近场测量系统

相控阵雷达天线近场测试系统发展与研制在传统的雷达天线研制中,人们习惯采用远场测量的方法来测量天线的辐射特性。

远场测量虽然可以直接测量出天线的基本性能,但也存在多方面的不足,很容易受到多种外部因素的影响,难以真实的反映天线的实际性能。

新一代的天线测量技术是以近场测量为代表的,作为目前国际上广泛采用的一种先进天线测量技术,近场测量具有测试精度高、抗干扰能力强、和计算分析能力强大等特点,用于这种测试的天线近场测试系统已成为雷达研制过程中必不可少的重要实验设备。

在当今世界的雷达工程领域,相控阵雷达已经成为现代雷达发展的重要方向,相控阵雷达天线测试的复杂程度远远高于普通雷达天线,其测试工作量也往往是普通雷达天线的数倍乃至几十倍,因此对相控阵雷达天线的近场测试系统也提出了更高的技术要求。

相控阵雷达天线的近场测试系统测试速度更快、测试灵敏度更高、微波激励信号也更加复杂。

而且,相控阵雷达天线近场测试系统的集成已经不光是对测试系统自身的研究,还要对被测天线的工作原理和特点有非常深刻的理解,所涉及的专业包括相控阵天线设计、自动化伺服控制和微波测试等。

为了满足相控阵雷达天线的测试需求,在相控阵雷达天线近场测试系统的设计集成中采用天线波束控制系统通用仿真技术实现了相控阵天线工作与测试的控制同步,通过高标准的伺服控制设计提高了测试探头的定位精度。

另外,多任务测试技术的应用成功的实现了在探头单次扫描的情况下的多个频率、多个波束、多个通道方向图的高密度测试,有效的促进了系统测试效率的大幅度提高。

本文对这些技术的应用进行了阐述。

同主题文章[1].扈罗全,陆全荣. 电磁场近场探测模型与测试系统' [J]. 苏州大学学报(工科版). 2009.(06)【关键词相关文档搜索】：电子与通信工程; 相控阵雷达; 天线近场测试系统; 波控仿真; 多任务测试【作者相关信息搜索】：南京理工大学;电子与通信工程;苏卫民;侯飞;。

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电子侦察干扰装备天线近场测量系统设计研究I. 绪论A. 研究背景和意义B. 国内外研究现状C. 研究内容和目的II. 电子侦察干扰装备技术分析A. 电子侦察干扰装备概述B. 技术特点分析C. 涉及的干扰信号分析III. 近场测量系统设计A. 系统架构分析B. 关键技术分析C. 系统实现方案分析IV. 系统测试与分析A. 测试目的和方法论B. 系统测试数据分析C. 对系统性能的评估和分析V. 结论和展望A. 研究成果及贡献B. 未来工作方向和展望注：以上提纲仅供参考，实际撰写论文时还需要根据具体的研究目的和内容进行调整和完善。

I. 绪论A. 研究背景和意义电子侦察干扰装备是一种用于无线电通信、雷达等领域的技术手段，其主要目的是侦察和干扰目标设备的信号。

在现代战争中，电子侦察干扰技术已成为一种非常重要的信息获取和战斗力削弱手段，对于提升国防能力、保障国家安全具有极其重要的意义。

因此，对电子侦察干扰装备的研究始终是军事科学技术领域的重要热点之一。

近年来，随着电子技术的飞速发展，各种电子设备的应用越来越广泛，诸如通信、雷达、卫星等技术手段的依赖程度也不断提高。

然而，电子侦察干扰技术的渐进式发展也给各种电子设备带来了挑战。

面对众多的电子干扰手段，各个领域的电子设备都必须具备较高的防干扰能力，这也促使着电子侦察干扰装备技术的不断升级和创新。

B. 国内外研究现状电子侦察干扰技术的研究始于20世纪初，但直到现在，其在技术手段上的不断完善和升级、在应用领域上的广泛拓展和深化，使得这个领域的研究仍然是非常活跃和多样化的。

在国外，美国、俄罗斯等国家一直是电子侦察干扰技术的主要研究者和应用者，尤其在战争中的应用上取得了显著的成就；在国内，由于近年来我国在电子技术方面的巨大进步，电子侦察干扰技术的研究和应用也取得了大量的成果。

