碳化硅MOSFET性能优势
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大功率碳化硅mosfet摘要:1.碳化硅MOSFET 的概述2.碳化硅MOSFET 的优势3.碳化硅MOSFET 的应用领域4.碳化硅MOSFET 的发展前景正文:一、碳化硅MOSFET 的概述碳化硅MOSFET(碳化硅金属- 氧化- 半导体场效应晶体管)是一种功率半导体器件,其结构主要由n 型和p 型碳化硅半导体以及金属栅极构成。
碳化硅MOSFET 具有较高的耐压、高频、高温性能和较低的导通电阻,因此在高压、高频、高温应用领域具有广泛的应用前景。
二、碳化硅MOSFET 的优势1.更高的耐压能力:与硅材料相比,碳化硅具有更大的禁带宽度和更高的临界击穿电场,使得碳化硅MOSFET 具有更高的耐压能力。
2.更高的工作频率:碳化硅具有较高的电子饱和漂移速率,使得碳化硅MOSFET 具有较高的工作频率,可以在高频应用领域实现更好的性能。
3.更高的热导率:碳化硅的热导率比硅更高,使得碳化硅MOSFET 具有更好的高温性能,适用于高温环境或需要高功率密度的应用。
4.更低的导通电阻:碳化硅材料的电阻率较低,使得碳化硅MOSFET 具有较低的导通电阻,可以实现更高的电流密度和更高的功率密度。
三、碳化硅MOSFET 的应用领域碳化硅MOSFET 广泛应用于高压、高频、高温等领域,如太阳能发电、风能发电、电动汽车、轨道交通、工业控制等。
随着碳化硅MOSFET 技术的不断发展,其在这些领域的应用将更加广泛。
四、碳化硅MOSFET 的发展前景随着碳化硅材料的研究不断深入,碳化硅MOSFET 的制作工艺和技术也在不断进步。
目前,碳化硅MOSFET 已经取得了显著的发展,如更高的电压、更大的电流、更高的工作频率等。
碳化硅MOSFET 器件结构和特性SiC(碳化硅)是由硅和碳化物组成的化合物半导体。
与硅相比,SiC具有许多优势,包括10倍的击穿电场强度,3倍的带隙,以及实现器件结构所需的更广泛的p型和n型控制。
其结果是硅无法实现的突破性性能,使其成为下一代功率器件最可行的继任者。
SiC存在多种多型(多晶型),每种具有不同的物理性质。
在这些多类型中,4H-SiC是功率器件最理想的。
功率器件特性SiC的击穿电场强度是硅的10倍,因此可以通过更薄的漂移层和更高的杂质浓度配置更高电压(600V至XNUMX V)的功率器件。
由于高压器件的大部分电阻成分位于漂移层电阻中,因此SiC能够以极低的单位面积导通电阻实现更高的耐压。
理论上,在相同的耐压下,单位面积的漂移层电阻可比硅降低300倍。
为了尽量减少使用硅的较高耐压下导通电阻的增加,通常使用少数载流子器件(双极性),例如IGBT(绝缘栅双极晶体管)。
然而,这会增加开关损耗,从而导致更大的热量产生并限制高频操作。
相比之下,SiC通过高速器件结构,使用多数载流器件(肖特基势垒二极管、MOSFET)实现高耐压成为可能,同时实现高耐压、低导通电阻和高速运行。
3倍宽的带隙允许功率器件在更高的温度下工作,从而大大扩展了适用性。
碳化硅SBD器件结构和特点将碳化硅高速器件结构集成到肖特基势垒二极管(SBD)中,可以实现大于600V的耐压(与硅SBD的~200V相反)。
因此,替换现有的主流PN结二极管(快速恢复型)可显著降低恢复损耗,有助于降低线圈等无源元件的噪声和更紧凑性。
这是由于电源效率的提高和操作频率的提高。
这确保了对功率因数校正电路(PFC)和整流桥的支持,使其适用于更广泛的应用,包括交流电、电源、太阳能功率调节器、电动汽车快速充电器。
碳化硅SBD正向特性SiC SBD的上升电压小于1V-相当于FRD的上升电压。
