基本逻辑门逻辑功能测试及应用

基本逻辑门逻辑试验报告基本逻辑门逻辑功能测试及应⽤⼀、实验⽬的1、掌握基本逻辑门的功能及验证⽅法。

2、学习TTL基本门电路的实际应⽤。

3、了解CMOS基本门电路的功能。

4、掌握逻辑门多余输⼊端的处理⽅法。

⼆、实验原理数字电路中，最基本的逻辑门可归结为与门、或门和⾮门。

实际应⽤时，它们可以独⽴使⽤，但⽤的更多的是经过逻辑组合组成的复合门电路。

⽬前⼴泛使⽤的门电路有TTL门电路和CMOS门电路。

1、TTL门电路TTL门电路是数字集成电路中应⽤最⼴泛的，由于其输⼊端和输出端的结构形式都采⽤了半导体三极管，所以⼀般称它为晶体管-晶体管逻辑电路，或称为TTL电路。

这种电路的电源电压为+5V，⾼电平典型值为3.6V（≥2.4V合格）；低电平典型值为0.3V（≤0.45合格）。

常见的复合门有与⾮门、或⾮门、与或⾮门和异或门。

有时门电路的输⼊端多余⽆⽤，因为对TTL电路来说，悬空相当于“1”，所以对不同的逻辑门，其多余输⼊端处理⽅法不同。

（1）TTL与门、与⾮门的多余输⼊端的处理如图3.2.1为四输⼊端与⾮门，若只需⽤两个输⼊端A和B，那么另两个多余输⼊端的处理⽅法是：并联悬空通过电阻接⾼电平图3.2.1 TTL 与门、与⾮门多余输⼊端的处理并联、悬空或通过电阻接⾼电平使⽤，这是TTL 型与门、与⾮门的特定要求，但要在使⽤中考虑到，并联使⽤时，增加了门的输⼊电容，对前级增加容性负载和增加输出电流，使该门的抗⼲扰能⼒下降；悬空使⽤，逻辑上可视为“1”，但该门的输⼊端输⼊阻抗⾼，易受外界⼲扰；相⽐之下，多余输⼊端通过串接限流电阻接⾼电平的⽅法较好。

（2）TTL 或门、或⾮门的多余输⼊端的处理如图3.2.2为四输⼊端或⾮门，若只需⽤两个输⼊端A 和B ，那么另两个多余输⼊端的处理⽅法是：并联、接低电平或接地。

并联接低电平或接地图3.2.2 TTL 或门、或⾮门多余输⼊端的处理YYAY A YA Y（3）异或门的输⼊端处理异或门是由基本逻辑门组合成的复合门电路。

基本门电路逻辑功能测试逻辑功能测试是验证电路的逻辑功能是否符合设计要求的测试过程。

逻辑功能测试主要包括输入测试和输出测试两个方面。

输入测试是对基本门电路的输入信号进行测试，以验证其是否正确地识别和处理输入信号。

输入测试的目标是检查输入信号对电路的触发和响应是否符合设计要求。

为此，需要设计一组合适的输入信号，并观察电路的响应。

输入测试可以通过连接基本门电路的输入端和信号发生器来实现，通过改变输入信号的连续性、幅度和频率等参数，来观察电路的响应情况。

输出测试是对基本门电路的输出信号进行测试，以验证其是否正确地产生和传递输出信号。

输出测试的目标是检查输出信号的正确性和稳定性。

输出测试可以通过连接基本门电路的输出端和示波器或其他显示设备来实现，通过观察输出信号的波形和时序等参数，来判断电路的输出是否符合设计要求。

在进行逻辑功能测试时，需要先了解基本门电路的逻辑功能和输入输出特性。

基本门电路包括与门、或门、非门和异或门等。

与门的逻辑功能是当且仅当所有输入信号为高电平时，输出信号为高电平；或门的逻辑功能是当且仅当有一个或多个输入信号为高电平时，输出信号为高电平；非门的逻辑功能是将输入信号取反；异或门的逻辑功能是当且仅当输入信号为奇数个高电平时，输出信号为高电平。

