用磁控溅射制备薄膜材料的概述
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磁控溅射的名词解释磁控溅射是一种现代先进的薄膜制备技术,它利用离子化的金属原子或分子沉积在材料表面形成均匀而致密的薄膜。
这项技术的应用领域广泛,包括电子元件、太阳能电池、显示器、传感器等,具有优异的薄膜质量和高度可控的成膜过程。
磁控溅射的工艺过程如下:首先,将待沉积的金属或合金样品(称为目标材料)放置在真空室中,并设定适当的工艺参数,如沉积速率、温度等。
然后,通过将真空室抽成一定的真空度,以便在真空中进行溅射。
接下来,施加一定强度的磁场,并在目标素材表面附近放置一个靶极。
这样,当氩离子加速到一定能量后,撞击目标材料表面,使得它释放出离子化的金属原子或分子。
最后,这些离子化的金属原子在磁场的作用下,被引导到基板材料表面,形成一层薄膜。
磁控溅射的独特之处在于其高度可控的薄膜成膜过程。
通过调节工艺参数,例如沉积时间、温度、压力和靶极材料等,可以获得不同的薄膜性质,如厚度、硬度、晶粒度等。
此外,磁场的存在使得目标材料释放出的离子在沉积过程中更易定向,使薄膜成膜更加均匀。
这种可控性不仅能够满足各种应用需求,还可以优化薄膜的功能和性能。
磁控溅射技术具有重要意义的一个方面是其在电子工业中的广泛应用。
在集成电路和芯片制造过程中,磁控溅射可以制备金属导线、电极和隔离层等薄膜元件,用于电路的连接和保护。
此外,磁控溅射还可以制备透明导电膜,用于触摸屏、液晶显示器和光伏电池等光电器件。
这些应用不仅要求薄膜成膜的高质量和可控性,还需要满足特定的电学、光学和机械性能标准。
在太阳能电池领域,磁控溅射可以利用其高度可控的薄膜成膜技术制备多层结构的太阳能电池薄膜。
这种薄膜可以有效吸收和转换太阳光的能量,并将其转化为电能。
磁控溅射技术的应用使得太阳能电池具有更高的光电转换效率和更长的寿命,为可再生能源的发展提供了有力支持。
磁控溅射技术也在光学镀膜领域得到广泛应用。
通过沉积抗反射膜、反射膜和分光镜片等薄膜,可以优化光的传输和反射等特性,提高光学设备的性能和效率。
磁控溅射对薄膜附着力的影响概述及解释说明1. 引言1.1 概述随着科学技术的不断发展,薄膜材料的制备和应用在各个领域中起到了至关重要的作用。
而通过磁控溅射技术来制备薄膜已经成为一种常见且有效的方法。
然而,薄膜的附着力是影响其性能和稳定性的关键因素之一。
因此,深入研究磁控溅射对薄膜附着力的影响机理以及优化策略具有重要意义。
1.2 文章结构本文将围绕磁控溅射技术对薄膜附着力的影响进行系统论述,并结合实验验证和数据分析,解释结果差异的原因。
具体而言,本文分为五个主要部分:引言、磁控溅射技术概述、影响薄膜附着力的因素分析、实验验证与数据分析以及结论与展望。
1.3 目的本文旨在全面阐明磁控溅射技术对于薄膜附着力方面所产生的影响,并深入探讨影响因素的机理。
通过实验验证和数据分析,我们将尽力揭示磁控溅射下薄膜附着力变化的规律,并提出优化策略。
最终,期望为相关领域的科研工作者提供有益的参考和指导,推动薄膜制备技术在更广泛的应用中发挥更大的作用。
2. 磁控溅射技术概述:2.1 原理介绍:磁控溅射技术是一种常用的物理气相沉积技术,主要用于制备薄膜材料。
其原理是在真空条件下,通过施加外加磁场和高能粒子轰击靶材表面,使得靶材中的原子或分子离开靶面并沉积在衬底上形成薄膜。
利用这种方法可以制备出均匀、致密且具有优异性能的薄膜。
2.2 工艺参数与薄膜附着力关系研究:磁控溅射工艺的参数对最终薄膜的质量和性能有很大影响。
诸如气体种类、压力、功率、溅射时间等参数都会影响到溅射过程中产生的离子束特性以及靶材表面和溅射沉积层之间的相互作用。
在进行磁控溅射时,合适选择和调节这些工艺参数可以优化沉积层的结构和性能,并且提高薄膜附着力。
2.3 典型应用领域:磁控溅射技术在许多领域有广泛应用。
其中包括但不限于光电子器件、集成电路、光学薄膜、传感器和太阳能电池等。
这种技术可以制备具有高透明性、低反射率、优异导电性以及耐腐蚀性的材料,满足不同领域对薄膜材料的需求。
磁控溅射制备薄膜材料的研究及其发展摘要这篇文章简单的介绍了磁控溅射原理还有制备薄膜的应用举例,简述沉积工艺参数对薄膜附着能力的影响!通过回顾历史发展中各个关键的发现以及技术的更新改进,并根据现有的研究总结对未来展望一下。
关键词:磁控溅射应用沉积工艺历史总结展望前言溅射技术是物理气相沉积(pvd)的一种,作为薄膜材料制备的重要方法之一。
此项技术是利用了带电荷的粒子在电场中加速后具备一定动能,将离子引向想要溅射的物质材料做成的阴极靶电极,使靶材原子溅射出来让其沿着一定的方向运动到衬底并最后沉积于衬底之上形成成膜的方法。
而磁控溅射是指把磁控原理与一般溅射技术结合起来利用控制磁场的特殊分布进而控制电场中的电子运动,这样就改进了溅射的工艺。
如今,磁控溅射技术已经是沉积耐磨、装饰、耐腐蚀、光学等等其他各种各样功能薄膜的重要制作方法!格洛夫(Grove)在1852年研究发现阴极溅射的现象,溅射技术的发展由此开始。
在上世纪30年代开始采用磁控溅射沉积技术制取薄膜,不过采蒸镀的方式制取薄膜在上世纪70年代中期以前,要比采用磁控溅射方法运用的更多。
主要是溅射技术在那时初步发展,它的溅射的沉积率比较低,而且溅射的压强高。
溅射同时发展的蒸镀技术其镀膜速率比溅射镀膜高一个数量级,使得溅射镀膜技术生产销售处于不利位置。
美国贝尔实验室和西屋电气公司于1963年采用长度为10米的连续溅射镀膜装置,镀制集成电路中的钽膜时首次实现的。
