数字集成电路测试系统BJ3125A使用说明书【模板】
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使用说明数字式高压绝缘电阻测试仪目录1.安全警告2.特点3.技术规格4.仪器布局4-1 仪器布局4-2 液晶屏显示5. 测试前的准备5-1 检查电池电压5-2 连接测试导线6. 测试6-1 电压测量6-2 绝缘电阻的测量6-3 连续测量6-4 定时器测量功能6-5 极化指数测量6-6 测量端口的电压特性6-7 保护接线的使用6-8 背光功能6-9 自动关机功能7.电池更换8、附件8-1 测试探棒的金属部分和更换8-2 记录仪适配器8-3 鳄口夹测试线1.安全警告本仪器的设计、制造和检测均达到IEC61010安全标准(电子类测量产品安全要求),本说明书包括确保仪器的安全使用及保证仪器的安全状态,使用者所必须遵守的警告和安全条例。
使用前请先阅读以下说明。
警告 ● 使用前,通读并理解说明书中的操作指南。
● 请将说明书随身保存以确保可随时参阅。
● 必须按指示使用仪器。
● 理解并遵守安全操作指示。
必须严格遵守上述操作说明。
如不遵守,测量时可能会导致人身伤害和仪器毁坏。
本仪器上的标志意思是指为了安全操作本仪器,请使用者参照使用手册的相关部分操作。
以上的电路中测量。
若仪器出现异常请停止使用。
例如:仪器破损或裸露出金属部分。
符号测量前,确认量程开关切换至适当的位置。
2. 特点MODEL3125是由电子控制的4个量程测量绝缘电阻的高压绝缘电阻计。
● 设计达到以下安全标准:IEC 61010-1(CAT.III 600V 污染度2)IEC 61010-031(手持式探针要求标准)● 自动放电功能:测试电容性负荷的绝缘电阻时,测量后自动释放充电电荷。
放电状态可在电压模式中确认。
● 背光功能便于在阴暗光线或夜间工作。
● 条形图显示测量结果。
● 带电线路警告标志和蜂鸣警告。
● 自动关机功能:为避免忘记关机造成的电池浪费,测量后10分钟无操作时仪器将自动关机。
● 设定测试时间功能:在指定时间里自动执行测量。
● PI测量(极化指数测量):在任意两点时间里,根据设定自动测量电阻比率。
高压一体化试验设备综合测试系统使用说明书一、产品概述本系统是一种专门为高压一体化试验设备设计的综合测试系统。
该系统集成了数据采集、数据处理、自动控制和报告生成等功能,可以对高压一体化试验设备进行全面的性能测试和分析。
本系统具有操作简便、高效稳定的特点,可广泛应用于电力、能源、高压等行业的设备测试及生产领域。
二、使用前准备1. 确保测试系统已经正确安装并连接到待测试的高压一体化试验设备。
2. 确保电源和通信连接正常,并且系统软件已经正确安装在指定的计算机上。
三、操作步骤1. 打开计算机,启动测试系统软件。
2. 在软件界面上选择对应的测试项目,输入待测试设备的相关信息(如型号、规格等)。
3. 按照系统提示,设置测试参数,包括测试时长、采样频率、测试范围等。
4. 点击“开始测试”按钮,系统将自动开始对待测试设备进行综合性能测试。
5. 测试过程中,可以实时监测数据采集情况、结果显示情况,并对测试过程进行实时调整或暂停操作。
6. 测试结束后,系统会自动生成测试报告,并对测试数据进行分析和处理,用户可在报告中查看详细的测试结果及分析。
四、注意事项1. 在使用过程中,请务必遵守相关安全操作规程,确保操作人员和待测试设备的安全。
2. 在测试时,需注意系统指示的最大工作电压和最大工作电流范围,避免超出规定范围造成损坏。
3. 如发现任何异常情况,请立即停止测试,并向售后服务人员求助。
勿自行操作或修理设备。
4. 定期检查系统软件和硬件的运行状况,确保系统正常工作。
