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电子电路实验（三)设计总结报告设计选题一：数字式光照强度检测仪的设计实现院(系) ：自动化学院班级：**********学号：**********学生姓名：******指导教师：******2011年5月摘要本实验中采用光敏电阻为光传感器，利用光敏电阻的光照特性完成光强的检测。
具体方法是将三路光敏电阻支路并联接入电路中，其中一路串接一固定电阻，另外两路分别串接电位器，利用光敏电阻值随光照强度变化的特性，使得电路的输出电压而变化。
根据这一特性，结合光照强度和输出模拟电压之间的关系，分别对三路电压值进行采集得到某一光强度下对应的模拟电压，将模拟电压通过ADC0804模数转换器转换为数字电压，通过VC语言编程，将其集于单片机中，进行比较以后通过两位数码管将最大值显示出来，相应地控制点亮对应的小数点以显示光强的方位。
通过硬件的焊接、静态和动态调试和程序的编写和修改，作品最终很好地实现了实验任务和要求，在近似无光照时数码管显示为0，正常工作时能检测三个不同方位的光强并通过两位数码管将最大数值显示出来，而两个小数点的不同组合显示对应方位。
关键词：光照强度；检测仪；设计实现2第1部分课题的任务与要求1.1 设计选题设计选题一：数字式光照强度检测仪的设计实现1.2 任务及要求1.2.1 设计选题的任务结合单片机最小电路和光敏电阻电路共同设计一个基于单片机的数字式光照强度检测系统，用数码管显示光照强度。
还可以设置多个不同方向的光敏电阻，通过计算它们的光照强度运用比较器以确定当前的光照方向。
(1)、实现单片机最小系统设计。
(2)、焊接调试光敏电阻网络。
(3)、焊接调试AD电路，标定光照强度基本单位。
(4)、编写单片机程序，将获得的电信号转换成光照强度单位下的数值，并用数管显示。
(5)、通过比较不同方向测得的光强数值判断光照方向，在数码管上显示其方向。
1.2.2 设计选题的要求(1)、无光照时数码管显示为零。
(2)、用数码管显示光照强度，误差范围为5~10LUX(以白天中午室内日光灯的光照强度为标准定义为100 LUX )。
adc模块实验遇到的问题及收获篇一：ADC(自动分光光度计)模块是电子测量中常用的一种传感器,可以测量物体反射的光线的亮度和颜色等信息。
在实验中,ADC模块可能会遇到一些问题,下面是一些常见的问题和解决方法:1. 采样不足:当光线强度较低或者物体表面反射的光线较少时,ADC模块可能会采样不足,导致测量结果不准确。
解决方法是增加采样频率或者增加采样位数。
2. 测量误差:由于 ADC 模块本身的限制,如精度、分辨率等,可能会导致测量误差。
解决方法是选择合适的 ADC 模块、优化电路设计、提高信号传输距离等。
3. 接口不匹配:不同品牌、型号的 ADC 模块可能有不同的接口,如 USB、RS-232 等。
实验中需要确保接口匹配,否则可能会导致数据传输错误。
4. 电源电压不稳定:ADC 模块需要一定的电源电压,如果电源电压不稳定,可能会导致 ADC 模块无法正常工作。
解决方法是使用稳定的电源、设置稳压器等。
在实验中,通过解决这些问题,可以获得更好的实验结果。
此外,还可以学习到 ADC 模块的基本原理、应用场景、设计方法等方面的知识。
拓展:除了 ADC 模块本身的问题之外,实验中还可能会涉及到其他问题,如电路干扰、信号传输距离、信号噪声等。
这些问题都需要在实验中仔细排查和解决,以提高实验效果和准确度。
实验不仅仅是为了获得准确的测量结果,还需要学习实验设计、实验操作、数据处理等方面的知识和技能。
通过实验,可以加深对理论知识的理解和应用,提高实践能力和创新能力。
篇二：ADC(数字到模拟转换器)模块是电子电路中常用的一种模块,用于将数字信号转换为模拟信号。
在进行ADC模块实验时,可能会遇到一些问题,但通过解决这些问题,可以获得一些收获。
在实验过程中,可能会遇到以下问题:1. 输入信号过大或过小:ADC模块的输入信号范围通常有一定的限制,如果输入信号过大或过小,可能会导致模块无法正常工作。
因此,在实验前需要确保输入信号符合ADC模块的输入范围。
基于STM32的光照度计设计简介光照度计是一种用于测量光照强度的仪器，常用于环境监测、植物生长研究等领域。
本文将介绍基于STM32微控制器的光照度计设计方案，包括硬件设计、软件开发和实现过程。
硬件设计光敏电阻光敏电阻是测量光照强度的关键组件。
通过光敏电阻的电阻变化，可以反映光照强度的变化。
选择合适的光敏电阻非常重要，常见的有CdS电阻和硅光敏电阻。
在设计中，需要考虑到光敏电阻的灵敏度、响应时间以及线性度等因素。
