孪晶的电子衍射
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tem 孪晶衍射标定TEM(Transmission Electron Microscopy)是一种利用电子束通过样品观察样品内部结构的高分辨率显微镜技术。
而衍射标定是TEM 中的重要步骤之一,用于确定衍射图样的空间关系,从而获得样品的晶体结构信息。
TEM孪晶衍射标定是一种通过观察样品的孪晶衍射图样来确定晶体的晶格参数的方法。
孪晶是指具有相同晶体结构但存在一定取向关系的两个或多个晶体。
在TEM中,通过将电子束与样品相互作用,利用样品中的晶格对电子进行衍射,从而产生衍射图样。
而孪晶衍射图样则是由于样品中存在孪晶而产生的特殊衍射图样。
孪晶衍射图样的形成是由于孪晶晶体的晶格参数与母晶体存在一定的取向关系,导致电子束经过孪晶晶体时发生干涉,形成特殊的衍射斑。
通过观察和分析孪晶衍射图样,可以确定孪晶晶体的晶格参数,从而了解样品的晶体结构。
在TEM孪晶衍射标定中,首先需要选择一些具有孪晶关系的样品,并将其制备成TEM薄片。
接下来,将样品放入TEM中,并调整电子束的入射角度和方向,使其与样品的晶格取向关系匹配。
然后,通过调节TEM的参数,如聚焦、对准和透射电子束的强度等,获得清晰的衍射图样。
在观察孪晶衍射图样时,需要注意图样的对称性和排列方式。
根据图样的对称性,可以确定晶体的点群对称性和晶格类型。
而根据图样的排列方式,可以确定晶体的晶格参数,如晶胞参数、晶体的取向关系和晶体的倾角等。
通过分析孪晶衍射图样,可以得到样品的晶体结构信息,如晶格参数、晶胞类型、晶体的取向关系等。
这些信息对于理解样品的晶体结构和性质具有重要意义。
此外,孪晶衍射标定还可以用于验证样品的晶体结构和确定样品中的晶体取向关系。
TEM孪晶衍射标定是一种通过观察和分析孪晶衍射图样来确定晶体的晶格参数的方法。
它在材料科学、物理学和化学等领域中具有广泛的应用前景,为研究和理解晶体的结构和性质提供了重要的手段。
TEM孪晶衍射标定引言透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope,简称TEM)是一种利用电子束穿透样品进行观察的高分辨率显微镜。
TEM具有非常高的分辨率和成像能力,可以对材料的微观结构和晶体缺陷进行详细研究。
其中,孪晶衍射标定是TEM技术中的一项重要内容,通过对样品中孪晶衍射的观察和分析,可以获得有关晶体结构和缺陷的重要信息。
本文将介绍TEM孪晶衍射标定的原理、方法和实施步骤,以及在实际应用中的一些注意事项和局限性。
原理TEM孪晶衍射标定利用了晶体的衍射现象。
当电子束射向晶体样品时,经过晶体内部的原子排列后,电子束将被晶体中的原子散射。
根据布拉格衍射公式,当入射电子束的波长和晶格常数满足一定的条件时,衍射峰将出现在特定的位置。
对于孪晶样品,由于晶格的微小旋转或平移,会导致衍射峰的位置发生偏移或分裂。
通过观察和分析这些衍射峰的变化,可以推断出样品中的孪晶结构和缺陷信息。
方法和步骤1. 样品制备首先,需要制备一块适合进行TEM观察的样品。
样品可以是金属、合金、半导体等晶体材料。
样品制备的关键是获得高质量的薄片,通常使用机械抛光和电解抛光等方法进行处理。
制备好的样品应该具有平整的表面和适当的厚度,以确保TEM观察的有效性和准确性。
2. TEM标定在TEM中进行孪晶衍射标定需要使用高分辨率的衍射仪。
首先,需要将样品放置在TEM台盘上,并调整样品的位置和倾斜角度,以使得电子束能够正确定位到样品的特定区域。
然后,通过调整TEM衍射仪的参数,如入射电子束的电压、倾角和焦距等,使得衍射仪能够获得高质量的衍射图像。
3. 孪晶衍射观察在TEM中观察孪晶衍射需要选择合适的衍射条件。
一般来说,使用高分辨率的选区电子衍射(Selected Area Electron Diffraction,SAED)模式可以获得清晰的衍射图像。
在SAED模式下,通过调整选区孔的大小和位置,可以选择感兴趣的区域进行衍射观察。