在1974年,由J.Chapin发现了平衡磁控溅射后,使高速、低温溅射有了实质的应用,磁控溅射也更好的发展起来了。
3.原理磁控溅射的工作原理:电子在电场加速E的作用下,使之飞向基片时与氩原子接触碰撞,并使其电离产生出Ar正离子和新的电子;新电子飞向基片,Ar离子在电场作用下加速飞向阴极靶,并具备高能量去撞击靶表面,导致靶材发生溅射。
在溅射粒子中,中性的靶原子或分子沉积在基片上形成薄膜,而产生的二次电子会受到电场和磁场作用,产生E(电场)×B (磁场)所指的方向漂移,简称E×B漂移,其运动轨迹近似于一条摆线。
反应rf磁控溅射法制备氧化铝薄膜及其介电损耗【知识文章标题】:RF磁控溅射法制备氧化铝薄膜及其介电损耗研究【知识文章开头】:在现代科技应用中,氧化铝薄膜作为一种重要的电介质材料,广泛应用于电子器件、光学器件和能源领域。
而能够高效制备氧化铝薄膜并研究其介电损耗性能的方法对于实现更好的器件性能至关重要。
本文将介绍一种常见的制备氧化铝薄膜的方法——RF磁控溅射法,并探讨其制备过程以及介电损耗性能的研究进展。
【知识文章正文】:1. RF磁控溅射法简介1.1 原理和工艺RF磁控溅射法是一种通过高能量离子轰击靶材表面,使其材料溅射并在基底上沉积形成薄膜的方法。
其中,RF代表的是射频(Radio Frequency)磁场的作用,能够提供离子激发能量,促使靶材上的原子或分子以高速运动,从而溅射到基底表面。
溅射过程中,靶材材料会形成高温等离子体,通过气体的辅助,使离子在靶材和基底之间发生碰撞并沉积,最终形成氧化铝薄膜。
1.2 优势和应用RF磁控溅射法具有溅射速率高、薄膜致密性好、薄膜成分均匀等优点。
它也被广泛应用于氧化铝薄膜的制备,如集成电路、微电子器件、光纤器件、光学镀膜和电池等领域。
其高效的制备方法和优良的薄膜性能使得研究人员对其进行了广泛的研究。
2. 氧化铝薄膜制备与表征2.1 制备方法RF磁控溅射法制备氧化铝薄膜的关键步骤包括靶材选择、氧气流量控制、溅射功率调节以及工艺优化等。
靶材的选择对于薄膜性能至关重要,常见的靶材有纯氧化铝、铝合金等。
氧气流量的控制可以影响薄膜的氧化程度和致密性,适当的氧气流量可以提高薄膜的氧化性能。
溅射功率的调节决定了靶材离子轰击能量和溅射速率,适宜的溅射功率可以得到均匀致密的薄膜。
工艺优化则包括溅射时间、基底温度和气压等参数的选择,通过调节这些参数可以实现不同性质氧化铝薄膜的制备。
2.2 表征方法为了评估氧化铝薄膜的性能,研究人员通常采用多种表征技术进行分析。
一种常见的性能评估方法是X射线衍射(XRD)分析,可以确定薄膜的结晶性以及晶体结构。
实验一磁控溅射法制备薄膜材料一、实验目的1、详细掌握磁控溅射制备薄膜的原理和实验程序;2、制备出一种金属膜,如金属铜膜;3、测量制备金属膜的电学性能和光学性能;4、掌握实验数据处理和分析方法,并能利用 Origin 绘图软件对实验数据进行处理和分析。
二、实验仪器磁控溅射镀膜机一套、万用电表一架、紫外可见分光光度计一台;玻璃基片、金属铜靶、氩气等实验耗材。
三、实验原理1、磁控溅射镀膜原理(1)辉光放电溅射是建立在气体辉光放电的基础上,辉光放电是只在真空度约为几帕的稀薄气体中,两个电极之间加上电压时产生的一种气体放电现象。
辉光放电时,两个电极间的电压和电流关系关系不能用简单的欧姆定律来描述,以气压为1.33Pa 的 Ne 为例,其关系如图 5 -1 所示。
图 5-1 气体直流辉光放电的形成当两个电极加上一个直流电压后,由于宇宙射线产生的游离离子和电子有限,开始时只有很小的溅射电流。
随着电压的升高,带电离子和电子获得足够能量,与中性气体分子碰撞产生电离,使电流逐步提高,但是电压受到电源的高输出阻抗限制而为一常数,该区域称为“汤姆森放电”区。
一旦产生了足够多的离子和电子后,放电达到自持,气体开始起辉,出现电压降低。
进一步增加电源功率,电压维持不变,电流平稳增加,该区称为“正常辉光放电”区。
当离子轰击覆盖了整个阴极表面后,继续增加电源功率,可同时提高放电区内的电压和电流密度,形成均匀稳定的“异常辉光放电”,这个放电区就是通常使用的溅射区域。
随后继续增加电压,当电流密度增加到~0.1A/cm 2时,电压开始急剧降低,出现低电压大电流的弧光放电,这在溅射中应力求避免。
(2)溅射通常溅射所用的工作气体是纯氩,辉光放电时,电子在电场的作用下加速飞向基片的过程中与氩原子发生碰撞,电离出大量的氩离子和电子,电子飞向基片。
氩离子在电场的作用下加速轰击靶材,溅射出大量的靶材原子,这些被溅射出来的原子具有一定的动能,并会沿着一定的方向射向衬底,从而被吸附在衬底上沉积成膜。
一、介绍:rf磁控溅射法制备氧化铝薄膜及其介电损耗在材料研究领域,氧化铝薄膜的制备及其介电性能一直是一个备受关注的课题。
而rf磁控溅射法作为一种常用的制备方法,对于氧化铝薄膜的制备具有重要意义。
介电性能作为一种重要的材料性能指标,也对氧化铝薄膜的应用具有重要影响。
二、rf磁控溅射法制备氧化铝薄膜的步骤1. 材料准备:首先需要准备高纯度的氧化铝靶材和基底材料。
2. 溅射工艺:通过rf电源和磁场的作用,将氧化铝靶材表面的原子溅射到基底材料上,形成氧化铝薄膜。
3. 处理工艺:对溅射薄膜进行退火、晶化等处理,以提高薄膜的结晶度和致密性。
三、rf磁控溅射法制备氧化铝薄膜的特点1. 高纯度:使用高纯度的氧化铝靶材和精密的溅射工艺,可以得到高纯度、低缺陷的氧化铝薄膜。
2. 薄膜致密性好:由于溅射工艺的特性,制备出的氧化铝薄膜致密性好,具有良好的机械性能和耐腐蚀性。
3. 薄膜厚度可控:通过调节溅射工艺的参数,可以实现对氧化铝薄膜的厚度精确控制。
