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数字卡尺内校规范

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卡尺内校 SOP1

卡尺内校 SOP1

SOP-QR-104三阶文件生效日期2012.06.19 编号SOP-QR-104版本/次A/1卡尺内校作业指导书编制人曲海涛审核人邱丰批准人张述强日期2012.06.19 日期2012.06.19 日期2012.06.19文件修改记录文件编号修改版本修改页数修改内容描述修改人批准人生效日期A0 首次发行2012.06.19卡尺内校作业指导书版本/次A/11. 目的1.1 确保校准结果的结果的准确性，使校准作业规范化。

2. 范围2.1 本标准适用于本公司现有各种类型之卡尺，包括高度尺、游标卡尺、戴表卡尺、电子数显卡尺。

3. 职责3.1 卡尺保管人：负责所属卡尺维护和保养。

3.2 品保部：卡尺专用量块的维护和保养。

3.3校验人：卡尺内校结果的记录和校验标识标签的确认。

4. 作业内容说明：4.1 卡尺结构：4.1.1游标卡尺结构如下图所示。

4.1.2 电子数显卡尺结果如下图所示。

4.1.3 戴表卡尺结构如下图所示。

卡尺内校作业指导书版本/次A/14.2 校验/检定条件：4.2.1 室内温度：25±3℃4.2.2 相对温度：65±15％4.3 校验/检定用主要标准器具:成都产二级量块.4.4外观检查4.4.1 检查方法：目检与试验；4.4.2 卡尺表面应无锈蚀，碰伤或其它缺陷，刻度和数字应清晰、均匀；4.4.3 尺框沿尺身移动应平稳，不应有阻滞及明显晃动现象，紧固螺丝的作用可靠。

4.5显示值校验/检定4.5.1所卡尺校正外卡任意选五个点校正，第五点须是该卡尺的最大量程范围，所卡尺校正内卡任意选三个点校正，第三点须是该卡尺的最大量程范围. 所卡尺校正深度，任意选四个点校正，第四点须是该卡尺深度的最大量程范围。

所有卡尺必须校正并须校正卡尺的外卡，内卡，深度。

4.5.2 误差:4.5.2.1 所有游标卡尺、带表卡尺在100mm以内（含100mm）受检误差为±0.02mm，受检点在100mm以上误差为±0.02mm；4.5.2.2 数显卡尺100mm以内（含100mm）受检误差为±0.02mm，受检点在100mm以上误差为±0.02mm。

卡尺校准规程

卡尺校准规程
4.2.8校准周期
校准周期可按实际使用情况而定，卡尺校准周期一般在三个月以内。
0.7
0.05
1.0
4计量器具控制
计量器具控制包括：首次校准、后续校准和使用中校准。
4.1校准条件
4.1.1计量室室内温度（20±5）℃。
4.1.2计量室室内湿度不得超过80%RH。
4.1.3校准前，应将被校准卡尺及量块等校准用设备同时置于平板或木桌上，一小时后方可进行校准。
4.2校准方法
4.2.1外观
目力观察
4.2.2各部分相互作用
目力观察和手动试验。
4.2.3各部分相对位置
目力观察或用2级塞尺进行比较校准。
4.2.4零值误差
移动尺框，使游标卡尺或带表卡尺量爪两外测量面接触。对于深度游标卡尺，将尺框基准面与尺身测量面同时与平板接触。分别在尺框紧固和松开的情况下，用目力观察。
4.2.5示值变动性
在相同条件下，移动尺框，使游标卡尺或带表卡尺量爪两外测量面接触；对于深度游标卡尺，将尺框基准面与尺身测量面同时与平板接触，重复测量10次并读数。示值变动性以最大与最小读数的差值确定。
2概述
通用卡尺是用来测量外尺寸和内尺寸、盲孔、阶梯形孔及凹槽等相关尺寸的量具。其主要结构形成分别为游标卡尺（见图1）、电子数显卡尺（见图2）、带表卡尺（见图3）、深度游标卡尺（见图4）。
图2
图3
图4
3通用技术要求
3.1外观
3.1.1卡尺表面应镀层均匀、标尺标记应清晰，表蒙透明清洁。不应有锈蚀、碰伤、毛刺、镀层脱落及明显划痕，无目力可见的断线或粗细不匀等以及影响外观质量的其它缺陷。
4.2.6示值误差
用3级或6等量块校准。受校准点的分布：对于测量范围在300mm内的卡尺，不小于均布分布3点。卡尺校准点分布在20mm、50mm、100mm。误差不得超过校准符合本规程要求的在量具空白处贴上《校准标签》，不符合本规程要求的，暂停使用，维修后，再校准。

