怎么判断晶振是否起震

电子电路入门必学元件：晶振的识别，检测与代换晶振，又叫石英晶体谐振器，是利用石英晶体的逆压电效应而制成的谐振元件，与半导体器件和阻容元件一起使用，便可构成石英晶体振荡器。

晶振的精度和稳定度都非常高，被广泛应用于彩电、计算机、遥控器等各类振荡电路中。

所以，学习电子电路，晶振是必须掌握的一类电子元件。

晶振主要参数：1,标称频率2, 调整频差3,温度频差4,负载谐振电阻5,负载电容（常用标准值有：12pF 、 16pF 、 20pF 、 30pF）这些参数不一一介绍，如果有需要，请关注：光头机电，并留言。

1，其中，主要参数“负载电容”，是指从晶振的插脚两端向振荡电路的方向看进去的等效电容，即与晶振插脚两端相关联的集成电路内部及外围的全部有效电容的总和。

2，晶振在振荡电路中起振时等效为感性，负载电容与晶振的等效电感形成谐振，决定振荡器的振荡频率。

3，负载电容值不同，振荡器的振荡频率也不同，改变负载电容的大小，就可以改变振荡频率。

负载电容是一个测试条件,也是一个不容忽视的使用条件。

4，晶振的负载电容有高、低两类之别，低者一般仅为十几皮法至几百皮法，而高者则为无穷大，两者相差悬殊，决不能混用，否则会使振荡频率偏离，这一点，大家特别要注意。

所以说，两类不同负载电容的晶振使用方式截然不同，低负载电容晶振都串联几十皮法容量的电容。

而高负载电容晶振不但不能串联电容,还需要并联数皮法小容量电容(外电路的分布电容有时也能取代这个并联小电容），如图：代换时请注意：每个晶振的外壳上除了清晰地标明了标称率外,还以型号及等级符号区分其他性能参数的差异。

例如,同为标称频率4.43MHz的国产晶振，JA18A为低负载电容，仅16pF。

而JA18B则是高负载电容，为无穷大。

选用时必须明辨等级。

检查方法：1，晶振可用万用表进行检测,先用万用表的R×10k挡测量晶振两端的电阻值，若为无穷大，则则说明晶振无短路或漏电，再将试电笔插入火线孔内,用用手指捏住晶振的任意一脚,用另一只引脚触碰试电笔顶端的金属部分，试电笔氮管发亮说明晶振正常，若氖管不亮说明晶振是坏的的。

如何判断单⽚机是否起振，如何判断晶振的好坏？晶振能否起振决定了单⽚机能否正常⼯作
单⽚机⼯作需要⼀个系统时钟，这个系统时钟可以是单⽚机内部的振荡器，也可以是外部的晶
振。

如果使⽤外部晶振作为单⽚机的系统时钟，必须要让晶振可靠、稳定的起振。

如何判断晶振是否起振？
判断晶振是否起压其实很简单，如果在程序仿真阶段，可以在程序中设计断点，检测程序有没
有正确的运⾏，如果晶振没有起振，程序是执⾏不了的。

也可以使⽤万⽤表测量晶振两个脚的电压，正常起振后，晶振两个引脚的电压相差不⼤，⼤约
为单⽚机⼯作电压的⼀半。

还可以⽤⽰波器来测量晶振两个引脚的波形，正常起振时，晶振的引脚会有规则的波形。

晶振为什么会不起振？
晶振不起振的原因有以下⼏个：
晶振质量不好，晶振坏了；这种情况⼀般很少，晶振的⽣产⼯艺已经很成熟。

⼯⽣⼯艺问题，晶振引脚假焊或者短路
Layout问题，如果设计有缺陷，⽣产的时候，可能导致部分产品晶振不起振。

在PCB Layout的
时候晶振需要尽量靠近单⽚机的晶振引脚
晶振的负载电容、负载电阻不匹配。

和晶振连接的两个⼩电容叫做负载电容，和晶振并联的电
阻叫做负载电阻。

如果负载电容或者负载电阻没有匹配好，也会导致不起振。

请问怎么判断电路板上的晶振是否起振？如果不起振该如何解
决？
万用表或者示波器可以测量晶振是否起振
1.使用万用表的直流电压档，测量晶振两端的电压，起振的时候，电压一般是芯片供电电压VCC的一半。

