光纤点衍射干涉仪调整方法与条纹分析
- 格式:pdf
- 大小:160.91 KB
- 文档页数:3
光的干涉和衍射实验光的干涉和衍射是光学中重要的现象,通过这些实验可以更好地理解光的波动性质和波动光学理论。
本文将介绍光的干涉和衍射实验的原理、实验装置以及实验结果分析。
一、实验原理光的干涉是指两束或多束光波相遇并叠加时所产生的干涉现象。
其中,两束相干光波的叠加会形成明纹和暗纹的交替分布,这取决于光波的相位差。
干涉可以是各种波的干涉,如声波、电磁波等,但在本实验中,我们将重点讨论光波的干涉现象。
光的衍射是指光波传播过程中,当波遇到一个障碍物或通过一个小孔时,波通过或绕过这个障碍物或小孔后会产生扩散现象,形成明暗相间的衍射图样。
二、实验装置1. 干涉实验装置:- 光源:可以使用激光器或者白炽灯等光源。
- 分束器:将光源的光分成两束。
- 干涉装置:将分束后的光束分别引导到干涉装置中。
- 探测器:用于观察干涉条纹的位置和形状。
2. 衍射实验装置:- 光源:可以使用激光器或者白炽灯等光源。
- 单缝或双缝装置:用于产生光的衍射现象。
- 探测器:用于观察衍射图样的位置和形状。
三、实验步骤1. 干涉实验步骤:(1) 准备好干涉实验装置,确保光源正常工作并将光源的光分成两束。
(2) 将两束光束引导到干涉装置中的投影屏或者接收屏上。
(3) 观察屏幕上的干涉条纹,并记录下条纹的位置和形状。
2. 衍射实验步骤:(1) 准备好衍射实验装置,确保光源正常工作并产生衍射现象。
(2) 将光源的光通过单缝或双缝装置。
(3) 观察光通过单缝或双缝装置后,在屏幕上形成的衍射图样,并记录下图样的位置和形状。
四、实验结果分析通过光的干涉和衍射实验,我们可以观察到明暗相间的条纹或图样,这些条纹或图样的分布情况可以直接反映出光波的相位差以及波的传播性质。
干涉实验中,条纹的间距和亮度分布与光波的相位差有关。
通过调整光源的位置或者改变干涉装置的参数,我们可以改变相位差,从而改变条纹的间距和亮度。
这些实验结果验证了光的波动性质和互相干涉现象。
衍射实验中,衍射图样的形状和分布取决于光通过障碍物或者孔径的大小和形状。
第7卷 第5期2014年10月 中国光学 Chinese Optics Vol.7 No.5 Oct.2014 收稿日期:2014⁃06⁃12;修订日期:2014⁃08⁃14 基金项目:应用光学国家重点实验室基金资助项目(No.09Q03FQM90)文章编号 2095⁃1531(2014)05⁃0855⁃08点衍射干涉仪波面参考源误差及公差分析代晓珂1,2,金春水1∗,于 杰1(1.中国科学院长春光学精密机械与物理研究所应用光学国家重点实验室,吉林长春130033;2.中国科学院大学,北京100049)摘要:为了保留光纤点衍射干涉仪容易对准以及衍射光束易于控制的优点,同时又能实现大数值孔径(NA )光学系统的检测,设计了一种新型的波面参考源(WRS),它保留了光纤点衍射和微孔点衍射的优点,可满足大NA 极紫外光刻物镜系统波像差检测的要求。
本文在分析各种误差的基础上,搭建了WRS 原理光路并对WRS 的系统误差标定算法进行详细的研究,得到WRS 标定时旋转平台的角度公差为0.5°,跳径时偏离系数为0.5%。
这一新型WRS 误差分析及标定对于实现高精度的检测具有十分重要的意义,最终为实现WRS 系统误差标定提供理论基础。