STM32微控制器选择适合的STM32微控制器是设计中的重要一环。
根据光照度计的要求，需要考虑处理速度、存储容量、外设接口等因素。
根据实际需求选择合适的型号，如常见的STM32F1系列、STM32F4系列等。
模拟数字转换光敏电阻的变化是模拟信号，需要通过模拟数字转换（ADC）将其转换为数字信号。
STM32微控制器内置了多个ADC通道，可以直接进行模拟信号的转换。
在设计中，需要合理选择ADC的采样频率和精度。
显示模块光照度计的测量结果通常需要实时显示，可以选择液晶显示屏或数码管等显示模块。
在设计中，需要考虑到显示模块的接口和显示效果。
电源模块为了保证系统的正常运行，需要合理设计电源模块。
可以选择使用稳压芯片或者电池供电加稳压模块的方式，以提供稳定的供电电压。
软件开发STM32 CubeMXSTM32 CubeMX是STMicroelectronics官方提供的一款软件工具，可以用于生成STM32的初始化代码。
通过配置界面化的操作，可以快速生成系统初始化代码，包括时钟配置、中断配置、外设初始化等。
借助STM32 CubeMX可以极大地提高软件开发效率。
Keil MDKKeil MDK是一款流行的软件开发工具，可以用于编写、编译和调试STM32的程序。
通过在Keil MDK中创建工程，可以方便地进行代码编写和调试。
程序设计在软件开发中，需要编写程序来实现光照度的测量和显示。
根据硬件设计的特点，可以利用STM32的ADC模块对光敏电阻的电阻进行模拟信号转换，并通过串口或其他方式将测量结果发送到PC或其他外设进行显示。
摘要BH1750是一款新型的测光芯片，本设计系统就是基于BH1750设计的测光系统，它可以自动检测光照强度的强弱并显示让人们知道此时光照强度的强弱。
人们可以通过看此装置的显示了解现在的光照状态，做合理的光照调节。
该设计可分为三部分：即光照检测部分、信号处理部分、光强显示部分。
对于光照检测部分是利用BH1750作为检测元件及信号处理元件，其内部集成了AD转换芯片。
它可以完成从光强到电信号的转换并将信号处理进行处理。
对输入信号处理后，就可以用来显示了。
对于显示部分可利用LCD1602来显示，不同的光强对应于不同的数值，就能简单的显示出不同的光强了。
本设计就是由单片机STC89C52RC芯片，BH1750模块和1602液晶为核心，辅以必要的电路，构成了一个单片机光照强度检测系统。
该光照强度检测系统可以通过检测光照强度，使得光照在低于或高于一定强度的时候发出警示，是一种常用的测试仪器。
关键词：51单片机，LM7805，BH1750，1602液晶目录0 引言 (1)1设计内容与要求 (1)1.1 设计任务 (1)1.2 设计要求 (1)2 方案总体设计 (1)2.1 光照强度采集方案设计 (2)2.2 控制芯片及实现方案 (3)2.3 数据显示方案 (3)2.4 系统总体框图 (4)3 硬件设计 (5)3.1 单片机最小系统 (5)3.2 BH1750采集模块 (6)3.3 液晶显示模块 (6)3.4 系统电源 (7)3.5 整体电路和PCB图 (8)4 软件设计 (9)4.1 keil软件介绍 (9)4.2 程序流程图 (10)4.3 各模块程序 (10)5 仿真与实现 (15)5.1 Proteus软件介绍 (15)5.2 仿真过程 (16)5.3 实物制作与调试 (17)6 总结 (18)7 参考文献 (19)0 引言随着改革开放的不断深化和城镇化的不断发展，越来越多的人移居到城市生活，而这需要足够的食物作为支撑。
//***************************************// BH1750FVI IIC测试程序// 使用单片机STC89C51// 晶振：11.0592M// 显示：LCD1602// 作者：dice szj QQ:15023134// 编译环境Keil uVision2//****************************************#include <REG51.H>#include <math.h> //Keil library#include <stdio.h> //Keil library#include <INTRINS.H>#define uchar unsigned char#define uint unsigned int#define DataPort P0 //LCD1602数据端口sbit SCL=P1^0; //IIC时钟引脚定义sbit SDA=P1^1; //IIC数据引脚定义sbit LCM_RS=P2^4; //LCD1602命令端口sbit LCM_RW=P2^5; //LCD1602命令端口sbit