光电检测电路噪声分析及误差补偿方法研究_于航
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光电探测器低噪声增益调节方法研究光电探测器作为一种重要的光电转换器件,其中低噪声是其重要性能之一。
低噪声的光电探测器具有较高的信噪比和灵敏度,因此在许多领域的应用中得到了广泛的关注。
本文将探讨光电探测器低噪声增益调节方法的研究。
一、光电探测器低噪声的定义和重要性光电探测器的噪声源包括热噪声、暗电流噪声和光电子统计噪声等。
其中,热噪声是与器件温度相关的噪声,是探测器热运动引起的噪声;暗电流噪声是指探测器在无光照射下的输出电流,其大小与器件的结构、材料和制造工艺等因素有关;光电子统计噪声是指光电探测器在接收光信号时,由于光电子的随机行为所引起的噪声。
低噪声的光电探测器意味着其信噪比高,灵敏度高,可以提高探测器的工作性能和精度,广泛应用于光通信、光电测量、光电成像、光电医学等领域。
二、光电探测器低噪声的增益调节方法光电探测器的增益调节是影响其噪声性能的重要因素之一。
增益调节方法主要有以下几种:1.前置放大器前置放大器是一种常见的增益调节方法。
它可以将光电探测器的输出信号放大,提高信噪比和灵敏度。
前置放大器可以放置在探测器前面或后面,放置在前面可以增加输入信号的电压和抑制噪声;放置在后面可以增加输出信号的振幅和提高输出能力。
2.反馈电路反馈电路是通过对探测器输出电压进行反馈,来调节探测器的增益。
反馈电路可以提高探测器的动态范围、线性度和稳定性,同时还可以降低噪声。
反馈电路主要包括运算放大器反馈、低噪声自适应反馈等。
3.直流偏置直流偏置是通过对光电探测器进行电流和电压的偏置,使其输出变得更加灵敏。
直流偏置可以调整探测器的工作状态和灵敏度,从而提高其噪声性能。
4.温控制温控制是通过控制光电探测器的温度来影响其噪声性能。
当温度较低时,噪声会减少,增益会增加;当温度过高时,由于电子热激发,探测器产生的噪声会增加。
因此,合理的温度控制可以有效地提高探测器的工作性能和稳定性。
三、结论光电探测器低噪声增益调节方法的研究是当前热点和难点问题之一。
基于光电二极管反偏的光电检测电路的噪声分析发表时间:2017-03-09T11:18:47.780Z 来源:《电力设备》2017年第1期作者:王风敏[导读] 在光电检测电路设计时,应该尽可能地减小噪声,从而提升系统的检测分辨率和信噪比。
(池州学院安徽池州 247100)摘要:噪声是目前影响光电检测电路检测性能的重要因素,在光电检测电路设计时,应该尽可能地减小噪声,从而提升系统的检测分辨率和信噪比。
为此,本文就对基于光电二极管反偏的光电检测电路的噪声进行了分析,首先简单介绍了光电二极管检测电路,然后对基于光电二极管反偏的光电检测电路设计进行了分析,随后探讨了光电检测电路的噪声,最后提出了光电检测电路的总噪声及低噪声的设计原则,旨在为低噪声光电检测电路的设计提供帮助。
关键字:噪声;光电检测电路;光电二极管;反偏引言现如今,光电检测技术已经被广泛地应用于诸多领域,从理论的角度分析而言,利用光电检测电路能够将任何存在光辐射信号地方的信号检测出来。
然而,在实际检测过程中,经光电二极管转换的光电信号是非常微弱的,经常出现被检测信号被噪声淹没的情况,严重影响的光电检测电路的检测能力。
因此,对光电检测电路的噪声进行分析具有非常重要的意义。
1.光电二极管检测电路1.1光电二极管工作原理光电二极管主要是利用半导体通过光电效应实现光信号到电信号的转换。
受热运动的影响,耗尽层两侧没有电场的中性区域内有一些以扩散运动方式的空穴与光生电子进入到耗尽层,然后受电场的作用形成扩散电流,且方向与漂移电流相一致。
光生电流为扩散电流分量与漂移电流分量的总和。
所以,当N层和P层的连接电路打开时,在它们的两端会产生一定的电动势,而该效应则被称之为光电效应。
当P 层与N层的连接电路出现闭合时,N区的过剩电子与P区的空穴电流会相互流动,从而形成一种光生电流。
光生电流会随着入射光的变化而进行线性改变,从而实现光信号到电信号的转变。
1.2低噪声光电检测线路设计的意义通常情况下,通过光电二极管转换而得到的光电信号是较为微弱的,且在光电信号的检测极易受到噪声的干扰。
光电探测器中的噪声源分析与抑制方法研究引言:光电探测器在光学信号检测中发挥着重要作用。
然而,噪声源的存在不可避免地限制了其灵敏度和性能。
本文将对光电探测器中的噪声源进行分析,并探讨一些常用的抑制方法。
一、噪声源分析1. 热噪声:热噪声是光电探测器中最主要的噪声源之一,其来源于器件内部的热原子运动。
根据冯·诺依曼热噪声公式,热噪声与温度成正比。
因此,控制探测器温度可以有效抑制热噪声。
2. 暗电流噪声:暗电流是光电探测器在无光输入时产生的电流,主要由材料内部载流子的热激发和本征缺陷的活化引起。
降低器件温度、优化材料制备工艺以及减小本征缺陷浓度是抑制暗电流噪声的常用方法。
3. 光电转换效率不均匀性:光电转换效率不均匀性会导致探测器在感光时产生空间相关的噪声。
此时,通过提高器件制备工艺、优化电极结构等方式,可以减小光电转换效率不均匀性,从而降低空间相关噪声。
