下载文档原格式
『数字电路实验指导书』实验一 基本门电路实验一、 目的1、掌握门电路逻辑功能；2、熟悉集成电路芯片；二、实验原理门电路的逻辑功能。
三、实验设备与器件设备1、数电实验箱 一台器件1、74LS00 一片（四2输入与非门）2、74LS32 一片（四二输入或门）3、 74LS86 一片（四二输入异或门）4、74LS04 一片（六非门）四、实验内容和步骤1、或门：B A Y +=按下图所示的电路连接，输入引脚分别接实验台上的数据开关，输出引脚接试验台上的显示灯，改变拨动开关，观察输出的状态，并将结果填入下表中。
如没有74LS32芯片，自行设计用74LS00和74LS04来实现。
2、异或门：B A Y ⊕=按下图所示的电路连线，实验步骤同或门。
3、逻辑函数的“与非”门的实现。
将逻辑函数B A B A F +=用与非门实现，画出电路图，将实验结果填入真值表。
五、预习要求1、阅读实验指导书，了解实验箱的结构；2、了解所有器件（74LS00，74LS04，74LS32、74LS86）的引脚结构；实验二用小规模芯片设计组合电路一、实验目的1、学习并掌握小规模芯片（SSI）实现各种组合逻辑电路的方法；2、学习用仪器检测故障，排除故障。
二、实验原理用门电路设计组合逻辑电路的方法。
三、实验内容及要求1、用所给集成电路组件设计一个多输出逻辑电路。
该电路的输入是一个8421BCD码，当电路检测到输入的代码大于或等于（3）10时，电路的输出F1=1,其它情况F1=0；当输入的代码小于（7）10时，电路的另一个输出F2=1，其它情况F2=02、用与非门实现“判断输入者与受血者的血型符合规定的电路”，测试其功能。
要求如下：人类由四种基本血型— A、B、AB、O型。
输血者与受血者的血型必须符合下述原则；O 型血可以输给任意血型的人，但O型血的人只能接受O型血；AB型血只能输给AB型血的人，但AB血型的人能够接受所有血型的血；A型血能给A型与AB型血的人；而A型血的人能够接受A型与O型血；B型血能给B型与AB型血的人，而B型血的人能够接受B型与O型血。
数字电子技术实验指导书河北科技师范学院机电工程学院电基础教研室2009.7.30目录实验一门电路实验二组合逻辑电路实验三触发器实验四译码驱动显示电路实验五二进制计数器实验实验六计数器及译码驱动显示实验七倒T型电阻网络Ｄ／Ａ转换器《数字电子技术》课程实验指导书使用说明《数字电子技术》实验指导书适用于电气工程、电子信息专业和计算机科技、网络工程等本科及专科专业，共有验证型实验 6个、综合型实验 1 个。
其中网络工程专业实验 12 学时，实验/理论学时比为48/12 ，包括门电路实验、组合逻辑电路实验、触发器实验、译码驱动显示电路实验、二进制计数器实验、倒T型电阻网络Ｄ／Ａ转换器实验等6个实验项目。
计数器及译码驱动显示实验为选作综合型实验。
本实验现有主要实验设备 16 台（套），每轮实验安排学生 30 人，每组 2 人，每轮实验需要安排实验指导教师2人。
实验指导书执笔人：郭秀梅实验指导书审核人：郭秀梅实验一：门电路实验实验学时：2实验类型：（验证型） 实验要求：（必修）一、实验目的：熟悉、掌握门电路的逻辑功能 二、实验仪器和设备：１、ＳＸＪ－３Ｃ型数字电路学习机 ２、数字万用表 三、实验原理及主要知识点1．与非门_____AB F =（有0出1，全1出0） 2．与或非门_____________CD AB F +=（画真值表自行总结） 3．或门B A F +=（有1出1，全0出0） 四、实验步骤实验前的准备：在学习机上未接任何器件的情况下（指实验用插座部分），先合上交流电源，检查５V 电源是否正常，再合直流电源测V CC 处电压是否正常，测两排插口中间V CC 插口处电压是否正常，全正常后断开全部电源。
随后选择好实验用集成片，查清集成片的引腿及功能，然后根据实验图接线，特别注意V CC 及地的接线不能接错，待老师检查后方可接通电源进行实验，以后所有实验依此办理。