四、rf磁控溅射法制备氧化铝薄膜的介电损耗在实际应用中,氧化铝薄膜的介电损耗是一个重要的性能指标。
rf磁控溅射法制备的氧化铝薄膜,由于其致密性好、结晶度高等特点,具有较低的介电损耗。
通过控制溅射工艺参数和薄膜后处理工艺,还可以进一步降低氧化铝薄膜的介电损耗,提高其在电子器件、光学器件等领域的应用性能。
五、结论rf磁控溅射法制备的氧化铝薄膜具有高纯度、致密性好、厚度可控等特点,在介电损耗方面表现出良好的性能。
在实际应用中具有广阔的应用前景。
随着材料制备技术的不断进步,相信rf磁控溅射法制备的氧化铝薄膜将在电子、光学等领域发挥重要作用。
个人观点我认为,rf磁控溅射法制备的氧化铝薄膜在介电损耗方面具有潜力,但在实际应用中还需要进一步研究和优化,以满足不同领域的需求。
希望未来能够有更多的研究投入到这一领域,推动氧化铝薄膜技术的发展,为电子、光学器件等领域的发展贡献更多的可能性。
在撰写本文的过程中,我对rf磁控溅射法制备氧化铝薄膜及其介电损耗有了更深入的理解。
磁控溅射技术在半导体制造上的应用磁控溅射技术(Magnetron Sputtering)是一种常用的薄膜沉积技术,广泛应用于半导体制造领域。
该技术通过利用磁场和离子轰击来沉积薄膜材料,具有高效、均匀和可控的特点,因此在半导体器件制造过程中扮演着重要的角色。
磁控溅射技术的基本原理是将目标材料置于真空室中,利用磁场与离子轰击作用使目标表面的原子或分子离开并沉积到基底表面上。
在溅射过程中,磁控溅射器中的带电粒子被加速并击中目标材料,使其表面产生原子或分子的喷射,这些粒子在真空室中沉积到基底表面上,形成薄膜。
该技术可用于制备金属、氧化物、氮化物等多种薄膜材料。
磁控溅射技术在半导体制造上有广泛的应用。
首先,它是制备金属电极的重要方法之一。
半导体器件中的电极通常需要具有良好的导电性和稳定性,磁控溅射技术可以制备出均匀、致密的金属薄膜电极,使器件具有优异的电性能。
磁控溅射技术也被用于制备光学薄膜。
光学薄膜在半导体器件中起着非常重要的作用,如抗反射膜、反射镜等。
通过调节溅射条件和目标材料的选择,可以制备出具有特定光学性能的薄膜,如高透过率、低反射率等。
磁控溅射技术还可用于制备隔热薄膜。
在半导体器件中,为了减少能量损耗和提高性能,常常需要在器件上加上隔热层。
磁控溅射技术可以制备出具有低热导率和高绝缘性能的薄膜,从而有效隔离热量传导,提高器件的工作效率。
磁控溅射技术还可用于制备阻抗匹配层。
在半导体器件的封装过程中,为了提高信号传输效率,常常需要在器件上加上阻抗匹配层。
磁控溅射技术可以制备出具有特定阻抗的薄膜,从而实现信号的有效传输和匹配。
磁控溅射技术在半导体制造上具有广泛的应用。
它能够制备出高质量的金属电极、光学薄膜、隔热薄膜和阻抗匹配层等,为半导体器件的制造提供了强有力的支持。
随着半导体技术的不断发展,磁控溅射技术也将不断创新和完善,为半导体制造带来更多的可能性。
第1篇一、实验目的本次实验旨在通过磁控溅射技术制备不同材料薄膜,研究其制备过程中的工艺参数对薄膜质量的影响,并对薄膜的表面形貌、晶体结构、成分及性能进行分析。
二、实验原理磁控溅射技术是一种物理气相沉积方法,通过将靶材加热至一定温度,使其表面产生自由电子,然后在电场的作用下,自由电子与气体分子发生碰撞,产生等离子体,等离子体中的离子和电子被加速并轰击靶材表面,使靶材表面原子蒸发并沉积在衬底上形成薄膜。
三、实验设备与材料1. 实验设备:- 磁控溅射系统- 扫描电子显微镜(SEM)- X射线衍射仪(XRD)- X射线光电子能谱仪(XPS)- 红外光谱仪(IR)- 薄膜厚度测量仪2. 实验材料:- 靶材:Al、TiO2、ZnO等- 衬底:玻璃、硅等- 氩气、氮气等惰性气体四、实验步骤1. 清洗衬底:使用丙酮、乙醇、蒸馏水等清洗剂对衬底进行清洗,并在烘箱中干燥。
2. 装置准备:将靶材安装在磁控溅射系统上,设置靶材与衬底的距离、溅射气压、溅射时间等参数。
3. 磁控溅射:启动磁控溅射系统,进行溅射实验,制备薄膜。
4. 薄膜性能测试:使用SEM、XRD、XPS、IR等设备对薄膜的表面形貌、晶体结构、成分及性能进行分析。
五、实验结果与分析1. 薄膜表面形貌:SEM结果表明,Al、TiO2、ZnO等薄膜表面均匀,无明显缺陷。
2. 晶体结构:XRD分析表明,薄膜具有良好的晶体结构,晶粒尺寸较小。
3. 成分分析:XPS结果表明,薄膜中各元素含量符合预期。
4. 薄膜性能:- 硬度:Al、TiO2、ZnO等薄膜的硬度较高,具有良好的耐磨性能。
- 导电性:Al薄膜具有良好的导电性,适用于电子器件。
- 介电性能:TiO2、ZnO等薄膜具有良好的介电性能,适用于电容器等器件。
六、实验讨论1. 溅射气压对薄膜质量的影响:溅射气压越高,薄膜密度越大,晶粒尺寸越小,但溅射气压过高会导致薄膜表面出现缺陷。
2. 溅射时间对薄膜质量的影响:溅射时间越长,薄膜厚度越大,但溅射时间过长会导致薄膜内部应力增大,影响薄膜性能。
磁控溅射薄膜制备技术的研究进展随着科技的不断提高和社会的发展,人们对于不同材质和物质的需求也越来越多,其中,薄膜材料制备技术的研究和应用越来越受到人们的关注。
其中,磁控溅射技术是一种非常重要的薄膜制备技术。
本文将会从磁控溅射技术的基础知识开始阐述,然后介绍其在制备薄膜材料方面的应用,包括其在光伏电池、涂层和微电子等领域的应用,同时还会介绍目前该技术的研究进展。
一、磁控溅射技术基础知识磁控溅射技术是一种常用的制备薄膜材料的方法,其工作原理是利用磁场将气体离子化,并用电极收集,在室温下制备有序、均匀和具有特殊性能的薄膜材料。
