测厚仪操作说明 ppt课件
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测厚仪的使用方法
测厚仪是一种广泛应用于工业生产中的非破坏性检测设备,用于测量材料表面的厚度。
它主要适用于金属、塑料、陶瓷等材料的测量。
下面是测厚仪的使用方法。
1. 开机:将测厚仪按下开机键,此时设备开始预热,需要等待几秒钟。
2. 调整仪器:确定测量材料的类型,根据不同材料的声速和密度进行校正,然后选择要测量的测量范围。
3. 放置探头:将测厚仪的探头放置在要测的材料表面上,确保探头与表面垂直,并且没有杂质阻碍测量。
4. 测量:按下测量键,测厚仪会发出声波,声波穿过探头并进入被测材料,声波反弹回来后探头会接收到反弹的声波信号,并计算出材料的厚度。
5. 结果分析:测量结果将显示在仪器屏幕上,可以根据需求选择保存或删除数据。
6. 关机:使用完毕后,按下关机键,将测厚仪关闭,收起使用。
需要注意的是,测厚仪是一种高精度的仪器,使用时需要保持仪器的清洁和精度,避免碰撞和振动。
在使用过程中,可以根据不同的测量需求,选择不同的探头和测量模式,以达到最佳的测量效果。
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霍尼韦尔X光测厚仪系统操作说明测厚仪开始测量操作步骤:1、带材穿入前,在“换卷”画面输入合金号、目标厚度,点击“装载数据”,系统自动做标准化,18秒钟;(合金号见附表)2、切换到“数据显示”画面;3、穿入带材;4、在PLC触摸屏画面上,点击“测厚仪进入”按钮,测厚仪进入到正常工作位置;5、测厚仪进入工作位置后,在测厚仪触摸屏上点击“开始测量”按钮,测厚仪开始测量。
测厚仪结束测量步骤:1、在一卷轧制快要结束时,点击“停止测量”按钮,测厚仪停止测量;2、在PLC触摸屏画面上,点击“测厚仪退出”按钮3、测厚仪检测头退回到停止工作位置;[注]1、在带材尾部穿过工作辊前,把测厚仪检测头退出工作位置。
2、在当日班次结束后,若无后续班次,操作人员可以把操作台触摸屏电源关闭,以延长触摸屏使用寿命。
3.放射性安全要求:对扫描头进行维修保养时应使X射线快门关闭,即绿灯亮,红灯灭;当红灯亮时禁止将身体的任何部分放入两测量头间隙,或将眼睛贴近间隙观察;当红/绿灯都不亮时应通知维护人员处理常用显示内容在画面的顶部、底部和右侧,包括有:•标题栏(Title Bar) –位于画面的顶部,包含有系统当前状态的常用信息。
-生产线号(Line or Process Name)-菜单状态(Recipe State) –“启动”或“停止”-菜单名称(Recipe Name) –目前正在使用的菜单名称-x射线工作状态(Scanner Status) –“扫描”,“离板”或“离线”-时间和日期(Time/Date)• 垂直工具栏(Vertical Taskbar) – 位于画面的右侧,包含有常用的特定功能和显示的按键。
具体内容在后面描述。
•• 水平工具栏(Navigation Taskbar) – 位于画面的底部,包含有画面选择按键、目录选择菜单和一些较重要的系统状态报警信息。
具体内容在后面描述。
很多画面通常可以从水平工具栏调用,大部分的画面是 所有用户都可使用的, 一小部分 只给控制工程师(ControlEngineer)或开发人员(Developer)使用。
超声波测厚仪操作规程
一、开机,仪器先进行自检显示,1秒后,显示软件版本号,然后显示“0.000”,表明仪器就绪,可以正常使用。
如果屏幕闪烁或不显示,说明电池不足,应更换电池。
二、根据要测量材料的材质和材料的厚度,用上箭头键选择测量模式:E-E模式用于测量薄的材料(带有涂层的也选用此模式,而不用去除涂层),1-E模式用于测量比较厚的材料,PLAS模式用于测量塑料,AUTO是自动模式。
三、按CAL键进入校验模式,如果显示IN(MM),再按CAL键,使得IN/µs(M/s)闪动。
四、使用上下箭头键调节声速,直到数值变为要测量材料的声速。
五、再按CAL键,退出校验模式,仪器可以开始测量。