4. 外界光源噪声:当光电探测器处于光照环境中,外界光源的波动性会导致探测器输出信号的波动。
在实际应用中,可以采用光学滤光片、光栅分光装置等方法,对外界光源产生的噪声进行有效抑制。
二、抑制方法研究1. 温度控制技术:通过恒温控制或降低温度,可以显著降低热噪声的影响。
冷却系统、热电模块等技术是常用的温度控制手段。
2. 材料优化与缺陷控制:通过选择低暗电流材料、优化材料制备工艺等方式,可以降低暗电流噪声。
此外,合理控制掺杂浓度、优化材料结构,有助于减小材料内部缺陷密度,从而降低噪声水平。
3. 光电转换效率均匀化技术:通过精确控制器件制备工艺,优化电极结构等手段,可以改善光电探测器的光电转换效率均匀性,从而减小探测器的空间相关噪声。
4. 光学滤光技术:对外界光源噪声进行滤除,可以采用滤光片、光栅分光装置等方法。
这些光学装置可以有选择性地吸收或反射某个波长范围内的光线,从而减小外界光源噪声的影响。
结论:噪声源对光电探测器的性能产生了很大的限制,但通过噪声源分析和抑制方法研究,可以有效降低噪声水平,提高探测器的灵敏度和性能。
光电检测电路中降低噪声的设计摘要:在光电检测电路中往往要检测一些微弱光信号,但这些信号总是受到一些噪声的影响。
本文主要陈述了光电检测电路的基本原理以及噪声的来源,并设计了一种可以减小噪声的光电检测电路,本设计具有电路结构简单、输出信噪比大、通频带宽、检测精度高等特点。
关键字:光电检测电路微弱光信号噪声1. 引言光电检测技术是光学与电子学相结合而产生的一门新兴检测技术[1]。
它主要利用电子技术对光学信号进行检测,并进一步传递、储存、控制、计算和显示[2]。
目前光电检测电路已被应用到许多领域。
在光电系统中,光电检测电路是将光学信息或者可变为光学信息的其他信息转换为电信息,进而组成光、机、电、计算机的综合系统,实现光电信息检测的自动化[3]。
但是在光电检测电路中,光信号和电信号也要受到很多噪声的干扰。
由于接收的光信号和转换后的电信号通常都比较微弱,很容易淹没在各种噪声中,所以在设计光电检测电路时,要尽量减小噪声,提高系统的信噪比和检测精度。
而在系统中,光电检测电路是在最前面的一个环节,如果光电检测电路的噪声比较大,后面的放大和检测系统的输出误差就非常大[4],因此设计出噪声很低的光电检测电路非常重要。
2. 光电检测电路的噪声来源光电检测电路有许多噪声来源,这些噪声来源可分为系统的外部噪声和内部噪声两种。
外部噪声是光电系统受到的外界干扰,包括光辐射源的随机波动和附加的光调制、光路传输介质的湍流和背景起伏、杂散光的入射以及检测系统所受到的电磁干扰等。
这些噪声可以通过稳定辐射光源、遮断杂光、选择偏振面或滤色光片以及电气屏蔽、电干扰滤波等措施加以改善或消除。
内部噪声是光电系统本身产生的噪声,包括光电检测器件和检测电路等的器件固有噪声。
这种噪声是电路的基本物理过程所决定的,只要电路工作,这种噪声就会存在,是不可能人为消除的,但可以通过选择适当的电路元件以及合理的设计电路结构来减小内部噪声。
内部噪声是随机起伏的,覆盖在很宽的频谱范围内,和有用信号同时存在,相互混淆[5]。
光电探测器中的噪声建模与分析光电探测器噪声建模与分析是光电探测技术中一个重要的研究领域。
光电探测器的噪声源主要包括热噪声、暗电流噪声、光电噪声和电子学噪声等,这些噪声会对光电探测器的性能和灵敏度产生重要影响,因此对其噪声进行建模与分析具有重要意义。
首先,热噪声是光电探测器中的一个主要噪声源,它由于光电探测器内部的电阻产生。
根据热噪声的统计特性,可以将其建模为高斯分布,其功率谱密度与温度和电阻值有关。
暗电流噪声是光电探测器中的另一个重要噪声源。
暗电流是在光电探测器中没有光照射的情况下产生的,主要由于光电探测器材料内部的杂质和缺陷引起。
暗电流的大小与杂质和缺陷的数量和本质有关,通常其分布也可以近似为高斯分布。
光电噪声是由于光的量子特性引起的噪声,它是由光子到达探测器所引起的不确定性造成的。
根据光的统计特性,光电噪声可以建模为泊松分布。
光电噪声的功率谱密度与光强度和波长相关。
在噪声分析中,常用的方法包括频谱分析和统计分析。
频谱分析能够研究噪声的功率谱特性,可以通过傅里叶变换将时域的噪声信号转换为频域信号,并得到功率谱密度。
而统计分析则可以通过概率密度函数、均值、方差等统计量来描述噪声的分布特性。
对于光电探测器噪声的建模与分析,研究人员可以通过实验和理论推导来获取噪声数据,并基于所得数据进行噪声分析。
此外,人们还可以通过改进器件结构和材料、优化电路设计等方式来降低噪声水平,提高探测器的性能。
总之,光电探测器的噪声建模与分析是光电探测技术中重要的研究内容。
噪声对于光电探测器的性能和灵敏度具有重要影响,因此对其进行建模与分析有助于深入理解噪声的特性并采取相应的措施进行噪声的抑制与改善。
