材料现代分析方法
- 格式:doc
- 大小:49.01 KB
- 文档页数:5
现代材料分析方法现代材料分析方法包括物理、化学、电子、光学、表面和结构等多个方面的技术手段,具有快速、准确、非破坏性的特点。
下面将针对常用的材料分析技术进行详细介绍。
一、物理分析方法1. 微观结构分析:包括金相显微镜分析、扫描电镜、透射电镜等技术。
通过观察材料的显微结构、晶粒尺寸、相组成等参数,揭示材料的内在性质和形貌特征。
2. 热分析:如热重分析、差示扫描量热仪等。
利用材料在高温下的重量、热容变化,分析材料的热行为和热稳定性。
3. 电学性能测试:包括电导率、介电常数、介电损耗等测试,用于了解材料的电导性和电介质性能。
4. 磁性测试:如霍尔效应测试、磁滞回线测试等,用于研究材料的磁性行为和磁性特性。
二、化学分析方法1. 光谱分析:包括紫外可见光谱、红外光谱、核磁共振等。
通过检测材料对不同波长的光谱的吸收、散射等现象,分析材料的组分和结构。
2. 质谱分析:如质子质谱、电喷雾质谱等。
通过挥发、电离和分离等过程,分析材料中不同元素的存在及其相对含量。
3. 电化学分析:包括电化学阻抗谱、循环伏安法等。
通过测量材料在电场作用下的电流、电压响应,研究材料的电化学性能和反应过程。
4. 色谱分析:如气相色谱、高效液相色谱等。
利用材料在色谱柱上的分离和吸附效果,分析材料中组分的种类、含量和分布。
三、电子分析方法1. 扫描电子显微镜(SEM):通过照射电子束,利用电子和物质的相互作用,获得样品表面的详细形貌和成分信息。
2. 透射电子显微镜(TEM):通过透射电子束,观察材料的细观结构,揭示原子尺度的微观细节。
3. 能谱分析:如能量色散X射线谱(EDX)、电子能量损失谱(EELS)等。
通过分析材料与电子束相互作用时,产生的X射线和能量损失,来确定样品的元素组成和化学状态。
四、光学分析方法1. X射线衍射:通过物质对入射的X射线束的衍射现象,分析材料的晶体结构和晶格参数。
2. 红外光谱:通过对材料在红外辐射下的吸收和散射特性进行分析,确定材料的分子结构和化学键。
材料现代分析方法现代分析方法是指在化学、物理、生物等科学领域中广泛应用的一种分析技术。
它通过使用先进的仪器设备和相关的算法,能够快速、准确地对物质的成分、结构以及性质进行分析和表征。
本文将介绍几种常见的材料现代分析方法。
一、质谱分析法质谱分析法是一种非常重要的现代分析方法,广泛应用于有机化学、生物化学和环境科学等领域。
它通过将物质分子离子化,并在一个磁场中进行偏转,最后将其质量进行测定,从而确定物质的分子组成和结构。
质谱分析法具有高灵敏度、高分辨率、多组分分析的能力,可以用于确定物质的组成、确认化合物的结构、鉴定杂质等。
二、红外光谱分析法红外光谱分析法是一种基于不同分子振动产生的红外吸收谱谱图,进行物质分析和表征的方法。
该方法的原理是物质在特定波长的红外光照射下,吸收特定的波长,产生特定的振动谱带。
通过对红外光谱的测定和比对,可以确定物质的功能基团、官能团以及化学键的类型和位置,从而研究物质的组成、结构和化学性质。
三、扫描电子显微镜(SEM)扫描电子显微镜(SEM)是一种基于电子束显微技术的分析仪器。
其工作原理是在真空环境中,用电子束扫描样品表面,通过检测扫描电子的反射、散射或透射等信号,来获取样品表面的形貌、成分以及晶体结构等信息。
与光学显微镜相比,SEM具有更高的放大倍数、更高的分辨率和更大的深度。
四、X射线衍射(XRD)X射线衍射(XRD)是一种非常常用的材料分析技术,主要用于分析固体材料的结晶结构和晶体学性质。
该方法的原理是通过将物质置于X射线束中,当X射线与样品中的晶体结构相互作用时,会发生衍射现象。
通过测量样品衍射的位置、强度和形状等信息,可以确定样品的晶体结构、晶格参数和晶体定向等。
五、核磁共振(NMR)核磁共振(NMR)是一种通过检测原子核在磁场中的共振信号来进行物质分析的方法。