关 键 词:光学检测;点衍射干涉仪;波面参考源;误差研究;公差分析中图分类号:O436.1 文献标识码:A doi:10.3788/CO.20140705.0855Analysis on error and tolerance for the wavefront referencesource of point diffraction interferometerDAI Xiao⁃ke 1,2,JIN Chun⁃shui 1∗,Yu Jie 1(1.State Key Laboratory of Applied Optics ,Changchun Institute of Optics ,Fine Mechanics and Physics ,Chinese Academy of Sciences ,Changchun 130033,China ;2.University of Chinese Academy of Sciences ,Beijing 100049,China )∗Corresponding author ,E⁃mail :jincs @Abstract :To keep the advantages of fiber point diffraction interferometer which is easy to align and control the diffracted light,we design a new wavefront reference source(WRS).WRS can keep the advantages of fiber point diffraction interferometer and pin⁃hole point diffraction interferometer,and it also can be used to test thewavefront aberration of larger NA optical system for Extreme Ultraviolet Lithography(EUVL).The analysis of error for this new WRS and calibration of the system error is very important for realizing a more accurate test of wavefront aberration.Based on the analysis of various errors,we study the calibration algorithm in detail,and obtain the tolerance of several WRS important components including that the angle tolerance of rotation stage is 0.5°and the deviation factor is 0.5%when rotation is away optical axis.Key words :optical test;point diffraction interferometer;wavefront reference source(WRS);system error;tol⁃erance1 引 言 极紫外光刻(EUVL)技术被认为是最具潜力的下一代光刻技术之一,它最大程度地承袭了现有光刻技术的发展成果。
光的干涉条纹如何分析以提高精度?在物理学中,光的干涉现象是一个极为重要的概念,而对干涉条纹的分析则是深入理解和应用这一现象的关键。
干涉条纹不仅在光学实验和研究中具有重要意义,还在许多实际应用领域,如精密测量、材料分析等方面发挥着关键作用。
然而,要想准确地分析干涉条纹并提高分析的精度,并非易事,需要我们综合考虑多个因素,并采用适当的方法和技术。
首先,我们需要对光的干涉原理有一个清晰的认识。
当两束或多束光相遇时,如果它们的光程差满足一定的条件,就会发生干涉现象,形成明暗相间的干涉条纹。
这些条纹的间距、形状和对比度等特征都与光源的特性、光路的设置以及观察条件等密切相关。
在实际的干涉条纹分析中,图像采集是第一步也是至关重要的一步。
为了获得高质量的干涉条纹图像,我们需要选择合适的成像设备,如高精度的数码相机或专业的光学相机。
同时,要注意调整好相机的参数,如曝光时间、感光度和焦距等,以确保能够清晰地捕捉到干涉条纹的细节。
