天线远场测量系统
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Agilent天线测试系统测量误差分析作者:侯兴平朱晓玫侯玥来源:《电子世界》2013年第07期【摘要】本文主要介绍Agilent天线测试系统的组成及工作原理和该天线测试系统测量误差分析以及在实际测试当中的应用。
【关键词】地面外来反射误差;标准增益误差;失配误差;矢网接收机线性误差;矢网接收机隔离误差;信噪比测量误差;总的合成测量误差;改善失配误差一、系统概述Agilent天线测试系统是美国安捷伦公司生产的目前国际上最先进的天线测试系统,本系统具有H11选件,外混频方式,100Hz IF中频带宽,8.33MHz中频,接收机灵敏度为-134dBm,动态范围110dB。
比原先的HP85301B天线测试系统的灵敏度(-113dBm)、动态范围(89dB)都高出21dB。
PNA采用Wondows2000操作系统网络分析仪平台,操作系统完全更新,数据处理兼容性更好。
稳定性更高,处理速度更快,灵敏度更高。
本天线远场测量系统用于在远场条件下对天线方向图与天线增益进行测量。
二、测试系统组成及工作原理本天线测试系统主要由Agilent公司生产的高性能矢量网络分析仪E8362B、发射源E8247C、本振源E8247C、本振/中频分配单元85309A、两个测试混频器85320A、参考混频器85320B、转台控制箱、控制计算机及相应的测试电缆等组成。
简化组成框图如图1所示。
E8362B网络分析仪在本天线测试系统中主要作为高性能接收机使用。
其具有H11选件后有非常高的接收灵敏度和非常大的接收动态范围,特别适合于天线测试。
E8247C微波信号源主要作为远端发射源与在接收端为本振/中频分配单元提供本振信号。
85320A/B测试/参考混频器用于将被测/参考天线接收到的信号下变频到中频。
为了提高测试灵敏度,减小由测试天线到网络分析仪接收机输入端的电缆损耗,在系统中使用了下变频方法,85309A本振/中频分配单元在天线测量系统中与85320A/B混频器一起构成天线接收信号的下变频与分配部分,完成将天线接收到的信号由微波频率下变频到8.33MHz中频,然后通过电缆送入PNA网络分析仪的8.33MHz中频信号输入端完成测量。
按照天线场区的划分,天线测量系统可分为远场测量系统和近场测量系统。
1.远场测量系统远场测量系统按使用环境可分为室外远场测量系统和室内远场测量系统。
室外远场需要较长的测量距离,通常用天线高架法来尽量减小地面反射,其他架设方法还有地面反射法和斜距法。
室外远场测量需要在合适的外部环境和天气下进行,同时,室外远场对安全和电磁环境有较高要求。
室内远场在微波暗室中进行,暗室四周和上下铺设吸波材料来减小电磁反射。
如果暗室条件满足远场测量条件,可选择传统远场测量法,如果测量距离不够远场条件,可以选择紧缩场,通过反射天线在被测天线处形成平面电磁波。
2.近场测量系统近场测量在天线辐射近场区域实施。
在三至五个波长的辐射近场区,感应场能量已完全消退。
采集这一区域被测天线辐射的幅度和相位数据信息,通过严格的数学计算就可以推出被测天线测远场方向图。
按照扫描方式的不同,常用的近场测量系统可以分为平面近场系统、柱面近场系统和球面近场系统。
(1)近场测量系统平面近场测量系统在辐射近场区的平面上采集幅相信息,这种类型的测试系统适用于增益>15dBi的定向天线、阵列天线等,最大测量角度<± 70 º。
(2)柱面测量系统柱面近场测量系统在辐射近场区的柱面上采集幅相信息,这种类型的测试系统适用于扇形波束和宽波瓣的天线。
(3)球面测量系统球面近场测量系统在辐射近场区的球面上采集幅相信息,这种类型的测试系统适用于低增益的宽波瓣或全向天线。
3.如何选择天线测量系统,需要考虑到的几个重要的特性和指标:1.天线应用领域;2.远场角度范围:远场波瓣图坐标系、各种天线性能参数定义、副瓣和后瓣特性;3.电尺寸:根据电尺寸和计算出远场距离;4.方向性指标:宽波瓣或窄波瓣;5.工作频率和带宽:工作频率设计到吸波材料尺寸和暗室工程设计及造价;6.环境和安全性要求:天气、地表环境等因素;7.其他因素:转台或铰链、通道切换开关等。