（一） 测与非门的逻辑功能 １、选双４输入正与非门74LS20集成芯片一只；选择一个组件插座（片子先不要插入）按图接好线。
目录实验一集成逻辑门的逻辑功能测试 (02)实验二译码器应用设计 (05)实验三组合逻辑电路的设计（EWB仿真） (11)实验四触发器的逻辑功能与应用 (14)实验五计数器应用设计 (21)实验六555时基电路及其应用（EWB仿真） (24)实验七设计24时制数字电子钟（综设） (30)实验八A/D转换实验 (31)实验一集成逻辑门的逻辑功能测试一、实验目的1、掌握集成电路的逻辑功能测试方法2、掌握器件的使用规则3、进一步熟悉数字电路实验装置的结构，基本功能和使用方法二、实验设备与器件1、+5V直流电源2、逻辑电平开关3、逻辑电平显示器4、74LS20×1、CD4030/74LS86×1三、实验原理本实验采用：（1）双-四输入门电路74LS20，即在一块集成块内含有2个互相独立的逻辑门，每个逻辑门有四个输入端。
其引脚排列如图1－1(74LS20)所示。
（2）四-二输入门电路CD4030/74LS86，即在一块集成块内含有4个互相独立的逻辑门，每个逻辑门有2个输入端。
其引脚排列如图1－1(CD4030)所示。
74LS86引脚排列与CD4030相同。
图1－1 74LS20及CD4030的引脚排列1、74LS20的逻辑功能74LS20的逻辑功能是：输出端1Y对应输入端是1A、1B、1C、1D；输出端2Y对应输入端是2A、2B、2C、2D；NC端为空。
2、CD4030的逻辑功能CD4030的逻辑功能是：输出端O1对应输入端是I1、I2；输出端O2对应输入端是I3、I4；输出端O3对应输入端是I5、I6；输出端O4对应输入端是I7、I8。
四、实验内容1、在实验箱或实验扩展板上找到74LS20集成芯片。
参照图1－1（A）接线：VCC接+5V电源，GND接电源地，门的四个输入端接逻辑开关输出插口，以提供“0”与“1”电平信号，开关向上，输出逻辑“1”，向下为逻辑“0”。
门的输出端接由 LED发光二极管组成的逻辑电平显示器（又称0－1指示器）的显示插口，LED亮为逻辑“1”，不亮为逻辑“0”。
《数字电子技术基础》实验指导书广东海洋大学信息学院二0一五年二月目录实验一TTL集成与非门的逻辑功能与参数测试 (3)实验二74LS138译码器逻辑功能测试及应用 (7)实验三触发器逻辑功能测试及应用 (11)实验四计数器逻辑功能测试及应用 (14)附录《数字电子技术基础》实验报告的撰写格式与要求 (18)实验一TTL集成与非门的逻辑功能与参数测试一、实验目的1．掌握TTL与非门逻辑功能；2．掌握TTL与非门逻辑功能和主要参数的测试方法。
二、实验内容及步骤被测与非门74LS20电路图如图1-1所示。
图1-11、检查集成门电路的好坏，将测试的逻辑值填入表1中。
表12、TTL与非门的主要参数测试：（1）低电平输出电源电流I CCL= 。
测试条件：VCC=5V，输入端悬空，输出空载，如图1-2（a）所示。
（2）高电平输出电源电流I CCH= 。
测试条件：VCC=5V，两输入端悬空，两输入端接地，输出空载，如图1-2（b）所示。
（3）低电平输入电流I IL= 。
测试条件：VCC=5V，被测输入端通过电流表接地，其余输入端悬空，输出空载，如图1-2（c）所示。
（4）高电平输入电流I IH= 免测（无微安表）。
测试条件：VCC =5V，被测输入端通过电流表接VCC，其余输入端接地，输出空载，如图1-2（d）所示，每个输入端都测一下。
图1-23、（1）测试与非门74LS20的输出端允许灌入的最大负载电流I OL=。
测试方法：如图1-3所示，V CC=5V，门的输入端全部悬空，输出端接灌电流负载R L，调节R L，使I OL增大，V OL随之增高，当V OL达到V OLm（0.4V）时的I OL就是允许灌入的最大负载电流。
