本科生实验报告
实验课程材料研究方法与分析测试实验
学院名称材料与化学化工学院
专业名称材料科学与工程(无机非金属方向) 学生姓名
学生学号
指导教师
实验地点
实验成绩
二〇一四年12月15日——二〇一五年12月19日
填写说明
1、适用于本科生所有的实验报告（印制实验报告册除外）；
2、专业填写为专业全称，有专业方向的用小括号标明；
3、格式要求：
①用A4纸双面打印（封面双面打印）或在A4大小纸上用蓝黑色水
笔书写。
②打印排版：正文用宋体小四号，1.5倍行距，页边距采取默认形
式（上下2.54cm，左右2.54cm，页眉1.5cm，页脚1.75cm）。字符间距为默认值（缩放100%，间距：标准）；页码用小五号字底端居中。
③具体要求：
题目（二号黑体居中）；
摘要（“摘要”二字用小二号黑体居中，隔行书写摘要的文字部分，小4号宋体）；
关键词（隔行顶格书写“关键词”三字，提炼3-5个关键词，用分号隔开，小4号黑体)；
正文部分采用三级标题；
第1章××(小二号黑体居中，段前0.5行)
1.1 ×××××小三号黑体×××××（段前、段后0.5行）
1.1.1小四号黑体（段前、段后0.5行）
参考文献（黑体小二号居中，段前0.5行），参考文献用五号宋体，参照《参考文献著录规则（GB/T 7714－2005）》。
实验一扫描电镜实验（SEM）
一、实验目的
1、了解扫描电子显微镜的原理、结构；
2、运用扫描电子显微镜进行样品微观形貌观察。
二、实验原理
扫描电镜（SEM）是用聚焦电子束在试样表面逐点扫描成像。试样为块状或粉末颗粒，成像信号可以是二次电子、背散射电子或吸收电子。其中二次电子是最主要的成像信号。由电子枪发射的电子，以其交叉斑作为电子源，经二级聚光镜及物镜的缩小形成具有一定能量、一定束流强度和束斑直径的微细电子束，在扫描线圈驱动下，于试样表面按一定时间、空间顺序作栅网式扫描。聚焦电子束与试样相互作用，产生二次电子发射以及背散射电子等物理信号，二次电子发射量随试样表面形貌而变化。二次电子信号被探测器收集转换成电讯号，经视频放大后输入到显像管栅极，调制与入射电子束同步扫描的显像管亮度，得到反映试样表面形貌的二次电子像。扫描电镜由下列五部分组成，如图1（a）所示。各部分主要作用简介如下：
1.电子光学系统
它由电子枪、电磁透镜、光阑、样品室等部件组成，如图1（b）所示。为了获得较高的信号强度和扫描像，由电子枪发射的扫描电子束应具有较高的亮度和尽可能小的束斑直径。常用的电子枪有三种形式：普通热阴极三极电子枪、六硼化镧阴极电子枪和场发射电子枪，
其性能如表1所示。前两种属于热发射电子枪，后一种则属于冷发射电子枪，
也叫场发射电子枪。由表可以看出场发射电子枪的亮度最高、电子源直径最小，
是高分辨本领扫描电镜的理想电子源。
电磁透镜的功能是把电子枪的束斑逐级聚焦缩小，因照射到样品上的电子束斑越小，其分辨率就越高。扫描电镜通常有三个磁透镜，前两个是强透镜，缩小束斑，第三个透镜是弱透镜，焦距长，便于在样品室和聚光镜之间装入各种信号探测器。为了降低电子束的发散程度，每级磁透镜都装有光阑；为了消除像散，装有消像散器。样品室中有样品台和信号探测器，样品台还能使样品做平移运动。
2、扫描系统
扫描系统的作用是提供入射电子束在样品表面上以及阴极射线管电子束在荧光屏上的同步扫描信号。
3、信号检测、放大系统
样品在入射电子作用下会产生各种物理信号、有二次电子、背散射电子、特征X射线、阴极荧光和透射电子。不同的物理信号要用不同类型的检测系统。它大致可分为三大类，即电子检测器、阴极荧光检测器和X射线检测器。
4、真空系统
镜筒和样品室处于高真空下，一般不得高于1×10－2 Pa，它由机械泵和分子涡轮泵来实现。开机后先由机械泵抽低真空，约20分钟后由分子涡轮泵抽真空，约几分钟后就能达到高真空度。此时才能放试样进行测试，在放试样或更换灯丝时，阀门会将镜筒部分、电子枪室和样品室分别分隔开，这样保持镜筒部分真空不被破坏。
5、电源系统
由稳压、稳流及相应的安全保护电路所组成，提供扫描电镜各部分所需要的电源。
三、实验步骤
1、样品的制备
（1）要求干净，干燥的块状或粉末样品，尺寸不大于φ20×10mm；
（2）金属断口样品：要求是干净、新鲜的表面；如果是金相样品须进行深腐蚀；
（3）非金属样品须在真空镀膜机中喷镀金、铝或碳，以保证样品导电性良好。
2、仪器的基本操作
（1）开启稳压器及水循环系统；
（2）开启扫描电镜及能谱仪控制系统；
（3）样品室放气，将已处理好的待测样品放入样品支架上；
（4）当真空度达到要求后，在一定的加速电压下进行微观形貌的观察。
四、实验数据处理
图1
图2
分析：从图一中可以看到材料呈现出块状，间隙多的形貌，并且棱边为多层次。
从图二中可以看到纤维状材料结构，但是每束有许多细丝构成。
实验二 XRD实验
一、实验目的
1.了解X射线衍射仪的基本结构及工作原理;
2.了解X射线衍射仪的测试分析范围及样品制备要求。
3.了解X射线衍射数据处理的程序与方法。
4.掌握依据X射线衍射进行物相鉴定的原理与方法。
二、实验原理
1、X射线衍射基本原理
当一束单色X射线照射到某一结晶物质上，由于晶体中原子的排列具有周期
性，当某一层原子面的晶面间距d与X射线入射角之间满足布拉格(Bragg)方程：2dsinθ=nλ(λ为入射X射线的波长)时，就会产生衍射现象，如图2.1 所示。X 射线物相分析就是指通过比较结晶物质的X射线衍射花样来分析待测试样中含有何种或哪几种结晶物质(物相)。任何一种结晶物质都有自己特定的结构参数，即点阵类型、晶胞大小、晶胞中原子或离子的数目、位置等等。这些结构参数与X射线的衍射角θ和衍射强度I 有着对应关系，结构参数不同则X射线衍射花样也各不相同。因此，当X射线被晶体衍射时，每一种结晶物质都有自己独特的衍射花样，不存在两种衍射花样完全相同的物质。通常用表征衍射线位置的晶面间距d（或衍射角θ）和衍射线相对强度I 的数据来代表衍射花样，即以晶面间距d 为横坐标，衍射相对强度I 为纵坐标绘制X射线衍射图谱。
目前已知的结晶物质有成千上万种。事先在一定的规范条件下对所有已知的结晶物质进行X射线衍射，获得一套所有结晶物质的标准X射线衍射图谱（即d-I 数据），建立成数据库。当对某种材料进行物相分析时，只需要将其X射线衍射图谱与数据库中的标准X射线衍射图谱进行比对，就可以确定材料的物相。
2、测角仪的工作原理
测角仪是X 射线衍射仪的核心组成部分。试样台位于测角仪中心，试样台
的中心轴与测角仪的中心轴(垂直图面) 垂直。试样台既可以绕测角仪中心轴转动，又可以绕自身的中心轴转动；试样表面严格地与测角仪中心轴重合，入射线从X射线管焦点出发，经入射束光阑系统投射到试样表面产生衍射，衍射线经衍射束光阑系统进入计数器。X射线管焦点和探测器光阑位于同一圆周上，把这个圆周称为测角仪圆，测角仪圆所在的平面称为测角仪平面。试样台和计数器分别固定在两个同轴的圆盘上，由两个步进马达驱动。在衍射测量时，试样绕测角仪中心轴转动，不断地改变入射线与试样表面的夹角θ，与此同时计数器沿测角仪圆运动，接收各衍射角2θ所对应的衍射强度。根据需要θ角和2θ角可以单独驱动，也可以自动匹配，使θ角和2θ角以1:2的角速度联合驱动，其结构图如图2.2。当多种结晶物质同时产生衍射时，其衍射花样也是各种物质自身衍射花样的机械叠加——它们相互独立，不会相互干涉。逐一比较就可以在重叠的衍射花样中剥离出各自的衍射花样，分析标定后即可鉴别出各自物相。
3、衍射仪的应用
X射线衍射仪可在大气中无损分析样品，进行物质的定性分析、晶格常数确定和应力测定等。可通过峰面积计算进行定量分析，通过半高宽、峰形等进行粒径、结晶度、结构解析等各种分析。
4、物相分析的程序
（1）一般程序
○1X 射线衍射测试；
○2X 射线衍射数据处理，计算面间距d 值和测定相对强度I/I1值(I1 为最强线的强度)；
