单晶工艺[1].doc
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单晶硅的制造工艺流程一、原料准备。
1.1 硅石选取。
咱单晶硅制造啊,首先得选好原料。
硅石那可是基础中的基础,就像盖房子的砖头一样重要。
咱得找那些纯度比较高的硅石,不能随便拉来一块就用。
这硅石就像是参加选美比赛的选手,得经过咱严格的筛选才行。
那些杂质多的硅石,就像混在好人堆里的坏蛋,得把它们剔除掉。
1.2 提纯到多晶硅。
有了好的硅石之后呢,就得把它变成多晶硅。
这一步就像是把铁矿石炼成铁一样,是个很关键的过程。
要通过各种化学方法,把硅石中的硅元素提炼出来,让它变得更纯。
这个过程可不容易,就像爬山一样,得一步一个脚印,每个环节都不能出错。
要是出了岔子,那后面的单晶硅质量可就没保障了。
二、单晶硅生长。
2.1 直拉法。
直拉法是制造单晶硅很常用的一种方法。
咱就想象一下,有一个熔炉,里面装着多晶硅原料,就像一口装满宝贝的大锅。
然后把籽晶放进去,这个籽晶就像是一颗种子,单晶硅就从这颗种子开始生长。
慢慢地把籽晶往上拉,就像钓鱼一样,多晶硅就会在籽晶的基础上不断生长,最后形成一根长长的单晶硅棒。
这过程中啊,温度、提拉速度等因素都得控制得恰到好处,就像厨师做菜时掌握火候一样,差一点都不行。
2.2 区熔法。
还有区熔法呢。
这个方法有点像接力比赛。
通过加热一小段多晶硅,让硅熔化后再结晶,然后一点一点地往前推进这个熔化结晶的过程,就像接力棒一棒一棒地传下去,最后形成单晶硅。
这个方法能制造出更高纯度的单晶硅,但是操作起来也更复杂,就像走钢丝一样,得小心翼翼的。
三、加工处理。
3.1 切割。
单晶硅棒有了之后,就得进行切割。
这就好比把一根大木头锯成小木板一样。
不过这切割可不像锯木头那么简单,要用专门的切割设备,像金刚线切割之类的。
切割的厚度、精度都有很高的要求,要是切得不好,那可就浪费了之前那么多的心血,就像把一块好玉给雕坏了一样,让人痛心疾首。
3.2 打磨抛光。
切割完了还不行,还得打磨抛光。
这就像是给单晶硅做美容一样,让它的表面变得光滑平整。
单晶硅生产工艺[资料]单晶硅生产工艺单晶硅生产工艺一、单晶硅的制法通常是先制得多晶硅或无定形硅,然后用直拉法或悬浮区熔法从熔体中生长出棒状单晶硅。
熔融的单质硅在凝固时硅原子以金刚石晶格排列成许多晶核,如果这些晶核长成晶面取向相同的晶粒,则这些晶粒平行结合起来便结晶成单晶硅。
单晶硅棒是生产单晶硅片的原材料,随着国内和国际市场对单晶硅片需求量的快速增加,单晶硅棒的市场需求也呈快速增长的趋势。
单晶硅圆片按其直径分为 6 英寸、8 英寸、12 英寸(300 毫米)及 18 英寸(450 毫米)等。
直径越大的圆片,所能刻制的集成电路越多,芯片的成本也就越低。
但大尺寸晶片对材料和技术的要求也越高。
单晶硅按晶体生长方法的不同,分为直拉法(CZ)、区熔法(FZ)和外延法。
直拉法、区熔法生长单晶硅棒材,外延法生长单晶硅薄膜。
直拉法生长的单晶硅主要用于半导体集成电路、二极管、外延片衬底、太阳能电池。
目前晶体直径可控制在Φ3~8 英寸。
区熔法单晶主要用于高压大功率可控整流器件领域,广泛用于大功率输变电、电力机车、整流、变频、机电一体化、节能灯、电视机等系列产品。
目前晶体直径可控制在Φ3~6 英寸。