五、维护与保养1. 定期进行系统软件更新和维护,以确保系统功能正常。
2. 每次使用结束后,对系统硬件设备进行清洁和检查,确保无灰尘或异物进入系统。
3. 保持系统软件操作人员的培训与学习,以提高系统操作效率和准确度。
六、附录本说明书仅为系统使用的基本指导,并不能涵盖所有操作情况。
在使用系统前,请确保已经充分了解系统的功能和操作方法,如有其他问题,请随时联系销售商或售后服务人员。
ar3125数字兆欧表使用方法AR3125数字兆欧表是一种常用的电气测量仪器,它被广泛应用于电力系统、电厂、电力设备维护和检修等领域。
下面将介绍AR3125数字兆欧表的使用方法,包括测量原理、操作流程、注意事项等内容。
一、AR3125数字兆欧表的工作原理AR3125数字兆欧表通过测量绝缘电阻来判断电气设备的绝缘状态。
绝缘电阻是指电气设备表面和内部电气部件之间的电阻,它反映了设备的绝缘质量。
当设备的绝缘破损或老化时,绝缘电阻会降低,从而引发安全隐患。
AR3125数字兆欧表利用高精度电流源和高阻抗测量电路,能够准确地测量绝缘电阻。
二、AR3125数字兆欧表的操作流程1.准备工作:确认待测设备已停电,并接地良好。
确保测试用的电源电压正常,并检查测量电极的状态,保证电极表面干净。
2.连接测量电极:将测量电极连接到待测设备上,确保电极和设备表面良好接触。
一般情况下,使用四线法进行测量,即两根电极作为电源极,另外两根电极作为测量极。
3.设置参数:打开AR3125数字兆欧表,根据待测设备的额定电压和绝缘电阻范围,选择相应的测量参数。
例如,如果待测设备额定电压为1000V,绝缘电阻范围为100兆欧姆,那么应该将测量参数设置为1000V和100兆欧姆。
4.开始测量:按下开始键,AR3125数字兆欧表会开始施加测量电压,并测量绝缘电阻的大小。
等待一段时间后,AR3125数字兆欧表会显示出绝缘电阻的数值。
5.结果判读:根据显示结果来判断设备的绝缘状态。
通常情况下,当测量值大于设备的绝缘电阻要求时,设备的绝缘状态良好;反之,如果测量值小于要求,则表示设备的绝缘存在问题。
三、AR3125数字兆欧表的注意事项1.测量前应确保待测设备已停电,并接地良好,以免产生电击或其他安全隐患。
2.使用前应先检查测量电极的状态,确保电极表面干净,接触良好,以免影响测量精度。
3.在进行测量时,应按照设备的额定电压和绝缘电阻范围,选择合适的测量参数。
数字集成电路多参数测试仪GT2100A北京金三航科技发展有限公司网址:电话*************制造商:北京金三航科技发展有限公司注册品牌:序集成电路(IC)测试是伴随着集成电路的发展而发展的,它对促进集成电路的进步和应用作出了贡献。
为了确保产品质量和研制开发出条例系统要求的电路,在集成电路研制、生产和应用等各个阶段都要进行反复多次的检验、测试。
集成电路的测试,尤其是进厂的检验、测试对其应用也是十分必要的,图1表示出发现每故障检出费与检出阶段的关系。
从图可以看出,产品进厂检验(器件级测试)每故障检出费用为0.3美元,在印制电路板上(板级)测试则检出费提高一个数量级,系统级及维修阶段测试,其每故障检出费用分别提高2个和3个数量级。
可见,集成电路进厂的测试不仅对确保系统可靠性有重要作用,而且对降低系统成本意义也十分重大。
每故障检 300出费用(美元)3030.3测试阶段器件级板级系统级维修测试测试测试测试GT2100A 数字集成电路多参数测试仪,是北京金三航科技发展有限公司通过总结国外同类产品的优点,本着实用、方便、测试精准的宗旨,面向国内外市场推出的数字IC参数测试仪(并且在不断地完善之中)。
该仪器特别适合,整机生产厂商及其它IC应用厂家的器件级进厂测试。
