S4800扫描电镜操作说明书
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HITACHI H-7650 透射电镜操作规程编号: QW148 HITACHI S4800扫描电子显微镜操作规程样品准备及要求:1.含水样品测试前必须干燥,样品要尽量的小,多孔样品做之前一般要烘两到三天;2.粉末样品测试时尽量用最少量的样品,否则容易使电镜污染;3.严禁观察磁性样品;4.样品须处于样品台中央位置,样品表面平坦,样品厚度不可太大。
操作步骤:一、开机顺序1. 开墙上主机电源的开关,开启冷却循环水;2. 将仪器后面板处的主电源开关(Main Power) 打开,之后按下Reset键;3.启动Evac Power,等待TMP指示正常后顺序打开IP1、IP2 和IP3的电源开关:4.达到真空度要求后,开启操作台电源,PC机自动启动进入Windows操作系统,并自动运行S-4800操作程序,此时点击OK (没有密码)后自动进入S 4800操作软件。
二、样品安装1.在实验台上事先粘好样品,并用高度规检测其高度;2.装样品前确认工轴、WD,x,y以及Rotation是否复位(Z轴=8,WD=8,x=25,y=25,Rotation=0),如未复位,将其复位;3.点击样品交换室的Air键,当听到笛的一声后轻轻的拉开样品交换室;4.将样品杆手柄处于Unlock位置,把样品机座装于样杆的香蕉头处并转动手柄到Lock位置;5.轻轻推住样品交换室,点击Evac键,抽好真空后点市Open键,样品交换室与样品室间的闸门自动打开;5. 轻轻的推动样品杆的手柄将样品送至于样品台上,旋转手柄至Unlock, 拉出样品杆,最后点击Close关闭阀门,安装样品结束。
三、图像观察1.加高压后即可进行调试观察;2.首先在TV1模式下找到所要观察的区域;3.在高倍下用coarse键粗聚焦,然后用fine键细调聚焦,直到图像清楚;4.放回到观察倍数,用ABC或手动调到适合的对比度:5. 在SLOW模式下观察调试后的图像,不合适重新执行步骤2,3,若合适即可拍照。
一、介绍Hitachi S-4800场发射扫描电镜采用了新型ExB式探测器和电子束减速功能,提高了图象质量(15 kV下分辨率1 nm),尤其是将低加速电压下的图象质量提高到了新的水平(1 kV下1.4 nm);新型的透镜系统,提高了高分辨模式、高速流模式、大工作距离模式、磁性样品模式等多种工作模式,使其能够精确和清楚地捕捉最短暂的瞬间。
二、操作说明1.开机(1)日常开机:打开Display的开关,PC自动开机进入用户界面并自动运行PC_SEM程序,以空口令登入。
(2)完全关闭电源后开机:接通配电盘电源→拔上MAIN Swith 开关→按一下Reset按钮,→将MAIN控制面板上EVAC POWER按至ON,SC EVAC指示灯处于常绿状态后,等半小时→按下Display开关至ON, PC 自动开机进入用户界面并自动运行PC_SEM程序,以空口令登入。
2.图像观察(1)装入样品制样→把样品托装入样品座,并用标尺确定高度、旋紧→按AIR按钮→将样品座插在样品交换杆上,并锁紧→将交换杆拉至尽头卡紧,关闭交换室→按下EVAC按钮→按下OPEN 按钮打开MV-1后,推进交换杆,旋转样品杆UNLOCK位置后拉出交换杆→按下CLOSE 按钮。
(2)图像观察及保存SC真空恢复正常后(显示为L E-3)→选择适当的加速电压(Vacc)→加高压→在低倍、TV模式下将图像调节清楚→聚焦、消象散→Slow3确认图像质量→点击Capture按钮拍照→点击右下方Save按钮→选择保存位置、使用者及样品信息,保存。