外延片主要用于集成电路领域。
由于成本和性能的原因,直拉法(CZ)单晶硅材料应用最广。
在 IC 工业中所用的材料主要是 CZ 抛光片和外延片。
存储器电路通常使用 CZ 抛光片,因成本较低。
逻辑电路一般使用价格较高的外延片,因其在 IC 制造中有更好的适用性并具有消除 Latch,up 的能力。
单晶硅也称硅单晶,是电子信息材料中最基础性材料,属半导体材料类。
单晶硅已渗透到国民经济和国防科技中各个领域,当今全球超过 2000 亿美元的电子通信半导体市场中95%以上的半导体器件及 99%以上的集成电路用硅。
二、硅片直径越大,技术要求越高,越有市场前景,价值也就越高。
日本、美国和德国是主要的硅材料生产国。
中国硅材料工业与日本同时起步,但总体而言,生产技术水平仍然相对较低,而且大部分为 2.5、3、4、5 英寸硅锭和小直径硅片。
单晶硅的工艺流程
单晶硅是一种非常重要的半导体材料,广泛用于制造太阳能电池、集成电路等高科技产品中。
下面将介绍单晶硅的工艺流程。
单晶硅的制备主要分为以下几个步骤:
1. 矽源材料准备:以石英为主要原料,经过破碎、洗涤等工艺处理,得到高纯度的二氧化硅(SiO2)粉末。
2. 熔融石英:将高纯度二氧化硅粉末与硼酸、陶瓷颗粒等添加剂混合,装入石英坩埚中,通过高温熔化形成熔池。
3. 制取单晶种子:在石英坩埚上方的熔池表面,引入单晶硅种子棒。
种子棒通过旋转和升降动作,让熔池中的熔液附着在棒上,形成单晶硅颗粒。
4. 拉扩晶体:通过旋转、升降等运动,将单晶硅颗粒逐渐拉伸并扩展成一根完整的晶体。
在这个过程中,需要控制温度、引入定向凝固等技术,以保证晶体的纯度和结构完整性。
5. 切割晶体:将拉扩出的单晶硅晶体切割成片,通常使用金刚石锯片进行切割。
切割后的晶片称为硅片。
6. 表面处理:将硅片进行表面处理,通常使用化学气相沉积(CVD)等技术,对表面进行清洁、极细加工等处理,以便
后续工序的制造需要。
7. 清洗和检测:对硅片进行严格的清洗和检测,确保硅片的质量和性能指标符合要求。
涉及的检测项目包括晶格缺陷、杂质浓度、电阻率、表面平整度等。
8. 制作器件:根据具体需求,将硅片制作成太阳能电池、集成电路等不同的器件。
这些器件的制作过程包括光刻法、离子注入、扩散等工艺步骤,具体流程根据不同的器件类型而有所不同。
以上就是单晶硅的主要工艺流程。
通过以上工艺步骤的连续进行,我们可以得到高质量的单晶硅材料,并在此基础上制造出各种半导体器件,推动信息技术、能源等领域的发展进步。
一、晶体与非晶体●晶体具有一定熔点)(晶体) (非晶体)由图晶体在bc段熔化时温度不变,此时的温度就是晶体的熔点。
●晶体各向异性晶体在不同方向上导热性质、力学性质、电学性质等各物理、化学性质不同,是因为晶体各晶面格点密度的不同。
二、晶面和晶向●晶面指数—选取x,y,z平行于晶胞的三条棱标出一个晶面,标出晶面在x,y,z轴上的截距,然后取截距的倒数,若倒数为分数,则乘上它们的最小公倍数,便有h,k,l的形式,而(h,k,l)即为晶面指数。
z z zx(111)面(110)面(100)面●晶向—通过坐标原点作一直线平行于晶面法线方向,根据晶胞棱长决定此直线点坐标,把坐标化成整数,用[ ]括起来表示。
注:对于硅单晶生长,{100}晶面族的法向生长速度最快,{111}族最慢。