基本门电路的输入输出特性由真值表或逻辑方程表达。

在进行功能测试时，首先需要编写测试方案，根据逻辑功能和输入输出特性，设计一组合适的测试用例。

测试用例包括输入信号和期望输出信号。

接下来，按照测试方案，连接基本门电路和测试设备，设置合适的输入信号，观察输出信号。

通过对比期望输出信号和实际输出信号，判断电路的逻辑功能是否正常。

如果有不符合期望的情况，可以通过修改电路连接和参数设置等方式来排查和解决问题。

在测试过程中，还需要注意保持测试环境的稳定性和一致性，避免干扰和误操作。

同时，还需注意安全操作，避免电路损坏或人身伤害。

总之，基本门电路的逻辑功能测试是验证电路的逻辑功能是否符合设计要求的重要步骤。

实验一基本门电路的逻辑功能测试姓名:潘建成班级10级电信1学号120101003132 指导老师：陈金恩一、实验目的1、测试与门、或门、非门、与非门、或非门与异或门的逻辑功能。

2、熟悉扩展板与主电路板的连接与使用。

3、了解测试的方法与测试的原理。

4、掌握TTL集电极开路门（OC门）的逻辑功能及应用。

5、掌握TTL三态输出门（3S门）的逻辑功能及应用。

6、熟练掌握multisim仿真测试。

二、实验仪器1、数字逻辑电路实验箱。

2、数字逻辑电路实验箱扩展板。

3、双踪示波器，数字万用表。

4、相应74LS系列芯片若干。

三、实验原理1、验中用到的基本门电路的符号为：图1-1与门图1-2或门图1-3非门图1-4与非门图1-5或非门图1-6异或门在要测试芯片的输入端用逻辑电平输出单元输入高低电平，（即实验箱上面的拨动开关）然后使用逻辑电平显示单元（实验箱上部的LED）显示其逻辑功能。

2、数字系统中有时需要把两个或两个以上集成逻辑门的输出端直接并接在一起完成一定的逻辑功能。

对于普通的TTL电路，由于输出级采用了推拉式输出电路，无论输出是高电平还是低电平，输出阻抗都很低。

因此，不允许将它们的输出端并接在一起使用，而集电极开路门和三态输出门是两种特殊的TTL门电路，它们允许把输出端直接并接在一起使用，也就是说，它们都具有“线与”的功能。

(1)、TTL集电极开路门（OC门）本实验所用OC门型号为2输入四与非门74LS03，引脚排列见附录。

工作时，输出端必须通过一只外接电R和电源Ec相连接，以保证输出电平符合电路要求。

阻LOC门的应用主要有下述特点：电路的“线与”特性方便的完成某些特定的逻辑功能。

图1-7所示，将两个OC 门输出端直接并接在一起，则它们的输出：21212121B B A A B B A A F F F B A +=∙=∙=图1-7 OC 与非门“线与”电路即把两个（或两个以上）OC 与非门“线与”可完成“与或非”的逻辑功能。

门电路逻辑功能及测试实验原理
门电路是数字电路中最基本的逻辑电路之一，用于实现逻辑操作。

常见的门电路有与门、或门、非门、异或门等。

每种门电路都有其特定的逻辑功能，以下是各种门电路的功能及测试实验原理：
1. 与门（AND Gate）：
逻辑功能：当所有输入均为高电平时，输出为高电平；否则输出为低电平。