LCM_EN=P2^6; //LCD1602命令端口#define SlaveAddress 0x46 //定义器件在IIC总线中的从地址,根据ALT ADDRESS 地址引脚不同修改//ALT ADDRESS引脚接地时地址为0x46，接电源时地址为0xB8typedef unsigned char BYTE;typedef unsigned short WORD;BYTE BUF[8]; //接收数据缓存区uchar ge,shi,bai,qian,wan; //显示变量int dis_data; //变量void delay_nms(unsigned int k);void InitLcd();void Init_BH1750(void);void WriteDataLCM(uchar dataW);void WriteCommandLCM(uchar CMD,uchar Attribc);void DisplayOneChar(uchar X,uchar Y,uchar DData);void conversion(uint temp_data);void Single_Write_BH1750(uchar REG_Address); //单个写入数据uchar Single_Read_BH1750(uchar REG_Address); //单个读取内部寄存器数据void Multiple_Read_BH1750(); //连续的读取内部寄存器数据//------------------------------------void Delay5us();void Delay5ms();void BH1750_Start(); //起始信号void BH1750_Stop(); //停止信号void BH1750_SendACK(bit ack); //应答ACKbit BH1750_RecvACK(); //读ackvoid BH1750_SendByte(BYTE dat); //IIC单个字节写BYTE BH1750_RecvByte(); //IIC单个字节读//-----------------------------------//*********************************************************void conversion(uint temp_data) // 数据转换出个，十，百，千，万{wan=temp_data/10000+0x30 ;temp_data=temp_data%10000; //取余运算qian=temp_data/1000+0x30 ;temp_data=temp_data%1000; //取余运算bai=temp_data/100+0x30 ;temp_data=temp_data%100; //取余运算shi=temp_data/10+0x30 ;temp_data=temp_data%10; //取余运算ge=temp_data+0x30;}//毫秒延时**************************void delay_nms(unsigned int k){unsigned int i,j;for(i=0;i<k;i++){for(j=0;j<121;j++){;}}}/*******************************/void WaitForEnable(void){DataPort=0xff;LCM_RS=0;LCM_RW=1;_nop_();LCM_EN=1;_nop_();_nop_();while(DataPort&0x80);LCM_EN=0;}/*******************************/void WriteCommandLCM(uchar CMD,uchar Attribc). {if(Attribc)WaitForEnable();LCM_RS=0;LCM_RW=0;_nop_(); DataPort=CMD;_nop_();LCM_EN=1;_nop_();_nop_();LCM_EN=0;}/*******************************/void WriteDataLCM(uchar dataW){WaitForEnable();LCM_RS=1;LCM_RW=0;_nop_(); DataPort=dataW;_nop_();LCM_EN=1;_nop_();_nop_();LCM_EN=0;}/***********************************/void