例如，国内的某项研究就提出了一种基于小量信号抑制的电子干扰制导技术，使得机载干扰系统能够对敌方目标进行有效的精准打击。

近场探头的原理近场探头是一种电磁兼容测试仪器，能够测量电磁场信号的强度、频率和极化等参数。

它的工作原理是利用接收天线来接收测试信号，经过处理后，得到被测试电子设备所发射的电磁辐射信号。

本文将深入讨论近场探头的工作原理及其在电磁兼容测试中的应用。

一、近场探头的工作原理近场探头是一种典型的无源接收天线，它的工作原理基于法拉第电磁感应定律。

当探头面对电子设备时，电磁波的电场分量和磁场分量都将被接收和传输到探头的放大器内部。

随后，放大器会将接受到的电磁辐射信号转化为电信号，并将其输出给控制器进行处理。

之所以称其为“近场”探头，是因为探头只能够接收距离其非常近的电磁辐射信号。

事实上，在距离探头一米左右的范围内，它接收到的信号仍然是近场信号，因为在这个距离下，电磁波的电场分量与磁场分量仍然强烈交织在一起。

然而，随着距离增加，电场分量开始占主导地位，而磁场分量则在极远距离下完全消失，直到成为电磁波中相对较弱的峰值之一。

相比于传统的远场接收天线，近场探头更专注于测量强电磁场的贡献，可以提供更精确的测试结果。

与此同时，由于其无源性质，近场探头不会对测试环境产生任何干扰。

二、近场探头的应用电磁兼容测试是近场探头最常见的应用场景，其目的是确保测试对象不会对其周围的其他设备或系统产生任何干扰。

典型的兼容测试场景包括电子产品、车辆电子、工业控制以及医疗设备等领域。

在测试过程中，近场探头会在被测试设备的附近移动，检测设备的电磁辐射水平。

测试结果可以直接反映出设备和系统之间的电磁兼容性，用于发现和纠正存在的问题，确保测试对象的合规性。

在应用方面，近场探头一般通过连接到测试仪器或控制器上来执行测试任务。

通常，控制器会向测试对象发送特定的控制信号，以检测设备在特定的工作环境下的电磁兼容性。

与此同时，控制器也会接收来自近场探头的反馈信号，根据实际情况调整测试参数以获得更精确的测试结果。

三、总结总之，近场探头是一种能够测量电磁辐射信号的优秀工具。

天线近远场测量及应用的开题报告一、选题背景及意义随着通信和雷达技术的发展，天线工程变得越来越重要。

天线的近场测量和远场测量是天线工程中的两个重要方面，近场测量技术主要用于天线的设计和优化，远场测量则是天线性能的验证和调整。

在天线设计过程中，近场测量可以帮助设计师更好地理解天线结构和特性，从而更好地优化天线的性能。

远场测量则可以验证设计的性能是否符合要求，并对天线的性能进行调整，以达到最佳性能。

因此，对天线的近场测量和远场测量技术的研究具有重要的理论和实践意义。

二、主要研究内容本次开题报告将探讨天线近场测量和远场测量的相关技术和应用。

具体包括：1.天线近场测量技术（1）天线近场测量原理及基础理论（2）天线近场测量系统组成（3）天线近场测量系统的操作流程2.天线远场测量技术（1）天线远场测试原理及基础理论（2）天线远场测试系统组成（3）天线远场测试系统的操作流程3.天线近远场测量的应用（1）天线性能参数的分析与优化（2）天线电磁辐射规律的研究（3）天线阵列的优化设计（4）其他天线应用的研究三、研究方法和技术路线本次研究将采用文献调研和实验方法相结合的方式。