云南大学学报(自然科学版),2003,25(5):405~407CN53-1045/N ISSN0258-7971 Journal of Yunnan U niversityΞ光电子噪声下的目标跟踪误差分析张根耀1,赵宗涛2(1.西北大学计算机科学系,陕西西安 710069;2.第二炮兵工程学院402室,陕西西安 710025)摘要:在对运动目标进行识别和跟踪中,噪声的干扰是影响识别准确性和跟踪精度的主要因素.针对光电子噪声对目标型心计算的影响,推导出型心误差估计模型,并对其进行了分析.关键词:目标跟踪;灰度质心;光电子噪声;目标像元;背景像元中图分类号:TP391 文献标识码:A 文章编号:0258-7971(2003)05-0405-03运动目标跟踪在许多领域有重要的实用价值,尤其是在军事上,已被成功地用于武器的成像制导、军事侦察和监视方面.通常情况下,当目标面积较小,机动性不强时,采用滤波跟踪方法以提高跟踪精度;当目标具有一定面积且帧间抖动较大时,一般采用窗口质心跟踪或匹配跟踪方法以保持跟踪的稳定性和精度[1].跟踪中的噪声干扰是影响跟踪精度的主要因素.在目标跟踪过程中,噪声主要来源于两方面:一是系统和传感器的固有噪声,另一是目标周围背景的干扰.这些干扰造成的后果是目标像元可能被误判为背景像元,而背景可能被误判为目标像元.本文针对在图像目标跟踪中由光的统计本质和图像传感器中光电转换过程引起的光电子噪声对跟踪型心计算的影响,分析了在服从泊松分布的光电子噪声影响下的目标质心估计的误差模型.1 噪声模型经常影响图像质量的噪声源可分成3类[2]:①感光片颗粒噪声.②电子噪声.③光电子噪声.感光片颗粒噪声是由于感光片上颗粒本身大小的不同以及每一颗粒曝光所需光子数目的不同引起的.照片上光滑细致的影调在微观上呈现一个随机的颗粒性质,对于多数应用,颗粒噪声可用高斯过程(白噪声)作为有效模型.电子噪声是在阻性器件中由于电子随机热运动而造成的,它是3种噪声模型中最简单的,一般常用零均值高斯白噪声作为其模型,它具有一个高斯函数形状的直方图分布以及平坦的功率谱.光电子噪声是由光的统计本质和图像传感器中光电转换过程引起的.在弱光照的情况下,其影响更为严重,此时常用具有泊松密度分布的随机变量作为光电噪声的模型.在光照较强时,泊松型分布趋向更易描述的高斯分布.2 跟踪误差模型D.R.Van Rheeden和R.A.Jones在如下假设下提出了两种描述噪声影响的目标质心估计的误差模型[3].假设条件为:①目标的形状可以是任意的;②目标完全地包括在目标窗内;③目标像元的误判概率等于背景像元的误判概率,即P r(d b/T)=P r(d r/B)=P r(e);④附加噪声是独立同分布的高斯白色噪声.Ξ收稿日期:2002-07-30 基金项目:二炮科研资助项目(EP2002-062). 作者简介:张根耀(1967- ),男,陕西人,讲师,博士生,主要从事计算机软件理论与图像处理应用的研究.2.1 简化的目标质心估计误差模型 在上述假设条件下,该模型为 x t=x t-^x t, E{ x t}=[x t-(N b/N t)x b]P r(e), Var{ x t}=[N tg/N2t]r2y[P r(e)-P2r(e)],(1)式中, x t为目标质心估计误差;x t为目标质心的实际位置;x b为目标窗口内背景的质心;^x t为目标质心估计值;N b为目标窗口内背景像元的实际个数;N t为目标窗口内目标像元的实际个数;N tg为目标窗口内所有像元的总数;P r(e)为一个像元发生误判的概率;r y为目标区关于x=x c轴的旋转半径,定义为 r2y=∑(i,j)∈TG ∑(i-x c)2N tg,(2)x c为目标窗口的质心坐标.2.2 扩充的目标质心估计误差模型 在上述假设条件中,修改第③条为“目标像元的误判概率P r(d b/T)不等于背景像元的误判概率P r(d t/B)”,即P r(d t/B)≠P r(d b/T),可得扩充的目标质心估计误差模型为 x t=x t- x t, E{ x t}N b P r(d t/B)(x t-x b)N t[1-P r(d b/T)]+N b P r(d t/B),Var{ x t}∑(i,j)∈T∑i2[P r(d b/T)-P2r(d b/T)]+∑(i,j)∈B∑i2[P r(d t/B)-P2r(d t/B)]{N t[1-P r(d b/T)]+N b P r(d t/B)}2.(3)在上述2模型中,扩充的模型近似程度比较高,较好地反映了实际情况,但公式繁琐,计算复杂不便分析.简单模型由于作了比较大的近似,结论比较简单,但它与实际情况有一定差距,其规律也不明显.2.3 光电子噪声下的简化误差模型 考虑了分割误差后的质心估计公式为 ^x=∑(i,j)∈T∑i・[1-n(i,j)]+∑(i,j)∈B∑i・n(i,j)∑(i,j)∈T∑1+∑(i,j)∈B∑n(i,j)-∑(i,j)∈T∑n(i,j),(4)式中,T是目标窗口内所有目标像元的集合;B是目标窗口内所有背景像元的集合;n(i,j)是服从泊松分布的随机变量.有[4] P{n=k}=λk e-kk!, (k=0,1,2,…,N tg;λ>0).(5)当N tg足够大时,有E{n}≈λ.(6)在(4)式中,分母中含有n(i,j),统计分析比较困难,用分母的期望来代替它.