常见元器件失效方法

物理实验中常见的电路故障排除技巧电路故障排除是物理实验中的常见问题，而正确的排除方法可以帮助我们有效地解决问题并获得准确的实验数据。

本文将介绍一些物理实验中常见的电路故障，并提供一些排除技巧。

一、连接故障连接故障指的是电路中连接不良或断开导致的问题。

例如，电线松动、插头没有插好、电路开关未打开等。

为了解决连接故障，我们可以采取以下措施：1.检查电线连接是否紧固，确保插头牢固连接。

2.检查电路开关是否打开，确保电路通行。

3.使用电路测试仪器检测电流是否正常通过电路。

二、元器件失效元器件失效是指电路中某个元器件损坏或工作不正常导致的问题。

常见的元器件包括电阻、电容、电感等。

为了解决元器件失效问题，我们可以采取以下方法：1.使用万用表测量元器件的电阻、电容、电感等数值，确保元器件正常工作。

2.更换故障元器件，选择具有相同规格和参数的元器件进行替换。

三、接地问题接地问题是一个常见但容易忽略的故障原因。

在实验中，接地的好坏将直接影响到电路的稳定性和准确性。

为了排除接地问题，我们可以采取以下方法：1.确保实验仪器和电路正确接地。

2.检查接地线路，确保接地线路连接良好，没有松动或腐蚀等问题。

3.使用接地测试仪器检测接地电阻，确保接地电阻符合要求。

四、电源问题电源问题是另一个常见的电路故障。

电源的稳定性和准确性对于实验结果的准确性非常重要。

为了解决电源问题，我们可以采取以下方法：1.检查电源线路，确保电源线路连接正确，没有损坏。

2.检查电源电压是否符合实验要求，确保电压稳定。

3.使用电源测试仪器检测电源的电压和电流输出情况，确保电源工作正常。

总结：在物理实验中，电路故障排除是一项重要的任务。

我们在排除电路故障时，首先要注意连接是否良好，其次要检查元器件是否工作正常，还要考虑接地和电源等因素对电路的影响。

通过以上提到的方法和技巧，我们可以更好地解决电路故障，确保实验的顺利进行，最终获得准确可靠的实验数据。

细叙各类电子元器件的失效模式与机理
电子元器件的主要失效模式包括但不限于开路、短路、烧毁、爆炸、漏电、功能失效、电参数漂移、非稳定失效等。

对于硬件工程师来讲电子元器件失效是个非常麻烦的事情，比如某个半导体器件外表完好但实际上已经半失效或者全失效会在硬件电路调试上花费大把的时间，有时甚至炸机。

硬件工程师调试爆炸现场
所以掌握各类电子元器件的实效机理与特性是硬件工程师比不可少的知识。

下面分类细叙一下各类电子元器件的失效模式与机理。

电阻器失效模式与机理失效模式：各种失效的现象及其表现的形式。

失效机理：是导致失效的物理、化学、热力学或其他过程。

1、电阻器的主要失效模式与失效机理为1) 开路：主要失效机理为电阻膜烧毁或大面积脱落，基体断裂，引线帽与电阻体脱落。

2) 阻值漂移超规范：电阻膜有缺陷或退化，基体有可动钠离子，保护涂层不良。

3) 引线断裂：电阻体焊接工艺缺陷，焊点污染，引线机械应力损伤。

4) 短路：银的迁移，电晕放电。

2、失效模式占失效总比例表
(1)、线绕电阻
失效模式占失效总比例开路90%阻值漂移2%引线断裂7%其它1%
(2)、非线绕电阻
失效模式占失效总比例开路49%阻值漂移22%引线断裂17%其它7%
3、失效机理分析
电阻器失效机理是多方面的，工作条件或环境条件下所发生的各种理化过程是引起电阻器老化的原因。

