6.1 概述
在集成电路制造中,主要的光刻设备是利用紫外光(≈0.2~ 0.4m)的光学仪器。
刻蚀:在光刻胶掩蔽下,根据需要形成微图形的膜层不同,采 用不同的刻蚀物质和方法在膜层上进行选择性刻蚀。
这样,去掉光刻胶以后,三维设计图形就转移到了衬底的相关 膜层上。图形转移工艺是如此重要,以至一种微电子工艺技术的水 平通常以光刻和刻蚀的图形线宽(特征尺寸)表示。
8.2 光刻工艺
以ULSI为例,对光刻技术的基本要求包括几个方面: a. 高分辨率:以线宽作为光刻水平的标志; b. 高灵敏度光刻胶:为提高产量,希望曝光时间尽量短; c. 低缺陷:光刻引入缺陷所造成的影响比其它工艺更为严重; d. 精密的套刻对准:一般器件结构允许套刻误差为线宽的10%; e. 对大尺寸基片的加工:在大尺寸基片上光刻难度更大。
下图(a)为典型的曝光反应曲线与正胶的影像截面图。反应曲线描述
在曝光与显影过程后,残存刻胶的百分率与曝光能量间的关系。值
得注意的是,即使未被曝光,少量刻胶也会溶于显影液中。 图 (a)的截面图说明了掩模 版图形边缘与曝光后光刻 胶图形边缘的关系。由于 衍射,光刻胶图形边缘一 般并不位于掩模版边缘垂 直投影的位置,而是位于 光总吸收能量等于其阈值 能量ET处。 图 (b)为负胶的曝光反应曲 线与图形的截面图。
8.2 光刻工艺
正胶和负胶图形转移
光刻胶通常可分为正性胶和负性 胶两类,两者经曝光和显影后得到的 图形正好相反。显影时,正胶的感光 区较易溶解而未感光区不溶解,所形 成的光刻胶图形是掩模版图形的正映 象。负胶的情况正相反,显影时感光 区较难溶解而未感光区溶解,形成的 光刻胶图形是掩模版图形的负映象。
6.1 概述
微电子单项工艺
掺杂 薄膜制备 图形转移