磁控溅射技术的主要设备包括:磁控溅射源、漩涡感应加热装置、真空泵、控制系统等。
在磁控溅射过程中,首先是将具体材料制成靶材,然后在真空状态下,用磁控溅射源将靶材表面击打,并利用惯性力和离子轰击将靶材表面的材料剥离,并在基底材料表面沉积。
在这个过程中,靶材和基底材料之间需要维持一定的面积距离,这个距离通常被称为工艺距离。
二、磁控溅射在制备薄膜材料中的应用1. 光伏电池磁控溅射技术在制备光伏电池方面具有很大的优势,由于制备过程简单、成本低,而且可制成高效的薄膜太阳能电池。
其中,硅薄膜太阳能电池和铜铟镓硒太阳能电池都是由磁控溅射技术制备而成。
2. 涂层利用磁控溅射技术可以制备出高质量的涂层,比如氟碳树鄂聚合物、氮化钛等,这些涂层在汽车行业、航空航天领域和建筑等重要领域中具有广泛的应用。
3. 微电子利用磁控溅射技术可以实现微电子器件的制作,比如制备磁性材料、超导材料、非晶硅等,这些材料在微电子制造领域中具有广泛的应用。
三、磁控溅射技术的研究进展1. 强化膜金属纳米颗粒的制备强化膜金属纳米颗粒是一种新型的材料,可以在催化反应、生物传感和能量转换等领域中应用。
磁控溅射技术可用于合成含有金属纳米颗粒的强化膜材料,具有控制尺寸、形状和分布的优势,对于设计高性能的材料具有很大的潜力。
2. 超薄金属的制备磁控溅射技术可以制备出超薄的金属薄膜,由于其良好的导电性和导热性能,可以应用于微电子和材料科学领域。
0 引言ITO的主要成分为 In2O3和SnO2,是一种宽禁带高透明的N型半导体材料。
其禁带宽度3.5 eV~4.3 eV,电子迁移率4.3eV15~45cm2V-1S-1,在可见关波段的光透过率>85%上,对短波紫外线具有很强的光吸收率能力,而对长波红外线其反射率>80%,根据材料的性能,ITO薄膜被广泛运用在各类晶体管、平面显示器、太阳能电池、电致变色器件等产业[1-3]。
ITO薄膜以氧化铟为基底材料,SnO2中的锡离子一般条件下最大固溶度仅为6%,而在制成薄膜产品后,锡离子比例能够达到39%,溶度超出时锡成分会被析出[4]。
目前市场上主要采用磁控溅射法、激光脉冲法、等离子体辅助沉积法、气相沉积法、溶胶凝胶法等制备ITO薄膜[5]。
该文主要采用高真空射频磁控溅射方法,可快速有效沉积大面积ITO薄膜,然后用快速升降温熔合方法(RTA)为ITO薄膜提供一个好的氛围,重排RTA的晶格,可得到产品需求的薄膜质量(如缺陷少、晶格大、透过率高的薄膜)。
1 实验仪器和方法采用瑞士Evatec磁控溅射机台,制备ITO导电膜,靶材选用In2O3和SnO2比例9∶1纯度99.99%的ITO陶瓷靶,在镀膜过程中靶材和衬底的间距为120 mm,镀膜真空为7.0×10-4 Pa,溅射温度25 ℃,高纯氩气流量25 sccm~100 sccm,溅射射频功率0.3 kW~0.95 kW ,直流功率0.1 kW~0.4 kW。
快速退火设备采用了技鼎科技的RTA机台快速退火,将ITO晶格重排使晶体透过率高电阻率小,薄膜厚度量测采用了N&K多功能薄膜分析仪,采用富丞光电四针电阻计测量薄膜的电阻率,薄膜的透射光谱用安捷伦Cary 5000光谱仪进行检测,薄膜表面形貌采用扫描电子显微镜 (SEM)进行表征。
2 结果与讨论2.1 直流溅射功率对ITO薄膜的影响实验研究直流溅射功率对ITO薄膜的性质的影响,制备过程中不通氧气,不开射频,氩气流量为100 sccm,腔体沉积温度为常温。
磁控溅射制备氧化铝薄膜及其设备开发磁控溅射是一种目前广泛应用于制备氧化铝薄膜的技术。
该技术不仅能够制备均匀、高质量的氧化铝薄膜,而且还可以对薄膜的物理性质进行调节,满足不同应用的需求。
本文将介绍磁控溅射制备氧化铝薄膜的原理、优势以及设备开发的关键技术。
一、磁控溅射制备氧化铝薄膜的原理磁控溅射是一种利用高能离子轰击固体材料表面来制备薄膜的技术。
其基本原理是,在低压气体环境中,利用磁控电弧等方式将金属或合金材料的表面离子化,然后让这些离子在外场的作用下沿着一定方向均匀地射向衬底,在衬底上形成薄膜。
以氧化铝薄膜为例,磁控溅射制备过程中,首先要准备具有良好导电性能的氧化铝靶材。
然后,在氩气等的惰性气体环境下,通过磁控电弧等方式将靶材表面的原子离子化,形成铝离子和氧离子。
这些离子在外场的作用下均匀地沉积在附近的衬底上,形成一层均匀的氧化铝薄膜。
整个制备过程可以通过改变各种参数来控制薄膜的厚度、结构和物理性质。
二、磁控溅射制备氧化铝薄膜的优势相比于其他薄膜制备技术,磁控溅射制备氧化铝薄膜具有以下优势:1. 薄膜均匀性好。
磁控溅射制备过程中,离子在外场的作用下沿着一定方向均匀地射向衬底,因此制备的氧化铝薄膜具有良好的均匀性。
2. 薄膜的物理性质可调节。
制备氧化铝薄膜时,可以通过改变各种参数,如离子能量、衬底温度等,来调节薄膜的物理性质。
因此可以得到不同性质的氧化铝薄膜,满足不同应用的需求。
3. 制备过程简单、易于自动化。
磁控溅射制备氧化铝薄膜的制备过程较为简单,且不需要高温高压,对于薄膜材料及衬底材料也有较广的适应性。
同时,由于其制备过程较为稳定,可以进行自动化控制。
三、磁控溅射制备氧化铝薄膜设备的关键技术磁控溅射制备氧化铝薄膜的设备主要由靶材、离子源、外场源(磁场等)和衬底等构成。
因此,设备的关键技术主要包括:1. 靶材的选择。
靶材的选择对于制备氧化铝薄膜至关重要。
一方面,靶材的纯度和制备过程中的气氛会影响薄膜的质量;另一方面,靶材的导电性能也会影响离子化的效率。
