单层与多层石墨烯的拉曼光谱
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石墨烯拉曼光谱石墨烯是一种特殊的碳材料,其特殊的结构使它成为研究新型纳米材料的热门材料。
石墨烯的X射线衍射模式表明,其具有一层碳原子组成的矩阵结构。
它的拉曼光谱(Raman)可以用来检测石墨烯的形态、厚度和分布情况。
石墨烯拉曼光谱技术被用于石墨烯的结构表征、形态特征、分子动力学性质以及控制其制备过程中的参数等研究方面。
石墨烯拉曼光谱可以表示为一维拉曼光谱,一维拉曼光谱可以为材料表征提供较好的信息。
该技术允许研究者确定石墨烯的结构、层次和尺寸。
拉曼光谱可以识别振动模式,表征石墨烯的结构,用以检测石墨烯的形态和尺寸。
由于石墨烯拉曼光谱十分敏感,可以用来检测微小的层数及其结构变化,因此这种技术性能优异。
石墨烯拉曼光谱可以用来研究石墨烯的形态和尺寸,检测石墨烯厚度及其分布情况,用以推动石墨烯的科学研究。
其中,石墨烯拉曼光谱的高度灵敏性可以用来研究石墨烯的结构表征、形态特征和分子动力学性质,用以推动其制备过程中的参数研究。
石墨烯拉曼光谱可以帮助研究者更好地掌握其在物理、材料和生物领域的性质,发掘并应用其独特的性质,从而推进石墨烯的工程应用。
石墨烯拉曼光谱是一种高级技术,由于其灵敏性高,其应用更加广泛。
研究者可以使用石墨烯拉曼光谱来表征复合材料中的各种碳粒子,从而获得良好的局部信息,有助于研究者更好地理解石墨烯的结构和物理性质。
石墨烯拉曼光谱是一种高效能、灵敏度高的技术,它可以有效揭示出石墨烯的形态、厚度和分布情况。
在石墨烯研究过程中,拉曼光谱作为一种非常有效的表征技术,可以帮助研究者更好地探索石墨烯的特性和应用,从而推动石墨烯及其相关应用领域的发展。
综上所述,石墨烯拉曼光谱是一种极其重要的表征技术。
它可以获得更多的石墨烯的结构、层次和尺寸信息,可以对石墨烯的形态和厚度进行检测,还可以帮助研究石墨烯的结构表征、形态特征、分子动力学性质以及控制其制备过程中的参数,通过表征技术的应用,可以更好地利用石墨烯的特性及其在物理、材料和生物学研究中的作用,推动石墨烯及相关领域的发展,为我们的社会建设做出贡献。
3.1 石墨烯AFM测试详解单层石墨烯的厚度为0.335nm,在垂直方向上有约1nm的起伏,且不同工艺制备的石墨烯在形貌上差异较大,层数和结构也有所不同,但无论通过哪种方法得到的最终产物都或多或少混有多层石墨烯片,这会对单层石墨烯的识别产生干扰,如何有效地鉴定石墨烯的层数和结构是获得高质量石墨烯的关键步骤之一。
石墨烯的表征主要分为图像类和图谱类图像类以光学显微镜透射电镜TEM 扫描电子显微镜、SEM和原子力显微分析AFM为主而图谱类则以拉曼光谱Raman红外光谱IRX射线光电子能谱、XPS和紫外光谱UV为代表其中TEM、SEM、Raman、AFM和光学显微镜一般用来判断石墨烯的层数而IRX、XPS和UV则可对石墨烯的结构进行表征,用来监控石墨烯的合成过程。
且看“材料+”小编为您一一解答。
3.1.1 AFM表征图1 AFM的工作原理图图3.1 AFM工作的三种模式关于AFM的原理这里就不多说了,目前常用的AFM工作模式主要有三种:接触模式,轻敲模式以及非接触模式。
这三种工作模式各有特点,分别适用于不同的实验需求。
石墨烯的原子力表征一般采用轻敲模式(TappingMode):敲击模式介于接触模式和非接触模式之间,是一个杂化的概念。
悬臂在试样表面上方以其共振频率振荡,针尖仅仅是周期性地短暂地接触/敲击样品表面。
这就意味着针尖接触样品时所产生的侧向力被明显地减小了。
因此当检测柔嫩的样品时,AFM的敲击模式是最好的选择之一。
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一旦AFM开始对样品进行成像扫描,装置随即将有关数据输入系统,如表面粗糙度、平均高度、峰谷峰顶之间的最大距离等,用于物体表面分析。
优点:很好的消除了横向力的影响。
降低了由吸附液层引起的力,图像分辨率高,适于观测软、易碎、或胶粘性样品,不会损伤其表面。
缺点:比ContactModeAFM的扫描速度慢。
3.1.2 AFM表征石墨烯原理AFM可用于了解石墨烯细微的形貌和确切的厚度信息,属于扫描探针显微镜,它利用针尖和样品之间的相互作用力传感到微悬臂上,进而由激光反射系统检测悬臂弯曲形变,这样就间接测量了针尖样品间的作用力从而反映出样品表面形貌。
拉曼光谱在石墨烯表征中的应用石墨烯是由高度结晶态石墨单层组成的一种高等新型材料,首次报导于2004年的《科学》杂志上。
它是构建其它碳同素异形体(如富勒烯、碳纳米管或石墨)的基本单元(图1)。
石墨烯是由英国曼彻斯特大学物理系和俄罗斯琴诺格洛夫微电子科技研究所合作首次分离出来的。
它具有优异的电子传输性能,其室温下的电子迁移速率高达15000 cm2 V-1 s-1,因而是未来纳米电子器件的理想材料。