○3检索PDF 卡片；
○4最后判定。
（2）利用计算机程序进行物相检索
熟悉常用X 射线衍射分析软件的操作界面；
学会使用X 射线衍射分析软件进行简单的单物相定性分析。
三、实验仪器
（一）多功能X射线衍射仪
1、型号：DX-2700
2、主要技术指标：
○1标定功率：4kW ○2测角仪结构：样品水平θ—θ
○3衍射圆半径：185mm ○4角扫描范围：θs ：-15—80?、θd：-5—80?○5测量范围：-3—160?○6扫描速度：0.006°—96°/min连续设定
（二）探测器
1、正比（PC）或闪烁（SC）
2、最大线性记数率：5×105CPS（带有漏计数补偿功能）
3、能量分辨率：≤25%（PC）、≤50%（SC）
4、计数方式：微分或是积分方式、自动PHA、死时间校正
5.系统测量稳定度：≤0.01%
6、散射线计量：≤1μSv/h(X射线防护罩外)
（三）X射线管
1、Cu、Fe、Co、Cr、Mo等；
2、功率：2kW、2.4 kW
3、焦点尺寸：1×10mm2或是0.4×10mm2
四、实验步骤
1、试样制备
衍射仪一般采用块状平面试样，它可以是整块的多晶体，亦可用粉末压制。金属样可从大块中切割出合适的大小（例如20mmx 15mm），经砂轮、砂纸磨平再进行适当的浸蚀而得。分析氧化层时表面一般不作处理，而化学热处理层的处理方法须视实际情况进行（例如可用细砂纸轻磨去氧化皮）。粉末样品应有一定的粒度要求，这与德拜相机的要求基本相同（颗粒大小约在1 一10μm）数量级。粉末过200 一325 目筛子即合乎要求），不过由于在衍射仪上摄照面积较大，故允许采用稍粗的颗粒。根据粉末的数量可压在的深框或浅框中。压制时一般不加粘结剂，所加压力以使粉末样品压平为限，压力过大可能导致颗粒的择优取向。当粉末数量很少时，可在平玻璃片上抹上一层凡士林，再将粉末均匀撒上。
2、测量衍射图谱
（1）开机前的准备和检查
将制备好的试样插入衍射仪样品台，盖上顶盖关闭防护罩；开启水龙头，使冷却水流通；X光管窗口应关闭，管电流管电压表指示应在最小位置；接通总电
源，接通稳压电源。
（2）开机操作
开启衍射仪总电源，启动循环水泵；待数分钟后，接通X光管电源。缓慢升高管电压、管电流至需要值。打开计算机X射线衍射仪应用软件，设置合适的衍射条件及参数，开始样品测试。工作电压设定为3 ～ 5倍的靶材临界激发电压。选择管电流时功率不能超过X射线管额定功率，较低的管电流可以延长X射线管的寿命。X射线管经常使用的负荷(管压和管流的乘积)选为最大允许负荷的80％左右。但是，当管压超过激发电压5倍以上时，强度的增加率将下降。所以，在相同负荷下产生X射线时，在管压约为激发电压5倍以内时要优先考虑管压，在更高的管压下其负荷可用管流来调节。靶元素的原子序数越大，激发电压就越高。由于连续X射线的强度与管压的平方呈正比，特征X射线与连续X射线的强度之比，随着管压的增加接
（3）停机操作
测量完毕，缓慢降低管电流、管电压至最小值，关闭X光管电源；取出试样；15分钟后关闭循环水泵,关闭水源；关闭衍射仪总电源、稳压电源及线路总电源。
五、数据处理
经过与PDF标准衍射图谱比较，可以确定里面含有Ti和CoTi这两相。但可能含有其他相，只是含量很小，通过Xray衍射实验不能识别出。
六、思考题
1、X射线在晶体上产生衍射的条件是什么？
答：由Bragg 公式 2dsinθ=nλ,可以知道，n最小取1，因而2d>=λ,也就是说满足2d>=λ时，X射线在晶体上产生衍射。
3、不平行表面的晶面有无衍射产生？
答：对于不平行于表面的晶面有衍射产生，只是不被接受器接受到，因而实验中观测不到。
实验三 XRF实验
一、实验目的
1、学习和掌握x射线荧光光谱仪各单元的作用及使用的基本操作规定；
2、学习使用x射线荧光光谱仪进行定性半定量分析测定。
二实验原理
X射线荧光光谱分析（XRF）是一种非破坏性的仪器分析方法，他是由X射线管发出的一次X射线激发样品，使样品所含元素辐射特征荧光X射线，也就是二次X射线，根据谱线的波长和强度对被测样品中的元素进行定性和定量分析，
X射线荧光光谱法也被称为X射线二次发射光谱
1、定性分析原理
波长色散X射线荧光光谱法的定性分析首先对样品进行激发，样品受激发后发射散色的X射线光谱进入分光晶体，利用测角仪扫描进行谱线分析辨别。探测器接收晶体衍射的波谱，记录系统把顺序出现的谱峰自动记录，然后进行谱线验别确定组分元素，最后根据谱线强度等因子确认样品中的主要次要或痕量元素
2、半定量分析原理
半定量分析在X射线荧光分析中，尤其是在材料研发应用的过程中占有重要地位，他的主要特点是在对样品成分不明的情况下，根据定性分析结果进一步获得样品的各组分的含量，半定量分析是将定性分析得到的元素列表并将得到元素的净化强度用FP（基本参数法）程序进行半定量分析。
三、实验仪器及条件
1、仪器：岛津XRF-1800型射线荧光光谱仪；
2、试剂：乙醇（分析纯）、未知样品。
四、实验步骤
1、未知样品的准备：200目的烘干样，将约4克的样品均匀的放在塑料环中，使用塑料环模具进行压片。
2、使用岛津X射线荧光光谱仪，进行未知样的定性半定量分析
（1）在仪器上设置实验所需条件，选择合适的条件，设定标准参数待用（2）将压好的未知样薄片放在样品盒中，进样，计算荧光强度，根据选定
的方法所设定的参数，在线选定的一起工作条件下，测定未知样品的成分含量。
五、数据记录
六、思考题
1、X光管在使用过程中的损坏因素是什么？
答：主要有：
（1）灯丝烧断
（2）靶材击穿
（3）管体内真空遭破坏
（4）灯丝加热过程中逸出金属雾，附着铍窗，造成铍窗通过率大幅度降低
实验四 IR实验
一、实验目的
1、掌握溴化钾压片法制备固体样品的方法；
2、学习并掌握美国尼高立IR-6700型红外光谱仪的使用方法；
3、初步学会对红外吸收光谱图的解析。
二、实验原理
红外光是一种波长介于可见光区和微波区之间的电磁波谱。波长在0.75～1000μm。通常又把这个波段分成三个区域，即近红外区：波长在0.75～2.5μm （波数在13300～4000cm-1），又称泛频区；中红外区：波长在2.5～50μm（波数在4000～200cm-1），又称振动区；远红外区：波长在50～1000μm（波数在200～10cm-1），又称转动区。其中中红外区是研究、应用最多的区域。
红外区的光谱除用波长λ表征外，更常用波数σ表征。波数是波长的倒数，表示单位厘米波长内所含波的数目。其关系式为：
作为红外光谱的特点，首先是应用面广，提供信息多且具有特征性，故把红外光谱通称为“分子指纹”。它最广泛的应用还在于对物质的化学组成进行分析。用红外光谱法可以根据光谱中吸收峰的位置和形状来推断未知物的结构，依照特征吸收峰的强度来测定混合物中各组分的含量。其次，它不受样品相态的限制，无论是固态、液态以及气态都能直接测定，甚至对一些表面涂层和不溶、不熔融的弹性体（如橡胶）也可直接获得其光谱。它也不受熔点、沸点和蒸
气压的限制，样品用量少且可回收，是属于非破坏分析。而作为红外光谱的测定工具-红外光谱仪，与其他近代分析仪器（如核磁共振波谱仪、质谱仪等）比较，构造简单，操作方便，价格便宜，最常用于工业及实验研究领域，如医药鉴别，人造皮革中异氰酸酯基确定等等。因此，它已成为现代结构化学、分析化学最常用和不可缺少的工具。
根据红外光谱与分子结构的关系，谱图中每一个特征吸收谱带都对应于某化合物的质点或基团振动的形式。因此，特征吸收谱带的数目、位置、形状及强度取决于分子中各基团（化学键）的振动形式和所处的化学环境。只要掌握了各种基团的振动频率（基团频率）及其位移规律，即可利用基团振动频率与分子结构的关系，来确定吸收谱带的归属，确定分子中所含的基团或键，并进而由其特征振动频率的位移、谱带强度和形状的改变，来推定分子结构。