卡尺内校规范

卡尺内校规范
深度示值测量0～150㎜/ 0～200㎜±0.02㎜/±0.03㎜
四.校正方法
4.1将需要校正的卡尺先清洁灰尘,然后合拢对零。
4.2分别用卡尺测量标准量块,测量项目有内径/外径/深度.每个测量项目分别取三个测量点测量,每个测量点分别测量五次,观看卡尺所测量值及平均值与标准值是否在最大允许误差范围内。
4.3校正完毕,取下量块,合好卡尺,做好相关测量校正记录。
五.注意事项
5.1测量、计量、试验仪器应注意轻拿轻放,避免摔落、碰撞影响仪器精密度与准确度。
5.2定期维护仪器清洁及保养,定期给仪器打防锈油,避免仪器生锈影响仪器使用寿命。
一.目的
规范仪器实施管理与定期校验.确保其精密度与准确度靠性符合国家及国际标准。
二.适用范围
适用于本公司的卡尺内校测量作业。
三.校准范围
仪器名称测量项目测量范围最大允许误差
卡尺内径示值测量0～150㎜/ 0～200㎜±0.02㎜/±0.03㎜
外径示值测量0～150Байду номын сангаас/ 0～200㎜±0.02㎜/±0.03㎜

卡尺 内校指导

卡尺 内校指导
文件名称
文件编号
标准文件
版别
A/0
文件名称:“卡尺”内校指导
页码
1of 1
1、校正目的: 说明卡尺校正之程序,确保卡尺在使用期间能维持其准确度。
2、校正范围: 凡本公司所有用于生产及来料质量判定的卡尺（带表卡尺、数显卡尺）均属此范围。
3、校正权责: 计量组。
4、校正环境：温度（20±5）℃；湿度（60±20）％。
10、准备工作：
10.1 应用清洁液清洗平台,再将待校件与量块标准件放置平台上准备清洁。
10.2 以棉花棒沾无水酒精清洁待校件与量块标准件及辅助器具表面,再用干净白布擦干净。
10.3 清洁完毕之后应将待校件与量块标准件放置于平台上至少30分钟以上，使标准件与待校件及校正环境温度同温；校正前应先戴上细纱手套。
a.依校正点拿取标准量块与卡尺直接测量。
b.长度为0-150mm的卡尺的校正点可选择: 5mm、 10mm、20mm、 40mm、60mm、80mm、100mm、130mm、等，每个测量校验点测量2次后取其平均值，并把测量结果记录于校正报告内。
c.长度为0-200mm的卡尺的校正点可选择: 10mm、20mm、40mm、60mm、80mm、100mm、150mm、180mm、等，每个测量点测量2次后取其平均值，并把测量结果记录于校正报告内。
11、校正内容:外观、归零、长度(包括外径、内径、深度)。
11.1外观检查：
卡尺表面镀层均匀、标尺上标记刻度应清晰，无生锈碰伤、毛刺、镀层脱落及明显划痕，表
盘刻度应清晰，卡尺外部及内外径刀口是否弯曲变形，紧固螺丝是否能牢固，内外径测量面
是否完全密合，尺框沿尺身移动应手感平稳，不应有阻滞或松动现象，数字显示应清晰、完