六、测量材料时,滴一滴耦合剂在被测试材料上,然后用探头紧密贴在测试材料的表面,仪器应显示6-7个竖条和一个数值,该值即为材料的厚度值。
少于5个竖条或读数不稳定,则测量值是错误的。
七、质量控制有时要求知道目标值与实际厚度的差别,可以利用差值模式进行测量,步骤如下:
1、开机,仪器自检。
2、按DIFF键,屏幕显示DIFFOFF或DIFF,然后是厚度值及单位。
3、重复步骤7.2,开/关差值模式。
4、假定显示DIFF开,MM闪动,使用上下箭头输入目标厚度。
5、按SEND键确定后,即可以使用差值功能进行测量,具体操作如步骤6。
6、要解除差值模式,再按SEND键。
八、每次测量完毕后,关机。
用干净的细布将探头上粘的耦合剂擦拭干净。
超声波测厚仪操作规程一.准备工作
1.超声波测厚仪属于国家强检的计量器具,使用前应检查仪器是否在有效检定期内,确认是否处于正常工作状态。
1.4如耦合标志闪烁或不出现说明耦合不好,应重新校准后再测试。
2.声速测试
2.1用游标卡尺或千分尺测量相关试件,准确读取其厚度值。
2.2按PRB键进入校准状态,在随机试块上涂上耦合剂,将探头与随
机试块耦合,屏幕显示的横线将逐条消失,直到屏幕显示随机试块的实际厚度值即校准完毕。
2.3将探头与已知厚度试件耦合,直到显示一厚度,用▲或▼键将显示值调整到实际测试的厚度值。
厚度测量仪使用说明书使用说明书1. 引言感谢您选择我们的厚度测量仪。
本使用说明书将详细介绍仪器的使用方法、注意事项和维护保养等内容,帮助您正确高效地使用该设备。
2. 产品概述2.1 产品名称:厚度测量仪2.2 适用范围:该仪器可用于测量各类材料的厚度,如金属、塑料、橡胶等。
2.3 主要特点:- 高精度:采用先进的测量技术,具有极高的测量精度。
- 易操作:简单直观的操作界面,易于上手。
- 多功能:支持多种测量模式和单位,满足不同需求。
- 轻便便携:小巧轻便的设计,方便携带和使用。
3. 使用方法3.1 准备工作在开始使用厚度测量仪之前,请确保:- 仪器已充电或连接电源。
- 测量探头已经插好,并固定在需要测量的表面上。
- 选择合适的测量模式和单位。
3.2 测量步骤以下为一般的测量步骤,具体操作细节可能因仪器型号略有不同,请参考实际仪器的说明书。
步骤1:打开电源,启动仪器。
步骤2:选择测量模式和单位,根据需要调整相关参数。
步骤3:将测量探头对准待测表面,确保与表面保持接触。
步骤4:触发测量,等待测量结果显示在屏幕上。
步骤5:记录测量结果,可以进行多次测量取平均值以提高准确性。
步骤6:完成测量后,关闭仪器并合理存放。
4. 注意事项4.1 安全使用- 请勿将测量仪用于禁止使用的环境或材料上,以免造成设备损坏或测量结果不准确。
- 使用过程中请注意避免接触到物体表面的尖锐、粗糙物品,以防刮伤探头或影响测量结果。
- 若测量过程中出现任何异常情况,请立即停止使用,检查原因并联系维修部门。
4.2 保养维护- 定期检查并清洁探头,保持其表面的清洁与光滑。
- 请勿随意拆卸或更换仪器零部件,以免影响性能或导致设备损坏。
- 长期不使用时,请妥善存放在干燥、通风的环境中,避免高温、潮湿等条件。
5. 常见问题解答在使用厚度测量仪的过程中,您可能会遇到以下问题,请参考以下解答:Q:仪器显示不正常,无法正常启动。
A:首先确保电源充足,并检查电池连接是否良好。
测厚仪基本操作规程测厚仪基本操作包括三个部分,第一部分是开启、停止;第二部分是校准,包括零位校准、框架校准、标准膜测试等;第三部分是维护操作,比如更换铝膜、上下探头对中(对中将单独列出详细介绍)等,下面将详细介绍以上具体操作方法:第一部分<1>开启1、打开测厚仪主电源开关,并一秒钟后按下安全急停按钮,如果一切正常(左侧为远端控制、右端为本地控制),此时测厚仪开始自检;2、待测厚仪开机自检完毕以后,按shift+home+enter组合键,将测厚仪归回home位置,显示器显示“MOVEMENT”,当回到home位置后,其会自动停止(注意有时开启牵引时会出现测厚仪未归回home位置报警,此时需要手动推动其归位);3、当测厚仪归回到home位置后,按下scanning+enter组合键,数秒后扫描运行指示灯亮起,扫描探头开始来回扫描测量,显示器小视窗显示实时扫描厚度。