当然晶振两边的电压可能有差异，但如果有一边电压接近VCC，或者有一边接近0，那么晶振应该是没有起振。

2.用示波器来看波形是最直观的，可以用10X或者100X的探棒来测试晶振两端的波形。

起振的时候会有正常、齐整的波形出现
晶振不起振怎么办？
•检查线路连接是否正确，如果存在假焊或者短路，自然就不起振了，可以用万用表的，检查晶振连接的线路是否存在假焊或者短路
•检查选用的负载电容和负载电阻是否正确。

不同单片机和芯片对晶振的要求都有所不同的，需要查阅规格书，检查选用的负载电容和负载电阻是否正确、合理。

•检查PCB的Layout是否合理，晶振部分的电路要求与单片机或者芯片引脚尽量的靠近，PCB的Layout不合理也会导致晶振不起振哦•检查程序配置是否正确，很多的单片机都有多个时钟系统可配置，使用内部振荡器时，晶振的引脚还可以作为普通IO使用。

如果程序配置错了，自然也会不起振了。

万用表测晶振起振的方法万用表是电工中常用的工具，其功能和使用范围非常广泛。

其中，测量晶振的起振频率也是日常工作中经常需要用到的一项技能。

今天我们就来探讨一下万用表测晶振起振的方法。

1. 确定测量方案晶振起振是指晶体振荡器在正常工作时，输出一定的稳定频率。

而测量起振频率常常需要将晶振与外部电路连接起来。

因此，在测量之前，需要思考测量方案。

一般来说，如果晶振输出为正弦波，则可以将晶振输出端连接到万用表上进行测量。

如果输出为方波或矩形波，则需要使用频率计进行测量。

2. 连接晶振与万用表在连接晶振与万用表时，需要先将万用表设置到交流电压档位，并选择量程。

将晶振的输出端连接到万用表的电压钳子上，注意连接的稳定性，避免测量间隙、测量器具损坏或读数不稳定。

同时，若晶振有多个输出端，需要选择合适的输出端，以确保正常测量。

3. 设置万用表显示万用表的电压档位设置影响测量的灵敏度，选择较高的电压档位则对测量精度影响较大。

选择较低的档位对测量但读数影响较大。

因此，在连接晶振与万用表时，需要根据晶振输出的电压范围和万用表的电压档位设置合适的电压档位，以保证测量结果的准确性。

4. 开始测量连接好万用表和晶振之后，就可以开始测量了。

打开电源，观察万用表指针或显示屏的读数，可以获得晶振的起振频率。

如果显示屏显示的数值不稳定，可以将量程调整到较低档位，再进行测量。

此外，如果发现测量结果异常，可以进行多次测量，并将结果取平均值，以提高测量精度。

总之，测量晶振起振频率是电工中不可避免的一项技能。

合理的测量方案、稳定的连接和合适的仪器操作都是保证测量结果准确的前提条件。

希望本文能为大家提供一些有用的参考呢！。

用万用表测量晶体振荡器是否工作的方法：测量两个引脚电压是否是芯片工作电压的一半，比如工作电压是51单片机的+5V则是否是2.5V左右。

另外如果用镊子碰晶体另外一个脚，这个电压有明显变化，证明是起振了的。

这只是证明晶振是在工作的，另外晶振的频率及频差等参数就要专业的仪器测量了。

在晶振参数测量中，由于Fs和Fr阻抗相对较低，按IEC 444和EIA 512进行Fs/Fr测量没有什么困难，问题主要在于负载谐振频率(FL)的测量，特别是负载电容(CL)很低的时候。

晶振在负载谐振频率处阻抗相对较高，用50Ω网络分析仪测量较高阻抗要求测量设备具备很高稳定性和高精度，一般来说这样的要求不切实际，成本太高，因此技术人员又开发了几种负载谐振频率测量方法，如计算法、物理负载电容法等，这些方法设计用于测量低阻抗晶振，这样就可使用低精度设备。

我们下面先对各种方法作一比较。

负载谐振频率测量法1. 计算法根据IEC 444规定，被测器件(DUT)在约±45°对其动态参数进行测量，负载谐振频率根据±45°数据“计算”得到。

该方法的优点在于被测器件在相对较低阻抗即接近25Ω处进行测量，因此测试对寄生分量的软件补偿要求相对简单。

它的缺点在于被测器件不是在最终使用条件下进行测试，即不在相移等于规定的CL/FL处进行测试，如果晶振性能严格遵循四器件模型(图1)，那么这个方法也是可以接受的，但当晶振是非线性时(即不符合四器件模型)，FL的测量就不够精确(图2)。