上升电压由肖特基势垒的高度决定。
然而,尽管设计较低的正常势垒高度可以降低上升电压,但这是以泄漏电流为代价的,漏电流在反向偏置期间会增加。
SIC碳化硅MOSFET是一种新型的功率半导体器件,具有高电压、高温和高频等特点。
本篇文章将围绕着SIC碳化硅MOSFET的最高工作频率展开讨论。
一、SIC碳化硅MOSFET的基本原理SIC碳化硅MOSFET是基于碳化硅材料制备的金属氧化物半导体场效应晶体管。
它采用碳化硅作为衬底材料,能够承受更高的工作温度,具有更低的导通电阻和更高的击穿电压,因此能够在高温、高频环境下工作。
二、SIC碳化硅MOSFET的工作频率与特性1. SIC碳化硅MOSFET的工作频率通常受到器件结构、工艺制造和材料特性等因素的影响。
由于碳化硅材料的导电性能好,迁移率高,因此SIC碳化硅MOSFET能够在更高的频率下工作。
2. SIC碳化硅MOSFET在工作频率上的主要特性包括开关速度快、损耗小、电磁干扰小等。
这些特性使得SIC碳化硅MOSFET在高频开关电源、光伏逆变器、电动汽车控制等领域有着广泛的应用前景。
三、SIC碳化硅MOSFET的最高工作频率1. 由于SIC碳化硅MOSFET具有优异的高频特性,因此它的最高工作频率通常可以达到几十兆赫兹甚至上百兆赫兹。
这使得SIC碳化硅MOSFET能够在高频环境下稳定工作,并且具有较高的性能优势。
2. 目前,SIC碳化硅MOSFET的最高工作频率还存在一定的局限性,主要表现在器件结构、封装工艺、散热问题等方面。
随着技术的不断进步和改进,相信SIC碳化硅MOSFET的最高工作频率会不断提升,应用范围也会进一步扩大。
四、SIC碳化硅MOSFET的发展趋势1. 随着电力电子器件领域对高温、高频、高效的需求日益增长,SIC 碳化硅MOSFET必将成为未来的发展趋势。
其在新能源、电动汽车、航空航天、通信等领域的应用前景广阔。
2. SIC碳化硅MOSFET在工作频率上的优势,将为电力电子领域带来更多的创新和应用场景。
相信在未来的发展中,SIC碳化硅MOSFET 的最高工作频率会不断提升,为电力电子器件的发展注入新的活力。
文章标题:探秘碳化硅MOSFET:新型导热材料的全面评估1. 引言碳化硅(SiC)MOSFET是一种新型的功率半导体器件,具有高温特性、高频特性和高功率特性,逐渐被广泛应用于电力电子领域。
而作为新型导热材料,碳化硅也在众多领域展现了优异的性能。
本文将就碳化硅MOSFET以及作为导热材料的应用进行深度评估。
2. 碳化硅MOSFET的特性碳化硅MOSFET相较于传统的硅MOSFET具有更高的击穿场强,更高的工作温度,更高的开关频率等特点,可用于高压和高频率的场合。
在电动车、电力系统等领域具有重要的应用前景。
3. 碳化硅作为导热材料的性能碳化硅具有优秀的导热性能,其热导率较硅大约3倍,而且随着温度的增加,碳化硅的热导率不会出现下降的趋势,因此在高温高功率电子器件中应用广泛。
碳化硅还具有很好的耐热性和抗氧化性能,稳定的化学性质,适用于各种恶劣环境。
4. 碳化硅MOSFET在电力电子领域的应用碳化硅MOSFET作为一种新型的功率半导体器件,其在电力电子领域扮演着重要的角色。
在交流传输系统和直流传输系统中,碳化硅MOSFET都展现了出色的性能,提高了功率密度和系统效率,同时也降低了系统的体积和成本。
5. 个人观点和理解作为碳化硅MOSFET和碳化硅作为导热材料的新型技术,在未来的电力电子领域和高温高功率电子器件中具有广阔的应用前景。
其优秀的性能和稳定的特性将对电力系统、电动车等领域产生深远的影响,也将推动电力电子技术的飞速发展。