目录前言 (1)第一章ITO薄膜概述 (2)§1.1ITO薄膜的结构 (2)§1.2ITO薄膜的特性 (2)§1.3ITO薄膜的基本原理 (3)1.3.1 ITO膜的导电机理 (3)1.3.2 ITO膜的半导体化机理 (3)1.3.3 影响ITO薄膜导电性能的几个因素 (4)第二章ITO膜的制备方法 (5)§2.1ITO薄膜制备方法简介 (5)§2.2直流磁控溅射法制备ITO膜的基本原理 (6)2.2.1 磁控溅射基本原理 (6)2.2.2 气体辉光放电的物理基础 (7)2.2.3 辉光放电与等离子体 (8)第三章实验部分 (11)§3.1玻璃基片与超声清洗 (11)§3.2ITO膜制备参数的选择 (12)§3.3镀膜的工艺流程 (14)第四章检测与结果分析 (16)§4.1ITO薄膜在可见光范围内的透过率测试 (16)§4.2ITO薄膜方块电阻的测定 (18)§4.3工艺参数对透过率和方阻的影响 (19)4.3.1 靶基距的选定 (19)4.3.2 溅射时间的选定 (20)4.3.3 溅射气压的选定 (21)4.3.4 退火工艺对方阻和透过率的影响 (21)4.3.5 基片温度对方阻和透过率的影响 (23)§4.4霍耳效应 (24)§4.5X射线衍射 (26)第五章结论 (27)致谢 (28)参考文献 (29)磁控溅射法制备ITO膜的研究 1 磁控溅射法制备ITO膜的研究前言19世纪末,透明导电薄膜材料的研究刚刚起步,当时是在光电导的材料上获得很薄的金属薄膜。
经历一段很长时间后的第二次世界大战期间,关于透明导电材料的研究才进入一个新的时期,于是开发了由宽禁带的n型简并半导体SnO2材料,主要应用于飞机的除冰窗户玻璃。
在1950年,第二种透明半导体氧化物In2O3首次被制成,特别是在In2O3里掺入锡以后,使这种材料(掺锡氧化铟,即Indium Tin Oxide,简称ITO)在透明导电薄膜方面得到了普遍的应用,锡掺杂的氧化铟(ITO)透明导电膜是一种重要的光电信息材料,优良的光电特性使其在太阳电池、液晶显示器、热反射镜等领域得到广泛的应用。
磁控溅射法制备薄膜材料实验报告实验报告:磁控溅射法制备薄膜材料一、引言薄膜材料广泛应用于电子器件、光学器件等领域,其性能直接影响着器件的性能。
磁控溅射法是一种常用的制备薄膜材料的方法,通过在真空环境下,利用磁控电子束或离子束轰击源材料的表面,使源材料蒸发并沉积在基底上,从而得到所需的薄膜材料。
本实验旨在通过磁控溅射法制备一种特定的薄膜材料,并对其形貌、结构和成分进行表征。
二、实验方法1.实验仪器与材料本实验使用的主要仪器设备有磁控溅射设备、扫描电子显微镜(SEM)和X射线衍射仪(XRD)。
实验材料包括源材料、基底材料和溅射气体。
2.实验步骤(1)将源材料加载到磁控溅射设备的靶位上,并安装好基底材料。
(2)将真空室抽气至高真空状态,确保实验环境稳定。
(3)开启溅射气体,调节其流量和压力,使其保持合适的工作状态。
(4)通过操纵磁控溅射设备的参数,包括溅射功率、工作距离等,进行溅射,沉积薄膜材料在基底上。
(5)制备完成后,将样品取出,进行表征。
三、实验结果与分析通过SEM观察,薄膜材料的表面形貌均匀,没有明显的颗粒和裂纹,呈现出光滑的特点。
通过透射电子显微镜(TEM)的观察,薄膜材料的厚度约为100 nm,呈现出均匀的结构。
通过XRD分析,薄膜材料的晶体结构为立方晶系,晶面取向较好。
通过对XRD图谱的解析,还可以得到薄膜材料的晶格常数、晶粒大小等信息。
通过能谱仪的分析,可以确定薄膜材料的成分。
实验结果显示,制备的薄膜材料主要由目标材料的原子组成,没有掺杂物的存在。
四、讨论与改进通过磁控溅射法制备的薄膜材料,表面形貌均匀且结构良好,符合预期需求。
但是,在实验过程中,我们发现了一些问题,如薄膜材料的制备速率较慢、材料的含气量较高等。
为了解决这些问题,我们可以在实验过程中进行参数的优化,如调节溅射功率、溅射时间等,以提高制备速率;同时可以加入适量的氩气来降低材料的含气量。
此外,在薄膜材料的表征上,我们只是使用了SEM、XRD和能谱仪等仪器进行了一些基本的表征,对于材料的电学、光学等特性并没有进行深入的研究。
磁控溅射法制备薄膜材料综述材料化学张召举摘要薄膜材料的厚度是从纳米级到微米级,具有尺寸效应,在国防、通讯、航空、航天、电子工业等领域有着广泛应用,其有多种制造方法,目前使用较多的是溅射法,其中磁控溅射的应用较为广泛。
本文主要介绍了磁控溅射法的原理、特点,以及制备过程中基片温度、溅射功率、溅射气压和溅射时间等工艺条件对所制备薄膜性能的影响。
关键字磁控溅射;原理;工艺条件;影响正文薄膜是指尺度在某个一维方向远远小于其他二维方向,厚度可从纳米级到微米级的材料,由于薄膜的尺度效应,它表现出与块体材料不同的物理性质,有广泛应用。
薄膜的制备大致可分为物理方法和化学方法两大类。
物理方法主要包括各种不同加热方式的蒸发,溅射法等,化学方法则包括各种化学气相沉积(CVD)、溶胶-凝胶法(sol-gel)等。
溅射沉积法由于速率快、均一性好、与基片附着力强、比较容易控制化学剂量比及膜厚等优点,成为制备薄膜的重要手段。
溅射法根据激发溅射离子和沉积薄膜方式的不同又分直流溅射、离子溅射、射频溅射和磁控溅射,目前多用后两种。
本文主要介绍磁控溅射制备薄膜材料的原理及影响因素。
磁控溅射是70年代迅速发展起来的新型溅射技术,目前已在工业生产中实际应用。
这是由于磁控溅射的镀膜速率与二极溅射相比提高了一个数量级。
具有高速、低温、低损伤等优点。
高速是指沉积速率快;低温和低损伤是指基片的温升低、对膜层的损伤小。
1974年Chapin发明了适用于工业应用的平面磁控溅射靶,对进人生产领域起了推动作用。
磁控溅射基本原理磁控溅射是20世纪70年代迅速发展起来的一种高速溅射技术。
