130924-垂直转盘式MOCVD反应器中GaN化学反应路径的影响研究
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MOCVD的原理及应用1. 简介MOCVD(金属有机化学气相沉积)是一种常用于半导体器件制造的薄膜沉积技术。
它通过在高温下分解金属有机化合物来沉积出具有特定性质的材料薄膜,广泛应用于光电子、电子器件、传感器等领域。
2. 工作原理MOCVD的工作原理基于热分解金属有机化合物,并在局部反应过程中生成所需的元素。
主要包括以下步骤:2.1 材料供应•这一步骤中,金属有机化合物被蒸发,以供应原子组分用于沉积薄膜。
2.2 衬底制备•在MOCVD系统中,衬底被清洗和加热,以去除污染物并提供合适的表面条件来接受沉积材料。
2.3 沉积材料生成•衬底被置于反应室中,金属有机化合物分子通过比例阀和气流送入反应室。
•在反应室中,金属有机化合物发生热分解,生成金属和有机残留物。
•金属在表面反应,生成所需材料的薄膜。
2.4 管理反应过程•反应温度、气流速度和金属有机化合物的供应速率等参数需要准确控制,以获得所需薄膜的理想特性。
3. 应用领域MOCVD技术在以下领域得到广泛应用:3.1 光电子器件制造•MOCVD可用于生长具有特定波长、高纯度和优异光电特性的半导体材料。
这些材料常用于光电子器件,如激光器、LED等。
3.2 电子器件制造•在电子器件制造中,MOCVD可用于沉积具有特定性能的绝缘体、传导薄膜和金属氧化物薄膜。
3.3 传感器制造•MOCVD也广泛应用于传感器制造。
通过调整材料组分和沉积条件,可以获得特定性能的材料,用于制造高灵敏度、高稳定性的传感器。
3.4 生物医疗•MOCVD可以用于沉积生物医疗领域的材料,如生物传感器、生物医疗器械等。
3.5 其他应用领域•MOCVD还可用于制造太阳能电池、光伏设备、显示器件等。
4. 优势与挑战4.1 优势•MOCVD可以控制沉积材料的组分和性能,以满足不同应用的要求。
•MOCVD具有高度适应性,可用于不同形状和尺寸的衬底。
•MOCVD可在较低的温度下进行材料沉积,以减少热应力。
GaN-MOCVD反应室的CFD数值模拟计算的开题报告1. 研究背景与意义化学气相沉积法(MOCVD)是一种制备宽带隙半导体材料的重要技术,已广泛应用于LED、激光器、太阳能电池等领域。
然而,MOCVD过程中气相反应的复杂性使得优化反应条件和提高材料质量成为一个挑战。
计算流体力学(CFD)模拟方法可用于模拟反应室内的流场、温度场、气相成分分布等关键参数,从而揭示反应机理和优化反应条件,提高材料质量与器件性能。
本研究旨在利用CFD模拟方法研究GaN-MOCVD反应室中气相化学反应的动态特性,为制备高质量GaN材料提供理论基础。
2. 研究内容与方法2.1 研究内容(1)建立GaN-MOCVD反应室的CFD数值模型,包括反应室内部的几何结构、反应过程中所涉及的化学反应、物理过程以及其它相关细节;(2)通过CFD数值模拟,研究和分析GaN-MOCVD反应室内的气相流动、温度场、传质和化学反应过程等关键参数的分布特征及其变化规律,去掉杂质助剂对物理与化学过程的影响;(3)模拟不同反应条件下气相成分、沉积速率、晶体质量等重要物理化学参数随时间和空间的演变,研究材料生长的机理;(4)对比实验结果,验证CFD模拟的可靠性和准确性。
2.2 研究方法建立GaN-MOCVD反应室的CFD数值模型,考虑物理化学过程,采用ANSYS Fluent软件进行数值模拟。
具体内容包括:(1)建立反应室的几何模型和网格划分,采用三维模型,并分区域分别拖拽网格划分,确保网格质量;(2)设定边界条件,包括进口处的进气流量、温度、组分等关键参数,以及出口处的压力等条件;(3)设定物理模型,包括气体流动、传热、物质传递、化学反应等过程,并考虑杂质助剂对物理化学过程的影响;(4)运行CFD数值模拟,分析反应室内的气相流动、温度场、传质和化学反应过程等关键参数的分布特征及其变化规律。
3. 预期研究结果(1)建立GaN-MOCVD反应室的CFD数值模型,包括反应室内部的几何结构、反应过程中所涉及的化学反应、物理过程以及其它相关细节;(2)模拟不同反应条件下气相成分、沉积速率、晶体质量等重要物理化学参数随时间和空间的演变,研究材料生长的机理;(3)比较实验结果,验证CFD模拟可靠性和准确性;(4)分析模拟结果,得出对于GaN-MoCVD反应室优化设计,提高GaN材料质量的建议。
生长GaN的垂直喷淋式MOCVD反应器设计调研报告摘要:GaN-MOCVD是生长GaN 基半导体材料和器件的关键设备,无论是设备还是工艺,都还存在很大的发展空间和机遇。