6. 总结碳化硅MOSFET作为一种新型的功率半导体器件,以及碳化硅作为导热材料的特性与应用前景进行了全面评估。
值得注意的是,随着科技的发展,碳化硅技术将不断完善和应用扩大,对各种领域产生更多的积极影响。
通过上述深度评估,我们对碳化硅MOSFET及碳化硅作为导热材料的特性和应用有了更深入的理解,相信在未来的发展中将发挥越来越重要的作用。
长按来粘贴您的内容…碳化硅MOSFET作为新型的功率半导体器件,在电力电子领域具有巨大的潜力和应用前景。
碳化硅SiCMOSFET特性3.3 碳化硅SiC MOSFE Vd‐Id 特性SiC‐MOSFET 与IGBT 不同,不存在开启电压,所以从小电流到大电流的宽电流范围内都能够实现低导通损耗。
而Si‐MOSFET 在150℃时导通电阻上升为室温条件下的2 倍以上,与Si‐MOSFET 不同,SiC‐MOSFET的上升率比较低,因此易于热设计,且高温下的导通电阻也很低。
3.4 驱动门极电压和导通电阻SiC‐MOSFET 的漂移层阻抗比Si‐MOSFET 低,但是另一方面,按照现在的技术水平,SiC‐MOSFET的MOS 沟道部分的迁移率比较低,所以沟道部的阻抗比Si 器件要高。
因此,越高的门极电压,可以得到越低的导通电阻(Vgs=20V 以上则逐渐饱和)。
如果使用一般IGBT 和Si‐MOSFET 使用的驱动电压Vgs=10~15V 的话,不能发挥出SiC 本来的低导通电阻的性能,所以为了得到充分的低导通电阻,推荐使用Vgs=18V 左右进行驱动。
Vgs=13V 以下的话,有可能发生热失控,请注意不要使用。
文章来源:js/152.html3.5 Vg‐Id 特性SiC‐MOSFET 的阈值电压在数mA 的情况下定义的话,与Si‐MOSFET 相当,室温下大约3V(常闭)。
但是,如果流通几A 的话,需要的门极电压在室温下约为8V 以上,所以可以认为针对误触发的耐性与IGBT 相当。
温度越高,阈值电压越低。
3.6 Turn‐on 特性SiC‐MOSFET/SiC‐SBD 封装一体化产品SCH2080KE 和同规格等级的Si‐IGBT/Si‐FRD 封装一体化产品分别搭成半桥电路,通过感性负载双脉冲测试对开关波形进行比较。
SiC‐MOSFET 的Turn‐on 速度与Si‐IGBT 和Si‐MOSFET 相当,大约几十ns。
但是在感性负载开关的情况下,由通往上臂二极管的回流产生的恢复电流也流过下臂,由于各二极管性能的偏差,从而产生很大的损耗。
mosfet 碳化硅碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管(SiC MOSFET)是一种采用碳化硅(SiC)半导体材料制造的MOSFET。
与传统的硅(Si)MOSFET 相比,SiC MOSFET具有一些显著的优势,因为碳化硅具有独特的电子特性,包括更高的电子饱和漂移速度、更高的电子能隙和更好的高温性能。
以下是关于SiC MOSFET的一些关键信息:1.高温性能:SiC MOSFET比硅MOSFET在高温环境下更稳定,因此在高温应用中具有更好的性能和可靠性。
这使得SiC MOSFET 特别适合汽车电动化、太阳能逆变器和电力电子等高温应用领域。
2.高电子迁移速度:碳化硅具有更高的电子饱和漂移速度,这意味着SiC MOSFET可以在更高频率下工作,同时减少开关损耗,提高能源效率。
3.低导通电阻:SiC MOSFET的导通电阻比硅MOSFET更低,这意味着在导通状态下消耗的功率更少。
4.低开关损耗:由于高电子速度和电子能隙,SiC MOSFET在切换时产生的损耗更少,因此在高频率开关应用中更为有效。
5.高电压能力:SiC MOSFET能够承受更高的电压,因此适用于需要高电压的应用,如高压逆变器和电力传输。