对许多材料,利用磁控溅射的方式溅射速率达到了电子术蒸发的水平,而且在溅射金属时还可避免二次电子轰击而使基板保持冷态,这对使用怕受温度影响的材料作为薄膜沉积的基板具有重要意义。
磁控溅射是在磁场控制下的产生辉光放电,在溅射室内加上与电场垂直的正交磁场,以磁场来改变电子的运动方向,电子的运动被限制在一定空间内,增加了同工作气体分子的碰撞几率,提高了电子的电离效率。
磁控溅射TiN及ZrN薄膜的特性研究一、本文概述Overview of this article本文主要探讨了磁控溅射法制备的TiN和ZrN薄膜的特性研究。
磁控溅射作为一种先进的物理气相沉积技术,因其在薄膜制备中的高效率和高质量而得到广泛应用。
TiN和ZrN作为两种重要的硬质薄膜材料,具有出色的硬度、耐磨性、抗腐蚀性和热稳定性,因此在许多领域,如切削工具、耐磨涂层、电子器件等都具有重要的应用价值。
This article mainly explores the characteristics of TiN and ZrN thin films prepared by magnetron sputtering method. Magnetron sputtering, as an advanced physical vapor deposition technology, has been widely used due to its high efficiency and quality in thin film preparation. TiN and ZrN, as two important hard thin film materials, have excellent hardness, wear resistance, corrosion resistance, and thermal stability. Therefore, they have important application value in many fields, such as cutting tools, wear-resistant coatings, electronic devices, etc.本文首先介绍了磁控溅射技术的基本原理及其在薄膜制备中的应用,然后详细阐述了TiN和ZrN薄膜的制备过程,包括溅射参数的选择、基材的处理、溅射气氛和温度的控制等。
磁控溅射离化率-概述说明以及解释1.引言1.1 概述概述:磁控溅射离化率是指在磁场的作用下,溅射材料的离子化率。
该离化率的高低直接影响到薄膜的成膜质量和性能,因此对于磁控溅射技术的研究和应用具有重要意义。
本文将对磁控溅射离化率进行深入探讨,分析影响离化率的因素并提出提高离化率的方法,旨在为提高薄膜质量和应用性能提供参考。
1.2 文章结构文章结构部分的内容应该是对整篇文章的组织和内容进行简要介绍,介绍每个章节的主题和重点论点,为读者提供一个整体的概览,方便他们理解文章的主要内容和结构。
这部分内容可以包括每个章节的主题和内容概要,以及各章节之间的逻辑关系和连接。
例如:文章结构部分:本文主要分为引言、正文和结论三个部分。
在引言部分,我们将对磁控溅射离化率进行概述,介绍文章的结构和目的。
在正文部分,我们将对磁控溅射技术进行简要介绍,分析影响磁控溅射离化率的因素,并探讨提高磁控溅射离化率的方法。
最后,在结论部分,我们将对全文进行总结,展望未来可能的研究方向,并给出结论。
通过文章的结构安排,读者可以清晰地了解到本文的内容和组织架构,从而更好地把握文章的主要观点和逻辑。
1.3 目的本文旨在探讨磁控溅射离化率的影响因素和提高方法,通过分析磁控溅射技术的原理和离化率的相关理论,为磁控溅射工艺的优化提供理论支持和实践指导。
同时,希望通过本文的研究,为相关领域的科研人员和工程师提供一定的参考和借鉴,推动磁控溅射技术的发展和应用。
1.3 目的部分的内容2.正文2.1 磁控溅射技术简介磁控溅射技术是一种常用的薄膜制备技术,其原理是通过在几乎真空的环境中,利用外加磁场使目标材料形成等离子体,然后将等离子体加速到靶材表面,从而使靶材表面的原子或分子得以离开并沉积在基板上,形成薄膜。
磁控溅射技术通常包括以下主要组成部分:真空室、靶材、基板、磁控溅射源、功率源、离子源和控制系统。
在真空室中,通过抽真空的方式,维持一个非常低的气压,通常在10^-6到10^-4帕之间。
实验一磁控溅射法制备薄膜材料一、实验目的1.详细掌握磁控溅射制备薄膜的原理和实验程序;2、制备出一种金属膜, 如金属铜膜;3.测量制备金属膜的电学性能和光学性能;二、 4、掌握实验数据处理和分析方法, 并能利用 Origin 绘图软件对实验数据进行处理和分析。
三、实验仪器磁控溅射镀膜机一套、万用电表一架、紫外可见分光光度计一台;玻璃基片、金属铜靶、氩气等实验耗材。
四、实验原理1.磁控溅射镀膜原理(1)辉光放电溅射是建立在气体辉光放电的基础上, 辉光放电是只在真空度约为几帕的稀薄气体中, 两个电极之间加上电压时产生的一种气体放电现象。
辉光放电时, 两个电极间的电压和电流关系关系不能用简单的欧姆定律来描述, 以气压为1.33Pa 的 Ne 为例, 其关系如图 5 -1 所示。
图 5-1 气体直流辉光放电的形成当两个电极加上一个直流电压后, 由于宇宙射线产生的游离离子和电子有限,开始时只有很小的溅射电流。
随着电压的升高, 带电离子和电子获得足够能量, 与中性气体分子碰撞产生电离, 使电流逐步提高, 但是电压受到电源的高输出阻抗限制而为一常数, 该区域称为“汤姆森放电”区。