其工作原理是利用样品中特定原子核的性质,将其置于强大的磁场中,然后通过外加的射频电磁场来激发核自旋共振。
材料现代分析方法材料现代分析方法是指利用现代科学技术手段对材料进行分析和研究的方法。
随着科学技术的不断发展,材料分析方法也在不断更新和完善。
现代材料分析方法的发展,为材料科学研究提供了更加精准、快速和全面的手段,对于材料的研究和应用具有重要的意义。
首先,光谱分析是材料现代分析方法中的重要手段之一。
光谱分析是利用物质对电磁波的吸收、发射、散射等现象进行分析的方法。
常见的光谱分析方法包括紫外可见吸收光谱、红外光谱、拉曼光谱等。
通过光谱分析,可以对材料的结构、成分、性质等进行研究和分析,为材料的研究和应用提供重要的信息。
其次,电子显微镜分析也是材料现代分析方法中的重要手段之一。
电子显微镜是利用电子束来照射样品,通过电子与样品相互作用产生的信号来获取样品的显微结构和成分信息的一种显微镜。
通过电子显微镜分析,可以对材料的微观形貌、晶体结构、成分分布等进行研究和分析,为材料的结构性能和应用提供重要的参考。
此外,质谱分析也是材料现代分析方法中的重要手段之一。
质谱分析是利用质谱仪对物质进行分析的方法,通过对物质中离子的质量和相对丰度进行检测和分析,来确定物质的分子结构和成分。
质谱分析可以对材料的组成、纯度、分子量等进行研究和分析,为材料的质量控制和应用提供重要的支持。
综上所述,材料现代分析方法是利用现代科学技术手段对材料进行分析和研究的方法。
光谱分析、电子显微镜分析、质谱分析等都是材料现代分析方法中的重要手段,通过这些方法可以对材料的结构、成分、性能等进行全面的研究和分析,为材料的研究和应用提供重要的支持。
随着科学技术的不断发展,相信材料现代分析方法将会更加完善和精准,为材料科学研究和应用带来更多的新突破。
材料现代分析测试方法材料的现代分析测试方法是为了研究材料的组成、结构、性质以及相应的测试手段。
通过分析测试方法,我们可以深入了解材料的特点,进而为材料的研发、优化和应用提供有效的数据支持。
下面将介绍几种常用的材料现代分析测试方法。
一、质谱分析法质谱分析法是一种通过测量样品中不同质荷比(m/z)的离子的相对丰度来确定样品组成和结构的分析方法。
质谱分析法适用于分析有机物和无机物。
其优点是能快速分析出物质组成,提供准确的质量数据,对于结构复杂的样品仍能有效分析。
二、核磁共振(NMR)谱学核磁共振谱学是一种通过测量样品中核自旋与磁场相互作用的现象来分析样品结构和组成的方法。
不同核的共振频率和强度可以提供关于样品分子结构和组成的信息。
核磁共振谱学适用于有机物和无机物的分析。
由于从核磁共振谱图中可以获得丰富的结构信息,所以核磁共振谱学被广泛应用于有机化学、药物研发和材料科学等领域。
三、红外光谱学红外光谱学是一种通过测量样品对不同波长的红外辐射的吸收情况来分析样品结构和组成的方法。
不同官能团在红外区域会有特定的吸收峰位,因此红外光谱能提供有关样品中化学键和官能团的信息。
红外光谱学适用于有机物和无机物的分析。
它具有非破坏性、快速、易于操作等特点,在化学、生物和材料科学领域得到了广泛应用。
四、X射线衍射(XRD)X射线衍射是一种通过测量样品对入射X射线的衍射现象来研究样品结构和晶体结构的方法。
不同物质的晶格结构具有不同的衍射图样,通过分析衍射图样可以获得样品的晶体结构信息。
X射线衍射适用于分析有晶体结构的材料,如金属、陶瓷、单晶等。
它能提供关于晶体结构、晶粒尺寸和应力等信息,被广泛应用于材料科学、地质学和能源领域。
五、扫描电子显微镜(SEM)和透射电子显微镜(TEM)扫描电子显微镜和透射电子显微镜是一种通过聚焦电子束对材料进行观察和分析的方法。
扫描电子显微镜主要用于获得材料的表面形貌、颗粒分布和成分分析。
透射电子显微镜则能提供材料的内部结构和界面微观结构的信息。