测试实验原理：将多个输入连接到与门的输入端，将输出端连接到示波器或其他仪器上。

通过改变输入的电平，观察输出的变化，验证与门电路的功能是否正确。

2. 或门（OR Gate）：
逻辑功能：当任意一个输入为高电平时，输出为高电平；所有输入均为低电平时，输出为低电平。

测试实验原理：将多个输入连接到或门的输入端，将输出端连接到示波器或其他仪器上。

通过改变输入的电平，观察输出的变化，验证或门电路的功能是否正确。

3. 非门（NOT Gate）：
逻辑功能：输入与输出互为反相，即输入为高电平时，输出为低电平；输入为低电平时，输出为高电平。

测试实验原理：将输入连接到非门的输入端，将输出端连接到示波器或其他仪器上。

通过改变输入的电平，观察输出的变化，验证非门电路的功能是否正确。

4. 异或门（XOR Gate）：
逻辑功能：当输入的个数为奇数个时，输出为高电平；当输入的个数为偶数个时，输出为低电平。

测试实验原理：将多个输入连接到异或门的输入端，将输出端连接到示波器或其他仪器上。

通过改变输入的电平，观察输出的变化，验证异或门电路的功能是否正确。

注意：以上是常见的门电路的逻辑功能及测试实验原理，具体的实验步骤和使用仪器可能会有所不同，实验时应参考具体的实验指导书或教学资料。

实验一门电路逻辑功能测试及应用一．实验目的掌握基本门电路的逻辑功能。

二．实验设备及器材数字电子实验箱万用表2—3输入2—2输入与或非门确（74LS51）2输入四与非门（74LS00）2输入四正与门（OC）（74LS09）三态门（74LS126）2输入四异或门（7486）三．实验内容及步骤(一).与非门的逻辑功能测试(74LS00)1．如图1—1所示，任意选择其中一个与非门进行实验，输入端A、B分别接数字电子实验箱上的逻辑开关，当开关向上拨时，输入为高电平，即“H”或二进制“1”；当开关向下拨时，输入为低电平，即“L”或二进制“0”。

2．用发光二极管（即LED）显示门的输出状态。

当LED亮时，门的输出状态为“1”，或称高电平，用“H”表示; 当LED暗时，门的输出状态为“0”，或称低电平，用“L”表示。

门的输出状态也可以用电压表或逻辑笔测试。

3.按实验表1—1的要求，改变输入端A、B的逻辑状态，分别测出输出端电平，填入表1—1中，并判定其逻辑功能是否正确，写出逻辑表达式。

实验图1—1实验图1—2实验表1—1(二).利用与非门组成其它门电路或门(74LS00)1.按实验图1—2接线, 输入端A、B分别接数字电子实验箱上的逻辑开关，当开关向上拨时，输入为高电平，即“H”或二进制“1”；当开关向下拨时，输入为低电平，即“L”或二进制“0”。

2．用发光二极管（即LED）显示门的输出状态。

当LED亮时，门的输出状态为“1”，或称高电平，用“H”表示; 当LED暗时，门的输出状态为“0”，或称低电平，用“L”表示。

门的输出状态也可以用电压表或逻辑笔测试。

2.按实验表1—2的要求，改变输入端A、B的逻辑状态，分别测出输出端电平，填入表1—2中，并判定其逻辑功能是否正确，写出逻辑表达式。

实验表1—2(三).与或非门的逻辑功能测试(74LS51)1. 74LS51逻辑图见附录，按实验表1—3的要求，将A、B、C、D分别接数字电子实验箱上的逻辑开关,输出端接状态显示灯。

基本逻辑门逻辑功能测试实验报告本实验主要是对基本逻辑门的逻辑功能进行测试，通过测试不同门的逻辑功能，掌握基本逻辑门的使用方法，了解它们在电路设计中的应用。

本实验采用了数字电路实验箱和万用表等实验工具，进行实验的设计和测试，最终得到了实验数据和结论。

关键词：基本逻辑门；逻辑功能；测试；电路设计一、实验目的本实验的主要目的是：1. 了解基本逻辑门的种类和原理；2. 掌握基本逻辑门的使用方法；3. 通过测试不同门的逻辑功能，了解它们在电路设计中的应用。

