_探测器来检测。
21. X射线荧光光谱法基本上是一种 _相对—分析法。
要求各个试样之间，试样与标样之间，有尽可能一致的 _物理—性质和近似的—化学_组成。
22. X射线荧光光谱法为了获得准确的定量分析结果，应使用有证的标准样品，标准样品与分析试料的—组成_、_制样方法—尽可能一致。
23. X射线荧光光谱标准加入法可通过—计算法_、—作图法—求得试样的分析结果。
24. 在X射线荧光光谱法分析中，总是以单位时间内单位面积上的X射线光子数表示—强度—o 通常以_cps_或_Kcps_为单位表示。
25. X射线荧光光谱分析的基体效应的数学校正一般分为三类，即—基本参数—法、—经验系数法和—理论影响系数法_。
26•基体效应包括吸收和增强两种效应。
消除基体效应的方法有—稀释—法、—薄膜样品—法、—吸收校正—法、—数学处理—方法等。
27. X射线管产生的一次X射线束是—连续谱和特征光谱—，二次X射线束是—特征光谱_。
28. 波长色散X射线荧光光谱仪的分光晶体是利用晶体的—衍射—现象使不同波长的X射线分开，以便从中选择被测元素的—特征—谱线进行测定。
29. X射线波长极短，不能像紫外和可见光那样，用—平面光栅—和—棱镜—来分离特征X射线光谱。
30. 波长色散X射线荧光光谱仪的流气正比计数器经长时间使用，其芯线-阳极丝要被污染，造成
阳极丝的污染有由气体中的—杂质—和淬灭气体甲烷的—分解—造成的等两种情况。
