2.晶圆的制作
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晶圓的製作
IC IC 製作過程
晶體
p(非晶)•amorphous
•polycrystalline(多晶,多結晶,複晶)
•crystalline(結晶)
結
Amorphous silicon(非晶矽)•Amorphous silicon •Polysilicon(多晶矽,多結
矽複矽)
晶矽,複晶矽)
非晶複晶結晶
鑽石與石墨
高純度矽之製作
99999999999%(99.999999999% 純度)硅石(silica )SiO 2
以碳還原
不純矽氯化
純度99%
冶金級矽
液態矽烷分餾
SiH 4, SiCl 4, SiClH 3等
總稱silane
超純矽烷
以氫還原
超純複晶矽
冶金級矽
氯化成矽烷
以氫還原成複晶矽
單晶矽晶棒(ingot)的
製作
法(法柴式•CZ Czochralski 法,柴式長晶法)
•FZ 法(Floating Zone 法,浮融長晶法)
CZ CZ 法
FZ FZ 法
晶棒的切割
•區塊切斷分離
•外圍研磨
•平面方向記號加工•區塊切離
流程
晶圓研磨
晶邊研磨
•防止邊緣破碎
•避免應力集中
•使光阻劑於表面均勻分布
晶圓缺陷
表面處理
denuded zone,
剝蝕區,溶蝕區
缺陷有捕捉雜質的作用
吸除(getter)表面雜質
方法
•外質吸除(extrinsic gettering, EG):–於表面生成一層多晶矽
–於晶圓背面形成氮化矽晶粒邊界
–晶圓背面以機械方式摩擦
–以雷射光束照射晶圓背面
–離子植入晶圓背面
–以磷擴散入晶圓背面
•內質吸除(intrinsic gettering, IG):以熱循環造成氧沉澱,使氧離開晶
圓表面
•化學吸除:使用氯化氫或三氯乙烯
除去表面污染
晶圓平坦度
1 mil = 1/1000 in = 25 μm
使用HF + HNO3+ CH3COOH
HF+HNO+CH COOH
拋光目的:
改善前製程所留下的微缺陷
提高晶圓平坦度
微粒不易附著
晶圓直徑
磊晶(epitaxial)晶圓
無塵室,潔淨室(clean room)l。