SOI中“工程化的”基板由以下三层构成:
(1)薄薄的单晶硅顶层,在其上形成蚀刻电路 (2)相当薄的绝缘二氧化硅中间层 Nhomakorabea
(3)非常厚的体型衬底硅衬底层,其主要作用是 为上面的两层提供机械支撑。
SOI材料的分类
Si/绝缘体结构
Si/SiO2/Si结构
硅 硅 绝缘体 SiO2 硅衬底
SOI材料的特点
SOI是Silicon-on-Insulator的缩写,称绝缘 硅
随着芯片特诊尺寸跨入纳米尺度后,临近半导体物理器件 的极限问题接踵而来,如电容损耗、漏电流增大、噪声提 升、闩锁效应和短沟道效应等。 为了克服这些问题,SOI技术应运而生。 作为标准CMOS工艺的一种改进技术,SOI技术通过在两 层硅基板之间封入一个绝缘的氧化层(这与大容量CMOS工 艺技术恰好相反),从而将活跃的晶体管元件相互隔离。 SiO2埋层能有效地使电子从一个晶体管门电路流到另一个 晶体管门电路,不让多余的电子渗漏到硅晶圆上。
该方法的优点是硅薄层缺陷密度低,硅薄层和Si02 埋层厚度也易控制。该方法的领引厂商是法国 Soitec公司,该公司能量产φ200/φ300mmSOI晶圆, 能提供各种硅薄层和SiO2埋层厚度的SOI晶圆,主 要有3个品种,PD(部分耗尽)、FD(全部耗尽) 和UT(超薄)UHIBOND。
4)外延层转移
闩锁效应,又称寄生PNPN效应
CMOS管的下面会构成多个三极管, 这些三极管自身就可能 构成一个电路。这就是MOS管的寄生三极管效应。 如果电路偶尔中出现了能够使三极管开通的条件, 这个寄生 的电路就会极大的影响正常电路的运作, 会使原本的MOS电 路承受比正常工作大得多的电流, 可能使电路迅速的烧毁。 闩锁效应在大线宽的工艺上作用并不明显, 而线宽越小, 寄生 三极管的反应电压越低, 闩锁效应的影响就越明显。 闩锁效应被称为继电子迁移效应之后新的“CPU杀手”。防 止MOS电路设计中Latch-up效应的产生已成为IC设计界的重 要课题。