6.高温导热性:碳化硅具有较好的导热性能,有助于在高温条件下散热,从而提高器件的可靠性。
7.应用领域:SiC MOSFET广泛应用于电力电子、能源转换、电动汽车、工业驱动、太阳能逆变器等领域,以提高性能、效率和可靠性。
总之,碳化硅MOSFET代表了一种更先进的半导体技术,具有比传统硅MOSFET更高的性能,特别适用于高温、高频率和高电压应用。
这些特性使SiC MOSFET成为现代电子和电力系统的重要组成部分。
平面型碳化硅mosfet平面型碳化硅 MOSFET:特性、优势和应用平面型碳化硅 (SiC) MOSFET 是一种新型功率半导体器件,具有出色的性能和多项优势。
与传统硅基功率 MOSFET 相比,SiC MOSFET 提供更高的效率、更快的开关速度和更低的导通电阻。
特性高击穿电压: SiC 具有宽禁带,使 SiC MOSFET 能够承受非常高的击穿电压。
低导通电阻: SiC MOSFET 的导通电阻极低,从而减少了功耗和发热。
快速开关速度: SiC MOSFET 具有极快的开关速度,能够在高频下工作。
耐高温: SiC 具有很高的热导率,使 SiC MOSFET 能够在高温下工作。
抗辐射: SiC MOSFET 对辐射不敏感,使其适用于太空和军事应用。
优势高效率: SiC MOSFET 的低导通电阻和快速开关速度使其具有很高的效率,可显着降低功耗。
高功率密度: SiC MOSFET 的小尺寸和高功率密度使其非常适合高功率应用。
高可靠性: SiC MOSFET 具有出色的可靠性,可耐受严苛的工作条件。
低电磁干扰 (EMI): SiC MOSFET 的快速开关速度可降低 EMI,使其适用于对电磁干扰敏感的应用。
环境友好: SiC 是一种环保材料,不会产生有害物质。
应用平面型碳化硅 MOSFET 广泛应用于各种领域,包括:电力电子:逆变器、变频器和不间断电源 (UPS) 系统。
汽车电子:电动和混合动力汽车的牵引逆变器。
可再生能源:太阳能和风能发电系统。
工业自动化:电机驱动器和机器人。
航空航天和国防:卫星电源系统和雷达系统。
发展趋势平面型碳化硅 MOSFET 技术仍在不断发展,新材料和新工艺正在不断涌现。
未来,SiC MOSFET 的性能和可靠性将进一步提高,使其在更多应用中取代传统硅基功率 MOSFET。
随着 SiC MOSFET 技术的成熟和成本的下降,预计它将在未来几年内成为功率电子领域的领军技术,推动电力系统和电子产品的创新和进步。
碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体
管
碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管(SiC MOSFET)是一种新型的功率半导体器件,它结合了碳化硅(SiC)材料和金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFET)的技术优点。
碳化硅是一种宽带隙半导体材料,具有更高的禁带宽度、更高的热导率和更高的击穿电场强度。
这些特性使得碳化硅 MOSFET 在高功率应用中具有优异的性能,例如电源转换、电动汽车、工业驱动和可再生能源等领域。
与传统的硅基 MOSFET 相比,碳化硅 MOSFET 具有以下优点:
1. 更高的开关速度:碳化硅的宽带隙特性使得电子在材料中的迁移速度更快,从而实现更快的开关速度。
这有助于提高电源转换效率和降低开关损耗。
2. 更低的导通电阻:碳化硅的高击穿电场强度允许更薄的漂移区,从而降低导通电阻。
低导通电阻有助于降低功率损耗和提高能量转换效率。
