X射线荧光光谱理论考试考试题库(填空题)

关于xps考试题及答案一、单项选择题（每题2分，共20分）1. XPS（X射线光电子能谱）技术主要用于分析材料的哪种性质？A. 化学成分B. 晶体结构C. 表面形貌D. 电子结构答案：A2. XPS分析中，最常用的X射线源是哪种？A. 铜靶X射线B. 铝靶X射线C. 镁靶X射线D. 钼靶X射线答案：C3. 在XPS分析中，以下哪种元素的光电子峰最容易被检测到？A. 碳（C）B. 氧（O）C. 钠（Na）D. 金（Au）答案：A4. XPS技术中，以下哪种效应会影响光电子的动能？A. 表面电荷效应B. 光电子的自旋效应C. 光电子的轨道效应D. 光电子的振动效应答案：A5. XPS分析中，如何消除样品表面的污染？A. 通过高温退火B. 通过化学清洗C. 通过物理抛光D. 通过紫外光照射答案：C6. XPS分析中，以下哪种元素的光电子峰具有最高的结合能？A. 氢（H）B. 氦（He）C. 锂（Li）D. 铍（Be）答案：B7. XPS分析中，如何确定样品表面的化学状态？A. 通过测量光电子的动能B. 通过测量光电子的波长C. 通过测量光电子的强度D. 通过测量光电子的角分布答案：A8. XPS分析中，以下哪种元素的光电子峰最难被检测到？A. 碳（C）B. 氧（O）C. 钠（Na）D. 铅（Pb）答案：D9. XPS分析中，如何提高光电子的检测灵敏度？A. 增加X射线的强度B. 增加样品的面积C. 增加光电子的能量D. 增加检测器的灵敏度答案：D10. XPS分析中，以下哪种元素的光电子峰具有最低的结合能？A. 氢（H）B. 氦（He）C. 锂（Li）D. 铍（Be）答案：A二、多项选择题（每题3分，共15分）11. XPS技术可以用于分析以下哪些材料？A. 金属B. 半导体C. 绝缘体D. 生物材料答案：ABCD12. XPS分析中，以下哪些因素会影响光电子的动能？A. 样品表面的电荷效应B. 光电子的自旋效应C. 样品表面的功函数D. 光电子的轨道效应答案：AC13. XPS分析中，以下哪些方法可以用来消除样品表面的污染？A. 高温退火B. 化学清洗C. 物理抛光D. 紫外光照射答案：BCD14. XPS分析中，以下哪些元素的光电子峰具有较高的结合能？A. 碳（C）B. 氧（O）C. 钠（Na）D. 铅（Pb）答案：BD15. XPS分析中，以下哪些因素会影响光电子的检测灵敏度？A. X射线的强度B. 样品的面积C. 光电子的能量D. 检测器的灵敏度答案：AD三、判断题（每题2分，共10分）16. XPS技术不能用于分析材料的晶体结构。

X-射线荧光光谱分析复习试题一、填空题（每空1分，共24分）1.X-射线荧光光谱分析法具有、快速、、和应用范围广等优点。

答：准确；简便；效率高。

2. 根据分离元素谱线的方法不同，X-射线光谱仪可分成两类，即和能量色散谱仪，其中能量色散谱仪是用按能量区分特征X射线进行分析，一般高精度的能量色散谱仪主要由、和组成。