图1 石墨烯是构建多种碳同素异形体(如富勒烯、碳纳米管及石墨)的基本单元[1]石墨烯具有优异的机械强度和热导率,其机械强度比钢铁高出200多倍。
研制出运行速度高达太赫兹的新一代超高速纳米晶体管是石墨烯研究中的一个热门领域。
由于特殊的尺寸和光学性质,石墨烯在绝大多数衬底上都很难观察到。
对于石墨烯器件研究来说,确定石墨烯层数以及缺陷对其特性的影响是至关重要的。
事实证明,显微拉曼光谱是表征石墨烯上述两种特性的简单可靠方法。
拉曼光谱对物质的结构敏感,它的高光谱分辨率和高空间分辨率以及无损分析等特征使其成为石墨烯领域标准而理想的分析工具。
石墨烯的拉曼光谱石墨烯的拉曼谱图是由若干谱峰组成的,如图2所示。
对这些拉曼谱峰已有较为准确的表征和理解。
以下将对每个谱峰进行具体解析。
单层石墨烯富勒烯碳纳米管石墨石墨烯的主要特征峰,即G峰,是由碳原子的面内振动引起的,它出现在1580cm-1附近(如图2)。
该峰对应力影响非常敏感,并能有效反映石墨烯层数。
图2:石墨烯的拉曼光谱随着石墨烯层数n的增加,G峰位置会向低波数移动,其位移与1/n相关[2](图3)。
G峰的形状没有显著变化(尽管G峰易受石墨烯层数影响,但用2D峰来表征石墨烯更为可取,其原因将在后面解释)。
此外,G峰容易受掺杂影响,其峰位与峰宽可用于分析掺杂水平[3]。
图3 常用于表征石墨烯片层数的G峰和2D峰单层双层石墨D峰G峰2D峰D峰通常被认为是石墨烯的无序振动峰。
该峰出现在1270-1450 cm-1(见图2,具体位置与激发波长有关[4]),它是由远离布里渊区中心的晶格运动引起的,用于表征石墨烯样品中的缺陷或者边缘。
石墨烯的表征方法拉曼光谱分析拉曼光谱是碳材料分析与表征的最好工具之一。
图1是石墨、氧化石墨和石墨烯的拉曼光谱。
从图中看出石墨仅在1576 cm-1处存在一个尖而强的吸收峰(G 峰),对应于E2g光学模的一阶拉曼散射,说明石墨的结构非常规整。
当石墨被氧化后,氧化石墨的G峰已经变宽,且移至1578 cm-1处,并且还在1345 cm-1处出现一个新的较强的吸收峰(D峰),表明石墨被氧化后,结构中一部分sp2杂化碳原子转化成sp3杂化结构,即石墨层中的C=C双键被破坏。
此外G带与D带的强度比也表示sp2/sp3碳原子比。
这进一步说明氧化石墨中sp2杂化碳层平面长度比石墨的减小。
当氧化石墨被还原后,还原氧化石墨即石墨烯的拉曼光谱图中也包含有类似氧化石墨的峰位。
石墨烯拉曼光谱图中两个峰(D与G)的强度比高于氧化石墨的,表明石墨烯中sp2杂化碳原子数比sp3杂化碳原子数多,也就是说石墨烯中sp2杂化碳层平面的平均尺寸比氧化石墨的大。
这说明了在本实验条件下氧化石墨被还原时,它只有一部分sp3杂化碳原子被还原成sp2杂化碳原子,即氧化石墨的还原状态结构不可能被完全恢复到原有的石墨状态,也就是说石墨烯的结构和石墨结构还是有差别的。
图1. 石墨(a)、氧化石墨(b)、石墨烯(c)拉曼光谱X-射线衍射分析图2是石墨、氧化石墨和石墨烯的XRD图。
从图中可以看出石墨在2θ约为26°附近出现一个很尖很强的衍射峰,即石墨(002)面的衍射峰,说明纯石墨微晶片层的空间排列非常规整。
石墨被氧化后,石墨(002)面的衍射峰非常小,但在2θ 约为10.6°附近出现很强的衍射峰,即氧化石墨(001)面的衍射峰。
这说明石墨的晶型被破坏,生成了新的晶体结构。
当氧化石墨被还原成石墨烯,石墨烯在2θ约为23°附近出现衍射峰,这与石墨的衍射峰位置相近,但衍射峰变宽,强度减弱。
这是由于还原后,石墨片层尺寸更加缩小,晶体结构的完整性下降,无序度增加。
石墨烯层数表征方法石墨烯是一种由碳原子组成的二维晶体结构,具有独特的物理、化学和电学性质。
石墨烯的层数表征方法是对石墨烯的层数进行定量描述的方法,下面将介绍几种常用的方法。
1. 扫描隧道显微镜(STM)方法扫描隧道显微镜是一种常用的表征石墨烯层数的方法。
通过在石墨烯表面扫描探针,可以观察到石墨烯的原子排列情况。
对于单层石墨烯,可以清晰地看到原子的周期排列;而对于多层石墨烯,由于层与层之间存在一定的相对位移,扫描隧道显微镜图像中会出现不同的原子排列模式。
通过分析和比较这些模式,可以确定石墨烯的层数。
2. 拉曼光谱方法拉曼光谱是一种非常常用的表征材料结构的方法,也可以用于表征石墨烯的层数。
不同层数的石墨烯在拉曼光谱上表现出明显的差异。
例如,单层石墨烯的G峰和2D峰之间的强度比值(IG/ID)约为2.2,而多层石墨烯的这个比值会显著增加。
通过测量石墨烯的拉曼光谱,可以根据这个比值来确定石墨烯的层数。
3. 透射电子显微镜(TEM)方法透射电子显微镜是一种高分辨率的显微镜,可以用于观察石墨烯的原子结构。
通过将石墨烯样品放置在透射电子显微镜中,可以获得高分辨率的石墨烯图像。