材料现代分析方法一.绪论1.材料现代分析方法:是关于材料成分、结构、微观形貌与缺陷等的现代分析,测试技术及其有关理论基础的科学。
2.基于电磁辐射及运动粒子束与物质相互作用的各种性质建立的各种分析方法已成为材料现代分析方法的重要组成部分,大体可分为光谱分析、电子能谱分析、衍射分析与电子显微分析等四大类方法。
3.各种方法的分析、检测过程均可大体分为信号发生器、检测器、信号处理器与读出装置等几部分组成。
二.核磁共振1.核磁共振(Nuclear Magnetic Resonance,NMR):无线电波照射样品时,使特定化学结构环境中的原子核发生的共振跃迁(核自旋能级跃迁)。
2.拉摩尔进动:外磁场与核自旋磁场的相互作用,导致核自旋轴绕磁场方向发生回旋,称为拉摩尔进动。
3.核磁共振现象的产生机理:主要是由核的自旋运动引起的,核的自旋产生了不同的核自旋能级,当某种频率的电磁辐射与核自旋能级差相同时,原子核从低自旋能级跃迁到高自旋能级,产生了核磁共振现象。
4.描述核自旋运动的量子数I与原子核的质子数和中子数有关,有下列三种情况:(1)偶-偶核,I=0;(2)奇-偶核,I为半整数;(3)奇-奇核,I为整数。
5.核磁共振的条件:(1)原子核有自旋现象(I﹥0);(2)在外磁场中发生能级裂分;(2π)。
(3)照射频率与外磁场的比值υB=γIB。
6.1H核磁共振条件:υO=γI2π7.化学位移:某一质子吸收峰出现的位置,与标准物质质子吸收峰出现的位置之间的差异,称为该质子的化学位移δ。
8.化学位移现象:同一种类原子核,但处在不同的化合物中,或是虽在同一种化合物中,但所处的化学环境不同,其共振频率也稍有不同,这就是所谓的化学位移现象。
9.影响化学位移的因素:诱导效应、共轭效应、磁各向异性效应、氢键效应和溶剂效应。
质子周围电子云密度↑,屏蔽效应↑,在较高磁场强度处(高场)发生核磁共振,δ小;电子云密度↓,屏蔽效应↓,在较低磁场强度处(低场)发生核磁共振,δ大。
现代材料分析方法现代材料分析方法是指利用现代科学技术手段对材料进行深入的分析和研究的方法。
随着科学技术的不断发展,材料分析方法也在不断更新和完善,为材料科学研究提供了更加丰富和精准的手段。
本文将介绍几种常见的现代材料分析方法,以及它们在材料科学研究中的应用。
首先,光学显微镜是一种常见的材料分析工具。
通过光学显微镜可以对材料的表面形貌进行观察和分析,了解材料的表面特征和微观结构。
光学显微镜具有成本低、操作简便等优点,广泛应用于材料科学研究中。
其次,扫描电子显微镜(SEM)是一种能够对材料进行高分辨率表面成像的工具。
SEM可以对材料的表面形貌进行观察,同时还可以通过能谱分析等手段对材料的成分进行分析。
SEM具有成像清晰、分辨率高等优点,广泛应用于材料的微观结构表征和分析。
X射线衍射(XRD)是一种常用的材料晶体结构分析方法。
通过X射线衍射可以确定材料的晶体结构、晶格常数等信息,对材料的结晶性质进行分析。
X射线衍射具有高分辨率、非破坏性等优点,广泛应用于材料的晶体结构分析和研究。
核磁共振(NMR)是一种能够对材料的分子结构和动力学性质进行分析的方法。
通过核磁共振可以确定材料中原子核的位置、化学环境等信息,对材料的分子结构进行分析。
核磁共振具有高灵敏度、高分辨率等优点,广泛应用于材料的分子结构表征和分析。
电子顺磁共振(EPR)是一种能够对材料中未成对电子进行分析的方法。
通过电子顺磁共振可以确定材料中未成对电子的数量、种类、环境等信息,对材料的电子结构进行分析。
电子顺磁共振具有高灵敏度、非破坏性等优点,广泛应用于材料的电子结构表征和分析。
综上所述,现代材料分析方法为材料科学研究提供了丰富的手段和工具,为我们深入了解材料的微观结构和性质提供了重要的支持。
随着科学技术的不断发展,相信会有更多更先进的材料分析方法出现,为材料科学研究带来更大的突破和进步。
现代材料分析方法现代材料分析方法是科学家们为了研究材料的性质和结构而开发的一系列技术和手段。