3. 更高的温度稳定性:碳化硅具有更高的热导率,能够更好地散热,从而提高器件的温度稳定性。
这使得碳化硅 MOSFET 在高温环境下能够可靠工作。
4. 更小的体积:由于碳化硅 MOSFET 的导通电阻更低,相同功率等级下所需的芯片面积更小,因此可以实现更小的器件体积。
碳化硅 MOSFET 的应用涵盖了许多领域,包括电动汽车充电器、太阳能逆变器、工业电机驱动、电源模块等。
它们在提高能量转换效率、减小系统体积和提高可靠性方面发挥着重要作用。
随着技术的不断发展,碳化硅 MOSFET 的性能将进一步提高,成本也将逐渐降低,使其在更广泛的应用中得到推广和使用。
碳化硅MOSFET器件特性的研究碳化硅MOSFET (Metal Oxide Semiconductor Field Effect Transistor)是一种使用碳化硅材料制造的半导体器件,广泛应用于功率电子领域。
与传统的硅MOSFET相比,碳化硅MOSFET具有许多优势,包括更高的工作温度、更低的开关损耗和更高的开关频率。
因此,碳化硅MOSFET的研究非常重要,对其特性进行深入研究可以帮助工程师和研发人员更好地应用此器件。
首先,碳化硅MOSFET的高温特性是其最大的优点之一、由于碳化硅MOSFET具有较高的热导率和较低的材料损耗,因此它能够在更高的温度下工作而不会出现性能退化。
这使得碳化硅MOSFET非常适合在高温环境中应用,例如航空航天、汽车电子和工业电力等领域。
其次,碳化硅MOSFET具有更低的开关损耗。
由于碳化硅材料的电子迁移率较高,电子在其中的移动速度较快。
因此,碳化硅MOSFET的开关速度可以更快,从而减少了开关过程中的损耗。
这使得碳化硅MOSFET在高频应用和需要高效能转换的功率电子系统中具有潜力。
此外,碳化硅MOSFET还具有更高的开关频率。
由于碳化硅材料的载流子迁移率较高,其响应速度更快,可以快速开启和关闭。
这使得碳化硅MOSFET在高频应用中具有较低的开关损耗和更高的效率。
然而,碳化硅MOSFET也存在一些挑战需要克服。
首先,碳化硅材料的制造成本较高,限制了其在大规模生产中的应用。
其次,碳化硅MOSFET在低温下的性能不如硅MOSFET稳定。
因此,在一些极端环境下,如极低温或极高温下,可能需要额外的设计和工艺来保证器件的正常工作。
总之,碳化硅MOSFET是一种具有许多优势的新型功率电子器件。
研究其特性对于推动其应用及解决潜在的问题非常重要。
通过深入了解其高温特性、开关损耗和开关频率等方面,可以帮助工程师和研发人员更好地应用碳化硅MOSFET,促进功率电子技术的发展。
新能源汽车用碳化硅(sic)mosfet芯片
碳化硅MOSFET芯片是新一代的能源半导体芯片,具有高温、高电压、高电流的能力,适用于新能源汽车、航空航天、高速列车、工控等领域的电力和能源控制领域。
其主要优
点是低功耗、高可靠性和长寿命。
在新能源汽车领域,碳化硅MOSFET芯片被广泛应用于电池管理系统、驱动系统、充电桩、DC-DC变换器和电动车充电器等方面。
它可以更为精确地控制电流和电压,提高能源
利用效率,增强电池的循环寿命和稳定性。
同时,碳化硅MOSFET芯片还能够使充电器更加紧凑,减少系统体积和重量,提高充电速度和充电效率。
此外,碳化硅MOSFET芯片还可以优化电机控制模块,提高动力转矩和效率。
它能够更加精准地控制电机的电流和电压,实现电机平稳运行和节能减排。
同时,碳化硅MOSFET芯片还可以在高速行驶时保持电机的高效率和低损耗,为新能源汽车提供更强的动力表现和
更高的续航里程。
随着新能源汽车市场的不断发展和推广,碳化硅MOSFET芯片的应用前景也越来越广泛。