要设计新型的GaN-MOCVD设备,必须查阅相关资料,在前人的设计上有所突破。
本文概括讲述了GaN-MOCVD设备的发展现状,并分析了其原理与技术,发展趋势,及对这类反应器的设计方法进行优化总结。
关键词:GaN-MOCVD;发展现状;原理;应用;优化;1.调研目的了解当今国内外GaN-MOCVD设备的发展状况及设计方法,以便在后期设计中可以去粗取精,设计出新型,合理的垂直喷淋式GaN-MOCVD设备。
2.调研的内容及方式通过借助图书馆的资源,收集了期刊,论文和专著等资料,查阅了关于GaN-MOCVD设备的发展状况,原理技术及应用趋势,并进行对比分析。
3.调研内容3.1 GaN-MOCVD设备的发展现状金属有机化学气相沉积( metal organic chemical vapor deposition , 简称 MOCVD) , 是将稀释于载气中的金属有机化合物导入反应器中 , 在被加热的衬底上进行分解、氧化或还原等反应 , 生长薄膜或外延薄层的技术。
它是由 Mansevit 等在20世纪60 年代发展起来的,现已在半导体器件、金属、金属氧化物、金属氮化物等薄膜材料的制备和研究方面得到广泛应用。
此技术是在1968年由美国洛克威尔公司Manasevit 和Simpson [6,7]等人提出的制备化合物半导体薄膜单晶的一项新技术。
GaN- MOCVD设备非常复杂,我国尚处于研发阶段,国外已经推出多种商用机型。
GaN- MOCVD设备的系统框图如图1所示:图1 MOCVD系统框图作为LED芯片生产过程中最为关键的设备,MOCVD的核心技术长期被欧美企业所垄断,严重制约了中国LED产业的健康发展。
中晟光电设备上海有限公司于2012年1月18日成功实现了拥有自主创新知识产权的具有世界先进水平的大型国产MOCVD设备下线,仅用了10个月时间,又完成了工艺的开发和设备进一步的改进优化,完成了设备产业化生产必备条件与设施的建立;在此基础上又完成了4家客户的多次实地考察,亲临操作设备和验证各项工艺。
MOCVDMOCVDMOCVD是金属有机化合物化学气相淀积(Metal-organic Chemieal Vapor D ePosition)的英文缩写。
MOCVD是在气相外延生长(VPE)的基础上发展起来的一种新型气相外延生长技术.它以Ⅲ族、Ⅱ族元素的有机化合物和V、Ⅵ族元素的氢化物等作为晶体生长源材料,以热分解反应方式在衬底上进行气相外延,生长各种Ⅲ-V族、Ⅱ-Ⅵ族化合物半导体以及它们的多元固溶体的薄层单晶材料。
通常MOCVD系统中的晶体生长都是在常压或低压(10-100Torr)下通H2的冷壁石英(不锈钢)反应室中进行,衬底温度为500-1200℃,用射频感应加热石墨基座(衬底基片在石墨基座上方),H2通过温度可控的液体源鼓泡携带金属有机物到生长区。
MOCVD系统组成因为MOCVD生长使用的源是易燃、易爆、毒性很大的物质,并且要生长多组分、大面积、薄层和超薄层异质材料。
因此在MOCVD系统的设计思想上,通常要考虑系统密封性,流量、温度控制要精确,组分变换要迅速,系统要紧凑等。
不同厂家和研究者所产生或组装的MOCVD设备是不同的,但一般来说,MOCVD设备是由源供给系统、气体输运和流量控制系统、反应室及温度控制系统、尾气处理及安全防护报警系统、自动操作及电控系统等组成。
l)源供给系统包括Ⅲ族金属有机化合物、V族氢化物及掺杂源的供给。
金属有机化合物装在特制的不锈刚的鼓泡器中2)气体输运系统气体的输运管都是不锈钢管道。
为了防止存储效应,管内进行了电解抛光。
管道的接头用氢弧焊或VCR及Swagelok方式连接,并进行正压检漏及Snoop液体或He泄漏检测,保证反应系统无泄漏是MOCVD设备组装的关键之一3)反应室和加热系统4)尾气处理系统反应气体经反应室后大部分热分解,但还有部分尚未完全分解,因此尾气不能直接排放到大气中,必须先进行处理,处理方法主要有高温热解炉再一次热分解,再用硅油或高锰酸钾溶液处理;也可以把尾气直接通入装有H2SO4+H2O及装有NaOH溶液的吸滤瓶处理;也有的把尾气通入固体吸附剂中吸附处理,以及用水淋洗尾气等。
In催化GaN纳米线的MOCVD生长研究的开题报告开题报告:催化GaN纳米线的MOCVD生长研究1. 研究背景氮化镓(GaN)材料在固态照明、激光器、高电子迁移率晶体管等领域中具有广泛应用前景。
然而,传统的GaN材料在光学、电学和热学性能方面都存在缺陷。
为了克服这些问题,研究者们开始探索GaN纳米线的合成方法,并开展了广泛的研究。
