发明名称:垂直式弹性探针及附压力感测器之晶圆级垂直式针...
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探针分类一、探针根据电子测试用途可分为三类:A、光电路板测试探针:未安装元器件前的电路板测试和只检测开路、短路探针;B、在线测试探针:PCB线路板安装元器件后的检测探针;C、微电子测试探针:即晶圆测试或芯片IC检测探针。
二、探针主要类型:悬臂探针和垂直探针。
悬臂探针:劈刀型(Blade Type)和环氧树脂型(Epoxy Type)垂直探针:垂直型(Vertical Type),而垂直型探针又可划分为以下十类:1.ICT探针(ICT series Probes)一般直径在2.54mm-0.61mm之间,业内称呼100mil,75mil,50mil,39mil,其中德佳宝电子统称为137系列(100mil)、102系列(75mil)、078系列(50mil)、061系列(39mil).还有直径只有0.19mm,主要用于在线电路(ICT测试)和功能(FCT测试)测试.2.界面探针(Interface Probes)非标准的探针,一般是为少数做大型测试机台的客户定做的,用于测试机台与测试夹具的接触点和面.3.微型探针(MicroSeries Probes)两个测试点中心间距一般为0.25mm至0.76mm.4.开关探针(Switch Probes)开关探针单独一支探针有两路电流.5.高频探针(Coaxial Probes)用于测试高频信号,有带屏蔽圈的可测试10GHz以内的和500MHz不带屏蔽圈的.6.旋转探针(Rotator Probes)弹力一般不高,因为其穿透性本来就很强,一般用于OSP处理过的PCBA测试.7.高电流探针(High Current Probes)探针直径在2.54mm-4.75mm之间.最大的测试电流可达39amps.8.半导体探针(Semiconductor Probes)直径一般在0.50mm-1.27mm之间.带宽大于10GHz,50Ω characteristic9.电池接触探针(Battery and Connector Contacts)一般用于优化接触效果,稳定性好和寿命长.10.汽车线束测试测试探针专业用于汽车线束通断检测,直径在1.0--3.5mm之间,电流在3----50A除以上类型外还有温度探针,Kelvin探针等,比较少用.。
探针分类一、探针根据电子测试用途可分为三类:A、光电路板测试探针:未安装元器件前的电路板测试和只检测开路、短路探针;B、在线测试探针:PCB线路板安装元器件后的检测探针;C、微电子测试探针:即晶圆测试或芯片IC检测探针。
二、探针主要类型:悬臂探针和垂直探针。
悬臂探针:劈刀型(Blade Type)和环氧树脂型(Epoxy Type)垂直探针:垂直型(Vertical Type),而垂直型探针又可划分为以下十类:1.ICT探针(ICT series Probes)一般直径在2.54mm-0.61mm之间,业内称呼100mil,75mil,50mil,39mil,其中德佳宝电子统称为137系列(100mil)、102系列(75mil)、078系列(50mil)、061系列(39mil).还有直径只有0.19mm,主要用于在线电路(ICT测试)和功能(FCT测试)测试.2.界面探针(Interface Probes)非标准的探针,一般是为少数做大型测试机台的客户定做的,用于测试机台与测试夹具的接触点和面.3.微型探针(MicroSeries Probes) 两个测试点中心间距一般为0.25mm至0.76mm.4.开关探针(Switch Probes) 开关探针单独一支探针有两路电流.5.高频探针(Coaxial Probes)用于测试高频信号,有带屏蔽圈的可测试10GHz以内的和500MHz不带屏蔽圈的.6.旋转探针(Rotator Probes)弹力一般不高,因为其穿透性本来就很强,一般用于OSP处理过的PCBA测试.7.高电流探针(High Current Probes)探针直径在2.54mm-4.75mm之间.最大的测试电流可达39amps.8.半导体探针(Semiconductor Probes)直径一般在0.50mm-1.27mm之间.带宽大于10GHz,50Ω characteristic9.电池接触探针(Battery and Connector Contacts)一般用于优化接触效果,稳定性好和寿命长.10.汽车线束测试测试探针专业用于汽车线束通断检测,直径在1.0--3.5mm之间,电流在3----50A除以上类型外还有温度探针,Kelvin探针等,比较少用.年代重要事件1838年底道光皇帝任命林则徐为钦差大臣,前往广东禁烟1839年6月林则徐虎门销烟1840年6月英军发动鸦片战争1842年8月清政府与英国签订《南京条约》:1)中国割让香港岛给英国;2)赔款洋银2100万元;3)开放广州、厦门、福州、宁波、上海五处为通商口岸;4)中国进出口货物的关税税率须与英国协商。
