Microtrac图像粒度分析仪怎么样

目前，说到空袭分析仪，许多人可能都见过，但也有一部分人天天和它打交道。

因为孔隙分析仪广泛应用于高校及科研院所、材料研究和粉体材料生产企业产品质量监控中。

所以，普通人可能很少见到，但一些研究所的人对它自然是熟的很。

今天就和大家谈谈孔隙分析仪的选购问题。

在选购分析仪许多人担心选购到产品质量有问题。

这里给大家推荐一个比较可靠的牌子。

日本麦奇克拜尔有限公司(MicrotracBEL Japan，Inc.)是一家研究生产容量法气体吸附分析仪的专业制造厂商。

公司一直秉承“事业让生活更享受”(Business for Enjoy Life)的理念，始发于原创的动力，不断革新，推出一批又一批吸附领域的前沿技术。

BELSORP-Mini II 是一款采用容量法测定样品吸附特性的比表面和孔隙度分析仪，该仪器设计紧凑，分析精度高，操作简便，能够测定样品比表面积和孔径分布，配备三个样品测量通道，每一个通道都具有独立的压力传感器，能够同时测定三个样品。

在分析站，仪器歧管系统和饱和蒸汽压测定都具备单独的压力传感器，这样能够保证样品测定的时候，实时测定样品的饱和蒸汽压。

拜尔全自动蒸汽吸附系统，固体电解质膜水分吸附和质子传导分析仪，燃料电池综合评价装置等，极大地丰富了表面吸附表征方法。

如果有需要买日本MicrotracBELhe孔隙分析仪的用户，大家可以认准上海大昌洋行。

大昌洋行的产品种类特别丰富，大昌洋行科学仪器部专业提供分析仪器及设备，独家代理众多欧美先进仪器，产品范围包括：颗粒，物理，化学，生化，通用实验室的各类分析仪器以及流程仪表设备，在中国的石化，化工，制药，食品，饮料，农业科技等诸多领域拥有大量用户，具有良好的市场声誉。

近些年，市场不断扩大，大昌洋行在中国设有多个销售，旨在为客户提供全方位的产品和服务。

激光粒度仪可广泛适用于化工、磁性材料、医药、水泥、涂料、食品、农药、核工业、电子、电池材料、造纸、冶金、陶瓷、建材、化妆品、磨料、金属与非金属粉末、碳酸钙、滑石粉、高岭土、氧化铝、稀土、硬质合金、催化剂、发泡剂、耐火材料、填料、石墨、颜料等各种行业粉料的粒度测试。

干法激光粒度分析仪也是激光粒度分析仪中的一个品类，用于固体颗粒粉末粒径的检测。

检测过程不需要任何分散剂和溶剂，采用静音无油空气压缩机，以空气为动力，经过分散装置充分混合和分散，直接检测，测试瞬时分散、瞬时测量，针对不同样品可调分散压力和空气流速，分散压力最大可达7个大气压。

麦奇克有限公司（Microtrac Inc.）是世界上著名的激光应用技术研究和制造厂商，其先进的激光粒度分析仪已广泛应用于水泥，磨料，冶金，制药，石油，石化，陶瓷，军工等领域，并成为众多行业指定的质量检测和控制的分析仪器。

Microtrac Inc.公司非常注重技术创新，近半个世纪以来，一直领先着激光粒度分析的前沿技术，可靠的产品和强大的应用支持及完善的售后服务，使得其不断超越自我，推陈出新，独领风骚。