通过查阅相关文献了解天线近场测量和远场测量的技术原理，同时在实验室内建立天线测量系统进行实验验证。

具体的技术路线如下：1.文献调研（1）收集国内外相关文献（2）分析文献中的技术原理2.实验验证（1）建立天线近场测量系统（2）进行天线近场测量实验（3）建立天线远场测量系统（4）进行天线远场测量实验3.数据处理和分析（1）对实验数据进行处理（2）分析天线性能参数（3）优化天线设计方案四、预期成果和创新性本次研究的预期成果和创新性如下：1.深入探讨天线近场测量和远场测量技术的理论和实践应用2.建立和优化天线测量系统，提高测试准确度3.实验数据分析和优化设计，为天线工程提供参考4.本研究将为后续研究提供基础数据和技术支持。

五、研究难点和解决措施本研究的主要难点在于天线测量系统的建立和测试过程中对实验数据的处理和分析。

国 外 同 规 模 设 备 的技 术 指 标 作 比 较 。
用 ， 不 仅 能 够 用 来 测 量 天 线 的 辐 射 特 性 而 且 能 够 它 用 来 ” 断 ” 线 的 口面 场 分 布 情 况 ， 大 型 平 面 阵 诊 天 为 天 线 的 设 计 、 究 提供 可 靠 准 确 的 设 计 依 据 。 国 内 ， 研
系统 进 行 方 案 介 绍 、 差 分 析 、 态 分析 等 ， 误 模 并将 实测 结 果 与 国外 同规 模 设 备 的 技 术指 标 作 比 较 。
关 键 词 ： 量 系 统 ； 面 近 场 ； 线 ； 描 架 测 平 天 扫
中图分 类号 ： ＴＮ８ ２
文 献 标 识 码 ： Ｂ
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按照天线场区的划分，天线测量系统可分为远场测量系统和近场测量系统。

1.远场测量系统远场测量系统按使用环境可分为室外远场测量系统和室内远场测量系统。

室外远场需要较长的测量距离，通常用天线高架法来尽量减小地面反射，其他架设方法还有地面反射法和斜距法。

室外远场测量需要在合适的外部环境和天气下进行，同时，室外远场对安全和电磁环境有较高要求。

室内远场在微波暗室中进行，暗室四周和上下铺设吸波材料来减小电磁反射。

如果暗室条件满足远场测量条件，可选择传统远场测量法，如果测量距离不够远场条件，可以选择紧缩场，通过反射天线在被测天线处形成平面电磁波。

2.近场测量系统近场测量在天线辐射近场区域实施。

在三至五个波长的辐射近场区，感应场能量已完全消退。

采集这一区域被测天线辐射的幅度和相位数据信息，通过严格的数学计算就可以推出被测天线测远场方向图。

按照扫描方式的不同，常用的近场测量系统可以分为平面近场系统、柱面近场系统和球面近场系统。

（1）近场测量系统平面近场测量系统在辐射近场区的平面上采集幅相信息，这种类型的测试系统适用于增益>15dBi的定向天线、阵列天线等，最大测量角度<± 70 &ordm;。

（2）柱面测量系统柱面近场测量系统在辐射近场区的柱面上采集幅相信息，这种类型的测试系统适用于扇形波束和宽波瓣的天线。

（3）球面测量系统球面近场测量系统在辐射近场区的球面上采集幅相信息，这种类型的测试系统适用于低增益的宽波瓣或全向天线。

3.如何选择天线测量系统，需要考虑到的几个重要的特性和指标：1.天线应用领域；2.远场角度范围：远场波瓣图坐标系、各种天线性能参数定义、副瓣和后瓣特性；3.电尺寸：根据电尺寸和计算出远场距离；4.方向性指标：宽波瓣或窄波瓣；5.工作频率和带宽：工作频率设计到吸波材料尺寸和暗室工程设计及造价；6.环境和安全性要求：天气、地表环境等因素；7.其他因素：转台或铰链、通道切换开关等。