其中,催化化学气相沉积(MOCVD)技术是一种被广泛应用的研究方法,它具有高度可控性、高温度下的器件制备和尺寸可调性优点。
2. 研究内容本研究计划基于MOCVD技术合成GaN纳米线,并通过研究不同生长参数对GaN纳米线形貌和光学性质的影响,探究最佳的生长参数。
具体工作包括:(1)选择适当的基底和催化金属;(2)通过优化MOCVD生长的参数(如生长温度、气氛等)来制备GaN纳米线;(3)使用扫描电子显微镜(SEM)、透射电子显微镜(TEM)和X 射线衍射(XRD)等表征技术来分析GaN纳米线的形态和结构特征;(4)使用光谱技术(如光致发光谱、紫外可见吸收谱)等技术来研究GaN纳米线的光学性质。
3. 研究意义研究结果可以为制备高质量的GaN纳米线提供新思路和方法,从而提高GaN材料的性质和应用。
研究中还将深入研究GaN纳米线的物理和化学性质,这将为相关应用领域提供重要的科学基础。
4. 研究技术路线本研究的技术路线如下:(1)制备催化金属和基底;(2)调节反应气氛和沉积温度,通过MOCVD技术制备GaN纳米线;(3)使用SEM、TEM和XRD等技术对GaN纳米线的形貌和结构特征进行表征;(4)通过光谱技术研究GaN纳米线的光学性质。
5. 预期结果通过本次研究,我们将制备高品质的GaN纳米线,并优化相关生长参数。
同时,我们也将深入分析GaN纳米线的结构、形貌和光学性质。
最终实现对GaN纳米线的高效合成和性质调控,为GaN材料的应用提供新思路和方法。
参考文献:1. K. L. H. Tsui, A. Ng, W. J. Liu, et al. Growth of GaN nanowire arrays for photovoltaic applications by MOCVD. Journal of Crystal Growth, 2011, 316(1): 29-34.2. W. Zhou, J. Song, J. Sui, et al. Enhanced ultra-violet emission from ZnO/GaN hybrid nanowires synthesized by MOCVD. Journal of Luminescence, 2017, 184: 40-45.3. H. Y. Shi, Y. B. Zhan, L. S. Cui, et al. MOCVD growth of vertically aligned GaN nanorods. Applied Surface Science, 2008, 254(19): 6227-6231.。
MOCVD生长GaN原理引言氮化镓(GaN)是一种重要的半导体材料,具有广泛的应用前景,例如高亮度发光二极管(LED)、高电子迁移率晶体管(HEMT)等。
其中,MOCVD(金属有机化学气相沉积)是一种常用的GaN生长技术。
本文将详细解释MOCVD生长GaN的基本原理,包括反应机理、生长过程和影响因素等内容。
1. 反应机理MOCVD生长GaN的基本反应机理可以分为两个步骤:金属有机前体分解和氮化反应。
1.1 金属有机前体分解MOCVD使用金属有机前体作为源材料,常用的有三甲基镓(TMGa)和氨(NH3)。
在高温下(通常为700-1100°C)和低压(几百帕)的条件下,TMGa分解为镓原子和甲烷(CH4),反应如下:TMGa + CH4 -> Ga + 3CH3这个反应是一个热解反应,通过热能将TMGa分解为金属镓和甲烷。
金属镓可以在衬底表面扩散并形成薄膜。
1.2 氮化反应在金属镓薄膜形成后,需要进行氮化反应将其转化为GaN。
这一步骤通常在高温下进行,使用氨作为氮源。
氨分解为氮原子和氢气,然后与金属镓反应生成GaN,反应如下:GaN + NH3 -> GaN + 3/2H2这个反应是一个气相反应,通过金属镓和氮原子的反应生成GaN。
氮源的供应量和反应温度会影响GaN的生长速率和质量。
2. 生长过程MOCVD生长GaN的过程可以分为几个关键步骤:表面吸附、扩散、反应和脱附。
2.1 表面吸附金属有机前体和氮源在气相中输送到衬底表面后,会先发生吸附。
金属有机前体通过表面吸附在衬底上,形成一个镓原子层。
氮源中的氮原子也会吸附在衬底表面。
2.2 扩散金属有机前体和氮源吸附在衬底表面后,会向表面下方扩散。
金属有机前体中的金属镓原子会在表面扩散并形成一个薄膜。
氮原子也会在表面扩散并与金属镓反应形成GaN晶体。
2.3 反应金属镓和氮原子在表面扩散后会发生反应,生成GaN晶体。
反应速率和质量受到金属有机前体和氮源的供应量、反应温度和压力等因素的影响。
