AD模数转换器选型
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A/D转换器的选型技巧及注意事项(转)AD的选择,首先看精度和速度,然后看是几路的,什么输出的比如SPI或者并行的,差分还是单端输入的,输入范围是多少,这些都是选AD需要考虑的。
DA的选择,主要是精度和输出,比如是电压输出还是电流输出等等。
在进行电路设计时,面对种类繁多的A/D、D/A芯片,如何选择你所需要的器件呢?这要综合设计的诸项因素,系统技术指标、成本、功耗、安装等,最重要的依据还是速度和精度。
精度:与系统中所测量控制的信号范围有关,但估算时要考虑到其他因素,转换器位数应该比总精度要求的最低分辩率高一位。
常见的A/D、D/A器件有8位,10位,12位,14位,16位等。
速度:应根据输入信号的最高频率来确定,保证转换器的转换速率要高于系统要求的采样频率。
通道:有的单芯片内部含有多个A/D、D/A模块,可同时实现多路信号的转换;常见的多路A/D器件只有一个公共的A/D模块,由一个多路转换开关实现分时转换。
数字接口方式:接口有并行/串行之分,串行又有SPI、I2C、SM等多种不同标准。
数值编码通常是二进制,也有BCD(二~十进制)、双极性的补码、偏移码等。
模拟信号类型:通常AD器件的模拟输入信号都是电压信号,而D/A器件输出的模拟信号有电压和电流两种。
根据信号是否过零,还分成单极性(Unipolar)和双极性(Bipolar)。
电源电压:有单电源,双电源和不同电压范围之分,早期的A/D、D/A器件要有+15V/-15V,如果选用单+5V电源的芯片则可以使用单片机系统电源。
基准电压:有内、外基准和单、双基准之分。
功耗:一般CMOS工艺的芯片功耗较低,对于电池供电的手持系统对功耗要求比较高的场合一定要注意功耗指标。
封装:常见的封装是DIP,现在表面安装工艺的发展使得表贴型封装的应用越来越多。
跟踪/保持(Track/Hold缩写T/H):原则上直流和变化非常缓慢的信号可不用采样保持,其他情况都应加采样保持。
ADC选型经典指南选择ADC(模数转换器)是设计电子系统中的重要环节,它决定了信号从模拟域到数字域的转换质量。
因此,正确选择适合应用需求和性能要求的ADC至关重要。
对于初学者来说,ADC选型可能会变得复杂和困难,因为市场上有各种不同类型和规格的ADC可供选择。
本篇文章将为您提供一个经典的ADC选型指南,以帮助您了解选择ADC的关键因素,从而更好地满足您的应用需求和性能要求。
1. 分辨率(Resolution):ADC的分辨率是指它可以区分和表示的模拟输入电压范围的细微变化程度。
分辨率通常以位数(bits)表示,例如8位、10位、12位等等。
较高的分辨率可以提供更精确的模拟信号转换,但通常伴随着更高的成本和功耗。
因此,需要根据应用需求和所需精度来选择适当的分辨率。
2. 采样率(Sampling Rate):ADC的采样率是指它可以将模拟信号转换为离散数字样本的速率。
采样率通常以每秒样本数(Samples per Second, SPS)或赫兹(Hz)表示。
采样率的选择应基于所需的信号频率范围和应用频谱。
通常,采样率应至少是输入信号频率的两倍,以避免混叠(aliasing)问题。
3. 噪声(Noise):ADC的噪声是指在信号转换过程中引入的非期望信号成分。
噪声会降低系统的信噪比(Signal-to-Noise Ratio, SNR),从而影响转换的准确性和可靠性。
因此,选择具有较低噪声指标的ADC对于需要高转换精度的应用至关重要。
4. 功耗(Power Consumption):ADC的功耗是指在进行信号转换时消耗的电能。
功耗通常以瓦特(W)或毫瓦(mW)表示。
功耗与采样率和分辨率密切相关,较高的采样率和分辨率通常伴随着较高的功耗。
因此,在选择ADC时需要平衡性能要求和能源限制。
5. 输入电压范围(Input Voltage Range):ADC的输入电压范围是指它可以接受的模拟输入信号的电压范围。
AD选型需要考虑的因素的品种繁多、性能各异,在设计数据采集系统时,首先碰到的就就是如何选择合适的A/D转换器以满足系统设计要求的问题。
选择A/D转换器件需要考虑器件本身的品质与应用的场合要求,基本上,可以根据以下几个方面的指标选择一个A/D器件。
(1)A/D转换器位数A/D转换器位数的确定,应该从数据采集系统的静态精度与动态平滑性这两个方面进行考虑。