卡尺内部校准作业规范

卡尺内部校准作业规范
卡尺内部校准作业规范
版本
更改类型
生效日期
更改内容
会签部门：
品质：工程：
采购：业务：
研发：DCC：
生产：PMC：
行政：财务：
制作：
审核：
批准：
1.目的﹕
确保校准结果的准确性，使校准作业规范化，程序化，特制定此规范；
2.范围﹕
制程中所有卡尺均属之
3.责任部门﹕
生技课
4.相关部门：
检测设备使用部门
5.定义﹕
《内校校正报告》
11.参考文件
《检测设备校验规范》
《内校检测设备精度要求》
12.附录：
无
8.5认真填写《内校校正报告》并做好相关的记录；
9.注意事项
9.1拿标准量块时要戴手套；
9.2用完后及时放回盒子中；
9.3校验前对该检测设备进行年度保养；
9.3.1看机身是否有损坏，及不灵活现象；
9.3.2检查机身是否清洁，否则清洁干凈；
9.3.3卡尺属精密仪器，在校验过程中一定要轻拿轻放；
10.应用窗体
8.2.5.6用标准量块（191.8MM）测量，记下示值与标准量块值之差d6；
8.3将以上记录数据按《内校检测设备精度要求》上面所规定的的标准去判断被校的卡尺是否合格；
8.4如果所测结果在《内校检测设备精度要求》所规定的范围内，即为合格，在被校的卡尺上贴《合格证》；如果所测结果大部分在所规定的范围内，而有一小部分超过标准，结合实际的情况还可以用，这样的情况可定为准用，在被校的卡尺上贴《准用证》，并要求使有部门了解准用的内容，如果所测结果严重超去，则判断为不合格，在被校的卡尺上贴《暂停使用》，送维修处维修OK后再校验；
8.1.5.6用标准量块（121.8MM）测量，记下示值与标准量块值之差d6；

内校仪器规范

内校仪器规范

一．数显/带表卡尺校验规范1.校验范围:0-150mm2.校验周期:半年3.使用之标准件:经外校合格(追溯至国家标准)之块规及带表卡尺。

4.校验环境: 环境温度25℃±5℃、相对湿度50%-80%5.校验步骤:5.1校验前先检查卡尺的外观,及各部件相互作用是否正常。

5.2戴上纯棉手套，用脱脂棉粘高纯度酒精（99.5%或以上）对游标卡尺各部件进行擦拭清洗干净,并用纸吸干。

5.3戴上手套将卡尺卡紧,旋转游标卡尺之刻度盘,让指针指正零位或让显示屏显示零数字。

5.4卡尺校验5.4.1卡尺内爪校验:待校验卡尺两端外侧测爪分别平夹于块规两端之量测面上。

5.4.2卡尺外爪校验:将外校合格的带表卡尺调至校验点,待验卡尺外爪与标准卡尺内爪平行,并紧密接触。

5.4.3卡尺深度校验:将标准块规置于平滑的台面,竖起卡尺,深度针抵住台面,并与块规测试面平行,轻轻滑动卡尺,使卡尺尾部与块规测试边缘紧密接触。

5.4.4正确读取卡尺上的量测读数值,并如实记录于“校验记录表”。

5.4.5实测差值:差值=卡尺读示值-块规标准尺寸.5.4.6每一个校验点测试1次,并分别将结果数值记录下来,然后用实际测量值与允许误差作比较来判定是否符合标准。

5.4.7对于所设定之其它校验点,重复以上5.4.1-5.4.4即可。

5.4.8本公司依块规情况,对卡尺所设定校验点及所用块规值和允许误差值列表如下:5.4.9完成校验后需清洗干净所有用过的仪器,将其恢复原状放回仪器柜内,长时间不用需包一层涂有保护油的纸,以免锈蚀。