InitLcd(){WriteCommandLCM(0x38,1); WriteCommandLCM(0x08,1); WriteCommandLCM(0x01,1); WriteCommandLCM(0x06,1); WriteCommandLCM(0x0c,1);}/***********************************/void DisplayOneChar(uchar X,uchar Y,uchar DData) {Y&=1;X&=15;if(Y)X|=0x40;X|=0x80;WriteCommandLCM(X,0);WriteDataLCM(DData);}/**************************************延时5微秒(STC90C52RC@12M)不同的工作环境,需要调整此函数，注意时钟过快时需要修改当改用1T的MCU时,请调整此延时函数**************************************/void Delay5us(){_nop_();_nop_();_nop_();_nop_();_nop_();_nop_();_nop_();_nop_();_nop_();_nop_();_nop_();_nop_();_nop_();_nop_();_nop_();_nop_();}/**************************************延时5毫秒(STC90C52RC@12M)不同的工作环境,需要调整此函数当改用1T的MCU时,请调整此延时函数**************************************/void Delay5ms(){WORD n = 560;while (n--);}/**************************************起始信号**************************************/void BH1750_Start(){SDA = 1; //拉高数据线SCL = 1; //拉高时钟线Delay5us(); //延时SDA = 0; //产生下降沿Delay5us(); //延时SCL = 0; //拉低时钟线}/**************************************停止信号**************************************/void BH1750_Stop(){SDA = 0; //拉低数据线SCL = 1; //拉高时钟线Delay5us(); //延时SDA = 1; //产生上升沿Delay5us(); //延时}/**************************************发送应答信号入口参数:ack (0:ACK 1:NAK)**************************************/void BH1750_SendACK(bit ack){SDA = ack; //写应答信号SCL = 1; //拉高时钟线Delay5us(); //延时SCL = 0; //拉低时钟线Delay5us(); //延时}/**************************************接收应答信号**************************************/bit BH1750_RecvACK(){SCL = 1; //拉高时钟线Delay5us(); //延时CY = SDA; //读应答信号SCL = 0; //拉低时钟线Delay5us(); //延时return CY;}/**************************************向IIC总线发送一个字节数据**************************************/void BH1750_SendByte(BYTE dat){BYTE i;for (i=0; i<8; i++) //8位计数器{dat <<= 1; //移出数据的最高位SDA = CY; //送数据口SCL = 1; //拉高时钟线Delay5us(); //延时SCL = 0; //拉低时钟线Delay5us(); //延时}BH1750_RecvACK();}/**************************************从IIC总线接收一个字节数据**************************************/BYTE BH1750_RecvByte(){BYTE i;BYTE dat = 0;SDA = 1; //使能内部上拉,准备读取数据, for (i=0; i<8; i++) //8位计数器{dat <<= 1;SCL = 1; //拉高时钟线Delay5us(); //延时dat |= SDA; //读数据SCL = 0; //拉低时钟线Delay5us(); //延时}return dat;}//*********************************void Single_Write_BH1750(uchar REG_Address){BH1750_Start(); //起始信号BH1750_SendByte(SlaveAddress); //发送设备地址+写信号BH1750_SendByte(REG_Address); //内部寄存器地址，// BH1750_SendByte(REG_data); //内部寄存器数据，BH1750_Stop(); //发送停止信号}//********单字节读取*****************************************/*uchar Single_Read_BH1750(uchar REG_Address){ uchar REG_data;BH1750_Start(); //起始信号BH1750_SendByte(SlaveAddress); //发送设备地址+写信号BH1750_SendByte(REG_Address); //发送存储单元地址，从0开始BH1750_Start(); //起始信号BH1750_SendByte(SlaveAddress+1); //发送设备地址+读信号REG_data=BH1750_RecvByte(); //读出寄存器数据BH1750_SendACK(1);BH1750_Stop(); //停止信号return REG_data;}*///*********************************************************////连续读出BH1750内部数据////*********************************************************void Multiple_read_BH1750(void){ uchar i;BH1750_Start(); //起始信号BH1750_SendByte(SlaveAddress+1); //发送设备地址+读信号for (i=0; i<3; i++) //连续读取2个地址数据，存储中BUF {BUF[i] = BH1750_RecvByte(); //BUF[0]存储0x32地址中的数据if (i == 3){BH1750_SendACK(1); //最后一个数据需要回NOACK }else{BH1750_SendACK(0); //回应ACK}}BH1750_Stop(); //停止信号Delay5ms();}//初始化BH1750，根据需要请参考pdf进行修改****void Init_BH1750(){Single_Write_BH1750(0x01);}//*********************************************************//主程序********//*********************************************************void main(){float temp;delay_nms(100); //延时100msInitLcd(); //初始化LCDInit_BH1750(); //初始化BH1750while(1) //循环{Single_Write_BH1750(0x01); // power onSingle_Write_BH1750(0x10); // H- resolution modedelay_nms(180); //延时180msMultiple_Read_BH1750(); //连续读出数据，存储在BUF中dis_data=BUF[0];dis_data=(dis_data<<8)+BUF[1]; //合成数据，即光照数据temp=(float)dis_data/1.2;conversion(temp); //计算数据和显示DisplayOneChar(0,0,'L');DisplayOneChar(1,0,'i');DisplayOneChar(2,0,'g');DisplayOneChar(3,0,'h');DisplayOneChar(4,0,'t');DisplayOneChar(5,0,':');DisplayOneChar(7,0,wan); //显示数据DisplayOneChar(8,0,qian);DisplayOneChar(9,0,bai);DisplayOneChar(10,0,shi);DisplayOneChar(11,0,ge);DisplayOneChar(13,0,'l'); //显示数单位DisplayOneChar(14,0,'x');}}。