在近场ＲＣＳ扫描测量中，以平面扫描的数据采集方式最为简单，机械上便
于实现，近远场变换可用快速傅立叶变换（ＦＦＴ）作高速计算。
§１．１．３．国内外研究现状
近场测量的理论基础主要是模式展开法，即空间任意一个时谐电磁场可以分
解成为沿各个方向传播的平面波（或柱面波、球面波）之和。这一研究还在进
一步发展，近年来又出现了极平面、双极平面的扫描方式，时域近场测量等新
论文的后半部分研究近场散射测量中的综合平面波技术、数据处理方式和 扫描面参数选取等问题。主要以二维导体圆柱为雷达目标，计算了在理想平面 波照射下的散射近场，推导出二维空间ＲＣ￥的近／远场变换公式，对不同双站角 情况下的近场散射测量做了仿真，验证了一种有效的数据处理方式和扫描面宽 度选取原则。
本文中的仿真结果与理论值吻合良好，说明方法是正确可行的。而快速算 法的应用减少了计算时间，更有利于工程实现。
12本文的研究内容本文拟对平面辐射近场测量和平面散射近场测量技术进行讨论深入研究曲北r业大学硕七学位论文平面近场测量技术的研究影响平面近场测量精度的若干重要问题如探头补偿近远场变换的快速算法有限扫描面截断误差探头定位误差近场散射测量的可信角域等等
西北工业大学 硕士学位论文 平面近场测量技术的研究 姓名：林淑洁 申请学位级别：硕士 专业：电磁场与微波技术 指导教师：许家栋
Ｆｉｅｌｄ Ｓｃａｔｔｅｒｉｎｇ Ｍｅａｓｕｒｅｍｅｎｔ）。
对辐射近场测量而言，根据取样表面的不同。可分为平面扫描技术，柱面扫 描技术和球面扫描技术。同理，对散射近场测量来说，也相应的有平面、柱面、 球面散射近场测量。
§１．１．２．近场测量的特点 近场测量方法自本世纪七十年代以来主要用于天线测量（辐射问题测量），
Ｔｈｅ ｓｉｍｕｌａｔｅｄ ｆａｒ－ｆｉｅｌｄ ｐａｔｔｅｒｎｓ ｉｎ ｔｈｉｓ ｐａｐｅｒ ａｒｅ ｉｎ ｇｏｏｄ ａｇｒｅｅｍｅｎｔ ｗｉｔｈ ｅｘａｃｔ ａｎａｌｙｔｉｃ ｒｅｓｕｌｔｓ，ｗｈｉｃｈ ｓｈｏｗｓ ｔｈｅ ｖａｌｉｄｉｔｙ ａｎｄ ａｄｖａｎｔａｇｅ ｏｆ ｔｈｅ ｍｅｔｈｏｄｓ．Ｔｈｅ ｕｓｅ ｏｆ ｒａｐｉｄ ａｌｇｏｒｉｔｈｍ ｒｅｄｕｃｅｄ ｃｏｍｐｕｔｉｎｇ ｔｉｍｅ ｇｒｅａｔｌｙ．

