XRF检测业务标准

xrf(x荧光光谱仪)技术指标XRF 技术指标基本性能参数分辨率：能量分辨率，以电子伏特 (eV) 表示，描述仪器区分不同能量 X 射线的能力。

灵敏度：检测下限，以质量浓度或计量单位表示，描述仪器检测特定元素的最低水平。

稳定性：仪器在一段时间内保持稳定测量结果的能力，通常用计数率的变化表示。

重复性：相同样品在相同测量条件下多次测量的结果一致性，通常用相对标准偏差 (RSD) 表示。

线性范围：仪器测量结果与样品中元素浓度之间保持线性关系的浓度范围。

激发源：产生 X 射线辐射的组件，可以是 X 射线管或放射性同位素。

光学元件：柱状准直器、单色器和探测器，用于处理来自激发源的 X 射线，以提高分辨率和信噪比。

探测器：光电倍增管或半导体探测器，用于检测 X 射线并将其转换为电信号。

数据处理参数分析软件：用于处理和分析 XRF 谱数据的软件，包括定性和定量分析功能。

校准：使用已知浓度的标准样品建立测量结果与元素浓度之间的关系。

定量方法：用于计算样品中元素浓度的算法，例如基本参数法和校准曲线法。

尺寸：仪器的物理尺寸和重量。

功耗：仪器在运行期间消耗的电力。

工作温度：仪器正常运行所需的温度范围。

环境要求：仪器正常运行所需的相对湿度、气压和振动水平等环境条件。

其他考虑因素应用：仪器的适用范围，例如元素分析、材料表征或环境监测。

样品类型：仪器可以分析的样品类型，例如固体、液体或气体。

自动化程度：仪器自动执行测量、处理和分析的能力。

用户界面：仪器操作的难易程度和直观性。

技术支持：制造商提供的技术支持水平，例如维护、维修和软件更新。

xrf 测试方法标准XRF 测试方法标准XRF（X射线荧光光谱仪）是一种常用的分析技术，可用于材料的成分分析、质量控制和环境监测等领域。

为了确保测试结果的准确性和可比性，需要依据标准化的测试方法进行操作。

本文将介绍XRF测试方法的标准，以及其应用于不同领域的重要性。

一、XRF测试方法概述XRF测试方法是一种基于材料对X射线的吸收和再辐射现象而建立的非破坏性分析技术。

通过测量样品在受激发射X射线的同时产生的荧光辐射，可以确定样品中元素的种类和相对含量。

XRF测试方法主要包括样品制备、仪器校准和数据分析三个步骤。

1. 样品制备样品制备是确保测试结果准确性的重要环节。

常用的样品制备方法包括固体样品研磨、溶液样品稀释和气体样品净化等。

合适的样品制备方法能够提高测试的精度和可靠性。

2. 仪器校准在进行XRF测试之前，需要对X射线荧光光谱仪进行校准。

仪器校准包括能量刻度、灵敏度调整和元素定量三个方面。

准确的仪器校准可以确保测试结果的可比性和准确性。

3. 数据分析XRF测试生成的数据需要经过分析和处理，以得出样品中元素的含量和配比。

数据分析方法包括标准样品校正、基质效应校正和内标法校正等。

合理的数据分析方法能够提高测试的准确性和可靠性。

二、XRF测试方法在材料分析中的应用XRF测试方法在材料分析中具有广泛的应用，可用于金属、矿石、陶瓷、涂层等多种材料的成分分析和质量控制。