二、实验原理1. 基本逻辑门的种类和原理基本逻辑门包括与门（AND）、或门（OR）、非门（NOT）、异或门（XOR）、同或门（NOR）和与非门（NAND）。

它们的逻辑功能如下：（1）与门（AND）：当且仅当所有输入都为1时，输出才为1，否则为0。

（2）或门（OR）：当且仅当所有输入都为0时，输出才为0，否则为1。

（3）非门（NOT）：当输入为0时，输出为1；当输入为1时，输出为0。

（4）异或门（XOR）：当且仅当输入不相同时，输出为1，否则为0。

（5）同或门（NOR）：当且仅当所有输入都相同时，输出为1，否则为0。

（6）与非门（NAND）：当且仅当所有输入都为1时，输出为0，否则为1。

2. 基本逻辑门的使用方法基本逻辑门的使用方法如下：（1）与门（AND）：将两个或多个输入接到与门的输入端，将输出接到需要的电路中。

（2）或门（OR）：将两个或多个输入接到或门的输入端，将输出接到需要的电路中。

（3）非门（NOT）：将输入接到非门的输入端，将输出接到需要的电路中。

（4）异或门（XOR）：将两个输入接到异或门的输入端，将输出接到需要的电路中。

（5）同或门（NOR）：将两个或多个输入接到同或门的输入端，将输出接到需要的电路中。

（6）与非门（NAND）：将两个或多个输入接到与非门的输入端，将输出接到需要的电路中。

三、实验设计本实验采用数字电路实验箱和万用表等实验工具，进行实验的设计和测试。

常用基本逻辑门电路功能测试实验一、实验目的1.验证常用门电路的逻辑功能。

2.了解常用74LS系列门电路的引脚分布。

3.根据所学常用集成逻辑门电路设计一组合逻辑电路。

二、实验原理集成逻辑门电路是最简单、最基本的数字集成元件。

任何复杂的组合电路和时序电路都可用逻辑门通过适当的组合连接而成。

目前已有门类齐全的集成门电路,例如“与门”、“或门”、“非门”、“与非门”等。

虽然,中、大规模集成电路相继问世,但组成某一系统时,仍少不了各种门电路。

因此,掌握逻辑门的工作原理,熟练、灵活地使用逻辑门是数字技术工作者所必备的基本功之一。

TTL门电路TTL集成电路由于工作速度高、输出幅度较大、种类多、不易损坏而使用较广,特别对学生进行实验论证,选用TTL电路比较合适。

因此,本书大多采用74LS（或74）系列TTL集成电路。

它的工作电源电压为5V土0.5V,逻辑高电平1时≥2.4V,低电平0时≤0.4V。

TTL集成门电路集成片管脚分别对应逻辑符号图中的输入、输出端,电源和地一般为集成片的两端,如14管脚集成片,则7脚为电源地（GND）,14脚为电源正（V cc）,其余管脚为输入和输出,如图1所示。

管脚的识别方法是：将集成块正面（有字的一面）对准使用者,以左边凹口或小标志点“ ? ”为起始脚,从下往上按逆时针方向向前数1、2、3、…… n脚。

使用时,查找IC手册即可知各管脚功能。

图1 74LS08集成电路管脚排列图三、实验内容与步骤TTL门电路逻辑功能验证（1）与门功能测试：将74LS08集成片（管脚排列图1）插入IC空插座中,输入端接逻辑开关,输出端接LED发光二极管,管脚14接+5V电源,管脚7接地,即可进行实验。

将结果用逻辑“0”或“1”来表示并填入表1中。

表1 门电路逻辑功能表图 2 74LS32四2输入或门管脚排列图（3）与非门功能测试：将74LS00集成片（管脚排列图见图3）插入IC空插座中,输入端接逻辑开关,输出端接LED发光二极管,管脚14接+5V电源,管脚7接地。

逻辑门功能测试及其应用研究实验报告1. 引言说到逻辑门，可能有的小伙伴觉得这是啥高大上的玩意儿，其实不然，它们就像咱们日常生活中的开关一样，简单却又无处不在。

逻辑门主要有“与”、“或”、“非”这几种，听上去是不是有点像我们日常生活中的选择题？只不过这些门的选择方式稍微复杂点，但没关系，咱们慢慢来，肯定能理解。

1.1 逻辑门的基本概念简单来说，逻辑门就是根据输入信号的不同组合，来决定输出信号的结果。

就像我们在路口的红绿灯，红灯停、绿灯行，没别的意思。

举个例子，假设有个“与”门，只有在A和B两个开关都打开的时候，它的输出才会是“开”，否则就是“关”。

是不是特别简单？而“或”门就更宽松了，只要有一个开关是开的，它就能亮起来。

这些门看似简单，但却是现代电子设备的基础，真是“看似平常，实则深藏玄机”啊。

1.2 实验目的咱们这次实验的目的，简单来说，就是想通过实际操作，搞清楚这些逻辑门是如何工作的。

你别小看这个实验，它不仅能让我们理解基本的逻辑概念，还能培养我们的动手能力，简直是“实践出真知”嘛！而且，这个过程还会让我们明白逻辑门在各种电子设备中的应用，真是一箭双雕啊。