红外光谱仪可分为色散型和干涉型。色散型红外光谱仪又有棱镜分光型和光栅分光型，干涉型为傅立叶变换红外光谱仪（FTIR），最主要的区别是FTIR没有色散元件。本实验所演示的是傅立叶变换红外光谱仪（FTIR）。所得的红外谱图的横坐标是波数（或波长），纵坐标是吸光度。
三、实验仪器和试剂
1、实验仪器：美国尼高立IR-6700；
2、试剂：溴化钾，苯甲酸。
3、傅立叶红外光谱仪(FTIR)
四、实验步骤
1、打开红外光谱仪并稳定大概5分钟，同时进入对应的计算机工作站。
2、波数检验：将聚乙烯薄膜插入红外光谱仪的样品池处，从4000-650cm-1进行波数扫描，得到吸收光谱。然后将所得的谱图与计算机上的标准谱图进行匹配，分析得到最吻合的图谱，即可判断物质结构。
3、测绘苯甲酸的红外吸收光谱——溴化钾压片法
取1-2mg苯甲酸，加入在红外灯下烘干的100-200mg溴化钾粉末，在玛瑙研钵中充分磨细（颗粒约2μm），使之混合均匀。取出约80mg混合物均匀铺洒在干净的压模内，于压片机上制成直径透明薄片。将此片装于固体样品架上，样品架插入红外光谱仪的样品池处，从4000-400cm-1进行波数扫描，得到吸收光谱。然后将所得的谱图与计算机上的标准谱图进行匹配。
4、结束实验，关闭工作站和红外光谱仪。
五、注意事项
1、实验室环境应该保持干燥；
2、确保样品与药品的纯度与干燥度；
3、在制备样品的时候要迅速以防止其吸收过多的水分，影响实验结果；
4、试样放入仪器的时候动作要迅速，避免当中的空气流动，影响实验的准
确性。
5、溴化钾压片的过程中，粉末要在研钵中充分磨细，且于压片机上制得的透明薄片厚度要适当。
六、实验数据 E:\红外\MEAS\1901.0 1901 Instrument type and / or accessory 19/12/2014
500
100015002000
250030003500Wavenumber cm-140
50
60708090100
T r a n s m i t t a n c e [%] Page 1/1
七、思考题
1、为什么要选用KBr 作为来承载样品的介质？
答：KBr 为一种无色晶体，相对NaCl 来讲具有很好的延展性。而且KBr 对红外光吸收很小，因此可以测绘全波段光谱图。
2、红外光谱法对试样有什么要求？
答：（1）试样应为“纯物质”（98%），通常在分析前，样品需要纯化，可以通过分馏、萃取、重结晶等分离和精制的方法；
（2）试样不含有水（水可产生红外吸收且侵蚀吸收室的盐窗；
（3）试样浓度或厚度应适当，使光谱图中的大多数吸收峰投射在合适范围内。
实验五 DSC热分析实验
一、实验目的
1.了解差热分析仪的构造，掌握差热分析原理和实验操作技术；
2.学会定性解释差热谱图；
3.会用DTA图确定物质的反应初始温度。
二、主要实验仪器
1、CRY-1P型差热分析仪1套；
2、计算机、镊子、小勺、坩埚、CuSO4?5H2O 、α-Al2O3。
三、实验原理
1.差热分析
差热分析是测定物质加热（或冷却）时伴随物理化学变化所产生的热效应的一种方法。通过热效应的测定，可达到对物质进行定性、定量分析的目的。
许多物质在受热或冷却过程中，当达到某一温度时，往往会发生熔化、凝固、晶型转变、分解、化合、吸附、脱附等物理或化学变化，并伴随有焓的改变，因而产生热效应。在化学反应的过程中以及物质变化过程中，这些热量的变化决定了物质的反应性和运行过程的安全条件。还有一些物质（如Al2O3、MgO、镍等）在一定温度范围内（如1000℃以下）不发生任何热效应，常被用来与被测物质进行比较，这类物质称为热中性体（标准物或参比物）。差热分析实验是把被测试样和热中性体置于相等的温度条件下，通过一对差热电偶和一只灵敏的检流计来测定两者的温度差。将温度差对温度或时间作图，即得到差热曲线。差热曲线
实验室实习报告 篇一：实验室实习报告 暑假早以落下大幕一个星期了，远去了的不仅是暑假与家人朋友在一起的欢快，更多的缺失以往暑假没有的过的实习的经历。本来这样的报告应该在实习结束后便立刻写就的，但忙碌的实习生活的结束让人去迫不及待的去享受暑假的尾巴，也就把这件事退后了。其次，写这样一个报告总是要在不断的回忆与思考中进行构思的。所以，这一自我总结的阶段总是要有的。报告这类的文章，我还没曾写过，但看过一些类似的报告无非就是介绍自己在工作和实习的过程中的一些得失，这种得失当然是包括了精神上的与学识上两方面。这样的总结才是完美的，不曾遗漏的。但是这样的总结却又是不能单纯的分开来看的，总是相辅相成不能分离的。下面，我就把之二十多天的实习做一个总结报告。 实习大约是在七月二十六号开始的，开始的便是一堆的麻烦事，我倒是想早点投入到实习生活中，但找这个项目的总监总是一波三折，大概是领导的原因，总是忙来忙去却无法为我所忙。终于在告知我实习后的第三天下午我终于是上班了。因为是在我们县里面的城建局实习，而城建局在项目建设中角色也就是质检和监理。因为质检是在实验室，终究与施工现场不同，不能接触到工程的最前沿。所以我顺其自然的被安排到了监理部，不过这个角色也是我们这行将来就业的一个方向吧。我们的监理部与施工队的项目部是一个办公室。监理部总共有加上我四个监理。一个是陈监理，三十七八岁的样子，个子中等，每天总是乐呵呵的样子，在后来我知道他之前是搞施工的，后来考了监理证才在这城建局谋求了一个职位，星期天的时候还要去城郊区的一个收费站上班，算是兼职吧，但两份工作下来一月的工资也就两千左右。这样的收入在我们这个小县城还算是马马虎虎吧。第二个要介绍的是老王，是个旁站监理，今年五十多了。每日勤勤恳恳，总是最后一个离开，尤其是在夜间浇灌混凝土的时候，要守候一夜的。旁站监理就是这样，要时时刻刻在施工的第一线，辛苦劳累不必多说了。平日里我们两个在一起的时间最多，聊的也最多。得知他以前也不是干这行的，也是通过考试被城建局录用而后便被安排到这个工程当了一个旁站监理，技术水平可想而知，是三人中最差的，但却是三人中最辛苦的。这便应验了孟子的那句话：劳心者役人，劳人者役于人。最后一个监理也是我最为佩服的，作为这些监理的绝对老大，不仅工作态度认真，而且工作能力超强，熟知各种工程施工的要理规范，快六十了干了一辈子工程，经验也相当丰富。不过就在我来的前几日还未曾见过他，后来得知原来是在下班回家的路上眉骨受伤住院的，幸而是小伤缝几针静养几日便好了。 这样，我就每日几乎和这几位监理在一起工作，至于那个介绍我过来的总监刘哥却很少来，毕竟是个小领导么，像这样下现场的事，交给手下人便可，只是隔几日到工地视察一下工作便可，其余时间有事了电话联系。在说我这个工程，是两栋砖混结构的居民楼，是当地村民的保障房项目。我到的时候好像有一栋是二层支模板，另一栋是二层砌砖墙。就在我实习结束后，这两栋楼已经完成了五层了，现在恐怕已经封顶了。其实，砖混结构算是在钢结构，框架结构，剪力墙结构中造价最为便宜的了。可在以后国家也要慢慢取缔这些红砖的生产商的，这样红砖为主额砖混结构要慢慢被那些新的砌体所代替了。实习的过程，每天几乎都差不多，就是上楼检查工程的施工质量与材料质量。由于我去工地时基础早已经完工了，我也就只能去学习一下主体的施工了。主体施工也就主要是支模板，绑钢筋，浇灌混凝土，绑柱钢筋而后砌砖墙。就我这个工程我就介绍下这几个步骤中存在的主要问题。 首先是支模板，支模板是属于木工的活，整体来看模板支的是很不错的，各种规格尺寸到也符合规范，只是在细节方面缺少注意的。主要体现在对模板的支护。一个是支柱的间
西南科技大学 材料科学与工程学院 教师教案 教师姓名：张宝述 课程名称：材料现代分析测试方法 课程代码：11319074 授课对象：本科专业：材料物理 授课总学时：64 其中理论：64 实验：16（单独开课） 教材：左演声等. 材料现代分析方法. 北京工业大 学出版社，2000 材料学院教学科研办公室制