1. 金属材料XRF测试方法可以对金属材料进行快速和准确的成分分析。

在金属生产和加工过程中，使用XRF进行质量控制可以有效地检测材料中的杂质和元素含量，保证产品质量。

2. 矿石分析矿石中的元素含量对于矿石的开采和选矿具有重要意义。

XRF测试方法可以在无需破坏矿石样品的情况下，快速、准确地分析矿石中的元素含量，为矿石资源的开发提供技术支持。

3. 陶瓷材料陶瓷材料的成分对其性能和质量具有重要影响。

通过XRF测试方法可以确定陶瓷材料中的主要元素含量，从而进行配方控制和产品质量监测。

1 目的：为满足对环境管理物质管控的要求，规范XRF检测的过程，特制定本作业指导书。

2 范围：适用于本公司原辅材料、制程添加物质及成品的XRF检测。

3 权责：3.1 品保部：负责量产品的定期检测，检测报告的填写与判定；负责将可疑产品委托第三方检测。

3.2 工程课：负责供应商新品承认及变更时的样品送检。

3.3 生技课：负责制程添加物的新品、变更品送检及定期送检。

4 定义：无5 作业内容：5.1 XRF检测频率及时机5.1.1 量产品每季度检测一次，每季度由供应商按材质将样品送IQC。

5.1.2 供应商新品承认时，PE须送检一次。

5.1.3 使用新的制程添加物时，由生技送检一次。

5.1.4 原辅材料、制程添加物及产品涉及GP变更时，须由责任单位送检一次。

5.1.5 制程添加物每半年由生技送检一次。

5.2 XRF检测5.2.1 XRF检测由受过培训，取得结业证书的人员进行操作。

对于休假超过两个月的操作人员，需重新培训后才能再上机操作。

5.2.2 为保证检测仪器的检测精度，需对其进行明确的管理系统并实施。

5.2.2.1 制定仪器的操作手册并文件化管理。

5.2.2.2 实施设备至少一年一次的校准，以确保进行的测试可溯源到国家或国际标准；当无法溯源到国家或国际测量标准时，应提供测试结果相关性或准确性的充分证据。

5.2.2.3 仪器进行定期保养并形成文件化进行记录保存，保养记录需详细列出具体保养项目。

5.2.2.4 结合仪器厂商建议制定仪器放置区域温度、湿度等可能对仪器本身或测量结果5.3 检测结果的判定5.3.1 检测结果与附件一《RoHS法规之要求》相比对，如XRF检测合格，原辅材料、制程添加物可以入库使用，新品可予以承认，变更品可以使用。

5.3.2 如XRF检测不合格，首先比对产品MSDS（物质安全资料表）和ICP报告（附件三，XRF与ICP测试标准对照一览表），比对化学成分表中是否含有，如含有是否超出含量百分比，如超出含量百分比需由品保部GP专员委托有资质的第三方进行检测。

XRF检测业务标准一、XRF 测试目的为了检测电子电气产品中的化学元素及其化合物质，根据ROHS常规限用的六种物质（铅.镉.汞.六价铬.多溴联苯.多溴二苯醚）的成分测定是否符合标准，二、XRF 检测有异常时发出通报: 由收入检查 -> 操作者/本部本担当XRF 判定基准三、XRF 的管理XRF检测设备管理->品质部（受入检查）XRF检测有异常时发出通报: 由收入检查 -> 担当者将不良通报内容以书面形式通报给对应业体及接收改善对策。