未来,碳化硅MOSFET芯片将继续优化和升级,为新能源汽车行业的发展注入更多的动力和能量。
碳化硅MOSFET性能优势碳化硅功率器件近年来越来越广泛应用于工业领域,受到大家的喜爱,不断地推陈出新,碳化硅MOSFET性能特点介绍如下:
1、SiC器件的结构和特征
Si材料中,越是高耐压器件其单位面积的导通电阻就越大(通常以耐压值的大概2-2.5次方的比例增加),因此600V 以上的电压中主要采用IGBT(绝缘栅极双极型晶体管)。
IGBT 通过电导率调制,向漂移层内注入作为少数载流子的空穴,因此导通电阻比MOSFET还要小,但是同时由于少数载流子的积聚,在关断时会产生尾电流,从而造成极大的开关损耗。
SiC器件漂移层的阻抗比Si器件低,不需要进行电导率调制就能够以高频器件结构的MOSFET实现高耐压和低阻抗。
而且MOSFET原理上不产生尾电流,所以用SiC MOSFET替代IGBT 时,能够明显地减少开关损耗,并且实现散热部件的小型化。
另外,SiC MOSFET能够在IGBT不能工作的高频条件下驱动,从而也可以实现被动器件的小型化。
与600V~1200V的Si MOSFET相比,SiC MOSFET的优势在于芯片面积小(可以实现小型封装),而且体二极管的恢复损耗非常小。
2、SiC Mosfet的导通电阻
SiC的绝缘击穿场强是Si的10倍,所以能够以低阻抗、
薄厚度的漂移层实现高耐压。
因此,在相同的耐压值的情况下,SiC可以得到标准化导通电阻(单位面积导通电阻)更低的器件。
例如900V时,SiC‐MOSFET的芯片尺寸只需要Si ‐MOSFET的35分之1、SJ‐MOSFET的10分之1,就可以实现相同的导通电阻。
不仅能够以小封装实现低导通电阻,而且能够使门极电荷量Qg、结电容也变小。
目前SiC器件能够以很低的导通电阻轻松实现1700V以上的耐压。
因此,没有必要再采用IGBT这种双极型器件结构(导通电阻变低,则开关速度变慢),就可以实现低导通电阻、高耐压、快速开关等各优点兼备的器件。
3、Vd-Id特性
SiC‐MOSFET与IGBT不同,不存在开启电压,所以从小电流到大电流的宽电流范围内都能够实现低导通损耗。
而Si MOSFET在150℃时导通电阻上升为室温条件下的2倍以上,与Si MOSFET不同,SiC MOSFET的上升率比较低,因此易于热设计,且高温下的导通电阻也很低。
4、驱动门极电压和导通电阻
SiC‐MOSFET的漂移层阻抗比Si MOSFET低,但是另一方面,按照现在的技术水平,SiC MOSFET的MOS沟道部分的迁移率比较低,所以沟道部的阻抗比Si器件要高。
因此,越高的门极电压,可以得到越低的导通电阻(Vgs=20V以上则逐渐饱和)。
如果使用一般IGBT和Si MOSFET使用的驱动电
压Vgs=10~15V的话,不能发挥出SiC本来的低导通电阻的性能,所以为了得到充分的低导通电阻,推荐使用Vgs=18V 左右进行驱动。
Vgs=13V以下的话,有可能发生热失控,请注意不要使用。
5、Vg-Id特性
SiC MOSFET的阈值电压在数mA的情况下定义的话,与Si ‐MOSFET相当,室温下大约3V(常闭)。
但是,如果流通几个安培电流的话,需要的门极电压在室温下约为8V以上,所以可以认为针对误触发的耐性与IGBT相当。
温度越高,阈值电压越低。
6、Turn-On特性
SiC‐MOSFET的Turn‐on速度与Si IGBT和Si MOSFET 相当,大约几十ns。
但是在感性负载开关的情况下,由通往上臂二极管的回流产生的恢复电流也流过下臂,由于各二极管性能的偏差,从而产生很大的损耗。
Si FRD和Si MOSFET中的体二极管的通常恢复电流非常大,会产生很大的损耗,而且在高温下该损耗有进一步增大的趋势。