目前,对中小规模数字IC进行简单的逻辑功能测试,已不能满足IC用户的测试需求。
GT2100A数字集成电路多参数测试仪,利用独创的多值参数比较法,可以对数字IC进行功能测试并同时完成各项直流参数测试。
GT2100A完全可以满足IC用户的参数测试要求。
GT2100A是一种性能实用、操作简单、测试可信度高、成本低廉的优秀测试仪器。
它具有以下主要特点:1.测试电源拉偏状态下,输出电平加载测试。
2.对输出电流、输出电压直流参数进行测试的同时,完成真值表功能测试。
3.真值表功能测试的同时,完成“三态”(高阻状态)漏电流测试。
4.对IC输入电流、功耗电流测试。
1.概述1.1 BJ3125A 型数字IC测试系统是BJ3125数字IC测试系统的改型产品.继承了原有系统的优点.1.2该系统数字IC测试按存储响应法进行设计,这种方法理论上成熟,方法上统一,应用最广泛,国内外科技人员熟悉。
此外,由于利用这种原理测试方法上差异小,所以易于和国内、外其他测试系统的测试数据,测试结果数据进行比较,有较好的兼容性。
1.3本系统的设计思想采用通用微机控制.为以后多快好省地开发各系列智能仪器打下基础。
采用通用微机对于软件开发及系统调试都带来许多方便。
采用总线支持模块化结构,便于扩展成其他测试系统.将在研制中大规模数字集成电路测试系统中积累的知识,经验充分赋予该系统,软件能继承的就继承,如页表式编程测试包、系统的诊断校准程序、程序库……在功能测试上不追求速度而只追求功能齐全,如:能测试各种工艺系列的IC,能测开路门,可进行三态测试等。
而着重在直流参数上下功夫。
如:小电流测试及保证较好的测试精度。
在电路设计上力求电路简捷,尽量采用先进的性价比高的器件,如选用AD7237双D/A、AD526增益可软件编程放大器、AD620仪用放大器等,可降低成本,缩短研制周期,较容易保证较好的性能指标,便于生产。
1.4本系统的主要特点——采用通用微机控制——完善的诊断校准程序——商业化齐套实用的程序库——具有测试存储器的软件图形发生器——具有电平精度高、输出阻抗低、电平范围宽的三态驱动器。
——可对开路门进行测试——具有三态测试能力——采用地缓冲放大器,以利用提高直流参数测试精度——功能测试采用双阈值比较——恒流源、恒压源、电压表是独立的、便于测试模拟电路时使用——易于扩展成其它 IC测试系统。
1.5本测试系统,可测试TTL,ECL,CMOS及其它类型中小规模数字IC,如随机逻辑电路、ROM、EPROM、RAM、EPLD。
1.6测试用途整机厂、研究单位的器件验收测试及其他各种应用测试。
2.系统构成及主要功能(参看图1)图 1 BJ3125A IC 测试系统方框图2.1软件部分系统软件主要包括:WINDOWS98操作系统OFFICE2000编程测试包应用软件主要包括:系统的诊断、校准包、测试程序库。
BJ3190A型集成运算放大器使用说明五 .使用方法开机前准备:检查电源开关是否处在关闭位置。
“测量开关 (S2)”应处于非测量位置,单项琴键 (S10:“1~8” 琴键)均应弹起。
1. 被测器件的电源电压设置打开仪器电源开关,电源指示灯亮,按动复位琴键,电表有被测器件电源电压指示。
Vcc、Vee的电位器旋钮可调节电压。
变化其中间位置的开关(S3),按键释放电表指示 Vcc,按入电表指示 Vee,并调好被测器件的电源电压。
这时需要予热 15 分钟。
2. I IB调零按下单项琴键 “5”I IB项,同时按下其0.1μA量程琴键,调节面板“I IB调零”旋钮,使电表指示为零。
(0.1μA档校好后,其它几档也随即为零)。
3. A VD 校准按下单项琴键“8”键,A VD 项, 同时按下“A VD 校准”琴键和“A VD 的档位”键(S8如 120dB 档键),调节“A VD 满度”旋钮使电表指示满度。