图1-3（2）根据实验中测得的I OL 和I IL求出TTL与非门的扇出系数N O 。
4、TTL与非门电压传输特性：（1）按图1-4接线，调节电位器R，使V i从0V向高电平变化，逐点测量V i和V o的对应值，记入表2中。
《数字电子技术》实验指导书目录第一部分实验基础知识一.实验的基本过程二.实验操作规范和故障检查方法三.数字集成电路概述、特点及使用须知四.数字逻辑电路的测试方法第二部分基础性实验实验一集成逻辑门电路逻辑功能的测试实验二集成逻辑门电路的参数测试实验三组合逻辑电路的实验分析实验四数据选择器实验五触发器实验六计数器实验七中规模集成电路计数器的应用实验八计数、译码、显示综合实验实验九利用TTL集成逻辑门构成脉冲电路实验十555时基电路第三部分设计性实验实验一简易数字控制电路实验二简易数字计时电路实验三电梯楼层显示电路实验四循环灯电路实验五数字电子技术课程设计－数字钟的设计第一部分实验基础知识随着科学技术的发展，脉冲与数字技术在各个科学领域中都得到了广泛的应用，它是一门实践性很强的技术基础课，在学习中不仅要掌握基本原理和基本方法，更重要的是学会灵活应用。
因此，需要配有一定数量的实验，才能掌握这门课程的基本内容，熟悉各单元电路的工作原理，各集成器件的逻辑功能和使用方法，从而有效地培养学生理论联系实际和解决实际问题的能力，树立科学的工作作风。
一.实验的基本过程实验的基本过程，应包括确定实验内容，选定最佳的实验方法和实验线路，拟出较好的实验步骤，合理选择仪器设备和元器件，进行连接安装和调试，最后写出完整的实验报告。
在进行数字电路实验时，充分掌握和正确利用集成元件及其构成的数字电路独有的特点和规律，可以收到事半功倍的效果，对于完成每一个实验，应做好实验预习，实验记录和实验报告等环节。
（一）实验预习认真预习是做好实验的关键，预习好坏，不仅关系到实验能否顺利进行，而且直接影响实验效果，预习应按本教材的实验预习要求进行，在每次实验前首先要认真复习有关实验的基本原理，掌握有关器件使用方法，对如何着手实验做到心中有数，通过预习还应做好实验前的准备，写出一份预习报告，其内容包括：1．绘出设计好的实验电路图，该图应该是逻辑图和连线图的混合，既便于连接线，又反映电路原理，并在图上标出器件型号、使用的引脚号及元件数值，必要时还须用文字说明。
数字电子技术实验指导书数字电子技术实验教学实验一门电路实验一、实验目的：1、掌握与非门的逻辑功能。
2.熟悉集成块销的排列特点和使用方法。
2、实验仪器和设备：１、thd-1型数字电路实验箱2.数字万用表1块3，集成四个2输入与非门74001块4，集成两个4输入与非门74201块3，实验原理集成与非门是数字电路中广泛使用的一种基本逻辑门，使用时必须对它的逻辑功能、主要参数进行测试，以确定其性能好坏。
本实验采用ttl集成元件74ls00、74ls20与非门进行测试。
74ls00是一个2输入4与非门。
它的形状是双线的，逻辑表达式是f？ab.销布置图如图1.1所示。
74ls00的真值表如表1.1所示。
输a0011入输b0101f1110出图1.174ls00引脚排列表1.174ls00真值表b?c?d。
74ls20是一个双4输入端与非门，形状为双列直插式，逻辑表达式为f?a其引脚排列图如图1.2所示。
图1.27420销布置四、实验步骤实验前准备：当没有连接设备时，先关闭电源开关，检查5V电源是否正常，然后断开电源。
然后选择集成芯片进行实验，找出集成芯片的引线和功能，然后根据实验图连接接线。
特别注意VCC和接地的错误连接。
1、验证74ls00的逻辑功能选择一个与非门74ls00集成芯片，按图连接线路，输入端连接电平开关的输出插座，输出端连接LED显示插座。
转动液位开关，根据表中的情况测量输出液位，并将测量值填入表1.2。
表1.274ls00逻辑功能表输入端子12001130101电压（V）输出端子11逻辑状态2。
验证74ls20的逻辑功能选双４输入正与非门74ls20集成芯片一只，按图接好线。