对于单层石墨烯,可以清晰地看到原子的排列;而对于多层石墨烯,可以观察到层与层之间的间隙。
通过对比这些图像,可以确定石墨烯的层数。
4. X射线衍射方法X射线衍射是一种常用的材料结构表征方法,也可以用于表征石墨烯的层数。
通过将石墨烯样品放置在X射线衍射仪中,可以获得石墨烯的衍射图样。
对于单层石墨烯,衍射图样中只会出现一个晶面的衍射峰;而对于多层石墨烯,由于不同层之间存在一定的相对位移,衍射图样中会出现多个晶面的衍射峰。
通过分析和比较这些衍射峰,可以确定石墨烯的层数。
扫描隧道显微镜、拉曼光谱、透射电子显微镜和X射线衍射是常用的石墨烯层数表征方法。
这些方法可以通过观察原子排列模式、分析拉曼光谱、观察原子结构和分析衍射图样来确定石墨烯的层数。
这些方法在石墨烯研究中具有重要的应用价值,可以帮助科学家深入了解石墨烯的特性和性质。
石墨烯拉曼光谱表征综述综述了石墨烯的能带结,拉曼光谱的原理,和使用Raman光谱分析研究石墨烯结构的方法,并分析了石墨烯几个特征峰的由来。
关键词:石墨烯拉曼光谱狄拉克点PACC: 3320F1.引言石墨烯是2004年才被发现的一种新型二维平面纳米材料,其特殊的单原子层结构决定了它具有丰富而新奇的物理性质。
过去几年中,石墨烯已经成为了备受瞩目的国际前沿和热点。
Raman光谱分析作为一种结构分析手段,具有无损伤、快速、可重复等优越性,已经被广泛应用于各物理学科中。
使用Raman光谱研究石墨烯的结构,可发现Raman光谱上会出现若干特征峰,这与石墨烯晶格内AB 原子的电子在狄拉克锥内发生谷内散射和谷间散射有关。
2. 石墨烯能带结构石墨烯是由碳六元环组成的二维周期蜂窝状点阵结构,如图 1 左边所示。
每个碳原子都具有四个价电子,并按平面正三角形等距离的和3个碳原子相连,每个碳原子以sp2 杂化和周围的3个碳原子形成3个σ键。
在垂直于石墨层的方向上还剩余的一个2pz轨道和一个价电子与近邻原子相互作用形成贯穿于整个石墨层的离域π键。
由于位于平面内σ键的3个电子并不参与导电,†通讯联系人.E-mail: cmzhang@因此我们在计算石墨烯的能带结构时只考虑位于π键上的那一个电子。
图1 石墨烯的晶格结构及相对应的倒空间和布里渊区石墨烯的每个原胞包含两个不等价的碳原子A和B,它们之间的键长a=1。
42 Å。
如图1 左边所示,取晶格的基矢为:那么相应的倒格子基矢为:由此,可以计算出石墨烯倒空间中第一布里渊区六个顶点的坐标位置,分别为:与晶格相对应,倒空间的每个原胞也只包含两个不等价的点,即图1 右边所标示的K 和K ’点。
在紧束缚近似下,只考虑最近邻原子间的相互作用。
而对于每一个碳原子来说,它有3个最近邻原子。
最终可计算出石墨烯的本征能量为:式中的正负号分别对应导带和价带,x k 和y k 是倒格矢k 在(x ,y)上的分量。
石墨烯拉曼峰位置
答案:
拉曼光谱的基本原理
拉曼光谱是一种散射光谱技术,通过分析物质分子对光的散射现象来获取物质的化学和物理信息。
在拉曼光谱中,分子对光的散射可以分为弹性散射(瑞利散射)和非弹性散射(拉曼散射)。
拉曼散射产生的光谱包含了分子振动的信息,可以用来表征物质的化学键和结构。
石墨烯的拉曼光谱特征峰
石墨烯的拉曼光谱具有两个主要的特征峰:G峰和2D峰。
G峰位于约1580 cm^-1,反映了石墨烯的对称性和层数;2D峰位于约2700 cm^-1,是双声子共振拉曼峰,用于表征石墨烯的层数。
特征峰的意义及其应用
G峰对薄膜的应力影响敏感,能够有效反应出石墨烯薄膜的层数。
随着层数的增加,G峰会向左移动。
对于单层石墨烯和双层石墨烯,G峰分别位于1614 cm^-1和1608 cm^-1附近。
三层石墨烯的G峰被劈裂成两个峰,分别位于1601.5 cm^-1和1584 cm^-1附近。
2D峰则用于区分单层和多层石墨烯。
单层石墨烯的2D峰尖锐且对称,而多层石墨烯的2D峰则较宽且不对称。
此外,D峰通常被认为是石墨烯的缺陷或边界峰,出现在1270~1450 cm^-1,用于表征石墨烯样品中的缺陷或者边缘的多少。
石墨烯的拉曼分析
1600*出现明显的峰,石墨烯的晶格缺陷减少
Raman光谱是另一种研究纳米炭材料的有效工具。
使用波长为532nm的Nd:YAG 激光器,进行Raman 分析。
1580 cm-1附近出现的G峰来源于一阶E2g声子平面振动,反映材料的对称性和有序度;2670 cm-1附近的2D峰是双声子共振拉曼峰,其强度反映石墨烯的堆叠程度。
石墨烯层数越多,碳原子的sp2振动越强,G峰越高。
五层以下的石墨层可以用Raman光谱进行判定,尤其是可以利用2D峰区分单层石墨烯片和多层石墨烯片。
单层石墨烯片的2D峰宽约30 cm-1,双层石墨烯片的2D峰宽约50 cm-1,三层以上更宽,但是差别不大。
区域2的2D峰半高全宽约54 cm-1,由此判定该区域是双层石墨烯片。
石墨烯的表面调控及其表面增强拉曼效应于欣欣硕士论文。
