X-TRACT软件介绍及应用实例

一、XTRACT3.0.8使用方法介绍及与SAP2000计算结果比较-------摘自ZengMing博文题目简介：钢筋混凝土柱：500mmX500mm纵向钢筋：8D20mm钢筋等级HRB400，fyk=400Mpa，fstk=540Mpa横向钢筋：D8@150mm钢筋等级HPB300，fyk=300Mpa混凝土等级C30，对应圆柱体抗压强度标准值为30x0.85=25.5Mpa（本例参数选取仅供参考）。

步骤：1，选择截面形式和配置箍筋2，选择截面尺寸，配置纵向钢筋：3,定义材料本构：非约束混凝土材料：约束混凝土纵向钢筋：4，定义纤维尺寸，生成分析截面5，定义加载工况计算弯矩曲率曲线工况计算轴力-弯矩相关曲线工况定义弯矩2-弯矩3相关曲线工况, 6，运行分析，查看分析结果点击，运行所有的分析，分析结果在界面自动出现。

弯矩-曲率曲线轴力-弯矩相关性曲线弯矩2-弯矩3相关性曲线7，提取分析结果点击，然后选择section1，然后选择M-C工况，选择Section Output。

同理可以绘制出轴力-弯矩相关曲线，在此不再赘述。

在SAP2000截面求解器中编辑此截面，并与之对比。

1，截面信息由上图可知，两种软件在弹性阶段基本重合，在塑性阶段，Xtract计算的弯矩要比SAP2000计算的要大。

二、关于其中强度值选取的讨论1，详细见混规P286页。

立方体抗压强度为C30为例，立方体抗压强度标准值为30MPa，考虑实验的因素，试件混凝土强度为30x0.88=26.4Mpa，转换为棱柱体抗压强度，再折减0.76，即26.4x0.76=20.064Mpa，即表4.1.3-1所示混凝土轴心抗压强度20.1Mpa。

2， Xtract根据ACI规范或软件设计者本意（陆新征老师建议），取圆柱体抗压强度，圆柱体抗压强度为0.79x26.4Mpa=20.856Mpa，这与棱柱体抗压强度20.1Mpa比较接近的，即轴心混凝土轴心抗压强度。

xtrace 使用方法【原创实用版】目录1.Xshell 简介2.Xshell 基本功能3.Xshell 高级技巧4.Xshell 的优点和缺点5.Xshell 的未来发展正文1.Xshell 简介Xshell 是一个功能强大的 SSH 客户端，可用于安全地连接到远程服务器。

它支持多种 SSH 协议，包括 SSHv2、SSHv1 和 SFTP。

除了基本的 SSH 功能外，Xshell 还提供了许多高级功能，如终端仿真、会话管理、脚本编写等。

2.Xshell 基本功能Xshell 的基本功能包括：- 安全的 SSH 连接：支持 SSHv2 和 SSHv1 协议，确保数据传输的安全性。

- 多种终端仿真：支持 Telnet、RLogin、Serial 和 Tera Term 等终端仿真，提供丰富的连接选项。

- 会话管理：支持同时打开多个会话，方便用户管理不同的远程连接。

- 强大的脚本支持：提供脚本编写功能，支持 VBScript 和JavaScript 等脚本语言。

3.Xshell 高级技巧Xshell 的高级技巧包括：- 批量文件传输：使用 Xshell 的批量传输功能，可以快速地将多个文件从一个服务器传输到另一个服务器。