[19]中华人民共和国国家知识产权局[12]发明专利申请公布说明书[11]公开号CN 1979178A [43]公开日2007年6月13日[21]申请号200510111290.8[22]申请日2005.12.08[21]申请号200510111290.8[71]申请人上海华虹NEC电子有限公司地址201206上海市浦东新区川桥路1188号[72]发明人武建宏 [74]专利代理机构上海浦一知识产权代理有限公司代理人丁纪铁[51]Int.CI.G01R 1/073 (2006.01)G01R 31/28 (2006.01)权利要求书 1 页 说明书 3 页 附图 2 页[54]发明名称垂直探针卡制作方法[57]摘要本发明公开了一种垂直探针卡制作方法,首先,根据垂直探针卡中探针之间最小的间距和芯片的大小,在做版图时进行网格式的划分,每一个新产品的各个PAD都放在网格的中心;然后,在垂直探针卡上按网格的大小进行排针形成一个点阵式的探针卡,通过选择探针卡点阵上的针来适用于不同的产品。
200510111290.8权 利 要 求 书第1/1页 1、一种垂直探针卡制作方法,其特征在于:首先,根据垂直探针卡中探针之间最小的间距和芯片的大小,在做版图时进行网格式的划分,每一个新产品的各个PAD都放在网格的中心;然后,在垂直探针卡上按网格的大小进行排针形成一个点阵式的探针卡,通过选择探针卡点阵上的针来适用于不同的产品。
2、如权利要求1所述的垂直探针卡制作方法,其特征在于:所述网格可以划分为正方形或正六边形。
200510111290.8说 明 书第1/3页垂直探针卡制作方法技术领域本发明涉及一种大规模集成电路测试中使用的垂直探针卡制作方法。
背景技术现有的垂直探针卡结构如图1所示,事先按产品PAD(用于芯片输入/输出引线或测试时扎针用的做在芯片上的金属垫片)的坐标在定位板B3上打孔,将探针通过PCB(印刷电路板)板8放入定位板B3,然后从探针的下面将打好孔的定位板A1安装上去,将探针弯折部分放在定位板A1与定位板B3之间,最后用树脂将各个探针固定。
(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)实用新型专利(10)授权公告号 (45)授权公告日 (21)申请号 202121334736.4(22)申请日 2021.06.16(73)专利权人 深圳市道格特科技有限公司地址 518000 广东省深圳市龙华新区龙华街道清祥路宝能科技园6栋B座3楼KLM单位(72)发明人 孙锐锋 刘志广 刘俊 (74)专利代理机构 深圳市中科创为专利代理有限公司 44384代理人 彭西洋 谭雪婷(51)Int.Cl.G01R 1/04(2006.01)G01R 31/28(2006.01)(54)实用新型名称一种Cobra垂直探针卡(57)摘要本实用新型涉及探针卡技术领域,公开了一种Cobra垂直探针卡,通过补强板可拆卸的设置于PCB板的上端壁的中间,转线板可拆卸的设置于PCB板的下端壁上,转线板的上端壁凸设有一限位凸起,限位凸起的上端壁凹设有一凹槽,测试探针的上端部均分别穿设于通孔设置,补强板和PCB板的上端壁相对的凹设有一通槽,限位凸起嵌设于通槽内,把手分别与防护盖固定连接,把手的两端分别与PCB板可拆卸固定连接,防护盖盖设于补强板的上方,防护盖对探针起到良好的保护作用,避免探针卡在移动过程中出现探针被碰伤的问题,有效延长了探针卡的使用寿命,且结构简单,装配方便快捷,装配牢固可靠,有效提高了探针卡的装配效率和可靠性,实用性强。
权利要求书1页 说明书4页 附图3页CN 215728264 U 2022.02.01C N 215728264U1.一种Cobra垂直探针卡,其特征在于,包括PCB板、补强板、转线板、探针固定板、测试探针、防护盖以及把手,所述补强板可拆卸的设置于所述PCB板的上端壁的中间,所述转线板可拆卸的设置于所述PCB板的下端壁上,所述探针固定板的下端壁凹设有多个插接孔,所述测试探针分别嵌设于所述插接孔内设置,所述转线板的上端壁凸设有一限位凸起,所述限位凸起的上端壁凹设有一凹槽,所述凹槽的底部凹设有多个与所述插接孔相对应的通孔,所述转线板的下端壁与所述探针固定板的上端壁抵接设置,且所述测试探针的上端部均分别穿设于所述通孔设置,所述补强板和PCB板的上端壁相对的凹设有一通槽,所述限位凸起嵌设于所述通槽内设置,所述把手均呈U型结构设置,所述把手的上部的中间分别与所述防护盖的两侧固定连接,所述把手的两端分别通过螺钉与所述PCB板的上端壁可拆卸固定连接,且所述防护盖盖设于所述补强板的上方设置。