从静态精度方面来说,要考虑输入信号的原始误差传递到输出所产生的误差,它就是模拟信号数字化时产生误差的主要部分。
量化误差与A/D转换器位数有关。
一般把8位以下的A/D 转换器归为低分辨率A/D转换器,9~12 位的称为中分辨率转换器,13位以上的称为高分辨率转换器。
10位A/D芯片以下误差较大,11位以上对减小误差并无太大贡献,但对A/D转换器的要求却提得过高。
因此,取10位或11位就是合适的。
由于模拟信号先经过测量装置,再经A/D转换器转换后才进行处理,因此,总的误差就是由测量误差与量化误差共同构成的。
A/D转换器的精度应与测量装置的精度相匹配。
也就就是说,一方面要求量化误差在总误差中所占的比重要小,使它不显著地扩大测量误差;另一方面必须根据目前测量装置的精度水平,对A/D转换器的位数提出恰当的要求。
目前,大多数测量装置的精度值不小于01%~0、5%,故A/D转换器的精度取0、05%~0。
1%即可,相应的二进制码为10~11位,加上符号位,即为11~12位。
当有特殊的应用时,A/D转换器要求更多的位数,这时往往可采用双精度的转换方案。
(2)A/D转换器的转换速率A/D转换器从启动转换到转换结束,输出稳定的数字量,需要一定的转换时间。
转换时间的倒数就就是每秒钟能完成的转换次数,称为转换速率。
确定A/D转换器的转换速率时,应考虑系统的采样速率。
例如,如果用转换时间为100us的A/D转换器,则其转换速率为10KHz。
根据采样定理与实际需要,一个周期的波形需采10个样点,那么这样的A/D转换器最高也只有处理频率为1KHz的模拟信号。
高位高速AD、DA模数转换器(A/D)l 8位分辨率l TLV0831 8 位49kSPS ADC 串行输出,差动输入,可配置为SE 输入,单通道l TLC5510 8 位20MSPS ADC,单通道、内部S、低功耗l TLC549 8 位、40kSPS ADC,串行输出、低功耗、与TLC540/545/1540 兼容、单通道l TLC545 8 位、76kSPS ADC,串行输出、片上20 通道模拟Mux,19 通道l TLC0831 8 位,31kSPS ADC 串行输出,微处理器外设/独立运算,单通道l TLC0820 8 位,392kSPS ADC 并行输出,微处理器外设,片上跟踪与保持,单通道l ADS931 8 位30MSPS ADC,具有单端/差动输入和外部基准以及低功耗、电源关闭功能l ADS930 8 位30MSPS ADC,单端/差动输入具有内部基准以及低功耗、电源关闭功能l ADS830 8 位60MSPS ADC,具有单端/差动输入、内部基准和可编程输入范围l 10位分辨率l TLV1572 10 位1.25 MSPS ADC 单通道DSP/(Q)SPI IF S 极低功耗自动断电功能l TLV1571 1 通道10 位1.25MSPS ADC,具有8 通道输出、DSP/SPI、硬件可配置、低功耗l TLV1549 10 位38kSPS ADC 串行输出、固有采样功能、终端与TLC154、TLC1549x 兼容l TLV1548 10 位85kSPS ADC 系列输出,可编程供电/断电/转换速率,TMS320 DSP/SPI/QPSI Compat.,8 通道l TLV1544 10 位85kSPS ADC 串行输出,可编程供电/断电/转换速率,TMS320 DSP/SPI/QPSI 兼容,4 通道l TLV1543 10 位200 kSPS ADC 串行输出,内置自检测模式,内部S,引脚兼容。
ADC选型与基本原理ADC(Analog-to-Digital Converter,模数转换器)是将模拟信号转换为数字信号的电子装置。
在数字化时代,由于计算机、微处理器和数字信号处理器等数字电子系统的广泛应用,ADC成为了十分重要的元件之一ADC的基本原理是将模拟信号通过取样和量化两个过程,将连续的模拟信号转换为离散的数字信号。
取样(Sampling)是指将连续变化的模拟信号以一定的时间间隔进行采样,并取每个采样点的幅值作为采样值。
量化(Quantization)是指将连续变化的采样值通过分级过程将其映射为一组离散的数字数值,以表示模拟信号在每个采样点的幅度。
ADC的输出是离散的数字信号,其数值表示了模拟信号的大小和幅度。
