纳米激光粒度仪设备工艺原理

新帕泰克激光粒度仪原理

新帕泰克激光粒度仪是一种用于测量颗粒大小分布的仪器。它采用激光光源和光学系统，通过散射光的强度和角度来测量颗粒的大小和分布。其原理是基于光散射理论和多角度散射技术。

在新帕泰克激光粒度仪中，激光光源会照射到样品中的颗粒上，颗粒会散射出光线。这些散射光线会被收集到光学系统中，然后被分成不同的角度。在不同的角度下，散射光的强度和颗粒大小有关。通过测量不同角度下的散射光强度，可以得到颗粒的大小分布。

新帕泰克激光粒度仪采用多角度散射技术，可以测量不同角度下的散射光强度。这种技术可以提高测量的准确性和精度。同时，新帕泰克激光粒度仪还可以测量颗粒的形状和透明度等参数，可以更全面地了解颗粒的特性。

新帕泰克激光粒度仪的应用范围非常广泛，可以用于研究颗粒物质的物理化学性质、制药、食品、化妆品、涂料、油漆、纸张、塑料、橡胶、水泥、陶瓷等领域。它可以帮助人们更好地了解颗粒的特性，为相关领域的研究和生产提供重要的参考。

新帕泰克激光粒度仪是一种非常重要的颗粒大小分布测量仪器，其原理基于光散射理论和多角度散射技术。它可以测量不同角度下的散射光强度，从而得到颗粒的大小分布。它的应用范围非常广泛，可以为相关领域的研究和生产提供重要的参考。

粒径仪的原理

粒径仪是一种常用的粒子大小分析仪器，其原理是基于光学和散射原理。

粒径仪通常由以下几个部分组成：激光器、样本池、光学系统、探测器和数据处理系统。

首先，激光器会发出一束单色激光，这束激光经过适当的光学元件后聚焦在样本池中。

样本池中含有待测的颗粒悬浮液。当激光照射到颗粒上时，光线会发生散射。根据散射光的强度和角度分布，可以推测出颗粒的大小。

散射光经过光学系统后，会进入探测器进行信号转换和增强。探测器会测量散射光的强度、光散射角度等参数，并向数据处理系统发送信号。

数据处理系统会接收探测器的信号，并根据一定的算法和模型进行数据处理和分析。通过比对已知粒径的标准样品，可以确定待测颗粒的粒径分布和平均粒径。

最终，粒径仪会输出粒径分布曲线、平均粒径等粒径分析结果。

需要注意的是，不同粒径仪的原理和具体实现方式可能有所不同，但基本的光学散射原理是相似的。

图2 非侵入式背散射法与其它动态光散射技术比较示意图 白色：非侵入式背散射法的粒度及浓度范围；黄色：经典PCS粒度及浓度范围； 红色：经典背散射粒度及浓度范围； 绿色：增强型背散射粒度及浓度范围；

在单一散射角测定样品的分子量

---- 英国马尔文公司Zetasizer Nano ZS纳米粒度和Zeta电位分析仪

杨正红 英国马尔文仪器（中国）有限公司

马尔文公司2003年5月推出的Zetasizer Nano系列纳米粒度和Zeta电位分析仪是在2000年7月问世

的Zetasizer HS系列和2001年9月问世的HPPS的基础上发展起来的，它不仅继承了原有仪器的鲜明特点（如

测量范围宽，浓度应用范围广，高分辨Zeta电位，APD检测器等），而且还发展了许多其它功能，包括分子

量测定，旋转半径，第二维里系数测定，SOP，和随时间及温度的趋势分析等。Zetasizer Nano ZS作为该系列

中的顶级配置，尚无其它厂家仪器可与之匹敌，其技术特点综述如下：

一．仪器功能：

1. 具有最宽的纳米粒度范围及最低的下限：0.6nm - 6µm，可测量高分子大小。

2. 具有最宽的浓度应用范围：0.1ppm – 40% (w/w)，下限已经极低。最少样品量仅0.75ml。

3. 独有的高分辨Zeta电位技术：可分辨率5mV以下的不同粒子的Zeta电位贡献，可轻易发现污染物，

并可测定高盐浓度及极低迁移率的样品。

4. 可对分子量进行测定，包括旋转半径和第二维里系数。

而一台分子量测定仪器价值即在7万美金左右。

5. 是唯一具有标准操作规程（SOP）的纳米粒度分析仪

器。

6. 随时间及温度变化进行趋势分析。

7. 与自动滴定（MPT-2）相连接后，可自动测定粒度、

Zeta电位随pH、盐浓度和电导率变化的，自动测定分

子量，最少仅需3ml样品。

8. 温度控制范围：2 – 90 ºC

二．仪器原理及创新：

1. 粒度测量原理：全范围米氏理论（Mie Theory）

粒径测试仪的原理是怎样的呢

粒径测试仪是一种用于测量颗粒物粒径的设备，广泛应用于工业领域中。其主要原理是通过衍射、光散射、激光探测等方式，对颗粒物进行不同的测量和分析。下面将分别介绍粒径测试仪的三种原理。

衍射原理

衍射法是一种利用灰度图像处理的粒径测试方法。在衍射原理中，光线通过由两个平行的光阑结构组成的光学路径，两个凸面透镜的中间被夹住了物质，然后传播和衍射出来形成一系列干涉图案。根据衍射图案的特点，可以确定颗粒物的大小和形态。

使用衍射法测量粒径的优点是可以测量大量的颗粒物，同时可以测量颗粒物的形状和分布等信息。但是，衍射法对于粒径分布较为宽泛或颗粒物浓度较高的样品处理能力较为有限。

光散射原理

光散射是一种利用物质对光线作用的粒径测试方法。在光散射原理中，粒径测试仪发送一束单色光束到颗粒物标本上，并通过高灵敏检测系统检测被散射的光强度及其取向。根据被散射的光强度与颗粒物的大小和形状之间的关系，可以计算出颗粒物的粒径大小。

使用光散射法测量粒径的优点是不需要直接接触样品，同时对于粒径分布不明显和浓度较低的样品处理能力较强。但是，对于粒径分布较宽泛或浓度较高的样品，光散射法不易测量粒径。

激光探测原理

激光粒度仪是一种使用激光粒度分析技术的仪器。它通过激光光源发射大量的激光束到样本中，然后通过检测系统对被激光束散射出来的光子进行检测和测量。根据被散射光子的信号，可以计算出颗粒物的粒径大小。

使用激光探测法测量粒径的优点是精度高、可重复性好、处理速度快。同时，对于粒径分布较为广泛或浓度较高的样品，激光探测法具有较好的处理能力。

总之，不同的粒径测试原理都有各自的优点和局限性。在进行粒径测试时，需要根据样品的特点和测试要求，选择合适的测量方法和设备。