ICS19A 20江苏省石墨烯检测技术重点实验室标准Q/JSGL 012—2014石墨烯材料拉曼光谱的测定Graphene materials Determination of structure by Raman spectroscopy2014-08-20发布2014-10-01实施前言本标准遵循GB/T 1.1—2009《标准化工作导则第1部分:标准的结构和编写》的规则。
本标准由江苏省石墨烯检测技术重点实验室提出。
本标准负责起草的单位:江苏省特种设备安全监督检验研究院无锡分院。
本标准主要起草人:孙小伟、邓宏康、孟若愚、高良、杨永强、金玲、刘渊、魏斌、范雪琪、王伟娜。
本标准为首次发布。
石墨烯材料拉曼光谱的测定1 范围本标准规定了石墨烯材料的拉曼光谱检测的原理、仪器、样品准备、测试步骤及结果。
本标准适用于石墨烯材料拉曼光谱特性的测定。
2 原理由于不同物质具有与其分子结构相对应的特征拉曼光谱,因此,以拉曼散射为基础,根据不同状态下的石墨烯材料在激光作用下产生的不同拉曼特征峰对石墨烯材料进行拉曼光谱特性的测定。
具体为:单层石墨烯有两个典型的拉曼特征峰位,分别为位于1582 cm-1附近的G峰和位于2700 cm-1左右的G ´(也称为2D)峰;而对于含有缺陷的以及和/或存在一定程度无序性石墨烯样品,还会出现位于1350 cm-1左右的缺陷峰位D峰。
结合石墨烯材料不同拉曼特征峰位的出现、峰强、峰形、峰位以及他们之间的关系,即可进行石墨烯材料拉曼光谱特性的测定。
3 仪器激光拉曼光谱仪包括主机、显微镜、激光光源、样品基底(包括硅片、平面玻璃、银基底平面)、滤光系统、光波处理系统和检测器等部件。
4 样品准备4.1 取样选取具有代表性的样品不少于2 mg(液体样品按石墨烯材料固含量折算量取)。
4.2 干法制样将直接生长于基底表面或已转移至一定基底表面的固态薄膜状石墨烯材料样品,取不小于1 cm×1 cm的平面,待测。
石墨烯拉曼光谱判断层数
嗨,小伙伴们!今天咱们来聊聊超级酷的石墨烯拉曼光谱判断层数这个话题。
一、什么是石墨烯拉曼光谱
石墨烯拉曼光谱啊,就像是石墨烯的“身份证”。
通过对它的分析,咱们就能知道石墨烯到底有几层。
简单来说,拉曼光谱就是一种能让我们看到物质分子振动和转动信息的神奇工具。
二、怎么用拉曼光谱判断层数
这可有不少小窍门呢!比如说,G 峰和 2D 峰的位置、强度和形状都会随着石墨烯层数的变化而变化。
如果是单层石墨烯,那 2D 峰又高又窄,强度还特别大。
要是层数增加了,2D 峰就会变宽、变矮,强度也会下降。
还有 G 峰,层数越多,它的位置就会往高波数移动。
三、判断层数的重要性
这可太重要啦!知道了石墨烯的层数,咱们就能更好地把它用在各种高科技领域里,像是电子设备、传感器啥的。
通过石墨烯拉曼光谱判断层数这个方法,让我们能更深入地了解石墨烯的特性,为未来的科技发展打下坚实的基础。
小伙伴们,是不是觉得很神奇呀!。
分散态物理学李龙飞10212027专业英语翻译单层与多层石墨烯的拉曼光谱石墨烯是二维的材料,是组成其他维度的碳的各种同素异形体的积木。
本文介绍拉曼光谱可以捕获石墨烯的电子结构,并清晰显示出随着石墨烯层数变化拉曼光谱的变化。
随着层数的增加,D峰在外形、宽度和位置的二阶变化,反映了电子能带通过双共振的拉曼过程而产生的转变。
G峰则稍微下移。
这就供应了一种清晰、高效、无破坏性的方法来确定石墨烯的层数,目前对这方面的争辩还非常缺少。
石墨烯的争辩热潮可以归因于三点。
第一,它的电子输运通过狄拉克方程来描述,这就允许了通过简洁的分散态试验来争辩量子电动力学。
其次,纳米尺度下的石墨烯器件有望得到应用,缘由是其室温下的弹道输运性质,而且具有化学的和机械的稳定性。
这种优越的性质可以扩展到双层或少数层石墨烯。
第三,不同形式的石墨,纳米管,巴克球等等都可看成石墨烯的衍生物。
而且无需惊异,在过去60年里石墨烯这种基本材料已经在理论上被广泛争辩。
最近发觉的石墨烯最终让我们可以从试验去争辩它,为更好地理解其他同素异形体及解决争辩铺平了道路。
石墨烯可以通过参考文献川所描述的方法,也就是对石墨的微机械分别而得到。
其他方法,例如脱落和生长,目前只能得到多层的石墨,但在不远的将来,有效的生长方法有望得到进展,就像纳米管所发生的一样。
尽管微机械分别的方法广泛使用,但是确定和计算石墨烯的层数仍旧是最主要的障碍。
单层石墨烯只少数地存在于石墨的薄片中,在大多数衬底上都难以用光学显微镜观看。
只有当放置在精确厚度的氧化硅衬底上(典型地,SOOnmSiO2)才可见,这是由于对比空的衬底,单层的石墨烯加在反射光的光路上会导致干涉颜色的变化。
原子力显微镜(AFM)是目前唯一的确定单层和少层的方法,但其效率很低。
而且,事实上石墨烯和衬底之间的化学对比成像(导致一层明显的0.5-Inm的化学厚度,比石墨层间的间隔要大),使得假如薄膜包含折叠和皱褶,AFM只能区分单层和双层。