在ADC选型时,需要考虑以下几个方面:1. 分辨率(Resolution):分辨率是指ADC输出数字信号的位数,一般常用的是8位、10位、12位、16位等。
分辨率越高,表示ADC可以提供更精确的采样结果。
2. 采样率(Sampling Rate):采样率是指ADC每秒对模拟信号进行采样的次数。
采样率决定了ADC对于快速变化的信号能否准确采样,常见的采样率有10kHz、100kHz、1MHz等。
3. 输入电压范围(Input Voltage Range):输入电压范围是指ADC 可以正常工作的模拟信号的幅度范围。
一般来说,ADC的输入电压范围应该包括待测量信号的幅度范围,否则会导致输入信号过大或过小而无法正常转换。
4. 具体应用需求(Application Requirements):ADC的选择还需考虑具体的应用需求,比如是否需要内置放大器、数字滤波器、电源电压等。
不同的应用场景可能需要不同的功能和性能特点的ADC。
以德州仪器(Texas Instruments)为例,其提供了许多种类的ADC 产品系列,包括精密ADC、高速ADC、低功耗ADC等。
其中,精密ADC系列如ADS1115具有高分辨率(16位),低噪声(0.4mV RMS)等特点,适用于测量和传感器应用;高速ADC系列如ADC12DJ3200具有极高的采样率(12Gsps)和宽带宽(6GHz),适用于无线通信和雷达等领域;低功耗ADC系列如MSP430F6736A具有低功耗(75μA/MSPS),适用于便携式设备和低功耗应用。
AD(模数转换器)选型:TI/BB公司ADC产品:【ADS7812】1通道,12位,串行接口,低功耗,SOIC封装;【AMC7820】8通道,12位,串行接口,100kHz 采样速率,TQFP封装;【TLC2558】8通道,12位,串行接口,400KSPS,5V供电,0-Ref输入,SOIC封装;【TLV2543】11通道,12位,串行接口,低功耗,DIP封装;【TLC2543】11通道,12位,串行接口,DIP封装;【ADS7869】12通道,12位,串行/并行接口,TQFP封装;【TLC3548】8通道,14位,串行接口,200KSPS,5V供电,0-Ref输入,SOIC封装;【ADS8320】1通道,16位,串行接口,高速,2.7V-5.5V,MSOP封装;【ADS8321】1通道,16位,串行接口,高速,MSOP封装;【ADS8505】1通道,16位,并行接口,250-KSPS,SSOP封装;【ADS8509】1通道,16位,串行接口,250Ksps,SSOP封装;【ADS7809】1通道,16位,串行接口,100Ksps,5V供电,SOIC封装;【ADS8342】4通道,16位,并行接口,250Ksps,输入范围-2.5-2.5,TQF P封装;【ADS8345】8通道,16位,串行接口,串行,SSOP封装;【ADS1241】4通道,24位,串行接口,SSOP封装;【ADS7835】1通道,24位,串行接口,高速,低功耗AD转换器,MSOP封装;详细内容,请访问:查看AD公司ADC产品:【AD7864】4通道,12位,并行接口,高速同时采样,单电源,TQFP封装;【AD7865】4通道,14位,并行接口,高速同时采样,单电源,TQFP封装;【AD677 】1通道,16位,串行接口,100KSPS,DIP封装;【AD7612】1通道,16位,并行/串行,750KSPS,单级/双级输入,DIP封装;【AD7715】1通道,16位,串行接口,3V供电,DIP封装;【AD974 】4通道,16位,串行接口,单电源,200KSPS,DIP封装;【AD976 】4通道,16位,串行接口,单电源,200KSPS,±10V输入,DIP 封装;【AD7710】2通道,24位,串行接口,输入可编程增益,SOIC封装;详细内容,请访问:查看。
AD选型需要考虑的因素品种繁多、性能各异,在设计数据采集系统时,首先碰到的就是如何选择合适的A/D转换器以满足系统设计要求的问题。
选择A/D转换器件需要考虑器件本身的品质和应用的场合要求,基本上,可以根据以下几个方面的指标选择一个A/D器件。
(1)A/D转换器位数A/D转换器位数的确定,应该从数据采集系统的静态精度和动态平滑性这两个方面进行考虑。
从静态精度方面来说,要考虑输入信号的原始误差传递到输出所产生的误差,它是模拟信号数字化时产生误差的主要部分。
量化误差与A/D转换器位数有关。