- 远程命令行编辑：通过 Xshell 的编辑功能，可以直接在远程服务器上编辑文件，无需将文件下载到本地。

- 自动登录：设置 Xshell 的自动登录功能，可以避免每次连接时都需要输入用户名和密码。

- 脚本自动化：利用 Xshell 的脚本编写功能，可以实现自动化任务，如自动备份、自动监控等。

4.Xshell 的优点和缺点Xshell 的优点包括：- 功能强大：提供丰富的 SSH 功能和终端仿真，满足用户的各种需求。

- 操作简便：界面简洁，易于上手。

- 安全性高：支持 SSH 协议，确保数据传输的安全性。

Xshell 的缺点包括：- 收费：Xshell 是一个收费软件，需要付费购买。

IxChariot使用教程IxChariot5.0配置方法目录一. 简介 (2)1.1安装 (2)1.2基本组成 (2)二.新建项目 (3)三.协议/脚本类型 (5)3.1协议类型 (5)3.2脚本类型 (6)3.3 工作方式 (6)3.5运行/结束 (8)3.6 运行参数 (9)四.编辑脚本Edit this Script (10)4.1配置方法 (10)4.2 单工与双工 (12)4.3网络吞吐量Throughput (12)4.3.1 number_of_timing_records (13)4.3.2 transactions_per_record (14)4.3.3 file_size (15)4.3.4 send_buffer_size (15)4.3.5 send_datatype (16)4.3.6 send_data_rate (17)4.3.7initial_delay (18)4.3.8配置实例/查看ResponseTime参数 (19) 4.4网络吞吐量为固定值 (22)4.5网络吞吐量/双工Throughput (22)4.6 Internet-Httpgif (24)4.7Responsetime (25)4.7.1新建项目 (25)4.7.2编辑脚本 (26)4.8科学测量减小误差 (28)五.小结 (30)一.简介Chariot 是一个独特的测试工具，也是目前在应用层性能测试领域得到业界广泛认可的测试系统。

Chariot 能够评估网络应用的性能和容量，对网络和设备进行压力测试，得到设备及网络在不同应用、不同参数下的吞吐量、时延、丢包、反应时间等性能参数。

Chariot 通过各种机制可以仿真任意的应用。

首先，通过内置的脚本，Chariot 发送不同的数据流，可以模拟现在常见的125 种应用，而且这种数据流是双向的，真正与协议栈进行交互。

Chariot 对各种应用的支持是基于在Endpoint 之间发送的多种数据流，数据流的传送可基于多种协议，包括TCP、UDP、RTP、SPX、IPX 和SNA，目前也已经支持IPv6。

实训 X-Scan的使用实训名称：X-Scan的使用。

实训目的：掌握X-Scan的使用方法。

技术原理：x-scan采用了多线程扫描方式对指定IP（段）进行检测，并且支持插件功能。

扫描内容包括：远程服务漏洞、操作系统及版本类型、应用服务漏洞、网络设备漏洞、拒绝服务漏洞、各种弱口令漏洞及后门在内的二十多类。

对于绝大多数已知的漏洞，它还提供了相应的描述及解决方案。

实现功能：用X-Scan对目标系统进行漏洞扫描。

实训设备：PC机1台，安装Windows操作系统，X-Scan软件1套。

实训步骤：1、直接双击x-scan-gui.exe进入软件的主界面：在最上方一共有八个图标，从左至右分别是：扫描参数、开始扫描、暂停扫描、终止扫描、检测报告、使用说明、在线升级、退出。