此外,还需要保证实验环境的稳定性,避免外界因素,如振动、温度变化和气流等对图像采集造成干扰。
采集到干涉条纹图像后,接下来就是对图像进行预处理。
这包括去除噪声、增强对比度和校正图像的几何畸变等。
噪声的存在会影响我们对干涉条纹的观察和分析,常见的去噪方法有中值滤波、均值滤波和高斯滤波等。
增强对比度可以使干涉条纹更加清晰明显,便于后续的分析处理。
而校正图像的几何畸变则可以提高测量的准确性。
在对干涉条纹进行测量和分析时,条纹间距的测量是一个重要的环节。
传统的方法是通过人工测量,使用尺子或显微镜等工具,但这种方法不仅效率低下,而且精度有限。
随着计算机技术的发展,现在更多地采用图像处理软件来进行测量。
这些软件可以通过算法自动识别干涉条纹,并计算出条纹间距。
然而,不同的算法可能会导致不同的测量结果,因此需要选择合适的算法,并对其进行优化和验证。
除了条纹间距,条纹的形状和对比度也能提供有价值的信息。
例如,条纹的弯曲可能意味着光路存在偏差或被测物体表面不平整;而对比度的变化则可能反映了光源的稳定性或光路中的损耗。
干涉仪的使用方法和干涉谱的分析技巧干涉仪是一种用于测量光学路径差的仪器,广泛应用于物理学、化学、生物学等领域的研究中。
本文将介绍干涉仪的使用方法以及干涉谱的分析技巧。
一、干涉仪的使用方法1. 调节光源:首先需要确保光源的亮度和稳定性。
可以使用氙灯、钠灯等白光源或激光器作为光源。
调节光源的亮度和位置,使光线尽可能地垂直射入干涉仪。
2. 调整干涉仪的干涉臂长度:干涉仪的干涉臂长度决定了光程差的大小。
通过调整干涉仪的干涉臂长度,可以改变干涉谱的特性。
一般可以通过调节干涉仪的反射镜或移动反射镜的位置来实现。
3. 调节干涉仪的角度:干涉仪的两个反射镜之间的夹角也会对干涉谱产生影响。
调节干涉仪的角度可以改变干涉条纹的间距和形状。
通常可以通过调节干涉仪的支架或移动一个反射镜来实现。
4. 实施干涉实验:当调整好干涉仪的参数后,可以进行干涉实验。
将待测样品放入干涉仪中,观察干涉条纹的变化。
可以通过调整样品的位置、旋转样品或调节光源的亮度来改变干涉条纹。
二、干涉谱的分析技巧1. 干涉条纹的形状:观察干涉条纹的形状可以获得关于样品的信息。
例如,干涉条纹的明暗交替说明样品存在厚度或折射率变化。
条纹的形状还可以用于测量样品的表面形貌或薄膜的厚度。
2. 干涉谱的解析:干涉谱是干涉仪输出的光信号在频率域上的分布。
通过分析干涉谱可以获得关于样品的更多信息。
可以利用光源的光谱信息和干涉仪的干涉谱来推断样品的光学性质。
3. 干涉谱的拟合:通过将实际测量得到的干涉谱与理论模型的干涉谱进行拟合,可以得到样品的参数。
对干涉谱进行拟合需要掌握数学拟合方法和理论模型,并根据实际情况选择合适的模型。
4. 干涉谱的计算:干涉仪输出的光信号一般是电压信号或强度信号。
可以利用傅里叶变换等方法将信号转化为干涉谱。
计算干涉谱需要掌握信号处理和数值计算的方法。
干涉仪的使用方法和干涉谱的分析技巧是进行干涉实验和研究的基础。
掌握这些方法和技巧可以帮助研究者更准确地获得样品的光学信息,并推断样品的性质。
使干涉条纹变宽的方法干涉条纹是光学实验中常见的现象,它们是一种在两束相干光相遇时产生的交替明暗条纹。
这些条纹的宽度对于光学实验和测量具有重要意义,因此控制和调节干涉条纹的宽度是科研工作者和实验室人员的重要任务之一。
本文将介绍几种使干涉条纹变宽的方法,以及它们的原理和实际应用。
1. 调节干涉仪的入射角度干涉条纹的宽度与入射角度有密切的关系。
根据菲涅尔衍射理论,入射角度的变化会导致干涉条纹的位置和宽度发生变化。
通过调节干涉仪的入射角度,可以改变干涉条纹的宽度,使其变宽或变窄。
这种方法需要精确控制入射角度,并且适用于需要连续调节干涉条纹宽度的实验。
2. 使用不同波长的光源根据干涉条纹的宽度与波长的关系,使用不同波长的光源也可以使干涉条纹变宽。
根据迈克尔逊干涉仪的原理,不同波长的光源会产生不同间距的干涉条纹,从而影响条纹的宽度。