如果已经知道被测器件是一个线性晶振，则可以使用这个方法来测量；但在大多数场合下，需要先有一个测试方法来告诉你它是否是线性的，所以计算法不实用，除非你在测试前已经知道晶振是线性的。

那么晶振的线性度究竟有什么影响呢？从电路应用观点来看，只要晶振有一稳定(可重复)明确的阻抗-频率曲线，并且在振荡器中功能正常，它就是一个好晶振，是不是线性没有关系，非线性晶振并不意味着是一个坏晶振。

晶振检验作业指导引言概述：晶振是电子设备中常见的一种元器件，它在电路中起到提供稳定的时钟信号的作用。

为了确保电子设备的正常运行，对晶振的质量进行检验是非常重要的。

本文将为大家介绍晶振检验的作业指导，帮助大家了解晶振检验的流程和注意事项。

一、外观检验1.1 外观检查首先，对晶振的外观进行检查。

检查晶振是否有明显的损伤、变形、划痕等情况。

同时，还要检查晶振的引脚是否完好，是否有松动、变形等问题。

1.2 标识检查接下来，对晶振的标识进行检查。

检查晶振上的标识是否清晰可见，包括型号、生产厂商、生产日期等信息。

同时，还要核对标识信息是否与产品规格书上的要求一致。

1.3 温度特性检查最后，对晶振的温度特性进行检查。

将晶振放置在不同的温度环境下，观察其频率变化情况。

晶振的频率应在一定温度范围内保持稳定，温度特性合格的晶振才能被认定为合格产品。

二、电性能检验2.1 频率测量首先，使用频率计对晶振的频率进行测量。

将晶振连接到频率计上，观察频率计显示的数值。

晶振的频率应该与产品规格书中的要求一致，并且在一定的误差范围内。

2.2 驱动能力检查接下来，对晶振的驱动能力进行检查。

将晶振连接到驱动电路中，观察晶振是否能够正常振荡，并且输出的信号幅度是否符合要求。

驱动能力强的晶振能够提供更稳定的时钟信号。

2.3 温度漂移检查最后，对晶振的温度漂移进行检查。

将晶振放置在不同的温度环境下，观察晶振的频率变化情况。

温度漂移应在一定范围内，以保证晶振在不同温度下的工作稳定性。

三、电气性能检验3.1 静态电流检查首先，对晶振的静态电流进行检查。

将晶振连接到电流表上，观察电流表的读数。

晶振的静态电流应在一定范围内，过高或过低的静态电流都可能影响晶振的正常工作。

3.2 相位噪声检查接下来，对晶振的相位噪声进行检查。

使用频谱仪对晶振输出的信号进行分析，观察频谱仪显示的相位噪声水平。

相位噪声应在一定范围内，以保证晶振输出的时钟信号稳定。

3.3 耐压检查最后，对晶振的耐压能力进行检查。

晶振检验作业指导引言概述：晶振是电子产品中常用的元器件，其稳定性和准确性对于产品的性能起着至关重要的作用。

因此，在生产过程中对晶振进行检验是必不可少的环节。

本文将详细介绍晶振检验的作业指导，匡助读者了解如何正确进行晶振的检验工作。

一、外观检查1.1 检查晶振外壳晶振外壳应该没有明显的划痕、变形或者氧化现象，外壳应该完整无损。

1.2 检查引脚检查晶振引脚的焊接是否完整，是否有断裂或者虚焊现象。

1.3 检查标识检查晶振上的标识是否清晰，包括型号、生产厂家等信息。

二、参数测试2.1 频率测试使用频率计对晶振进行频率测试，检查其频率是否在规定范围内。

2.2 阻抗测试使用阻抗仪对晶振进行阻抗测试，检查其阻抗是否符合标准要求。

2.3 温度测试在不同温度下对晶振进行测试，检查其工作稳定性和温度漂移情况。

三、震动测试3.1 震动测试设备准备准备震动测试设备，设置不同频率和幅度的震动条件。

3.2 震动测试将晶振置于震动测试设备上进行震动测试，检查其在震动条件下的工作性能。

3.3 结果记录与分析记录震动测试的结果，分析晶振在震动条件下的稳定性和可靠性。