MOCVD生长GaN材料特性分析的开题报告一、研究背景和意义氮化镓(GaN)是一种重要的III-V族化合物半导体,由于其具有宽带隙、高电子迁移率和高载流子浓度等优异特性,被广泛应用于高功率电子器件、蓝色LED、激光和光电化学电池等领域。
其中,GaN在蓝色LED市场上占据着绝对的地位,现已成为全球照明市场的主导产品之一。
因此,掌握GaN的生长技术和特性分析具有重要的研究意义和应用前景。
二、研究内容本课题旨在研究GaN材料的生长技术和物理特性,重点探究以下方面:1. MOCVD生长技术的优化通过对MOCVD生长过程中影响GaN薄膜质量的各种参数进行系统分析,寻求出稳定的生长条件和最佳的工艺参数组合,以提高GaN薄膜的质量和晶体结构。
涉及到气相成分、反应温度、气氛压力等因素的优化。
2. 生长GaN材料的物理特性分析通过采用一系列表征手段研究GaN材料的物理特性,包括X射线衍射(XRD)、扫描电子显微镜(SEM)、原子力显微镜(AFM)、光谱分析以及电学测试等,全面分析GaN材料的物理化学性质和微观结构,进一步完善GaN材料相关理论模型。
三、研究方法本研究采用MOCVD生长技术生长GaN材料,对生长工艺进行优化。
同时,采用XRD、SEM、AFM、光谱分析以及电学测试等多种表征手段,对GaN材料的物理化学性质和微观结构进行全面分析。
四、预期成果1. 对MOCVD生长技术进行优化,得到稳定和高质量的GaN薄膜。
2. 对GaN材料的物理化学性质和微观结构进行全面分析,掌握GaN 材料的基本特性。
3. 分析GaN材料的相关理论模型,进一步完善GaN材料的理论研究。
五、研究意义1. 为GaN材料的进一步应用提供技术支持和理论基础。
2. 深入理解GaN材料的物理化学性质和微观结构,为GaN材料的改性和功能化设计提供新思路。
3. 提高国内半导体材料学科的水平,在相关领域占有更高的学术声誉和影响力。
MOCVD外延生长GaN材料的开题报告【摘要】氮化镓(GaN)材料具有优异的电学、光学和机械性能,被广泛应用于高功率、高频、高亮度等领域。
本文将介绍一种基于金属有机化学气相沉积(MOCVD)技术的外延生长方法,用于制备高质量的GaN材料。
本文将讨论生长过程、影响生长的关键参数,以及对生长材料进行表征的方法。
通过该研究,期望能够为GaN材料在半导体器件应用中的进一步发展提供有力支持。
【关键词】外延生长,氮化镓材料,金属有机化学气相沉积,MOCVD【引言】氮化镓(GaN)材料由于其优异的电学、光学和机械性能被广泛应用于半导体器件工业。
MOCVD技术通常被用于在衬底上生长GaN外延层,用于制备高质量的GaN材料。
在MOCVD生长GaN材料的过程中,温度、压力、气体流量等成为影响生长质量的关键因素。
本文将介绍在MOCVD 技术下,外延生长高质量GaN材料的方法,并讨论影响生长的关键因素和生长质量评估。
【生长方法】MOCVD技术是一种在物质蒸汽和反应气体的存在下,通过有机金属化合物的热分解来沉积材料的技术。
在MOCVD生长GaN层的过程中,金属有机化合物作为前驱体(例如:铝氨、三甲基镓等)被加入反应气体中,而衬底会在一定的温度、压力、气体流量等条件下,与前驱体反应,从而沉积出GaN外延层。
在MOCVD生长GaN层的过程中,最重要的因素是温度、压力和气体流量。
首先,高温可以促进金属有机化合物的分解和反应,从而提高生长速率和改进膜质量。
其次,在高压下,可以有效地减少衬底表面的缺陷、降低杂质的污染。
最后,气体流量不仅影响了材料的生长速率,还影响了晶格的生长模式和形貌。
【表征方法】在MOCVD生长GaN层之后,需要对材料进行表征以评估其物理、电学和光学性质。
多种表征技术可以用于表征GaN材料,如X射线衍射(XRD)、扫描电子显微镜(SEM)、原子力显微镜(AFM)等。
XRD用于分析材料结构,SEM和AFM用于分析材料形貌和表面特性。
基于自支撑GaN衬底上垂直结构AlGaN/GaN CAVET MOCVD外延生长及器件性能研究近年来,Ⅲ-Ⅴ族GaN材料及AlGaN/GaN异质结由于临界击穿场强高、热传导性好、电子饱和迁移率快和电子面密度高等优点在高频、高压和大功率器件的应用使其得到国内外广泛关注。
然而,水平结构AlGaN/GaNHEMT目前面临着电流崩塌、增强型、封装兼容性、可靠性以及高耐压等问题阻碍其应用和进一步发展。
垂直结构AlGaN/GaN CAVET(Current Aperture Vertical Electron Transistor)结合了水平结构AlGaN/GaN HEMT高浓度二维电子气和垂直结构GaN基MOSFET 高击穿电压等优势开始获得关注。
