QC-T 756精品资料

SG T 756数字式变压器保护装置软件测试记录直流电压交流电流测试人员调试日期大唐国际电气二次培训基地（2010年4月）1 静态模拟试验1.1 纵差保护便，一般令各侧CT变比及电压相等。

由于变压器的接线形式和TA二次接线型式的不同，输入的单相电流不一定等于装置形成的差流。

对于Y0//d11变压器，如TA接线为d11/Y，差流与输入电流相等。

如TA接线为全Y型，对于Y0侧，其纵差差流为：Îda=(Îa-Îb)/1.732*Kjx；Îdb=(Îb-Îc)/1.732*Kjx；Îdc=(Îc-Îa)/1.732*Kjx；对于△侧，其纵差差流为：Îda=Îa*Kjx；Îdb=Îb*Kjx；Îdc=Îc*Kjx；1.1.1 纵差速断在单侧突加电流，记录各侧最小可靠动作电流和显示的差流纵差速断动作、返回时间：1.1.2 纵差动作最小值试验条件：投入差动保护，退出TA断线闭锁差动。

在单侧突加电流，记录各侧最小可靠动作电流和显示的差流1.1.3.1 纵差比率制动特性差动动作、返回时间：1.在实际加入电流时，需除以对应的平衡系数并乘以转角系数1.732(高中压侧)。

2.试验时在高压侧加入电流I1,在中（低）压侧加入稍高于I2的电流，突然加入I1、I2，此时差动应不动作。

降低其中一相电流，直至差动保护动作。

3.记录动作时I1、I2、I d电流，并根据计算出I s电流。

4.重复上述试验，描点计算比率制动系数S。

注意：在进行高低压侧、和中低压侧试验时，由于高压侧转角的原因，需在低压侧相应相加与高压侧（中压侧）大小相等、相位相同的平衡电流。

1.1.3.2 分相差比率制动特性差动动作、返回时间：1.1.3.3差动动作、返回时间：1.1.3.4 空投制动二次谐波闭锁（采用最大二次谐波与最大差流之比制动）。

薄壁型铁道机车车辆阻燃电缆第四篇：标准护套多芯及多线对电缆1. 范围EN50306-3对以下多芯及多线电缆的结构及尺寸要求作出规定，该电缆对地额定电压为300V：无屏蔽：导体裸露或有护层，设护套，（0.5－2.5）mm2，2至48芯。

有屏蔽，导体裸露或有护层，设护套，（0.5－2.5）mm2，2至8芯。

有屏蔽，导体裸露或有护层，设护套，（0.5－1.5）mm2，2至7线对。

所有电缆均采用镀锡交合铜导体及薄壁型无卤绝缘层及标准厚度的护套。

此类电缆用于铁道机车车辆用电缆的固定接线，以及稍需柔软性的接线。

用于暴露场合的电缆为E级，用于设防护场合的电缆为P级，根据其护套系统的类型，其连续运行温度可为90℃或105℃。

最高短路温度为160℃，5s。

护套采用EM101型、EM103型或S2型材料的电缆可适用于-25℃，护套采用EM102型、EM104型材料的电缆可适用于－40℃。

在火灾时，此类电缆在阻止火焰蔓延、烟雾及有毒气体的发散方面，均具有优良的性能，使电缆可适用于EN45545-1“危险等级”中的第2、第3、及第4级。

2. 引用标准（略）3. 多芯电缆，设护套：3.1 概述：本电缆应符合EN50306-1及本部粉第3、第4节的要求。

有关试验在表2中列出。

3.2 说明、标记和符号3.2.1 符号说明：EN标准、表号、电缆等级（P或E）、线芯数及导体尺寸、危险等级（见3.2.2）、额定温度。

如：EN50306-4 1P4×2.5 CC 90。

3.2.2 专用于说明危险等级的符号：以下字母用于标出电缆所适用的危险等级3.2.3 线芯绝缘上的标记线芯按EN50306-2第3.3.2节的规定，标以1、2等，但1号线芯可按EN50306-2第3.3.1的要求，参照相应的单根线芯作标记。

