pcba外观检验标准与手法

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PCBA(Printed Circuit Board Assembly)外观检验标准与手法如下:

一、外观检验标准

元件焊点:焊锡球应符合最小电气间隙,焊锡球应固定在免清除的残渣内或覆盖在保形涂覆下。焊锡球的直径应≤0.13mm,否则会被拒收。

元件侧立:宽度对高度比例不超过二比一,元件可焊端与PAD表面应完全润湿,元件大于1206类时将被拒收。

元件立碑:片式元件末端翘起(立碑)将无法通过检验。

元件扁平、L形和翼形引脚偏移:最大侧面偏移不大于引脚宽度或0.5mm(0.02英寸),否则会被拒收。

圆柱体端帽可焊端侧面偏移:侧面偏移≤元件直径宽度或PAD宽度25%,否则会被拒收。

片式元件矩形或方形可焊端元件侧面偏移:侧面偏移≤元件可焊端宽度或PAD宽度50%,否则会被拒收。

J形引脚侧面偏移:侧面偏移≤引脚宽度50%,否则会被拒收。

元件反向:元件上的极性点与PCB二极管丝印方向一致,否则将被拒收。

元件锡量过多:最大高度焊点可以超出PAD或延伸至可焊端的端帽金属镀层顶部,但不可延伸至元件体,否则将被拒收。

元件空焊:元件引脚与PAD之间焊接点良湿润饱满,元件引脚无翘起,否则将被拒收。

元件冷焊:回流过程锡膏完全延伸,焊接点上的锡完全湿润且表面光泽,否则将被拒收。

元件少件或多件:BOM清单要求某个贴片位号需要贴装元件却未贴装元件或不需要贴装元件却已贴装元件,将被拒收。

元件损件:任何边缘剥落小于元件宽度或元件厚度25%,末端顶部金属镀层缺失最大为50%(各末端),否则将被拒收。

元件起泡和分层:起泡和分层的区域不超出镀通孔间或内部导线间距的25%,否则将被拒收。

二、外观检验手法

目视检验:通过肉眼或低倍放大镜对PCBA进行外观检查,主要查看上述问题点。

自动光学检测(AOI):通过高倍放大镜和摄像机对PCBA进行自动扫描,对图像进行识别和处理,发现和记录存在的问题。

电子显微镜检测(SEM):利用电子显微镜对PCBA进行高倍放大,以便发现更细微的问题。

触针检测(PWI):利用触针在PCBA表面滑动,检测电路板导通和阻抗是否正常。

X光检测(X-ray):通过X光对PCBA内部进行透视,检查内部焊接情况及是否存在空洞等问题。

以上为PCBA外观检验标准及手法。