Microtrac在在线颗粒大小和形状测量方面有超过25年经验，了解过程加工环境的所有需求，让操作者能实时的看到过程的变化，使他们立即作出反应。

2018年Microtrac推出了干法激光粒度粒形分析仪SYNC，集激光衍射法和动态图像法于一体。

Microtrac干法激光粒度仪主要特点如下：1.一台仪器具有两种分析方法即激光衍射法和动态图像分析法。

2. 同步分析颗粒大小和形态。

3. 同一仪器，相同样品，同一管路，同一样品池，一次运行，至少得到多于30种粒度大小和形态的参数。

4.插拔式设计，干湿法转换非常简单，无需连接管路。

5. 专利的三激光设计，可以是全红激光，全蓝激光或者红激光和蓝激光混合使用，为不同需求的用户提供了不同的测量范围，给予了好的准确度。

6.固定位置的固体激光器无需预热，开机即用，使用寿命非常长。

对于特定领域的粉状物料检测检验实验，离不开优良的高精度实验室粒度分析仪。

实验室粒度分析仪如何选择呢？好的实验室粒度分析仪颗粒测量性能领先，可以快速、有效地进行湿法分散，为脆性干粉和粘性干粉提供迅速、可靠的粒度测量。

可以生成灵活的报告格式，可以按照需求显示具体数据，依靠专业直观的软件，减轻操作者的工作负担。

实验室粒度分析仪哪种值得推荐？这里为您推荐Microtrac实验室粒度分析仪。

（激光粒度粒形分析仪）产品型号：S3500SI品牌：Microtrac/麦奇克原产地：美国/德国这款Microtrac实验室粒度分析仪配套强大的操作软件，可以提供强大的数据处理能力，包括图形，数据输出/输入，个性化输出报告及各种文字处理功能，数据的完整性符合21 CFR PART11安全要求。

具体参数如下：测量范围0.01-2800um （有多种更宽测量范围可选择）图像测量范围0.75-2000um光源：激光衍射专利三束固体激光器动态图像分析高性能频闪LED分析时间：激光衍射10-30S动态图像分析 1 Minute检测系统：接受角度0.02-163°检测器151个检测单元，以对数方式优化排列的高灵敏硅光电二极管信号采集无需扫描，实时接受全量程散射光信号动态图像分析像素5M，图像分辨率2456×2058,15图片/秒(可选配高速相机)（激光粒度分析仪）产品型号：S3500系列品牌：Microtrac/麦奇克原产地：美国/德国这款Microtrac实验室粒度分析仪是Microtrac S3500系列产品，主要支持以下湿法测量范围，也支持定制更宽的测量范围。

1．蓝波2型(BWDL))：湿法测量范围：0.01-2,800μm；2．蓝波1型(BWSL))：湿法测量范围：0.01-2,000μm；3．增强型(Enhanced)：湿法测量范围：0.02-2,800μm；4．扩展型(eXtended)：湿法测量范围：0.02-2,000μm；5．特殊型(speciaL)：湿法测量范围：0.09-1,500μm；6．标准型(Standard)：湿法测量范围：0.25-1,500μm；7．高端型(High)：湿法测量范围：2.75-2,800μm；8．基本型(Basic)：湿法测量范围：0.70-1,000μm；想要了解更多关于实验室粒度分析仪的相关资讯，欢迎登录大昌洋行官网联系客服获取更多产品信息以及产品报价。