一般把8位以下的A/D转换器归为低分辨率A/D转换器,9~12 位的称为中分辨率转换器,13位以上的称为高分辨率转换器。
10位A/D芯片以下误差较大,11位以上对减小误差并无太大贡献,但对A/D转换器的要求却提得过高。
因此,取10位或11位是合适的。
由于模拟信号先经过测量装置,再经A/D 转换器转换后才进行处理,因此,总的误差是由测量误差和量化误差共同构成的。
A/D转换器的精度应与测量装置的精度相匹配。
也就是说,一方面要求量化误差在总误差中所占的比重要小,使它不显著地扩大测量误差;另一方面必须根据目前测量装置的精度水平,对A/D转换器的位数提出恰当的要求。
目前,大多数测量装置的精度值不小于01%~0.5%,故A/D转换器的精度取0.05%~0。
1%即可,相应的二进制码为10~11位,加上符号位,即为11~12位。
当有特殊的应用时,A/D转换器要求更多的位数,这时往往可采用双精度的转换方案。
(2)A/D转换器的转换速率A/D转换器从启动转换到转换结束,输出稳定的数字量,需要一定的转换时间。
转换时间的倒数就是每秒钟能完成的转换次数,称为转换速率。
确定A/D转换器的转换速率时,应考虑系统的采样速率。
例如,如果用转换时间为100us的A/D转换器,则其转换速率为10KHz。
根据采样定理和实际需要,一个周期的波形需采10个样点,那么这样的A/D转换器最高也只有处理频率为1KHz的模拟信号。
ADC选型指南范文ADC(模数转换器)是将模拟电信号转换为数字数据的一种设备,广泛应用于工业自动化、仪器仪表、通信系统等领域。
在选择适合的ADC时,需要考虑以下几个关键因素:分辨率、采样率、信噪比、失真、功耗和接口类型等。
本篇文章将从这些方面为您介绍ADC选型的指南。
首先,分辨率是ADC的一个重要参数,表示数字输出的位数。
较高的分辨率可以提供更精确的测量结果。
一般来说,14位或16位的ADC具有较高的分辨率,但价格也相对较高。
对于一般的应用场景,10位或12位的ADC已经足够满足需求。
其次,采样率是ADC的另一个重要参数,表示每秒钟转换的模拟样本数。
较高的采样率可以提供更精确的信号重建,尤其是对于高频信号。
采样率的选择应根据系统的需求来确定,一般来说,20kHz至100kHz的采样率已经能够满足大部分应用需求。
信噪比(SNR)是衡量ADC性能的关键指标之一,表示信号与噪声的比例。
较高的信噪比可以提供更清晰的信号,减少测量误差。
在工业环境中,可能存在较高的干扰和噪声,因此选择具有较高信噪比的ADC非常重要。
一般来说,大于70dB的信噪比已经可以满足大部分应用场景。
失真是ADC性能的另一个重要参数,表示输入信号与输出信号之间的差异。
常见的失真包括谐波失真和非线性失真。
较低的失真可以提供更准确的信号重建,从而减少测量误差。
选择具有较低失真的ADC可以提高测量精度。
功耗是选择ADC时需要考虑的另一个因素,尤其是在移动和便携设备中。
较低的功耗可以延长电池寿命,并减少系统的发热。
一般来说,功耗在几十毫瓦或更低的ADC可以满足多数应用需求。
最后,接口类型是选择ADC时需要考虑的另一个因素。
常见的接口类型包括SPI、I2C和并行接口等。
根据系统的需要选择适合的接口类型可以简化系统设计和集成。
综上所述,选择适合的ADC时需要考虑分辨率、采样率、信噪比、失真、功耗和接口类型等因素。
根据实际需求确定每个因素的权重,并寻找具有合适性能和价格的ADC。
一ADC的定义模数转换器即A/D转换器,或简称ADC,(简称a/d转换器或adc,analog to digital converter)通常是指一个将模拟信号转变为数字信号的电子元件。
通常的模数转换器是将一个输入电压信号转换为一个输出的数字信号。
由于数字信号本身不具有实际意义,仅仅表示一个相对大小。
故任何一个模数转换器都需要一个参考模拟量作为转换的标准,比较常见的参考标准为最大的可转换信号大小。
而输出的数字量则表示输入信号相对于参考信号的大小。
二 ADC的基本原理在A/D转换中,因为输入的模拟信号在时间上是连续的,而输出的数字信号是离散量,所以进行转换时只能按一定的时间间隔对输入的模拟信号进行采样,然后再把采样值转换为输出的数字量。
通常A/D转换需要经过采样、保持量化、编码四个步骤。
也可将采样、保持合为一步,量化、编码合为一步,共两大步来完成。
(1)采样和保持:采样,就是对连续变化的模拟信号进行定时测量,抽取其样值。