2、简述X射线与固体相互作用产生的主要信息及据此建立的主要分析方法。 章节名称第三章粒子（束）与材料的相互作用 教学 时数 2 教学目的及要求1．理解概念：（电子的）最大穿入深度、连续X射线、特征X射线、溅射；掌握概念：散射角（2 ）、电子吸收、二次电子、俄歇电子、背散射电子、吸收电流（电子）、透射电子、二次离子。 2．了解物质对电子散射的基元、种类及其特征。 3．掌握电子与物质相互作用产生的主要信号及据此建立的主要分析方法。 4．掌握二次电子的产额与入射角的关系。 5．掌握入射电子产生的各种信息的深度和广度范围。 6．了解离子束与材料的相互作用及据此建立的主要分析方法。 重点难点重点：电子的散射，电子与固体作用产生的信号。难点：电子与固体的相互作用，离子散射，溅射。 教学内容提要 第一节电子束与材料的相互作用 一、散射 二、电子与固体作用产生的信号 三、电子激发产生的其它现象第二节离子束与材料的相互作用 一、散射 二、二次离子 作业一、教材习题 3-1电子与固体作用产生多种粒子信号（教材图3-3），哪些对应入射电子？哪些是由电子激发产生的？ 图3-3入射电子束与固体作用产生的发射现象 3-2电子“吸收”与光子吸收有何不同？ 3-3入射X射线比同样能量的入射电子在固体中穿入深度大得多，而俄歇电子与X光电子的逸出深度相当，这是为什么？ 3-8配合表面分析方法用离子溅射实行纵深剖析是确定样品表面层成分和化学状态的重要方法。试分析纵深剖析应注意哪些问题。 二、补充习题 1、简述电子与固体作用产生的信号及据此建立的主要分析方法。 章节第四章材料现代分析测试方法概述教学 4
第五章 X 射线衍射分析原理 一、教材习题 5-2 “一束X 射线照射一个原子列（一维晶体），只有镜面反射方向上才有可能 产生衍射”，此种说法是否正确？ 答：不正确。（根据劳埃一维方程，一个原子列形成的衍射线构成一系列共顶同轴的衍射圆锥，不仅镜面反射方向上才有可能产生衍射。） 5-3 辨析概念：X 射线散射、衍射与反射。 答：X 射线散射：X 射线与物质作用（主要是电子）时，传播方向发生改变的现象。 X 射线衍射：晶体中某方向散射X 射线干涉一致加强的结果，即衍射。 X 射线反射：晶体中各原子面产生的反射方向上的相干散射。与可见光的反射不同，是“选择反射”。 在材料的衍射分析工作中，“反射”与“衍射”通常作为同义词使用。 5-4 某斜方晶体晶胞含有两个同类原子，坐标位置分别为：(43，43，1)和（4 1，41，2 1），该晶体属何种布拉菲点阵？写出该晶体(100)、(110)、(211)、(221)等晶面反射线的F 2值。 答：根据题意，可画出二个同类原子的位置，如下图所示： 如果将原子（1/4，1/4，1/2）移动到原点（0，0，0），则另一原子（3/4，3/4，1）的坐标变为(1/2，1/2，1/2)，因此该晶体属布拉菲点阵中的斜方体心点阵。 对于体心点阵： ])1(1[)()2/2/2/(2)0(2L K H L K H i i f fe fe F ++++-+=+=ππ
∴ ???=++=++=奇数时 ，当偶数时；当L K H 0,2L K H f F ???=++=++=奇数时，当偶数时；当L K H L K H f 0,4F 22 或直接用两个原子的坐标计算： ()()()()()()()3 31112()2()4444211111122()222442 1112()442 1(2)211111111i h k l i h k l i h k l i h k l i h k l h k l i h k l h k l h k l F f e e f e e f e f e f ππππππ++++??++++ ???++++++++++??=+ ??? ??=+?????? ??=+-????=+-????=+-±?? 所以 F 2=f 2[1+(-1)(h +k +l )]2 因此，(100)和(221)，h +k +l =奇数，|F |2=0；(110)、(211)，h +k +l =偶数，|F |2=4f 2。 5-7 金刚石晶体属面心立方点阵，每个晶胞含8个原子，坐标为：（0，0，0）、（ 21，21，0）、（21，0，21）、（0，21，21）、（41，41，41）、（43，43，4 1）、（43，41，43）、（41，43，4 3），原子散射因子为f a ，求其系统消光规律（F 2最简表达式），并据此说明结构消光的概念。 答：金刚石晶体属面心立方点阵，每个晶胞含8个原子，坐标为：(0,0,0)、(1/2,1/2,0)、(1/2,0,1/2)、（0,1/2,1/2)、(1/4,1/4,1/4)、(3/4,3/4,1/4)、(3/4,1/4,3/4)、(1/4,3/4,3/4)，可以看成一个面心立方点阵和沿体对角线平移(1/4,1/4,1/4)的另一个面心立方点阵叠加而成的。
＜实验室设备管理系统＞ 测试用例报告 作者： 完成日期： 签收人： 签收日期： 修改情况记录：
目录 1 引言 0 1.1编写目的 0 1.2背景 0 2 测试设计 0 3 测试用例 (4) 3.1用例1：用户登录页面 (4) 3.2用例2：用户注册页面 (5) 3.3用例3：用户找回密码页面 (7) 3.4用例4：用户退出 (9) 3.5用例5：一般用户操作界面 (10) 3.6用例6：一般用户修改个人信息界面 (11) 3.7用例7：一般用户书写个人日志界面 (13) 3.8用例8：一般用户查询个人信息界面 (15) 3.9用例9：管理员浏览信息界面 (16) 3.10用例10：管理员管理教师操作界面 (18) 3.11用例11：管理员修改个人资料界面 (20) 3.12用例12：管理员浏览实验室人员信息界面 (22) 3.14用例14：管理员管理实验室设备操作界面 (24) 3.15用例15：管理员仪器设备报损界面 (26) 3.16用例16：管理员贵重仪器购置操作界面 (28) 3.17用例17：系统帮助界面 (30) 3.18用例18：系统备分 (32) 4 测试评估 (33) 4.1测试任务评估 (33) 4.2测试对象评估 (33)
1 引言 1.1 编写目的 该文档的目的是描述实验室设备管理系统的测试设计，其主要内容包括：测试总体设计： 测试用例设计： 本文档的预期的读者是：读者 项目管理人员：周岩，吕健雄 测试人员：庞鑫 1.2 背景 该文档为实验室设备管理系统的测试设计，其中包括功能测试和性能测试的用例描述以及性能测试的测试脚本，为测试人员进行功能测试和性能测试提供标准和依据以及行进的测试步骤和方法。 2 测试设计 系统测试依据的系统应用工作流如下： 1）用户登陆界面: 本系统分为一般用户和管理员两种使用用户。在该页面中显示用户名、密码、确定按钮，取消按钮和注册按钮。当一般用户在页面中输入正确的用户名和密码后，点击“确定”按钮进入一般用户主界面。管理员输入正确的用户名，密码进入到管理员主界面。而没有注册的用户可以通过点击注册按钮进入注册界面，再进行登陆操作。密码忘记的通过找回密码可找回自己的信息。 2）用户注册界面： 用户在登陆界面中选择（注册）便进入到注册的界面，用户填写完自己的详细资料后单击确定便可以注册本系统的使用帐户。如果填写有错误系统会提示填写错误。填写无误后单击确定系统提示注册成功后。申请成功。 3）用户找回密码界面：