第1页决决裁制定审核XRF 检测业务标准承认制定审核承认500↓-500↓ Br(溴)500↓700↓700↓150↓50↓树脂类(树脂)-700↓70↓金属类500↓200↓100↓100↓20↓纸(标签/Tape 类)Cl(氯)Cr(铬) Hg(汞)Pb(铅)Cd(镉）元素名XRF 测试体系进货检查委托书五、XRF (荧光X线分析器)3. XRF 基本范围1) 分析范围与使用Filter（过滤器） 2) 分析范围与使用 Filter（过滤器）六. 透视范围的深度七. CCD 相机第2页决裁制定审核承认XRF 检测业务标准XRF 检测业务标准决裁A.没有事前通知非破坏；迅速分析(1分~5分)B.大幅度测试元素范围(Na~U 全元素)没有Cr分析使用元素11Na ～92U 使用Ka 线分析元素范围11Na ～62Sm 使用La(Lb1)线分析元素范围63Eu ～92UPb 分析时使用Filter Ni FilterCd 分析时使用FilterMo( or Zr) Filter Hg, BrNi Filter Cl AlElementCd Pb Hg 分析LineCd Ka (23.12KeV)Pb La (10.56KeV)Hg La (9.98KeV)分析范围22.92 ～10.36 ～9.78 ～11.7 ～Br Ka (11.9KeV)Br Cr Cl Cr Ka(5.42KeV)Cl Ka (2.62 KeV)5.22 ～ 2.42 ～D.没有基准正确分析E.使用基准能精密正量F.分析相机观察目的◆确认测试的试料位置◆试料分析范围调整◆保存试料测试位置图8、XRF 测试条件5.粉碎/液晶试料=> 单一材质状态试料非常小或Powder Type或液状试料情况下,用别度试料容器Mylar Film堵住一边,容器内将试料填满后X线不能通过实施分析=> 引用电溶液有机容器有扩散的可能性XRF分析不可能9、判定基准a.对不适合品对一个的Sample 其他部位最少3回以上测定后标记平均值d.可图章的颜色不合格时从部品业体开始以固化的材料接收后实施XRF 再评价.10、发生可能性问题11、Pb分析时他元素的影响 [ Br ]第3页Pb 分析时它元素的影响 [ As ]C、分析时其他成分妨害: - 参照事列b.单一材质状态是PVC 材质的情况下XRF 分析结果以当社管理基准-10%, +30%为止通过精密分析判定合/不,其以上的情况下无需精密分析进行不合格处理.c.对非常小的Chip部品或分离不可能的部品以部品状态实施XRF 评价脱离Spec情况下从供给业体开始单一材质别度接收供给后再实施XRF评价.A、ROHS 6代成分中一部分不能立即判定: A.Br时 T-Br 管理 B.Cr 时不好区分 Cr和Cr6+B、试料是否精密: 分析试料特别小或不好分析时也有。

xrf 测试方法标准
XRF（X-ray Fluorescence）测试方法，即X 射线荧光光谱分析法，是一种通过测量物质受X 射线激发后产生的荧光辐射的波长和强度，以确定物质中元素组成和含量的分析方法。

以下是XRF 测试方法的一些常见标准：
1. ASTM E1657：使用X 射线荧光光谱法分析金属材料的标准测试方法。

2. ISO 12677：使用X 射线荧光光谱法分析金属材料的标准测试方法。

3. EN ISO 12677：欧洲标准，与ISO 12677 相同。

4. JIS G1258：日本工业标准，使用X 射线荧光光谱法分析钢铁材料的标准测试方法。

5. GB/T 18877-2009：中国国家标准，使用X 射线荧光光谱法分析金属材料的标准测试方法。

这些标准通常涵盖了XRF 测试方法的基本原理、仪器设备要求、样品制备、测试步骤、数据处理和结果报告等方面的内容。

在进行XRF 测试时，应根据具体的测试需求和样品类型，选择适合的标准进行参考和遵循。

XRF有害物质检测规范（QC080000-2012）1、目的本要求规范了工厂的XRF分析人员、测试样品、XRF设备（含软体）、及XRF测试操作等方面的要求，以提高工厂XRF分析结果的准确性及可靠性，确保工厂及供应商交货之HSF产品符合客户要求。