2、因为X-Scan能扫描的东西很多，所以要设置的参数也很多。

在扫描之前。

我们必须先对“扫描参数”进行一些设置。

（1）直接点击“扫描参数”按钮或在“设置”菜单中选择“扫描参数”就会打开“扫描参数”的窗口。

它包括“检测范围”“全局设置”和“插件设置”三大模块。

这里是x-scan 的全部扫描设置。

（2）首先我们来看“检测范围”。

在“指定IP范围”栏中。

我们输入想要扫描的IP或是IP段。

也可以输入域名。

注意多个IP时，可以输入“-”或是“,”，来分隔IP范围。

比如192.168.0.1-192.168.0.255。

或类似192.168.100.1/24的掩码形式。

具体可查看“示例”。

“从文件中获取主机列表”。

选中该复选框将从文件中读取待检测主机的地址。

文件格式为纯文本。

每行可包含独立IP或域名。

也可以包含一“-”和“，”，分隔的IP范围。

然后来进行全局设置。

（3）点击左边“全局设置”—>“扫描模块”，便会显示出x-scan能检测的所有项目了。

我们根据自己的需要选择相应的扫描项目。

也可以“全选”。

至于“并发扫描”和“扫描报告”这两项。

使用默认就可以了。

xtrace使用方法XTrace是一个性能分析工具，用于跟踪和分析应用程序的执行情况。

它提供了详细的性能度量和跟踪数据，可以帮助开发人员识别应用程序中的性能瓶颈，并对其进行优化。

本文将详细介绍XTrace的使用方法，包括安装、配置和使用。

一、安装XTrace$ tar -xzf xtrace-1.0.0.tar.gz3. 运行安装脚本。

在解压后的目录中，运行安装脚本以完成XTrace的安装。

例如，在Linux系统上可以使用以下命令进行安装：$ ./install.sh二、配置XTrace2. 配置Agent参数。

Agent是XTrace的组件之一，用于收集应用程序的跟踪数据。

在配置文件中找到agent.enable参数，并将其设置为true。

例如：agent.enable=true3. 配置Sampler参数。

Sampler是XTrace的另一个组件，用于确定应用程序执行时XTrace采样的频率。

在配置文件中找到sampler.probability参数，并将其设置为一个介于0和1之间的值。

例如：sampler.probability=0.54.保存配置文件。

三、使用XTrace1. 引入XTrace库。

在您的应用程序中，使用适当的方法引入XTrace库。

具体方法取决于您使用的编程语言和框架。

例如，在Java中，可以使用以下代码引入XTrace库：2. 启动XTrace。

在您的应用程序的入口处，调用XTrace的start方法。

例如，在Java中，可以使用以下代码启动XTrace：XTrace.start(;3. 添加追踪点。

在您希望跟踪的代码段之前和之后，使用XTrace的tracePoint方法添加追踪点。

例如，在Java中，可以使用以下代码添加追踪点：XTrace.tracePoint("MyTracePointStart");//执行您的代码XTrace.tracePoint("MyTracePointEnd");4. 运行应用程序。

xtrace 使用方法（原创实用版2篇）目录（篇1）1.引言2.xtrace 的功能与特点3.xtrace 的基本使用方法4.xtrace 的高级使用方法5.xtrace 的实际应用案例6.结语正文（篇1）【引言】在软件开发过程中，调试和性能分析是必不可少的环节。

为了更好地帮助开发者进行这些问题的排查，各种性能分析工具应运而生。

其中，xtrace 是一款功能强大且易于使用的性能分析工具。

本文将为您介绍xtrace 的使用方法。

【xtrace 的功能与特点】xtrace 是一款功能强大的性能分析工具，主要特点如下：1.能够对程序进行详细的性能分析，包括 CPU 占用率、内存使用情况等；2.可以对程序进行实时监控，方便开发者发现性能瓶颈；3.支持多种操作系统，包括 Windows、Linux 和 Mac OS；4.提供可视化界面，使性能分析更加直观。

【xtrace 的基本使用方法】以下是使用 xtrace 进行性能分析的基本步骤：1.安装 xtrace：根据操作系统的不同，安装过程也有所区别。

您可以从 xtrace 官网上下载对应版本的安装包，并按照提示进行安装；2.启动 xtrace：安装完成后，双击 xtrace 图标启动软件；3.创建新项目：在 xtrace 主界面，点击“新建项目”按钮，选择项目模板并设置相关参数；4.添加监控目标：在项目中添加需要监控的程序或进程；5.启动监控：点击“开始监控”按钮，xtrace 将开始对所选程序或进程进行性能分析。

【xtrace 的高级使用方法】除了基本的使用方法，xtrace 还提供了许多高级功能，如：1.自定义监控项：用户可以根据需要，自定义监控项，以更精确地分析程序性能；2.实时数据展示：xtrace 可以实时展示监控数据，方便开发者及时发现性能问题；3.生成报告：xtrace 可以生成详细的性能分析报告，供开发者参考。

【xtrace 的实际应用案例】假设有一个开发者，他需要对公司开发的一款游戏进行性能优化。

一、XTRACT3.0.8使用方法介绍及与SAP2000计算结果比较-------摘自ZengMing博文题目简介：钢筋混凝土柱：500mmX500mm纵向钢筋：8D20mm钢筋等级HRB400，fyk=400Mpa，fstk=540Mpa横向钢筋：D8@150mm钢筋等级HPB300，fyk=300Mpa混凝土等级C30，对应圆柱体抗压强度标准值为30x0.85=25.5Mpa（本例参数选取仅供参考）。