<2>停止1、当遇到破膜或者停机时,需要及时停止测厚仪,按下shift+home+enter组合键,测厚仪将自动停止扫描并回到home位置,此时扫描指示灯熄灭;(注意在测厚仪回到home位置过程中要及时清除探头间的废膜及厚片,以免伤到铝膜)2、当测厚仪回到home位置以后,如果是长时间停机,则可以关掉测厚仪电源,如果是短时间停机,则让其处于待机状态。
第二部分<1>零位校准:通常当我们更换完测厚仪铝膜后,或者测量曲线出现波动的时候,我们有必要对测厚仪进行零位校准。
1、首先将测厚仪归位到home位置;2、按下shift+zero+enter组合键,对测厚仪进行0位校准。
显示器依次显示“ZERO(offset)”、“ZERO(Gain)”、“GAIN------(XXXXX)”。
注:此过程耗时较长,(其中XXXXX为一个数值,例如8896)。
3、当做完零位校准后,需要对测厚仪进行扫描测试,按下scanning+enter组合键,显示器显示“SCANNING”,当扫描开始时,显示器将显示实际测量数值,因为没有膜,所以在整个来回扫描过程中数值都应该为“0.0”,如果不全为零,有必要重复第二步操作再次校准,直到扫描值都为零;(注意有时如果上下探头没有对齐,在做零位校准时可能会出现始终无法归零的情况)4、最后将测厚仪归位home位置。
一.仪器用途荧光测厚仪FISCHERSCOPE X-RA Y用于测量涂镀层厚度及成分,分析合金成分,测量镀液主盐离子浓度。
二.开机及关机步骤1.开机步骤1)开启仪器电源;2)开启打印机和计算机;3)5分钟左右后打开高压钥匙开关(仪器长时间不用[特别是冬天],要30分钟打开高压钥匙开关);4)打开FTM软件,按“确定”完成开机步骤。
2.关机步骤1)关闭FTM软件;2)关闭高压钥匙开关;3)关闭仪器电源;4)关闭计算机及打印机。
三.测量准备1.预热仪器为了保证测量的精确性和稳定性,仪器开启后必须进行充分的预热。
预热方法如下:完成正常的开机步骤后,点击图标进入“光谱”子程序。
按动图标开始不间断测量。
30分钟后按动图标停止测量,再按动图标退出“光谱”子程序后,即完成预热过程。
2.测量基准注意:这个步骤非常重要。
注意:在进行测量基准之前,必须先预热仪器。
因为仪器是以元素Ag为基准进行测量的,所以必须精确定位元素Ag的位置,不能偏移。
一般说来,一个星期做一次“测量基准”就可以了。
(也可以每天都做)(仪器是以Ag为基准,如果Ag的光谱偏移了,则其它金属元素的光谱也跟着偏移)测量基准步骤如下:1)将元素Ag置于工作台上,调整其位置并聚焦清晰,使其清楚显示在视频窗口十字线中央。
2)选择菜单“一般—→测量基准”,按动“开始测量基准”按钮开始测量基准。
3)Ag测完之后,会提示放入原素Cu,(将元素Cu置于工作台上,使其显示在视频窗口十字线中央。
在按确定。
4)测量基准结束时,显示“基准测量完成,接受?”信息,按“确定”完成测量基准。
(如果显示“不需要做基准测量”信息,则按“确定”,再按“取消”退出即可。
)四.进行测量1.完成开机步骤,并进行预热及基准测量后,就可以开始测量样品了。
2.进行测量的步骤如下:1)根据待测样品的镀层情况,点击菜单“产品程式—→选择...或点击”选相应的产品程式。
2)将样品置于工作台上,调整其位置并聚焦清晰,使其清楚显示在视频窗口十字线中央。
1. 概述 (4)2. 基本操作 (4)2.1 初始设定 (4)2.2基本操作 (5)2.3电池 (6)3. 设定与校验 (6)3.1本系统内部储存15种探头设定记忆和16种用户定义设定方式。
(6)3.2选择标准的登录设定方式。