随着科学技术的进步,越来越多的先进分析方法被开发出来,使得人们能够更加深入地了解材料的特性和行为。
以下将介绍一些常见的现代材料分析方法。
1.X射线衍射(XRD):X射线衍射是一种用于确定晶体结构的分析方法。
通过照射材料并观察衍射的X射线图案,可以推导出材料的晶格常数、晶胞结构以及晶体的取向和纯度等信息。
2.扫描电子显微镜(SEM):SEM使用电子束来扫描样品表面,并通过捕获和放大反射的电子来产生高分辨率的图像。
SEM可以提供有关材料表面形貌、尺寸分布和化学成分等信息。
3.透射电子显微镜(TEM):TEM使用电子束透射样品,并通过捕获透射的电子来产生高分辨率的图像。
TEM可以提供有关材料内部结构、晶体缺陷和晶界等信息。
4.能谱仪(EDS):能谱仪是一种与SEM和TEM配套使用的分析设备,用于确定材料的元素组成。
EDS通过测量样品散射的X射线能量来识别和定量分析元素。
5.红外光谱(IR):红外光谱是一种用于确定材料分子结构和化学键的分析方法。
通过测量材料对不同频率的红外辐射的吸收,可以确定样品的功能基团和化学结构。
6.核磁共振(NMR):核磁共振是一种用于研究材料中原子核的分析方法。
通过利用材料中原子核的磁性质,可以确定样品的化学环境、分子结构和动力学信息。
7.质谱(MS):质谱是一种用于确定材料中化合物和元素的分析方法。
通过测量材料中离子生成的质量-电荷比,可以确定样品的分子量、结构和组成。
8.热分析(TA):热分析是一种通过测量材料对温度的响应来研究其热性质和热行为的方法。
常见的热分析技术包括差示扫描量热法(DSC)、热重分析(TGA)和热膨胀分析(TMA)等。
9.表面分析(SA):表面分析是一种研究材料表面化学成分和结构的方法。
常用的表面分析技术包括X射线光电子能谱(XPS)、扫描隧道显微镜(STM)和原子力显微镜(AFM)等。
材料现代分析方法
现代分析方法是指在分析过程中所采用的一系列科学技术和方法,以获得对于材料组成、结构、性质以及处理质量等方面的准确评估和分析。
现代分析方法是材料科学和工程技术领域中的一个重要研究方向,其涉及的技术和方法包括光学显微镜、扫描电子显微镜、X射线衍射、电子能谱、紫外-可见光谱、
红外光谱、质谱等。
光学显微镜是一种常用的现代分析方法,通过观察和记录材料样本的显微结构,可以了解材料的组成、形貌以及微观缺陷等信息。
扫描电子显微镜能够以非常高的分辨率观察到材料表面的微观形貌,通过扫描电子显微镜还可以进行能谱分析,得到材料的元素组成信息。
X射线衍射是一种常用的结构表征方法,通过射线在材料中的衍射现象,可以确定材料的晶体结构和晶格常数。
通过X射
线衍射还可以对材料的晶体缺陷和残余应力进行表征。
电子能谱是用来分析材料表面化学元素和化学结构的方法,通过测量材料在电子束照射下,产生的电子能量损失的谱线,可以获取材料的元素组成和化学结构信息。
紫外-可见光谱和红外光谱是用来分析材料的光学性质的方法,通过测量材料对于不同波长的紫外-可见光和红外光的吸收和
反射,可以了解材料的能带结构、能级布局以及化学键的类型和强度等。
质谱是分析材料中存在的各种离子和分子的方法,通过将材料样品分子或离子化,然后用质谱仪测量其质量-荷质比,可以确定材料中存在的化合物的分子量和组成。
综上所述,现代分析方法为材料科学的发展和应用提供了强大的工具和技术支持。
通过这些方法,科学家们可以深入了解材料的组成、结构和性质,为新材料的合成和应用提供指导和参考,并促进材料科学的发展和创新。
《材料现代分析方法》课程教学大纲
一、课程基本信息
课程编号:13103105
课程类别:专业核心课程
适应专业:材料物理
总学时:54学时
总学分: 3
课程简介:
本课程介绍材料微观形貌、结构及成分的分析与表面分析技术主要方法及基本技术,简单介绍光谱分析方法。
包括晶体X射线衍射、电子显微分析、X射线光电子谱仪、原子光谱、分子光谱等分析方法及基本技术。