(1)、导电材料的结构变化
薄膜电阻器的导电膜层一般用汽相淀积方法获得，在一定程度上存在无定型结构。

按热力。

常见的电子元器件失效机理与分析电子元器件的主要失效模式包括但不限于开路、短路、烧毁、爆炸、漏电、功能失效、电参数漂移、非稳定失效等。

对于硬件工程师来讲电子元器件失效是个非常麻烦的事情，比如某个半导体器件外表完好但实际上已经半失效或者全失效会在硬件电路调试上花费大把的时间，有时甚至炸机。

硬件工程师调试爆炸现场所以掌握各类电子元器件的实效机理与特性是硬件工程师比不可少的知识。

下面分类细叙一下各类电子元器件的失效模式与机理。

电阻器失效失效模式：各种失效的现象及其表现的形式。

失效机理：是导致失效的物理、化学、热力学或其他过程。

电阻器的失效模式与机理▶开路：主要失效机理为电阻膜烧毁或大面积脱落，基体断裂，引线帽与电阻体脱落。

▶阻值漂移超规范：电阻膜有缺陷或退化，基体有可动钠离子，保护涂层不良。

▶引线断裂：电阻体焊接工艺缺陷，焊点污染，引线机械应力损伤。

▶短路：银的迁移，电晕放电。

失效模式占失效总比例表▶线绕电阻：▶非线绕电阻：失效模式机理分析电阻器失效机理是多方面的，工作条件或环境条件下所发生的各种理化过程是引起电阻器老化的原因。

▶导电材料的结构变化：薄膜电阻器的导电膜层一般用汽相淀积方法获得，在一定程度上存在无定型结构。

按热力学观点，无定型结构均有结晶化趋势。

在工作条件或环境条件下，导电膜层中的无定型结构均以一定的速度趋向结晶化，也即导电材料内部结构趋于致密化，能常会引起电阻值的下降。

结晶化速度随温度升高而加快。

电阻线或电阻膜在制备过程中都会承受机械应力，使其内部结构发生畸变，线径愈小或膜层愈薄，应力影响愈显著。

一般可采用热处理方法消除内应力，残余内应力则可能在长时间使用过程中逐步消除，电阻器的阻值则可能因此发生变化。

结晶化过程和内应力清除过程均随时间推移而减缓，但不可能在电阻器使用期间终止。

可以认为在电阻器工作期内这两个过程以近似恒定的速度进行。

与它们有关的阻值变化约占原阻值的千分之几。

电负荷高温老化：任何情况，电负荷均会加速电阻器老化进程，并且电负荷对加速电阻器老化的作用比升高温度的加速老化后果更显著，原因是电阻体与引线帽接触部分的温升超过了电阻体的平均温升。

电子元器件失效分析技术与失效分析经典案例案例1 器件内部缺陷——导致整机批次性失效失效信息：整机是磁盘驱动器，制造过程整机的次品率正常为300ppm，某时起发现次品率波动，次品原因是霍尔器件极间漏电、短路。

图1 引出电极金属化（金）边缘脱落跨接图片析说明：引出电极金属化边两电极之间，在电压作用下漏电、击穿。

案例电极边缘脱落，跨接两电极引起电极之间漏电短路分缘有残边，残边在注塑时被冲开而跨接于这是器件的工艺缺陷，这种缺陷具有批次性的特征，该批器件在使用过程中失效率大，寿命短。

2：静电放电损伤失效图2 射频器件静电击穿照片（金相）图3 数字IC静电击穿照片SEM）分析说明：静电放电击穿典型的特征是能量小、线径小，飞狐、喷射。

主要发生在射频、能量释放时间短，其失效特征是击穿点微波器件，场效应器件、光电器件也常有静电放电击穿的案例。

案例3：外部引入异常电压引起通讯IC 输失效信息：分析说明：通讯芯片通讯端口上的传输线容易引入干扰电压（窄脉冲浪涌），干扰电压多次对通讯案例电流能力下降引起整机失效率异常增大某时起整机的市场维修率异常增大，维修增大是整机中的IGBT 功率器件失效引起的。

另外集成电路、出驱动失效通讯芯片在现场使用时发生失效，表现为通讯端口对地短路。

图4 通讯IC 输出管形貌（SEM ）图5 输出管电压击穿形貌（SEM ）IC 的通讯端内部电路起损伤作用，最终形成击穿通道。

4：功率器件失效信息：图6 IGBT 芯片呈现过电流失效特征图7 原来IGBT 的内部结构析说明：效样品表现为过电流失效。

整机维修率异常增大发生时更改IGBT 的型号。

IBGT 制造厂家给出新330W ，原来型号的IGBT 的功率指标为，其它指标没有变化。

两只芯片，多了一只反向释放二极管，两个型号的IGBT 芯片的面积一样大，显然，下降，因此，新型号的IGBT 的电流能分失型号的IGBT 的功率指标比为175W 但新型号的IGBT 内部结构（图6）仅有一只芯片，而原来型号的IGBT 有新型号的IGBT 的芯片要有部分面积来完成反向释放二极管的作用，由于IGBT 芯片有效面积的减小，导致其电流能力力不如原来型号的IGBT ，整机中IGBT 的工作电流比较临界，因此，使用过程中由于电流问题的发生大量失效。