远场天线测量系统睿腾万通科技有限公司目录1概述 (3)2用户需求分析 (4)2.1用户需求 (4)2.2用户远场环境 (4)3远场天线测量系统特点 (5)4远场天线测量系统 (5)4.1系统组成 (5)4.2系统清单 (6)4.3系统布局 (8)4.4系统原理 (8)4.5系统测试能力 (11)4.6射频链路预算 (11)4.7系统扩展性 (12)5分系统设计 (12)5.1机械子系统 (12)5.2控制子系统 (16)5.3射频子系统 (17)5.4天线测量软件 (20)6培训 (21)6.1安装期间培训 (22)7系统维护、保修等 (23)7.1服务优势 (23)7.2专业的售后服务保障团队 (23)7.3系统维护服务保障 (24)1概述成都睿腾万通科技有限公司很高兴能有机会为客户推荐一套由本公司研发、集成的的远场天线测量系统。
睿腾万通公司是一家专门从事天线测量产品的研发、集成、生产与销售的高科技企业。
公司以电子科技大学为技术依托,技术团队由多名业内资深的技术专家组成,团队成员的专业领域覆盖电磁场与微波技术,软件工程,自动化控制,结构机械等,具有博士、硕士学历人员占40%。
公司具体从事业务覆盖通用近场、远场的开发与集成,基于通用天线测量系统的功能升级,数字阵、相控阵列快速测量与诊断的解决方案,以及天线测量技术咨询与服务。
公司掌握远近场天线测量的核心算法与控制,具有丰富的系统集成与研发能力。
我们为国内多个用户提供过系统集成方案,测试频率从500MHz至110GHz,集成系统包括室内远场、室外远场、平面近场及紧缩场。
本方案推荐了一套多轴转台远场天线测量系统,以满足客户的当前以及未来产品的测量需求。
推荐的远场测量系统采用4轴被测天线转台,集成是德科技的射频组建,使用睿腾万通公司自主开发的远场天线测量软件及控制系统,构成一套具有高可靠性,高性能的远场测量系统,测量系统除了能够进行常规的远场测量外,还具天线罩参数测量、相控阵及数字阵列的扩展功能。
HUAWEI TECHNOLOGIES CO., Huawei ConfidentialSecurity Level:2011-3-7天线测试系统类型天线的测试系统有远场与近场之分,远场可细分为室外远场,室内远场,紧缩场;近场可细分为平面近场,柱面近场,球面近场。
如下图所示。
天线测试系统特性比较1.各种类型的测试场各有优缺点,球面近场在天线的尺寸等方面具备有明显的优势,综合优势明显。
2.国内各天线厂家都在投入巨资建设天线近场测试系统。
3.Satimo有成功的工程案例(西安海天的SG128测试场就是Satimo的第一代产品)。
故华为选择Satimo最新型的SG128测试场!4.天线测试远场将会被废弃。
厂家海天华为摩比通宇京信工程现状已经运营建成在建在建在建吸波材料国产进口国产五轴转台X有X X X华为SG128测试系统概貌主要技术参数n127 个双极化探针间隔2.83°排列n0.4 -6.0 GHz无盲点测试.n实时展示辐射方向图立体到平面的切割n完美的立体方向图180度机械角度测试n内部直径6.25米SG128测试系统--5轴转台该转台是Orbit公司的最新产品,可以5轴转动,如下图所示。
该转台的精度为0.001°,高于一般武器的精度,属于技术限制出口的产品。
HUAWEI TECHNOLOGIES CO., LTD.Huawei Confidential华为测试场实景图欧盟限制出口的五轴转台128探头系统的一部分被测天线频率和尺寸根据频率和采用的转台转动次数不同,本系统可以测试的天线体积如下表所示。
该系统可以测试的最大天线为4.16m@6.00GHz,是业界最大的尺寸。
华为SG128测试系统—屏蔽暗室n为保障屏蔽暗室的质量,华为选择德国Albatross Projects RF Technology公司负责建设n暗室屏蔽壳体采用镀锌钢板拼装而成,板间夹装屏蔽金属网,能有效提高暗室屏蔽性能n通过广州计量院屏蔽性能验收测试,所有测频率和位置都低于-110dB(可提供报告)n暗室吸波材料,采用美国AEMI生产的吸波棉,吸收电磁波性能如下表SG128测试场的特点--精度高n Satimo给华为的精度承诺如下(摘自合同文本)。
天线远场(幅度)测量系统由辅助发射天线与支架,天线测试转台、信号接收机(频谱仪)、数据采集处理及控制器、天线远场测量软件及计算机组成。
测试系统的频率范围可覆盖30MHz - 40GHz;远场区测试距离可达1-3000米。
可测量天线幅度方向图、正交极化方向图、增益、波束宽度、旁瓣电平等,并可自动生成测试报告。
辅助发射部分包括信号源、功率放大器(远距离时备用)、发射天线、天线支架组成。