器件工作时电流从源极沿着二维电子气沟道到达栅极,利用高阻GaN或p-GaN作为电流阻挡层使电子只能通过高电导率的导通通孔到达GaN衬底上漏电极,控制栅极电压释放和耗尽沟道中的电子,实现器件的开启与关断。
基于A1离子注入形成高阻GaN、Mg掺杂或者Mg离子注入形成p-GaN作为电流阻挡层的垂直结构AlGaN/GaN CAVET在调节导通通孔电导率、抑制二次外延生长界面污染、修复离子注入导致晶格损伤、消除Mg记忆效应、解决N面GaN欧姆接触和DC-RF电流崩塌等问题上进行深入研究。
本论文从软件Silvaco Altas和TRIM模拟、MOCVD外延生长和器件工艺制作以及电学性能表征等对存在的问题展开讨论,研究内容如下:1.提出了 MOCVD外延GaN成核层时载气由H2切换为N2引入刃位错,结合外延GaN漂移区时降低生长温度和Ⅴ/Ⅲ比引入非故意C掺杂降低背景载流子浓度,获得方块电阻RSH为106Ω/□的高阻GaN。
进而优化势垒层AlGaN的Al组分和厚度、AlN插入层和GaN盖帽层外延AlGaN/GaN HEMT全结构,Hall测试结果为:方块电阻RSH=332.9 Ω/□,迁移率μ=1920 cm2/V·s,载流子浓度Ns为9.7×1012cm-2。
金属有机物化学气相淀积技术(mocvd)
金属有机物化学气相淀积技术(MOCVD)是一种重要的半导体材料制备技术,它是利用金属有机物在高温下分解产生的金属原子和有机物分子反应生成半导体材料的一种方法。
该技术具有高效、高质量、高纯度等优点,被广泛应用于半导体器件制备领域。
MOCVD技术的基本原理是将金属有机物和气体反应在高温下,使金属原子和有机物分子分解并反应生成半导体材料。
在MOCVD反应过程中,金属有机物和气体通过进入反应室中的热源,被加热至高温,使其分解产生金属原子和有机物分子。
这些金属原子和有机物分子在反应室中与半导体衬底表面上的原子结合,形成半导体材料的晶体结构。
MOCVD技术的优点在于可以制备高质量、高纯度的半导体材料。
由于金属有机物和气体在高温下反应,反应速度快,反应产物的纯度高,可以制备出高质量的半导体材料。
此外,MOCVD技术还可以制备出复杂的半导体结构,如量子阱、量子点等,这些结构对于半导体器件的性能有着重要的影响。
MOCVD技术的应用非常广泛,主要应用于半导体器件制备领域。
例如,MOCVD技术可以制备出高质量的GaN材料,用于制备高亮度LED器件;可以制备出高质量的InP材料,用于制备高速光电器件;可以制备出高质量的SiGe材料,用于制备高频器件等。
金属有机物化学气相淀积技术(MOCVD)是一种重要的半导体材料制备技术,具有高效、高质量、高纯度等优点,被广泛应用于半导体器件制备领域。
随着半导体器件的不断发展,MOCVD技术也将不断发展和完善,为半导体器件的制备提供更加高效、高质量的解决方案。
MOCVD生长GaN基激光器及其特性研究的开题报告1. 研究背景和意义近年来,GaN材料及其衍生物的研究逐渐成为了光电子学领域的热点。
GaN材料具有极佳的电学和物理性质,是高亮度LED、蓝宝石激光器、高功率RF器件等的关键材料。
其中,GaN基激光器对于光通信、图像识别、生物医疗等应用至关重要。
因此,本课题计划通过MOCVD生长GaN基激光器,并对其特性进行研究,旨在探究如何提高GaN基激光器的输出功率、寿命、可靠性等性能,进一步推动GaN材料的应用。
2. 研究内容和方法本课题将通过以下步骤对GaN基激光器进行研究:(1) 确定实验条件:首先需要确定MOCVD生长GaN基激光器的实验条件,包括载气、生长温度、哪些掺杂剂等参数,以确保生长出质量较高的样品。
(2) 样品制备:根据实验条件,利用MOCVD生长技术制备GaN基激光器样品。
制备完成后,利用扫描电镜、X射线衍射仪等对样品进行表征,检测其结构和纯度。
(3) 系数设计:针对特定的样品和器件参数,设计出基于理论模型的系数。
利用这些系数,可以模拟GaN基激光器的性能。
(4) 特性测试:用光学测试仪器对GaN基激光器的波长、光强、温度等特性进行测试,同时还需进行性能寿命测试,以评价其可靠性。
3. 预期结果和意义通过本次研究,预计可以获得以下结果和意义:(1) 研究生长条件对GaN基激光器的影响,优化生长条件,提高样品质量。
(2) 检测样品结构和纯度,为后续测试提供依据。
(3) 利用理论模型的系数,模拟并预测GaN基激光器的性能和输出功率,为器件制造提供参考。
(4) 测试GaN基激光器的性能、寿命、可靠性等特性,为其在光电子学及其他领域的推广应用提供技术支持。