电子元器件失效分析技术与案例费庆学二站开始使用电子器件当时电子元器件的寿命20h.American from 1959 开始：1。

可靠性评价，预估产品寿命2。

可靠性增长。

不一定知道产品寿命，通过方法延长寿命。

通过恶裂环境的试验。

通过改进提高寿命。

―――后来叫a.可靠性物理—实效分析的实例 b.可靠数学第一部分：电子元器件失效分析技术（方法）1．失效分析的基本的概念和一般程序。

A 定义：对电子元器件的失效的原因的诊断过程b.目的：0000000c．失效模式――》失效结果――》失效的表现形式――》通过电测的形式取得d．失效机理：失效的物理化学根源――》失效的原因1）开路的可能失效机理日本的失效机理分类：变形变质外来异物很多的芯片都有保护电路，保护电路很多都是由二极管组成正反向都不通为内部断开。

漏电和短路的可能的失效机理接触面积越小，电流密度就大，就会发热，而烧毁例：人造卫星的发射，因工人误操作装螺丝时掉了一个渣于继电器局部缺陷导致电流易集中导入产生热击穿（si 和al 互熔成为合金合金熔点更低）塑封器件烘烤效果好当开封后特性变好，说明器件受潮或有杂质失效机理环境应力：温度温度过低易使焊锡脆化而导致焊点脱落。

，2．失效机理的内容I失效模式与环境应力的关系任何产品都有一定的应力。

a当应力>强度就会失效如过电/静电：外加电压超过产品本身的额定值会失效b应力与时间应力虽没有超过额定值，但持续累计的发生故：如何增强强度&减少应力能延长产品的寿命c.一切正常，正常的应力，在时间的累计下，终止寿命特性随时间存在变化e机械应力如主板受热变形对零件的应力认为用力塑封的抗振动好应力好陶瓷的差。

f重复应力如：冷热冲击是很好的零件筛选方法重复应力易导致产品老化，存在不可靠性故使用其器件：不要过载；温湿度要适当II如何做失效分析例：一个EPROM在使用后不能读写1)先不要相信委托人的话，一定要复判。

2)快始失效分析：取NG&OK品，DataSheet，查找电源断地开始测试首先做待机电流测试（IV测试）电源对地的待机电流下降开封发现电源端线中间断（因为中间散热慢，两端散热快，有端子帮助散热）因为断开，相当于并联电阻少了一个电阻，电流减小。

电子元器件失效分析第一篇：电子元器件失效分析电子元器件失效分析1.失效分析的目的和意义电子元件失效分折的目的是借助各种测试分析技术和分析程序确认电子元器件的失效现象.分辨其失效模式和失效机理.确定其最终的失效原因，提出改进设计和制造工艺的建议。

防止失效的重复出现，提高元器件可靠性。

失效分折是产品可靠性工程的一个重要组成部分，失效分析广泛应用于确定研制生产过程中产生问题的原因，鉴别测试过程中与可靠性相关的失效，确认使用过程中的现场失效机理。

在电子元器件的研制阶段。

失效分折可纠正设计和研制中的错误，缩短研制周期；在电子器件的生产，测试和试用阶段，失效分析可找出电子元器件的失效原因和引起电子元件失效的责任方。

根据失效分析结果。

元器件生产厂改进器件的设计和生产工艺。

元器件使用方改进电路板设汁。

改进元器件和整机的测试，试验条件及程序，甚至以此更换不合格的元器件供货商。

因而，失效分析对加快电子元器件的研制速度.提高器件和整机的成品率和可靠性有重要意义。

失效分折对元器件的生产和使用都有重要的意义.如图所列。

元器件的失效可能发生在其生命周期的各个阶段.发生在产品研制阶段，生产阶段到使用阶段的各个环节，通过分析工艺废次品，早期失效，实验失效及现场失效的失效产品明确失效模式、分折失效机理，最终找出失效原因，因此元器件的使用方在元器件的选择、整机计划等方面，元器件生产方在产品的可靠性方案设计过程，都必须参考失效分折的结果。