再按一下“A VD 校准”琴键,使其弹起复原。
4. 测量设置这时可插上测试盒和被测器件。
这时可根据所测器件,选择测试盒,单运放测试盒、多运放测试盒。
( 如测不同于测试盒上标出器件的出脚,可自行改变测试盒插座到被测器件的连线)。
按下参数所需范围的各档琴键并予置好被测器件的电源电压。
( ±Vop 加 R L是在 Y 插孔与地插孔间)。
按入面板“测量开关 (S2)”。
Vo 灯闪亮,这时选择“自动”或“手动”测试。
选择“手动”测试时,S10 各琴键为单一项目。
选择“自动”测量时,S10 各琴键全部弹起复原。
按下“自动”琴键,选择好测试项目,启动测试盒上微动开关,将进行“自动”换项测试,时间长短由电位器 R7 决定。
这时未选项将被自动跳过。
如果进行多运放测试,只能选用自动测试项。
将琴键 S21“单多”按入,琴键 S15 根据不同组件任选,“1”必须选测,即“1” 测多运放组件时要选用。
注意:选“自动” 测试项时,单项测试各按键 (S1O) 均应释放。
数字集成电路测试系统BJ3125A使用说明书北京无线电仪器厂********1.概述1.1BJ3125A 型数字IC测试系统是BJ3125数字IC测试系统的改型产品,继承了原有系统的优点。
1.2 该系统数字IC测试按存储响应法进行设计,这种方法理论上成熟,方法上统一,应用最广泛,国内外科技人员熟悉。
此外,由于利用这种原理测试方法上差异小,所以易于和国内、外其他测试系统的测试数据,测试结果数据进行比较,有较好的兼容性。
1.3 本系统的设计思想采用通用微机控制,为以后多快好省地开发各系列智能仪器打下基础。
采用通用微机对于软件开发及系统调试都带来许多方便。
采用总线支持模块化结构,便于扩展成其他测试系统。
将研制中大规模数字集成电路测试系统中积累的知识、经验充分赋予该系统,软件能继承的就继承,如页表式编程测试包、系统的诊断校准程序、程序库……在功能测试上不追求速度而只追求功能齐全,如:能测试各种工艺系列的IC,能测开路门,可进行三态测试等。
着重在直流参数上下功夫。
如:小电流测试及保证较好的测试精度。
在电路设计上力求电路简捷,尽量采用先进的、性价比高的器件,如选用AD7237双D/A、AD526增益可软件编程放大器、AD620仪用放大器等,可降低成本,缩短研制周期,较容易保证较好的性能指标,便于生产。
1.4 本系统的主要特点——采用通用微机控制——完善的诊断校准程序——商业化齐套实用的程序库——具有测试存储器的软件图形发生器——具有电平精度高、输出阻抗低、电平范围宽的三态驱动器。
——可对开路门进行测试——具有三态测试能力——采用地缓冲放大器,以利用提高直流参数测试精度——功能测试采用双阈值比较——恒流源、恒压源、电压表是独立的、便于测试模拟电路时使用——易于扩展成其它IC测试系统。
1.5 本测试系统,可测试中小规模数字IC1.6 测试用途整机厂、研究单位的器件验收测试及其他各种应用测试。
2.系统构成及主要功能(参看图1)测试仪计算机总线测试仪总线数字信号线模拟信号线图1 BJ3125A IC 测试系统方框图2.1 软件部分系统软件主要包括:WINDOWS98操作系统OFFICE2000编程测试包应用软件主要包括:系统的诊断、校准包、测试程序库。
2.2 控制部分2.2.1 主控计算机外置PC机(内含ISA总线插槽)2.2.2 接口接口作为电子计算机与各种外部设备连接的界面,进行命令、数据的传递和转换。
本系统包括以下几种接口:和打印机、键盘及显示终端、测试仪的接口,与测试仪连接所需的接口,本测试系统采用总接口方式。