四、Aging测试4.1 Aging测试设备准备准备Aging测试设备，设置不同时间和温度条件。

4.2 Aging测试将晶振置于Aging测试设备中进行Aging测试，检查其在不同时间和温度条件下的稳定性。

4.3 结果记录与分析记录Aging测试的结果，分析晶振在不同时间和温度条件下的性能变化情况。

五、封装检验5.1 封装外观检查检查晶振的封装外观是否完整，是否有漏胶或者封装不良现象。

5.2 封装可靠性测试对晶振的封装进行可靠性测试，检查其在不同环境条件下的耐久性。

5.3 结果记录与分析记录封装检验的结果，分析晶振的封装质量和可靠性。

结语：通过以上介绍，相信读者对晶振检验的作业指导有了更深入的了解。

在进行晶振检验时，需要严格按照标准操作流程进行，确保产品的质量和性能稳定。

万用表测量晶振方法
小技巧：没有示波器情况下如何测量晶振是否起振?
可以用万用表测量晶振两个引脚电压是否是芯片工作电压的一半，比如工作电压是5V则测出的是否是2.5V左右。

另外如果用镊子碰晶体另外一个脚，这个电压有明显变化，证明是起振了的.
小窍门：就是弄一节1.5V的电池接在晶振的两端把晶振放到耳边仔细的听，当听到哒哒的声音那就说明它起振了，就是好的嘛！
1.电阻法
把万用表拨在R×10K挡，测量石英晶体两引脚间的电阻值应为无穷大。

如果测量出的电阻值不是无穷大甚至接近于零，则说明被测晶体漏电或击穿。

这种办法只能测晶体是否漏电，如果晶体内部出现断路，电阻法就无能为力了，此时必须采用下面介绍的方法
2 .自制测试器
按图所示电路，焊接一个简易石英晶体测试器，就可以准确地测试出晶体的好坏。

图中XS1、XS2两个测试插口可用小七脚或小九脚电子管管座中拆下来的插口。

LED发光管选择高亮度的较好。

检测石英晶体时，把石英晶体的两个管脚插入到XS1和XS2两个插口中，按下开关SB，如果石英晶体是好的则由三极管VT1、C1、C2等元器件构成的震荡电路产生震荡，震荡信号经C3耦合至VD2检波，检波后的直流信号电压使VT2导通，于是接在VT2集电极回路中的LED发光，指示被测石英晶体是好的，如果LED不亮，则说明被测石英晶体是坏的.本测试器测试石英晶体的频率很宽，但最佳工作频率为几百千赫至几十兆赫。

晶振的检测技巧
晶振是电子设备中重要的元器件之一，其功用主要是提供稳定的振荡信号。

晶振在电路板的使用中，可能会遇到一些故障，因此需要进行检测。

以下是几个晶振的检测技巧。

1. 用万用表检测晶振的电阻值：将万用表转到电阻档，将晶振的两个脚分别与万用表的两个探针接触。

正常情况下，晶振的电阻值应该是无穷大，如果电阻值为0或非常小，可能是晶振损坏。

2. 用示波器检测晶振的振荡波形：将示波器的探头接到晶振的两个脚上，观察示波器显示的波形是否为正弦波，频率是否正确。

如果波形不正常，可能是晶振损坏或者晶振周围的电路出现故障。

3. 用震荡电路板检测晶振的工作状态：将晶振连接到震荡电路板上，观察震荡电路板上的指示灯是否闪烁。

如果指示灯不亮或者灯亮但不闪烁，可能是晶振损坏或者晶振周围的电路出现故障。

在检测晶振时，需要注意以下几点：
1. 检测前必须切断电源，避免电路板上的其他元器件受到电流的干扰。

2. 检测时应该使用正确的工具和设备，例如万用表、示波器、震荡电路板等。

3. 如果发现晶振损坏，应该及时更换，避免影响整个电路板的正常工作。

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晶振检验作业指导一、背景介绍晶振是一种用于产生稳定频率的元件，广泛应用于电子设备中，例如计算机、手机、电视等。