通过选择合适的光源波长,可以有效地控制干涉条纹的宽度。
3. 调节干涉仪的距离改变干涉仪中反射镜或透镜的距离也可以影响干涉条纹的宽度。
根据干涉条纹的位置与干涉仪元件之间的光程差,调节反射镜或透镜的距离可以改变光程差,从而影响干涉条纹的宽度。
这种方法需要仔细调节干涉仪元件的位置,并且适用于需要精确控制干涉条纹宽度的实验。
4. 添加介质的折射率根据干涉条纹宽度与介质折射率的关系,添加介质的折射率也可以改变干涉条纹的宽度。
通过在光路中加入具有不同折射率的介质,可以改变光的传播速度,从而影响干涉条纹的宽度。
这种方法适用于需要在特定条件下改变干涉条纹宽度的实验。
5. 使用非线性光学效应利用非线性光学效应,如自聚焦效应和光折变效应,也可以影响干涉条纹的宽度。
通过在光路中引入非线性光学材料,可以调节光的相位和幅度,从而影响干涉条纹的形成和宽度。
这种方法需要利用特殊的非线性光学材料,并且适用于需要精细调控干涉条纹特性的实验。
在实际应用中,以上方法通常会结合使用,以达到更精细和灵活地控制干涉条纹的宽度。
光学干涉实验中的调节技巧与数据处理光学干涉实验是一种常见的实验方法,用于研究光波的干涉现象。
在进行光学干涉实验时,调节技巧与数据处理是非常重要的环节,它们直接影响实验的准确性和可靠性。
本文将就光学干涉实验中的调节技巧与数据处理进行探讨。
一、调节技巧1. 光路调节光路调节是光学干涉实验中最基本的操作之一。
正确调节光路可以使得干涉图像清晰可见,进而得到准确的实验结果。
在进行光路调节时,可以采用以下步骤:首先,确保光源的稳定性和亮度。
光源的亮度越高,干涉图案越清晰,因此选择高亮度的光源可以提高实验的效果。
其次,调节透镜系统。
透镜的位置和方向对干涉图案有重要影响,需要通过微调螺丝来调节透镜的位置和方向,使得干涉图案清晰可见。
最后,调节干涉条纹。
通过调节反射镜的位置和角度,使得干涉条纹清晰可见。
要注意避免反射镜的振动和移动,以免影响实验结果。
2. 调节干涉仪干涉仪是光学干涉实验中的核心设备,它影响着实验的准确性和可重复性。
在调节干涉仪时,可以采用以下技巧:首先,调节反射镜的平面度。
反射镜的平行度对干涉仪的调节有重要影响,因此需要确保反射镜是平行的,可以通过调节反射镜支架上的螺丝来实现。
其次,调节干涉仪的光路长度。
干涉仪的光路长度决定了干涉条纹的间距和形状,需要通过调节反射镜的位置和角度来实现。
在调节光路长度时,可以使用平行光检验法来判断调节是否正确。
最后,调节干涉仪的分束器。
分束器对干涉图案有重要影响,需要确保分束器的位置和角度正确。
可以通过调节分束器支架上的螺丝来实现。
二、数据处理在进行光学干涉实验时,正确处理实验数据是调节技巧的重要补充。
只有准确地处理实验数据,才能得到准确的实验结果和结论。
以下是一些常用的数据处理方法:1. 干涉图案分析通过对干涉图案的分析,可以得到实验数据中所需的干涉条纹的参数。
例如,可以测量干涉条纹的周期、间距、形状等。
在进行干涉图案分析时,可以使用图像处理软件来实现自动分析,提高结果的准确性和可靠性。
光的干涉与衍射实验引言:光的干涉和衍射是光学中的基本现象,通过实验可以观察到光的波动性质和波动光学的各种规律。
本文将重点介绍光的干涉与衍射的实验原理、实验装置以及实验结果的分析。
第一部分:干涉实验干涉是指两束或多束光的叠加形成干涉图样的现象。
根据干涉光的相干性要求,我们可以使用自然光或单色光进行实验。
实验原理:干涉实验主要基于以下两个原理:1. 直线波源原理:在远离光源的位置上,可近似视光源为点状光源,从而保证光的波面是平直的。
2. 光的叠加原理:光波在空间中相遇时会叠加,产生干涉现象。
实验装置:常见的干涉实验装置包括杨氏双缝干涉仪、劈尖干涉仪和菲涅尔透镜干涉仪。
实验步骤:1. 设置干涉仪,调整光源、透镜和光屏的位置。
2. 将单色光源照射到干涉仪的两个缝隙上。
3. 观察在光屏上形成的干涉条纹。