2、范围本公司产品自设计、零部件采购、生产、成品出货及供货商提供给本公司之零部件，及本公司委托外包厂商制造之产品、零部件皆函盖之。

3、参考资料电子电器产品中有害物质检测样品拆分通用要求 GB/Z 20288-2006客户规范4、定义4.1XRF：X射线荧光分析仪。

4.2HSF：无有害物质。

4.3均质材料：指不能通过机械手段进一步拆分为不同材质的材料，均质材料各部分的组成均相同，例如各种陶瓷、玻璃、合金、纸张、木板、树脂、塑胶及涂料等。

5、作业程序与权责5.1人员要求设备使用人员需定期进定义教育训练，所有与XRF检测分析人员应按照教育训练计划进行适当的内部或第三方培训及必要的考核。

考核合格人员需取得合格证书。

5.1.1人员资格检验操作人员需具备高中或同等学历（含）以上学历，或有累计2年以上类似检测设备操作经验，且经培训合格并取得合格证书。

实验室主管需具备大专（含）以上学历，且已累积3年以上检测设备操作经验或2年以上实验室管理经验。

休假超过两个月的人员，需经重新培训后才能上岗作业。

5.1.2人员培训5.1.2.1XRF相关人员培训方式可为内训、仪器公司或第三方实验室培训，培训时间不得少于6小时。

5.1.2.2培训讲师应具备大专以上学历，或有3年以上类似检测设备操作经验，或实验室主管（或其指定人员）、教材的拟定人员。

5.1.2.3培训内容应包含XRF设备（含软体）的操作，样品的制备，仪器、标准曲线的校正，数据、谱图识别，检测结果判定等。

5.1.2.4参加培训人员应参与理论及实际操作等方面的考核，且考核合格并颁发合格证书后方可参与XRF检测作业。

5.1.2.5与XRF作业有关的培训、考核相关的记录至少完好保存5年。

一﹑目的﹕
確保公司產品(包括材料﹐在制品﹐成品﹐設備及其它物料)符合環保要求，以便公司對零部件﹑原材料等內部組成成份含量進行測試﹔為原材料的控制﹑工藝控制﹑新產品提供依據，以滿足世界各國對環保法律法規的要求。

二﹑範圍：
1、相關原材料(包括包裝材料)皆適用之﹔
2、客戶樣品皆適用之﹔
3、本公司生產的所有產品皆適用之﹔
4、制程中所涉及到的設備﹑工/治/模具皆適用之﹔
三﹑參考文件：
1、《綠色產品作業規範》
2、若相關法律法規及客戶要求有變更時﹐則以最新版及客戶要求為准﹔
四﹑測試設備：能量色散X熒光光譜儀(XRF)
五﹑職責：
1、原材料：由IQC人員進行送檢。

2、成品：由品保提供送檢。

3、輔料：由各單位提供樣品送檢。

4、GP人員經過設備廠商技朮員培訓合格後負責操作檢測設備。

六﹑內容:
1、材料按《HSF風險等級一覽表》進行送測﹐送檢時必須注明同批樣品的收貨單號﹑料號及廠商名稱。

經
檢測合格後才能入庫。

2、制程檢測：
2.1制程錫塊：每天對制程每個錫爐的錫進行取樣檢測，並將檢測記錄填寫於《綠色產品檢測記錄
表》。

取樣要求：戴上手套﹐將勺子放入錫爐中﹐將錫攪拌均勻至少10S﹐刮除錫面錫渣後﹐從
錫表面用勺子取一小勺（規格直徑為27±3mm﹐厚度不小於5mm的圓形）﹐放入幹淨的鋼盤冷卻。

樣品測試面須無雜質﹑平整；測試面須與鋼(鐵)盆未接觸面。

Φ27±3mm
核准審核製錶日期。

文件名耦XRF＞测作渠战篇文件编虢文件版本A4 直次第11共4直一、目的：石霍保公司崖品（包括材料，半成品，成品，言殳借及其它物料）符合璟保要求，以便公司封零部件、原材料等内部,幺且成成份含量迤行洌情式；卷原材料的控制、工蓼控制、新崖品提供依摞，以满足世界各阈封璟保法律法规的要求。