Microtrac S3500 SILaser Diffraction Particle Size and Image Analyzer SL-PS-21 Rev. B Two technologies - One instrumentThe Microtrac S3500 SI incorporates image analysis capability with the long established Microtrac laser dif-fraction technology. Users of the Microtrac S3500 tri-laser particle size analyzer now have the added advantage of being able to view the sample using state-of-the-art camera technology and imaging soft-ware. The sample is dispersed in the Microtrac Sample Delivery Controller (SDC) and circulated through both the image analyzer and the laser diffraction particle size analyzer. The measuring cells for both tech-niques are separate to ensure the user benefits from world class laser diffraction and image analysis technol-ogyThe main features of the Microtrac S3500 SI are• Resolution - The patented Tri–laser, multi detector optical system for Laser Diffraction delivers unsurpassed resolution over the entire measuring range of the instrument. The Image Analyzer usesa 2456 x 2058 5M pixel full frame camera to ensure clear images at both high and low concentrations.• Range - The Microtrac SI measures particles in the range of 0.02 to 2800 microns with Laser Diffraction and 0.75 to 2000 microns with Image Analysis.• Accuracy - Microtrac S3500 SI utilizes full Mie compensation for spherical particles. It also applies proprietary Modified Mie calculations for non-spherical materials – the majority of real life materials.• Stability - Optical bench design incorporating fixed detectors and lasers provides a rugged platform for consistently repeatable measurements. The enclosed optical path ensures protection of the optical components leading to little or no operator maintenance.• Flexibility - The modular design permits selectable configurations based on application requirements.The S3500 SI system is easily up-graded to meet future requirements.• Automation - Microtrac S3500 SI software allows programming, saving and recalling of Standard Operating Procedures (SOPs). This facilitates increased precision in sample preparation and op-eration through automated, multi sample accessories.• Microtrac TriLaser Diffraction PSA• Microtrac High Resolution ImageAnalyzer• Particle Size Distribution• Shape AnalysisTotal Solutions in Particle CharacterizationThe TRI-LASER System developed by MICROTRAC allows light scattering measurements from the forward low angle region to al-most the entire angular spectrum (approximately zero to 160 degrees). It does so by a combination of three lasers and two detec-tor arrays, all in fixed positions. The primary laser (on-axis) produces scatter from nearly on-axis to about 60 degrees, detected by a forward array and a high-angle array, both of which have logarithmic spacing of the detector segments. The second laser (off-axis) is positioned to produce scatter beyond 60 degrees which is detected using the same detector arrays. The third laser (off-axis) is positioned to produce backscatter, again using the same detector arrays. This technique effectively multiplies the number of sensors that are available for detection of scattered light.0n-axis arrayLaser 1The main features of Microtrac S3500 SI software are:Measurement Criteria : Particle and carrier optical properties such as refractive index and shape are easily programmed for different materials. Sample analysis time, sample ID and data presentation options are easily accessed through the SETUP/SOP icon.Automatic Measurements : Automated measurement sequences can be programmed in combination with a selection of sample delivery systems. Levels of automation can be selected by the user.Standard Operating Procedures (SOPs): The software facilitates the programming, saving and recall of measurement setups in accordance with standard operating procedures. Database Management: Measurements are saved in Microsoft Access Encrypted Database Format. Analyses are easily recalled through a comprehensive search function for either review or comparison.Export functions: Data can be automatically or manually exported in either ASCII, excel or HTML formats. The user decides the export destination.Data Tolerance: Pass/Fail function is available for quality control applications, providing process managers with the capability to set upper and lower size limitations for material specifications.Statistical Analysis Package: Live display of analyses as they are performed providing statistical analysis on an ongoing basis. Trending : Ability to trend individual size parameters over a specific time period or material type.Report Generation: Microtrac software provides the user with the ability to design custom reports.High Resolution Image AnalysisSample is dispersed in the either a Sample Delivery Controller (SDC) or Ultra Small Volume Recirculator (USVR) for dispersion and flows through the Microtrac S3500 SI system. The recirculaor fluid dynamics deliver a homogeneous sample to the Microtrac S3500 SI Image Analysis sample cell. The sample cell is illuminated by a stroboscopic light and a 5-million pixel full-frame camera that records and stores the images. The images are processed by the Microtrac S3500 SI imaging software to provide the user withcomprehensive information on particle shape and size.The Microtrac S3500 SI software provides results on particle size by length, width, area, circumference and particle shape. The software also provides for the presentation of data on a wide range of shape properties like aspect ratio, ellipse ratio, compactness, roundness, circularity, concavity and con-vexity. The data can be exported in either ASCII, Excel or HTMLformats. Users can select different report formats.Microtrac S3500 SI Image Analysis SoftwareOn passing from the Image Analysis sample cell, the sample moves to the Laser Diffraction sample cell. The flow path of the sam-ple and the architecture of the sample cell ensures that both the Laser Diffraction and Image Analysis measurements use exactly the same sample concentrations and dispersions. There are no compromises on either measurement -Two Technologies - One InstrumentSpecificationsMeauring Range Laser Diffraction 0.02 to 2816 MicronsBasic Range: 0.688 to 995 umHigh Range: 2.75 to 2816 umStandard Range: 0.24 to 1408 umSpecial Range: 0.086 to 1408 umExtended Range: 0.021 to 2000 umEnhanced Range: 0.021 to 2816 umMeasuring Range Image Analysis 0.75 to 2000 MicronsDetection SystemsLaser Diffraction: Two fixed photo-electric detectors with logarithmically spaced segmentsplaced at correct angles for optimal scattered light detection. 0.02 to 163 degrees using 151detector segments.Image Analysis: 5M pixel camera, 2456 x 2058, 15 images per second.Light SourcesLaser Diffraction: Up to three Laser Photodiodes, 780nm wavelengthImage Analysis: Stroboscopic LEDTypical Analysis Time10 to 30 seconds. Laser Diffraction, 1 minute Image Analysis Electrical AC input: 90 – 132 VAC, 47 - 63 Hz, single phase200 to 265 VAC, 47 – 63 Hz, single phasePower Consumption25 VA maximumEnvironmental Temperature: 10 to 350 C (50 to 950 F)Humidity: 90% RH, non-condensing maximumPollution Degree 2Physical Specications Case Material Steel and impact resistant plasticExterior Surfaces finished with corrosion resistant paintor platingDimensions14H x 22W x 18D in (360H x 560W x 460D mm)Weight 70 lbs (32 kg)Your local Microtrac Representative isTotal Solutions in Particle Characterization。