2. 实验过程首先，我们得准备好各种器材，比如电源、逻辑门芯片、万用表，还有一堆连接线。

就像做菜前要把材料备齐一样，不然后面就得忙得不可开交。

接下来，我们按步骤连接电路，这一步可是非常关键，不然就会像是把盐和糖搞混一样，麻烦大了。

接着，我们一个个测试这些逻辑门的功能。

比如，先来测试“与”门。

我们给它输入两个信号，结果是，只有当两个开关都打开时，输出才会亮灯。

哇，真是“万事俱备，只欠东风”！然后是“或”门，它可有意思了，随便一个开关打开，灯就会亮，真是“热闹非凡”啊！最后，测试“非”门时，我们只需要反转输入信号，输出就会恰恰相反，这个有点像我们日常生活中的“翻转”嘛，真是让人忍不住笑出声。

2.1 数据记录与分析实验结束后，我们认真记录每一个测试的结果。

基本门电路的逻辑功能测试实验报告一、实验目的本实验旨在通过对基本门电路进行逻辑功能测试，掌握基本门电路的逻辑功能及其工作原理。

二、实验器材1.数字电路实验箱2.直流稳压电源3.数字万用表三、实验原理基本门电路是数字电路中最基本的逻辑元件，包括与门、或门、非门等。

它们分别对应着布尔代数中的“与”、“或”、“非”运算。

在数字电路中，这些基本门可以组合成更复杂的逻辑运算，如异或、同或等。

四、实验步骤1.连接与门电路：将两个输入端分别连接到数字电路实验箱上的两个开关上，将输出端连接到数字万用表上。

2.打开第一个开关，记录输出结果。

3.关闭第一个开关，打开第二个开关，记录输出结果。

4.打开两个开关，记录输出结果。

5.重复以上步骤，连接或门和非门电路进行测试。

五、实验结果及分析1.与门电路测试：当两个输入都为高电平时（即两个开关都打开），输出为高电平；当有一个或两个输入为低电平时（即有一个或两个开关关闭），输出为低电平。