采样结束后,再将此取样信号保持一段时间,使A/D转换器有充分的时间进行A/D转换。
采样-保持电路就是完成该任务的。
其中,采样脉冲的频率越高,采样越密,采样值就越多,其采样-保持电路的输出信号就越接近于输入信号的波形。
因此,对采样频率就有一定的要求,必须满足采样定理即:fs≥2fImax其中fImax 是输入模拟信号频谱中的最高频率(2)量化和编码:所谓量化,就是把采样电压转换为以某个最小单位电压△ 的整数倍的过程。
分成的等级称为量化级 ,A 称为量化单位。
所谓编码 , 就是用二进制代码来表示量化后的量化电平。
采样后得到的采样值不可能刚好是某个量化基准值 , 总会有一定的误差 , 这个误差称为量化误差。
显然 , 量化级越细 , 量化误差就越小 , 但是 , 所用的二进制代码的位数就越多 , 电路也将越复杂。
量化方法除了上面所述方法外 , 还有舍尾取整法 , 这里不再赘述。
采样的话时间非常短,起动AD转换后,就把模拟值读进去了。
模数转换器的选用
随着电子技术的迅速发展,以及计算机在自动检测和自动控制系统中的广泛应用,利用数字系统来处理模拟信号的情况变得更加普遍。
数字系统所处理和传送的都是离散的数字信号,而现实中遇到的往往是连续变化的模拟量,因此,起着桥梁作用的接口电路——A/D转换器,已成为电子技术发展。
模数转换器的选用具体取决于输入电平、输出形式、控制性质以及需要的速度、分辨率和精度。
用半导体分立元件制成的模数转换器常常采用单元结构,随着大规模集成电路技术的发展,模数转换器体积逐渐缩小为一块模板、一块集成电路。
ISLA216P25是一种高性能、低功耗ADC,具有最佳动态性能,同时其功耗显著优于同类产品。
在采样率为250MSPS的条件下,ISLA216P251.8V电源的耗电量仅为786mW,fin=30MHz时,信噪比(SNR)为75.0dBFS,无杂散动态范围达87dBc。
同时,ISLA216P25是同类产品中唯一全面支持600MHz以上输入频率的ADC,欠采样或高IF系统设计人员可以放心地使用700MHz满功率带宽。
3GSPS模数转换器实现了在一次采样期内采集1.5GHz模拟信号频谱。
如果采样速度翻倍,尼奎斯特带宽也倍增至3GHz。
通过时间交替实
现采样带宽倍增对于很多应用来说都是有益的。
例如,无线电收发器架构可以增加信息信号载波数,从而增加系统数据输出量。
采样频率倍增还可以提高采用飞行时间(TOF)原理的LIDAR测量系统的分辨率。
实际上,通过缩短有效采样期可以降低飞行时间测量值的不确定性。
AD选型需要考虑的因素品种繁多、性能各异,在设计数据采集系统时,首先碰到的就是如何选择合适的A/D转换器以满足系统设计要求的问题。
选择A/D转换器件需要考虑器件本身的品质和应用的场合要求,基本上,可以根据以下几个方面的指标选择一个A/D器件。
(1)A/D转换器位数A/D转换器位数的确定,应该从数据采集系统的静态精度和动态平滑性这两个方面进行考虑。
从静态精度方面来说,要考虑输入信号的原始误差传递到输出所产生的误差,它是模拟信号数字化时产生误差的主要部分。
量化误差与A/D转换器位数有关。
一般把8位以下的A/D转换器归为低分辨率A/D转换器,9~12 位的称为中分辨率转换器,13位以上的称为高分辨率转换器。
10位A/D芯片以下误差较大,11位以上对减小误差并无太大贡献,但对A/D转换器的要求却提得过高。
因此,取10位或11位是合适的。
由于模拟信号先经过测量装置,再经A/D 转换器转换后才进行处理,因此,总的误差是由测量误差和量化误差共同构成的。
A/D转换器的精度应与测量装置的精度相匹配。
也就是说,一方面要求量化误差在总误差中所占的比重要小,使它不显著地扩大测量误差;另一方面必须根据目前测量装置的精度水平,对A/D转换器的位数提出恰当的要求。
目前,大多数测量装置的精度值不小于01%~0.5%,故A/D转换器的精度取0.05%~0。
1%即可,相应的二进制码为10~11位,加上符号位,即为11~12位。
当有特殊的应用时,A/D转换器要求更多的位数,这时往往可采用双精度的转换方案。
(2)A/D转换器的转换速率A/D转换器从启动转换到转换结束,输出稳定的数字量,需要一定的转换时间。
转换时间的倒数就是每秒钟能完成的转换次数,称为转换速率。
确定A/D转换器的转换速率时,应考虑系统的采样速率。
例如,如果用转换时间为100us的A/D转换器,则其转换速率为10KHz。