5.4.10对校验合格之仪器贴上校验“合格标签”,校验不合格的仪器贴上“停用标签”。

5.4.11各项校验之记录“仪器内校记录表”应存于品质部，保存期限为半年。

二．电子称校验规范1.校验范围: 0-3kg2.校验周期: 半年3.使用之标准件:经外校合格之砝码.4.校验环境: 环境温度25℃±5℃相对湿度:50%-80%5.校验步骤:5.1.校验前先检查电子称表面是否有生锈、按钮灵敏度是否正常。

卡尺校验规范

6.0参考数据
卡尺使用说明,检测设备校验/管理作业方法
7.0附件:
无
100-200mm±0.03mm200mm以上±0.04mm
带表游标卡尺0.02mm0-100 mm±0.04mm
100-200mm±0.05mm
200mm以上±0.06mm
5.2校验设备
块规一级0-100mm
块规三级100-500mm
5.3准备事项
5.3.1准备标准块规及需校验的卡尺放置于仪校室至少4小时,仪校室
环境温度要求在22±2℃,湿度在65%以下.
5.3.2准备手套.
5.3.3用擦拭纸沾酒精把卡尺清洁干凈.
5.3.4熟读整个校正程序与使用说明书.
5.4注意事项:
5.4.1标准块规及卡尺应轻拿轻放,谨防掉落,随时注意人员设备安全.
5.5校验:
5.5.1外观检查:
无锈蚀,碰伤,镀层完好,刻线及数字均匀清晰.数显卡尺数显窗不得
1
5
5
5
5
5
2
10
10
10
10
10
3
50
50
50
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100
4
100
100
150
300
300
5
150
200
300
450
500
5.5.5深度校验:
按下表对深度进行校验:
步骤
150Hale Waihona Puke m200mm300mm
450mm
500mm
1
5
5
2
10
10
3
50
50
5.5.6校验结果记录于<<检测设备内部校验报告>>.

内校校准规范

XX（科技）有限公司卡尺校准规范文件编编号：发布日期：实施日期：1、目的对内部的卡尺校准，确保准确度和实用性保持完好。

2、规范性引用文件本规范引用下列文件：JJG 30-2012 通用卡尺检定规程。

3、范围本规范适用于公司内部分度值或分辨力为：0.01mm,0.02mm,0.05mm;测量范围：0～500mm，各种规格游标卡尺、带表卡尺、数显卡尺的首次校准、使用中校准和后续校准，其它类型卡尺也可参照执行。

4、校准标准外校合格的标准量块5、环境条件5.1 校准室内温度（20±5）℃，恒温时间不少于2h.5.2 校准室内湿度不超过80%RH5.3校准前，应将被校卡尺及量块等校准用设备同时置于平大理石平台上或木桌上，其平衡温度时间见表-1的规定。

表-1 平衡温度时间6、技术要求6.1零值误差通用卡尺量爪两测量面相接触（深度通用卡尺的主标尺基准面和测量面在同一平面）时，由表上的“零”标记和“尾”标记与主标尺相应标记应相互重合。

其重合度应符合表-2的规定。

带表卡尺部超过不超过分度值的1/2，数显卡尺不超过0.01mm.6.3示值误差应符合表-3的规定，带深度测量杆的卡尺，深度测量杆在20mm点的示值误差应不超过1个分度值。

表-3 通用卡尺的示值误差5、校准方法5.1零值误差;5.1.1 移动通用卡尺的尺框，使通用卡尺的量爪两外侧面接触，分别在尺框紧固和松开的情况下，用目力观察“零”标记和“尾’标记与主标尺相应标记的重合度。