实验结果分析:观察到的干涉图样是一系列明暗相间的条纹,这些条纹说明了光的波动性质。
根据干涉图样的变化,我们可以推导出干涉实验所满足的条件和干涉效应的特点。
第二部分:衍射实验衍射是指光波在遇到障碍物或通过狭缝时发生偏离直线传播的现象。
通过衍射实验可以研究光波的传播规律和衍射效应。
实验原理:衍射实验基于以下原理:1. 艾里斑原理:光通过孔径较大的障碍物或狭缝时,会发生衍射,形成一系列环形条纹。
2. 菲涅尔-柯西原理:光波遇到边缘时会绕射,使波前发生扩展。
实验装置:常见的衍射实验装置有单缝衍射实验装置、双缝衍射实验装置和狭缝衍射实验装置。
实验步骤:1. 设置衍射实验装置,调整光源、障碍物和屏幕的位置。
2. 将单色光源照射到障碍物或狭缝上。
3. 观察在屏幕上形成的衍射图样。
实验结果分析:观察到的衍射图样是一系列明暗交替的条纹,这些条纹反映了光波通过障碍物或狭缝时的传播规律。
根据衍射图样的特点,我们可以推导出衍射实验所满足的条件和衍射效应的规律。
结论:通过干涉和衍射实验,我们可以验证光的波动性质,揭示光波传播的规律。
光纤激光干涉仪的操作要点光纤激光干涉仪是一种重要的精密测量仪器,常用于科研实验室以及工业生产中的各种精密测量、质量控制等方面。
它以其高精度、高灵敏度和便捷的操作性能,成为科技领域中不可或缺的工具之一。
本文将介绍光纤激光干涉仪的操作要点,以帮助读者更好地掌握和使用这一仪器。
首先,使用光纤激光干涉仪前,我们需要准备一些必要的设备和材料。
首先是激光器,它是光纤激光干涉仪的核心部件,负责产生稳定的激光光源。
其次是光纤,光纤用于传输激光信号,要选择质量好、损耗低的光纤。
此外,我们还需要干涉仪的控制器、光路调整平台、光电探测器等设备。
在操作光纤激光干涉仪时,首先需要将激光器与光纤相连接。
将激光器输出端的激光束通过适当的光学元件,如准直器和偏振分束器,输入到光纤中。
在连接过程中要注意保证光纤的插入深度适中,避免损坏激光器和光纤。
接下来,我们需要调整光纤激光干涉仪的光路。
首先,调整光纤的位置和角度,使激光能够顺利通过干涉仪的各个光学元件。
可以使用光路调整平台来微调光纤的位置,确保激光光束尽可能平行且垂直于光学元件表面。
调整完光纤的位置后,我们需要调整干涉仪的两个光路长度,即参考光路和待测光路。
光纤激光干涉仪利用干涉现象实现精密测量,其中的关键就是保证两个光路的光程差恒定。
为了实现这一点,我们可以使用干涉仪的控制器,通过微调反射镜或位移平台来改变光路的长度,使得光纤激光干涉仪处于干涉峰值状态。
在进行实际测量之前,我们还需要对光纤激光干涉仪进行校准。
校准目的是消除系统误差,提高测量的准确性和可靠性。
光纤激光干涉仪的校准方法多种多样,可以根据不同需求选择合适的方法。
例如,可以使用标准光源对干涉仪进行校准,或者使用已知长度的参比杆进行比对校准。
校准完成后,我们可以进行实际的测量工作。
光纤激光干涉仪在科学研究和工业应用中有着广泛的用途,如长度测量、表面形貌测量等。
在进行测量时,要注意保持实验环境的稳定,避免外界干扰对测量结果的影响。
光的干涉与衍射实验光的干涉与衍射是光学中重要的现象,通过实验可以直观地观察到光的干涉与衍射效果,以及探究其背后的物理原理。
本文将介绍光的干涉与衍射实验的基本原理、实验步骤和实验结果,并探讨一些相关的应用。
一、实验原理光的干涉是指两束或多束光波相遇后,由于它们的波峰和波谷的叠加,产生明暗相间的干涉条纹。
光的干涉实验可以通过使用干涉仪来实现。
光的衍射是指光波通过一个有限孔径或物体边缘时,发生弯曲和扩散,形成衍射图样。
光的衍射实验可以通过使用衍射装置来实现。
二、实验步骤1. 干涉实验部分选取一块玻璃片,并在玻璃片上涂一层薄膜。
使玻璃片与薄膜之间的光程差为半波长,并使用两个平面镜组成的菲涅尔双镜干涉仪来观察狭缝干涉条纹。
打开干涉仪的光源,调整光的入射角度,使得光通过狭缝后发生干涉。
观察干涉条纹,记录下实验结果。