二、章隗1、相同身原材料（包括包装材料，裂程附圈材料）皆遹用之；2、客户棣品皆遹用之；3、本公司生崖的所有崖品皆遹用之；4、制程中所涉及到的患错、工/治/模具皆遹用之；三、参考文件：1、《崖品作棠烧靶》2、若相^法律法规及客户要求有建更日寺，剧以最新版及客户要求^准；四、旗惜式言殳借：ELVA X受光光谱倭（XRF）五、^^1、原材料、半成品：由IQC人具迤行送椀。

2、成品：由品保提供送椀。

3、幸甫料：由各罩位提供棣品送椀。

4、GP人最幺更谩言殳借摩商技戊具培金I合格彳灸负！■操作松吸殳借。

六、内容：1材料按HSF凰除等级一霓表迤行椀洌J,送椀日寺必须注明同批棣品的收货罩虢、料虢及摩商名耦。

、幺空椀测合格彳灸才能入廛。

嚏十封三星崖品的材料（含共用材料、辅料）需每批使用XRF迤行RoHS&HF椀洌J。

2制程横洌J ：2.1制程中^^：每天封制程中每^^^的^迤行取棣椀洌J，加招椀测言己爱泰填嘉於《、幺彖色^品椀^^M 表》。

取棣要求：戴上手套，符勺子放入^^中，^^^拌均匀至少10S,刮除^面^渣彳灸，彳他^ 表面用勺子取一小勺（规格直彳至卷27±3mm,厚度不小於5mm的圄形），放入乾浮的^^冷郤。

27 3mm2.2蜀•封三星在制品每天取棣使用XRF迤行RoHS&HF椀测一次，且不可舆其它崖品混洌J。

2.3成品每遇更换遇期彳灸第一批^品椀洌J，同系列、同裂程、同材料檄不重可混洌J。

2.4蜀•封三星崖品出货日寺需每票取棣使用XRF迤行RoHS&HF椀测一次，且不可舆其它崖品混洌J。

文件名耦XRF椀测作渠战46 文件编虢文件版本A4 直次第2直共4直2.5棣品旗惟式面须辗亲隹^、平整；旗惜式面须舆^ （修戴）盆未接斶面。

XRF检测规范1.目的本要求规范了XRF检测分析人员、测试样品、XRF设备（含软体)、及XRF测试操作等方面的要求，以提高XRF分析结果的准确性及可靠性，确保公司及供应商交货之HSF产品符合客户要求。