2.3 测试仪部分2.3.1 模拟模块a.电压源(VFIM)是用来进行直流参数测试的部件,具有加压测流的功能。
b.电流源(IF).c.电压表是用来进行直流参数测量的部件,具有测量直流电压的功能。
d.程控器件电源用作被测器件的供电电源,并有足够的负载能力。
本系统配置了三路程控器件电源。
e.程控参考电平向管脚驱动器提供所需的高低参考电平,向管脚读出器提供电平比较的参考电平,为开路门电路测试而提供的参考电平。
本系统配置如下:供驱动器用的参考电平1组供读出器用的参考电平1组供开路门输出电路测试用参考电平1组2.3.2 功能模块图形发生器采用软件通过计算机发生测试图形方式。
2.3.3 测试头模块a.管脚电路由驱动器、读出器及控制电路组成,驱动器给被测器件输入管脚提供图形数据,可形成高阻态,读出器对被测器件输出管脚进行电平比较、逻辑比较采用软件方式比较,I/O通道:32。
b.适配器是测试系统与被测器件接口,包括测试插座、控制继电器、测试所需的外接件等。
3. 使用方法3.1 界面介绍3.1.1 主界面图3.1主界面主界面用于控制测试条件的调入和存储,测试条件的设置,测试是否开始,及测试结果的显示。
点击‘文件操作’按钮,可以进入文件操作子窗口。
点击‘测试设置’按钮,可以进入测试条件设置子窗口。
点击‘测试’按钮,可以进入测试子窗口。
点击‘结果显示’按钮,可以查看测试的结果。
每个子界面的具体功能请参考相应部分。
3.1.2 文件操作调入条件文件,保存条件文件,调入结果文件,保存结果文件,增加新器件。
此界面主要用调入以前已经保存的设置好的测试条件,或者保存更改后的测试条件。
另一个功能是建立一个新器件的测试条件时,设置一些公用的条件,如管脚数量,其他测试条件则在设置测试条件的各个子窗口调整。
3.1.2.1 调入条件:当点击图3.2中的‘调入条件’按钮时,会弹出下面的对话框供您选择需要的测试条件文件:图3.2 文件操作窗口用于调入测试所用的数据,包括功能设置,参数设置,分类设置,真值表数据。
如果操作成功,会有相应的提示信息。
如果装载数据过程中出错, 会有相应的提示信息,建议不要运行测试功能,以防数据错误而损坏设备,而应该重新调入。
此对话框为Windows打开文件时使用的标准对话框,您可以选择当前目录下的条件,或转移到其他目录进行选择。
选中某个文件后,点击‘打开’按钮调入测试条件。
如果数据没有错误,会出现如下的提示:如果调入测试条件文件的过程中出现错误,会出现如下提示:如果出现了这种提示,说明数据有问题,可能是读入数据的过程中出现了错误,或者是后缀相同的其他应用程序的文件误放在此目录中。
因此,建议您把测试用到的条件存储在BJ3125应用程序安装的目录下面。
3.1.2.2保存条件:如果用户点击图3.2中的‘保存条件’按钮时则会出现如下的对话框:默认条件下,文件名称为被测芯片名。
用户也可以自己输入其他的名称。
如果被保存的条件的名称已经存在,程序会询问用户是否覆盖原来的已保存的条件,如果选择覆盖,则原来已保存的条件会丢失,相应的替换为现在更新后的条件;如果选择不替换,则不会影响原来已经存在的数据。
如果保存的过程中出现错误,则可能是磁盘已经没有空间或向磁盘写数据的过程中出现错误。
如果保存成功,会出现如下的提示:3.1.2.3 调入结果:如果用户点击图3.2中的‘调入结果’按钮时则会出现如下的对话框:具有调入保存的结果,包括功能测试结果,参数测试结果。
如果操作成功,则会有提示。
然后就可以在'参数结果'和'总结果'中察看数据。
若此时运行测试程序,则结果将被刷新。
如果调入过程出错,建议不要运行'测试'功能,以防数据错误损坏设备。
3.1.2.4 保存结果:如果用户点击图3.2中的‘保存结果’按钮时则会出现如下的对话框:除具有'保存文件'功能外,还可以保存所测量的功能结果,测试结果,以备'装载结果'所用。