一、金相实验室 ? Leica DM/RM 光学显微镜 主要特性：用于金相显微分析，可直观检测金属材料的微观组织，如原材料缺陷、偏析、初生碳化物、脱碳层、氮化层及焊接、冷加工、铸造、锻造、热处理等等不同状态下的组织组成，从而判断材质优劣。须进行样品制备工作，最大放大倍数约1400倍。 ? Leica 体视显微镜 主要特性：1、用于观察材料的表面低倍形貌，初步判断材质缺陷； 2、观察断口的宏观断裂形貌，初步判断裂纹起源。 ?热振光模拟显微镜 ?图象分析仪 ?莱卡DM/RM 显微镜附 CCD数码照相装置 二、电子显微镜实验室 ?扫描电子显微镜(附电子探针) (JEOL JSM5200，JOEL JSM820，JEOL JSM6335) 主要特性： 1、用于断裂分析、断口的高倍显微形貌分析，如解理断裂、疲劳断裂（疲劳辉纹）、晶间断裂（氢脆、应力腐蚀、蠕变、高温回火脆性、起源于晶界的脆性物、析出物等）、侵蚀形貌、侵蚀产物分析及焊缝分析。 2、附带能谱，用于微区成分分析及较小样品的成分分析、晶体学分析，测量点阵参数/合金相、夹杂物分析、浓度梯度测定等。 3、用于金属、半导体、电子陶瓷、电容器的失效分析及材质检验、放大倍率：10X—300,000X；样品尺寸：0.1mm—10cm；分辩率:1—50nm。 ?透射电子显微镜（菲利蒲 CM-20,CM-200） 主要特性： 1、需进行试样制备为金属薄膜，试样厚度须<200nm。用于薄膜表面科学分析，带能谱，可进行化学成分分析。 2、有三种衍射花样：斑点花样、菊池线花样、会聚束花样。斑点花样用于确定第二相、孪晶、有序化、调幅结构、取向关系、成象衍射条件。菊池线花样用于衬度分析、结构分析、相变分析以及晶体精确取向、布拉格位移矢量、电子波长测定。会聚束花样用于测定晶体试样厚度、强度分布、取向、点群、空间群及晶体缺陷。 三、X射线衍射实验室 ? XRD-Siemens500—X射线衍射仪 主要特性： 1、专用于测定粉末样品的晶体结构（如密排六方，体心立方，面心立方等），晶型，点阵类型，晶面指数，衍射角，布拉格位移矢量，已及用于各组成相的含量及类型的测定。测试时间约需1小时。 2、可升温（加热）使用。 ? XRD-Philips X’Pert MRD—X射线衍射仪 主要特性： 1、分辨率衍射仪，主要用于材料科学的研究工作，如半导体材料等，其重现性精度达万分之一度。 2、具备物相分析（定性、定量、物相晶粒度测定；点阵参数测定），残余应力及织构的测定；薄膜物相鉴定、薄膜厚度、粗糙度测定；非平整样品物相分析、小角度散射分析等功能。 3、用于快速定性定量测定各类材料（包括金属、陶瓷、半导体材料）的化学成分组成及元素含量。如：Si、P、S 、Mn、Cr、Mo、Ni、V、Fe、Co、W等等，精确度为0.1%。 4、同时可观察样品的显微形貌，进行显微选区成分分析。
第一章X射线衍射分析 激发：1.较高能级是空的或未填满，由泡利不相容原理决定。 2.吸收能量是两能级能量之差。 辐射的吸收：辐射通过物质时，某些频率的辐射被组成物质的粒子选择性吸收而使辐射强度减弱的现象，实质为吸收辐射光子能量发生粒子的能级跃迁。 辐射的发射：1.光电效应：以光子激发原子所发生的激发和辐射过程。被击出的电子称为光电子。 2.俄歇效应：高能级电子向低能级跃迁时，除以辐射X射线的形式释放能量外，这些能量可能被周围某个壳层上的电子所吸引，并促使该电子受激溢出原子成为二次电子，该二次电子具有特定的能量值，可以用来表征这些原子。所产生的二次电子即为俄歇电子。 原子内层电子受激吸收能量发生跃迁，形成X射线的吸收光谱。光子激出内层电子，外层电子向空位跃迁产生光激发，形成二次X射线，构成X射线的荧光光谱。 X射线产生条件：1.产生自由电子。2.使电子做定向高速运动。3.在运动路径设置使其突然减速的阻碍物。 X射线属于横波，波长为0.01~10nm能使某些荧光物质发光，使照相底片感光，使部分气体电离。 X射线谱是X射线强度与波长的关系曲线。 特征X射线：强度峰的波长反映物质的原子序数特征。，产生特征X射线的最低电压为激发电压，也叫临界电压。 阳极靶材原子序数越大，所需临界电压值越高。 K层电子被击出的过程定义为K系激发，随之的电子跃迁叫K系辐射。 相干散射：X射线通过物质时，在入射束电场的作用下，物质原子中的电子受迫振动，同时向四周辐射出与入射X射线相同频率的散射X射线，同一方向上各散射波可以互相干涉。 非相干散射：X射线光子冲击束缚力较小的电子或自由电子时，会产生一种反冲电子，而入射X射线光子则偏离入射方向，散射X射线光子波长增大，因能量减小程度不同，故不可干涉。 入射X射线光子能量到达一定阀值，可击出物质原子内层电子，同时外层高能态电子向内层的空位跃迁时辐射出波长一定的特征X射线。该阀值对应的波长为吸收限或K系特征辐射激发限。λk=1.24/U K K 衍射分析中，受原子结构影响，不同能级上电子跃迁会引起特征波长的微小差别，滤波片可去除这种干扰，得到单色的入射X射线。 干涉指数（HKL）可以认为是带有公约数的晶面指数，其表示的晶面并不一定是真实原子面，
1-2求周期性三角波的均值和均方根值。周期性三角波的数学表达式为 202 ()202A T A t t T x t A T A t t T ?+- <
1-3求双边指数函数的傅里叶变换，双边指数函数的波形如下图所示，其数学表达式为： 0()(0)0at at e t x t a e t -?-∞<?<<∞ ?? 解： ()()()()()()() 000000 2 2 221d 211d d 2211d d 221122*********j t at j t at j t a j t a j t a j t a j t X x t e t e e t e e t e t e t e e a j a j a j a j a a a a ωωωωωωωωπ πππππωπωπωπωπωπω∞--∞∞----∞∞--+-∞--+∞-∞==?+?=+=?-? -+=?+? -+=?+= +????? 1-6设()x t 与()y t 为互不相关的两信号，且()()()f t x t y t =+，()x t 、()y t 的自相关函数分别为()x R τ和()y R τ，求证()()()f x y R R R τττ=+。 证 ：
第一章 1.选择题 （1）软件本身的特点和目前软件开发模式使隐蔽在软件部的质量缺陷不可能完全避免，在下列关于导致软件质量缺陷的原因的描述中，不正确的是（C） A.软件需求模糊以及需求的变更，从根本上影响着软件产品的质量 B.目前广为采用的手工开发方式难以避免出现差错 C.程序员编码水平低下是导致软件缺陷的最主要原因 D.软件测试技术具有缺陷 （2）缺陷产生的原因是（D） A.交流不充分及沟通不畅、软件需求的变更、软件开发工具的缺陷 B.软件的复杂性、软件项目的时间压力 C.程序开发人员的错误、软件项目文档的缺乏 D.以上都是 2.判断题 （1）缺乏有力的方法学指导和有效的开发工具的支持，往往是产生软件危机的原因之一。（√） （2）目前的绝大多数软件都不适和于快速原型技术。（√） （3）在程序运行之前没法评估其质量。（×） （4）下列哪些活动是项目 探索火星生命迹象（√） 向部门经理进行月工作汇报（×） 开发新版本的操作系统。（√） 每天的卫生保洁。（×） 组织超级女声决赛。（√） 一次集体婚礼。（√） 3.简答题 （1）什么是软件？软件经历了哪几个发展阶段？ 答：软件是一系列按照特定顺序组织的计算机数据和指令的集合。一般来讲软件北划分为系统软件，应用软件和介于着两者之间的中间件。其中系统软件为计算机使用提供最基本的功能，但是并不是针对某一特定领域，而应用软件则恰好相反，不同的应用软件更根据用户和所服务的领域提供不同的功能。 20世纪50年代初期至60年代中期是软件发展的第一阶段（又称程序设计阶段）； 第二阶段从20世纪60年代中期到70年代末期是程序系统阶段。 第三阶段称为软件工程阶段，从20世纪70年代中期到80年代中期，由于微处理器的出现，分布式系统广泛应用，以软件的产品化，系列化，工程化和标准化为特征的软件产业发展起来，软件开发有了可以遵循的软件工程化的设计原则，方法和标准。 第四阶段是从20世纪80年代中期至今，客户端/度武器（C/S)体系结构，特别是Web技术和网络分布式对象技术法飞速发展，导致软件体系结构向更加灵