授课教材:《材料分析测试方法》,黄新民解挺编,国防工业出版社,2005年。
参考书目:
[1]《现代物理测试技术》,梁志德、王福编,冶金工业出版社,2003年。
[2]《X射线衍射分析原理与应用》,刘粤惠、刘平安编,化学工业出版社,2003年。
[3]《X射线衍射技术及设备》,丘利、胡玉和编,冶金工业出版社,2001年。
[4]《材料现代分析方法》,左演声、陈文哲、梁伟编,北京工业大学出版社,2001年。
[5]《材料分析测试技术》,周玉、武高辉编,哈尔滨工业大学出版社,2000年。
[6]《材料结构表征及应用》,吴刚编,化学工业出版社,2001年。
[7]《材料结构分析基础》,余鲲编,科学出版社,2001年。
二、课程教育目标
通过学习,了解X射线衍射仪及电子显微镜的结构,掌握X-射线衍射及电子显微镜的基本原理和操作方法,了解试样制备的基本要求及方法,了解材料成分的分析与表面分析技术的主要方法及基本技术,了解光谱分析方法,能够利用上述相关仪器进行材料的物相组成、显微结构、表面分析研究。
学会运用以上技术的基本方法,对材料进行测试、计算和分析,得到有关微观组织结构、形貌及成分等方面的信息。
三、教学内容与要求
第一章X射线的物理基础
教学重点:X射线的产生及其与物质作用原理
教学难点:X射线的吸收和衰减、激发限
教学时数:2学时
教学内容:X射线的性质,X射线的产生,X射线谱,X射线与物质的相互作用,X射线的衰减规律,吸收限的应用
教学方式:课堂讲授
教学要求:
(1)了解X射线的性质和产生机制,了解X射线管的结构。
(2)深刻认识X射线谱的两种不同的波谱,即连续X射线谱和特征X射线谱。
(3)深刻理解X射线与物质的相互作用过程,掌握X射线的散射、吸收过程。
(4)掌握X射线的衰减规律。
(5)了解吸收限的应用。
第二章X射线衍射原理
教学重点:布拉格方程、衍射矢量方程及劳埃方程的推导
教学难点:产生X射线衍射的充要条件和多晶衍射积分强度的计算
教学时数:3学时
教学内容:倒易点阵,X射线衍射方向,X射线衍射强度
教学方式:课堂讲授
教学要求:
(1)了解倒易点阵的构建和倒易矢量。
(2)掌握布拉格方程、衍射矢量方程、厄瓦尔德图解、X射线衍射强度。
(3)了解倒易球、等同晶面、多重性因子、半高宽、厄瓦尔德图解等基本概念。
(4)掌握产生衍射的充要条件和多晶衍射积分强度的计算。
(5)掌握影响衍射强度影响的五大因素。
第三章多晶体X射线衍射分析方法
教学重点:X射线衍射仪的构成、工作原理及测量方法
教学难点:德拜法
教学时数:4学时
教学内容:德拜照相法,X射线衍射仪法
教学方式:课堂讲授
教学要求:
(1)了解德拜相机德基本结构。
(2)了解德拜法试样德制备和实验参数选择。
(3)熟练掌握德拜相的指数标定。
(4)了解X射线衍射仪法的仪器结构,了解测角仪的结构。
(5)掌握X射线衍射仪的构成、工作原理及测量方法。
第四章X射线衍射方法的应用
教学重点:物相分析基本原理
教学难点:宏观应力测定
教学时数:4学时
教学内容:点阵常数的精确测定,X射线物相分析,宏观应力测定
教学方式:课堂讲授
教学要求:
(1)掌握点阵常数的测定方法,了解误差来源及其消除方法。
(2)掌握X射线物相分析的方法和步骤,熟练掌握物相定性分析方法。
(3)了解X射线残余应力测定原理、单轴应力测定原理、平面应力测定原理。
(4)掌握X射线在应力测量中的具体应用。
第五章透射电子显微镜结构
教学重点:电磁透镜的景深与焦长,透射电子显微镜的结构
教学难点:电磁透镜的像差及其对分辨率的影响
教学时数:6学时
教学内容:光学显微镜的分辨率,电子波波长,电磁透镜,电磁透镜的像差及其对分辨率的影响,电磁透镜的景深与焦长,透射电子显微镜的结构,透射电镜的主要部
件,透射电镜的功能及发展
教学方式:课堂讲授
教学要求:
(1)了解光学显微镜的分辨率,认识光学显微镜分辨率的局限性。
(2)了解电子波波长,了解电磁透镜。