使用此功能,因保存数据较多,所以文件比较大,占用磁盘空间较大。
默认条件下,文件名称为被测芯片名。
用户也可以自己输入其他的名称。
如果被保存的条件的名称已经存在,程序会询问用户是否覆盖原来的已保存的条件,如果选择覆盖,则原来已保存的条件会丢失,相应的替换为现在更新后的条件;如果选择不替换,则不会影响原来已经存在的数据。
如果保存的过程中出现错误,则可能是磁盘已经没有空间或向磁盘写数据的过程中出现错误。
如果保存成功,会出现如下的提示:3.1.2.5 增加新器件:如果用户点击图3.2中的‘增加新器件’按钮时则会出现图 3.2.1的对话框,用户可以在对话框中填入新器件的名称和管脚数,其他测试条件可以在测试设置的各个窗口中设置。
3.1.2.6 返回:如果用户点击图3.2中的‘返回’按钮时则会回到主界面。
3.1.3 测试设置:如果用户点击图3.1中的‘测试设置’按钮时则会出现如下的对话框:图 3.2.1图3.3测试设置窗口3.1.3.1.器件描述:如果用户点击图3.3中的‘器件描述’按钮时则会出现如下的对话框:1.器件名称:可以输入器件的名字,如74HC154。
2.器件备注:可以输入关于器件的一些简要信息。
3.管脚数量:输入被测芯片的管脚数量,但最多为32脚。
4.分组数量:输入将要使用的测试条件分组的数量,每一分组中,可以设置不同的参数与功能测试条件以测试芯片的不同指标。
最多不超过15组。
5. 管脚类型包括I(输入),O(输出),B(双向管脚),T(三态管脚),G(地),1(电源1),2(电源2),3(电源3),X(测试中忽略此管脚),C(存储器的控制管脚),A(存储器的地址管脚)。
注意:必须为偶数;输入电源时,只需在对应管脚的输入标识处按1,2,或3,程序会自动显示V1,V2,V3,分别对应电源 1,电源 2,电源 3。
3.1.3.2 运行模式:如果用户点击图3.3中的‘运行模式’按钮时则会出现如下的对话框:1.运行模式:可用鼠标点击选择您所需要的运行模式。
(1)测试所有组,出错停止:根据'测试项目'的设置,测试所有分组,如果芯片出现错误,则停止测试。
(2)测试所有组:根据'测试项目'的设置,测试所有分组,直至完毕,无论芯片是否出错。
(3)测完每一组后停止:若选择此模式,则测试完'测试组顺序'中第一次测试所规定的组后,即停止测试。
(4)循环测试直至出错:若选择此模式,则按'测试组顺序'中的组序循环进行测试,直至芯片出错。
(5)循环测试:若选择此模式,则按'测试组顺序'中的组序循环测试芯片,无论其是否出错2.运行速度:可以选择'正常'或'快速'。
可用鼠标左键单击三角出现下拉选项后选择需要的选项。
选择'正常'所测数据精度比选择'快速'精度高,但运行时间可能稍长。
因为'正常'测试时系统根据所测结果会选择最佳的量程匹配重新测试。
但是,如果芯片的每一指标比较稳定,例如各个管脚的Vil(输入低电流)相差不大,则建议使用'正常'测试,此时系统会自动记录最佳量程匹配,因此测试速度不会减慢,精度也最高;如果芯片的每一指标不稳定,则您可根据具体情况(速度与精度之间的取舍)选择。
3.测试项目:可以选择'F','P','FP','PF',分别代表'功能(Function)测试','参数(Parameter)测试','功能测试与参数测试','参数测试与功能测试'。
可用鼠标左键单击三角出现下拉选项后选择需要的选项。
'FP'代表先测功能后测参数,'PF'相反。
这个选相只是在进行“精确测试”和“分组测试”的时候有效,对于“测试”没有作用。
4.测试组顺序:系统最多测试的组数与'器件描述'中的'分组数量'中所填数值相同。