根据采样定理和实际需要,一个周期的波形需采10个样点,那么这样的A/D转换器最高也只有处理频率为1KHz的模拟信号。
ADC选型手册一ADC的定义模数转换器即A/D转换器,或简称ADC,(简称a/d转换器或adc,analog to digital converter)通常是指一个将模拟信号转变为数字信号的电子元件。
通常的模数转换器是将一个输入电压信号转换为一个输出的数字信号。
由于数字信号本身不具有实际意义,仅仅表示一个相对大小。
故任何一个模数转换器都需要一个参考模拟量作为转换的标准,比较常见的参考标准为最大的可转换信号大小。
而输出的数字量则表示输入信号相对于参考信号的大小。
二ADC的基本原理在A/D转换中,因为输入的模拟信号在时间上是连续的,而输出的数字信号是离散量,所以进行转换时只能按一定的时间间隔对输入的模拟信号进行采样,然后再把采样值转换为输出的数字量。
通常A/D转换需要经过采样、保持量化、编码四个步骤。
也可将采样、保持合为一步,量化、编码合为一步,共两大步来完成。
(1)采样和保持:采样,就是对连续变化的模拟信号进行定时测量,抽取其样值。
采样结束后,再将此取样信号保持一段时间,使A/D转换器有充分的时间进行A/D转换。
采样-保持电路就是完成该任务的。
其中,采样脉冲的频率越高,采样越密,采样值就越多,其采样-保持电路的输出信号就越接近于输入信号的波形。
因此,对采样频率就有一定的要求,必须满足采样定理即:fs≥2fImax其中fImax 是输入模拟信号频谱中的最高频率(2)量化和编码:所谓量化,就是把采样电压转换为以某个最小单位电压△的整数倍的过程。
分成的等级称为量化级,A 称为量化单位。
所谓编码, 就是用二进制代码来表示量化后的量化电平。
采样后得到的采样值不可能刚好是某个量化基准值, 总会有一定的误差, 这个误差称为量化误差。
显然, 量化级越细, 量化误差就越小, 但是, 所用的二进制代码的位数就越多, 电路也将越复杂。
量化方法除了上面所述方法外, 还有舍尾取整法, 这里不再赘述。
采样的话时间非常短,起动AD转换后,就把模拟值读进去了。
AD选型需要考虑的因素品种繁多、性能各异,在设计数据采集系统时,首先碰到的就是如何选择合适的A/D转换器以满足系统设计要求的问题。
选择A/D转换器件需要考虑器件本身的品质和应用的场合要求,基本上,可以根据以下几个方面的指标选择一个A/D器件。
(1)A/D转换器位数A/D转换器位数的确定,应该从数据采集系统的静态精度和动态平滑性这两个方面进行考虑。
从静态精度方面来说,要考虑输入信号的原始误差传递到输出所产生的误差,它是模拟信号数字化时产生误差的主要部分。
量化误差与A/D转换器位数有关。
一般把8位以下的A/D转换器归为低分辨率A/D转换器,9~12 位的称为中分辨率转换器,13位以上的称为高分辨率转换器。
10位A/D芯片以下误差较大,11位以上对减小误差并无太大贡献,但对A/D转换器的要求却提得过高。
因此,取10位或11位是合适的。
由于模拟信号先经过测量装置,再经A/D 转换器转换后才进行处理,因此,总的误差是由测量误差和量化误差共同构成的。
A/D转换器的精度应与测量装置的精度相匹配。
也就是说,一方面要求量化误差在总误差中所占的比重要小,使它不显著地扩大测量误差;另一方面必须根据目前测量装置的精度水平,对A/D转换器的位数提出恰当的要求。
目前,大多数测量装置的精度值不小于01%~0.5%,故A/D转换器的精度取0.05%~0。
1%即可,相应的二进制码为10~11位,加上符号位,即为11~12位。
当有特殊的应用时,A/D转换器要求更多的位数,这时往往可采用双精度的转换方案。
(2)A/D转换器的转换速率A/D转换器从启动转换到转换结束,输出稳定的数字量,需要一定的转换时间。
转换时间的倒数就是每秒钟能完成的转换次数,称为转换速率。
确定A/D转换器的转换速率时,应考虑系统的采样速率。
例如,如果用转换时间为100us的A/D转换器,则其转换速率为10KHz。
根据采样定理和实际需要,一个周期的波形需采10个样点,那么这样的A/D转换器最高也只有处理频率为1KHz的模拟信号。
各位大侠帮忙给个3通道或以上的16进制的AD转换的型号呗检举| 2007-4-27 17:22提问者:zhuyongfan|悬赏分:5 |浏览次数:1486次看到个ADC0809的,通道倒是多,但是是用十进制表示的,因此。
