FTIR分析
分析;存在三个明显的吸 收峰. 1)峰为Si—O 键的非对 称伸缩振动吸收,为SiO2 中的Si—O 键 2)属于硅晶格中的替位 碳的振动吸收 3)对应Zn—O 键的红外 光谱的特征吸收峰
由于ZnO 薄膜的生长过程 中采用了400℃的衬底温 度,提高了Zn原子和O 原 子在衬底表面的迁移率进 而提高了ZnO薄膜的结晶 质量,使得ZnO 的吸收峰 非常尖锐.
[4] E. Cappellia,*, C. Scillettaa, S. Orlando Thin Solid Films 482 (2005) 305– 310 [5] 何建廷等,PLD 法生长硅基ZnO 薄膜的特性,电子元件与材料.2005.5
PLD 的基本原理及物理过程
脉冲激光沉积技术就是将脉冲激光器产生 的高功率脉冲激光束聚焦后作用于靶材表 面,瞬间产生高温高压等离子体( T ≥104 K) , 等离子体定向局域绝热膨胀发射并在衬底 上沉积而形成薄膜.
PLD原理图
参考陈老师PPT
脉冲激光沉积示意图
Tube Furnace
主要分为3 个过程:
Dual-beam PLD
解决大面积沉积膜厚不 均的问题
因为等离子体羽的方向 接近于靶的法线方向,通 过一聚焦的激光束扫射圆 柱形靶,可以把等离子体 羽拉长。 合适的等离子体 羽和基板的相对运动就可 以得到适当厚度的薄膜。
Combination of large area PLD (left) and magnetron sputter deposition (right)
SEM 和SAED分析
分析:SEM 和SAED 表明薄膜表面平整致 密,晶粒大小分布比 较均匀,制备的ZnO 薄膜为具有六方纤锌 矿结构的单晶薄膜。