答：波长色散光谱仪；探测器；激发源；Si（Li）半导体探测器；多通道脉冲高分析器。

3. 在X-射线荧光光谱分析中，元素的谱线强度受样品的、、和仪器测量条件等因素的影响，在定量分析中要先用适当的方法进行。

答：元素组成；粒度大小；均匀性；校正。

4.散射内标法是指采用散射靶比值法、、散射谱线强度比值法校正吸收-增强效应、、和仪器误差等影响。

答：背景比值法；相干和非相干；粒度大小；表面结构。

5.当以经验系数法校正基本效应时，用一系列进行测量，采用回归方法求取各待测元素的，元素间效应的和。

答：标准样品；工作曲线常数；影响系数；谱线重叠系数。

6.土壤样品的处理方法，常取决于试样的、、及其含量范围、所需的分析精密度和。

答：性质；数量级；待测元素；准确度。

二、选择、判断题（每题2分，共16分）1. X-射线荧光光谱分析分析土壤样品时，元素检出限高低与无关。

A、单位含量计数率的大小；B、测量时间的长短；C、样品制备；D、背景的计数率答： C2.下列选项中，不是能量色散谱仪与波长色散谱仪相比所具有的优点。

A、分析速度快；B、体积小；C、成本低；D、分辨率高。

答：D3.判断下列说法是否正确。

⑴波长色散谱仪以探测器的个数区分，可分为平面晶体谱仪和曲面晶体谱仪。

（）⑵ X-射线荧光光谱分析法适用于土壤的主、次组分和痕量元素含量测定。

（）⑶在现代X射线光谱分析中，制样技术不是误差的主要来源。

（）⑷在X-射线荧光光谱的土壤分析中，可不破坏试样进行多元素分析。

（）⑸采用散射线内标校正基体效应，当土壤的主元素的含量范围变化较大时，其结果就会产生较大误差。

X-ray科目一考试您的姓名： [填空题] *_________________________________1、从辐射产生的来源可将辐射源分为天然辐射源和（）。

[单选题] *A、核电厂B、医疗照射C、氡照射D、人工辐射源(正确答案)2、居民所受天然辐射年有效剂量的范围是（）mSv。

[单选题] *A、＜1B、1～5(正确答案)C、5～10D、＞103、我国居民所受天然辐射年有效剂量是3.1 mSv。

天然辐射源主要来自（）。

*A、宇宙射线(正确答案)B、宇生放射性核素(正确答案)C、原生放射性核素(正确答案)D、辐射育种E、核电站运行4、人工辐射源主要有核设施、核技术应用的辐射源和核试验落下灰等。

在人工辐射源中，（）产生的人均年有效剂量最大。

[单选题] *A、工业探伤B、核能发电C、医疗照射(正确答案)D、辐射育种5、电离辐射的医学应用十分广泛和普遍，主要分三大类应用，为（）。

*A、X射线诊断和介入(正确答案)B、放射治疗(正确答案)C、辐射育种D、核医学(正确答案)E、核磁共振6、电离辐射广泛应用于工业。

以下哪些应用属于电离辐射的工业应用（）。

*A、核磁共振B、各类核子秤(正确答案)C、工业辐照(正确答案)D、工业射线探伤(正确答案)E、放射性测井(正确答案)7、目前，核技术已经应用到了哪些人类生产活动领域中（）。

*A、石油、煤炭等资源勘探及矿物成分分析(正确答案)B、辐照食品(正确答案)C、工业探伤(正确答案)D、核医学、放射诊断和治疗(正确答案)E、农作物抗病、耐旱(正确答案)8、辐射的本质是（）。

[单选题] *A、能量(正确答案)B、质量C、数量D、速度9、非电离辐射是指能量（），不能从原子、分子或其他束缚态放出电子的辐射，包括热辐射、可见光、微波和无线电波等。

[单选题] *A、高B、低(正确答案)C、强D、多10、电离辐射能使物质原子或分子中的电子成为自由态，原因是（）。

X射线荧光光谱思考题一、填空题1．波长（单位为nm）为λ的X射线，其能量（以eV为单位）是____________。

2．在X射线强度测量中，如果在时间t秒内测得的X射线光子总计数为N，则总计数的相对标准偏差为____________。

3．假定测量的X射线光子计数遵循高斯分布，测量计数率为10kcps的谱线时，如果测量时间为4秒钟，则强度测量的相对标准偏差为____________。

4．按分光方式的不同，X射线荧光光谱可分为____________和____________。

5．在波长色散X射线荧光光谱分析中，如果某谱线用LiF200（2d=0.4028nm）晶体分光时，在2θ坐标上的光谱峰出现在60º处，那么改用LiF220（2d=0.2848nm）晶体分光后，光谱峰出现在2θ坐标上的位置是____________。