(拉速)三、晶体的熔化和凝固●晶体熔化和凝固与时间关系对应曲线上出现“温度平台”是因为熔化过程中,晶体由固态向液态变化一过程需吸收一定的热量(熔化热),使晶体内原子有足够的能量冲破晶格束缚,破坏固态结构。
反之,凝固时过程会释放一定的结晶潜热。
四、结晶过程的宏观特性●曲线表明凝固时必须有一定的过冷度ΔT结晶才能进行。
即结晶只能在过冷熔体中进行。
●所谓“过冷度”,指实际结晶温度与其熔点的差值,ΔT=液体实际凝固温度—熔点温度。
●结晶潜热的释放和逸散是影响结晶过程的重要因素:a.结晶潜热的释放和逸散相等,结晶温度保持恒定,液体完全结晶后温度才下降。
b.表示由于熔体冷却略快或其他原因结晶在较大的过冷度下进行,结晶较快,释放的结晶潜热大于热的逸散,温度逐渐回升,一直到二者相等,此后,结晶在恒温下进行,一直到结晶过程结束温度才开始下降。
c.结晶在很大的过冷度下进行,结晶潜热的释放始终小于热的逸散,结晶在连续降温过程中进行。
五、晶核的自发形成●判断结晶能否自发形成就看固态自由能Z固和液态自由能Z液的变化关系。
哪一物态自由能小,过程将趋于该物态。
自由能越小,相应物态越稳定。
单晶硅生产工艺流程
单晶硅生产工艺流程如下:
1. 原料准备:将硅矿石经过破碎、筛分、洗涤等处理,得到纯度高的硅矿石粉末。
2. 炼制硅棒:将硅矿石粉末与氢气在高温下反应,得到气相硅,再通过化学气相沉积法(CVD)或物理气相沉积法(PVD)将气相硅沉积在硅棒上,形成单晶硅棒。
3. 切割硅片:将单晶硅棒用钻头切割成薄片,厚度通常为200-300微米。
4. 清洗硅片:将硅片放入酸碱溶液中清洗,去除表面杂质。
5. 氧化硅层形成:将硅片放入高温氧气中,形成氧化硅层,用于保护硅片表面。
6. 晶圆制备:将硅片切割成圆形,形成晶圆。
7. 掩膜制备:将晶圆涂上光刻胶,然后用光刻机进行曝光和显影,形成掩膜。
8. 沉积金属层:将晶圆放入金属蒸发器中,沉积金属层,形成电路。
9. 蚀刻:将晶圆放入蚀刻液中,去除未被金属层覆盖的氧化硅层和硅片,形成电路。
10. 清洗:将晶圆放入酸碱溶液中清洗,去除蚀刻液和其他杂质。
11. 封装:将晶圆封装在芯片封装中,形成芯片。
单晶车间生产工艺单晶车间生产工艺单晶车间是一个重要的制造环节,它负责生产单晶材料,用于制造电子器件和光学器件。
单晶材料具有优异的电学和光学性能,因此在电子、光电、光学等领域得到了广泛应用。
单晶的生产工艺可以简单分为三个主要步骤,包括单晶生长、切割和抛光。
首先是单晶生长。
单晶生长的目标是在一个恒温的环境中,使溶液中的晶体逐渐增长,并最终形成一个完整的单晶。
单晶生长一般分为两种方法,包括溶液法和气相法。
溶液法是将所需的化合物溶解在溶剂中,然后通过恒温的反应槽将溶液中的物质逐渐结晶。
在生长过程中,需要控制恒温槽的温度和溶液的浓度,以获取所需的单晶。
气相法则是通过将气体的化合物沉积在基底上,逐渐生长出单晶。
在生长过程中,需要控制气体的流速和浓度,以及基底的温度,以获得所需的单晶。
单晶生长完成后,就需要将单晶材料切割成适当的尺寸。
切割的目的是使单晶材料适应不同的应用场景,并提高材料的利用率。
切割过程一般使用金刚石锯片进行,需要控制切割速度和角度,以避免材料的碎裂和损坏。
最后一步是抛光。
抛光的目的是去除切割过程中产生的瑕疵和表面不平整度,使单晶材料表面光滑、平整。