3.2.4 电缆标记制造商名号；EN标准；表号、电缆等级（P或E）、额定电压；线芯数及导体尺寸；危险等级（见3.2.2）、额定温度。

Continental Device India Limited Data Sheet Page 1 of 3SILICON ZENER DIODESHermetically Sealed Glass Silicon Zener DiodesSOD-80C Zener DiodesCLL750 to CLL759, 500mW Hermetically Sealed, Glass Silicon Zener DiodesElectrical Characteristics : T A = 25°C, V F = 1.5 V Max @ 200 mA for all types Nominal TestMax Reverse Leakage CurrentType Zener Voltage Current Max Zener Impedance Maximum No.VZ@ IZT I ZT Z ZT @ I ZT DC Zener CurrentT A = 25ºC T A = 150ºC (Note 1)(Note 2)(Note 2)Ohms I ZM I R @ V R = 1 VI R @ V R = 1 VVoltsmA mA µAµACLL750 4.720197595 2.030CLL751 5.120177085 1.020CLL752 5.620116580 1.020CLL753 6.220760700.120CLL754 6.820555650.120CLL7557.520650600.120CLL7568.220845550.120CLL7579.1201040500.120CLL75810.020*******.120CLL75912.0203030350.120Polarity :Cathode indicated by colour band.Note 1:CLL750 Series : ± 10% tolerance; Suffix A ± 5% tolerance.Note 2 : Pulse test : 20ms ≤ tp ≤ 50ms.Continental Device India LimitedAn ISO/TS 16949, ISO 9001 and ISO 14001 Certified CompanyCLL750_759Rev210902ESOD - 80CMini MELF (LL-34)All Dimensions are in mmSOD 80C (LL-34) Mini MELF Hermetically Sealed Glass PackageDrawings are not to scaleAll Dimensions are in mmAll Dimensions are in mmIdentification Label 2,500No. of Device Notes:1.Maximum of 0.5% of the total number of components per reel may be missing-exclusively at the beginning and at the end of the reel.2.A maximum of three consecutive components may be missing, provided this gap is followed by six consecutive components.TAPE & REELDe-reeling direction De-reeling directionSOD-80C T&R 2.5K/reel 225 gm/2.5K pcs 9" x 9" x 9"40K18" x 12" x 10"19" x 19" x 20"80K 320K 7.2 kgs 28.8 kgsPACKAGENet Weight/Qty Details STANDARD PACK INNER CARTON BOXQtyOUTER CARTON BOXQty Gr Wt Size Size Packing DetailContinental Device India LimitedData SheetPage 2 of 3CLL750_759Rev210902EComponent Disposal Instructions1. CDIL Semiconductor Devices are RoHS compliant, customers are requested to please dispose as per prevailing Environmental Legislation of their Country.CLL750_759Rev210902ECustomer NotesDisclaimerThe product information and the selection guides facilitate selection of the CDIL's Semiconductor Device(s)best suited for application in your product(s)as per your requirement.It is recommended that you completely review our Data Sheet(s)so as to confirm that the Device(s)meet functionality parameters for your application.The information furnished in the Data Sheet and on the CDIL Web Site/CD are believed to be accurate and reliable.CDIL however,does not assume responsibility for inaccuracies or incomplete information.Furthermore,CDIL does not assume liability whatsoever,arising out of the application or use of any CDIL product;neither does it convey any license under its patent rights nor rights of others.These products are not designed for use in life saving/support appliances or systems.CDIL customers selling these products (either as individual Discrete Semiconductor Devices or incorporated in their end products),in any life saving/support appliances or systems or applications do so at their own risk and CDIL will not be responsible for any damages resulting from such sale(s).CDIL strives for continuous improvement and reserves the right to change the specifications of its products without prior notice.CDIL is a registered Trademark of Continental Device India LimitedC-120 Naraina Industrial Area, New Delhi 110 028, India.Telephone + 91-11-2579 6150, 4141 1112 Fax + 91-11-2579 5290, 4141 1119email@ Continental Device India Limited Data Sheet Page 3 of 32. In Europe, please dispose as per EU Directive 2002/96/EC on Waste Electrical and Electronic Equipment (WEEE).SOD - 80CMini MELF (LL-34)元器件交易网。

变电所变压器微机保护检验标准化作业指导书保护型号：制造厂家：出厂日期：投运日期：辽宁省电力有限公司设备变更记录SGT-756型微机变压器保护检验标准化作业指导书目录1 装置检验要求及注意事项 (5)2 保护装置检验准备工作： (6)3 屏柜及装置的检查 (7)4 二次回路检验 (8)5装置通电检验 (9)6.开关量输入回路检验 (10)7.模数变换试验 (11)8.差动保护功能测试 (12)9高压侧后备保护定值校验 (13)10.低压侧后备保护定值检验 (15)11.保护带开关传动试验 (15)12.装置投运准备工作： (16)13带负荷测试 (16)附件一：继电保护二次工作保护压板及设备投切位置确认单 (19)附件二：继电保护二次工作安全措施票 (20)1 装置检验要求及注意事项1.1新安装装置的检验应按本检验报告规定的全部项目进行。

1.2 定期检验的全部检验项目按本检验报告中注“*”、“Δ”号的项目进行。

1.3 定期检验的部分检验项目按本检验报告中注“Δ”号的项目进行。

1.4 每2年进行一次部分检验，6年进行一次全部检验，结合一次设备停电进行断路器的传动试验。

1.5 装置检验详细步骤参照相应规程及生产厂家说明书。

1.6本作业指导书以书面的形式保存现场班组。

1.7 试验过程中的注意事项1.7.1 断开直流电源后才允许插、拔插件，插、拔插件必须有措施，防止因人身静电损坏集成电路芯片。

插、拔交流插件时应防止交流电流回路开路。

1.7.2 存放E2PROM芯片的窗口要用防紫外线的不干胶封死。

1.7.3 调试中不要更换芯片，确要更换芯片时应采用人体防静电接地措施，芯片插入的方向应正确，并保证接触可靠。

1.7.4 原则上不能使用电烙铁，试验中确需电烙铁时，应采用带接地线的烙铁或电烙铁断电后再焊接。

1.7.5 试验过程中，应注意不要将插件插错位置。

1.7.6 使用交流电源的电子仪器进行电路参数测试时，仪器外壳应与保护屏在同一点接地。