步骤：1，选择截面形式和配置箍筋2，选择截面尺寸，配置纵向钢筋：3,定义材料本构：非约束混凝土材料：约束混凝土纵向钢筋：4，定义纤维尺寸，生成分析截面5，定义加载工况计算弯矩曲率曲线工况计算轴力-弯矩相关曲线工况定义弯矩2-弯矩3相关曲线工况, 6，运行分析，查看分析结果点击，运行所有的分析，分析结果在界面自动出现。

弯矩-曲率曲线轴力-弯矩相关性曲线弯矩2-弯矩3相关性曲线7，提取分析结果点击，然后选择section1，然后选择M-C工况，选择Section Output。

同理可以绘制出轴力-弯矩相关曲线，在此不再赘述。

在SAP2000截面求解器中编辑此截面，并与之对比。

1，截面信息由上图可知，两种软件在弹性阶段基本重合，在塑性阶段，Xtract计算的弯矩要比SAP2000计算的要大。

二、关于其中强度值选取的讨论1，详细见混规P286页。

立方体抗压强度为C30为例，立方体抗压强度标准值为30MPa，考虑实验的因素，试件混凝土强度为30x0.88=26.4Mpa，转换为棱柱体抗压强度，再折减0.76，即26.4x0.76=20.064Mpa，即表4.1.3-1所示混凝土轴心抗压强度20.1Mpa。

2， Xtract根据ACI规范或软件设计者本意（陆新征老师建议），取圆柱体抗压强度，圆柱体抗压强度为0.79x26.4Mpa=20.856Mpa，这与棱柱体抗压强度20.1Mpa比较接近的，即轴心混凝土轴心抗压强度。