检举| 2007-5-6 19:29最佳答案AD AD518SH 宽带,低成本,运算放大器,16进制AD AD5539SQ 宽频精密运算放大器,8进制AD AD571SD/883 10-bit,包括定位和时钟的A/D转换器,10进制AD AD574ASD/883B 12-bit,完整的A/D转换器,10进制AD AD7502SQ/883 4-信道,微分多路器,8进制AD AD7503SQ/883 8-信道,多路器,8进制AD AD843SQ/883 34MHz,CBFET快速稳定运算放大器,8进制AD AD9617SQ/883B 低配电,精密,宽带运算放大器,8进制AD ADSP-21062CS160 SHARC,40MHz,120MFLOPS,5V,浮点数字信号处理器TI/BB公司ADC产品:【ADS7812】1通道,12位,串行接口,低功耗,SOIC封装;【AMC7820】8通道,12位,串行接口,100kHz 采样速率,TQFP封装;【TLC2558】8通道,12位,串行接口,400KSPS,5V供电,0-Ref输入,SOIC封装;【TLV2543】11通道,12位,串行接口,低功耗,DIP封装;【TLC2543】11通道,12位,串行接口,DIP封装;【ADS7869】12通道,12位,串行/并行接口,TQFP封装;【TLC3548】8通道,14位,串行接口,200KSPS,5V供电,0-Ref输入,SOIC封装;【ADS8320】1通道,16位,串行接口,高速,2.7V-5.5V,MSOP封装;【ADS8321】1通道,16位,串行接口,高速,MSOP封装;【ADS8505】1通道,16位,并行接口,250-KSPS,SSOP封装;【ADS8509】1通道,16位,串行接口,250Ksps,SSOP封装;【ADS7809】1通道,16位,串行接口,100Ksps,5V供电,SOIC封装;【ADS8342】4通道,16位,并行接口,250Ksps,强制卸载-2.5-2.5,TQFP封装;【ADS8345】8通道,16位,串行接口,串行,SSOP封装;【ADS1241】4通道,24位,串行接口,SSOP封装;【ADS7835】1通道,24位,串行接口,高速,低功耗AD转换器,MSOP封装;AD公司ADC产品:【AD7864】4通道,12位,并行接口,高速同时采样,单电源,TQFP封装;【AD7865】4通道,14位,并行接口,高速同时采样,单电源,TQFP封装;【AD677 】1通道,16位,串行接口,100KSPS,DIP封装;【AD7612】1通道,16位,并行/串行,750KSPS,单级/双级输入,DIP封装;【AD7715】1通道,16位,串行接口,3V供电,DIP封装;【AD976 】4通道,16位,串行接口,单电源,200KSPS,±10V输入,DIP 封装;【AD7710】2通道,24位,串行接口,输入可编程增益,SOIC封装;MAXIM公司ADC产品:【MAX156】4通道,8位,并行接口,高速,电压基准,DIP封装;【MAX158】8通道,8位,并行接口,高速,电压基准,DIP封装;【MAX160】1通道,8位,并行接口,+5V,±5、10 输入范围,4μs,DIP 封装;【MAX176】1通道,12位,串行接口,250ksps,电压基准,DIP封装;【MAX187】1通道,12位,串行接口,+5V,低功耗,DIP封装;【MAX163】1通道,12位,并行接口,5V输入,采样率100k,电压基准,DIP封装;【MAX167】1通道,12位,并行接口,± 2.5V输入,采样率100k,电压基准,DIP封装;【MAX144】2通道,12位,串行接口,+3V/5V,低功耗,108ksps,DIP封装;【MAX1282】4通道,12位,串行接口,400ksps,+5V,内置电压基准,SSOP 封装;【MAX1270】8通道,12位,串行接口,110ksps,多量程,+5V,内置电压基准,DIP封装;【MAX146】8通道,12位,串行接口,+2.7V,低功耗,DIP封装;【MAX186】8通道,12位,串行接口,低功耗,DIP封装,SOIC封装;【MAX197】8通道,12位,并行接口,多量程,单+5V,DIP封装,SOIC封装;【MAX110】2通道,14位,串行接口,±3V输入,低成本,DIP封装;【MAX111】2通道,14位,串行接口,±1.5V输入,低成本,DIP封装;【MAX1134】1通道,16位,串行接口,150ksps,3.3V单电源供电,SSOP 封装;【MAX1165】1通道,16位,并行接口(16位),低功耗,TSSOP封装;【MAX1166】1通道,16位,并行接口(8位),低功耗,TSSOP封装;【MAX1169】1通道,16位,2线串行接口,58.6ksps,TSSOP封装;【MAX7129】4 1/2位,带有多路复用的LCD驱动器,低噪声,DIP封装。