单层和多层石墨烯的拉曼光谱学研究
单层和多层石墨烯的拉曼光谱学研究主要是通过拉曼散射光谱技术来研究石墨烯的结构和物理性质。
石墨烯是由碳原子组成的二维晶体结构,具有独特的电学、热学和机械性质。
单层石墨烯由一个碳原子层组成,而多层石墨烯则由几个碳原子层堆叠而成。
拉曼光谱是一种非常有用的表征材料结构和电子状态的技术。
对于石墨烯来说,拉曼光谱可以提供关于其晶格结构、氧化程度和变形等信息。
石墨烯的拉曼光谱通常表现为两个主要的峰:G峰和2D峰。
G峰是由于石墨烯的E2g模式引起的,代表了石墨烯晶格振动的基本特征。
2D峰则是由于石墨烯的双共振光子退火引起的,也是石墨烯的特征峰之一。
单层石墨烯和多层石墨烯的拉曼光谱有一些区别。
单层石墨烯的2D峰比G峰强,而多层石墨烯的G峰比2D峰强。
此外,
多层石墨烯的2D峰通常呈现多个峰的结构,而单层石墨烯的
2D峰则呈现单个尖峰结构。
通过分析拉曼光谱可以确定石墨烯的层数、缺陷个数、杂质掺杂等信息。
拉曼散射光谱还可以通过改变激光波长、温度等参数来研究石墨烯的光学性质和声子耦合效应。
总之,单层和多层石墨烯的拉曼光谱学研究对于了解石墨烯的
结构和性质具有重要意义,可以为石墨烯的应用提供指导和理论基础。
单层石墨烯的拉曼光谱
单层石墨烯的拉曼光谱是一种非常独特且重要的光谱技术,用于研究石墨烯的结构和性质。
在单层石墨烯的拉曼光谱中,主要有两个特征峰:G峰和D峰。
G峰是由于石墨烯的sp²碳原子的面内振动产生的,它的位置大约在1580cm⁻¹,这是石墨烯的一个独特标志。
而D峰则是由石墨烯的缺陷引起的,它的位置大约在1350cm⁻¹。
这两个峰的位置和强度可以提供关于石墨烯结构、质量以及是否存在缺陷的重要信息。
此外,单层石墨烯的拉曼光谱还具有一些其他的特征。
例如,由于石墨烯的二维特性,其拉曼光谱具有非常强的各向异性,这使得我们可以通过拉曼光谱来研究石墨烯的晶体取向和层数。
同时,单层石墨烯的拉曼光谱还具有非常高的灵敏度,可以用于检测微小的石墨烯样品,甚至可以用于生物医学领域中的细胞成像和疾病诊断。
在单层石墨烯的制备过程中,拉曼光谱也是一种非常重要的表征手段。
通过拉曼光谱可以快速、准确地确定石墨烯的层数、质量以及是否存在缺陷,这对于优化石墨烯的制备工艺和提高石墨烯的性能具有重要意义。
总之,单层石墨烯的拉曼光谱是一种非常重要的研究手段,可以用于研究石墨烯的结构、性质以及制备过程中的质量控制。
随着石墨烯应用的不断扩展,拉曼光谱在石墨烯研究中的应用也将越来越广泛。
石墨烯薄膜拉曼光谱
石墨烯薄膜的拉曼光谱是一种用于研究石墨烯结构、层数、掺杂类型和掺杂浓度的有效手段。
在石墨烯的拉曼光谱中,G峰是判定单层石墨烯简单而有效的方法。
完美的单洛伦兹峰型的二阶拉曼峰(G峰)是判定单层石墨烯的依据,而多层石墨烯由于电子能带结构发生裂分使其G峰可以拟合为多个洛伦兹峰的叠加。
另外,D峰为涉及一个缺陷散射的双共振拉曼过程,因此石墨烯的缺陷会反映在其拉曼D峰上。
通过对石墨烯拉曼D峰的检测可以定量地对其缺陷密度进行研究。
此外,拉曼光谱还可以用于测定石墨烯的掺杂类型和掺杂浓度。
电子/空穴掺杂会影响石墨烯的电子-声子耦合,从而引起拉曼位移,因此拉曼光谱是测定石墨烯的掺杂类型和掺杂浓度的有效手段。
3.1 石墨烯AFM测试详解单层石墨烯的厚度为0.335nm,在垂直方向上有约1nm的起伏,且不同工艺制备的石墨烯在形貌上差异较大,层数和结构也有所不同,但无论通过哪种方法得到的最终产物都或多或少混有多层石墨烯片,这会对单层石墨烯的识别产生干扰,如何有效地鉴定石墨烯的层数和结构是获得高质量石墨烯的关键步骤之一。
石墨烯的表征主要分为图像类和图谱类图像类以光学显微镜透射电镜TEM 扫描电子显微镜、SEM和原子力显微分析AFM为主而图谱类则以拉曼光谱Raman红外光谱IRX射线光电子能谱、XPS和紫外光谱UV为代表其中TEM、SEM、Raman、AFM和光学显微镜一般用来判断石墨烯的层数而IRX、XPS和UV则可对石墨烯的结构进行表征,用来监控石墨烯的合成过程。
且看“材料+”小编为您一一解答。
3.1.1 AFM表征图1 AFM的工作原理图图3.1 AFM工作的三种模式关于AFM的原理这里就不多说了,目前常用的AFM工作模式主要有三种:接触模式,轻敲模式以及非接触模式。
这三种工作模式各有特点,分别适用于不同的实验需求。
石墨烯的原子力表征一般采用轻敲模式(TappingMode):敲击模式介于接触模式和非接触模式之间,是一个杂化的概念。
悬臂在试样表面上方以其共振频率振荡,针尖仅仅是周期性地短暂地接触/敲击样品表面。
这就意味着针尖接触样品时所产生的侧向力被明显地减小了。
因此当检测柔嫩的样品时,AFM的敲击模式是最好的选择之一。
【材料+】微信平台,内容不错,欢迎关注。