同步辐射CT投影数据中的带状伪影及重建误差分析孔慧华;杨玉双【摘要】同步辐射计算机断层成像技术集合了同步辐射光源X射线和无损检测的优越特性.针对同步辐射光源在高光子能量下光源强度具有时间波动性和空间非均匀性的问题,分析了光源不稳定性对投影造成的伪影,进而研究了伪影导致的重建误差.研究结果表明:光源的时间波动性会造成投影数据中出现横向带状伪影,降低重建图像的分辨率;光源的空间非均匀性会造成投影数据中出现纵向带状伪影,不仅会降低图像的分辨率,还会使得重建图像中出现环状伪影.数值模拟和实际实验结果验证了分析的正确性.【期刊名称】《中北大学学报（自然科学版）》【年(卷),期】2016(037)001【总页数】7页(P61-66,75)【关键词】同步辐射CT;光源强度的不稳定性;带状伪影;重建误差【作者】孔慧华;杨玉双【作者单位】中北大学理学院,山西太原030051;CSIRO澳大利亚联邦科学与工业研究组织,澳大利亚Victoria 3169;山西大学理论物理研究所,山西太原030006【正文语种】中文【中图分类】TP391同步辐射计算机断层成像技术(Synchrotron Radiation Computed Tomography， SR-CT)将同步辐射光源结合到CT技术中，是一种用于检测物体内部结构的方法，具有高分辨率、无损性等独特的优越特性，该技术已经广泛应用于生物医学、材料科学等许多领域[1-5]. SR-CT与传统微焦点CT在原理上是完全一致的，基本思想都是根据投影重建图像. 它们在组成装置上的主要差别在于光源的不同，同步辐射光源利用电子在圆形轨道中的运动，发出单色光，具有高强度、高分辨、高准直、强穿透等特性，其光源可近似为平行光束，而传统CT装置中的X射线是具有一定发散角的扇形光束. 另外同步辐射光源的频谱范围也很宽泛，包含红外、可见光直到X光等各种波长的光，实验可根据需要选择合适的波长，而传统CT光源为多色光，难以实现波长的选择[6].同步辐射光源潜在的试验问题是强度的稳定性不好[7-8]，这与同步辐射光源的短暂性能有关，如储存环中电子流的变化和轨道漂移明显影响入射线的强度. 由于同步辐射光源的不稳定性使得测量数据存在误差，导致投影出现伪影，进而影响重建图像的分辨率，使得研究人员无法对研究对象的微细结构做出正确的判断. 通常来说光子能量越大，光源的不稳定性越大，投影中的伪影越明显. 本文首先分析高光子能量下同步辐射光源的不稳定性导致投影数据中出现的伪影问题，进而分析此问题引起的重建误差.设待重建物体的衰减系数为f(x,y)，强度为I0的X射线在某一方向l，行进 L距离后衰减至I，则由比尔(Beer)定理[9]可知总衰减式中： I0为入射光强度； I为透射光强度； p为射线投影. 计算机断层成像技术就是从一系列的投影p重建物体的衰减系数f(x,y).图 1 为计算机断层成像原理示意图[10], Oxy代表坐标系， Oxryr为原坐标系顺时针旋转θ角度后的坐标系. 设待重建图像f(x,y)在视角θ下与yr轴距离xr处的投影为p(θ,xr)，则根据滤波反投影的重建公式[11]有式中：|ρ|为斜滤波器. 式(2)的物理意义是：重建点(x,y)的像素值等于经过点(x,y)的所有滤波后的投影在θ=0～π范围内的累加.2.1 数据的获取由前面的讨论可知，测得入射光强度I0与透射光强度I，即可得到投影p. 下面介绍同步辐射过程中I0及I的获取过程.图 2 给出了同步辐射X射线显微CT示意图[12].如图 2 所示， X射线保持不动，样品在旋转台上做旋转运动， CCD探测器在样品后面连续采集数据. 投影成像的光源即为同步辐射光源. 在SR-CT技术中， CCD 探测器在样品后面连续采集的数据，即透射光强度I，通常称为透射图像(tomography image). 实际中很难直接获得同步辐射光源入射物体前的强度I0，一般通过背景法来获取，即在未放置物体前存储一幅同步辐射光源的背景图像，称为亮场图像(flat-field image), 以此获取入射光强度. 为了减小误差，通常是间隔一定的角度就拍摄一次亮场图像. 另外为避免系统噪声对重建图像的影响，还会在数据采集结束前，拍摄不开光源时的暗场图像(dark-field image). 有了这三种数据就可以通过计算得到各个层面上的投影(sinogram image). sinogram image=2.2 伪影分析在给出数据获取过程之后，下面分析同步辐射光源的不稳定性对投影数据的影响. 图 3 给出了同步辐射X射线显微CT坐标系统示意图. 样品在坐标原点o绕中心轴z旋转， CCD探测器所在的平面为ao′b，o′为o在探测器上的投影点. 物体的二维投影可用p(θ,a,b)表示，其中θ为旋转角， , .实验时，由于同步辐射光源在时间上的波动性及在空间上的非均匀性，会使得用于计算的入射光强度不等于实际的入射光强度，从而使得投影数据存在伪影，继而影响重建结果. 