光伏组件标准测试条件

光伏组件标准测试条件的辐照度要求为

根据你提供的主题，我将撰写一篇有关光伏组件标准测试条件中辐照度要求的文章。文章将以知识文章格式进行撰写，以探讨这一主题，并会根据你的要求进行深度和广度兼具的评估和分析。

【主题】光伏组件标准测试条件的辐照度要求

一、引言

在当今世界，人们越来越意识到使用可再生能源的重要性。太阳能作为可再生能源的重要组成部分，得到了广泛的应用。然而，为了确保太阳能电池组件的性能和质量，我们需要了解光伏组件标准测试条件中对辐照度的要求。

二、光伏组件标准测试条件的定义

1. 光伏组件标准测试条件，简称STC (Standard Test Conditions)，是指在标准温度和辐照度条件下，对太阳能电池组件进行性能测试的条件。通常，STC包括25°C的温度和1000W/m²的辐照度。

2. 在STC条件下进行测试可以使不同厂家生产的太阳能电池组件具有可比性，帮助用户更好地选择适合自己需求的产品。

三、对辐照度的要求

1. 标准的辐照度要求

根据国际电工委员会（IEC）的相关标准，光伏组件的标准测试条件中，辐照度要求是1000W/m²。这意味着在太阳辐射强度为1000W/m²时，进行测试可以获得STC下的性能数据。

2. 辐照度对光伏组件性能的影响

辐照度是指单位面积上接收到的太阳光的能量。辐照度的变化会直接影响光伏组件的输出功率和效率。在实际应用中，光伏组件面对的太阳辐射并不总是1000W/m²，因此了解在不同辐照度下的性能表现非常重要。

四、个人观点和理解

作为一名太阳能技术从业者，我对光伏组件标准测试条件中辐照度要求的重要性深有体会。充分了解STC条件下的辐照度要求，不仅有助于厂家生产出更高质量的产品，也可以帮助用户更准确地评估产品性能和选择合适的光伏组件。

五、总结

光伏组件标准测试条件的辐照度要求是确保太阳能电池组件性能和质量的重要标准之一。通过理解STC条件中对辐照度的要求，可以更好地评估光伏组件的性能。在实际应用中，厂家和用户都需要充分重视这一要求，以确保太阳能电池组件能够在不同辐照度下表现出良好的性能。

SOLAR ENERGY 02/2018100 引言

当下，在全球气候变暖、常规能源短缺、环

境污染等问题日益突出的形势下，光伏发电得到

越来越多的重视与支持。

由于硅电池在生产过程中易受到损伤，会产

生隐裂、黑心片、断栅、碎裂等组件缺陷，而这

些隐性缺陷的存在极大地影响了太阳电池的转换

效率和使用寿命，因此，缺陷检测是太阳电池生

产制造过程中的核心步骤。随着光伏组件制造行

业的迅速发展，检测手段也越来越先进，目前业

内广泛采用电致发光(EL)来检测组件的隐性缺

陷[1]。为了提高组件的效率，本文主要研究组件

电池片中常见的隐裂、黑片、断栅、碎裂4种缺

陷，分别从EL图像和功率参数分析它们对组件

产生的影响[2]。

1 EL测试原理EL缺陷检测是探知和监控电池片因工艺或材料本身所导致缺陷的重要手段；通过EL图像

的分析可有效发现硅片扩散、钝化、印刷及烧结

各个环节可能存在的问题，对改进工艺、提高效

率和稳定生产都有重要的作用。因而，EL被认

为是太阳电池生产线的“眼睛”，目前也广泛用

于检查光伏组件的隐性缺陷。EL技术原理是基于对晶体硅太阳电池外加

正向偏置电压，电源向太阳电池注入大量非平衡晶体硅光伏组件EL测试的缺陷分析

主要利用电致发光(EL)手段对晶体硅光伏组件产生的裂纹、断栅和黑片等隐性缺陷进行分析研究，测试组件的最大功率；将有明显隐性缺陷的组件与无明显隐性缺陷的组件进行对比，分析各性能参数的差异，同时研究缺陷对功率的影响及缺陷产生的原因。另外，为研究黑片对组件的影响，选取组件做PID试验，观察试验后的组件EL图像和功率衰减情况，分析黑片产生原因及其对组件性能产生的影响。光伏组件；电致发光；隐性缺陷；PID；EL摘 要：