综上所述,本研究对于推动GaN材料应用和促进光电子学领域的发展具有重要意义。
《GaN基LED不同功能层的MOCVD生长及其性能研究》篇一一、引言随着科技的进步和照明技术的不断革新,GaN基LED因其高效率、长寿命和低能耗等优点,已经成为现代照明领域的主流技术。
GaN基LED的核心在于其多层结构,包括n型层、i型层和p型层等不同功能层。
因此,研究各功能层的MOCVD生长过程及其性能对于提高LED性能具有至关重要的意义。
本文将重点探讨GaN基LED不同功能层的MOCVD生长技术及其性能研究。
二、MOCVD生长技术概述金属有机化合物化学气相沉积(MOCVD)是一种广泛应用于GaN基LED生长的技术。
该技术通过将金属有机化合物和V族元素的气态源在反应室内反应,从而在衬底上形成所需的结构。
MOCVD生长过程中,需要精确控制反应条件如温度、压力、流量等,以获得高质量的GaN基LED材料。
三、GaN基LED不同功能层的MOCVD生长(一)n型层MOCVD生长n型层是GaN基LED的重要组成部分,主要作用是提供电子。
在MOCVD生长过程中,需要选择合适的n型掺杂剂(如Si)和适当的生长条件,以获得高质量的n型层。
此外,还需要对n型层的厚度、掺杂浓度等参数进行优化,以提高LED的发光效率。
(二)i型层MOCVD生长i型层是GaN基LED的核心部分,主要起到光子产生的作用。
在MOCVD生长过程中,需要控制好生长温度、压力、流量等参数,以获得高质量的i型层。
此外,还需要对i型层的厚度进行优化,以实现最佳的发光效果。
(三)p型层MOCVD生长p型层主要作用是收集空穴,并与n型层中的电子复合产生光子。
在MOCVD生长过程中,需要选择合适的p型掺杂剂(如Mg)和适当的生长条件,以获得高质量的p型层。
同时,还需要考虑p型层的导电性能和表面形貌等因素,以提高LED的光电性能。
四、性能研究(一)光学性能研究通过对GaN基LED不同功能层的MOCVD生长过程进行优化,可以提高LED的光学性能。
包括发光效率、光色纯度、色温等指标。
mocvd工作原理MOCVD工艺是金属有机物化学气相沉积的英文缩写,指的是利用金属有机物前驱体在高温下进行化学反应,在基片表面生长所需要的薄膜材料。
这种沉积方式具有优良的步覆盖性、可控性和均匀性,已广泛应用于外延生长半导体器件的关键材料制备。
金属有机物前驱体是指含有金属元素和有机基团的化合物,通常呈气态或可挥发。
常用的金属有机物前驱体包括三甲基镓、三甲基铝、三乙基铟等。
它们能够在较低温度下就具有足够的蒸气压,易于输送进入反应室。
同时,有机基团的存在降低了分子的离解能,使得前驱体在较低温度下就能发生分解反应。
MOCVD设备主要由气源系统、反应室、排气系统和controler 等部分组成。
气源系统负责存储和供给各种反应所需的气体源,包括金属有机物前驱体、载气以及其他掺杂源气体。
反应室内有加热到一定温度的衬底,前驱体气体在其表面发生化学反应而生长出所需的薄膜材料。
排气系统将反应尾气抽出,避免对生长造成污染。
Controler主要负责系统的运行控制和工艺参数的精确调节。
生长过程中,金属有机物前驱体和其他反应气体被载气如氢气携带,通过紧密设计的管路和流场进入预热到一定温度的反应室。
在衬底加热到的合适温度下,前驱体分子发生热解离、吸附、扩散等过程,金属元素与其他反应物发生化学反应,最终在衬底表面形成期望的材料。
调节温度、气体组成和流量比例等参数,可以有效控制薄膜的生长速率、组分、晶体取向和缺陷浓度等,从而获得所需的材料性能。
合理的温场设计和流场优化有助于提升生长均匀性,极大地提高芯片批量制造产能。
MOCVD技术的发展应用离不开对反应动力学和输运机制的深入理解。
人们对反应路径、速率决定步骤、中间产物、吸附行为等做了大量研究,并建立了相应模型,指导了MOCVD系统改良和工艺开发。
该工艺的主要优点是生长温度相对低、均匀性好、可实现精确掺杂、可大面积外延等。
但局限性也存在,如部分金属有机物稳定性差、产物对环境有害、前驱体使用量大等。
MOCVD生长GaN的输运-反应模型研究的开题报告
一、选题背景
氮化镓(GaN)材料因其具有良好的物理和化学性质,被广泛应用于半导体器件、光电子器件、芯片制造等领域。
其中,MOCVD生长技术是制备高质量GaN材料的主要方法之一。
MOCVD过程中,反应物输运和反应过程相互影响,对GaN材料的质量和性能有着至关重要的影响。
因此,
研究MOCVD生长GaN的输运-反应模型,对于提高GaN材料生长质量和制备效率具有重要意义。
二、研究内容
本文拟通过对MOCVD生长GaN过程中输运-反应模型的研究,深入探究反应物输运过程和反应过程的相互作用机理,并通过数值模拟方法
