纳米测量光学实验
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6. 纳米测量光学实验一、 实验目的和内容1. 建立纳米测量的概念,了解其实现方法。
2. 了解微弱振动监测的原理3. 利用笔束激光干涉法进行纳米量级的位移测量。
二、 实验基本原理1.位移的纳米测量方法纳米科学是在纳米(10-9m )和原子(约10-8m )的尺度上(1nm ~100nm )研究物质的特性、物质相互作用以及如何利用这些特性的多学科交叉的前沿科学与技术。
纳米测量技术是纳米科学的一个重要分支。
用于纳米测量的笔束激光干涉仪原理如图1所示:激光器发出的激光,是甚细的准直激光束(称为笔束光),记其波前为U 0。
被分光镜4分为测量光束m I ~和参考光束r I ~。
这两笔束光分别经各自的直角棱镜反射后,被平行地反射回来并再一次到达分光镜4,但此时m I ~与r I ~已不再重合,而是存在一间距2d 。
经过分光镜4后,测量光束与参考光束平行入射至傅立叶变换(FT )透镜8,并在FT 透镜8的后焦面上发生干涉,形成计量条纹。
干涉条纹被物镜10放大后成像于CMOS11上,通过图像采集卡输入计算机进行数据处理。
在CMOS 上干涉条纹的位移量x fX f =Mf λN/(2d)式中N 为条纹移动数,M 为物镜10的放大倍数,f 为FT 透镜8的焦距,2d 为测量光束与参考光束的空间间距,S 为测量镜的位移量。
从上式中知道,记录干涉条纹移动数,就可得到位移量,而测量的灵敏度完全取决于物镜放大率,FT 透镜的焦距和2d 。
当f 足够大2d 足够小(所以用笔束光的理由),就可以得到纳米量级灵敏度。
而该装置却很简单 2.微弱振动的纳米测量与监视四.振动测量是基于振动物体位移引起测量光波位相的调制,通过与参考光波发生干涉电接收装置将干涉信号转变为电信号,经过适当的电子学处理,求得振幅值。
激光入射光强I 0,经分光镜BS 后,一支光束射向参考镜M 1,光强为I 1,光程长l 1;另一支光束射向贴在振动台面上的测量反射镜M 2,光强为I 2,测量镜静止时光程长l 2。
纳米光学技术的基本原理和实验操作流程纳米光学技术是一种运用光学原理研究和操作纳米级尺度物质的科学技术。
它结合了纳米科学和光学技术的优势,可以对微观世界进行实时、非破坏性的观测和操控,为材料科学、生物医学、信息技术等领域的发展带来了新的机遇和挑战。
基本原理:纳米光学技术主要利用光的传播性质和与物质相互作用的特点,通过调控光的波长、强度和相位等参数,来实现对纳米级尺度物质的探测、成像和加工。
其中,主要包括以下几个基本原理:1. 表面等离子共振(Surface Plasmon Resonance,SPR):当光散射到金属纳米结构表面时,可以引发共振现象,即表面等离子共振。
利用这种现象,可以测量样品中等离子体积浓度、膜的厚度以及分子的亲和力等物理和化学信息。
2. 全息术(Holography):通过利用光的干涉和衍射效应,将光的信息存储在照相底片或光敏材料上,形成全息图像。
利用全息术可以实现高分辨率的成像和三维重建,对纳米级尺度结构进行表征和研究。
3. 等离子体共振(Plasmon Resonance):金属纳米颗粒具有独特的光学性质,当光与金属纳米颗粒相互作用时,可以产生等离子体共振现象。
例如,纳米金颗粒可以吸收和散射光,也可以通过改变光的频率或波长来调控等离子体共振的吸收和散射效应,从而实现纳米结构的探测和成像。
实验操作流程:进行纳米光学实验需要以下步骤和条件:1. 准备样品:根据实验目的选择和准备相应的纳米级尺度样品,可以是金属纳米颗粒、纳米材料薄膜或纳米生物分子等。
2. 光源选择:根据实验需求选择合适的光源。
常用的光源有氙灯、激光器和白炉等,其中激光器是常用的高亮度、高直流和单色性光源。
3. 光学系统搭建:根据实验需要搭建好合适的光学系统,包括光路调整、光学元件选择和安装等。
光学系统可以由准直器、物镜、滤光片、调制器等组成。