抛光是一个精细的工艺步骤,需要使用特殊的研磨液和抛光机器,以达到所需的表面质量。
在整个生产工艺中,对于单晶车间来说,关键的是温度和浓度的控制。
温度的控制对于单晶生长来说至关重要,过高或过低的温度都会导致生长的单晶材料质量下降。
浓度的控制对于溶液法来说也非常重要,溶液中物质的浓度会直接影响到生长出的单晶材料的性能。
除了温度和浓度的控制外,单晶车间还需要考虑工作环境的干净程度。
空气中的微粒和杂质都会影响到单晶材料的质量,因此需要保持车间空气的净化,并经常进行清洁。
总结起来,单晶车间的生产工艺包括单晶生长、切割和抛光三个主要步骤。
在整个生产过程中,温度和浓度的控制是关键,同时还需要保持良好的工作环境和设备的维护。
通过这些工艺步骤的合理控制和优化,可以生产出高质量的单晶材料,满足不同领域的需求。
单晶硅生产工艺单晶硅生产工艺是一种重要的制备方法,用于制造高纯度的单晶硅材料。
它在电子工业、光伏产业等领域有着广泛的应用。
本文将介绍单晶硅的生产工艺及其主要步骤。
单晶硅是由纯净的硅材料制成的,其主要原料是石英砂。
首先,经过物理和化学的处理,石英砂中的杂质被去除,以保证最终产品的高纯度。
这一步骤常常被称为净化或精炼过程。
接下来,经过矿山开采和选矿,石英砂被破碎成小颗粒,并通过浮选等方法将杂质与硅分离。
随后,石英粉末被送入高温石英炉。
在炉内,石英粉末通过升温和冷却的过程,使纯净的硅材料逐渐结晶成块状。
在晶体生长的过程中,需要维持稳定的温度和压力条件。
通常使用感应炉等加热设备来提供热能。
在此过程中,石英容器或若干种不同的晶体生长设备被使用。
静态法是目前最常用的单晶生长方法。
在这种方法中,石英产生的热能被保持在恒定的温度下,使石英坯体逐渐结晶成大片的单晶硅材料。
这种方法具有高度的可控性和较低的成本。
在单晶硅生长结束后,晶坯需要经过多个步骤的加工。
首先,晶体被切割成薄片,这些薄片被称为晶片。
晶片表面经过粗糙化处理,以提高其表面的光电转换效率。
接着,晶片需要进行蚀刻,以去除表面的污染物和缺陷。
蚀刻可以采用湿法或干法,具体的选择取决于生产过程的要求。
最后,晶片被切割成具有特定尺寸的硅片。
这些硅片可以使用在半导体行业中,如电子器件和集成电路的制造。
总之,单晶硅生产工艺是一系列精密的步骤,用于制备高纯度的单晶硅材料。
这些步骤包括石英砂的净化、晶体生长、晶片加工和硅片切割等。
通过这些步骤,可以得到适用于电子工业和光伏产业的高质量单晶硅材料。
单晶硅生产工艺流程单晶硅是一种比较活泼的非金属元素,是晶体材料的重要组成部分,处于新材料发展的前沿。
其主要用途是用作半导体材料和利用太阳能光伏发电、供热等。
由于太阳能具有清洁、环保、方便等诸多优势,近三十年来,太阳能利用技术在研究开发、商业化生产、市场开拓方面都获得了长足发展,成为世界快速、稳定发展的新兴产业之一。
单晶硅生产工艺流程:1、石头加工开始是石头,(石头都含硅),把石头加热,变成液态,在加热变成气态,把气体通过一个密封的大箱子,箱子里有N多的子晶加热,两头用石墨夹住的,气体通过这个箱子,子晶会把气体中的一种吸符到子晶上,子晶慢慢就变粗了,因为是气体变固体,所以很慢,一个月左右,箱子里有就很多长长的原生多晶硅。
2、酸洗当然,还有很多的废气啊什么的,(四氯化硅)就是生产过程中产生的吧,好像现在还不能很好处理这东西,废话不多说,原生多晶有了,就开始酸洗,氢氟酸啊硝酸啊,乙酸啊什么的把原生多晶外面的东西洗干净了,就过烘房烘干,无尘检查打包。