令D=∑(i,j)∈T ∑1+∑(i,j)∈B∑n(i,j)-∑(i,j)∈T∑n(i,j), E{D}=N t+∑(i,j)∈B ∑E{n(i,j)}-∑(i,j)∈T∑E{n(i,j)}≈N t+λ(N b-N t).(7)把式(7)近似作为分母代入式(4)得 ^x=∑(i,j)∈T∑i・[1-n(i,j)]+∑(i,j)∈B∑i・n(i,j)E{D},则 x=x t-^x t=E{D}x t-∑(i,j)∈T∑i・[1-n(i,j)]-∑(i,j)∈B∑i・n(i,j)E{D},对上式取期望值有 E{ x t}=E{D}x t-∑(i,j)∈T∑i・(1-λ)-∑(i,j)∈B∑i・λE{D}=E{D}x t-N t x t(1-λ)-N b x bλE{D}=λNb(x t-x b)N t+λ(N b-N t).(8)当N tµ(N b-N t)λ时,有604云南大学学报(自然科学版) 第25卷 E{ x t }=N b N t λ(x t -x b ).(9)3 光电子噪声下的误差模型分析对于误差模型,从实验中可以看出,Var { x t }变化不大,而较大的误差是由E{ x t }偏移较大引起的,因此,为了提高估计精度,首先必须减小E{ x t }.通过对推导出的模型进行分析,可得:(1)当目标窗口的中心和目标的质心靠得越近,E{ x t }越小.因为,窗口的中心越靠近目标质心,背景的质心x b 也将越靠近目标的质心x t ,即x t -x b 越小.在窗口的大小不变的情况下,E{ x t }与(x t -x b )成正比.(2)目标窗口内包含的目标像元越多,包含的背景像元越少,则N b /N t 也越小.这样在背景质心x b 和目标质心x t 距离不变的条件下,E{ x t }也越小.在目标跟踪的实施过程中,N b /N t 不宜改变,这是因为在一定的预测条件下,为了不失去目标,窗口尺寸不能太小.如果窗口尺寸太小而失去或部分失去目标将导致质心估计的严重偏差.同时,目标窗口的中心位置对误差的影响也比较大,因为误差的均值直接正比于(x t -x b ),而x b 与窗口的中心有很大关系.目标窗口的中心往往是由前帧图像的目标形心经过某种算法预测得到的,因此,在算法选择中要注意算法的精度.参考文献:[1] 李智勇,沈振康,杨卫平,等.动态图像分析[M ].北京:国防工业出版社,1999.[2] KENN ETH R C.数字图像处理[M ].朱志刚,等译.北京:电子工业出版社,1998.[3] Van RHEEDEN D R ,JON ES R A.Noise effects on centroid tracker aim point estimation[J ].IEEE Trans On AES -24,1988,(3):177—185.[4] 常柏林,卢静芳.概率与数理统计[M ].北京:高等教育出版社,1993.The goal tracking error model analyses under photoelectron noiseZHAN G G en 2yao 1,ZHAO Z ong 2tao 2(1.Department of Computer Science ,Northwest University ,Xi ’an 710069,China ;2.402Division of the Second Artillery Engineer College ,Xi ’an 710025,China )Abstract :The major factor of influencing identification accuracy and trail precision in moving goals distin 2guishing and trailing is noise disturbing.Aiming at the infection of photoelectron noise ,the error estimated model was figured out and the analyses on this model are introduced.K ey w ords :goal track ;centroid of gray scale ;photoelectron noise ;goal pels ;backdrop pels 704第5期 张根耀等:光电子噪声下的目标跟踪误差分析。
光学无损检测中的载波技术及其在舰船油泵变形测量中的应用陆鹏
【期刊名称】《舰船科学技术》
【年(卷),期】2006(028)004
【摘要】舰船用大型柴油机由于其效率高,输出功率大,工况恶劣,因而对于其多种零部件进行强度和应力分析显得十分迫切.本文运用先进的激光电子散斑干涉及上载波技术,实现了柴油机油泵体模型变形的无损测量.这一光学技术具有全场显示、非接触、高灵敏度和不用显定影等一系列优点,特别适用于柴油机零部件刚度强度的分析.本文将这一技术应用在油泵的离面位移测量研究上,不但得到了油泵在压力作用下的离面位移,还和有限元进行了比较,这一方法将在舰船主动力--柴油机研究领域有着广泛的应用前景.