与此相反,SiC二极管不受温度影响,可以快速恢复,SiC MOSFET的体二极管虽然Vf较高但是与碳化硅二极管相同,具有相当的快速恢复性能。
通过这些快速恢复性能,可以减少Turn‐on损耗(Eon)好几成。
开关速度极大程度上决定于外部的门极电阻Rg。
为了实现快速动作,推荐使用几Ω左右的低阻值门极电阻。
另
外还需要考虑到浪涌电压,选择合适的门极电阻。
7、Turn-Off特性
SiC MOSFET的最大特点是原理上不会产生如IGBT中经常见到的尾电流。
SiC即使在1200V以上的耐压值时也可以采用快速的MOSFET结构,所以,与IGBT相比,Turn‐off损耗(Eoff)可以减少约90%,有利于电路的节能和散热设备的简化、小型化。
而且,IGBT的尾电流会随着温度的升高而增大,而SiC‐MOSFET几乎不受温度的影响。
另外,由于较大的开关损耗引起的发热会致使结点温度(Tj)超过额定值,所以IGBT通常不能在20KHz以上的高频区域内使用,但SiC MOSFET由于Eoff很小,所以可以进行50KHz以上的高频开关动作。
通过高频化,可以使滤波器等被动器件小型化。
8、内部门极电阻
芯片内部门极电阻与门极电极材料的薄层阻抗和芯片尺寸相关。
如果是相同的设计,芯片内部门极电阻与芯片尺寸呈反比例,芯片尺寸越小,门极电阻越大。
SiC MOSFET的芯片尺寸比Si器件小,虽然结电容更小,但是同时门极电阻也就更大。
9、SiC MOSFET是一种易于驱动、驱动功率较少的常闭型、电压驱动型的开关器件。
基本的驱动方法和IGBT以及Si MOSFET一样。
推荐的驱动门极电压,ON侧时为+18V左右,OFF侧时为0V。
在要求高抗干扰性和快速开关的情况下,也
可以施加‐3~‐5V左右的负电压。
当驱动大电流器件和功率模块时,推荐采用缓冲电路。
10、体二极管的Vf和逆向导通
与Si MOSFET一样,SiC MOSFET体内也存在因PN结而形成的体二极管(寄生二极管)。
但是由于SiC的带隙是Si的3倍,所以SiC MOSFET的PN二极管的开启电压大概是3V左右,比较大,而且正向压降(Vf)也比较高。
以往,当Si MOSFET 外置回流用的快速二极管时,由于体二极管和外置二极管的Vf大小相等,为了防止朝向恢复慢的体二极管侧回流,必须在MOSFET上串联低电压阻断二极管,这样的话,既增加了器件数量,也使导通损耗进一步恶化。
然而,SiC MOSFET的体二极管的Vf比回流用的快速二极管的Vf还要高出很多,所以当逆向并联外置二极管时,不需要串联低压阻断二极管。
体二极管的Vf比较高,这一问题可以通过如同整流一样向门极输入导通信号使其逆向导通来降低。
逆变驱动时,回流侧的臂上多数是在死区时间结束之后输入门极导通信号(请确认使用中的CPU的动作),体二极管的通电只在死区时间期间发生,之后基本上是经由沟道逆向流过。
因此,即使在只由MOSFET(无逆向并联的SBD)构成的桥式电路中,体二极管的Vf较高也没有问题。
11、体二极管的恢复特性
SiC MOSFET的体二极管虽然是PN二极管,但是少数载流
子寿命较短,所以基本上没有出现少数载流子的积聚效果,与SBD一样具有超快速恢复性能(几十ns)。
因此Si MOSFET 的体二极管与IGBT外置的FRD相比,其恢复损耗可以减少到IGBT外置的FRD的几分之一到几十分之一。
体二极管的恢复时间与SBD相同,是恒定的,不受正向输入电流If的影响(dI/dt恒定的情况下)。
在逆变器应用中,即使只由MOSFET 构成桥式电路,也能够实现非常小的恢复损耗,同时还预期可以减少因恢复电流而产生的噪音,达到降噪。