6．在XRF分析中，如果某样品的密度为5g/cm3，样品对测量谱线的质量吸收系数为200cm2/g，在出射角为30度的仪器中测量时，样品的“无限厚”是____________微米。

7．试举出X射线荧光光谱分析中的2种制样方法____________和____________。

8．试举出X射线荧光光谱分析中的2种基体校正方法____________和____________。

9．试举出2种影响X射线在样品中的质量吸收系数大小的因素_________和_________。

10．X射线与物质相互作用，能产生X射线荧光的作用是____________吸收。

二、选择题1．以下几种波长的射线，属于X射线的是：（）(A) 0.001nm (B) 1nm (C) 100nm (D) 1000nm2. 以下几种射线中，能激发锌（Zn）的K系谱线的是：（）(A) Fe Kα谱线(B) Cu Kα谱线(C) Zn Kα谱线(D) Br Kα谱线3. 以下几种射线中，激发铁（Fe）的K系谱线最有效的是：（）(A) Cr Kα谱线(B) Ni Kα谱线(C) Zn Kα谱线(D) Rh Kα谱线4. 波长为λ的X射线照射到以下哪种物质时，产生最强康普顿（Compton）散射的是：（）(A) 碳(B) 氧化铁(C) 硫酸铜(D) 银5. 在X射线荧光光谱中，对于波长为λ的X射线荧光，样品达到“无限厚”时，厚度最大的物质是：（）(A) 硼酸(B) 二氧化硅(C) 硫酸铜(D) 铅6. 以下几种元素中，K系谱线的荧光产额最高的是：（）(A) 铁(B) 镍(C) 铜(D) 银7. 以下几种元素中，Kβ/Kα强度比最高的是：（）(A) 钾(B) 镍(C) 溴(D) 银8. 在X射线荧光光谱分析的熔融法制样中，以下几种物质中可以做脱模剂的是：（）(A) 碘化钾(B) 硝酸铵(C) 过氧化钡(D) 硫酸钡9. 在X射线荧光光谱分析中，薄样法的优点是：（）(A) 强度高(B) 背景低(C) 重复性好(D) 谱线干扰少10. 以下几种探测器中，一般不用于波长色散X射线荧光光谱仪中的是：（）(A) 流气正比计数器(B) 闪烁计数器(C) 半导体计数器(D) 封闭式正比计数器三、简答题1.简述X射线荧光光谱的基本原理、特点和作用。

光谱培训试题及答案详解一、选择题（每题2分，共20分）1. 光谱分析中，波长最长的是：A. 紫外光B. 可见光C. 红外光D. X射线答案：C2. 光谱仪中，用于将光分散成不同波长的部件是：A. 光源B. 探测器C. 分光器D. 滤光片答案：C3. 下列哪种物质在紫外光谱中不会产生吸收峰？A. 氢气B. 氧气C. 氮气D. 二氧化碳答案：C4. 光谱分析中，用于定量分析的参数是：A. 波长B. 吸收度C. 光谱带宽D. 光强答案：B5. 光谱仪的分辨率是指：A. 光谱仪能够检测到的最小波长变化B. 光谱仪能够检测到的最大波长变化C. 光谱仪能够检测到的最小光强变化D. 光谱仪能够检测到的最大光强变化答案：A6. 光谱分析中，用于定性分析的参数是：A. 波长B. 吸收度C. 光谱带宽D. 光强答案：A7. 光谱仪的灵敏度是指：A. 光谱仪能够检测到的最小波长变化B. 光谱仪能够检测到的最大波长变化C. 光谱仪能够检测到的最小光强变化D. 光谱仪能够检测到的最大光强变化答案：C8. 在光谱分析中，如果样品的浓度增加，其吸收峰会：A. 变宽B. 变窄C. 变高D. 变低答案：C9. 下列哪种光源不适合用于光谱分析？A. 氙灯B. 钨灯C. 激光D. LED答案：B10. 在光谱分析中，样品的制备对分析结果的影响是：A. 可以忽略B. 非常重要C. 无关紧要D. 有时重要答案：B二、填空题（每题2分，共20分）1. 光谱分析中，波长最短的是________。