3、拉晶送到拉晶,拉晶就是用拉晶炉把多晶硅加热融化,在用子晶向上拉引,工人先把多晶硅放进石英锅里,(厂里为了减少成本,也会用一些洗好的电池片,碎硅片一起融)关上炉子加热,石英锅的融点是1700度,硅的融点才1410度左右,融化了硅以后石英锅慢慢转起来,子晶从上面下降,点到锅的中心液面点,也慢慢反方向转,锅下面同时在电加热,液面上加冷,子晶点到液面上就会出现一个光点,慢慢旋转,向上拉引,放肩,转肩,正常拉棒,收尾,一天半左右,一个单晶棒就出来了。
4、切方单晶棒有了就切方,单晶棒一般是做6英寸的,P型,电阻率0。
5-6欧姆(一英寸等于2。
4厘米左右)切掉棒子四边,做成有倒角的正方形,在切片,0。
22毫米一片吧。
单晶硅生产工艺及单晶硅片生产工艺单晶硅原子以三维空间模式周期形成的长程有序的晶体。
多晶硅是很多具有不同晶向的小单晶体单独形成的,不能用来做半导体电路。
多晶硅必须融化成单晶体,才能加工成半导体应用中使用的晶圆片。
加工工艺:加料—→熔化—→缩颈生长—→放肩生长—→等径生长—→尾部生长(1)加料:将多晶硅原料及杂质放入石英坩埚内,杂质的种类依电阻的N或P型而定。
杂质种类有硼,磷,锑,砷。
(2)熔化:加完多晶硅原料于石英埚内后,长晶炉必须关闭并抽成真空后充入高纯氩气使之维持一定压力范围内,然后打开石墨加热器电源,加热至熔化温度(1420℃)以上,将多晶硅原料熔化。
(3)缩颈生长:当硅熔体的温度稳定之后,将籽晶慢慢浸入硅熔体中。
由于籽晶与硅熔体场接触时的热应力,会使籽晶产生位错,这些位错必须利用缩颈生长使之消失掉。
缩颈生长是将籽晶快速向上提升,使长出的籽晶的直径缩小到一定大小(4-6mm)由于位错线与生长轴成一个交角,只要缩颈够长,位错便能长出晶体表面,产生零位错的晶体。
(4)放肩生长:长完细颈之后,须降低温度与拉速,使得晶体的直径渐渐增大到所需的大小。
(5)等径生长:长完细颈和肩部之后,借着拉速与温度的不断调整,可使晶棒直径维持在正负2mm之间,这段直径固定的部分即称为等径部分。
单晶硅片取自于等径部分。
(6)尾部生长:在长完等径部分之后,如果立刻将晶棒与液面分开,那么热应力将使得晶棒出现位错与滑移线。
于是为了避免此问题的发生,必须将晶棒的直径慢慢缩小,直到成一尖点而与液面分开。
这一过程称之为尾部生长。
长完的晶棒被升至上炉室冷却一段时间后取出,即完成一次生长周期。
单晶硅棒加工成单晶硅抛光硅片加工流程:单晶生长—→切断—→外径滚磨—→平边或V型槽处理—→切片倒角—→研磨腐蚀—→抛光—→清洗—→包装切断:目的是切除单晶硅棒的头部、尾部及超出客户规格的部分,将单晶硅棒分段成切片设备可以处理的长度,切取试片测量单晶硅棒的电阻率含氧量。
基础知识硅材料1、硅的性质与应用硅(台湾、香港称矽)是一种化学元素,它的化学符号是Si,旧称矽。
原子序数14,相对原子质量28.09,有无定形和晶体两种同素异形体,同素异形体有无定形硅和结晶硅。
属于元素周期表上IVA族的类金属元素。
晶体硅为钢灰色,无定形硅为黑色,密度2.4g/cm3,熔点1420℃,沸点2355℃,晶体硅属于原子晶体,硬而有光泽,有半导体性质。
硅的化学性质比较活泼,在高温下能与氧气等多种元素化合,不溶于水、硝酸和盐酸,溶于氢氟酸和碱液,用于造制合金如硅铁、硅钢等,单晶硅是一种重要的半导体材料,用于制造大功率晶体管、整流器、太阳能电池等。