目录摘要 (2)abstract (3)绪论 (4)1.1 概述 (4)1.2 设计方案的研究目的 (5)1.3 设计方案的研究内容 (5)1.4 设计方案的研究意义 (5)第二章光功率计的设计 (6)2.1 光功率计 (6)第三章硬件部分电路介绍 (8)3.1 光电转换电路的设计 (8)3.1.1 光电效应 (8)3.1.2 光探测器 (8)3.1.3 PIN光电二极管 (8)3.1.4 PIN光电二极管的选择 (9)3.2 放大滤波电路 (10)3.2.1滤波器的设计 (11)3.2.2 运算放大电路 (12)3.3 A/D转化电路 (12)3.4 单片机控制电路 (13)3.4.1 复位电路的设计 (14)3-4-2 晶振电路的设计 (16)3.4.3 单片机串口通讯总线——SMBUS (17)3.4.4 电源设计部分 (18)第四章外围电路的设计 (19)4.1 I²C总线设计.................................................................................. 错误!未定义书签。
4.1.1 I²C总线接口的电路设计 (19)4.1.2 I²C总线的控制时序 (19)4.2 单片机接口电路设计 (20)4.3 按键设计 (21)4.3.1 键盘去抖动 (21)4.3.2 按键的识别 (21)4.4 液晶显示及接口电路 (22)第五章软件部分 (23)第六章结束语................................................................................................ 错误!未定义书签。
参考文献.. (30)摘要光可以被用作一种强大的工具，将给我们一种不同的方式的灵感。
但是，我们如何用光信号转换成电信号来衡量一些电气参数？这就需要一个数字功率计来实现传输过程中的光信号能量损耗，它可以探测和容易地知道如何光束质量光束像。
福建电力职业技术学院课程设计课程名称：传感器与检测技术课设题目：阳光强度测量显示电路专业班次：10（三）检测1班姓名：学号：指导教师：学期：2011-2012学年第二学期日期：2012.2.13-2012.2.20摘要阳光强度测量显示电路：该测试仪以AT89S52单片机为核心，外接温湿度传感器SHTll、照度传感器TSL2561、四位共阴数码管、RS485总线通信接口以及显示切换按键。
单片机上电工作后，对当前温度、湿度、光强度进行实时测量，通过按键切换将测得的3种参数通过LED数码管进行轮流显示；此外，还可以通过RS485总线与PC机进行通信，将参数值传送到上位机，以达到远程监测的目的。
封面不能有页眉页脚，页眉最好居中，摘要中文字为什么要加粗了，貌似上次有讲过了，怎么没改关键词：AT89S52单片机、外接温湿度传感器SHTll、照度传感器TSL2561|目录摘要 (II)第一章设计任务 (4)1.1 设计要求 (4)1.2设计提示 (4)第二章检测系统设计 (5)2.1 主要思路： (5)2.2 原理图 (6)2.3器件的选择与参数的计算 (7)2.3.1传感器选择 (7)2.3.2 AD转换 (8)2.4主要元件 (10)第三章程序应用图 (11)3.1主程序 (11)3.2中断流程图 (11)第四章总结 (12)参考文献 (13)传感器课程设计第一章设计任务1.1 设计要求光照强度测试显示电路设计使用光敏电阻、光敏三极管、光敏二极管传感器（任选一种），设计传感器放大电路，将太阳的强弱转变为电信号，并将强度值显示出来。
1.2设计提示设计开始先查阅资料，如元器件资料，方案选择等，可以使用单片机方案，也可以使用模拟电路方案，设计显示电路时注意按照国标显示，并有相应的手动校正电路。
其中运用到了许多基本知识，如：电路理论中电阻电路的分析、模拟电子线路中运算放大器、比较器、功率放大器等知识，数字电子线路中开关特性及数字信号等知识，传感器技术中的光电传感器原理及应用、测量电路等部分知识。
数字als芯片-概述说明以及解释1.引言1.1 概述数字ALS芯片是一种基于数字电路设计的光学传感器芯片，主要用于光线检测和测量。
它通过对光信号的转换、处理和输出，能够精确地测量光线的强度、颜色和方向等信息。
与传统的模拟电路设计的光传感器相比，数字ALS芯片具有更高的精度、更快的响应速度和更低的功耗。
数字ALS芯片的工作原理是利用光电二极管接收光信号，并将其转换为电信号。
经过模数转换器的处理，光信号的强度和颜色等参数可以被转化为数字信号进行分析和处理。