一旦AFM开始对样品进行成像扫描,装置随即将有关数据输入系统,如表面粗糙度、平均高度、峰谷峰顶之间的最大距离等,用于物体表面分析。
优点:很好的消除了横向力的影响。
降低了由吸附液层引起的力,图像分辨率高,适于观测软、易碎、或胶粘性样品,不会损伤其表面。
缺点:比ContactModeAFM的扫描速度慢。
3.1.2 AFM表征石墨烯原理AFM可用于了解石墨烯细微的形貌和确切的厚度信息,属于扫描探针显微镜,它利用针尖和样品之间的相互作用力传感到微悬臂上,进而由激光反射系统检测悬臂弯曲形变,这样就间接测量了针尖样品间的作用力从而反映出样品表面形貌。
3.1 石墨烯AFM测试详解单层石墨烯的厚度为0.335nm,在垂直方向上有约1nm的起伏,且不同工艺制备的石墨烯在形貌上差异较大,层数和结构也有所不同,但无论通过哪种方法得到的最终产物都或多或少混有多层石墨烯片,这会对单层石墨烯的识别产生干扰,如何有效地鉴定石墨烯的层数和结构是获得高质量石墨烯的关键步骤之一。
石墨烯的表征主要分为图像类和图谱类图像类以光学显微镜透射电镜TEM 扫描电子显微镜、SEM和原子力显微分析AFM为主而图谱类则以拉曼光谱Raman红外光谱IRX射线光电子能谱、XPS和紫外光谱UV为代表其中TEM、SEM、Raman、AFM和光学显微镜一般用来判断石墨烯的层数而IRX、XPS和UV则可对石墨烯的结构进行表征,用来监控石墨烯的合成过程。
且看“材料+”小编为您一一解答。
3.1.1 AFM表征图1 AFM的工作原理图图3.1 AFM工作的三种模式关于AFM的原理这里就不多说了,目前常用的AFM工作模式主要有三种:接触模式,轻敲模式以及非接触模式。
这三种工作模式各有特点,分别适用于不同的实验需求。
石墨烯的原子力表征一般采用轻敲模式(TappingMode):敲击模式介于接触模式和非接触模式之间,是一个杂化的概念。
悬臂在试样表面上方以其共振频率振荡,针尖仅仅是周期性地短暂地接触/敲击样品表面。
这就意味着针尖接触样品时所产生的侧向力被明显地减小了。
因此当检测柔嫩的样品时,AFM的敲击模式是最好的选择之一。
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一旦AFM开始对样品进行成像扫描,装置随即将有关数据输入系统,如表面粗糙度、平均高度、峰谷峰顶之间的最大距离等,用于物体表面分析。
优点:很好的消除了横向力的影响。
降低了由吸附液层引起的力,图像分辨率高,适于观测软、易碎、或胶粘性样品,不会损伤其表面。
缺点:比ContactModeAFM的扫描速度慢。
3.1.2 AFM表征石墨烯原理AFM可用于了解石墨烯细微的形貌和确切的厚度信息,属于扫描探针显微镜,它利用针尖和样品之间的相互作用力传感到微悬臂上,进而由激光反射系统检测悬臂弯曲形变,这样就间接测量了针尖样品间的作用力从而反映出样品表面形貌。
拉曼光谱在石墨烯结构表征中的应用
石墨烯是一种由碳原子构成的单层薄膜,具有很多独特的物理、化学性质。
拉曼光谱是一种常用的非破坏性测量技术,可以在非接触的情况下对样品进行表征和分析。
在石墨烯结构表征中,拉曼光谱具有很大的应用价值。
首先,拉曼光谱可以用于石墨烯的结构表征和质量监测。
石墨烯具有一定的吸收率和散射率,因此在拉曼光谱中可以产生独特的光谱峰。
研究人员可以根据拉曼光谱的光谱图形、峰位和峰宽等信息,判断石墨烯的结构和质量。
例如,石墨烯的D峰和G峰之比可以作为石墨烯的结构完整性指标,并且可以用来区分单层石墨烯和多层石墨烯。
其次,拉曼光谱可用于石墨烯的应力分析。
将石墨烯置于固定载荷下,通过测量拉曼光谱的强度变化,可以研究石墨烯材料在应力作用下的变化情况。
具体地,应力会引起石墨烯的应变,从而改变C-C键的键长和键角,从而影响拉曼光谱的特征峰。
进一步测量石墨烯应力-应变曲线,可以推导出材料的力学性质。
总之,拉曼光谱是一种非常有用的石墨烯结构表征技术。
它可以被用来表征石墨烯的像结构和质量,以及石墨烯在应力下的行为。
这些信息对于材料科学家和工程师来讲是至关重要的。
凝聚态物理学李龙飞10212027 专业英语翻译单层与多层石墨烯的拉曼光谱石墨烯是二维的材料,是组成其他维度的碳的各种同素异形体的积木。
本文介绍拉曼光谱可以捕捉石墨烯的电子结构,并清楚显示出随着石墨烯层数变化拉曼光谱的变化。
随着层数的增加,D峰在形状、宽度和位置的二阶变化,反映了电子能带通过双共振的拉曼过程而产生的改变。
G峰则轻微下移。
这就提供了一种清楚、高效、无破坏性的方法来确定石墨烯的层数,目前对这方面的研究还十分缺少。
石墨烯的研究热潮可以归因于三点。
第一,它的电子输运通过狄拉克方程来描述,这就允许了通过简单的凝聚态实验来研究量子电动力学。
第二,纳米尺度下的石墨烯器件有望得到应用,原因是其室温下的弹道输运性质,而且具有化学的和机械的稳定性。
这种优越的性质可以扩展到双层或少数层石墨烯。