2. 衍射实验部分使用一块狭缝板,将其置于光源的前方。
调整狭缝板的宽度和间距,并观察衍射图样。
记录下实验结果。
三、实验结果在干涉实验部分观察到的干涉条纹表明了光的干涉效果。
干涉条纹的位置和强度变化可以用来研究光的相位差和波长。
通过调整菲涅尔双镜干涉仪的参数,可以观察到不同类型和形状的干涉条纹。
在衍射实验部分观察到的衍射图样反映了光通过狭缝板后发生的弯曲和扩散效应。
衍射图样的形状和大小与狭缝的宽度和间距有关。
通过调整狭缝板的参数,可以观察到不同形态和尺寸的衍射图样。
四、实验应用光的干涉与衍射实验在光学研究和应用中有着广泛的应用。
例如,在光学仪器的设计和制造中,需要考虑光的干涉与衍射效应,以获得更高的分辨率和精度。
另外,干涉与衍射技术也被应用于激光干涉仪、光纤传感器、光学信息存储等领域。
总结:光的干涉与衍射实验是光学中的重要实验,可以直观地观察和研究光的干涉与衍射现象。
干涉与衍射实验的原理、步骤和结果需要仔细考虑和记录。
这些实验不仅对于理论的研究有着重要的意义,而且在实际应用中也具有广泛的应用前景。
通过深入理解光的干涉与衍射实验,我们可以更好地探索光的本质和光学领域的发展。
光的干涉和衍射的应用干涉仪和光纤通信的原理光的干涉和衍射的应用——干涉仪和光纤通信的原理光的干涉和衍射是光学中的重要现象,具有广泛的应用。
本文将介绍干涉仪和光纤通信的原理,并探讨它们在现代科技中的应用。
一、干涉仪的原理和应用干涉仪利用光的干涉现象,通过光程差的调节来形成干涉条纹。
常见的干涉仪有迈克尔逊干涉仪和杨氏双缝干涉仪。
迈克尔逊干涉仪由光源、分束器、反射镜和接收器组成。
光源发出的光被分束器分成两束,分别经过两个路径与反射镜发生反射后再次汇聚到接收器上。
在反射镜上产生的光程差会影响到干涉条纹的形成和位置。
迈克尔逊干涉仪可以用于测量长度、折射率、介电常数等物理量。
杨氏双缝干涉仪由一条狭缝和两个相距一定距离的细缝组成。
光通过狭缝时发生衍射,形成衍射光的干涉。
干涉条纹的间距和位置与光的波长和双缝间距有关。
杨氏双缝干涉仪广泛应用于物质表面的形貌测量、精密加工等领域。
二、光纤通信的原理和应用光纤通信是一种利用光信号传输数据的通信技术。
它基于光的衍射和干涉现象以及光纤的传输特性。
光纤通信的原理是利用光在光纤中的传输特性。
光信号经过编码后由光源发出,并经过调制器调制成特定的光信号。
这些信号经过传输光纤时发生衍射和干涉,最后到达接收器。
接收器将光信号解码并转化为电信号,再经过传输介质传输至目标终端。
光纤通信具有多种应用。
首先,它具有高带宽和低损耗的特性,使得大容量的信息可以通过光纤进行高速传输。
其次,光纤通信可以实现远距离传输和长时间稳定性,广泛应用于长途通信、海底通信等领域。
此外,光纤通信还可以用于数据中心、电视传输、医疗设备等领域,为人们提供了高速、稳定的信息传输方式。
总结起来,光的干涉和衍射现象在干涉仪和光纤通信中得到了应用。
干涉仪通过光的干涉现象实现对物理量的测量;而光纤通信则利用光的衍射和干涉现象以及光纤的传输特性实现高速、稳定的信息传输。
这两个领域的技术应用为现代科技的发展做出了重要贡献,并在各个领域都有着广泛的应用前景。
光纤点衍射干涉仪调整方法与条纹分析
曹晓君,张学军,李艳红
(中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,吉林 长春130022)
摘要:随着对高精度光学元件的需求不断增加,对光学检测精度的要求也随之提高,合理可行的检测方法对光学加工的发展至关重要。
本文在已建立好的点衍射干涉仪的基础上,对仪器的调整进行分析,提出合理的调整方案,得出被检波面面形的干涉图。
该干涉仪由光纤直接提供高精度的参考波面,与被检波波面发生干涉。
其特点是结构简单合理、易于调整耦合输出、条纹记录迅速、受外界环境影响较低、引入误差较小,有利于进一步的拟合分析。
1 引 言
光学加工技术的不断发展要求研制出结构简单、易于调整、精度较高的干涉仪,以提高面形加工精度。