粒度仪采用Furanhofer衍射及Mie散射理论，测试过程不受温度变化、介质黏度，试样密度及表面状态等诸多因素的影响，只要将待测样品均匀地展现于激光束中，即可获得准确的测试结果。

那么，麦奇克Microtrac粒度仪都有哪些优势呢？美国麦奇克有限公司其先进的粒度仪已广泛应用于水泥，磨料，冶金，制药，石油，石化，陶瓷，军工等领域，并成为众多行业指定的质量检测和控制的分析仪器。

Microtrac Inc.公司所研究出来的粒度仪具有许多与众不同的优势特点：1、系统自动对光，内置辅助光源用于检验和校正检测器的灵敏度;2、多种样品分散系统可供选择，各种分散系统之间的转换简单方便，结果稳定一致;3、数据处理灵活方便，体积分布，数量分布和强度分布，微分与累计百分比以及其他综合报告形式任意组合，数据存储兼容性强;4、NIST(National Institute of Standards & Technology)标准物质指定认证仪器;5、率先引进“非球形”颗粒概念对米氏理论计算的校正因子，内置常用分析物质光学数据库，提高颗粒粒度分布测试的准确性。

同时针对不同的粒度，美国Microtrac系列产品拥有着不同型号的粒度仪，不同型号所对应的测量范围的侧重点有着细微的不同。

（1）蓝波2型(BWDL)):湿法测量范围：0.01-2,800μm；干法测量范围：0.25-2,800μm （2）蓝波1型(BWSL)):湿法测量范围：0.01-2,000μm；干法测量范围：0.25-2,000μm （3）增强型(Enhanced):湿法测量范围：0.02-2,800μm；干法测量范围：0.25-2,800μm （4）扩展型(eXtended):湿法测量范围：0.02-2,000μm；干法测量范围：0.25-2,000μm （5）特殊型(speciaL) : 湿法测量范围：0.09-1,500μm；干法测量范围：0.25-1,500μm （6）标准型(Standard):湿法测量范围：0.25-1,500μm；干法测量范围：0.25-1,500μm （7）高端型(High) : 湿法测量范围：2.75-2,800μm；干法测量范围：2.75-2,800μm （8）基本型(Basic) : 湿法测量范围：0.70-1,000μm；干法测量范围：0.70-1,000μm麦奇克粒度仪究竟要到哪里去购买呢，这就要说到大昌洋行（上海）有限公司了。