答案：伽马射线2. 光谱仪中，用于检测不同波长光强度的部件是________。

答案：探测器3. 光谱分析中，样品的浓度与吸收峰的________成正比。

答案：高度4. 光谱分析中，样品的________会影响光谱仪的分辨率。

答案：颗粒大小5. 光谱分析中，如果样品的浓度增加，其吸收峰的________会增加。

答案：面积6. 光谱分析中，样品的________会影响光谱仪的灵敏度。

光谱岗位试题姓名得分一、填空题（每空1分，共40分）1. 原子荧光光谱法是以_______ 在辐射能激发下发射的进行定量分析的分析法。

2. 吸收光谱法和紫外-可见分光光度法的基本原理是相同，它们都遵循吸收定律-----该定律的数学表达式为=3. 原子吸收分光光度计的开关机顺序：预热30min后，打开电脑软件及,设置分析程序，调整光斑后依次打开、、,进行能量调整、进样、测量、读数；试验完毕时，先关闭，再关闭（注意：放水）、，最后关闭软件。

4. 原子荧光光谱仪一般由四部分组成，分别是、、5. 原子荧光光谱仪的检测系统主要包括、以及放大系统和输出装置。

6. 在原子荧光分析中，样品分析时，标准溶液的应和样品的完全一致，同时必须做o7. _____________________________________________________________________________________ 用原子荧光法测定神时，水样必须用预先还原五价碑As至 ___________________________________________ As,还原速度受的影响，室温低于15笆时，至少应放置________________________________ o8. 用原子荧光法测定地下水中的碑，碑易于生成不稳定的,在酸性溶液中，以强还原剂硼氢化钾（钠）与碑生成,由载气导入,用氧氢火焰燃烧后产生自由原子云。

9. 原子吸收光谱分析方法中，目前应用比较广泛的主要方法有 , o10. 过低的炉高会导致干扰，过高的炉高会导致下降，一般建议炉高mm。

11 .原子荧光法中载气的作用是将氢化物带入石英炉的内管,过高的载气会, 过低的流速则难以迅速的将氢化物带入石英炉，一半可选用ml/m i n =12. 原子荧光光度法测定汞时，水样消解时必须加入保持不褪。