(3)掌握球差、色差、像散、景深、焦长的基本概念。
(4)掌握电磁透镜的像差及其对分辨率的影响。
(5)掌握透射电子显微镜的结构,能熟练绘出5级成像系统光路图。
(6)了解透射电镜的主要部件及其功能。
(7)了解透射电镜的功能及发展。
第六章电子衍射
教学重点:电子衍射原理,单晶电子衍射花样的标定
教学难点:单晶电子衍射花样的标定,复杂电子衍射花样
教学时数:6学时
教学内容:电子衍射原理,单晶电子衍射花样的标定,多晶电子衍射图的标定,复杂电子衍射花样
教学方式:课堂讲授
教学要求:
(1)掌握布喇格定律和电子衍射基本公式。
(2)熟练掌握单晶电子衍射花样的标定方法,学会查表标定法、d值比较法、标准花样对照法在具体实例中的应用。
(3)了解多晶电子衍射图的标定。
(4)对复杂电子衍射花样,只做一般介绍。
第七章电子显微图像
教学重点:质厚衬度原理,衍衬衬度,相位衬度
教学难点:衍衬衬度,相位衬度
教学时数:6学时
教学内容:质厚衬度原理,衍衬衬度,相位衬度,透射电子显微镜样品制备
教学要求:
(1)掌握质厚衬度原理。
(2)掌握衍衬运动学理论和衍衬图像的基本特征。
(3)掌握相位衬度基本原理,了解高分辨电子显微镜的结构特征。
(4)了解透射电子显微镜样品制备方法。
第八章扫描电子显微镜与电子探针显微分析
教学重点:电子显微镜的工作原理,电子探针X射线显微分析,表面形貌衬度原理及其应用
教学难点:表面形貌衬度原理及其应用
教学时数:7学时
教学内容:电子束与固体样品相互作用时产生的物理信号,扫描电子显微镜的结构和工作原理,表面形貌衬度原理及其应用,原子序数衬度原理及其应用,电子探针X
射线显微分析,扫描电子显微镜的发展
教学方式:课堂讲授
教学要求:
(1)了解电子束与固体样品相互作用时产生的背散射电子、二次电子、吸收电子、透射电子、特征X射线、俄歇电子等物理信号。
(2)了解扫描电子显微镜的结构,掌握其工作原理。
(3)掌握表面形貌衬度原理及其应用,了解原子序数衬度原理及其应用。
(4)掌握电子探针X射线显微分析,特别是能谱仪的结构和工作原理。
(5)了解扫描电子显微镜的发展。
第九章光谱分析简介
教学重点:光谱分析基本原理,紫外、可见光吸收光谱
教学难点:光谱分析基本原理
教学时数:6学时
教学内容:光谱分析基本原理,原子光谱,分子光谱
教学方式:课堂讲授
教学要求:
(1)要求学生充分理解光谱分析基本原理。
(2)了解分子光谱分析的基本原理。
(3)初步了解原子发射光谱、吸收光谱、原子荧光光谱的原理与应用。
(4)了解分子光谱分析原理。
(5)掌握紫外、可见光吸收光谱的原理与应用。
(6)了解红外吸收光谱和分子荧光光谱的原理与应用。
第十章其他显微分析方法简介
教学重点:扫描探针显微镜,软X射线显微术
教学难点:扫描隧道电子显微镜和原子力显微镜的原理及应用
教学内容:扫描隧道电子显微镜和原子力显微镜
教学方式:课堂讲授
教学要求:
(1)掌握扫描隧道电子显微镜和原子力显微镜的工作原理。
(2)了解扫描隧道电子显微镜和原子力显微镜的特点与应用。
(3)了解软X射线显微术基本概念及软X射线全息显微成像技术简介
第十一章电子能谱分析方法简介
教学重点:X射线光电子能谱
教学难点:X射线光电子能谱的分析与应用
教学时数:6学时
教学内容:俄歇电子能谱法,X射线光电子能谱和紫外光电子能谱
教学方式:课堂讲授
教学要求:
(1)了解俄歇电子能谱的基本原理、俄歇电子能谱仪及应用。
(2)了解紫外光电子能谱的原理
(3)了解X射线光电子能谱仪的结构,掌握X射线光电子能谱的基本原理。
(4)熟练掌握X射线光电子能谱的分析与应用。
四、作业
该课程原则上每次课都布置作业,除了教材中的习题,也可以补充一些典型习题。
五、考核方式与成绩评定
考核方式:考试。
成绩评定:总评成绩= 平时成绩(30%)+期末考试(70%),其中平时成绩是平时作业与出勤情况,视具体情况而定。
执笔人:
责任人:
2013年8月。