对其进行分析。
具体研究内容如下:
1. 对MOCVD生长GaN过程中反应物输运和反应过程进行深入研究,探究其物理机理和化学反应原理;
2. 构建MOCVD生长GaN的输运-反应模型,并基于该模型开展数值模拟分析,探究反应物输运和反应过程对GaN材料生长质量的影响;
3. 利用实验数据对模型进行验证,并对模型进行优化改进,提高模
型的精度和准确性;
4. 最终,通过对MOCVD生长GaN的输运-反应模型的研究,得出结论并提出相关的改进建议,为GaN材料的生长提供理论指导和技术支持。
三、研究意义
通过对MOCVD生长GaN的输运-反应模型的研究,可以深入认识反应物输运和反应过程的相互作用机理,为制备高质量的GaN材料提供理
论依据。
另外,本研究还可以为优化MOCVD生长工艺提供参考,提高
GaN材料的生长效率和制备周期。
因此,研究MOCVD生长GaN的输运-反应模型具有重要的理论意义和应用价值。
mocvd工艺技术难点MOCVD(金属有机化学气相沉积)是一种常用的热化学气相沉积技术,用于生长半导体材料和器件。
它是一种使不同金属有机化合物在高温下分解并沉积在基底上的方法。
然而,尽管MOCVD在半导体行业中取得了巨大的成功,但它仍然面临着一些技术难点。
首先,MOCVD工艺技术的一个主要难点是如何选择合适的金属有机前体和载气组合。
不同的金属有机前体在分解温度和分解产物中的形成速率上有很大差异。
因此,选择正确的金属有机前体对于获得理想的沉积速率和材料特性至关重要。
此外,选择合适的载气可以调节沉积速率和改变材料的性质。
因此,研究者需要花费大量的时间和精力来评估和优化金属有机前体和载气的选择。
其次,MOCVD工艺技术的另一个挑战是如何实现均匀的沉积。
在MOCVD过程中,金属有机前体通过热分解产生活性金属原子,然后在基底表面上重新组合形成固态材料。
然而,由于气流和热传导等因素的影响,往往会导致沉积层的厚度和成分不均匀。
为了获得均匀的沉积,研究者们需要优化反应室的流动设计和温度分布,并调整金属有机前体的供应和分解速率。
此外,MOCVD的另一个难点是如何控制沉积过程中的杂质和缺陷。
在MOCVD过程中,由于金属有机前体的分解和基底表面的反应,可能会产生杂质和缺陷,这些会降低材料的性能。
因此,研究者需要开发合适的工艺参数,如温度、压力、反应时间和气氛等,以最小化杂质和缺陷的形成。
最后,MOCVD工艺技术还面临着材料选择和生长模式的挑战。
不同的半导体材料具有不同的物理和化学性质,因此需要调整工艺条件来适应不同的材料。
此外,生长模式的选择也会对材料的性质产生影响。
例如,外延生长模式(epitaxial growth)可以提高材料的晶格匹配性,从而改善其电子传输性能。
综上所述,尽管MOCVD工艺技术已经取得了很大的进展,但仍然存在一些技术挑战。
这些包括金属有机前体和载气的选择,沉积过程的均匀性,杂质和缺陷的控制,以及材料选择和生长模式的优化。
MOCVD高阻GaN材料中的深能级研究的开题报告
一、选题背景
氮化镓(GaN)材料在半导体领域有着广泛应用,特别是在高亮度LED、蓝色半导体激光器、高功率场效应晶体管等方面都有重要的应用。
然而,由于材料缺陷和掺杂等问题,GaN材料的电学性能和光学性能受
到很大影响,限制了其应用的进一步发展。
其中,深能级是影响材料电学性能和光学性能的关键因素,深入研
究GaN材料中的深能级对于提高GaN材料的性能具有重要意义。
二、选题意义
本课题研究MOCVD高阻GaN材料中深能级的形成和影响机理,旨
在探究深能级对材料性能的影响,并寻找有效的控制深能级形成的方式,为进一步提高GaN材料的性能和开发新型GaN器件提供理论基础和技术支持。
三、研究内容
(1)分析MOCVD高阻GaN材料中的深能级形成机理;
(2)利用PL、DLTS等技术对GaN材料中的深能级进行表征;
(3)通过控制生长条件、控制材料制备过程等方式调控深能级形成;
(4)研究深能级对GaN材料光学性能和电学性能的影响;
(5)对深能级的形成和控制以及深能级对性能的影响机制进行探究。
四、预期成果
预计得到MOCVD高阻GaN材料中深能级形成和影响机理的深入探究,明确深能级对材料性能的影响机制和调控策略,优化GaN材料的制
备工艺和性能,为新型GaN器件的开发和应用提供理论基础和科技支持。
加合反应对MOCVD生长GaN化学反应路径的影响何晓崐;左然【期刊名称】《人工晶体学报》【年(卷),期】2015(0)12【摘要】针对分隔进口垂直高速转盘式(RDR)MOCVD反应器生长GaN的气相化学反应路径进行数值模拟研究。