必要时用工具显微镜校准。

5.1.2 对于深度通用卡尺，将尺框基准面与尺身测量面同时与大理石平台接触。

5.2示值变动性5.2.1在相同条件下，移动尺框，是电子数显卡尺或带表卡尺两外测量面接触，重复测量10次读数。

示值变动性以最大与最小读数的差值确定。

5.3示值误差5.3.1川3级或5等量块校准 5.3.2受校点的分布：对于测量范围在300mm 内的卡尺，不少于均匀分布3点，如测量范围为（0～150mm ）的卡尺，其受教点为30mm;60mm;90mm;如测量范围为（0～300mm ）的卡尺，其受校点为 101.30mm ；102.60mm ；291.90mm ；对于测量范围大于300mm 的卡尺，不少于均匀分布6点，如测量范围为（0～500mm ）的卡尺，其受校点为 80mm ；161.30mm ；240mm ；321.60mm ；400mm ；491.90mm.根据实际使用情况可以适当增加受校点位。

量具内校规程

1、数显卡尺校准规程1目的对游标卡尺进行内部校准，确保其准确度和适用性保持完好。

2范围适用于数显卡尺的内部校准3校验基准外校合格的量块。

4环境条件室温5校验步骤5.1检查卡尺测量接触面是否平整、干净、无污渍、锈迹，表头是否平稳、平滑。

5.2调校零位，或使指针对准零点。

5.3取2〜3块任意基准量块进行度量，量块被测面要干净、平整。

每块连续测量三次，每次测量值均应在允许误差范围内，将其平均值记录在《内校记录》内。

允许误差范围根据不同卡尺的精度分为±0.01mm、±0.02mm。

5.4测内径接触面磨损程度：取两块量块（构成测量的基准面）夹紧一块量块成“H”型，然后移动表头，使卡尺上面的测量端张开后靠紧两基准面进行读数，每块测量三次，取平均值。

测量值与标准值根据不同卡尺的精度分为±0.01mm、±0.02mm,将其平均值记录在《内校记录》中。

5.5可根据不同量程的卡尺选用不同的基准量块或组合进行校准；5.6历次测量值与标准值之差，均在允许误差范围内，判校准合格；6校准周期每半年一次7相关记录《内校记录》2、数显千分尺内部校验规程1目的对千分尺进行内部校准，确保其准确度和适用性保持完好。

2范围适用于千分尺的内部校准。

3校验基准外校合格的标准量块。

4环境条件室温5校验步骤5.1检查千分尺测量接触面是否平整、干净、无污渍、锈迹，刻度是否清晰。

5.2扭动千分尺螺栓调校零位，使刻度对准零点。

5.3根据不同量程的千分尺选择适宜的标准量块3〜4块，（可对标准量块进行组合测量）。

每块量块连续测量三次，每次测量值均应在允许误差范围内，将其平均值记录在《内校记录》内。

允许误差范围为±0.01mm。

5.5历次测量值与标准值之差，均在允许误差范围内，判校准合格。

6校准周期每半年一次7相关记录《内校记录》1目的对FRT进行内部校准，确保其准确度和适用性保持完好。

2范围适用于FRT的内部校准。

内校校准规范

XX（科技）有限公司卡尺校准规范文件编编号：发布日期：实施日期：1、目的对内部的卡尺校准，确保准确度和实用性保持完好。

2、规范性引用文件本规范引用下列文件：JJG 30-2012 通用卡尺检定规程。

3、范围本规范适用于公司内部分度值或分辨力为：0.01mm,0.02mm,0.05mm;测量范围：0～500mm，各种规格游标卡尺、带表卡尺、数显卡尺的首次校准、使用中校准和后续校准，其它类型卡尺也可参照执行。

4、校准标准外校合格的标准量块5、环境条件5.1 校准室内温度（20±5）℃，恒温时间不少于2h.5.2 校准室内湿度不超过80%RH5.3校准前，应将被校卡尺及量块等校准用设备同时置于平大理石平台上或木桌上，其平衡温度时间见表-1的规定。

表-1 平衡温度时间6、技术要求6.1零值误差通用卡尺量爪两测量面相接触（深度通用卡尺的主标尺基准面和测量面在同一平面）时，由表上的“零”标记和“尾”标记与主标尺相应标记应相互重合。