【总页数】4页(P79-81,85)
【作者】陆鹏
【作者单位】中国船舶重工集团公司第七一一研究所,上海,200090
【正文语种】中文
【中图分类】O348
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电子技术• Electronic Technology76 •电子技术与软件工程 Electronic Technology & Software Engineering【关键词】光电检测电路 噪声分析 噪声处理在采用光电检测技术对电路噪声进行检测的过程中存在一些问题,最大的影响因素便是电路所致,在产生噪音的过程中电路器件是主要影响因素,此外还与器械设备运行有较大关系。
由此可以看出,在进行光电检测电路时,需要对光电检测电路进行有效的分析,只有这样才能解决电路噪音问题,这就需要在光电检测电路设计的基础上,对噪声产生噪声原因实施深入分析,并采取有效措施实施解决。
1 光电检测电路概述光电检测电路主要是由输入电路、光电探测器以及前置放大器等部件构成,其中光电探测器主要是对光电信号实施有效转换,可将光信号转化为电信号;输入电路一般情况下能够为光器件顺利工作提供基础,与前置放大器相匹配;前置放大器最大作用便是对信号进行放大,主要是因为电信号相对较弱,需要通过放大器进行放大,并在此基础上与后置处理电路实时匹配。
在光电检测电路中,光电探测器是整个检测过程中的重要部分,可对光信号实时转换,由此可以看出,光电探测器性能直接决定检测精确度,但是因市场中光电探测器种类较多,并且性能参差不齐,因此在选择的过程中,需要根据实际情况选择高质量、高性能的产品,只有这样才能确保检测结果质量。
2 光电检测系统的组成光电检测器系统作用是对需检测设备的物理量实施全面检测,在对线路进行检测的过程中,需要通过光电探测器将设备信号转化为光信号,再采取有效措施,将光信号变为电信号,以此完成检测过程。
光电检测系统主要包括以下几个方面:(1)光源光电检测系统在检测的过程中,需要对被检测物体采集信号信息,这就需要以光源为基础,对不同设备进行检测的过程中,光电检测电路噪声分析与噪声处理文/胡波需要通过不同的光源来完成,比如自然光源、人工光源等。
光电探测器中的噪声分析与控制研究光电探测器是一种将光信号转换为电信号的电子元件,其具有快速响应、高检测灵敏度、易于集成等优点,在广泛的应用领域中都有着不可替代的地位。
但是,由于其内部存在各种噪声源的干扰,其检测精度会受到一定程度的影响,因此噪声分析与控制成为了光电探测器研究的重要内容之一。
一、噪声源与分析光电探测器中存在的噪声源包括热噪声、暗电流噪声、光电转换噪声和接触噪声等。
其中,热噪声是由于温度引起的电子热运动造成的,其大小与电阻、温度、带宽等因素密切相关。
暗电流噪声则由于探测器内部的杂散电荷电子或杂质电离子引起的,其大小与探测面积、温度等因素有关。
光电转换噪声是由于探测器的光电转换过程中引入的噪声,其大小与光功率、暗电流等因素有关。
接触噪声则是由于探测器的接触电阻发生的涨落效应,其大小与电压、电流等因素有关。
在噪声源的分析方面,通常采用功率谱密度分析法。
该方法将信号分解为各个频率的功率,通过功率分布区间的比较分析,可以判断哪个频率段的噪声源对信号的干扰更为严重,从而确定对应的处理方法。
二、噪声控制方法针对不同的噪声源,光电探测器的噪声控制方法也存在着差异。
以下是一些常见的噪声控制方法:1. 热噪声控制:降低电阻值、降低运放噪声、增大传感器体积等。
2. 暗电流噪声控制:降低温度、增强探测器的表面电势等。
3. 光电转换噪声控制:选择合适的光源、提高光栅效率等。
4. 接触噪声控制:探测器的电极自对准可以减小接触噪声,电极表面金属镀层可以降低噪声。
此外,噪声控制还可以通过信号处理和系统优化等方法实现,例如使用滤波器、差分放大电路等增强信号的有效部分,或者通过系统布局、防抖动设计等措施,降低噪声对整个系统的影响。
三、应用案例噪声分析与控制在光电探测器的各个应用领域中都有着重要的意义。
以生命科学领域中的多色荧光成像技术为例,该技术需要选取适当的探测器,以保证能够同时识别多种颜色的荧光信号。
如果探测器的噪声干扰较大,就会导致成像质量下降。
第22卷 第1期2014年1月 光学精密工程 Optics and Precision Engineering Vol.22 No.1 Jan.2014 收稿日期:2013-08-09;修订日期:2013-10-11. 基金项目:中国科学院长春光学精密机械与物理研究所三期创新工程资助项目(No.061X20C060)文章编号 1004-924X(2014)01-0085-07大口径光电探测设备主镜晃动的误差补偿孙 航1,2*,张海波1,曹立华1,耿爱辉1(1.中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,吉林长春130031;2.中国科学院大学,北京100039)摘要:针对大口径光电探测设备在随俯仰角变化时由于主镜支撑点的变化而产生的晃动,研究了在静态测量时如何补偿主镜晃动造成的误差以提高大口径望远镜的静态测量精度。