2.范围使用X荧光测试仪的人员培训、操作规范、判定依据、进行测试的所有产品的原材料、辅料、及工装。

3.参考资料本管理规范参照《设备管理工作程序》，其他管理规范在文件适用范围内与本文件不符的，以本文件所述为准。

4.定义XRF: X射线荧光分析仪。

HSF:无有害物质。

均质材料：指不能通过机械手段进一步拆分为不同材质的材料，均质材料各部分的组成均相同，例如各种陶瓷、玻璃、合金、纸张、木板、树脂、塑胶及涂料等。

5.作业程序与权责5.1人员要求设备使用人员需定期进定义教育训练，所有与XRF检测分析人员应按照教育训练计划进行适当的内部或第三方培训及必要的考核。

考核合格人员需取得上岗证。

5.1.1人员资格检验操作人员需具备高中或同等学历（含）以上学历，或有累计2年以上类似检测设备操作经验，且经培训合格并取得上岗证。

休假超过两个月的人员，需经重新培训后才能上岗作业。

5.1.2人员培训5.1.2.1XRF相关人员培训方式可为内训、仪器公司或第三方实验室培训，培训时间不得少于6小时。

5.1.2.2培训内容应包含XRF设备（含软体）的操作，样品的制备，仪器、数据、谱图识别，检测结果判定等。

5.1.2.3参加培训人员应参与理论及实际操作等方面的考核，且考核合格并颁发后上岗证后方可参与XRF检测作业。

5.1.2.4与XRF作业有关的培训、考核相关的记录至少完好保存10年。

5.1.3安全防护XRF检测作业人员需做相应的安全防护，使其免遭辐射危害。

如进行辐射监护、定期体检等。

5.2 XRF检测样品要求同《X荧光光谱仪(XRF)操作规范》制样要求。

5.3 XRF设备要求XRF仪器应符合国际或国家规定并经计量合格的。

其基本组成包括X射线激发源（X光管）、放置样品的样品室、X射线检测器、数据处理系统和仪器控制系统。

变更记号年 月 日变更内容变更事由测量前的准备选择“自动辨别”后前进 5.输入样品构造信息后前进（实质为欲分析的元素）后前进 *6.输入分析结果的单位和有效数字位数8.点击“测量条件”按钮，设定测量条件10.设定完成后，点击“确定”然后点击“储存分析条件档案”；变更内容变更事由改定者检讨承认输入完成后，点击确定。

至此，转下页有害物质管理标准 ---- 执行标准1.【塑料分析时的要求点】３）测量像线材的圆柱形样品时，请将样品对测量范围的中央以纵方向来摆设；１）测量像线材的圆柱形样品时，请将样品对测量范围的中央以纵方向来摆设，而且尽可能将样品的底部保持平坦来放置；２）要尽可能将含大量塑料的部分集中在下方来摆设；3.【金属分析时（判定是否存在）的要求点】１）测量金属中的管理元素时，要使用「块体FP 法」（基本参数法），将输入的管理值当成界限值，然后从定量结果来判断管理；元素是否存在；２）测量Al 合金及Mg 合金的样品时，使用「块体标准曲线法」来进行是否存在的判定，但是请理解定量值并非绝对正确；３）含有Pb 的情况，特别是大量的情况下As 也会被自动检测出来。

对于没有As 存在的样品，定量结果会是0 ppm 或者是与其接近的数值；4.【管理元素的测量值高于管理值时的对应】１）要测量同一批样品，确认是否出现同等的结果；２）要确认在能谱上，管理元素的顶峰是否明确地存在；３）要测量标准样品以确认是否可以正确地进行测量；4 ）要从能谱上确认是否有大量的金属含在其中；5 ）请将测量所得到的能谱保存在电脑中，而将样品以ICP 进行分析；5.【分析时（判定是否存在与准确）的要求点】可以提高测量精度；要从测量结果确认理论统计变动值（1σ），如果这个值太大的话，要延长测量时间，测量时间增加4倍的话，测量值的偏差将 减少一半；测量金属产品时，请使用FP 法：１）电镀样品也以块体来测量，所以只能做为是否存在的判定，定量值并非绝对正确； ２）含有大量的Fe 少量的Cr 的情况，对于Cr 的是否存在的判定的精度会变差； ３）含有大量的Sn 少量的Cd 的情况，对于Cd 的是否存在的判定的精度会变差；变变更记号年 月 日变更内容变更事由改定者检讨承认更内容2.【电线或连接器等含有金属的塑料分析时的要求点】条件选择：测量塑料中的有害物质时，使用「块体标准曲线法」；部品物质分析条件选定 ---- 作业标准３）如果做为管理对象元素的定量结果超过基准值的话，要将金属部分拆下再测量一次；条件选择：测量塑料中的有害物质时，使用「块体标准曲线法」；２）对于小样品的话，尽可能大量地，集中地，重叠地，排列地来进行测量；１）被测量的样品的厚度最好在0.5mm 以上，面积在φ5mm 以上；条件选择：分开使用「块体FP 法」与「块体标准曲线法」（Al ，Mg 合金用）；测量小样品时，荧光X 射线较弱所以造成测量值的偏差变大，为了避免此种误差，尽可能将样品大量集中来测量，这样的话，校正项目：强度校正·能量校正·分辨率校正·照射口径校正；以下的视窗会打开，选择所有的管电压，按等待直到校正终了；校正终了就会出现　『强度校正正常终了』的信息，按『ＯＫ』；从样品室取出『强度校正板』　并放回抽屉；。