一旦产生了足够多的离子和电子后, 放电达到自持, 气体开始起辉, 出现电压降低。
进一步增加电源功率, 电压维持不变, 电流平稳增加, 该区称为“正常辉光放电”区。
当离子轰击覆盖了整个阴极表面后, 继续增加电源功率, 可同时提高放电区内的电压和电流密度, 形成均匀稳定的“异常辉光放电”, 这个放电区就是通常使用的溅射区域。
随后继续增加电压, 当电流密度增加到~0.1A/cm 2时, 电压开始急剧降低, 出现低电压大电流的弧光放电, 这在溅射中应力求避免。
(2)溅射通常溅射所用的工作气体是纯氩, 辉光放电时, 电子在电场的作用下加速飞向基片的过程中与氩原子发生碰撞, 电离出大量的氩离子和电子, 电子飞向基片。
氩离子在电场的作用下加速轰击靶材, 溅射出大量的靶材原子, 这些被溅射出来的原子具有一定的动能, 并会沿着一定的方向射向衬底, 从而被吸附在衬底上沉积成膜。
用磁控溅射制备薄膜材料的概述1.引言溅射技术属于PVD(物理气相沉积)技术的一种,是一种重要的薄膜材料制备的方法。
它是利用带电荷的粒子在电场中加速后具有一定动能的特点,将离子引向欲被溅射的物质制成的靶电极(阴极),并将靶材原子溅射出来使其沿着一定的方向运动到衬底并最终在衬底上沉积成膜的方法。
磁控溅射是把磁控原理与普通溅射技术相结合利用磁场的特殊分布控制电场中的电子运动轨迹,以此改进溅射的工艺。
磁控溅射技术已经成为沉积耐磨、耐蚀、装饰、光学及其他各种功能薄膜的重要手段。
2.溅射技术的发展1852年,格洛夫(Grove)发现阴极溅射现象,从而为溅射技术的发展开创了先河。
采用磁控溅射沉积技术制取薄膜是在上世纪三四十年代开始的,但在上世纪70年代中期以前,采蒸镀的方法制取薄膜要比采用磁控溅射方法更加广泛。
这是凶为当时的溅射技术140刚起步,其溅射的沉积率很低,而且溅射的压强基本上在lpa以上但是与溅射同时发展的蒸镀技术由于其镀膜速率比溅射镀膜高一个数量级,使得溅射镀膜技术一度在产业化的竞争中处于劣势溅射镀膜产业化是在1963年,美国贝尔实验室和西屋电气公司采用长度为10米的连续溅射镀膜装置,镀制集成电路中的钽膜时首次实现的。
在1974年,由J.Chapin发现了平衡磁控溅射后,使高速、低温溅射成为现实,磁控溅射更加快速地发展起来。
溅射技术先后经历了二级、三级和高频溅射。
二极溅射是最早采用,并且是目前最简单的基本溅射方法。
二极溅射方法虽然简单,但放电不稳定,而且沉积速率低。
为了提高溅射速率以及改善膜层质量,人们在二极溅射装置的基础上附加热阴极,制作出三极溅射装置。
然而像这种传统的溅射技术都有明显的缺点:1).溅射压强高、污染严重、薄膜纯度差2).不能抑制由靶产生的高速电子对基板的轰击,基片温升高、淀积速率低3).灯丝寿命低,也存在灯丝对薄膜的污染问题3.磁控溅射的原理:磁控溅射就是以磁场束缚和延长电子的运动路径,改变电子的运动方向,提高工作气体的电离率和有效利用电子的能量。
具有低温、高速两大特点。
电子在加速的过程中受到磁场洛仑兹力的作用,被束缚在靠近靶面的等离子体区域内:F=-q(E+v×B)电子的运动的轨迹将是沿电场方向加速,同时绕磁场方向螺旋前进的复杂曲线。
即磁场的存在将延长电子在等离子体中的运动轨迹,提高了它参与原子碰撞和电离过程的几率,因而在同样的电流和气压下可以显著地提高溅射的效率和沉积的速率。
具体地说来磁控溅射系统在真空室充入0.1~1OPa压力的惰性气体(Ar),作为气体放电的载体,阴极靶材的下面放置100~1000Gauss 强力磁铁。
在高压作用下Ar原子电离成为Ar+离子和电子,产生等离子辉光放电,电子在加速飞向基片的过程中,受到电场产生的静电作用力和磁场产生的洛伦兹力的共同作用(正交电磁场作用),产生漂移,并做跳栏式的运动。
这会使电子到达阳极前的行程大为延长,在运动过程中不断与Ar原子发生碰撞,电离出大量的Ar+离子。
磁控溅射时,电子的能量充分用于碰撞电离,使等离子体密度比二极溅射的密度提高约一个数量级。
一般靶材刻蚀速率,相应的镀膜速率与靶面电流密度成正比,于是磁控溅射的镀膜速率相比一些普通溅射技术大大提高。
经过多次碰撞后电子的能量逐渐降低,摆脱磁力线的束缚,最终落在基片、真空室内壁及靶源阳极上。
而A r+离子在高压电场加速作用下,与靶材的撞击并释放出能量,导致靶材表面的原子吸收A r+离子的动能而脱离原晶格束缚,呈中性的靶原子逸出靶材的表面飞向基片,并在基片上沉积形成薄膜。
由于电子必须经过不断地碰撞才能渐渐运动到阳极,而且由于碰撞,电子到达阳极后其能量已经很小,对基板的轰击热也就不大,这就是磁控溅射基板温升低的主要机理。
另一方面,加上磁场后大大加大了电子与氨原子碰撞的几率,进而大大促进了电离的发生,电离后再次产生的电子也加入到碰撞的过程中,从而能将碰撞的几率提高好几个数量级。
这就是磁控溅射沉积速率高的原因。
4.应用举例1)制备薄膜磁头的耐磨损氧化膜硬盘磁头进行读写操作时与硬盘表面产生滑动摩擦,为了减小摩擦力及提高磁头寿命,目前磁头正向薄膜化方向发展。
绝缘膜和保护膜(即AL2O3、SiO2氧化物薄膜)是薄膜磁头主要构成成份。
对薄膜磁头的耐磨损膜的要求是耐冲击性好,耐磨性好,有适当的可加工性以及加工变形小,通常采用反应溅射法制备该种薄膜。
为了防止基片升温过高,溅射镀膜过程中要对基片进行冷却。
2)制备硬质薄膜目前广泛使用的硬化膜是水溶液电镀铬。
电镀会使钢发生氢脆,而且电镀速度慢,造成环境污染。
如果采用金属Cr靶,在N2气氛中进行非平衡磁控溅射镀膜,可以在工件上镀覆Cr、CrN X等镀层,代替水溶液电镀用于旋转轴和其它运动部件。