早在1972年Sm artt和Strong就已发明点衍射干涉仪,而后Smartt和Steel将其进一步发展,并成功地用于检测天文望远镜。
该仪器结构简单,对光源没有特殊要求,可以用白光照明。
但是平板和圆孔难以制作,而且只能检测透过的会聚波前,所以使用受到限制。
近年来由于光纤制造工艺以及耦合技术的发展,单模光纤纤芯不断缩小,可以产生近似标准的衍射球面波,为光纤点衍射的发展提供了前提条件。
该干涉仪采用激光照明,其良好的相干性使检测范围扩大。
除了检测会聚波前外,还可用于检测反射凹球面,进而应用到单个面形的检测。
另外光纤点衍射最大的优点是不需要标准镜。
在一般干涉检测中,标准镜是检测精度受限的主要原因。
光纤点衍射干涉仪能避开这一难题,为提供高精度的光学检测提供了广阔前景。
本文就已设计好的点衍射干涉仪的调整及条纹进行分析。
2 调整方案
从激光器发出的光一部分经过分光镜透射出去,透射光经透镜耦合输出,称为被检光;另一部分光经过分光镜先反射,然后透射耦合输出,称为参考光。
为了快速调整出方向性好、光强高的干涉光,需先调整耦合光强,使其达到最大值。
调整步骤如下:
第一步,需要分别调整每束光,以达到最好的耦合效果。
先用遮光板将参考光挡住,从光纤末端出来的是被检光。
对于被检光而言,因为分光镜是固定的,所以可以看到光射过第一个耦合透镜时,不仅是一个光点,还有部杂散光,此时需要调整该透镜。
调整架是五维的,可调整前后、左右、俯仰、扭摆、高低,不能仅调整一个量,须对5个量进行同步调整,即尽量使每个量只变动一个微小的量,以便于以后的调节。
当光点调整到最佳状态时,将第二个耦合透镜的光纤连接头尽量贴近第一个调整架,然后调整该调整架的5个可变量,使光点正入射至
Modern Optical Instruments OME Information No.3,Mar.2003
光纤端面上。
如果仍未出光,则需要反复调整,直至达到理想状态。
撤去挡住参考光的遮光板,挡住被测光,以调整参考光光路的光强和方向。
在参考光中,光束由分光镜反射至压电陶瓷,这一步要求精确计算出光路传播的方向,使从分光镜反射出的光正入射至压电陶瓷,然后沿原路返回至分光镜,经分光镜透射至耦合透镜。
这时就会发现有比较大的杂散光出现,这主要是由于压电陶瓷(PZT )和分光镜的位置不甚准确造成的。
因为压电陶瓷已固定,而且这种微小的误差难以避免,因此可选择光强比较大而集中的光束,然后调节耦合透镜,就可以把光调出来。
第二步,需要调整偏振方向,使两束干涉光的偏振方向相同,以产生干涉。
可使用偏振片,通过扭曲光纤来实现。
第三步,调整被检镜位置,使出射光点位于被检镜焦点位置,
且高度适中。
图1 光纤点衍射干涉仪
3 光强分析
每个镜面的反射、透射系数为:分光镜反透射比为4/96;光纤端面的反射率为4%,假设没有损耗,透射率应为96%;压电陶瓷可近似为全反射;透镜的耦合效率为 ;被检镜的反射率为4%。
设激光光强为I ,由参考光到达CCD 上的光的传播路径为:经过4%分光镜反射,100%压电陶瓷反射,96%分光镜透射, 透镜耦合,(1-4%)
光纤末端输出,即:
I 1=I 4% 96% (1-4%)
(1)
由被检光到达CCD 上的光的传播路径为:经过96%分光镜透射, 透镜耦合,(1-4%)光纤末端输出,4%被检镜反射,4%参考光末端光纤反射,即:
I 2=I 96% (1-4%) 4% 4%(2)
由以上两式可得: I 1/I 2=1/(4%)
(3)
即参考光与被检光光强比为1/(4%);所以应在光纤出射末端对光强进行调整。
如果参考光光强较大,应对参考光进行光强削弱调整。
使光纤末端出射的参考光光强远小于被检光光强,在CCD 接受处使光强大致相等,以符合相干条件。
4 条纹分析
下面讨论各个调整量对干涉条纹产生的影响。
对干涉条纹进行分析,用Zernike 多项式的前八项来表示像差。