输入端接电平开关输出插口，输出端接发光二极管显示插口。
拨动电平开关，按表中情况分别测出输出端电平，测得数值填入表1.3中。
表1.374ls20逻辑功能表输入端１１００００２１１０００４１１１００５１１１１０输出端６电压(v)逻辑状态3、根据真值表1.5，自己设计电路，用一片74ls00完成设计要求。
实验一 门电路本实验为验证性实验 一、实验目的熟悉门电路的逻辑功能。
二、实验原理TTL 集成与非门是数字电路中广泛使用的一种基本逻辑门。
使用时，必须对它的逻辑功能、主要参数和特性曲线进行测试，以确定其性能的好坏。
与非门逻辑功能测试的基本方法是按真值表逐项进行。
但有时按真值表测试显得有些多余。
根椐与非门的逻辑功能可知,当输入端全为高电平时，输出是低电平；当有一个或几个输入端为低电平时，输出为高电平。
可以化简逻辑函数或进行逻辑变换。
三、实验内容及步骤首先检查5V 电源是否正常，随后选择好实验用集成块，查清集成块的引脚及功能．然后根据自己的实验图接线， 特别注意Vcc 及地的接线不能接错(不能接反且不能短接)，待仔细检查后方可通电进行实验，以后所有实验均依此办理。
(一)、测与非门的逻辑功能1、选择双4输入正与非门74LS20，按图3_1_1接线；2、输入端、输出端接LG 电平开关、LG 电平显示元件盒上；集成块及逻辑电平开关、逻辑电平显示元件盒接上同一路5V 电源。
3、拨动电平开关，按表3_1_1中情况分别测出输出电平.614 Vcc7地 图3_1_1表3_1_1输入端输出端1２４５６电位(V)逻辑状态1l l lO111O O1l0001O0O O(二)、测试与或非门的逻辑功能l、选两路四输入与或非门电路1个74LS55，按图3_1_2接线：２、输入端接电平的输出插口，拨动开关当输入端为下表情况时分别测试输出端(8)的电位，将结果填入表3_1_2中：表3_1_2输入端输出端1２ 3４10111213 8电位(V)逻辑状态l111000Ol1110001000O1l l 11O O01l110O O l O0O l0O O O O O O0(三)、测逻辑电路的逻辑关系用74LS00电路组成下列逻辑电路，按图3_1_3、图3_1_4接线，写出下列图图3_1_2的逻辑表达表并化简，将各种输入电压情况下的输出电压分别填入表3_1_3、表3_1_4中，验证化简的表达式。
数字实验部分实验一 TTL、CMOS门电路逻辑功能测试一、实验目的1、熟悉TTL、CMOS门电路的外型和管脚排列。
2、了解TTL、CMOS门电路的原理、性能和使用方法。
3、学习逻辑门电路功能测试方法，并测“与非”、“或非”、“与或非”门及传输门电路的逻辑功能，验证门电路逻辑功能。
4、初步学会DLB-6型数字逻辑实验箱的结构和使用方法。
二、实验内容说明组成数字逻辑电路的基本单元有两大部分，一部分是门电路，另一部分是触发器。
门电路实际上是一种条件开关电路，只有在输入信号满足一定的逻辑条件时，开关电路才允许信号通过，否则信号就不能通过，即门电路的输出信号与输入信号之间存在着一定的逻辑关系，故又称之为逻辑门电路。
最基本的逻辑门路有“与”门、“或”门及“非”门电路，但常用的则是“与非”门、“或非”门、“与或非”门以及“异或”门等具有复合逻辑功能的门电路。
以前逻辑电路都是用分立元件组成，现在大量使用的则是集成门电路，若按电路中晶体管导电类型分，集成门电路可分为双极型和单极型两大类。
双极型中应用最多的是晶体管——晶体管逻辑门电路，即TTL门电路。
单极型的有金属——氧化物——半导体互补对称逻辑门电路，即CMOS门电路。
图图1-1 图1-21、TTL“与非”门电路。
图1-1a所示为TTL集成“与非”门的典型电路，图b为其逻辑符号。
电路中V1称为多发射极晶体管，其等效电路如图1-2所示，相当于一个“与门”电路；V2起放大及电平转移作用；V5起反相作用，用于实现逻辑“非”运算；V3和V4组成两级射极输出器，用以改善门电路的输出特性。