其重合度应符合表-2的规定。

带表卡尺部超过不超过分度值的1/2，数显卡尺不超过0.01mm.6.3示值误差应符合表-3的规定，带深度测量杆的卡尺，深度测量杆在20mm点的示值误差应不超过1个分度值。

表-3 通用卡尺的示值误差5、校准方法5.1零值误差;5.1.1 移动通用卡尺的尺框，使通用卡尺的量爪两外侧面接触，分别在尺框紧固和松开的情况下，用目力观察“零”标记和“尾’标记与主标尺相应标记的重合度。

必要时用工具显微镜校准。

5.1.2 对于深度通用卡尺，将尺框基准面与尺身测量面同时与大理石平台接触。

5.2示值变动性5.2.1在相同条件下，移动尺框，是电子数显卡尺或带表卡尺两外测量面接触，重复测量10次读数。

示值变动性以最大与最小读数的差值确定。

5.3示值误差5.3.1川3级或5等量块校准 5.3.2受校点的分布：对于测量范围在300mm 内的卡尺，不少于均匀分布3点，如测量范围为（0～150mm ）的卡尺，其受教点为30mm;60mm;90mm;如测量范围为（0～300mm ）的卡尺，其受校点为 101.30mm ；102.60mm ；291.90mm ；对于测量范围大于300mm 的卡尺，不少于均匀分布6点，如测量范围为（0～500mm ）的卡尺，其受校点为 80mm ；161.30mm ；240mm ；321.60mm ；400mm ；491.90mm.根据实际使用情况可以适当增加受校点位。

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使用中
+0.015～0
+0.015～-0.005
3-6示值变动性，移动尺框，使两外量面至手感接触时在表上读数，移动尺框五次，其最大与最小值之差为变动性，检定结果不应大于0.01mm。
3-7示值误差检测：
测量范围
检定点
0～150
38.4
76.8
145.6
0～200
38.4
145.6
196.8
0～300
3-13校验合格后，数显卡尺校验周期为一年。
四、附表：
4-1仪器设备内校记录表
批 准：
审 核：
拟 制：
一、适用范围：
适用于本公司检测用之数显卡尺。
二、管理权责：品质部。
三、作业程序：
3-1依《量检具校验一览表》上所使用的外校合格、且在有效期内的量块、平板，并找出《量检具设备校验履历表》及要求使用单位提供受检之设备。
3-2备妥清洁用布、治工具内校记录表。
3-3外观要求，数显卡尺表面不应有锈迹、碰伤、镀层脱落及其它影响质量的缺陷，数字显示应清晰、完整，无黑斑和闪跳现象，各按钮功能可靠，工作稳定。
76.8
214.4
299.2
3-7-1外测量爪示值误差，用标准量块进行检测，各点示值误差以该点读数值与量块尺寸之差确定，检定结果不应大于下表的规定。一般检测三点。下表为一般推荐检测点：
示值误差规定：
受检尺寸
示值误差
0～200
±0.03
≥200～300
0.04
≥300～500
0.05
3-7-2深度尺示值误差：用一块尺寸为20mm的6等或以上量块于平板上进行检定，读数值与量块尺寸之差即为检定结果。
3-8依检验结果进行判定后呈部门主管核准。
3-9部门主管核准时，对于被判定不合格者，须做出“报废”、“暂停使用”等决定并签章。
3-10依3-8、3-9之判定后予以标示，标示方法依《检测设备校准作业办法》实施。
3-11校准温度原则为20±5℃环境，其它相关规定依《检测设备校准作业办法》。
3-12依3-10做出标示4各部分相互作用，尺框沿尺身移动应手感平稳，深度尺不应有窜动，紧固螺母的作用应可靠。
3-5刀口内量爪尺寸检测，将一块6等（或以上）量块置于两外量爪测面之间，旋紧固定螺钉，量块不应滑落，用杠杆千分尺在全长范围内测量内量爪尺寸，尺寸偏差由测得值与量块之差确定，检定结果不应大于下表的规定：
新制的和修理后