为了确保晶振的质量和性能稳定，需要进行晶振的检验工作。

本文将详细介绍晶振检验的步骤和标准，以确保产品质量和性能。

二、晶振检验步骤1. 外观检查首先，对晶振进行外观检查，包括检查外壳是否完整、无损坏、无划痕等。

同时，还需要检查引脚的焊接是否牢固，没有松动或者断裂。

2. 参数测量接下来，对晶振的参数进行测量。

常见的参数包括频率、频率稳定度、谐振电阻等。

使用频率计等仪器进行测量，并记录测量结果。

3. 温度特性测试晶振的频率受温度影响较大，因此需要进行温度特性测试。

将晶振置于不同温度环境中，例如高温、低温等，测量晶振的频率变化情况。

4. 震动测试晶振在运输和使用过程中可能会受到震动的影响，因此需要进行震动测试。

将晶振置于震动台上，进行不同频率和幅度的震动，观察晶振的性能是否受到影响。

5. 寿命测试晶振的寿命是指其在正常使用条件下的可靠运行时间。

通过对晶振进行长时间运行测试，观察其性能是否稳定，并记录运行时间。

6. 其他测试根据实际需要，还可以进行其他测试，例如抗干扰性能测试、电磁兼容性测试等，以确保晶振在各种环境下都能正常工作。

三、晶振检验标准1. 外观标准外壳应完整，无损坏、划痕等。

引脚焊接应牢固，无松动或断裂。

2. 参数标准频率应符合产品规格要求，频率稳定度应在允许范围内。

谐振电阻应符合产品规格要求。

3. 温度特性标准晶振的频率变化应在允许范围内，温度系数应符合产品规格要求。

4. 震动标准晶振在不同频率和幅度的震动下，应能正常工作，无异常现象。

5. 寿命标准晶振应能在规定的寿命范围内正常工作，性能稳定。

6. 其他标准根据产品的具体要求，进行相应的测试，并根据产品规格进行评定。

四、检验记录和报告在进行晶振检验时，需要详细记录每一项测试的结果和数据。

同时，还需要编写检验报告，包括晶振的型号、批号、检验日期、检验员等信息，以及每一项测试的结果和评定。

晶振检验作业指导引言概述：晶振是电子产品中常用的元器件之一，其稳定性和精准度对产品的性能起着至关重要的作用。

因此，在生产过程中对晶振进行检验是必不可少的环节。

本文将详细介绍晶振检验的作业指导，帮助读者了解如何正确进行晶振检验。

一、外观检查1.1 确认晶振外壳是否完整，有无明显损坏或变形。

1.2 检查晶振引脚是否齐全，无断裂或弯曲现象。

1.3 观察晶振表面是否有氧化、污渍或异物，确保表面光洁。

二、参数测量2.1 使用万用表测量晶振的电阻值，确保引脚之间没有短路。

2.2 使用频率计测量晶振的振荡频率，与规格书上标明的频率进行比对。

2.3 测量晶振的静态电容值，确保符合规格要求。

三、功能性测试3.1 将晶振连接至电路板，通过示波器观察晶振的振荡波形。

3.2 测试晶振在不同温度下的振荡稳定性，确保在极端温度条件下仍能正常工作。

3.3 测试晶振的启动时间和启动功率，确保在各种工作条件下均能正常启动。

四、环境适应性测试4.1 将晶振放置在高温、低温、潮湿等不同环境条件下，观察其性能变化。

4.2 测试晶振在震动、冲击等外力作用下的稳定性，确保产品在运输过程中不会受到影响。

4.3 测试晶振在不同电磁场干扰下的抗干扰能力，确保产品在复杂电磁环境下正常工作。

五、记录与报告5.1 记录每一次晶振检验的结果，包括外观检查、参数测量、功能性测试和环境适应性测试的数据。

5.2 根据检验结果生成检验报告，详细描述晶振的性能指标和测试情况。

5.3 将检验报告归档保存，作为产品质量控制的重要依据。

结语：通过本文的作业指导，读者可以了解晶振检验的具体步骤和注意事项，确保产品质量和性能稳定。

希望读者能够在实际生产中严格按照指导进行晶振检验，提升产品的竞争力和市场口碑。

晶振的检测方法晶振是一种常见的电子元件，广泛应用于各种电子设备中，如手机、电脑、通讯设备等。

它的主要作用是产生稳定的时钟信号，用于同步各个部件的工作。

因此，晶振的质量和性能直接影响到整个电子设备的稳定性和可靠性。

为了确保晶振的质量，我们需要对其进行检测和测试。

本文将介绍晶振的常见检测方法，希望能够帮助大家更好地了解和使用晶振。