硅在自然界分布极广,地壳中约含27.6%,主要以二氧化硅和硅酸盐的形式存在。
硅在地壳中的含量是除氧外最多的元素。
如果说碳是组成一切有机生命的基础,那么硅对于地壳来说,占有同样的位置,因为地壳的主要部分都是由含硅的岩石层构成的。
这些岩石几乎全部是由硅石和各种硅酸盐组成。
长石、云母、黏土、橄榄石、角闪石等等都是硅酸盐类;水晶、玛瑙、碧石、蛋白石、石英、砂子以及燧石等等都是硅石。
但是,硅与氧、碳不同,在自然界中没有单质状态存在。
这就注定它的发现比碳和氧晚。
拉瓦锡曾把硅土当成不可分割的物质——元素。
1823年,贝齐里乌斯将氟硅酸钾(K2SiF6)与过量金属钾共热制得无定形硅。
尽管之前也有不少科学家也制得过无定形硅,但直到贝齐里乌斯将制得的硅在氧气中燃烧,生成二氧化硅——硅土,硅才被确定为一种元素。
硅被命名为silicium,元素符号是Si。
硅重要的半导体材料,化学元素符号Si,电子工业上使用的硅应具有高纯度和优良的电学和机械等性能。
硅是产量最大、应用最广的半导体材料,它的产量和用量标志着一个国家的电子工业水平。
在研究和生产中,硅材料与硅器件相互促进。
在第二次世界大战中,开始用硅制作雷达的高频晶体检波器。
所用的硅纯度很低又非单晶体。
1950年制出第一只硅晶体管,提高了人们制备优质硅单晶的兴趣。
1952年用直拉法(CZ)培育硅单晶成功。
1953年又研究出无坩埚区域熔化法(FZ),既可进行物理提纯又能拉制单晶。
1955年开始采用锌还原四氯化硅法生产纯硅,但不能满足制造晶体管的要求。
1956年研究成功氢还原三氯氢硅法。
对硅中微量杂质又经过一段时间的探索后,氢还原三氯氢硅法成为一种主要的方法。
到1960年,用这种方法进行工业生产已具规模。
硅整流器与硅闸流管的问世促使硅材料的生产一跃而居半导体材料的首位。
60年代硅外延生长单晶技术和硅平面工艺的出现,不但使硅晶体管制造技术趋于成熟,而且促使集成电路迅速发展。
80年代初全世界多晶硅产量已达2500吨。
硅还是有前途的太阳电池材料之一。
用多晶硅制造太阳电池的技术已经成熟;无定形非晶硅膜的研究进展迅速;非晶硅太阳电池开始进入市场。
硅是元素半导体。
电活性杂质磷和硼在合格半导体和多晶硅中应分别低于0.4ppb和0.1ppb。
拉制单晶时要掺入一定量的电活性杂质,以获得所要求的导电类型和电阻率。
重金属铜、金、铁等和非金属碳都是极有害的杂质,它们的存在会使PN结性能变坏。
硅中碳含量较高,低于1ppm者可认为是低碳单晶。
碳含量超过3ppm时其有害作用已较显著。
硅中氧含量甚高。
氧的存在有益也有害。
直拉硅单晶氧含量在5~40ppm范围内;区熔硅单晶氧含量可低于1ppm。
硅具有优良的半导体电学性质。
禁带宽度适中,为1.21电子伏。
载流子迁移率较高,电子迁移率为1350cm2/(VS),空穴迁移率为480 cm2/(VS)。
本征电阻率在室温(300K)下高达2.3×10Ω m,掺杂后电阻率可控制在10-5~107Ω m的宽广范围内,能满足制造各种器件的需要。
硅单晶的非平衡少数载流子寿命较长,在几十微秒至1毫秒之间。
热导率较大。
化学性质稳定,又易于形成稳定的热氧化膜。