同步辐射光源的时间波动性是指同一区域上的光强在不同时刻是不一样的，其空间非均匀是指同步辐射光源在同一时刻，不同区域上的光强是不同的，体现为CCD探测器在不同位置(a,b)接收的光源强度不同.将入射光强度和透射光强度分别记作I0(t,a,b), I(t,a,b)；变量t表示不同时刻；变量a表示探测器平面的横向位置；变量b表示探测器平面的纵向位置，这里代表被检测物体的不同层面. 由于光源随位置b而引起的变化主要体现在不同层接收到的光源强度不同，从而导致物体某一层面的投影图像整体偏亮或者偏暗. 本文主要讨论时间t及位置a的变化引起的投影伪影问题，即被检测物体某一层面的投影中的伪影，设b=b0.2.2.1 时间不稳定性引起的伪影首先忽略光源强度的空间非均匀性，讨论光源的时间波动性，即假设光源强度在同一时间不随a的变化而变化. 设未放置物体时的光强为I0(t0,a,b0)，对于透射光强度，由于不同角度下的测量数据需要按顺序先后依次测量，设测量θ1,θ2,…,θn角度下透射光强度的时间分别为t1,t2,…,tn，将其分别记为I(t1,a,b0),I(t2,a,b0),…,I(tn,a,b0)，于是相应的不同角度下的投影可以表示为而实际的投影应该为当I0(t0,a,b0)≠I0(ti,a,b0)时，势必会给投影带来误差在实际中，由于光源的时间非均匀性，I0(t0,a,b0)≠I0(ti,a,b0)，为了尽量减小误差，在采集图像时，每隔一定数量的透射图像，就采集两幅亮场图像，用此作为这个时间段内的背景光源强度. 当光源强度变化较小时，该方法可有效减小投影误差，当光源强度变化较大时，在假设其只随时间变化的前提下，相邻角度的投影间就会存在类似的误差，当时，投影数据中就形成了横向带状伪影，带状的宽度与光源的变化速度有关，光源随时间变化快，伪影的宽度小，反之大.2.2.2 空间不稳定性引起的伪影下面忽略光源强度的时间波动性，考虑空间非均匀性，讨论由位置a的变化引起的伪影. 设ti时刻相邻位置a1和a2的光源强度分别为I0(ti,a1,b0)和I0(ti,a2,b0). 为了便于分析，假设物体的衰减系数为常数μ(即f(x,y)≡μ)，则在a1和a2位置的投影分别为从而a1,a2位置处的投影差异为在f(x,y)≡μ的假设下，Δp1(θi,a1,b0)是由射线穿过物体的长度所造成的，是正常差异. 在理想状态下，同一时刻的光源是均匀稳定的，即I0(ti,a1,b0)=I0(ti,a2,b0)，从而Δp2(θi,a1,b0)=0.当辐射光源不满足空间均匀性，即I0(ti,a1,b0)≠I0(ti,a2,b0)时，Δp2(θi,a1,b0)≠0，该项误差是由光源强度的空间不稳定性造成的，当θ取遍所有角度θ1,θ2,…,θn时，在投影的纵向a1位置处就形成了带状伪影，带宽与投影的空间变化程度有关. 当然随着同步辐射技术的提高，光源的空间不稳定性越来越小，但在实验中CCD探测器某个部位的不灵敏性或空气中灰尘依附在探测器上造成的影响等同于光源的空间不稳定性. 从以上分析可以看出，同步辐射光源的时间波动性和空间非均匀性会分别造成投影数据中的横向带状伪影和纵向带状伪影. 下面分析这两种伪影导致的重建误差. 这里仍然只考虑某一层面投影的变化，即b=b0. 在第2节的假设下，滤波反投影的重建公式(2)还可以表示为其离散化形式为当投影中出现横向带状伪影时，于是有由滤波反投影重建公式可知，对每一个θi，把[Δp(θi,a,b0)*h(a)]反投影于满足a=xcosθi+ysinθi的直线上的各点，如图 1 中虚线所示，滤波投影的值沿着整个直线路径被“涂抹”.当在θi角度出现误差时，误差被沿着a=xcosθi+ysinθi的直线“反抹”，从而使经过这些直线的点的值出现增加或减小，即图像在某处的值增加或减小，从而降低图像的分辨率.当投影中出现纵向带状伪影Δp2(θi,a1,b0), θi∈{θ1,θ2,…,θn}时，由滤波反投影公式可知，对每一个θi，把Δp2(θi,a1,b0)*h(a1)反投影于满足a1=xcosθi+ysinθi的直线上的各点. 由此可知，0°～180°内，误差被“涂抹”于所有与原点距离为a1的直线上的点，从而会形成一个以原点为圆心， a1为半径的半圆环，圆环的宽度反映了纵向伪影的宽度.4.1 模拟实验基于同步辐射光源的不稳定性引起的重建误差的理论分析，对上述两种误差形式分别进行数值模拟运算. 测试模型为Shepp-Logan模型，大小为256×256像素，投影采样间隔为1°，采样区域为0°～180°，对投影数据分别加入横向带状伪影和纵向带状伪影，横向带宽设为20个像素，误差分别为-5, -3, -1, 1, 3, 5, 7, 9, 11, 13, 15, 13, 9, 7, 5, 3, 1, -1；纵向伪影位置为91～93像素，带宽为3像素，误差为10. 图 4 给出了加入伪影的投影数据. 图 5 是滤波反投影算法的重建结果图. 