w ( , !)=z 0+z 1 cos !+z 2 sin !+z 3(2 2-1)+z 4 2cos2 !+z 5 2sin2 !+z 6(3 2
-2) cos !+z 7(3 2-2) sin !+z 8(6 4-6 2
+1)(4)
其中z 表示各项的系数,坐标 是标准径向距离, !是从y 轴到数据点的角度。
第一项表示平移;第二项表示x 向倾斜;第三项表示y 向倾斜;第四项表示离焦;第五项表示像散;第六项表示彗差和
x 向倾斜;第七项表示彗差和y 向倾斜;第八项表示球差和离焦。
对于这八项,实验中可以调整的是平移、倾斜及离焦。
这是通过改变固定被检镜的调整架来实现的,该调整架为五维调整架。
当z 3=0时,去掉离焦,得到波像差表达式:
w ( , !)=z 0+z 1 cos !+z 2 sin !+z 4 2cos2 !
+z 5 2sin2 !+z 6(3 2
-2) c os !+z 7(3 2-2) sin !+z 8(6 4-6 2+1)(5)
当z 1=0,z 2=0时,去掉倾斜,得到波像差表达式:
现代光学仪器 光机电信息
2003年第3期
w( ,!)=z0+z3(2 2-1)+z4 2c os2!
+z5 2sin2!+z6(3 2-2)c os!
+z7(3 2-2) sin!+z8(6 4-6 2+1)(6)当z=0时,去掉平移,得到波像差表达式:
w( ,!)=z1 cos!+z2 sin!+z3(2 -1) +z4 2cos2!+z5 2sin2!+z6(3 2-2) c os!
+z7(3 2-2) sin!+z8(6 4-6 2+1)(7) 经过对五维调整架的调整,可得到不同的干涉条纹。
观察干涉图时,首先向远离光纤出射端口的位置移动被检凹面的离焦量,如果干涉条纹向外扩散,说明该位置位于焦前。
继续调整,条纹继续向外移动。
当条纹突然向内移动时,被检镜所在的位置就已经位于焦后。
在这两个位置的中间状态,离焦量最小。
调整被检镜五维调整架的倾斜量,即可得到干涉直条纹。
如果移动被检凹面的离焦量,发现条纹向内移动,说明被检镜已经位于焦后位置;反之则相反。
在条纹纪录中发现干涉条纹中有一些背景条纹,实验中所用的是单模光纤,所以这是由于存在偏振色散以及双折射,使从光纤末端出来的衍射条纹自身发生了干涉。
在后续的条纹处理中,四步相移公式为:
!=tg-1I2-I4
I1-I3(8)
I为干涉图中的光强分布。
四步相移发生时,仅参考光与被检光所成的干涉条纹发生变化
,背景光强相位变化相同,在公式计算时相互抵消,
因此并不影响以后要进行的条纹处理。
图2和图3是经以上调整得到的干涉条纹。
图2 焦点处干涉图
图3 离焦处干涉图
5 结 论
本文利用从光纤出射的球面波作为参考光测量被检面,通过PZT相移和CCD接收获得精度较高的干涉条纹,其条纹对比度较好。
背景光强可在计算过程中抵消,从而有利于条纹的进一步分析处理。
(No.9)
参考文献:
[1]Daniel M alacara.Op tical shop testing[M].N EW YORK:John Wiley&Sons,Inc.1992,501 599.
[2]Daniel M alacara.I nterf erogram analy sis f or op tical tes ting[M].N ew Yor k.Basel,1998.
[3]Daniel M alacara.W av efront fitting w ith discrete ortho gonal polynomials in a unit radius circle[J].Op t.Eng.1990,29(6):
672 675.
[4]白剑,曹天宁.非球面面形检测的特征干涉图数字分析法[J].浙江大学学报,2000,34(1):105 109.
Modern Optical Instruments OME Information No.3,Mar.2003。