首先，我们来介绍一种常见的检测方法——频率测量。

通过频率测量，我们可以准确地测量晶振的振荡频率，从而判断其性能是否正常。

在进行频率测量时，我们需要使用专业的频率计或示波器等仪器，将其连接到晶振的输入端和输出端，然后观察和记录振荡频率。

通常情况下，正常工作的晶振应该能够产生稳定的频率，并且频率值应该在一定的范围内波动。

如果频率值超出了规定的范围，就说明晶振可能存在质量问题，需要进行进一步的检测和分析。

除了频率测量之外，我们还可以通过相位噪声测试来评估晶振的性能。

相位噪声是指振荡信号相位的不稳定性，通常用于描述振荡信号的稳定性和纯净度。

相位噪声测试可以帮助我们了解晶振在不同工作条件下的性能表现，从而为其合理的使用提供参考依据。

在进行相位噪声测试时，我们需要使用专业的相位噪声测试仪器，将其连接到晶振的输出端，然后进行测试和分析。

通过相位噪声测试，我们可以得到晶振在不同频率下的相位噪声特性曲线，从而全面了解其性能表现。

此外，温度稳定性测试也是晶振检测的重要内容之一。

晶振的工作稳定性很大程度上取决于其在不同温度下的性能表现。

因此，我们需要通过温度稳定性测试来评估晶振在不同温度条件下的振荡频率和相位噪声等性能指标。

在进行温度稳定性测试时，我们需要使用恒温箱或温度控制系统，将晶振置于不同的温度环境下，然后进行频率测量和相位噪声测试。

通过温度稳定性测试，我们可以得到晶振在不同温度条件下的性能特性曲线，从而为其在实际应用中提供参考依据。

综上所述，晶振的检测方法主要包括频率测量、相位噪声测试和温度稳定性测试。

晶振检验作业指导引言概述：晶振是电子设备中常见的元器件之一，它在电路中起到提供时钟信号的作用。

为了保证电子设备的正常运行，晶振的质量必须得到有效的检验。

本文将为大家提供晶振检验的作业指导，以匡助读者了解晶振的检验方法和步骤。

一、晶振外观检验1.1 外观检查首先，检查晶振的外观是否完好无损。

观察晶振的外壳是否有明显的划痕、变形或者裂纹等物理损伤。

同时，还需要检查晶振引脚的焊接是否坚固，没有松动或者断裂现象。

1.2 标识检查在外观检查的基础上，还需要核对晶振上的标识信息。

包括晶振的型号、频率、生产批号等信息是否与规格书或者标签一致。

如果发现标识信息有误或者含糊不清，需要及时与供应商联系确认。

1.3 清洁检查晶振表面的灰尘、污渍等杂质会对其性能产生一定的影响，因此需要进行清洁检查。

使用干净的棉布或者专用清洁剂轻轻擦拭晶振表面，确保其表面干净整洁。

二、晶振电性能检验2.1 频率测量晶振的频率是其最重要的性能指标之一，需要通过频率测量仪器进行检验。

将晶振引脚正确连接到频率测量仪器上，按照设备操作手册的要求进行测量。

确保测量结果与晶振规格书中的频率范围一致。

2.2 电流测量晶振的电流消耗也是其重要的电性能指标之一。

通过连接电流表在晶振的供电电路中进行测量，确保晶振的电流消耗在规定范围内。

如果发现电流异常，可能是晶振存在故障或者供电电路存在问题。

2.3 相位噪声测量相位噪声是指晶振输出信号中存在的随机相位偏移，对某些应用场景可能会产生影响。

使用相位噪声测量仪器对晶振进行检验，确保其相位噪声在规定范围内。

三、晶振可靠性检验3.1 温度循环测试晶振在不同温度环境下的性能稳定性是其可靠性的重要指标之一。

通过将晶振放置在高温和低温环境中进行循环测试，观察晶振在温度变化下的性能表现。

3.2 振动测试振动环境对晶振的可靠性也有一定的影响。

通过将晶振进行振动测试，观察晶振在振动环境下的性能表现，确保其能够正常工作。

3.3 寿命测试晶振的寿命是指其在特定工作条件下能够正常工作的时间。

如何确定晶振正常起振？1、判断方法很多，用示波器看波形是最直接的，用数字万用表的电压档测电压也行，因晶振波形的占空比为50％，所以测得的平均电压为1/2Vcc左右，对于51单片机，在使用外置程序存储器的时候还可以测PSEN引脚或P0口引脚的电压或波形，只有晶振电路正常工作，那些引脚才会有信号输出，但现在很少采用片外扩展存储器，所以测晶体两端的电压或波形即可，只是晶振电路设计不良时，测试设备的引入有可能导致停振。