实验室建设考察报告 篇一：实验室参观报告格式 中材二期项目 北京思建新创工程质量检测有限公司考察报告北京光华建设监理有限公司 XX年11月7日考察报告 一、考察人员 建设单位：北京北玻嘉美科技发展有限公司余国红监理单位：北京光华建设监理有 限公司孟海涛承包单位：中建一局集团第二建筑有限公司姜文羽二、 考察时间： 根据总承包单位提供的考察计划及被考察单位的资质，在北京北玻嘉美科技发展有限公 司的组织下，中材二期各参建单位相关人员于XX年11月7日上午对该厂家进行实地考察。 三、考察厂家的施工类型及单位名称中材二期项目实验室厂家，被考察厂家为：北京思建新创工程质量检测有限公司。四、 考察内容： （一）被考察公司资质（见下页）：12 （二）北京思建新创工程质量检测有限公司
1、公司检测范围及项目： 1）水泥物理力学性能检验2）钢筋力学性能检验 3）砂、 石常规检验 4）混凝土、砂浆 5）简易土工试验 6）混凝土掺加剂检验 7）防水材料 8）用于承重墙的砖和混凝土小型砌块 9）道路工程用无机结合料稳定材料 10）建筑外 窗（含现场检测） 11）建筑节能工程用保温材料、绝热材料、粘结材料、增强网、隔热型材、低压配电系 统选择的电缆、电线 （三）考察结论 厂家所有资质文件资料齐全有效，对实验室进行查看。结论：此厂家设施齐全，能满 足本工程实验需求。 附件：1、公司考察实拍照片（见下页）； 34 篇二：实验室参观报告实验室名称：过程控制实验室参观时间： XX 年3月9日 一、参观实验室的目的 1、了解复杂过程控制系统的构成。 2、掌握复杂过程控制——串级控制方法。 二、实验室的器材
一、名词解释 1. 原子吸收灵敏度：也称特征浓度，在原子吸收法中，将能产生1％吸收率即得到0.0044 的吸光 度的某元素的浓度称为特征浓度。计算公式：S=0.0044 x C/A （ug/mL/1%） S——1％吸收灵敏度C ——标准溶液浓度0.0044 ——为1％吸收的吸光度 A——3 次测得的吸光度读数均值 2. 原子吸收检出限：是指能产生一个确证在试样中存在被测定组分的分析信号所需要的该组分的最 小浓度或最小含量。通常以产生空白溶液信号的标准偏差2?3倍时的测量讯号的浓度表示。 只有待测元素的存在量达到这一最低浓度或更高时，才有可能将有效分析信号和噪声信号可靠地区分开。 计算公式： D = c K S /A m D一一元素的检出限ug/mL c ――试液的浓度 S ――空白溶液吸光度的标准偏差 A m――试液的平均吸光度K――置信度常数，通常取2~3 3．荧光激发光谱：将激发光的光源分光，测定不同波长的激发光照射下所发射的荧光强度的变化， 以I F—入激发作图，便可得到荧光物质的激发光谱 4 ?紫外可见分光光度法：紫外一可见分光光度法是利用某些物质分子能够吸收200 ~ 800 nm光谱 区的辐射来进行分析测定的方法。这种分子吸收光谱源于价电子或分子轨道上电子的电子能级间跃迁，广泛用于无机和有机物质的定量测定，辅助定性分析（如配合IR）。 5 ?热重法：热重法（TG是在程序控制温度下，测量物质质量与温度关系的一种技术。TG基本原 理：许多物质在加热过程中常伴随质量的变化，这种变化过程有助于研究晶体性质的变化，如熔化、蒸发、升华和吸附等物质的物理现象；也有助于研究物质的脱水、解离、氧化、还原等物质的化学现象。热重分析通常可分为两类：动态（升温）和静态（恒温）。检测质量的变化最常用的办法就是用热天平（图1），测量的原理有两种：变位法和零位法。 6?差热分析；差热分析是在程序控制温度下，测量物质与参比物之间的温度差与温度关系的一种技 术。差热分析曲线是描述样品与参比物之间的温差（△ T）随温度或时间的变化关系。在DAT试验中， 样品温度的变化是由于相转变或反应的吸热或放热效应引起的。如: 相转变，熔化，结晶结构的转变， 沸腾，升华，蒸发，脱氢反应，断裂或分解反应，氧化或还原反应，晶格结构的破坏和其它化学反应。一般说来，相转变、脱氢还原和一些分解反应产生吸热效应；而结晶、氧化和一些分解反应产生放热效应。 7. 红外光谱：红外光谱又称分子振动转动光谱，属分子吸收光谱。样品受到频率连续变化的红外光 照射时，分子吸收其中一些频率的辐射，导致分子振动或转动引起偶极矩的净变化,使振-转能级从基态跃迁到激发态，相应于这些区域的透射光强度减弱，记录经过样品的光透过率T%寸波数或波长
沈阳铁路局学习中心
说明： ①阶段测试作业必须由学生书写完成，打印复印不计成绩。 ②学生应按有关课程的教学要求，在规定的交纳日期前交纳作业。 ③任课教师评定考试成绩后，将成绩与评语反馈给学生本人。 ④每一次阶段测试作业成绩记为本学期课程总成绩的20%。 第一部分： 一、填空题 1.信息技术的发展促进了（企业管理模式）的创新。 2.数字化企业的概念源于欧美，是伴随着（互联网）的发展而产生的。 3.人们将研究、分析和处理问题的思想、程序和基本原则称为（方法论）。 4.（信息传输）是从一端将命令或状态信息经信道传送到另一端，并被对方所接收的过程。 5.（信息加工）是对收集来的信息进行去伪存真、去粗取精、由表及里、由此及彼的加工过程。 6.（信息存储）是指将经过加工整理序化后的信息按照一定的格式和顺序存储在特定的载体中的一种信息活动。 7.信息存储介质是指（存储数据）的载体。 8.（信息维护）是指保持信息处于合用的状态 9.信息系统的战略规划是关于信息系统的（长远发展规划）的制定。 10.现行系统中信息的流动关系是以（组织结构）为背景的。 11.业务流程分析可以用（业务流程图）来描述。 12.数据存储表示数据（保存）的地方。 13.采用结构化分析方法绘制数据流程图的基本思想是：（自顶向下、由外向里、逐层分解）。 14.数据字典的使用有两种方式：（人工方式）和（计算机方式）。 15.（结构化语言）是一种介于自然语言与程序设计语言之间的语言。 16.新系统逻辑模型是在（现行系统）逻辑模型的基础上提出来的。 17.（综合计划）是企业一切生产经营、管理活动的纲领性文件。 18.（系统分析报告）是系统分析阶段工作的全面总结，是这一阶段的主要成果。 二、单选题 1.信息系统一般由信息源、信息处理器、信息接收器和（ C ）组成。 A.信息开发者 B.信息所有者 C.信息管理者 D.信息维护者 2.信息的收集工作是为决策提供依据的（B ）。 A.设计工作 B. 初始工作 C.调查工作 D.总结工作 3.管理信息的特征有（ A ） A．管理有效性、决策有用性、系统共享性、需求等级性 B．管理有效性、决策有用性、系统独立性、需求共享性 C．管理扩散性、信息传输性、系统独立性、需求等级性 D. 管理扩散性、信息传输性、系统共享性、需求共享性 4.系统的特性有（ D ） A．约束性、等级性、增值性 B.扩散性、层次性、开放性
实验室报告模板 《2014年实验室年度报告》至少包括以下内容： 一是基本情况。主要包括：本机构及主要负责人对报告内容真实性的承诺；实验室的人员、设备、场所、资产概况及与上年度同比情况，实验室的最高管理者、技术管理者、授权签字人、工作场所以及资质认定的项目、参数、标准（规范、规程、方法）变化情况。 二是业务工作情况。主要包括：实验室的出具检测报告数量及与上年度同比情况，检验检测工作营业收入及占全部业务收入的百分比和与上年度营业收入同比情况，承担行政主管部门下达的指令性或法定检验任务的情况，科研、技术咨询等其他业务工作开展情况及与上年度同比情况。 三是接受的外部评审检查情况。主要包括：实验室接受各级质监部门的资质认定评审和证后监督检查，实验室认可评审和监督，行业主管部门的资质评审和监督等外部评审检查情况。 四是质量控制活动开展情况。主要包括：实验室参加能力验证和内外部比对试验的工作情况，其他质量控制活动开展情况。 五是内部质量管理情况。主要包括：内审、管理评审、质量监督和日常监督工作开展情况，人员培训开展情况，顾客满意度调查和处理申诉、投诉及客户反馈情况，纠正措施和预防措施实施情况。 六是工作建议和2015年度工作计划。主要包括：对质