13. 原子荧光法分析中所用的玻璃器皿均需用溶液浸泡小时，或_热震荡洗后，再用洗后方可使用。

X射线荧光光谱理论考试题库(选择题)1.X-射线荧光光谱分析土壤样品时,元素检出限高低与有关。

(C)A、单位含量计数率的大小;B、测量时间的长短;C、样品制备;D、背景的计数率2.下列选项中,不是能量色散光谱仪和波长色散光谱仪相比所具有的有点。

(D)A、分析速度快;B、体积小;C、成本低;D、分辨率高3.X射线荧光熔融法测定矿石中全铁,钴是作为加入的。

(B)A、氧化剂;B、内标元素;C、重吸收剂;D、脱模剂4.X射线荧光熔融法中加入碘化物或溴化物作用是。

(B)A、助溶剂;B、脱模剂;C、内标;D、熔剂5.原子的K层电子被逐出后,其空穴可以被外层中任一电子所填充,从而可以产生一系列的谱线,称为谱。

(C)A、L系;B、M系;C、K系;D、N系6.波长色散X射线荧光光谱仪当X射线光管的光电压超过靶材料的时,开始出现靶材质的特征光谱。

(A)A、临界激发电势;B、电压;C、电流;D、功率7.X射线荧光熔融法中影响熔样主要因素是、熔样时间和脱模剂用量。

(A)A、熔样温度;B、氧化剂;C、模具;D、熔剂量8.X射线荧光光谱仪采用“二点校正”时,α值应在之间。

(B)A、0.5~1.5B、0.8~1.2C、0.9~1.1D、0.6~1.49.X射线荧光熔融法测定铁矿石中全铁时,Fe测的是Fe Kβ谱线;内标钴测的是谱线。