测试部分由被测天线、标准增益天线、电缆(开关备用)、测试转台、接收机(可以是网络分析仪、频谱分析仪、测量接收机)、(LNA、下变频器毫米波测量备用)、数据采集器、数据处理软件和系统控制计算机等组成。
方框图见下图:。
天线远场测试原理
天线远场测试原理是一项非常重要的技术,它可以用来测量天线
在远场的性能。
在实际应用中,天线远场测试应用非常广泛,尤其是
在通信领域常常被使用,下面我们来看一下天线远场测试原理。
第一步:参数选取
在进行天线远场测试之前,我们需要确定测试的参数。
这些参数
通常包括测试频率、测试距离等。
我们需要仔细考虑这些参数的选择,以确保测试结果准确、可靠。
第二步:测试仪器选择
在进行天线远场测试时,我们需要使用专业的测试仪器。
这些测
试仪器通常包括天线测试仪、天线分析仪、频谱分析仪等。
我们需要
根据具体的测试需求选择合适的测试仪器。
第三步:远场测试
在进行远场测试时,我们需要将天线放置在远距离的测试区域内。
通过向天线发射测试信号并在测试区域内接收反射信号,我们就可以
得到天线在不同位置的辐射情况。
通过分析这些数据,我们可以确定
天线的性能表现。
第四步:测试数据处理
在得到测试结果之后,我们需要对测试数据进行处理。
这通常包
括数据分析、统计和图像展示等步骤。
通过对测试数据的处理,我们
可以更加清晰地了解天线的性能表现。
通过以上几个步骤,我们就可以对天线进行远场测试,确定其性
能表现。
天线远场测试原理虽然比较复杂,但是它可以有效地帮助我
们提高天线的性能,从而满足实际应用需求。
相控阵天线远场测试场测量方法作者:窦晓杰程乃平倪淑燕来源:《现代电子技术》2013年第09期摘要:对相控阵天线的特性需要选择合适的测试方法进行测试,为了研究相控阵天线的远场测试,采用远场的测试场测量,对相控阵天线的EIRP、G/T值以及方向图等指标特性的测量方法进行了介绍和研究,并进行了波束修正与电平补偿的说明,此测试方法可准确测量相控阵天线的远场性能并应用于工程实践。
关键词:相控阵天线;远场测试; EIRP; G/T;天线方向图中图分类号: TN82⁃34 文献标识码: A 文章编号: 1004⁃373X(2013)09⁃0054⁃030 引言随着电磁研究的深入和电子技术的发展,天线的发展和应用已经渗透到导航、通信、电子对抗和雷达等诸多领域[1],多波束天线可通过相控阵同时或分时地形成多个相互独立的发射或接收波束,实现波束形状的灵活控制和波束指向的迅速切换[2]。
目前最广泛应用的相控阵天线测试方法主要有三种:远场法、近场法和紧缩场法[3]。
每种测试方法都有各自的优缺点,如远场测量适用于低增益、低频天线的测量;近场测量适用于高增益、高频、口径全息测量[4]等,测试方法的选择需要对各种因素进行折中考虑。
本文对相控阵天线的远场测试方法进行了论述研究,主要包括EIRP、G/T值以及方向图等指标特性。
1 相控阵天线的远场测试相控阵天线的远场测试分为测试场测量和现场测量两种,前者按测试场地划分为源天线高架的斜式测试场测量、等高架测试场测量、反射测试场和缩距场测量;后者指的是利用人工运动源进行测量[5]。
1.1 测试场测量测试场测量对测试条件限制较高,如要求测试距离[R≥2D2λ]以及满足高度要求,由地面与周围环境引起的误差应在测量误差允许范围内等。
在测试场测量中比较常用的一种方法是源天线高架的斜式测试场测量方法[6],其示意图和典型测试框图如图1所示。
1.2 现场测量典型的现场测试系统中用到光学跟踪设备和天线跟踪设备,测试系统如图2所示[6]。
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5.3 天线远场(幅度、相位)测量系统
天线远场幅度/相位测量系统由辅助发射天线与支架,天线测试转台(X 、Y 、方位)、信号接收机采用矢量网络分析仪、数据采集处理及控制器、天线远场测量软件及计算机组成。
测试系统的频率范围可覆盖30MHz - 40GHz 。
该系统可测量天线的远场幅度方向图、相位方向图和相位中心的位置、正交极化方向图、增益、波束宽度、旁瓣电平等,并可自动生成测试报告。
辅助发射部分包括信号源、功率放大器(远距离时备用)、发射天线、天线支架组成。
测试部分由被测天线、标准增益天线、电缆(开关备用)、测试转台、接收机(矢量网络分析仪、幅相测量接收机)、(LNA 、下变频
器毫米波测量备用)、数据采集器、数据处理软件和系统控制计算机等组成。
方框图见下图: 【相位方向图】
H D M i c r o。