监部门各项工作的建议和本单位在2015年度的工作计划或工作思路。 七是其他需向质监部门报告的事项（如有相关事项）。 《2014年实验室年度报告》应言简意赅，相关情况和数据应当真实、有效，可图文并茂。 《2014年实验室社会责任报告》至少包括以下内容：一是前言。主要包括：本机构及主要负责人对报告内容真实性的承诺；报告的时间和范围界定；报告编制的依据；本机构的社会责任战略、方针、目标和/或价值理念等。 二是检测机构基本情况。主要包括：本机构的基本信息；开展的各项业务及发检测报告数量等；人力资源情况；财务状况及财务审计情况等。 三是社会责任管理体系和制度的建立情况。主要包括：本机构建立的履行社会责任的措施及制度规定，相关体系运行和自我改进情况，利益相关方的识别和参与等。 四是履行社会责任情况及绩效评价。参照上述第三部分内容的提示，并结合本机构的实践和理解，真实反映本机构的情况。 五是结语。主要包括：本机构对未来履行社会责任的发展计划，报告反馈联系方式等。 《2014年实验室社会责任报告》应言简意赅，相关情况和数据应当真实、有效，可图文并茂。 注：实验室社会责任内容主要包括：遵守法律、规范运作、诚实守信、提升服务水平、创新发展、环保节能减排、
《现代分析测试技术》复习知识点 一、名词解释 1. 原子吸收灵敏度、指产生1％吸收时水溶液中某种元素的浓度 2. 原子吸收检出限、是指能产生一个确证在试样中存在被测定组分的分析信号所需要的该组分的最小浓度或最小含量 3．荧光激发光谱、4．紫外可见分光光度法 5．热重法、是在程序控制温度下，测量物质质量与温度关系的一种技术。 6．差热分析、是在程序控制温度下，测量物质与参比物之间的温度差与温度关系的一种技术。 7．红外光谱、如果将透过物质的光辐射用单色器加以色散，使光的波长按大小依次排列，同时测量在不同波长处的辐射强度，即得到物质的吸收光谱。如果用的是光源是红外辐射就得到红外吸收光谱(Infrared Spectrometry)。 8．拉曼散射，但也存在很微量的光子不仅改变了光的传播方向，而且也改变了光波的频率，这种散射称为拉曼散射。 9．瑞利散射、当一束激发光的光子与作为散射中心的分子发生相互作用时，大部分光子仅是改变了方向，发生散射，而光的频率仍与激发光源一致，这种散射称为瑞利散射 10．连续X射线：当高速运动的电子击靶时，电子穿过靶材原子核附近的强电场时被减速。电子所减少的能量（△E）转为所发射X 射线光子能量（hν），即hν＝△E。 这种过程是一种量子过程。由于击靶的电子数目极多，击靶时间不同、穿透的深浅不同、损失的动能不等，因此，由电子动能转换为X 射线光子的能量有多有少，产生的X 射线频率也有高有低，从而形成一系列不同频率、不同波长的X 射线，构成了连续谱 11．特征X射线、原子内部的电子按泡利不相容原理和能量最低原理分布于各个能级。在电子轰击阳极的过程中，当某个具有足够能量的电子将阳极靶原子的内层电子击出时，于是在低能级上出现空位，系统能量升高，处于不稳定激发态。较高能级上的电子向低能级上的空位跃迁，并以光子的形式辐射出标识X 射线 13．相干散射、当入射X射线光子与原子中束缚较紧的电子发生弹性碰撞时，X射线光子的能量不足以使电子摆脱束缚，电子的散射线波长与入射线波长相同，有确定的相位关系。这种散射称相干散射或汤姆逊（Thomson）散射。 14．非相干散射，，当入射X射线光子与原子中束缚较弱的电子（如外层电子）发生非弹性碰撞时，光子消耗一部分能量作为电子的动能，于是电子被撞出原子之外，同时发出波长变长、能量降低的非相干散射或康普顿（Compton）散射
习题 1-2 求正弦信号t x t x ωsin )(0=的绝对均值x u 和均方根值rms x 。 解：dt t x T u T x ?=2 0sin ||2/1 ω 200|)cos (||2T t T x ωω-= )cos 0(cos 2||20ππ -=x π | |20x = ?=T rms dt t x T x 0 20)sin (1ω ＝ ? -T dt t T x 0 2 02 2cos 1ω ＝ 2 2 0T T x ?＝2 2 0x
1-3 求指数函数)0,0()(≥>=-t a Ae t x at 的频谱 解：指数函数为非周期函数，用傅立叶变换求其频谱。 ?+∞ ∞---=dt e Ae f X ft j at π2)( ? +∞ +-= )2(dt Ae t f j a π ∞ ++-+-= 0)2(|2t f j a e f j a A ππ f j a A π2+= 幅频谱表示式：22)(ω ω+=a A A 相频谱表示式：a arctg ω ω?-=)( 2-2 用一个时间常数为0.35s 的一阶装置去测量
周期分别为1s、2s和5s的正弦信号，问幅值误差将是多少？
解：1）一阶系统的频率响应函数为： 1 1)(+= τωωj H 幅频表示式：1 )(1 )(2 += τωωA 2）设正弦信号的幅值为x A ，用一阶装置测量 正弦信号，测量幅值（即一阶装置对正弦信号的输出）为)(ωA A x 幅值相对误差为： )(1) (ωωA A A A A x x x -=- 3）因为T 1 =ω T=1s 、2s 、5s ，则ω=2π、π、2π/5(rad) 则A(ω)分别为：=+?1)235.0(1 2 π0.414 673.01 )35.0(12 =+?π 915.01 )5 235.0(1 2 =+?π
案卷号 日期 ＜实验室设备管理系统＞ 测试用例报告 作者： 完成日期： 签收人： 签收日期： 修改情况记录： 版本号修改批准人修改人安装日期签收人 目录
1........................................................................... (1) 引言 1编写目的...................................................................................................................................... 1.1 1背景.............................................................................................................................................. 1.2 1........................................................................... ................................................................... 2 测试设计 5........................................................................... ................................................................... 3 测试用例 5 ............................................................................................................... 用例1：用户登录页面3.1 6 ............................................................................................................... 