(A)A、CoKαB、CoKβC、CoLαD、CoLβ10.X射线荧光光谱法中,当试样的有效照射面积缩小时,元素的X射线荧光强度。

(B)A、增大B、减小C、不变D、先减小后增大11.X射线荧光分析时基体效应的基体,是指分析时试样中除元素本身外其它所有的元素。

(C)A、气体B、惰性C、分析D、氧化剂12.由X射线管发出的一次X射线激发样品,使样品所含元素辐射出二次X射线,即X射线。

(B)A、光子B、荧光C、光谱D、线束113.元素的X射线特征光谱波长倒数的平方根与原子序数成。

(B)A、反比B、正比C、无关D、规律14.X射线管的高能电子在一次碰撞中耗尽其全部的能量,所产生的X射线光子具有最大的能量,它的波长最短,称为。

X射线荧光光谱理论考试题库（判断题）1．在波长色散X荧光光谱中，色散装置的核心部件是晶体。

（√）2．因X荧光分析中背景很大部分可能来源于入射X射线的散射。

然而元素越重散射越少，所以重元素光谱上的背景几乎无大的影响；相反在测量低浓度的轻元素时背景就成为限制因素。

（√）3．X荧光分析中因为光管上加有高压，故此冷却光管的水应为蒸馏水。

( × ) 4．X射线短波以τ射线为界，长波边与真空紫外线区域相邻。

( √ ) 5．对于波长长于3.5埃的X射线来说荧光产额不到0.1，这是X射线法用于长波时的灵敏度固有限制。

( √ )6．光电子出射时有可能再次发出原子中的其他电子，产生新的光电子，这个过程称为光电效应。

（×）7．在X荧光分析中，我们用K线测量中到高原子序数的元素。

（×）8．在X射线荧光光谱分析土壤样品时，可不破坏试样进行多元素分析。

（√）9．采用散射线内标校正基体效应，当土壤的主元素的含量范围变化较大时，其结果就会产生较大误差。

（√）10．主量子数代表电子绕原子序数为Z的原子核运动范围的大小，即轨道半径的大小。

（√）11．在X荧光分析中我们用K线测量中到高原子序数的元素。

（×）12．布拉格公式nλ=2d*sinθ中，d为晶面距，θ为布拉格衍射角。

（√）13．充气正比探测器所用P10气体中氩气的所占比例为90%，甲烷所占的比例为10%。

（√）14．采用散射线内标校正基体效应，当土壤的主元素的含量范围变化较大时，其结果就会产生较大误差。

（√）15．在X-射线荧光光谱的土壤分析中，采用粉末压片法进行土壤样品的制备，可保证粒度大小、组分均匀，并避免矿物效应等问题。

（×）16．波长色散光谱仪以探测器的个数区分，可分为平面晶体光谱仪和曲面晶体光谱仪。

（×）17．X射线的本质和光一样，都是电磁辐射，X射线的波长较短，能量较大。

（√）18．新的或放置了较长时间(2周以上)的X射线管，开机后必须进行老化处理。

X射线荧光光谱理论考试题库（填空题）1．根据探测方法的不同，可将X荧光光谱仪分为波长色散光谱仪和能量色散光谱仪两大类。

2．布拉格衍射公式为( nλ=2d*sinθ )，式中n为常数，称为衍射级数；λ为谱线波长。

3．X射线为波长在0.1-100埃之间的电磁波。

4．X射线探测器的主要技术指标探测效率、能量分辨率。

5．大部分X荧光光谱仪器仪上装有充气正比探测器，所用气体为P10气，即氩气和甲烷混合气体，其中甲烷用作猝灭性气体。

6．原子受激发产生X射线光子的概率叫荧光产额。

7．流气式正比计数器主要用于重元素分析，闪烁计数器用于轻元素测定。

8．波长色散X射线荧光光谱仪的激发源为X-光管。

9．在样品和晶体之间的准直器，其作用是将样品发射出的X射线荧光通过准直器变为平行光束照射到晶体，该准直器又称为入射狭缝。

10．WDX光谱仪主要组成部分为光管、色散装置、入射准直器或入射狭缝、晶体、出射准直器或出射狭缝和探测器。

11．当以经验系数法校正基体效应时，用一系列的标准样品进行测量，采用回归方法求取各待测元素的工作曲线常数，元素间效应的影响系数和谱线重叠系数。

12．土壤样品的处理方法，常取决于试样的性质、数量级、待测元素及其含量范围、所需的分析精度和准确度。

13．X射线管产生的X射线光谱，被称作原级X射线谱，它是由连续谱和特征谱组成。

14．在矿石分析中，由于同一元素间会以不同的价态、不同的结构、不同的晶体存在。

这种微观上的差别无法用机械方法除去，这称为矿物效应。

15．用于能量色失散X荧光光谱仪的Si（Li）探测器，须在液氮中冷却工作。

16．X射线荧光分析粉末试样时，采用玻璃熔片法可以消除基体效应和矿物效应带来的分析误差。

17．X射线波长范围，其短波段与γ射线长波段相重叠，其长波段则与真空紫外的短波段相重叠。

18．X射线荧光分析中特征X射线光谱的产生过程可以分两步：第一步：高能量子与原子发生碰撞，从中驱逐出一个内层电子。

X射线辐射源计量检定人员考试题姓名：分数：一、填空题：（每空4分）1、X射线照射量的法定计量单位是库仑每千克（C/kg），而大多数照射量计以往使用为单位，它等于C/kg。

2、带电粒子穿过物质运动时，损失能量的主要方式是和。

3、X射线的质是指其特性，常用的大小来表示。

4、控制外照射危害的三个要素是、和屏蔽。

5、辐射剂量测量按量值范围可分为由高到低的下列四个水平（量级），即：辐射加工水平、、和环境水平。

二、选择题：（每题4分）1、辐射的能量一般是指（）A 辐射的总能量B 辐射交给物质的能量C 物质从辐射吸收的能量D辐射粒子具有的动能2、按照射量的定义，照射量适用于（）A 带电粒子辐射B X、γ辐射C非带电粒子辐射 D 中子辐射3、测定X射线的半值层时，吸收片的最佳位置是（）A尽量靠近辐射源 B 尽量靠近探测器C离开射线源和探测器的距离大致相等4、激发电压为100kV的过滤X射线，其半值层通常用（）的厚度表示。

A 铝B 铜C锡D铅5、检定X射线辐射防护仪器的非线性时，为了给出不同的照射量率，下列欲采用的方法中正确的是（）A 改变X光机高压B 改变X光机附加过滤C 改变X光机电流三、简答题：（每题10分）1、X辐射防护仪器的检定项目中，哪些属于常规检定，哪些属于专项检定？并分别说明其检定周期。

2、在检定或使用电离室剂量计时，通常应注意的仪器安全问题是什么？四、计算题：（每题20分）1、为检查某剂量仪表的测量重复性，在恒定照射条件下，测量仪表十次读数分别为：78.5；78.0；79.0；78.0；79.5；78.5；78.0；77.0；78.5；78.0，求此仪表的重复性。