近场测试的理论基础近场测试是一种用于评估电磁辐射和敏感性的测试方法。

它通过测试设备在非辐射场的近距离工作，以对其性能和稳定性进行验证。

本文将介绍近场测试的理论基础，包括测试原理、近场测试技术、测试过程和应用领域等内容。

1. 测试原理近场测试的基本原理是将电磁辐射场转化为电场或磁场，并通过测量电场或磁场的强度来评估设备的性能。

近场测试的原理可以通过以下几个步骤来解释：1.1 辐射场转化电磁辐射场是设备在工作时产生的一种能量传播方式。

在近场测试中，我们将辐射场转化为电场或磁场，以便更容易进行测量和分析。

1.2 传感器测量通过将传感器放置在设备附近的近场区域，可以测量到电场或磁场的强度。

传感器可以是电场传感器或磁场传感器，其选择取决于需要评估的电磁性质。

1.3 数据分析通过测量得到的电场或磁场数据，可以进行进一步的数据分析。

这可能涉及到频谱分析、噪声分析、功耗分析等等，以评估设备的性能和稳定性。

2. 近场测试技术近场测试技术包括电场测试和磁场测试两种主要方法。

下面将分别介绍这两种方法的基本原理和应用。

2.1 电场测试电场测试是通过测量电场强度来评估设备的性能。

电场测试通常使用电场探头和电压测量设备进行。

电场探头是一种灵敏的传感器，可以测量电场的强度。

在测试过程中，探头被放置在设备附近，以测量电场的强度变化。

通过对电场数据的分析，可以获得有关设备敏感性和辐射水平的信息。

2.2 磁场测试磁场测试是通过测量磁场强度来评估设备的性能。

磁场测试通常使用磁场探头和磁感应强度测量设备进行。

磁场探头可以测量磁场的强度，并将其转化为电信号。

在测试过程中，探头被放置在设备附近，以测量磁场的强度变化。

通过对磁场数据的分析，可以得出设备的磁场辐射特性和敏感性。

3. 近场测试过程近场测试的过程通常包括以下几个步骤：3.1 准备工作在进行近场测试之前，需要进行一些准备工作。

这可能包括选择合适的测试设备和传感器，设置测试环境，准备测试样品等。

关键词 天 线 ；近 远 场 测 量 ；测 量 系统 Ｔ ８ １９ Ｎ ２． １ 中 图分 类 号
Ｓ ｆｗａ ｅ ｆ ｒ Ａｎ ｅ ａ Ｎｅ ｒ Ｆｉ ｌ ｅ ｓ ｅ ｅ ｔ ｏ ｔ ｒ ｏ ｔ ｎｎ ａ ｅｄ Ｍ ａ ｕｒ ｍ ｎ
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Ｋｅ ｗｏ ｄ ａ ｔｎ ａ； ｅ ａ ｅｄ ｍｅ ｕ ｅ ｎ ； ｙ ｒ ｓ ｎ ｅ ｎ ｎ ａ ｆ ｆ ｌ ｓ ｒ ｍｅ ｔ ｍｅ ｕ ｅ ｎ ｙ ｔｍ ｒ ｒ ｉ ｓ ａ ｒ ｍｅ ｔｓ ｓｅ
现 代 电 子 科 技 事 业 的 飞 速 发 展 对 天 线 各 项 电性 能 指 标 的 要 求 越 来 越 高 。 为 了研 制 符 合 要 求 的高 性 能 天 线 ，除 了 要 求 掌 握 天 线 的 现 代 分 析 与设 计 技 术 外 ，还 必 须 具 备 先 进 的 测 试 技 术 和设 备 。
ｃ ｍｂ ｎ ｓｄ ｔ ｏｌｃｉｎ ａ ｄ ｃ ｎ ｒｌ ｎ ａ —ａ ｅｄ ｄ ｔ ａ ｓｏ ｍａ ｉｎ ａ ｄ ｉｖ ｒｅｔａ ｓｏ ａｉｎ， ｄ ｔ ｎ ｙ ｏ ｉｅ ａａ ｃ ｌ ｔ ｏ ｔ ， ｅ ｆ ｆ ｌ ａａ ｔ ｎ ｆｒ ｔ ｎ ｅ ｒ ｎ ｆｒ ｔｏ ｅ ｏ ｎ ｏ ｒ ｒ ｉ ｒ ｏ ｎ ｓ ｍ ａａ ａ ａ — ｌ
Ａｂｓｒ ｃ Ｔ ｅ ｓ ｆ ｒ ｄ ｙ Ｉ ｔａ ｔ ｈ ｏｔ ｅ ｍａ ｅ ｂ ＡＥＭ Ｓ ｏ ｄａ ｉｅ ｉ ｎ Ｘｉａ ｓ ｉｔｏ ｕ ｅ ｉ ｅａ ｌ ｗｈｃ ｗａ ｆＸｉ ｉｎ Ｕｎ ｖ ｒ ｔ ｉ ｎ ｉ ｎｒ ｄ ｃ ｄ ｎ ｄ ｔ ｉ， ｓ ｙ ｉｈ
指 标是 否 满 足 设 计 要 求 ，以 实 现 对 关 键 部 件 和 尺 寸 进行 调整 。 它 作 为 检 查 及 质 量 控 制 的过 程 ，来 验 证设计 思路 的正 确 与 否 ，进行 有效 的故 障 诊 断 ，