数字ALS芯片广泛采用集成电路技术，将多个功能集成在一个芯片上，从而实现对光信号的实时、准确地测量与分析。
数字ALS芯片具有广泛的应用领域。
在智能手机、平板电脑等移动设备中，数字ALS芯片可以用于自动调节屏幕亮度，根据环境光线的变化来提供更加舒适的显示效果。
在光通信领域，数字ALS芯片可以用于接收和解码光纤传输的信号，在数据传输中起到关键作用。
此外，数字ALS芯片还广泛应用于自动化系统、医疗设备、环境监测等领域，为各种光传感应用提供支持。
数字ALS芯片在光传感领域具有明显的优势和广阔的发展前景。
首先，数字ALS芯片的数字化设计使其具有更高的精度和准确性，能够实时监测光信号的变化，满足不同应用场景的需求。
其次，数字ALS芯片可以通过软件控制和配置，具有更高的灵活性和可定制性，能够适应不同的应用需求。
再者，随着光电二极管和模数转换器等关键技术的不断发展和创新，数字ALS芯片的性能将不断提升，为光传感技术的发展提供更好的支持。
综上所述，数字ALS芯片作为一种基于数字电路设计的光学传感器芯片，具有高精度、快速响应和低功耗的特点，广泛应用于各个领域。
未来，随着科技的不断进步和创新，数字ALS芯片有望在更多的领域得到应用，并为光传感技术的发展带来更多的机遇和挑战。
1.2 文章结构文章结构是指文章的组织框架和布局，它对于文章的逻辑性和清晰性起到了关键作用。
本文主要分为引言、正文和结论三个部分，具体结构如下：1. 引言部分：引言部分是文章的开篇，需要对数字ALS芯片进行一个简要的概述，介绍其基本特点和应用领域。
传感器原理及应用课程设计说明书设计题目：光照强度自动检测显示报警控制系统设计学号：姓名：完成时间：2010、12、13至2010、12、19总评成绩：指导教师签章：设计题目：光照强度自动检测显示系统设计一、题目的认识理解本次设计题目是光照强度自动检测显示报警控制系统设计，完成光照强度自动检测、显示、报警、控制系统。
采用电路、数电、模电知识柔和一块设计电路，将系统分为四个模块设计电路：检测、显示、报警、控制，把复杂问题简单化。
数据采集模块，可用光敏电阻将光照强度信号转换为电阻信号从而进行测量计算。
测量电路模块，设置分压电路和比较电路，将电阻信号转换为电压信号分档输出，用于显示和报警。
显示报警模块，用发光二极管进行显示，同时设置光照过强时蜂鸣器报警。
自动控制模块，用或非门实现暗光控制，同时继电器闭合，打开日光灯，当在外界中、强光条件下继电器掉电日光灯熄灭。
一、设计任务要求：设计一个光照强度自动检测、显示、报警、控制系统，实现对外界三种不同条件下光强的分档指示和报警（弱、适宜、强）1、方案的设计根据题目选定光照强度自动检测所用的光电传感器类型；1）自己设计至少三种以上不同光照条件，测定不同光照条件下光电传感器的输出；2）传感器测量电路采用集成运算放大器构成的比较器完成，完成至少三种以上不同光照条件下显示报警系统方案的论证和设计；3）完成自然光光照强度自动检测显示报警系统电路方框图、电路原理图的设计；4）完成自然光光照强度自动检测显示报警系统中核心芯片的选型、系统中各个参数的计算（备注：1. 含各种元件参数的计算过程或依据2. 选定最接近计算结果的元件规格）；5）设计结束后，进行仿真调试。
2、仿真调试方案利用：Multisim等软件仿真，得出主要信号输入输出点的波形，根据仿真结果验证设计功能的可行性、参数设计的合理性；给出系统整机电路图（利用PROTEL软件做出原理图SCH文件和PCB文件）。
3、完成课程设计报告。
光强检测电路的设计
光强检测电路是一种用于检测光强度的电路，它可以将光信号转换为电信号，并通过电路进行处理和分析。
在实际应用中，光强检测电路被广泛应用于光电传感器、光电开关、光电测距等领域。
光强检测电路的设计需要考虑多个因素，包括光敏元件的选择、电路的放大和滤波、信号的采集和处理等。
其中，光敏元件是光强检测电路的核心部件，它可以将光信号转换为电信号。
常用的光敏元件包括光敏二极管、光敏电阻、光电二极管等。
在电路的放大和滤波方面，可以采用运放放大器进行信号放大，并通过RC滤波电路进行信号滤波，以消除噪声和干扰。
信号的采集和处理可以通过单片机或其他数字信号处理器进行，以实现信号的数字化和分析。
在实际应用中，光强检测电路的设计需要根据具体的应用场景进行调整和优化。
例如，在光电传感器中，需要考虑光强度的变化范围和响应速度；在光电开关中，需要考虑光强度的阈值和触发方式；在光电测距中，需要考虑光强度的反射和衰减等因素。
光强检测电路的设计是一个复杂而重要的过程，需要综合考虑多个因素，并进行实验验证和优化。
只有设计出高性能、高可靠性的光强检测电路，才能满足实际应用的需求。