其逻辑表达为：F=C·A·B2、TTL“或非”门电路。
图1-3所示为其典型电路及逻辑符号。
电路中V3和V4采用并接方式，只要其中有一只管子饱和导通，都将使饱和导通，V5和VD截止。
其逻辑表达为：F=BA+图1-3 图1-43、TTL“与或非”门电路。
图1-4所示为其典型电路及逻辑符号，与图1-3所示电路相比较，“与或非”门电路中的V1和V2均采用了具有“与”逻辑功能的多发射极晶体管，使A与B及C与D实现相“与”，这样整个门电路即具有“与或非”逻辑功能。
《数字电子技术》实验指导
（卓越班适用）
一、实验目的
数字电子技术是一门实践性、工程性很强的技术基础课。
因此，不仅要重视理论教学，更要注重实践技能的培养和训练。
实验是本课程的重要组成部分，通过实验，使学生学会查阅产品手册、拟定实验方案、选择与配置实验设备、查明与排除故障和分析实验现象等。
从而巩固、加深和拓宽学生对课程内容的理解，培养分析、设计和调试数字系统的能力。
二、实验流程
通过逻辑设计实验，可验证设计思想，测试和调整电路的输入、输出关系，进一步完善电路的逻辑功能。
实验的一般程序是：
1．实验准备
实践证明，实验前的准备工作做得越充分，则实验成功的可能性就越大。
因此，不可忽视实验前的准备，实验前应做好如下工作。
①实验者应根据实验目的、要求及内容，认真复习有关的理论知识，并写出满足实验内容要求的逻辑函数表达式。
②根据实验所提供的集成电路组件，将输出函数表达式转换成适当的形式。
③写实验预习报告。
实验预习报告是实验操作的依据，要求报告尽可能写得简洁，思路清楚，一目了然。
实验预习报告以实验逻辑图为主，附以简要的文字说明，并拟定好实验步骤以及记录实验结果的有关表格。
2．布线
实验准备工作完毕后，就要动手将逻辑电路图变为实际电路。
在布线前，必须校准集成电路组件两排引脚的距离，使之与实验台的通用逻辑测试板上的插孔行距相等。
将集成电路组件插入测试板时，用力要轻、均匀，开始不要插得太紧，待确定集成电路组件的引脚和插孔位置一致后，再用力将其插牢。
这样可避免集成电路组件引脚弯曲或折断。
布线所用导线最好选用不同颜色，以便区别不同用途。
例如，接地导线用黑色，电源线用红色，输入信号线统一用黄色，输出信号线统一用白色等。
布线最好有顺序地进行，不要随意接线，以免漏接。
布线时应首先将电源、地线及实验过程中始终不改变电平的输入端接好，然后按信号流向顺序依次布线。
布线用的导线不宜太长，并且应尽量避免导线相互重叠、跨越集成电路组件的上空及无规则的交错连接在空中搭成网状等现象。
正确的方法是，将导线贴近测试板在组件周围走线。
这样既可提高电路的可靠性，又便于修正电路和更换实验组件，并且也便于检查和排除故障。
3．观察、记录和排错
尽管在实验前做好了充分准备，但由于各人的实验经验不同，或者实验现场和条件发生了变化，以及人对事物认识的局限性等等，都可能使实验结果与原设计有出入，甚至出错。
这就要求我们在进行实验时，应按照事先拟定好的实验步骤进行，边实验，边观察，同时记录实验现象，并将观察记录结果与原设计进行比较，以便分析判断实验是否正常。
在实验中，若电路不能完成预期的逻辑功能时，就称电路有故障。
产生故障的原因有下面几种：
①电路设计错；
②布线错误；
③集成电路组件使用不当或功能不正常；
④实验台不正常。
为使实验顺利进行，或便于排除故障，在完成布线后，应对所有连线复查一遍，检查是否漏接和错接。
在实验中，如果出现故障，首先应验证实验本身的正确性，即操作是否正确，组件是否损坏，布线是否有错等。
若组件损坏或布线有错，则只要重复操作几次就可断定。
如果重复操作时，出错现象也重复出现，则可肯定是布线错，或组件损坏。
如果重复操作时，出错现象不重复出现，则多半是由于接触不良、电源不稳或环境干扰所引起的。
这种故障较难排除，因此，必须详细记录。