通过失效分折，可鉴别失效模式，弄清失效机理，提出改进措施，并反馈到使用、生产中，将提高元器件和设备的可靠性。

2.失效分析的基本内容对电子元器件失效机理，原因的诊断过程叫失效分析。

进行失效分析往往需要进行电测量并采用先进的物理、冶金及化学的分析手段。

失效分析的任务是确定失效模式和失效机理.提出纠正措施，防止这种失效模式和失效机理的重复出现。

因此，失效分析的主要内容包括：明确分析对象。

确定失效模式，判断失效原因，研究失效机理，提出预防措施（包括设计改进)。

电子行业电子元器件失效分析1. 引言电子行业是现代社会中不可或缺的重要组成部分。

然而，在电子产品的生产、使用以及维护过程中，电子元器件的失效问题时常出现。

电子元器件失效可能导致设备故障、数据损失甚至人身安全等严重后果。

因此，深入分析电子元器件失效的原因和机理对于提高电子产品的可靠性和稳定性具有重要意义。

本文将对电子行业中常见的电子元器件失效进行分析，包括失效的类型、原因和常见的预防和修复措施。

本文旨在帮助读者更好地理解电子元器件失效并提供一些解决方案。

2. 失效类型电子元器件失效可以分为以下几种类型：2.1 电气失效电气失效是指电子元器件在使用过程中由于电气参数超过规定范围或电压电流过大而发生的失效。

常见的电气失效包括过电压、过电流、电磁干扰等。

2.2 机械失效机械失效是指电子元器件在使用过程中由于机械应力超过其承受能力而发生的失效。

常见的机械失效包括振动引起的松动、机械损伤等。

2.3 热失效热失效是指电子元器件在使用过程中由于温度过高或过低导致的失效。

温度变化会导致元器件内部的电子结构破坏或金属膨胀引起松动等问题。

2.4 化学失效化学失效是指电子元器件在使用过程中由于化学物质的侵蚀、氧化等引起的失效。

常见的化学失效包括腐蚀、电化学腐蚀等。

3. 失效原因电子元器件失效的原因多种多样，以下是常见的几个原因：3.1 原材料问题一些电子元器件可能因为原材料的质量或制造工艺的问题而导致失效。

例如，使用劣质的焊料可能导致焊接点松动，从而引起电气失效。

3.2 环境因素环境因素对电子元器件的稳定性和可靠性产生重要影响。

例如，高温、湿度、腐蚀性气体等环境条件都可能引起电子元器件失效。

3.3 设计问题一些电子元器件在设计阶段存在问题，例如电路设计不合理、过度设计等，都可能导致电子元器件失效。

3.4 维护不当不当的维护方式也是电子元器件失效的一个重要原因。

例如，使用不适当的清洁剂可能对元器件表面造成损害，从而引起电气失效。

元器件的失效物理模型一、引言元器件作为电子设备的重要组成部分，其正常运行对于整个系统的稳定性和可靠性至关重要。

然而，由于各种原因，元器件可能会发生失效，导致设备无法正常工作。

本文将从物理角度探讨元器件失效的原因和模型。

二、热失效模型热失效是元器件失效的常见原因之一。

当元器件长时间处于高温环境下工作时，其内部元件可能会受到热应力的影响，导致元器件性能下降甚至失效。

这种热失效主要是由于材料的热膨胀系数不同以及热扩散不均匀引起的。

三、机械失效模型机械失效是元器件失效的另一个常见原因。

当元器件受到机械应力的作用时，其内部的结构可能会发生变形或破裂，导致性能下降或完全失效。

机械失效主要包括应力过大、疲劳破裂、震动引起的断裂等。

四、电磁失效模型电磁失效是元器件失效的重要原因之一。

当元器件长时间受到电磁场的作用时，其内部的电子结构可能会发生改变，导致性能下降或失效。

电磁失效主要包括电磁辐射引起的电磁干扰、电磁感应引起的故障等。

五、化学失效模型化学失效是元器件失效的特殊原因之一。

当元器件受到化学物质的腐蚀或污染时，其内部的材料可能会发生化学反应或变化，导致性能下降或失效。

化学失效主要包括氧化、腐蚀、污染等。

六、结论元器件的失效物理模型主要包括热失效、机械失效、电磁失效和化学失效。

这些模型揭示了元器件失效的原因和机制，为我们预防和解决元器件失效问题提供了理论基础。

通过深入研究和理解这些模型，我们可以提高元器件的可靠性和稳定性，保证电子设备的正常运行。

通过以上的描述，我们可以清晰地了解到元器件失效的物理模型，从而更好地理解元器件失效的原因和机制，为预防和解决元器件失效问题提供理论支持。

因此，只有深入研究和理解这些模型，并采取相应的措施，我们才能提高元器件的可靠性和稳定性，保证电子设备的正常运行。

元器件失效标准
元器件失效标准因元器件类型和应用领域而异，但通常会涉及到以下几个方面：
1. 功能失效：元器件无法实现其规定的功能，例如，晶体管无法导通或截止，电容器无法存储电荷等。

2. 性能失效：元器件的性能参数超出规定的范围，例如，电阻器的阻值偏差过大，电容器的容量偏差过大等。

3. 结构失效：元器件的物理结构受到损坏，例如，机械振动导致连接器松动或脱落，焊接点断裂等。

4. 环境适应性失效：元器件无法适应环境条件，例如，温度过高或过低导致性能下降或失效，湿度过高导致金属氧化等。

对于不同的元器件类型和应用领域，具体的失效标准可能会有所不同。

一般来说，元器件的失效标准是根据其规格书或技术规范中规定的性能参数、环境条件和可靠性要求来确定的。

因此，在确定元器件失效标准时，需要参考相关的技术规范和可靠性工程实践。