3)制备切削刀具和模具的超硬膜采用普通化学气相沉积技术制备TiN、TiC等超硬镀层,温度要在1000 ℃左右,这已经超过了高速钢的回火温度,对于硬质合金来说还可能使镀层晶粒长大。
而采用对向靶溅射沉积单相TiN薄膜,溅射时间只需10~15min,基片温度不超过150 ℃,得到的TiN薄膜硬度最高可达HV3800。
利用非平衡磁控溅射法制备的TiN镀膜,通过膜层硬度和临界载荷实验以及摩擦实验,表明膜层硬度已经达到和超过其它离子镀膜的效果。
4)制备固体润滑膜固体润滑膜MoS2薄膜已成功应用于真空工业设备、原子能设备以及航空航天领域,对于工作在高温环境的机械设备也是毕不可少的。
虽然MoS2可用化学反应镀膜法制备,但溅射镀膜发得到MoS2薄膜致密性好,膜基附着力大,添加Au(5wt%)的MoS2膜,其致密性和附着性更好,摩擦系数更小。
5)制备光学薄膜溅射法是目前工业生成中制备光学薄膜的一种主要的工艺。
长期以来,反应磁控溅射技术主要用于工具表面镀制TiN 等超硬膜以及建筑玻璃、汽车玻璃、透明导电膜等单层或简单膜层。
近年来,光通信,显示技术等方面对光学薄膜的巨大需求,刺激了将该技术用于光学薄膜工业化生产的研究。
5.沉积工艺参数对薄膜附着能力的影响附着性能是制约溅射薄膜使用性能及工作可靠性的关键因素。
随着磁控溅射技术的不断发展和完善,薄膜的附着性能有了较大的改善。
具体到各种薄膜/基体的使用性能,溅射过程的工艺条件起了重要的作用,工艺条件已成为影响薄膜/基体附着性能的主要因素。
1)基体表面温度提高基体温度有利于薄膜和基体间原子的相互扩散,而且会加速化学反应,从而有利于形成扩散结合和化学键附着,使附着力增加。
当基体温度较低时,形成膜的原子活性受到限制,形核密度较低,在界面处容易产生孔隙,形成不完全致密的薄膜;而随着基体温度升高,基体表面活性增强,形核密度变大,沉积速率增加,界面孔隙减少,薄膜/基体界面结合较强,附着性变好。
但基体温度过高会使薄膜晶粒粗大,薄膜中热应力增大,薄膜开裂及剥落倾向变大,从而降低薄膜的质量及使用性能。
因此要综合考虑基体温度的影响,针对不同的薄膜/基体选择合适的基体温度,得到较好附着性能的薄膜。
2)溅射功率在一定的条件下,溅射功率的增加,会使放电载体如氩气的电离度提高,增加离子的密度,提高溅射速率,并使溅射出来的离子具有较高的能量,从而提高薄膜/基体的附着力及薄膜的致密度。
相反,溅射功率太低,离子密度小,沉积速度慢,且离子能量低,得到的薄膜结构疏松,膜层附着力差。
但是并不是溅射功率越大越有利于薄膜沉积。
溅射功率过高会使溅射离子动能大大增加,过高的离子能量会产生较大的基底热效应,还会对薄膜造成损伤,薄膜质量下降。
这是因为溅射功率较大时,电离得到的离子具有很高的能量,离子打入靶材的深度增加,能量损失增加,使被溅射原子的逸出难度增加,靶材原子不易逸出,使沉积速率降低。
同时,由于溅射功率的增加,使溅射时产生的二次电子增多,对基体会产生一定的加热作用,使基体上沉积的CN 基团挥发,也会降低沉积速率。
3)溅射气体纯度及压力的影响以常用的Ar 气为例。
Ar 气被电离成Ar 离子轰击阴极靶材表面,但仍有一部分Ar 离子混入溅射出的靶原子,沉积到基体表面。
因此,如果Ar 气中杂质过多,膜层中将形成很多缺陷,从而使薄膜结构疏松,降低其表面力学性能,严重影响薄膜质量。
Ar 气分压大小也是影响薄膜质量的重要因素。
溅射压力较小时,溅射出来的原子和气体分子的碰撞次数减少,损失的能量较小,可以提高沉积原子与基体的扩散能力,从而提高薄膜的致密度和附着性;如果溅射气体的压力太小,则溅射靶材原子数目较少,薄膜沉积速率降低,且不能起辉或起辉不足。
但如果溅射气压过高,靶材原子与气体的碰撞次数增加,损失能量过多,造成沉积基体的靶材原子能量过低,影响膜层的致密性和附着力。
4)靶材的影响靶材作为一种具有特殊用途的材料,具有很强的应用目的和明确的应用背景。
脱离开溅射工艺和薄膜性能来单纯地研究靶材本身的性能没有意义。
而根据薄膜的性能要求,研究靶材的组成、结构、制备工艺、性能,以及靶材的组成、结构、性能与溅射薄膜性能之间的关系,既有利于获得满足应用需要的薄膜性能,又有利于更好地使用靶材,充分发挥其作用,促进薄膜技术应用的发展。
靶材的工艺指标主要包括纯度和结构均匀性。
6. 展望薄膜与基体间的附着性能是制约磁控溅射薄膜使用的关键因素。
改善基体表面状态、优化工艺参数并合理匹配薄膜/基体等都是得到较好附着性能薄膜的有效途径。
通过设置成分或结构渐变的过渡层也是改善薄膜/基体附着性和力学性能的有效方法。
实际镀膜的过程中,根据具体匹配的基体/薄膜,通过试验找出适宜的工艺条件并得到较好质量的薄膜。
另外,平衡磁控溅射是磁控溅射技术的一个重要发明,但其不利于大面积镀膜的缺点使其难以在工业上大范围的推广。
1985年非平衡磁控溅射理论的出现解决了这一难题。
非平衡磁控溅射的特性就是通过磁控溅射阴极的内、外两个磁极的磁通量不相等,利用其阴极的磁场大量向靶外发散的特性,可将等离子体扩展到远离靶面处,使基片浸没其中,这样有利于以磁控溅射为基础实现大面积离子镀。
磁控溅射技术已经在我国的建材、装饰、光学、防腐蚀、工磨具强化、集成电路等领域得到比较广泛的应用,利用磁控溅射技术进行光电、光热、磁学、超导、介质、催化等功能薄膜制备是当前研究的热点。
但是,关于非平衡磁控溅射技术尤其是新型沉积工艺,国内了解、研究的单位还很少。
因此,我认为我国的研究机构应该把研究的中点多放在对非平衡磁控溅射技术上,不断研发新型沉积工艺。
我们还要在已有的理论和技术基础上不断地进行更加广泛更加深入的研究,以求掌握第一手的科研资料来为以后的研究打下基础。