这符合与运算的规律。

2.或门电路测试：当两个输入都为低电平时（即两个开关都关闭），输出为低电平；当有一个或两个输入为高电平时（即有一个或两个开关打开），输出为高电平。

这符合或运算的规律。

3.非门电路测试：当输入为高电平时（即开关打开），输出为低电平；当输入为低电平时（即开关关闭），输出为高电平。

这符合非运算的规律。

六、实验结论通过对基本门电路进行逻辑功能测试，我们掌握了与门、或门、非门的逻辑功能及其工作原理。

在数字电路中，这些基本门可以组合成更复杂的逻辑运算，如异或、同或等。

掌握了基本门的工作原理之后，我们可以更好地理解和设计数字电路。

七、实验注意事项1.在连接实验箱之前，确认所有器材已经通电并处于正常工作状态。

2.在进行实验前，检查所有连接是否正确，并确保没有短路情况发生。

3.在进行实验过程中，注意安全操作，避免触碰到带电部分。

实验一基本门电路的逻辑功能测试一、实验目的1、测试与门、或门、非门、与非门、或非门与异或门的逻辑功能。

2、了解测试的方法与测试的原理。

二、实验原理实验中用到的基本门电路的符号为：在要测试芯片的输入端用逻辑电平输出单元输入高低电平，然后使用逻辑电平显示单元显示其逻辑功能。

三、实验设备与器件1、数字逻辑电路实验箱。

2、数字逻辑电路实验箱扩展板。

3、相应74LS系列芯片若干。

四、实验内容测试TTL门电路的逻辑功能：a）测试74LS08（与门）的逻辑功能。

b）测试74LS32（或门）的逻辑功能。

c）测试74LS04（非门）的逻辑功能。

d）测试74LS00（与非门）的逻辑功能。

e）测试74LS02（或非门）的逻辑功能。

f）测试74LS86（异或门）的逻辑功能。

五、实验步骤1、按照芯片的管脚分布图接线（注意高低电平的输入和高低电平的显示）。

2、测试各个芯片的逻辑功能六、实验报告要求1.画好各门电路的真值表表格，将实验结果填写到表中。

2.根据实验结果，写出各逻辑门的逻辑表达式，并判断逻辑门的好坏。

优先编码器74LS147功能表74LS147逻辑图三、实验设备与器材1、数字逻辑电路实验箱。

2、数字逻辑电路实验箱扩展板。

3、芯片74LS148，74LS20各一片。

四、实验内容及实验步骤1、8-3线优先编码器74LS148将数字逻辑电路实验箱扩展板插在实验箱相应位置，并固定好，找一个16PIN的插座插上芯片74LS148，并在16PIN插座的第8脚接上实验箱的地（GND），第16脚接上电源（VCC）。

八个输入端I0～I7接拨位开关（逻辑电平输出），输出端接发光二极管进行显示（逻辑电平显示）。

2、10-4线优先编码器74LS147测试方法与74LS148类似，只是输入与输出脚的个数不同，功能引脚不同。

五、实验预习要求1、预习编码器的原理。

2、熟悉所用集电路的引脚功能。

3、画好实验所用的表格。

六、实验报告要求说明74LS148的输入信号EI和输出信号GS、EO的作用。

门电路逻辑功能测试及应用门电路是数字电路中常用的逻辑功能模块，它能够根据输入信号的状态产生输出信号的状态。

门电路按照不同的逻辑功能可以分为与门、或门、非门、异或门等。

通过适当的组合和连接，可以构建出复杂的数字逻辑电路，实现各种数字系统的功能。

首先，我们来看一下门电路的逻辑功能测试。

在数字电路设计中，对门电路的逻辑功能进行测试是非常重要的。

逻辑功能测试的目的是验证门电路是否按照设计要求正确地进行逻辑运算，从而得到正确的输出。

逻辑功能测试通常包括静态测试和动态测试两种方法。

静态测试是在门电路的输入端施加特定的输入信号，观察输出端的输出信号是否符合设计要求。

例如，对于与门，我们可以将输入端分别连接为高电平和低电平，然后观察输出端是否为低电平；对于或门，我们可以将输入端分别连接为高电平和低电平，然后观察输出端是否为高电平。

这样可以验证门电路是否能够正确地进行逻辑运算。

动态测试是通过输入端施加一系列不同的输入信号，观察输出端的输出信号是否随着输入信号的变化而正确地变化。

通过动态测试可以验证门电路的逻辑功能是否在不同输入组合下都能够正确地进行逻辑运算。

除了逻辑功能测试，门电路还有很多应用。

门电路是数字电路设计的基本组成部分，它可以用于构建各种数字系统，比如计算机、通信系统、控制系统等。

下面我们来看一些门电路的典型应用。

与门：与门是在多种输入信号全部为高电平时才输出高电平的门电路。

它常常用于逻辑与运算，比如在组合逻辑电路中实现各种逻辑功能；在存储器芯片中实现地址引脚的选择等。

或门：或门是在多种输入信号中只要有一个高电平就输出高电平的门电路。

它常常用于逻辑或运算，比如在多路选择器中实现输入信号的选择；在加法器中实现加法运算等。

非门：非门是在输入信号为低电平时输出高电平，输入信号为高电平时输出低电平的门电路。

它常常用于逻辑非运算，比如在逻辑反相器中实现输入信号的反相；在数字系统中实现信号的逻辑反转等。

异或门：异或门是在多种输入信号中有奇数个高电平时输出高电平，偶数个高电平时输出低电平的门电路。

门电路逻辑功能与测试实验报告门电路逻辑功能与测试实验报告一、实验目的本实验旨在通过学习和实践，掌握基本门电路（与门、或门、非门、与非门、或非门、异或门等）的逻辑功能及实际应用，并通过对门电路的测试，加深对数字逻辑电路的理解。

二、实验器材1.实验箱或面包板2.电源适配器3.逻辑门电路芯片（如74LS83A）4.连接线若干5.万用表6.实验程序（可选）三、实验原理门电路是数字逻辑电路的基本组成部分，可分为基本门电路和复合门电路。