有关微纳粒度分析仪的特点有哪些概述微纳粒度分析仪是一种用于测量颗粒尺寸和浓度的仪器。

这种仪器可以在短时间内测量离散的颗粒，并可通过粒径分布函数（静态光散射），或样品图像（动态光散射）等选项来确定颗粒尺寸的分布情况。

本文将针对微纳粒度分析仪的特点进行详细介绍。

特点精确测量微纳粒度分析仪采用先进的激光技术，能够以非常高的精度进行颗粒尺寸的测量。

因为激光聚焦到非常小的点，可以用于测量聚集的和单个的颗粒，能够对样本中的颗粒进行精确的分析和检测，并得到非常准确的颗粒尺寸和分布数据。

自动操作微纳粒度分析仪具有良好的自动化操作性能，颗粒分析过程完全自动进行，节省了操作人员的时间和精力。

样品只需要放入到仪器中，并设置参数，然后点击开始测量即可。

此外，微纳粒度分析仪还可以进行连续的样品测量，节省时间和成本。

多功能性微纳粒度分析仪具有多种不同的功能，既可以进行颗粒尺寸测量，也可以进行颗粒形态、聚合状态等多种分析。

相比较其它的测量技术，微纳粒度分析仪几乎可以分析所有类型的颗粒，并获得非常详细的分析数据。

快速测量微纳粒度分析仪具有快速测量的特点，测量时间通常只需要数秒钟到数十秒钟的时间。

这一点与传统的颗粒测量方法相比有显着优势，更加适合在实验室和生产线等地方进行应用。

分布规律分析微纳粒度分析仪不仅可以被用来测量颗粒的大小，还可以用来分析颗粒的分布规律。

通过分析样本中颗粒的数量分布以及其相对分布，可以对样品的物理、化学和生物特征进行分析和研究，更深入地了解样本的性质。

不受样本特性限制由于微纳粒度分析仪具有高精准度、高灵敏度和广泛的线性测量范围等特点，能够对各种粉末、液体、乳液、胶体、生物材料等样品进行尺寸分析，不受其性状和浓度等特性的限制，在工业生产、医药和化学领域都有广泛的应用价值。

总结通过以上介绍，我们可以看出微纳粒度分析仪是一种功能强大、使用方便、精确准确的仪器设备，能够在各个领域中为科研人员和工业生产厂家提供优质的颗粒尺寸分析服务。

粒度测定仪现在的应用着实很广泛，在金属粉体、工业矿物、陶瓷、玻璃珠、电池、油气、化工、涂料/颜料、制药、涂层、水泥、3D打印等等行业都有应用，所以很多人对干法、湿法等说法就迷了，选仪器做检测都是问题。

那本文就简单介绍一下粉末粒度测定仪的特点，并对其应用领域做个简要说明。

粉末粒度测定仪主要就是用来检测粉末颗粒大小及分布的仪器，它的特点因为型号不同各有差异，这里以Microtrac的粒度测定仪为例进行简单介绍。

1.该款仪器集静态激光衍射技术与动态图像于一体，可以实现同一仪器、同一样品、一次进样，同时得到粒径粒形结果，为用户提供比以往更多的颗粒粒子的信息；2.插拔式设计，可以进行干湿法转换，在测粉末粒度测定时候还可以进行湿法测定；3.多种激光设计，为不同需求的用户提供了不同的测量范围，给予了相对高的准确度；4.固定位置的固体激光器无需预热，开机即用，使用寿命长；5.傅利叶光路的设计确保激光的入射角度恒定不变；6.整个管路设计符合流体力学设计，无死角，只要加进去的样品都能被检测到；7.Flex软件非常容易使用，上手操作很快，简单易学；8.强大的报告功能提供了大量的粒度和粒形数据的信息等。

粉末粒度测定是粉末性能测定的一个重要方面，由于颗粒形状的复杂性和粒度范围的扩大，特别是超细粉末的应用使得准确而方便的定粒度变得很困难。

所以在仪器的选择上要格外注意，一定要选择信得过的公司来采购。

至于粉末粒度测定仪的应用范围，主要还是在粉体物质的检测方面，比如金属粉末等。

这类检测对仪器的要求没有干湿同步进行的要求那么高，也更能有针对性。

不过虽说仪器的选择范围更小，不用那么纠结，但还是要选择一家各方面都很不错的公司做支撑，不然买来仪器测试结果不好，浪费的还是公司自己的资源。

这边给大家推荐的是大昌洋行，这是一家致力于帮助其他公司和品牌拓展在消费品、医药保健、特色原料、科技事业领域的业务。

服务范围包括采购、市场研究与分析、市场营销与销售、配送与物流以及售后服务，在行业内也有相当口碑，整体而言还是很不错的。

麦奇克有限公司（Microtrac Inc.）是世界上著名的激光应用技术研究和制造厂商，其先进的激光粒度分析仪已广泛应用于水泥，磨料，冶金，制药，石油，石化，陶瓷，军工等领域，并成为众多行业指定的质量检测和控制的分析仪器。