一﹑目的﹕確保公司產品(包括材料﹐半成品﹐成品﹐設備及其它物料)符合環保要求，以便公司對零部件﹑原材料等內部組成成份含量進行測試﹔為原材料的控制﹑工藝控制﹑新產品提供依據，以滿足世界各國對環保法律法規的要求。

二﹑範圍1、相關原材料(包括包裝材料，製程附屬材料)皆適用之﹔2、客戶樣品皆適用之﹔3、本公司生產的所有產品皆適用之﹔4、制程中所涉及到的設備﹑工/治/模具皆適用之﹔三﹑參考文件:1、《產品作業規範》2、若相關法律法規及客戶要求有變更時﹐則以最新版及客戶要求為准﹔四﹑測試設備:ELVA X熒光光谱儀(XRF)五﹑職責:1、原材料、半成品：由IQC人員進行送檢。

2、成品：由品保提供送檢。

3、輔料：由各單位提供樣品送檢。

4、GP人員經過設備廠商技朮員培訓合格後負責操作檢測設備。

六﹑內容:1、材料按HSF風險等級一覽表進行檢測﹐送檢時必須注明同批樣品的收貨單號﹑料號及廠商名稱。

經檢測合格後才能入庫。

針對三星產品的材料（含共用材料、辅料）需每批使用XRF進行RoHS&HF檢測。

2、制程檢測：2.1制程中錫塊：每天對制程中每個錫爐的錫進行取樣檢測，並將檢測記錄填寫於《綠色產品檢測記錄表》。

取樣要求：戴上手套﹐將勺子放入錫爐中﹐將錫攪拌均勻至少10S﹐刮除錫面錫渣後﹐從錫表面用勺子取一小勺（規格直徑為27±3mm﹐厚度不小於5mm的圓形）﹐放入幹淨的鋼盤冷卻。

2.2針對三星在制品每天取樣使用XRF進行RoHS&HF檢測一次，且不可與其它產品混測。

2.3成品每週更換週期後第一批產品檢測，同系列、同製程、同材料機種可混測。

2.4針對三星產品出貨時需每票取樣使用XRF進行RoHS&HF檢測一次，且不可與其它產品混測。

核准審核製錶日期Φ27±3mm。

AG-0801-M006-F2 Rev.:A1Amendment RecordsAG-0801-M006-F3 Rev.:A1目錄Content一、目的Purpose二、適用範圍Scope三、樣品檢測條件及方法Test condition & method for sample四、零件及產品測試原則Testing Rule五、測試方法Test Method六、注意事項Attention item七、附件Attachment1.XRF測試零件及產品類別之有害物質限值表限值表EHS threshold value of component type for XRF test2.拆解治工具管理流程The management process for disassembly tools of the component.3. XRF治工具季驗證紀錄表 (AT-0801-M427-F1)The record of disassembly tools in quarter inspection by XRF (AT-0801-M427-F1).目的：Purpose本規範在建立進料之XRF檢驗標準，以確保品質合乎既定之標準。

The purpose of this program is to establish the specification of the XRF inspection for incoming materials to assure the quality of materials and comply with specified criteria.一、適用範圍：Scope適用於各大類零件之檢驗。

Apply to all types of materials.二、樣品檢測條件及方法：Test condition & method1.分析方法分為檢量線法及FP法，說明如下：Test methods can be separated to the method of calibration curve and FP method.1.1.檢量線法：對應於XRF之分析條件為”Cd, Pb, Hg, Br, Cr.bcc”，適用之材質為塑料、紙張、木材及Mg, Al, Si 較輕元素)為主材質之樣品。

制訂日期：2008/08/08 版本：AXRF光譜分析儀作業指導書一．目的：為了使操作人員更好的了解掌握XRF光譜分析儀的使用方法，對有害物質做到有效的的監測，防止含有HS的外購成品、半成品、原材料流入工廠和防止制程中的半成、成品受到污染流入客戶端。