第三,不同形式的石墨,纳米管,巴克球等等都可看成石墨烯的衍生物。
而且无需惊讶,在过去60年里石墨烯这种基本材料已经在理论上被广泛研究。
最近发现的石墨烯终于让我们可以从实验去研究它,为更好地理解其他同素异形体及解决争论铺平了道路。
石墨烯可以通过参考文献[1]所描述的方法,也就是对石墨的微机械分离而得到。
其他方法,例如脱落和生长,目前只能得到多层的石墨,但在不远的将来,有效的生长方法有望得到发展,就像纳米管所发生的一样。
尽管微机械分离的方法广泛使用,但是确定和计算石墨烯的层数仍然是最主要的障碍。
单层石墨烯只少数地存在于石墨的薄片中,在大多数衬底上都难以用光学显微镜观察。
只有当放置在精确厚度的氧化硅衬底上(典型地,300nmSiO2)才可见,这是因为对比空的衬底,单层的石墨烯加在反射光的光路上会导致干涉颜色的变化。
原子力显微镜(AFM)是目前唯一的确定单层和少层的方法,但其效率很低。
而且,事实上石墨烯和衬底之间的化学对比成像(导致一层明显的0.5-1nm的化学厚度,比石墨层间的间隔要大),使得如果薄膜包含折叠和皱褶,AFM只能区分单层和双层。
这就造成了衬底选用范围的主要限制,这是这种材料得到广泛利用的一个障碍。
这里,我们得出石墨烯的独特电子结构可以由拉曼光谱得到。
单层,双层和少层的石墨烯的电子能带的变化导致拉曼指纹的变化,提供了一种清楚、高效、无破坏性的方法来确定石墨烯的层数,而目前对这方面的研究还十分缺少。
在这里样品通过微机械分离来制备。
为了提供单层和双层石墨烯的最确定的识别(除了利用AFM的方法),我们通过透射电子显微镜(TEM)观察要用来做拉曼光谱测量的样品。
我们采用类似以前制备自由悬挂的和与TEM一致的纳米管的程序,来制备要用TEM观察的样品。
另外,悬挂层悬挂在网栅上,使得我们容易在光学显微镜上观察,方便拉曼光谱测量时的定位,如图1(a)。
电子衍射用蔡司的912Ω显微镜,60KV下完成,用飞利浦CM200显微镜,在120KV下得到高分辨率图像。
对边缘和自由悬挂层里面的皱褶进行高分辨率的TEM 分析,可以直接观察出层数,因为在皱褶上石墨片是与光束平行的,如图1(b)-1(e)。
一或两层的边缘和皱褶分别对应一或两条暗线。
通过改变入射角进行衍射分析同样得到层数。
从皱褶中确认层数,如图1(d)和图1(e)。
特别地,衍射分析显示双层石墨烯呈A-B 堆垛(11-20衍射点(六角形外)的强度大概为1-100衍射点(六角形内)强度的两倍),如图1(h),这与通过原子势场的投影的傅里叶变换衍射进行的衍射模拟的结果相一致。
这可以确认多层的石墨烯具有相同的堆垛结构。
测量Si+SiO2上的单层、双层、多层石墨烯的拉曼光谱。
有些在测量之后处理成如上所述的自由悬挂层,再次用TEM观察。
测量在室温下实现,使用仪器为配置有100cm-1的陷波滤波器的雷尼绍光谱仪,一个100×的物镜,激光选取514和633nm波长的激光。
测量要极端小心以避免损坏样品或激光引起发热。
测量的入射功率从~4到~0.4mW。
在这个范围内没有观察到光谱的明显变化。
悬挂的和在衬底上的石墨烯的光谱相似,主要不同在于TEM样品中存在一个小的D峰。
我们同样测量了用来制备这些石墨烯的石墨块体的拉曼光谱。
图2(a)比较了石墨烯和石墨块体的514nm拉曼光谱。
两个最显著的特征是在~1580cm-1的G峰和在~2700cm-1的带,历史上称为G′带,因为其为在石墨样品中经常观察到的第二显眼的峰。
G峰来源于区域中心的E2g模的二重简并。
相反,G′带与G峰无关,是区域边界声子的二级拉曼散射。
由于区域边界声子不满足基本拉曼选择定则,所以在没有缺陷的石墨的一级谱中观察不到,但存在缺陷的石墨会引起一个在~1350cm-1的峰,称为D峰。
所以为了清楚起见,我们把G′峰称作2D。
图2(a)显示石墨烯层中心没有观察到D峰,证明了并没有明显存在缺陷。
与期望一样,D峰只是在样品边缘观察到,如图2(d)。
图2(a)显示,比较石墨块体,石墨烯2D峰的形状和强度都有明显改变。
石墨块体的2D峰由2D1和2D2两个成分组成,2D1和2D2的高度分别约为G峰的1/4和1/2。
而在石墨烯我们则测量到一个单独、尖锐的2D峰,强度约为G峰的4倍。
注意的是,两者的G峰是相当的(注意图2(a)改变了比例使得二者2D的强度相当),而石墨烯G峰位置比石墨块体化学的掺杂。
图2(d)比较了石墨块体边缘和石墨烯边缘的D峰,很好地证实了2D带形状的变化,石墨烯的D峰是一个单独的尖锐的峰,而石墨块体是一个由两个峰D1个D2组成的带。
图2(b)和2(c)标示了514.5和633nm激光下2D带随层数变化的变化,直接表明了双层石墨烯的2D带比单层石墨的更宽以及有上移,同样与石墨块体的相差很大。
双层石墨烯的2D带包含了四个成分,分别为2D1B,2D1A,2D2A,2D2B,其中2D1A和2D2A相对其余两个峰强度更大,如图2(e)所示。