(6)3.3校验 (7)3.3.1音速与零点校验 (8)3.3.2音速校验 (9)3.3.3调零校验 (10)3.4常规设定 (11)3.4.1常规设定制作 (12)4. 其它测量功能 (16)4.1高低报警功能 (16)4.1.1定义 (16)4.1.2操作 (17)4.2自动关闭 (18)4.2.1定义 (18)4.2.2如何浏览或更改自动关闭时间 (18)4.2.3取消自动关闭功能 (18)4.3蜂鸣功能 (19)4.3.1定义 (19)4.3.2 如何设定蜂鸣功能 (19)4.4 厚度数据保留或空白显示功能 (19)4.5校验锁定功能 (19)4.5.1定义 (19)4.5.2 如何锁定校验 (19)4.6厚度差显示 (20)4.6.1定义 (20)4.6.2操作 (20)4.7语言 (22)4.7.1定义 (22)4.7.2操作 (22)4.8测量数据显示更新速率 (22)4.8.1定义 (22)4.8.2操作 (22)4.9最小厚度显示 (23)4.9.1定义 (23)4.9.2操作 (23)4.10最大厚度显示 (25)4.10.1定义 (25)4.10.2操作 (25)4.11小数点 (26)4.11.2操作 (26)4.12快速设定 (26)4.12.1定义 (26)4.12.2操作 (26)4.13测量复位 (27)4.13.1定义 (27)4.13.2 操作 (28)4.14高级复位 (28)4.14.1定义 (28)4.14.2操作 (28)4.15 显示分辨率(小数点) (29)4.15.1 定义 (29)4.15.2 操作 (29)5. 画面显示形式 (29)5.1 概要 (29)5.2 背光灯 (30)5.3 对比度 (30)5.4 测量仪屏幕(见原文) (31)6.数据存储器和通讯功能 (42)6.1数据存储器 (42)6.1.1能储存什么? 储存多少? (42)6.1.2 数据储存在哪里?(识别号码) (44)6.1.3数据如何储存:数据记录器的构成 (44)6.1.4数据储存 (45)6.1.5删除已存数据 (46)6.1.6 ID浏览方式 (49)6.1.7编辑ID号 (49)6.1.8在测量时空白显示ID号 (52)6.1.9数据存储器复位 (53)6.2通讯连接 (53)6.2.1电缆 (53)6.2.2通讯参数 (54)6.2.3数据传输 (55)6.2.4输出统计 (56)6.2.5数据输出格式 (58)6.2.6通讯复位 (58)7.技术规格 (59)7.1测量方式 (59)7.2校验 (61)7.3应用设定 (61)7.3.1定义 (61)7.3.2设定方法 (61)7.4一般规格 (63)7.5电池及充电器 (63)7.6数据储存 (63)7.8特殊功能 (65)8.电池 (67)8.1概要 (67)8.2充电 (67)8.3更换电池 (67)8.4其它电池 (67)9.动作原理 (68)10.使用注意事项 (73)10.1测量方式和传感器的选择 (73)10.2影响性能和精确度的因素 (74)10.3接触介质 (76)10.4高温下测量 (77)10.5电缆长度 (77)10.6 电脑显示器显示波形 (77)10.7 脉冲振荡器/接受器和门脉冲调节 (78)10.7.1脉冲振荡器输出 (79)10.7.2最大增益 (79)10.7.3初始增益 (79)10.7.4发送脉冲间隔 (80)10.7.5回波触发脉冲 (80)10.7.6检测方式 (81)10.7.7回波1、回波检测2 (81)10.7.8表面间隔 (81)10.7.9方式3回波间隔 (82)10.7.10 TDG斜率 (82)11.维护及故障对策 (82)11.1日常使用及维护保养 (82)11.2探头 (83)11.3电池的管理 (83)11.4错误显示 (83)11.5其它故障显示 (83)11.5.1电池及充电器故障 (83)11.5.2测量问题 (84)11.6自诊断试验 (84)11.6.1显示试验 (84)11.6.2键盘试验 (84)11.6.3硬件试验 (85)11.7软件更新 (85)11.8客户服务 (85)11.9维修服务 (85)11.10备件更换 (85)1. 概述此测厚仪是一种较为先进的手持式超音波测厚仪器,特别适用于高屏蔽,高散射材料,如:玻璃纤维,低密度塑料,复合物及铸造金属等的厚度测量.此设备采取脉冲反射技术,用于被测量物的两厚度方向上端面不易测量时的情形,也可用于测量固体或液体中的音速及脉冲传输时间.此仪器极易操作,准确度高,可重复进行操作,它的三种主要探头测量方法是:接触式、延迟式、浸入式。