首先给出了一个1m口径望远镜的支撑结构和力学模型,在分析了传统三轴误差补偿方法和球谐误差补偿方法的基础上提出了针对大口径望远镜的误差补偿方法。
在外场对光测设备进行了标校实验,选取32颗恒星在修正了蒙气差后对各个系统差进行求解,得出了主镜晃动误差和三轴差。
与传统误差补偿方法的比较结果显示:加入主镜晃动误差补偿后,望远镜的静态测量精度从15.4″提高到了2.5″。
此种方法物理意义明确,各误差分量重复性好,对主镜晃动误差进行补偿修正后提高了大口径望远镜的静态测量精度。
关 键 词:大口径望远镜;主镜晃动;曲线拟合;误差补偿;修正模型中图分类号:TH743 文献标识码:A doi:10.3788/OPE.20142201.0085Error compensation for primary mirror shaking of large apertureoptical detection equipmentSUN Hang1,2*,ZHANG Hai-bo1,CAO Li-hua1,GENG An-hui 1(1.Changchun Institute of Optics,Fine Mechanics and Physics,Chinese Academy of Sciences,Changchun130033,China;2.University of Chinese Academy of Sciences,Beijing100039,China)*Corresponding author,E-mail:ciompsunh@163.comAbstract:Large aperture optical detection equipment has the shaky with its elevation angle changingwhen the support point of primary mirror changes.This paper studies how to compensate the measur-ing errors caused by the primary mirror shaking and to improve the static measuring accuracy of thelarge aperture optical detection equipment.Firstly,the supporting structure and mechanic model of a1mdiameter telescope were presented.Then,a new error compensation method for the large aperturetelescope was proposed based on the analysis of the traditional three axis error compensation methodand spherical harmonic error compensation method.The calibration experiments for the optical detec-tion equipment was performed.By selecting 32stars whose refractions had been revised,the error ofeach system was solved to obtain the primary mirror shaking error and the three axis difference.Ascomparison with the traditional error compensation method,it shows that the static measurement ac-curacy of the telescope has increased from 15.4"to 2.5after the shaking error of the primary mirror iscompensated.It concludes that the physical meaning of this method is clear,and each error componenthas good repeatability.It improves the static precision of large aperture telescope by compensating theshaking errors of primary mirror.Key words:large-aperture telescope;primary mirror shaky;curve fitting;error compensation;correctmodel1 引 言 光电探测设备利用光学成像原理可以测量空间目标的大小、位置等信息,因此成为靶场的重要测量手段之一。