天线近场测量--(**，北京100191)摘要本文介绍了天线测量的发展历程，对近场扫描系统的组成、三种测量方案以及各方案的实施做了系统的叙述。

最后，集中分析了这三种近场扫描测量方法的适用情况，以根据实际适当选择。

关键词天线测量，平面近场测量，圆柱面近场测量，球面近场测量Near-Field Antenna Measurements**(**, Beijing 100191)Abstract:This paper introduced the development of antenna measuring technologies, the consistent of near field measuring system and practices of three measuring were discussed as well. At last, the best situated method of some type of antenna were analyzed in detail to choose them conveniently.Keywords: Antenna measurements; PNF;CNF;SNF1 引言天线特性参数的测量有多种方法，目前，主要的方法包括三大类：天线的远场测量、天线的紧缩场测量、天线的近场测量。

其中，因天线特性主要是定义在天线的远场区故远场测量更为直接准确，而紧缩场测量天线主要是拉近远场所需远场条件：22d Dλ≥，其通常采用一个抛物面金属反射板，将馈源发送的球面波经反射面反射形成平面波，在一定远距离处形成一个良好的静区。

将天线安置在静区内，测量天线的远场特性，其类似于远场测量，只是缩短测量距离，便于在理想远场环境（暗室）下进行测量。

比较而言，天线近场测量技术应用更为广泛，其对设备要求低，不需要造价昂贵的暗室环境，也不需要远场测量下，对射频系统的较高的要求。

ＳＴ夫妻近妨捌量与理论计算出较母２∞１０８２５
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ＳＴ天线近糖铡量与理论计算比较圈
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（下转第６４页）
空间电子技术
２００２年第１期
选用铟合金焊料作为主要焊接材料的原因是：铟合金焊料具有较好的焊接性、较高的导电 性能、同时又与被焊材料热匹配好，铟焊料熔点较 低，有较低的液相温度，不同组分具有一定温差，适 合分步焊接。它的良好的塑性对于不同的热膨胀系 数的材料的焊接能起到很好的缓冲作用。同时铟合 金焊料避免了铅锡焊料在较高温度下吃金现象，不 需基片背面镀铜作阻挡层。
２００２年第１期
空间电子技术
５５
天线近场与远场性能测量比较
钟 鹰①
（西安空间无线电技术研究所，西安７１００００）
摘要叙述了用一副Ｋｕ赋形反射面天线，把天线近场测量所得结果与远场 测量所得结果进行比较，主极化方向图的一致性说明近场测量的可靠性。与理论分 析也做了比较，说明近场测量结果与理论完全吻合。在交叉极化的测量方面，给出了 与理论值的比较结果，在高交叉极化电平的分布趋势是一致的，但误差较大。天线正 确的校准是减少误差的关键。
ｓＴ天袋近轫对芑与最橱则蔷肄能比较囝２００１蚴
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方位（度） 图１
ＳＴ天线近搪测量与远糖测量性能比较田加０１０８２６
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５．２近场测量结果与理论计算结果主极化性能比较 为判断远场与近场在加权区存在有较大差别的原因，把近场测量结果与理论分析结果进 万方数据
２００２年第１期
（上接第６０页）
６ 结论