在平面型硅器件制造中可以用氧化膜实现PN结表面钝化和保护,还可以形成金属-氧化物-半导体结构,制造MOS场效应晶体管和集成电路。
上述性质使PN结具有良好特性,使硅器件具有耐高压、反向漏电流小、效率高、使用寿命长、可靠性好、热传导好,并能在200℃高温下运行等优点。
硅单晶的主要技术参数硅单晶主要技术参数有导电类型、电阻率与均匀度、非平衡少数载流子寿命、晶向与晶向偏离度、晶体缺陷等。
导电类型:导电类型由掺入的施主或受主杂质决定。
P型单晶多掺硼,N型单晶多掺磷,外延片衬底用N型单晶掺锑或砷。
电阻率与均匀度拉制单晶时掺入一定杂质以控制单晶的电阻率。
由于杂质分布不匀,电阻率也不均匀。
电阻率均匀性包括纵向电阻率均匀度、断面电阻率均匀度和微区电阻率均匀度。
它直接影响器件参数的一致性和成品率。
非平衡少数载流子寿命光照或电注入产生的附加电子和空穴瞬即复合而消失,它们平均存在的时间称为非平衡少数载流子的寿命。
非平衡载流子寿命同器件放大倍数、反向电流和开关特性等均有关系。
寿命值又间接地反映硅单晶的纯度,存在重金属杂质会使寿命值大大降低。
晶向与晶向偏离度常用的单晶晶向多为 (111)和(100)。
晶体的轴与晶体方向不吻合时,其偏离的角度称为晶向偏离度。
晶体缺陷生产电子器件用的硅单晶除对位错密度有一定限制外,不允许有小角度晶界、位错排、星形结构等缺陷存在。
位错密度低于 200/ cm^-2者称为无位错单晶,无位错硅单晶占产量的大多数。
在无位错硅单晶中还存在杂质原子、空位团、自间隙原子团、氧碳或其他杂质的沉淀物等微缺陷。
微缺陷集合成圈状或螺旋状者称为旋涡缺陷。
热加工过程中,硅单晶微缺陷间的相互作用及变化直接影响集成电路的成败。
类型和应用硅单晶按拉制方法不同分为无坩埚区熔(FZ)单晶与有坩埚直拉(CZ)单晶。
区熔单晶不受坩埚污染,纯度较高,适于生产电阻率高于20Ω cm的N型硅单晶(包括中子嬗变掺杂单晶)和高阻 P型硅单晶。
由于含氧量低,区熔单晶机械强度较差。
大量区熔单晶用于制造高压整流器、晶体闸流管、高压晶体管等器件。
直接法易于获得大直径单晶,但纯度低于区熔单晶,适于生产20Ω cm以下的硅单晶。
由于含氧量高,直拉单晶机械强度较好。
大量直拉单晶用于制造MOS集成电路、大功率晶体管等器件。
外延片衬底单晶也用直拉法生产。
硅单晶商品多制成抛光片,但对FZ单晶片与CZ单晶片须加以区别。
外延片是在硅单晶片衬底(或尖晶石、蓝宝石等绝缘衬底)上外延生长硅单晶薄层而制成,大量用于制造双极型集成电路、高频晶体管、小功率晶体管等器件。
2、太阳能级硅材料太阳能级硅材料是纯度为6个9以上的高纯硅材料,即纯度为99.9999%以上的硅材料。
A、太阳能级多晶硅料总体要求:硅含量99.9999%;含硼量:<0.20ppba;含磷量:<0.90ppba;含碳量:<1.00ppba;金属含量:<30.00ppba;金属表面含量:<30.00ppba;尺寸大小要求:25mm---250mm;多晶种类:P型电阻率:>0.50Ohmcm。
B、破碎半导体级硅片技术要求:半导体级碎硅片、片子形状为圆弧形碎片、硅片厚度>=400um、型号为P型、电阻率:>0.50OhmcmC、小多晶硅技术要求:型号为N型、电阻率大于50ohmcn、碳含量小于5*1016/cm3、氟含量小于 5*1017/cm3、块状为4mm、不能有氧化物夹层和不熔物,最好为免洗料。