2、晶体两端的电压差不是平均电压差，虽然事实上因外电路的影响，晶体两端的电压可能会有差别，但这不是判断晶振是否起振的依据，也不是晶振电路正常工作的条件。

至于一高一低没有工作是指一端为Vcc或接近Vcc，另一端为0或接近0，这时晶振电路当然没有起振，否则50％的占空比势将平均电压拉到1/2Vcc左右，但这么表达是不确切的，搞技术应该尽量定量精确描述。

3、听声音判断晶振是否起振不可靠，晶体的振荡频率远超人耳能够听见的频率上限，有时能够听到反而是有问题的，说明晶体质量不佳，更多的时候，正常工作的晶体是不会发出任何人耳能听到的声音的，有时声音来自外电路元件4、单片机的两个信号输入脚一个是19脚（XTAL1）一个是18脚（XTAL2)对应单片机内部的电路是高增益放大器，当外面接晶振的时候，19脚对应高增益放大器的输入端，18脚对应高增益放大器的输出端，所以你测量的时候应该是高增益输出端有信号也就是18脚51单片机振荡电路？在MCS－51单片机片内有一个高增益的反相放大器，反相放大器的输入端为XTAL1，输出端为XTAL2，由该放大器构成的振荡电路和时钟电路一起构成了单片机的时钟方式。

根据硬件电路的不同，单片机的时钟连接方式可分为内部时钟方式和外部时钟方式，如图2.11所示（a）内部方式时钟电路（b）外接时钟电路内部时钟原理图（就是一个自激振荡电路）在内部方式时钟电路中，必须在XTAL1和XTAL2引脚两端跨接石英晶体振荡器和两个微调电容构成振荡电路，通常C1和C2一般取30pF，晶振的频率取值在1.2MHz～12MHz之间。

晶振检验作业指导引言概述：晶振是电子产品中常用的元器件之一，其稳定性和精确度直接影响到整个电子产品的性能。

因此，在生产过程中对晶振的检验工作显得尤其重要。

本文将针对晶振检验的作业指导进行详细介绍，匡助读者了解如何正确进行晶振检验工作。

一、外观检查1.1 确保晶振外壳完整，无明显损坏或者变形。

1.2 检查晶振引脚是否完好，无锈蚀或者变色现象。

1.3 注意观察晶振表面是否有刮痕或者污渍，确保外观无瑕疵。

二、电性能测试2.1 使用万用表测试晶振的电阻值，确保符合规定范围。

2.2 运用示波器检测晶振的频率输出，确保频率稳定。

2.3 测试晶振的启动时间和启动电压，确保在规定范围内。

三、温度特性检验3.1 将晶振置于不同温度环境下，观察其频率输出是否受到影响。

3.2 测试晶振在不同温度下的启动时间和启动电压，评估其温度特性。

3.3 检查晶振在高温环境下的稳定性，确保产品在极端条件下也能正常工作。

四、震动耐受性测试4.1 将晶振进行震动测试，观察其频率输出是否受到干扰。

4.2 测试晶振在不同频率下的震动耐受性，评估其稳定性。

4.3 检查晶振在震动环境下的工作状态，确保产品在振动环境下也能正常工作。

五、封装完整性检验5.1 检查晶振的封装是否完好，无明显裂纹或者漏胶现象。

5.2 测试晶振的密封性能，确保产品不受外界湿气或者灰尘侵入。

5.3 观察晶振封装是否符合标准要求，确保产品质量符合要求。

结论：通过本文的晶振检验作业指导，读者可以了解到晶振检验的基本流程和方法，从外观检查到电性能测试，再到温度特性检验、震动耐受性测试和封装完整性检验，都是确保晶振质量的重要环节。