关键 词 ：天线近 场测 量技 术 ； 多探 头球 面测试 系统 ； 制散 射技 术 调
中图分 类号 ：Ｎ ２ ． Ｔ ８１ ３
文献标 识 码 ： Ａ
文章 编号 ：６ ３５ ９ ２ ０ ） ６６ ５０ １７ ・６ ２（０ ７ ０ －３ －５
Ｍ ｕ ｔ－ ｏ ｅ Ｓ ｈ ｒｃ ｌＮｅ ｒ Ｆｉｌ ｓ ｙ ｔ ｍ ｎ ｔ ｎ ｏ ａ ｉ ｎ Ｗ ｏ ｋ ｌｉＰｒ ｂ ｐ ｅ ｉａ ａ ｅｄ Ｔｅ ｔＳ ｓｅ ａ ｄ Ｉｓ Ｉ ｎ ｖ ｔｏ ｒ
柱面或球面） 的取样通过数学变换可以精确地得出
天线上 万个 方 向 的远 场 幅度相 位 和极化 特性 。 然而 ， 目前 世 界 上 绝 大 部 分 的 近 场 测 量 设 备 都 是单 探 头 型 的 ， 试 速 度 很 慢 ， 且 是 二 维 的 。 测 而
１９ ９ ９年 ｌ ０月法 国的 Ｓｔ ｏ公 司根 据 Ｊａ ａｍ ｉ ｅｎ—Ｃ ａｌｓ ｈｒ ｅ
维普资讯
第 ６期 ２０ ０ ７年 １ ２月
中 Ｉ ｏ ｒ ａ ＡＥ Ｔ ｏ
Ｖｏ ． ． １２ Ｎｏ ６ Ｄｅ ｃ． ２ ７ ００
多探 头球 面 近 场 测 量 系统 及 其创 新 改造 工作
ｔｃ ｎ ｑ ｅ ｅ ｈ ｉｕ ｓ
工 作 ； 息 量 大 ， 过 在 近 场 区 的某 一 表 面 （ 面 ， 信 通 平
０ 引 言
移 动通信 的迅猛 发展 推动 了基 站 天线 的研 发工 作， 国内 出现 了一 些年 产天 线 达到几 百 万 台 、 种达 品
到 数百 种之 多 的企业 。天 线测 量 的速度 已经 成 为企
平 面二维 坐标 系统 中 的一 个 方 向 ， 置 多 个 宽 带低 布