4. 数据采集与分析:根据实验设计选择合适的数据采集设备,例如像素均衡相机或光谱仪。
第1篇一、实验目的1. 了解纳米粒度仪的基本原理和操作方法。
2. 学习纳米粒度分析在材料科学、生物医学等领域的应用。
3. 通过实验,掌握纳米颗粒粒径和分布的测量方法。
二、实验原理纳米粒度仪是一种基于动态光散射(DLS)原理的仪器,通过测量颗粒在液体中布朗运动的速度,从而确定颗粒的大小和分布。
实验过程中,激光照射到悬浮颗粒上,颗粒对光产生散射,散射光经过光学系统被探测器接收,通过分析散射光的时间变化,可以得到颗粒的粒径和分布信息。
三、实验仪器与试剂1. 仪器:纳米粒度仪、激光光源、样品池、计算机等。
2. 试剂:纳米颗粒悬浮液、分散剂、滤纸等。
四、实验步骤1. 样品准备:将纳米颗粒悬浮液用滤纸过滤,去除杂质,确保样品的纯净度。
2. 仪器设置:打开纳米粒度仪,调整激光光源、样品池等参数,使仪器处于正常工作状态。
3. 样品测量:将处理好的纳米颗粒悬浮液注入样品池,设定测量时间,启动仪器进行测量。
4. 数据处理:将测量得到的数据导入计算机,利用纳米粒度仪自带软件进行数据处理,得到粒径和分布信息。
5. 结果分析:根据实验结果,分析纳米颗粒的粒径分布、平均粒径等参数,并与理论值进行对比。
五、实验结果与分析1. 纳米颗粒粒径分布:实验测得纳米颗粒的粒径分布如图1所示。
从图中可以看出,纳米颗粒的粒径主要集中在20-50nm范围内,符合实验预期。
图1 纳米颗粒粒径分布2. 纳米颗粒平均粒径:根据实验结果,纳米颗粒的平均粒径为30.5nm,与理论值相符。
3. 纳米颗粒分散性:实验测得纳米颗粒的分散性较好,说明样品在制备过程中未发生团聚现象。
六、实验讨论1. 实验过程中,纳米颗粒的粒径分布和平均粒径与理论值相符,说明实验方法可靠,仪器性能稳定。
2. 实验结果表明,纳米颗粒的分散性较好,有利于其在材料科学、生物医学等领域的应用。
3. 在实验过程中,应注意样品的制备和仪器操作,以保证实验结果的准确性。
七、结论本次实验成功测量了纳米颗粒的粒径和分布,验证了纳米粒度仪在材料科学、生物医学等领域的应用价值。
纳米颗粒实验技术中的尺寸测量与误差控制方法近年来,纳米技术的迅猛发展为科学研究和工业应用带来了巨大的机遇与挑战。
在纳米领域中,对纳米粒子的尺寸进行准确测量和误差控制是十分关键的,因为颗粒的大小对其性质和应用有着重要影响。
本文将探讨一些常用的纳米颗粒尺寸测量方法以及误差控制方法。
一、光学显微镜测量光学显微镜是一种常见的纳米颗粒尺寸测量工具。
通过观察在显微镜下的纳米颗粒图像,可以估算其粒径。
但是,由于光学显微镜的分辨率有限,只能对大约100纳米以上的颗粒进行粗略测量。
此外,颗粒的形状和折射率对测量结果也会产生影响。
为了提高测量精度,科学家们还开发了一些显微镜技术的改进方法。
例如,透射电子显微镜(TEM)可以提供更高的分辨率,使得可以观察到纳米颗粒的细节。
同时,通过TEM技术还可以将样品进行投影处理,从而得到更为准确的尺寸结果。
二、扫描电子显微镜测量扫描电子显微镜(SEM)是一种对纳米颗粒进行表面形貌和尺寸测量的重要工具。
SEM利用电子束和样品之间的相互作用,通过检测反射和散射的电子信号来建立颗粒图像。
与光学显微镜不同,SEM具有更高的分辨率,可以检测到更小的颗粒,同时样品的形貌信息也可以得到更为详细的展示。
然而,SEM也有其局限性。
首先,由于电子束与样品的相互作用,样品需要通电处理,这可能会导致颗粒形貌的失真。
其次,样品表面的带电效应会影响电子信号的检测,从而对尺寸结果产生一定的误差。
因此,在SEM测量中需要采取合适的样品处理和检测方法以降低误差。
三、动态光散射测量动态光散射(DLS)技术是一种测量纳米颗粒尺寸和分布的重要方法。
该技术通过测量散射光的强度和波长分布来推断颗粒的尺寸。
与显微镜技术不同,DLS 可以同时测量大量的颗粒,因此能够提供更准确的尺寸分布信息。
然而,DLS也存在一些限制。
首先,DLS仅适用于液体中颗粒尺寸的测量,对于固体颗粒需要先进行分散处理。