D、直拉多晶硅技术要求:磷检为N型、电阻率大于100ohmcm、硼检为P型、电阻率大于1000ohmcm、少娄载流子寿命大100um、碳含量小于1016cm3、氧含量小于1017 cm3、块状小于30mm、不能有氧化物夹层和不熔物,最好为免洗料。
E、区熔头尾料技术要求:N型,电阻率大于50chmom、少数载流子寿命大于100μm、块状大于 30mm、区熔头尾料不能有气泡,不能有与线圈接触所造成的沾污,更不能有区熔过程的流硅或不熔物,最好为免洗料。
F、直拉头尾料(IC料),最好为免洗料技术要求:N型,电阻率大于10ohmom、P型,电阻率大于 0.5ohmom、块状大于30mm,片厚大于0.5mm、直拉头尾料不能气泡,更不能有不熔物。
3、CZ生长原理及工艺流程CZ法的基本原理,多晶体硅料经加热熔化,待温度合适后,经过将籽晶浸入、熔接、引晶、放肩、转肩、等径、收尾等步骤,完成一根单晶锭的拉制。
炉内的传热、传质、流体力学、化学反应等过程都直接影响到单晶的生长与生长成的单晶的质量,拉晶过程中可直接控制的参数有温度场、籽晶的晶向、坩埚和生长成的单晶的旋转与升降速率,炉内保护气体的种类、流向、流速、压力等。
CZ法生长的具体工艺过程包括装料与熔料、熔接、细颈、放肩、转肩、等径生长和收尾这样几个阶段。
1.装料、熔料装料、熔料阶段是CZ生长过程的第一个阶段,这一阶段看起来似乎很简单,但是这一阶段操作正确与否往往关系到生长过程的成败。
大多数造成重大损失的事故(如坩埚破裂)都发生在或起源于这一阶段。
2.籽晶与熔硅的熔接当硅料全部熔化后,调整加热功率以控制熔体的温度。
一般情况下,有两个传感器分别监测熔体表面和加热器保温罩石墨圆筒的温度,在热场和拉晶工艺改变不大的情况下,上一炉的温度读数可作为参考来设定引晶温度。
按工艺要求调整气体的流量、压力、坩埚位置、晶转、埚转。
硅料全部熔化后熔体必须有一定的稳定时间达到熔体温度和熔体的流动的稳定。
装料量越大,则所需时间越长。
待熔体稳定后,降下籽晶至离液面3~5mm距离,使粒晶预热,以减少籽经与熔硅的温度差,从而减少籽晶与熔硅接触时在籽晶中产生的热应力。
预热后,下降籽晶至熔体的表面,让它们充分接触,这一过程称为熔接。
在熔接过程中要注意观察所发生的现象来判断熔硅表面的温度是否合适,在合适的温度下,熔接后在界面处会逐渐产生由固液气三相交接处的弯月面所导致的光环(通常称为“光圈”),并逐渐由光环的一部分变成完整的圆形光环,温度过高会使籽晶熔断,温度过低,将不会出现弯月面光环,甚至长出多晶。
熟练的操作人员,能根据弯月面光环的宽度及明亮程度来判断熔体的温度是否合适。
3.引细颈虽然籽晶都是采用无位错硅单晶制备的[16~19],但是当籽晶插入熔体时,由于受到籽晶与熔硅的温度差所造成的热应力和表面张力的作用会产生位错。
因此,在熔接之后应用引细颈工艺,可以使位错消失,建立起无位错生长状态。
在籽晶能承受晶锭重量的前提下,细颈应尽可能细长,一般直径之比应达到1:10。
4.放肩引细颈阶段完成后必须将直径放大到目标直径,当细颈生长至足够长度,并且达到一定的提拉速率,即可降低拉速进行放肩。
目前的拉晶工艺几乎都采用平放肩工艺,即肩部夹角接近180°,这种方法降低了晶锭头部的原料损失。
5.转肩晶体生长从直径放大阶段转到等径生长阶段时,需要进行转肩,当放肩直径接近预定目标时,提高拉速,晶体逐渐进入等径生长。