基本门电路包括与门、或门、非门、与非门、或非门、异或门等，它们分别具有相应的逻辑功能。

例如，与门只会在所有输入均为高电平时输出高电平，否则输出低电平；或门则只需一个输入为高电平就会输出高电平，等等。

通过这些基本门电路的不同组合，可以实现复杂的逻辑功能。

本次实验将以74LS83A四路与非门电路为例，进行门电路的逻辑功能与测试。

74LS83A是一种TTL（Transistor-Transistor Logic）型四路与非门电路，其特点为功耗低、速度快、体积小等。

四个独立的与非门具有相同的输入和输出端，可单独控制。

当A、B、C和D任一输入端为0时，输出Y为1；只有当所有输入端都为1时，输出Y才为0。

四、实验步骤1.准备器材并检查完好。

2.根据实验原理，连接电源、输入和输出端口，保证电源极性正确。

3.使用万用表检查各输入端口电平状态，并记录。

4.逐个改变输入端口的状态，观察输出端口的电平变化，并记录。

5.分析实验数据，了解74LS83A四路与非门电路的逻辑功能。

6.断电，结束实验。

五、实验数据分析与结论通过对74LS83A四路与非门电路的测试，我们验证了其逻辑功能。

在输入端口状态改变时，输出端口电平变化符合与非门的逻辑功能。

当任一输入端口为0时，输出端口为1；只有当所有输入端口都为1时，输出端口才为0。

这表明该门电路功能正常，可以用于实际应用中。

通过本次实验，我们深入了解了基本门电路的逻辑功能和实际应用，并学会了如何使用万用表进行电路测试。

门电路逻辑功能及测试实验报告一、实验目的本次实验旨在深入理解门电路的逻辑功能，并通过实际测试掌握其工作特性和应用。

具体目标包括：1、熟悉与门、或门、非门、与非门、或非门和异或门等基本门电路的逻辑表达式和真值表。

2、学会使用实验仪器对门电路进行逻辑功能测试。

3、培养实验操作能力、数据分析能力和逻辑思维能力。

二、实验原理1、门电路的基本概念门电路是实现基本逻辑运算的电子电路，包括与门、或门、非门等。

与门的逻辑功能是只有当所有输入都为高电平时，输出才为高电平；或门只要有一个输入为高电平，输出就为高电平；非门则是输入与输出相反。

2、逻辑表达式和真值表与门：Y ＝ A·B或门：Y ＝ A ＋ B非门：Y ＝ A'与非门：Y ＝（A·B)＇或非门：Y ＝（A ＋ B)＇异或门：Y ＝ A ⊕ B通过真值表可以清晰地看到输入与输出之间的对应关系。

3、实验仪器数字电路实验箱、示波器、数字万用表、逻辑电平测试笔等。

三、实验内容与步骤1、与门逻辑功能测试（1）在实验箱上选取与门芯片（如 74LS08），按照芯片引脚图正确连接电路。

（2）将两个输入分别接逻辑电平开关，输出接逻辑电平指示灯。

（3）改变输入电平的组合（00、01、10、11），观察并记录输出电平的状态。

2、或门逻辑功能测试（1）选取或门芯片（如 74LS32），按照引脚图连接电路。

（2）同样将输入接逻辑电平开关，输出接指示灯，改变输入电平组合进行测试并记录。

3、非门逻辑功能测试（1）使用非门芯片（如 74LS04）进行连接。

（2）输入接电平开关，输出接指示灯，测试并记录。

4、与非门逻辑功能测试（1）选择与非门芯片（如 74LS00）进行电路连接。

（2）设置输入电平，观察并记录输出。

5、或非门逻辑功能测试（1）采用或非门芯片（如 74LS02）搭建电路。

（2）改变输入电平，记录输出结果。

6、异或门逻辑功能测试（1）找到异或门芯片（如 74LS86）并连接电路。

实验一常用基本逻辑门电路功能测试一、实验目的：通过对常用基本逻辑门电路的测试，了解其功能特点，掌握逻辑门的工作原理和应用场景。

二、实验器材：1.电源模块2.逻辑门集成电路芯片（如与门、或门、非门、与非门等）3.开关4.LED灯5.电阻6.连线电缆三、实验原理：逻辑门是一种能够根据输入信号的逻辑关系，产生相应的输出信号的电子电路。