基于光电二极管反偏的光电检测电路的噪声分析作者:凌茂真马华平谷顺虎来源:《科学与信息化》2020年第27期摘要光电二极管在目前的电力设备元件中有着重要的应用,其性能、状态等对设备的稳定、安全等有着重要的影响,所以在实践中需要关注光电二极管的相关内容分析。
从目前掌握的资料分析来看,噪声性能会对光电检测电路探测能力起到限制作用,所以在噪声普遍存在的情况下,检测电路的整体能力无法有效提升,因此在实践中需要做好噪声的分析与解决。
通过不断的实践分析发现基于光电检测电路的结构可以将电路等效为观点,而极端、晶体三极管和运算放大器,对不同的模块进行分析可以进一步明确噪声的来源和影响因素,这样,各部分的输出噪声可以被准确计算,而基于噪声计算结果能够构建电路输出噪声的电压模型,基于电压模型确定参数,并对电路进行设计,这样可以得带具有低噪声特性的光电检测电路。
总之,文章对相关内容进行分析,旨在为实践提供指导和帮助。
关键词光电二极管;光电检测电路;噪声分析从目前掌握的资料来看,光电检测技术在诸多领域得到了应用。
就具体的利用分析来看,在理想的情况下,只要有足够光辐射信号的地方就可以使用光电检测电路进行信号的检测,但是当被检测信号比较弱的时候,信号往往会淹没在噪声中,所以信号检测的具体效果会大打折扣,基于此,对光电检测电路的噪声进行分析便有了突出的现实意义。
有研究人员通过实验分析了光电二极管的噪声,并基于研究成果提出了设计低噪声电路的原则和方法,对该内容做具体的分析并指导实践工作,实现工作实践中低噪声电路的设计和应用,这样,光电检测电路的具体利用效果会显著加强。
1 基于光电二极管反偏的光电检测电路设计对光电检测电路做具体的分析发现在电路应用实践中,光电二极管主要有三种基本的状态,分别是正偏、无偏和反偏。
当处在反偏状态的时候,反偏偏压会加快光生载流子运动,与无偏和正偏情况相比,反偏会产生更大的光电流,这种情况对于弱光环境检测是非常必要的[1]。
信息光学中的光电探测器噪声理论信息光学是研究光与信息的相互关系的学科,而光电探测器作为信息光学中的重要组成部分,其性能对于信息的获取和传输至关重要。
然而,在实际应用中,光电探测器的噪声问题一直是制约其灵敏度和精度的主要因素之一。
因此,深入理解和研究光电探测器噪声理论对于提高光电探测器性能具有重要意义。
1. 光电探测器噪声的来源光电探测器噪声可分为两部分,即内部噪声和外部噪声。
内部噪声主要包括热噪声、量子噪声和自激噪声,而外部噪声则是来自于环境、电源等外部因素的干扰。
热噪声是由于光电探测器本身的热激发引起的,量子噪声是由光子统计性质引起的,而自激噪声则是由于光电探测器中的反馈效应导致的。
2. 热噪声热噪声是光电探测器最主要的噪声来源之一。
在温度为T的热平衡态下,光电探测器会产生热激发的电子和空穴对,从而引起电流的涨落。
根据维纳-辛钦定理,热噪声功率谱密度与探测器本身的无源电阻和温度之间存在线性关系。
因此,减小探测器的无源电阻或者降低探测器的工作温度,都可以有效地减小热噪声的影响。
3. 量子噪声量子噪声是由于光子的随机性质引起的噪声。
根据光子统计的特点,光电探测器接收到的光信号在短时间内会产生涨落。
量子噪声的大小与光子数的统计涨落有关。
量子噪声与光电探测器的探测效率相关,当探测效率提高时,量子噪声的对信噪比的影响逐渐减小。
4. 自激噪声自激噪声是由于光电探测器中的反馈效应引起的噪声。
在某些特定情况下,光电探测器的输出信号被传回输入端,从而形成自激振荡。
自激噪声会导致探测器的输出信号产生非线性失真,降低信号的质量。
5. 噪声的统计和分析方法为了更好地理解和优化光电探测器的噪声性能,需要采用一些统计和分析方法来研究。
常见的方法包括功率谱密度分析、自相关函数分析、功率谱密度平均值和标准差分析等。
6. 噪声降低方法针对光电探测器噪声问题,研究人员和工程师提出了一系列的噪声降低方法。
常见的方法包括降低工作温度、优化探测器结构和材料、改进前端放大电路设计等。
光电检测电路的噪声分析与处理的开题报告
一、选题背景
光电检测技术在现代工业、医学、环保等领域有着广泛的应用,而光电检测电路主要用于信号的处理和放大,为探测器提供电源和参考电平等。
然而,光电检测电路中常常面临噪声问题,且噪声常常存在于信号处理和传输的整个过程中,对检测结果产生较大的影响。
因此,本开题报告旨在探究光电检测电路中噪声的产生机理及其分析、处理方法,为光电检测技术的应用提供有益的参考。
二、选题意义
1.提高光电检测技术的精度
对光电检测电路中的噪声进行分析和处理,能够降低电路的噪声干扰,提高信号的可靠性和准确性,从而提高光电检测技术的精度和应用价值。