其次,DLS对颗粒形状的敏感度较高,不同形状的颗粒可能导致不同的测量结果。
牛顿环实验在光学薄膜纳米结构设计与优化中的应用光学薄膜纳米结构是一种具有特殊光学性质的材料,广泛应用于传感器、显示器、光电子器件等领域。
而牛顿环实验是一种常见、传统的光学实验方法,可以用来测量光学薄膜的厚度以及检测其质量。
本文将介绍牛顿环实验在光学薄膜纳米结构设计与优化中的应用。
一、牛顿环实验的原理及方法牛顿环实验是基于干涉现象的光学实验方法。
其原理是利用两个平行玻璃面之间的干涉现象,通过观察干涉环的形状和颜色变化来推断材料的性质和厚度。
具体的实验方法为,将一块光学薄膜置于平行玻璃板之间,使其与外界环境隔离。
然后,在光学薄膜上方垂直投射一束单色光,观察在平行玻璃板上形成的干涉环。
二、牛顿环实验在光学薄膜厚度测量中的应用牛顿环实验在光学薄膜厚度测量中有着重要的应用。
传统的光学薄膜厚度测量方法通常需要复杂的仪器和实验步骤,而牛顿环实验则可以简化这个过程。
通过观察干涉环的直径和颜色变化,可以推断出光学薄膜的厚度,实现了对光学薄膜厚度的快速、准确测量。
三、牛顿环实验在光学薄膜纳米结构设计中的应用除了在光学薄膜厚度测量中的应用,牛顿环实验还在光学薄膜纳米结构设计中发挥着重要的作用。
光学薄膜纳米结构的设计目的是通过调控其光学性质来实现特定的功能。
通过利用牛顿环实验,可以对光学薄膜纳米结构进行优化设计。
例如,在太阳能电池中,可以通过调整光学薄膜的厚度和折射率,提高光吸收效率和电池的光电转换效果。
四、牛顿环实验在光学薄膜纳米结构优化中的应用除了在光学薄膜的设计中的应用,牛顿环实验还在光学薄膜纳米结构优化中发挥着重要的作用。
通过观察牛顿环的形状和颜色变化,可以判断光学薄膜的性能和质量。
在光学薄膜纳米结构的制备过程中,通过观察和调整牛顿环的形态,可以对光学薄膜的制备条件进行优化,提高光学薄膜的质量和性能。
综上所述,牛顿环实验在光学薄膜纳米结构设计与优化中具有重要的应用价值。
通过牛顿环实验可以快速、准确地测量光学薄膜的厚度,同时可以对光学薄膜的纳米结构进行优化设计和制备优化。
纳米材料是指其特征尺寸为 1~100nm 范围内的材料, 其中包括纳米粉体材料, 纳米复合材料,纳米( 结构) 薄膜和纳米结构块体材料等。
研究表明, 纳米粒子具有许多特异性能, 例如: 量子尺寸效应、表面效应、晶场效应等, 使处于表面态的原子、电子与处于内部的原子、电子行为相比有很大差别, 从而导致纳米微粒具有同种宏观体材料所不具备的新的光学特性, 主要表现为宽频带强吸收, 红移、蓝移现象。
目前, 对这些特异现象的基础研究和应用开发已成为纳米材料研究领域的热点之一, 引起科学界的广泛关注, 在这方面研究主要集中在纳米氧化物, 本文将综合分析和介绍这方面的研究进展, 指出该领域的前沿问题。
1. 分子光谱吸收机理分子吸收光谱根据吸收电磁波范围分为红外吸收光谱、紫外—可见吸收光谱。
分子吸收光谱是研究材料分子结构及其它有关性质的基本方法, 因材料的分子结构直接影响分子吸收光谱的基本吸收和吸收位置的变化, 反过来其基本吸收和吸收位置的变化也同样反映出材料分子结构的变化。
以下先从红外吸收光谱、紫外—可见吸收光谱的吸收机理来分析引起分子吸收光谱红移、蓝移。
红外光谱是分子吸收红外辐射后引起分子振动和转动能级跃迁所产生的( 只有远红外波段才涉及部分转动能级的跃迁, 为具有普遍性, 本文以振动为主进行讨论) 。
红外吸收光谱的红移、蓝移实质上是分子振动频率增大或减小, 表现出来的就是分子振动能级变窄或变宽; 其中, 分子振动频率可用分子振动方程确定; 对于双原子分子可以把键的振动近似为谐振子的振动, 其振动方程为:)(/21v HZ μκπ= ……………………… …… 其振动能量的量子力学表达式为:)(/2)21n eV h E μκπ+=(震动 ……………………式中 v(Hz)为振动频率, E 振动( eV) 为振动能级,n 为能级量子数, k(N/cm)为化合健力常数( 化合健强度) , μ(u)为两个原子折合质量。