频谱仪近场探头原理
频谱仪近场探头是一种用于测量电磁信号的仪器。

其原理是基于信号的电场或磁场的辐射，在近场范围内（通常为波长的几倍距离内），可以通过测量电场或磁场的强度变化来了解信号的频率分量情况。

频谱仪近场探头通常由一个感应环或者单个电极构成。

当探头靠近信号源时，信号的电场或磁场通过感应环或电极产生感应电流或电势变化。

这个电流或电势变化随着信号频率的改变而改变，从而可以反映信号的频谱信息。

为了准确测量信号的频谱，探头需要保持与信号源之间的适当距离。

如果距离太远，可能无法观察到低频成分；如果距离太近，可能会产生附加的耦合和反射效应。

因此，探头的距离选择对于近场测量是非常关键的。

频谱仪近场探头的应用包括射频设备测试、无线通讯系统分析、电磁兼容性测试等。

通过使用近场探头，可以非接触地测量信号的频谱情况，同时具有快速、准确和高灵敏度的特点。

２ ０ １ ３年第 ２ 期 （ 总第 １ ２ ４期）
信 息 通 信
Ｉ ＮＦ ＯＲＭ ＡＴ Ｉ ＯＮ ＆ Ｃ０Ｍ Ｍ ＵＮＩ ＣＡＴ １ ０ＮＳ
２ ０１ ３
（ Ｓ ｕ ｍ ． Ｎ ｏ １ ２ ４ ）
平面近场天线测量系统 性能评估
赵 军 民
（ 西北电子设备研究所 ， 陕西 西安 ７ １ ０ ０ ６ ５ ）
建立系统 。
对于平面 近场 来说， 误差 的主要来源来 自四个方面 ： 探头
误差、 机械扫描定位误差 、 测 量 系 统 误 差 和 测 量 环 境 误 差 。而
在介绍误差之前， 我们先对误差进行表述 ， 误差 电平 的表述可 以通过两个方法 ， 如下式 ：
２ 平面 近场天 线测 量 系统 的组成
机。
４ 结语
本文从充 电模型分析入手 ，介绍 了充 电过程 中各物理量 的意义和影 响。为 实现快速充 电做好 了理论基础 ，并理清 了
改善 点和 困难 点： 为了改善恒流， 减小线损 、 板级走线阻抗、 降
低 Ｍｏ ｓ 管阻抗 、 电池充 电线路 阻抗和 降低充 电器输 出电压下 限， 均为有效措施 ； 由低 电压规格 的电池 改用 高电压 规格 的电
对于一套精密 的天线测量系统来说 ，系统会有 以下几部
分组成 ：
幅 度 误 差 （ ｄ Ｂ ） ： ２ ０ ・ ｌ ｏ ｇ ｌ Ｉ
— ． ． ． ． ． ． ． ． ． ． ． ． ． Ｌ
（ １ ）机械扫描架和机械控制部分 。这部分 的主要功能是 能够通过机械式 的运动从而实现对 空间平面 电磁信号 的扫描。 衡量机械 部分性 能的主要为其扫 描形成 的空 间方面平面度 ，
在本文的分析中， 理 想 充 电器 的 电流 可 到 无 穷 大 ， 但 所 能

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)实用新型专利(10)授权公告号 (45)授权公告日 (21)申请号 201920346953.1(22)申请日 2019.03.19(73)专利权人 中国信息通信研究院地址 100191 北京市海淀区学院路40号(72)发明人 齐殿元　赵竞　余纵瀛　代灿林　许士君　马文化　(74)专利代理机构 北京三友知识产权代理有限公司 11127代理人 王天尧　任默闻(51)Int.Cl.H04B 5/00(2006.01)H04B 3/54(2006.01)H04B 17/11(2015.01)(54)实用新型名称Sub-6G频段近场测量探头校准系统(57)摘要本实用新型提出了一种Sub -6G频段近场测量探头校准系统，包括：控制器、信号源装置、TEM暗室、空气波导、平坦模型、定向平板天线以及液体波导，定向平板天线紧贴放置于平坦模型的下方，液体波导至少包括R40LS和R58LS，控制器连接信号源装置，信号源装置分别与TEM暗室、空气波导、定向平板天线、液体波导进行连接；控制器控制信号源装置产生信号，信号源装置将电磁波信号通过同轴电缆导入TEM暗室、空气波导、定向平板天线以及液体波导内；控制器还用于记录并根据电磁波信号的实际功率得到待校准的近场测量探头的校准因子，实现对Sub -6G频段近场测量探头的校准。

权利要求书2页 说明书5页 附图1页CN 209488583 U 2019.10.11C N 209488583U权　利　要　求　书1/2页CN 209488583 U1.一种Sub-6G频段近场测量探头校准系统，其特征在于，包括：控制器、信号源装置、TEM暗室、空气波导、平坦模型、定向平板天线以及液体波导，所述定向平板天线紧贴放置于所述平坦模型的下方；所述液体波导至少包括R40LS和R58LS；所述控制器连接所述信号源装置，所述信号源装置分别连接所述TEM暗室、空气波导、定向平板天线以及液体波导的射频接口；所述控制器用以控制所述信号源装置产生电磁波信号，所述信号源装置将所述电磁波信号通过同轴电缆导入所述TEM暗室、空气波导、定向平板天线以及液体波导内；所述控制器还用于记录并根据所述电磁波信号的实际功率得到待校准的近场测量探头的校准因子；所述Sub-6G频段近场测量探头校准系统还包括校准验证装置，所述校准验证装置连接所述信号源装置，用于在所述Sub-6G频段近场测量探头校准系统对所述液体波导对应的频点校准完成后，对所述近场测量探头的校准因子进行验证。