2.促进光电检测技术的发展
光电检测技术在医学、环保、工业等领域有着广泛的应用,而探究光电检测电路中噪声的产生机理及其分析、处理方法,能够帮助人们更好地理解光电检测技术,促进其发展和应用。
三、研究内容和方法
1.研究内容
(1)光电检测电路中噪声的产生机理分析
(2)光电检测电路中噪声的分类
(3)光电检测电路中噪声的测试方法
(4)光电检测电路中噪声的处理方法
2.研究方法
(1)文献研究法
通过查阅相关文献,了解光电检测电路中噪声的产生机理和分析、处理方法,并梳理已有研究成果。
(2)实验研究法
通过搭建光电检测电路,对电路中的噪声进行测试,采用合适的处理方法降低噪声干扰,评估降噪效果。
四、预期成果
通过本研究,能够掌握光电检测电路中噪声的产生机理及其分析、处理方法,提高电路的可靠性和精度,为光电检测技术的应用提供有益的参考。
同时,本研究成果可为光电检测技术在医学、环保、工业等领域的应用提供理论和技术支持,促进其发展和应用。
基于LMS(自适应滤波)算法下光电检测的噪声分析与处理技术研究摘要:光电检测技术作为一种高效检测方法,得到了广泛应用。
在实际情况里,光电检测电路中存在噪声,这在很大程度上影响了检测结果的准确性。
在此基础上,本文首先介绍了光电检测电路,然后分析了LMS自适应滤波方法,分析了光电检测电路中的主要噪声,并研究了光电检测电路的噪声处理技术。
关键词:LMS,光电检测,噪声,滤波0.引言光感应器包括预先接受电磁干扰的回路、带电线的放大器和光电检测器。
光电检测器是传送电子信号的重要工具,可用来将可测量的信号传送到特定的电信号。
尽量利用发光分析中所描述的信息。
把它们与先前参数不同的电路比较一下。
电信号是来自其它电路的,这些电信号经常发生故障,要增强它,并补充电路。
电灯开关是传输时间信号的重要材料,影响了测量的准确度。
由于市场上影像探测器的型号和表现是比较的,因此将它们与测试的准确度进行比较是很重要的。
1.LMS算法概述如图1说明了自适应过滤器原理,x(n)输入电子序列,输出y(n)和d(n)为“预想行为”,并定义了错误值。
图1 自适应滤波原理图该算法运行得最快,它能够成为复杂的问题,并且不需要人工监控,可以随时待命像,可惜的是输入数据的统计特征影响了平均速度。
这些都是基本的(1)过滤过程,当有输入向量X(n)时,计算误差值e(n)时,将系统的y(n)差值与设备发出时预计的d(n)差值考虑在内。
(2)适应性过程,因为一个E[e2(n)的发音可以在过滤器中调整载重向量W(n),所以是同一组合,并结合了图1所包含的集合和回馈结构。
为方便起见,将图1采用向量形式表示权系数及输入信号,则e(n)表示为:2.光电检测电路的噪声分析2.1噪声来源在转换过程,光电探测器的光波和电信号会产生一些无用的电流和电压噪声。
随机噪音从自然的角度来看,具有非常明显的波动形式,相位和振幅瞬时无序变化,具有独特的特征。
换言之,很难准确测量噪音,他们通常只能规范统计理论和方法。
光电探测器中的噪声建模与分析在光电探测器的应用中,噪声一直是一个重要的问题。
为了提高探测器的性能和减少噪声的影响,研究噪声建模和分析显得尤为必要。
本文将从光电探测器噪声的来源、噪声量化和分析、噪声特征建模等方面进行探讨。
一、光电探测器噪声的来源在光电探测器应用中,噪声源主要包括探测器本身和其周围环境。
首先是探测器本身引起的噪声,主要包括暗电流噪声、光电流噪声和放大器噪声。
暗电流噪声是探测器在没有光照射时由于内部缺陷、掺杂不均匀等因素引起的电子流噪声。
光电流噪声是由于光子到达探测器表面产生的电子与探测器材料中自由电子相互作用而产生的电流噪声。
放大器噪声是指探测器输出信号经过放大器放大后引起的噪声。
其次是周围环境引起的噪声,主要包括热噪声、辐射噪声和电源噪声。
热噪声是由于周围环境的热原子碰撞探测器表面产生的噪声。
辐射噪声是由于来自周围辐射源的电磁波干扰探测器表面引起的噪声。
电源噪声是由于电源本身电信号质量差引起的噪声。
二、噪声量化和分析光电探测器噪声的量化和分析涉及到噪声谱的计算和分析。
噪声谱是指随频率变化的噪声功率密度,常用的噪声谱有功率谱密度(PSD)和自相关函数(ACF)。
其中,PSD是噪声功率谱密度,它描述了噪声在频域上随频率的分布。
而ACF是关于时间的二阶矩,用于描述噪声的时间相关性。
噪声谱的计算主要有两种方法:时间域方法和频域方法。
时间域方法主要是利用自相关函数计算噪声谱,而频域方法则是利用噪声分析仪通过傅里叶变换将时间域信号转换为频域信号,再计算噪声谱。
通过噪声谱的计算和分析,可以得到噪声的频带范围、峰值和分布等信息,为探测器的设计和调试提供了重要的参考。
三、噪声特征建模针对光电探测器噪声的特征,常用的噪声建模方法有白噪声模型、色噪声模型和随机行走噪声模型。
白噪声是指在所有频率上功率谱密度相等的噪声,它是噪声的最基本形式。
色噪声则是在一定范围内功率谱密度不均匀的噪声,它包括了不同频率上的噪声分布信息。