结合重建误差分析可知，纵向带状伪影会将误差反抹于与原点距离为35～37像素的直线上，误差较大的值出现在以原点为圆心，半径为35～37像素长的半圆环上，圆环的宽度为3像素，反映了纵向伪影的宽度，如图5(c)所示. 相比于纵向带状伪影，横向带状伪影的误差主要是降低了图像的分辨率，如图5(b)所示.4.2 实际实验为进一步验证分析的正确性，下面将通过实际采集的实验数据说明上述两种情况. 实验在上海同步辐射光源的X射线成像及生物医学光束线(BL13W)开展. 该光束线采用扭摆器(Wiggler)光源，通过双晶单色器将白光转化为单色光，光子能量可调范围为8～72 keV. 实验所用的岩石样品高20 mm，直径3 mm，取自中石油鄂尔多斯姚店油田的一块高200 mm，直径100 mm 的致密砂岩样本. 实验中采用高分辨率X射线CCD，像素尺寸为3.7 μm，转台精度为0.000 1°.为保证X射线对样品具有较好的穿透性，根据实验经验，选取光子能量分别为25 keV, 35 keV, 45 keV，实验中选取样品到探测器的距离为4 cm， 0～180°内的角度采样数为720. 不同能量下的曝光时间分别为1 s， 1.5 s和8 s. 采集图像(亮背景、暗背景和透射图像的尺寸为1 377×721像素.所有采集到的数据通过X-TRACT 软件[12]前处理(暗背景和亮背景的校正、图像归一化、相位恢复和伪影校正)后，得到每层图像的投影数据，图 6 给出了第103层(第一行)和第360层(第二行)的投影数据.由图6可以清楚地看到，同步辐射光源的时间不一致性所导致的投影数据中的横向带状伪影，电压越大，伪影越细密明显. 同时还可以清楚地看到，在第103层的投影数据中存在纵向带状伪影. 另外，第103层切片的投影的横向带状伪影明显比第360层的伪影严重，这说明同步辐射光源强度随空间位置的变化而变化，且中心位置的变化较边缘位置的变化小.利用X-TRACT 软件对投影数据进行重建，图 7 给出了与图6所对应的投影的重建结果图，第一行是不同电压下第103层的重建结果，第2行是第360层的重建结果，由此可以看出， 25 keV时，投影中的纵向带状误差造成了明显的环状伪迹，而在35 keV和45 keV时，由于横纵向带状伪迹同时存在，降低了图像的分辨率，使得环状伪迹有些模糊.本文主要分析了同步辐射光源的时间和空间不稳定性引起的投影数据和重建结果的误差，并通过数值模拟给出了这两种情形引起的误差，最后通过实际的实验数据验证了分析的正确性. 目前作者正在研究如何降低重建结果误差.【相关文献】[1]Lareida A, Beckmann F, Schrott-Fischer A, et al. High-resolution X-ray tomography of the human inner ear: synchrotron radiation-based study of nerve fibre bundles, membranes and ganglion cells[J]. Journal of Microsco py, 2009, 234 (1): 95-102.[2]Reiche I, Müller K, Staude A, et al. Synchrotron radiation and laboratory micro X-ray computed tomography-useful tools for the material identification of prehistoric objects made of ivory, bone or an tler[J]. Journal of Analytical Atomic Spectrometry, 2011, 26: 1802-1812.[3]Makoto A, Kentaro U, Masato H, et al. In vitro assessments of white-spot lesions treated with NaF plus tricalcium phosphate(TCP) toothpastes using synchrotr on radiation micro computed tomography (SR micro-CT)[J]. Journal of Dentistry and Oral Hygiene, 2014, 6 (1): 10-21.[4]Cao Yong, Hu Jianzhong, Wu Tianding, et al. 3D angioarchitecture of spinal cord in a ra t model detected by synchrotron radiation micro-computed tomography[J]. Journal of Orthopaedic Translation, 2014, 2(4): 241-242. 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