Microtrac Inc.公司非常注重技术创新，近半个世纪以来，一直领先着激光粒度分析的前沿技术，可靠的产品和强大的应用支持及完善的售后服务，使得其不断超越自我，推陈出新，独领风骚。

其麾下所有产品均已通过ISO9001质量标准认证，GMP标准认证，欧洲EMC标准认证。

当用激光衍射法进行湿法还是干法测量的同时也可以用高速相机进行拍照，测试结数据将被通过Flex软件采集并呈现给用户颗粒大小和形态的信息。

Flex软件功能非常强大，用户界面也非常直观和非常容易使用。

和以前只有激光衍射法测量颗粒大小的仪器相比，Sync能够让用户得到关于他们材料的更多详细信息。

除了激光衍射技术的粒度分布以外，还整合了动态图像分析技术的一些关键特点：- 提供粒度和粒形的图表和表格报告形式；- X和Y轴可以选择任意参数显示每个颗粒的位置；- 测量过程或调用以前的图像文件中可以实现颗粒的实时可视化；- 提供多于30种大小和形态的参数；- 可以检查和搜索提供单个颗粒；- 搜索和过滤功能使您可以在感兴趣的区域进行搜索您想要的颗粒；- 创新的激光衍射技术和动态图像分析技术混合特性提供了精确的粒度分布，并使测量上限拓展至4000um；目前激光粒度测定仪主要应用领域：金属粉体、工业矿物、陶瓷、玻璃珠、电池、油气、化工、涂料/颜料、制药、涂层、水泥、3D打印等等。

Microtrac Inc.公司致力于与全球各地的代理商精诚合作，国内大昌洋行集团就是其合作商，大昌洋行是一家专注于亚洲地区，在市场拓展服务领域处于领先地位的集团。

大昌洋行致力于帮助其他公司和品牌拓展在消费品、医药保健、特色原料、科技事业领域的业务。

大昌洋行的服务范围包括采购、市场研究与分析、市场营销与销售、配送与物流以及售后服务。

随着科研事业的发展进步，科研工作者们对于颗粒粒度的测量数据需要的更加精细，测量难度愈发增大。

Microtrac zeta电位粒度仪是一款融纳米颗粒粒度分布与Zeta电位测量于一体，无需传统的比色皿，一次进样即可获得准确的粒度分布和Zeta电位分析数据，深受很多科研工作者喜爱。

下面我将仔细为大家介绍一下Microtrac zeta电位粒度仪怎么样，以及Microtrac zeta电位粒度仪有哪些特点。

Microtrac zeta电位粒度仪在市场上口碑很好，它是由知名的激光应用技术研究和制造厂商美国麦奇克有限公司（Microtrac Inc.）研究制造的，麦奇克有限公司（Microtrac Inc.）以其在激光衍射/散射技术和颗粒表征方面的独到见解，经过多年的市场调研和潜心研究，开发出新一代Nanotrac wave II微电场分析技术，融纳米颗粒粒度分布与Zeta电位测量于一体，无需传统的比色皿，一次进样即可获得准确的粒度分布和Zeta电位分析数据。

与传统的Zeta电位分析技术相比，Nanotrac wave II采用先进的“Y”型光纤探针光路设计，操作简单，测量迅速，无需准确定位，由于电泳和电滲等效应导致的静止层，无需外加大功率电场，无需更换分别用于测量粒度和Zeta电位的样品池，完全消除由于空间位阻（不同光学元器件间的传输损失，比色皿器壁的折射和污染，比色皿位置的差异，分散介质的影响，颗粒间多重散射等）带来的光学信号的损失，结果准确可靠，重现性好。

Nanotrac wave II的“Y”型光纤光路系统，通过蓝宝石测量窗口，直接测量悬浮体系中的颗粒粒度分布，在加载电流的情况下，与膜电极对应产生微电场，测量同一体系的Zeta电位，避免样品交叉污染与浓度变化。

它的异相多谱勒频移技术，较之传统的方法，获得光信号强度高出几个数量级，提高分析结果的可靠性。

它的可控参比方法（CRM），能精细分析多谱勒频移产生的能谱，确保分析的灵敏度。