图2(b)和2(c)显示层数的进一步增加导致低频的2D1峰强度显著降低。
对于大于5层的石墨烯的拉曼光谱很难与石墨块体的区别。
所以拉曼光谱可以清楚地区分单层、双层和少层(小于5层)的石墨烯,这同样解释了为什么之前在纳米碳而不是在单层或双层石墨烯的实验中识别不到这些特征。
特别地,十分有名的是之前对乱层石墨的研究发现了单独的2D峰,但其半高宽(FWHM)为50cm-1,约为单层石墨烯的两倍,且有20cm-1的上移。
乱层石墨同样存在一个一阶的D峰。
单壁碳纳米管(SWNTs)显示了与这里测量得到的石墨烯类似的尖锐的2D 峰,而1-2nm直径的SWNTs的2D峰意味着在这个经常在实验中得到的直径范围内,弯曲效应对2D峰影响很小。
这对SWNT的2D峰应该比大直径石墨块体的平均2D峰的位置有上移这个假设提出了疑问。
因此经常用于推导双壁碳纳米管内直径的有关直径和2D峰位置的比例定律,需要重新研究。
尽管有相似之处,石墨烯和SWNT的拉曼光谱还是有很大区别,允许我们可以容易区分。
事实上,SWNTs的封闭和弯曲劈裂了其G峰的两个简并模,导致了G+和G-峰的出现。
我们现在解释单层石墨烯为什么具有单独的2D峰,而双层石墨烯却分裂为四个组成部分。
之前一些作者尝试解释石墨块体的2D峰的双组分结构,但是他们忽略了电子能带的变化,而这恰好是关键的因素。
石墨烯得2D峰是由于在接近K(A1′在K对称)最高的光学支中两个声子动量相反。
图2显示不同的激励能量使得2D峰的位置变化。
这来源于连接声子波矢量和电子能带的双共振(DR)过程。
在DR中,拉曼散射是一个四级过程包含四个有效转变:(i)激光诱导激发一对电子-空穴对[图3中a→b垂直转变];(ii)电子-声子散射,交换接近K的动量q(b→c);(iii)电子-声子散射交换动量-q(c→b);(iv)电子-空穴的再结合(b→a)。
达到DR的条件为这种转变中能量守恒。
因而产生的2D拉曼频率是散射声子频率的两倍,动量q取决于DR的条件。
简单地,图3(a)和3(b)忽略了声子的能量,而且没有显示等价的空穴-声子散射过程。
另外,我们仅仅考虑沿着Γ-Κ-Μ-Κ′-Γ传播。
这条线上的转变对应声子满足DR的分布,三角弯曲一度被考虑。
与实验观察相一致,单层石墨烯的D峰只有单组份,图3(a)和3(b)只显示沿着Γ-Κ-Μ方向(K<q<M)动量q>K的满足DR条件的声子。
其他两种可能的声子,q<K和q~K,对拉曼强度贡献很小。
事实上,因为电子能带结构的三角弯曲(见参考文献[28]的图3、4以及相关的讨论),q<K的声子在相空间只包括一小部分。
而如参考文献[26](见注脚24,对于q~K,θ’’=0)和[24]所讨论,q~K的声子在这个转变中,电子-声子的耦合为0。
这与参考文献[24]的模型不同,参考文献[24]预言了即是在单层石墨烯中也出现类似的2组分的D峰,与图2实验所得的结果不一致。
我们现在分析双层的情况。
观察到4组分的2D峰可以归因于两种不同的机制:声学支的分裂,或者电子能带的分裂。
为了确定是哪种机制,我们计算了单层和双层(如TEM所证实的AB堆垛)石墨烯的声子频率,q对应514nm和633nm激光波长的DR条件。
声学支的分裂<1.5cm-1,比试验观察到的2D峰的分裂小很多。
所以,这是电子能带单独作用的效果。
在双层石墨烯,石墨平面的相互作用使得π和π*带分裂成四个带,如图3(b),电子和空穴的分裂不相同。
根据密度函数理论(DFT)偶极子矩阵元,在4种光学转变中,入射光与图3(b)所示的两个转变耦合更强。
这两个在最高的光学支差不多简并的声子,耦合他们中的所有电子能带。
因而产生的声子动量为q1B,q1A,q2A,q2B的四个过程见图3(b)。
对空穴,以及与2个相对较弱的光学转变,所对应的这四个过程[图3(b)没有给出],与电子有几乎相同的动量q1B,q1A,q2A,q2B以及几乎(~0.2cm-1)相同的拉曼移动。
这些波矢量对应不同频率的声子,因为电子-声子耦合引起K附近的强烈的声子散射。
他们在双层石墨烯的拉曼光谱中产生了四个不同的峰。
表I报告了期望的分裂,显示了与实验对应得十分好。
总之,石墨烯的电子结构在拉曼光谱中是唯一的,其随着层数的不同而清楚地变化。
对单层、双层、少层石墨烯的拉曼指纹反映了电子结构和电子-声子相互作用的变化,提供了一种清楚、高效、无破坏性的方法来鉴别石墨烯的层数。
图1(a)悬挂石墨烯的TEM。
在光学显微镜中网栅同样可见。
(b)单层石墨烯的一个折叠边缘的高分辨率的图像和(c)层内的皱褶。
(d)双层石墨烯的折叠边缘和(e)层内的折叠。
对比片层的非晶结构很可能是由于样品吸附的羟基被电子束击碎。
(f)接近垂直入射的单层石墨烯的电子衍射图样和(g)双层石墨烯的衍射图样。
来自底部金属结构的弱衍射峰同样出现。
(h)在(f)(g)中箭头表示的直线的强度剖面。