用例2：用户注册页面3.2 8 ....................................................................................................... 用例3：用户找回密码页面3.3 014：用户退出..................................................................................................................... 3.4用例..................................................................................................... 11：一般用户操作界面用例53.5 21...................................................................................... 3.6用例6：一般用户修改个人信息界面41...................................................................................... 用例7：一般用户书写个人日志界面3.7 6..................................................................................... 18：一般用户查询个人信息界面.3.8用例 7 ................................................................................................. 13.9用例9：管理员浏览信息界面9..................................................................................... 1：管理员管理教师操作界面.3.10用例10 12 ...................................................................................... 用例3.1111：管理员修改个人资料界面 32 .......................................................................... 3.12用例12：管理员浏览实验室人员信息界面52.......................................................................... 3.14用例14：管理员管理实验室设备操作界面7..................................................................................... 215：管理员仪器设备报损界面.3.15用例 92 ：管理员贵重仪器购置操作界面.............................................................................. 3.16用例16 13：系统帮助界面......................................................................................................... 用例3.1717 3 ................................................................................................................. 3用例3.1818：系统备分 43 ......................................................................... ................................................................... 4 测试评估4 ............................................................................................................................ 34.1测试任务评估 43 ............................................................................................................................ 测试对象评估4.2 1 引言 1.1 编写目的 该文档的目的是描述实验室设备管理系统的测试设计，其主要内容包括：
《近代材料测试方法》复习题 1．材料微观结构和成分分析可以分为哪几个层次？分别可以用什么方法分析？ 答：化学成分分析、晶体结构分析和显微结构分析 化学成分分析——常规方法（平均成分）：湿化学法、光谱分析法 ——先进方法（种类、浓度、价态、分布）：X射线荧光光谱、电子探针、 光电子能谱、俄歇电子能谱 晶体结构分析：X射线衍射、电子衍射 显微结构分析：光学显微镜、透射电子显微镜、扫面电子显微镜、扫面隧道显微镜、原 子力显微镜、场离子显微镜 2．X射线与物质相互作用有哪些现象和规律？利用这些现象和规律可以进行哪些科学研究工作，有哪些实际应用？ 答：除贯穿部分的光束外，射线能量损失在与物质作用过程之中，基本上可以归为两大类：一部 分可能变成次级或更高次的X射线，即所谓荧光X射线，同时，激发出光电子或俄歇电子。另一部分消耗在X射线的散射之中，包括相干散射和非相干散射。此外，它还能变成热量逸出。 （1）现象/现象：散射X射线（想干、非相干）、荧光X射线、透射X射线、俄歇效 应、光电子、热能 （2）①光电效应：当入射X射线光子能量等于某一阈值，可击出原子内层电子，产 生光电效应。
应用：光电效应产生光电子，是X射线光电子能谱分析的技术基础。光电效应 使原子产生空位后的退激发过程产生俄歇电子或X射线荧光辐射是 X射线激发俄歇能谱分析和X射线荧光分析方法的技术基础。 ②二次特征辐射（X射线荧光辐射）：当高能X射线光子击出被照射物质原子的 内层电子后，较外层电子填其空位而产生了次生特征X射线（称二次特征辐射）。 应用：X射线被物质散射时，产生两种现象：相干散射和非相干散射。相干散射 是X射线衍射分析方法的基础。 3．电子与物质相互作用有哪些现象和规律？利用这些现象和规律可以进行哪些科学研究工作，有哪些实际应用？ 答：当电子束入射到固体样品时，入射电子和样品物质将发生强烈的相互作用，发生弹性散射和非弹性散射。伴随着散射过程，相互作用的区域中将产生多种与样品性质有关的物理信息。 （1）现象/规律：二次电子、背散射电子、吸收电子、透射电子、俄歇电子、特征X射 线 （2）获得不同的显微图像或有关试样化学成分和电子结构的谱学信息 4．光电效应、荧光辐射、特征辐射、俄歇效应，荧光产率与俄歇电子产率。 特征X射线产生机理。 光电效应：当入射X射线光子能量等于某一阈值，可击出原子内层电子，产生光电效应。 荧光辐射：被打掉了内层电子的受激原子，将发生外层电子向内层跃迁的过程，同时辐射出波长严格一定的特征X射线。这种利用X射线激发而产生的特征辐射为二次特