AD转换器选型需要考虑的因素A/D器件和芯片是实现单片机数据采集的常用外围器件。
A/D转换器的品种繁多、性能各异,在设计数据采集系统时,首先碰到的就是如何选择合适的A/D转换器以满足系统设计要求的问题。
选择A/D转换器件需要考虑器件本身的品质和应用的场合要求,基本上,可以根据以下几个方面的指标选择一个A/D器件。
(1)A/D转换器位数A/D转换器位数的确定,应该从数据采集系统的静态精度和动态平滑性这两个方面进行考虑。
从静态精度方面来说,要考虑输入信号的原始误差传递到输出所产生的误差,它是模拟信号数字化时产生误差的主要部分。
量化误差与A/D转换器位数有关。
一般把8位以下的A/D转换器归为低分辨率A/D转换器,9~12位的称为中分辨率转换器,13位以上的称为高分辨率转换器。
10位A/D芯片以下误差较大,11位以上对减小误差并无太大贡献,但对A/D转换器的要求却提得过高。
因此,取10位或11位是合适的。
由于模拟信号先经过测量装置,再经A/D转换器转换后才进行处理,因此,总的误差是由测量误差和量化误差共同构成的。
A/D转换器的精度应与测量装置的精度相匹配。
也就是说,一方面要求量化误差在总误差中所占的比重要小,使它不显著地扩大测量误差;另一方面必须根据目前测量装置的精度水平,对A/D转换器的位数提出恰当的要求。
目前,大多数测量装置的精度值不小于01%~0.5%,故A/D转换器的精度取0.05%~0。
1%即可,相应的二进制码为10~11位,加上符号位,即为11~12位。
当有特殊的应用时,A/D转换器要求更多的位数,这时往往可采用双精度的转换方案。
(2)A/D转换器的转换速率A/D转换器从启动转换到转换结束,输出稳定的数字量,需要一定的转换时间。
转换时间的倒数就是每秒钟能完成的转换次数,称为转换速率。
确定A/D转换器的转换速率时,应考虑系统的采样速率。
例如,如果用转换时间为100u的A/D转换器,则其转换速率为10KHz。
AD转化器分类及特点和选⽤1. AD转换器的分类下⾯简要介绍常⽤的⼏种类型的基本原理及特点:积分型、逐次逼近型、并⾏⽐较型/串并⾏型、∑-Δ调制型、电容阵列逐次⽐较型及压频变换型。
1)积分型(如TLC7135)积分型AD⼯作原理是将输⼊电压转换成时间(脉冲宽度信号)或频率(脉冲频率),然后由定时器/计数器获得数字值。
其优点是⽤简单电路就能获得⾼分辨率,但缺点是由于转换精度依赖于积分时间,因此转换速率极低。
初期的单⽚AD转换器⼤多采⽤积分型,现在逐次⽐较型已逐步成为主流。
2)逐次⽐较型(如TLC0831)逐次⽐较型AD由⼀个⽐较器和DA转换器通过逐次⽐较逻辑构成,从MSB开始,顺序地对每⼀位将输⼊电压与内置DA转换器输出进⾏⽐较,经n次⽐较⽽输出数字值。
其电路规模属于中等。
其优点是速度较⾼、功耗低,在低分辩率(<12位)时价格便宜,但⾼精度(>12位)时价格很⾼。
3)并⾏⽐较型/串并⾏⽐较型(如TLC5510)并⾏⽐较型AD采⽤多个⽐较器,仅作⼀次⽐较⽽实⾏转换,⼜称FLash(快速)型。
由于转换速率极⾼,n位的转换需要2n-1个⽐较器,因此电路规模也极⼤,价格也⾼,只适⽤于视频AD转换器等速度特别⾼的领域。
串并⾏⽐较型AD结构上介于并⾏型和逐次⽐较型之间,最典型的是由2个n/2位的并⾏型AD转换器配合DA转换器组成,⽤两次⽐较实⾏转换,所以称为Half flash(半快速)型。
还有分成三步或多步实现AD转换的叫做分级(Multistep/Subrangling)型AD,⽽从转换时序⾓度⼜可称为流⽔线(Pipelined)型AD,现代的分级型AD中还加⼊了对多次转换结果作数字运算⽽修正特性等功能。
这类AD速度⽐逐次⽐较型⾼,电路规模⽐并⾏型⼩。
4)∑-Δ(Sigma?/FONT>delta)调制型(如AD7705)∑-Δ型AD由积分器、⽐较器、1位DA转换器和数字滤波器等组成。
原理上近似于积分型,将输⼊电压转换成时间(脉冲宽度)信号,⽤数字滤波器处理后得到数字值。