物理实验中的纳米光学技术及其应用近年来,纳米光学技术作为一种先进的实验手段,已经在物理学领域引起了广泛的关注。
通过纳米尺度下的光学测量和操控,人们得以揭示微观领域中的种种现象,同时也为材料科学和生物医学等领域的应用带来了新的可能性。
一、纳米光学技术的原理和方法纳米光学技术的核心在于对纳米尺度下的光学现象进行研究和利用。
其基本原理是通过使用纳米级的结构或器件,控制光的传播和相互作用行为。
从而实现对物质微观性质的观测和操控。
在实验中,人们常常使用扫描隧道显微镜(STM)和原子力显微镜(AFM)等高分辨率显微镜技术,将探测光纳米级尺度下的物理量,如光的强度、相位、极化状态等。
利用非线性光学效应,可以进一步扩展这些纳米光学探测手段的应用。
二、纳米光学技术的应用领域纳米光学技术在物理学以及其他科学领域的应用极其广泛。
以下将介绍几个典型的应用案例。
1. 纳米光子学器件纳米光学技术为制备高性能和高效率的纳米光子学器件提供了新的思路。
通过精确控制纳米级结构的形貌和材料性质,可以实现光场增强、光波导、光谱调制等功能。
这些器件在光信息传输、激光加工和光电子学等方面具有重要的实际应用价值。
2. 纳米材料的光学性质研究纳米材料表面的局域光学性质与宏观材料存在很大差异。
通过纳米尺度下的光学测量,可以研究这些纳米材料的特殊光学行为。
例如,人们可以通过观测纳米结构表面等离子体共振现象,探索纳米材料的量子效应和表面等离子激元耦合等现象。
3. 生物医学领域的应用纳米光学技术的高分辨率和高灵敏度为生物医学领域的疾病检测和治疗提供了新的手段。
例如,通过纳米光学技术可以实现对单个生物分子的检测,用于早期癌症的诊断。
此外,纳米粒子的表面增强拉曼散射技术被广泛应用于细胞成像和分析等领域。
三、纳米光学技术面临的挑战和展望尽管纳米光学技术取得了一系列研究和应用上的突破,但仍然面临一些挑战。
首先,纳米级结构的制备和测量技术需要更高的精度和可控性。
机械工程学科应用型研究生综合实验实验指导书(微纳米测量技术分册)王景贺主编赵学增主审机电工程学院2013年1月目录实验一超精密加工表面的微观形貌检测 (1)实验1.1非球面测量系统认知实验 (1)实验1.2非接触白光干涉仪认知实验 (3)实验1.3原子力显微镜 (5)实验二超精密加工表面的机械力学特性检测 (20)实验一 超精密加工表面的微观形貌检测实验1.1非球面测量系统认知实验一、实验目的了解非球面测量系统的基本构造及工作原理,明确仪器的适用范围。
二、仪器概述Form Talysurf PGI 1240非球面测量系统,如图1-1所示,是由英国Taylor Hobson 公司研发的高测量精度仪器,其纵向分辨率达到了亚纳米级,可用于通用测量、轴承测量和光学非球面测量,借助该公司自行开发的基于PC 的测量数据分析软件µltra Windows ®可完成非球面形状参数和粗糙度参数的分析等。
该测量系统的主要性能参数,详见表1-1。
基座X 驱动箱立柱控制柜(内有控制器及计算机主机)运动控制杆打印机图1-1 Form Talysurf PGI 1240轮廓仪表1-1 Form Talysurf PGI 1240相关性能参数三、仪器的工作原理偏折棱镜柱面棱镜半波片输出分光镜分光棱镜止推轴承a)实物图 b)内部原理图图1-2 PGI 式触针传感器 Form Talysurf PGI 1240与其它触针式表面轮廓仪一样,是由工作台、驱动器、传感器、触针、数据采集器等主要部件组成。
其中的传感器是轮廓仪的最主要部件之一。
传感器的类型可分为电感式、电容式、压电式、干涉式及光栅式等。
Form Talysurf PGI 1240采用了相位光栅干涉式(PGI, Phase Grating Interferometric)触针传感器。
传感器实体如图1-2 a) 椭圆内所示,测量原理图如图1-2 b) 所示,PGI 主要由一个曲面衍射光栅组成,它装在测杆的尾端,以使其轴线和止推轴承轴线一致。