常用的基本逻辑门有与门（AND）、或门（OR）、非门（NOT）、异或门（XOR）等。

1.与门（AND）：当且仅当所有输入信号都为高电平时，输出信号才为高电平。

2.或门（OR）：当至少有一个输入信号为高电平时，输出信号为高电平。

3.非门（NOT）：将输入信号取反，并输出。

4.异或门（XOR）：当输入信号中的高电平个数为奇数时，输出信号为高电平。

四、实验步骤：1.与门电路测试：a.将逻辑门芯片与门连接到电源模块，确定电源模块的供电电压和逻辑门芯片的工作电压。

b.将与门芯片的输入引脚连接到开关和电源模块的信号源上，将与门芯片的输出引脚连接到LED灯。

c.开关控制输入信号的高低电平，观察LED灯的亮灭情况。

当输入信号都为高电平时，LED灯亮起，验证了与门的功能特点。

2.或门电路测试：a.将逻辑门芯片或门连接到电源模块。

b.将或门芯片的输入引脚连接到开关和电源模块的信号源上，将或门芯片的输出引脚连接到LED灯。

c.开关控制输入信号的高低电平，观察LED灯的亮灭情况。

当至少一个输入信号为高电平时，LED灯亮起，验证了或门的功能特点。

3.非门电路测试：a.将逻辑门芯片非门连接到电源模块。

b.将非门芯片的输入引脚连接到开关和电源模块的信号源上，将非门芯片的输出引脚连接到LED灯。

c.开关控制输入信号的高低电平，观察LED灯的亮灭情况。

输入信号取反后输出，验证了非门的功能特点。

4.异或门电路测试：a.将逻辑门芯片异或门连接到电源模块。

b.将异或门芯片的输入引脚连接到开关和电源模块的信号源上，将异或门芯片的输出引脚连接到LED灯。

实验一基本逻辑门逻辑功能测试及应用一、实验目的1. 掌握TTL集成逻辑门的逻辑功能及其测试方法。

2. 掌握TTL器件的使用规则。

3. 熟悉数字电路实验仪的结构、基本功能和使用方法。

4. 练习熟练使用DS1052E型数字示波器。

二、实验原理门电路是构成各种复杂数字电路的基本逻辑单元，掌握各种门电路的逻辑功能和电器特性，对于正确使用数字集成电路是十分必要的。

目前应用最广泛的集成电路是TTL和CMOS。

TTL集成逻辑门电路根据其型号的不同，有不同的内部结构和引脚，在本实验中我们只选取了常用的与非门、与或非门来进行测试。

与非门是门电路中应用较多的一种，与非门的逻辑功能为，当输入端中有一个或一个以上是低电平时，输出为高电平；只有当输入全部为高电平时，输出才为低电平。

而与或非门的逻辑功能为，当同一个与门端组的输入端全部为高电平时，输出为低电平；当同一个与门端组中有一个或一个以上的输入端为低电平时，输出即为高电平。

实验前请认真阅读TTL集成电路使用规则。

数字系统中有时需要把两个或两个以上集成逻辑门的输出端直接并接在一起完成一定的逻辑功能。

对于普通的TTL门电路，由于输出级采用了推拉式输出电路，无论输出是高电平还是低点平，输出阻抗都很低。

因此，通常不允许将它们的输出端并接在一起使用。

集电极开路门和三态输出门是两种特殊的TTL门电路，它们允许把输出端直接并接在一起使用。

三、实验仪器及器件1. DS1052E型示波器2. EL-ELL-VI型数字电路实验系统3. DT9205数字万用表4.器件：集成电路芯片74LS00 74LS10 74LS51四、实验内容及步骤1.与非门逻辑功能测试（1）选用三输入端与非门74LS10，按图1-1连接实验电路，即将与非门的三个输入端A、B、C分别接至逻辑电平开关的电平输出插口，与非门的输出端Y接至显示逻辑电平的发光二极管的电平输入插口，同时将数字万用表调至直流电压档连接到门电路的输出端，测量输出电压值。