分别考虑TMG与一个NH_3的加合反应(模型1)和TMG∶NH_3与第二个NH_3的加合反应(模型2)两种情况,通过对比两种情况下衬底表面附近主要反应前体的浓度大小,判断GaN生长的主导反应路径。
通过分析模拟结果发现:只考虑TMG与一个NH_3的加合反应时,GaN生长主要遵循TMG热解路径;在考虑TMG∶NH_3与第二个NH_3的加合反应时,GaN生长主要遵循加合路径。
由此可见,TMG∶NH_3与第二个NH_3的反应对于MOCVD生长Ga N的化学反应路径的选择具有很大的影响。
【总页数】6页(P3687-3691)【关键词】MOCVD;RDR;反应路径;GaN【作者】何晓崐;左然【作者单位】江苏科技大学苏州理工学院;江苏大学能源与动力工程学院【正文语种】中文【中图分类】TQ133.51【相关文献】1.水平式MOCVD反应器分隔进口对化学反应路径和生长均匀性的影响研究 [J], 师珺草;徐楠;左然;赖晓慧;2.MOCVD生长GaN加合反应路径的密度泛函理论研究 [J], 师琚草;左然;孟素慈;3.MOCVD生长AlN/GaN化学反应路径的量子化学研究 [J], 王宝良;左然;孟素慈;陈鹏4.垂直转盘式MOCVD反应器中GaN化学反应路径的影响研究 [J], 徐楠;左然;何晓焜;于海群5.反向流动垂直喷淋式MOCVD反应器生长GaN的化学反应数值模拟 [J], 徐谦;左然因版权原因,仅展示原文概要,查看原文内容请购买。
GaN-MOCVD系统反应室流场的数值仿真
白俊春;李培咸;郝跃;杜阳
【期刊名称】《电子科技》
【年(卷),期】2009(22)5
【摘要】针对某高校自主研发的120型GaN-MOCVD系统反应室的流场,进行了计算流体力学(CFD)数值模拟.在模拟过程中,讨论分析了运行参数和反应室结构尺寸的变化对反应室内流场、压力场和温度场的影响及对工艺条件的优化.模拟结果表明,数值仿真对MOCVD设备的结构设计及调试运行具有重要的指导和辅助作用.【总页数】4页(P62-65)
【作者】白俊春;李培咸;郝跃;杜阳
【作者单位】西安电子科技大学技术物理学院,陕西,西安,710071;西安电子科技大学技术物理学院,陕西,西安,710071;西安电子科技大学微电子学院,陕西,西
安,710071;西安电子科技大学技术物理学院,陕西,西安,710071
【正文语种】中文
【中图分类】TN304.1
【相关文献】
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采用MOCVD法在垂直高速旋转的圆盘反应器内在GaAs上多片生长CdTe马云龙【期刊名称】《液晶与显示》【年(卷),期】1989(000)006【摘要】采用MOCVD法在通用垂直高速旋转的圆盘反应器内在GaAs(100)和GaAs(111)衬底上生长了CdTe(111)层,用二甲基镉(DMCd)和二异丙基碲(D1PTe)作为生长原料,在380℃至402℃的温度范围内测量了生长速度,在生长温度高于368℃时获得了大于50%的二甲基镉克分子的生长速度,在(111)衬底上的温度380℃时获得了CdTe(111)的(422)和(333)反射面的x-射线摆动曲线<半峰值处90反正割(arcsec)宽度,劈裂晶片上的扫描电镜分析和红外干涉光谱表明带边一带边厚度的均匀性为1.3%.为获得TO声子光谱,用付立叶红外转换光度计测量了远红外反射率,数据表明,CdTe的厚度和介电常数非常均匀,总的来说,在此项研究中获得的薄膜比同样生长条件下在水平反应器内生长的薄膜有更高的均匀性和更高的质量。
【总页数】3页(P18-20)【作者】马云龙【作者单位】【正文语种】中文【中图分类】TN141.9【相关文献】1.MOCVD法生长HgCdTe/CdTe/GaAs多层异质结材料工艺和性能研究 [J], 杨臣华;陈记安2.MOCVD法生长HgCdTe/CdTe/GaAs多层异质材料的特性研究 [J], 陈记安3.Preparation and Interface Studies on HgCdTe/CdTe/GaAs Grown by MOCVD [J], 丁永庆;彭瑞伍;陈记安;杨臣华;陈美霓4.MOCVD法生长HgCdTe/CdTe/GaAs多层异质材料工艺研究 [J], 丁永庆;彭瑞伍;陈记安;杨臣华5.Growth Kinetic Studies for MOCVD CdTe and HgCdTe Epilayers on GaAs Substrates [J], 徐飞;彭瑞伍;丁永庆因版权原因,仅展示原文概要,查看原文内容请购买。