惟独严格按照规定进行检验，才干保证生产出高质量的晶振产品，提升电子产品的性能和可靠性。

晶振测量方法范文晶振是指晶体振荡器，它是一种能产生高精度的稳定频率信号的器件。

晶振广泛应用于各种电子设备中，例如计算机、手机、电视等。

在电路设计和维修中，经常需要对晶振进行测量，以确保其正常工作。

本文将介绍晶振的测量方法。

晶振的测量方法可以分为频率测量和阻抗测量两种。

一、频率测量方法：频率测量是指通过测量晶振的振荡频率来判断其工作状态是否正常。

常用的频率测量方法有以下几种：1.使用示波器测量法：通过将示波器的探头连接到晶振的输出引脚，观察并测量示波器的显示频率。

这种方法简单直观，但需要专用的示波器设备，并且测量结果受示波器的性能影响。

2.使用计数器测量法：通过将计数器的输入引脚连接到晶振的输出引脚，设置计数器的测量范围和精度，然后启动计数器进行测量。

这种方法适用于对频率的高精度要求，但需要专用的计数器设备。

3.使用频率计测量法：通过将频率计的输入引脚连接到晶振的输出引脚，然后启动频率计进行测量。

这种方法简单易行，适用于对频率精度要求不高的场合。

二、阻抗测量方法：阻抗测量是指通过测量晶振的输入和输出端的阻抗来判断其工作状态是否正常。

常用的阻抗测量方法有以下几种：1.使用阻抗分析仪测量法：通过将阻抗分析仪的测量端连接到晶振的输入或输出引脚，然后启动阻抗分析仪进行测量。

这种方法可以直观地了解晶振的输入输出特性，但需要专用的阻抗分析仪设备。

2.使用LCR表测量法：通过将LCR表的两个测试夹具分别连接到晶振的输入和输出端，然后启动LCR表进行测量。

这种方法适用于对阻抗精度要求高的场合，但需要专用的LCR表设备。

3.使用万用表测量法：通过将万用表的电阻测量端连接到晶振的输入或输出引脚，然后启动万用表进行测量。

这种方法简单易行，适用于对阻抗精度要求不高的场合。

综上所述，晶振的测量方法主要包括频率测量和阻抗测量两种。

具体选择何种方法取决于测量需求和设备条件。

无论哪种方法，都需要注意测量仪器的精度和测量环境的稳定性，以保证测量结果的准确性。

如何判断单片机是否起振，如何判断晶振的好坏？单片机是可编程器件，在执行程序指令时与单片机的机器周期有着直接的关系，而机器周期是由单片机的时钟频率/晶振决定的。

所以，只要单片机的晶振出现问题，那么单片机就无法工作。

单片机具有内部晶振和外部晶振，本文介绍单片机的外部晶振。

1 如何判断晶振是否工作对于普通的外部晶振而言，在设计电路时需要设计两个负载电容，帮助晶振起振。

负载电容的取值范围为(15-30)pF，晶振电路如下图所示。

这种晶振内部一般没有滤波整形电路，其输出波形为正弦波，可以通过示波器测量晶振引脚的波形。

其波形为正弦波，频率与所使用晶振的频率虽有波动但相差不大，则晶振是好的，可以正常起振。

晶振波形如下图所示。

对于有源晶振而言，一般具有四个引脚，需要接入电源。

其内部有整形滤波电路，正弦波会被整形为方波输出，用示波器查看时，会看到方法信号。

2 单片机问题的排查方法单片机电路在初上电时可能会存在一些问题，导致电路不能正常工作，在排查问题时可以按照如下几个步骤执行：1)检查单片机电源是否正常。

单片机电源是首先要检查的，可以用万用表或者示波器检查单片机的电源、输入电源是否正常，再检查电源和GND之间的阻值，查看是否短路，如果问题排除，则向下执行。

2)检查晶振是否正常起振。

根据文中第一部分的介绍检查晶振是否起振。

3)通过简单程序验证。

如果硬件电路一切正常，那么就需要通过简单的程序来验证单片机是否正常，常用的方法就是用程序点亮一颗LED或者控制GPIO输出高低电平。

有些高速板或者对时钟频率要求比较高的板子，可能会采用有源晶振，这种晶振内部一般会有整形滤波电路，晶振输出的波形为方波，也可以使用示波器来检查其波形和频率。