二.范圍：XRF系列光譜分析儀均適用之三.權責：1.本文件制定與修訂:品管部2.本文件執行: 品管部3.本文件需經本公司環境管理物質技術委員會核準四.術語和定義：4.1. X-射线荧光光谱：作为一种比较分析技术，在较严格的条件下用一束X射线或低能光线照射样品材料，致使样品发射特征X射线。

这些特征X射线的能量对应于各特定元素，样品中元素的浓度直接决定射线的强度。

该发射特征X射线的过程称为X射线荧光或XRF。

4.2.X-射线激发源：通常是X-射线管或放射性同位素。

4.3X-射线探测器：检测X射线光子的装置，并能把它的能量按照光子的振幅比例来转化为具有电子能量的脉冲。

X-射线荧光光谱仪用的探测器必须满足所有波长谱线的需要才能达到表1中列出的测量样品的极限。

4.4XRF谱图的推荐分析谱线表1：单个分析物的特性X-射线五.校驗及點檢設備：5.1.打開XRF光譜分析儀，先熱機30分鐘，按《Xlt-797Wz重金屬元素分析儀操作手冊》對設備進行自檢，然後使用塑膠標準片點檢設備，並把測試數據記錄與“點檢記錄表”，對比測試數據是否在可接受范圍內。

5.2.若測試數據超過標準范圍，用酒精清洗設備測試窗口，然後再測試塑膠標準件。

5.3.設備測試窗口要定期(1禮拜/次)使用酒精清洗，使窗口保持清潔，以免影響設備的準確性。

審核：制訂：22mm12mm圖1：測量窗口圖2：樣品杯。

x射线荧光光谱法（XRF）是一种常用的表面分析技术，广泛应用于材料分析、金属检测、环境监测等领域。

而X射线荧光光谱仪器校验是保证仪器准确性和可靠性的重要环节，ASTM标准作为全球公认的仪器校验标准，对XRF仪器校验具有指导意义。

本文将探讨X射线荧光光谱仪器校验快速化的方法，以ASTM标准为依据，为相关行业提供技术参考。

一、X射线荧光光谱仪器校验的重要性1. 保证测试准确性：XRF仪器的校验可以确保其测试结果的准确性和可靠性，为后续的科研和生产提供可靠数据支持。

2. 提高仪器稳定性：经过定期校验，可以发现并解决仪器中的问题，提高仪器的稳定性和稳定性。

二、ASTM标准在XRF仪器校验中的应用1. ASTM E1621标准：该标准适用于X射线荧光光谱仪器的性能验证和校正，包括仪器的分辨率、计数率稳定性、线性和准确性等方面的要求。

2. ASTM E1755标准：该标准主要涉及X射线荧光光谱仪的校正和性能验证，要求对仪器的灵敏度、线性、分辨率等进行验证和校准。

三、XRF仪器校验快速化的方法1. 校验模块化：将XRF仪器所需的校验项目模块化，可以根据实际情况选择需要进行的校验项目，减少不必要的校验步骤，提高校验效率。

2. 自动化校验：引入自动化设备或软件，对XRF仪器进行快速校验，大大缩短校验时间，提高校验效率。

自动化校验也能减少人为误差，提高校验的准确性。

3. 校验标准化：根据ASTM标准的要求，建立XRF仪器的校验标准化流程和要求，提供标准化校验方案，确保校验的一致性和可追溯性。

四、XRF仪器校验的案例分析通过引入自动化校验设备和校验标准化流程，某公司成功将XRF仪器的校验时间缩短了50，大大提高了校验效率。

校验结果的准确性也得到了有效保障，在生产过程中取得了明显的实际效益。

五、结语X射线荧光光谱仪器校验是保证仪器准确性和可靠性的重要环节，ASTM标准作为全球公认的仪器校验标准，对XRF仪器校验具有指导意义。