关键词：■ 程安琪1,2 宋昊2 白建波1* 王喜炜1 李华锋1 张超1（1.河海大学机电工程学院；2.国家太阳能光伏产品质量监督检验中心）

收稿日期：2016-10-22 基金项目： 国家自然科学基金面上项目(51676063)，江苏省普通高校专业学位研究生实践创新计划项目(SJLX16_0212)通信作者：白建波(1974—)，男，教授、博士、博士生导师，主要从事太阳能高效综合利用方面的研究。bai_jianbo@图1 测试系统工作原理图暗室

1.1.1 组件电性能测试

1 组件测试仪校准：开始测试前使用相应的标准板校准测试仪；之后连续工作四小时（或更换待测产品型号）校准测试仪一次。

2 标准板选用：测试单晶硅组件使用单晶硅标准板；测试多晶硅组件使用多晶硅标准板。

测试120W以上（包括120W）组件：使用160W标准板校准测试；

测试50～120W（包括50W）组件：使用80W标准板校准测试；

测试30～50W（包括30W）组件：使用30W标准板校准测试；

测试30W以下组件：使用15W标准板校准测试。

3 短路电流校准允许误差：±3%。

4 每次校准后填写《组件测试仪校准记录》。

2 组件的测试:

1太阳模拟器光强均匀度测试：① 太阳模拟器光强均匀度≤3%；② 每周一、四校正测试一次。

2 太阳模拟器光强稳定性测试：① 太阳模拟器光强稳定性≤1%；② 每天测试前校正测试一次。

3电池组件测试前，需在测试室内静止放置24小时以上，然后进行测试。

.4 测试环境温度湿度：① 温度：25±3℃；② 湿度：20～80%；③测试室保证门窗关闭，无尘。

3组件重复测试精度：＜±1%。

12.4组件电性能参数：

12.4.1国内组件：① 三十六片串接：工作电压：≥16.0V；开路电压: ≥19.8V。

② 七十二片串接：工作电压：≥33.5V； 开路电压: ≥42.4V。

③ 六十片串接： 工作电压：≥28.0V；开路电压: ≥34.0V。

④ 五十四片串接：工作电压：≥25.0V；开路电压: ≥32.0V。

⑤ 功率误差：±3%。

12.4.2国外组件：①三十六片串接：工作电压：≥16.8V； 开路电压: ≥20.5V。

② 七十二片串接：工作电压：≥33.5V；开路电压: ≥42.4V。

③ 六十片串接：工作电压：≥27.4V；开路电压: ≥34.0V。

④ 五十四片串接：工作电压：≥25.0V；开路电压: ≥32.0V。

⑤ 功率误差

报告

-----------关于测试曲线异常

1、现象如下图（同一块电池组件）：

*注：短路电流的变化情况

图1 装接线盒经过二极管整体测试结果

图2 不经过接线盒测试（夹第三、四根引线）

图3 不经过接线盒测试（夹第二、三根引线）

图4 不经过接线盒测试（夹第一、二根引线）

1.2 曲线异常原因分析：

1.2.1 组件内存在碎片或局部裂纹

二极管是反偏并联于电池,当电池有局部裂纹时,则局部的光生载流子就无法通过辅栅到达主栅,使电池的Im减小为Im1.同时如果串联于此电池的其他电池完好无损,依然能有Im通过,但经过此裂纹电池时,就会有(Im-Im1)的电流通过二极管流走,Im1则经过这块问题电池.IV曲线是所有单体电池的iv曲线叠加而成的,那么自然就会行成阶梯.如果没二极管,所有电池将只有Im1,自然也就不存在阶梯了。

1.2.2 二极管正向导通

同上所述二极管是反偏并联于电池,当同一组件内各电池片或串短路电流差别较大时,组件内电流不一致从而导致曲线异常。

备注* a. 如果测试仪采样点越多则此种 情况就越明显；

b. 可排除接线盒或二极管原因。

C. 经实验得知同一块组件1-2、2-3、3-4每两串测试得三个短路电流数据，如果三个短路电流最大值和最小值数据绝对值大于0.1则会出现此种情况。