除记录实验中出错的现象外，还应记录工作环境，如电源电压、时序波形、设备工作情况等，以便排错时作为分析依据。
其次应检查所设计的电路图是否能满足逻辑功能的要求，这一点也是不可忽视的。
在排除故障和错误的过程中，应对排错的方法、修改后的设计方案等作详细记录。
4．实验报告
做完实验后，应对实验结果进行分析处理，从理论上加以总结，从而加深对所学理论知识的认识和理解。
写实验报告就是上述过程的书面总结。
实验报告一般包括以下几项内容：
①实验目的；
②实验所用仪器和器件；
③实验设计方案及逻辑图；
④实验步骤，实验记录；
⑤对观察结果的分析、处理及讨论：组合电路用真值表、时序电路用状态图来分析实验的结果。
写实验报告是一个综合运用所学理论去解决实际问题的过程。
实验报告应该写得简明扼要，有事实、有分析、有结论。
对实验观察的分析和讨论是实验报告中的一个重要内容。
它包括对实验中发现的情况与原设计方案的对照分析而得出改进后的方案说明，也可以对重要的实验现象和结论加以讨论。
三、实验内容
根据教学大纲的要求，共开出8个实验，所有实验均采用自行设计方式。
实验一多数表决电路与不一致电路
目的：了解并掌握组合电路的设计和验证方法；
组件：74LS00和74LS10（各1片）
内容：用7400和7410构成三变量的多数表决电路和不一致电路，测试输入、输出的逻辑关系。
实验二半加器与全加器
目的：掌握无反变量输入的组合电路设计和验证方法；
组件：74LS00和74LS86（各1片）
内容：①用7400构成半加器，测试输入、输出的逻辑关系。
②用7486和7400构成全加器，测试输入、输出的逻辑关系。
实验三代码转换器与3-8译码器
目的：熟练掌握组合电路的设计、验证方法以及组合部件的使用方法；；
组件：74LS83、74LS86（各1片）和74LS138（1片）
内容：①用7486将二进制码转换成GRAY码，测试输入、输出的逻辑关系；
②用7483将BCD码转换成余3码，测试输入、输出的逻辑关系；
③用74138组成三—八译码器，观测输入、输出的逻辑关系。
实验四触发器与二进制并行可逆计数器
目的：熟悉D、JK触发器的逻辑功能和特点，熟练掌握时序电路的设计和验证方法；
组件：74LS74、74LS73和74LS86（各1片）
内容：①用74LS74和74LS73连接成电路，观察不同输入时的触发器的次态。
②用74LS73和74LS86构成可逆模4计数器，外部输入X为0时，表示累加；实验五移位寄存器（环形和扭环形计数器）
目的：掌握移位寄存器（环形和扭环形计数器）的设计和验证方法；
组件：74LS74（2片）
内容：用7474依次构成三位环形和扭环形计数器，观察线路状态的变化；
实验六数码管
目的：熟练掌握面包板结构和搭建电路方法，掌握数码管使用方法；
组件：面包板、数码管（各1块）、电池盒（1套）、面包线（若干）、CD4511（1片）内容：①熟练掌握面包板结构和搭建电路方法；
②在面包板上，用CD4511验证数码管显示数字0~9；
实验七555定时器构成多谐振荡器
目的：熟练掌握555定时器构成多谐振荡器以及调节振荡频率的方法；
组件：面包板（1块）、电池盒（1套）、面包线（若干）、NE555（1片）、电阻、电容（若干）、LED灯（红、黄、绿各若干）
内容：在面包板上，用NE555构成多谐振荡器并调节频率，观察LED灯闪烁；
实验八4位同步GRAY码计数器设计
目的：熟练掌握在面包板上时序电路的设计和验证方法；
组件：面包板、电池盒（1套）、面包线（若干）、其它材料自选
内容：用所给的组件构成四位GRAY码计数器，观察在CP的作用下，线路状态的变化；
四、注意事项
1.不要用手摸集成电路，以免由于静电感应损坏集成电路，或把集成电路标号涂掉。
2.不要在实验仪的线路板上放导电物体（如导线、钢笔帽、硬币、打头针等）,以免
造成短路，损坏实验装置。
3.实验仪如发生异常现象及时报告实验辅导老师。
五芯片管脚图
未列出的芯片自己查找资料
功能表：。