(3)结束观察点击OFF按钮关闭加速高压→将放大倍率还原设至×1.00K→按操作界面上home使样品台回到初始位置→依照装入样品的方式反序取出样品。
3.关机(1)日常关机退出PC_SEM程序→退出Windows XP系统→关闭DISPLAY(2)完全关机短时间关机:退出PC_SEM程序→退出Windows XP系统→关闭DISPLAY→关闭EVAC→等待约35分钟后Multi Indicator区域显示“POFF”→关闭MAIN SWITCH→关闭电源总开关。
扫描电镜S-4800操作规程一、日常开机打开Display开关,电脑自动开机进入s-4800用户界面,PC_SEM程序自运行,点击确认进入软件界面。
二、装样品1.将样品台装在样品座上,根据标尺调整高度及确认样品位置后旋紧。
2.按下AIR键,当AIR灯变绿时拉开样品交换室,水平向前推出交换杆,把样品座插在交换杆上,逆时针旋转交换杆(即按照杆上的标示转至LOCK)锁定样品座后,将交换杆水平向后拉回原处。
3.关闭交换室,按下EV AC键,当EV AC绿灯亮时,按OPEN键至绿灯亮样品室阀门自动打开。
4.水平插入交换杆,直至样品座被卡紧为止,顺时针旋转交换杆(即按照杆上的标示转至UNLOCK)后水平向后拉回原处,点CLOSE键至绿灯亮样品室阀门自动关闭。
三、图像观察1.加高压点击屏幕左上方的高压控制窗口,弹出HV Control对话窗。
选择合适的观察电压和电流,点击ON,弹出提示样品高度的对话框,点击确定出现HV ON 提示条,待图像出现后,关闭HV Control对话窗。
2.在低倍、TV模式下,找到所要观察的样品,点击H/L按钮切换到高倍模式,通过调节样品位置,找到所要观察的视场。
3.聚焦、消像散选好视场后,放大到合适的倍数聚焦消像散。
先调节聚焦粗调和细调旋钮,使图像达到最佳状态,若图像有拉长现象,则需进行消像散。
调节STIGMATOR/ALIGNMENT X使图像在水平方向的拉长消失,再调节STIGMATOR/ALIGNMENT Y使图像在垂直方向的拉长消失。
4.图像采集及保存用A.B.C.键或BRIGHTNISS/CONTRAST旋钮自动或手动调节图像的对比度和亮度,扫描速度变为慢扫,点击抓拍按钮进行采集。
采集后暂时存放在窗口下侧,选中要保存的图像,点击Save,弹出Image Save对话框,输入文件名,选好存储位置保存即可。
5.对中调整改变加速电压和电流时,或图像在高倍聚焦发生漂移时,需要进行对中调整,方法如下:(1)选取样品上一个具有明显特征的位置放在视场中心。
S扫描电镜操作步骤集团标准化工作小组 [Q8QX9QT-X8QQB8Q8-NQ8QJ8-M8QMN]扫描电镜S-4800操作规程一、日常开机打开Display开关,电脑自动开机进入s-4800用户界面,PC_SEM程序自运行,点击确认进入软件界面。
二、装样品1.将样品台装在样品座上,根据标尺调整高度及确认样品位置后旋紧。
2.按下AIR键,当AIR灯变绿时拉开样品交换室,水平向前推出交换杆,把样品座插在交换杆上,逆时针旋转交换杆(即按照杆上的标示转至LOCK)锁定样品座后,将交换杆水平向后拉回原处。
3.关闭交换室,按下EVAC键,当EVAC绿灯亮时,按OPEN键至绿灯亮样品室阀门自动打开。
4.水平插入交换杆,直至样品座被卡紧为止,顺时针旋转交换杆(即按照杆上的标示转至UNLOCK)后水平向后拉回原处,点CLOSE键至绿灯亮样品室阀门自动关闭。
三、图像观察1.加高压点击屏幕左上方的高压控制窗口,弹出HV Control对话窗。
选择合适的观察电压和电流,点击ON,弹出提示样品高度的对话框,点击确定出现HV ON提示条,待图像出现后,关闭HV Control对话窗。
2.在低倍、TV模式下,找到所要观察的样品,点击H/L按钮切换到高倍模式,通过调节样品位置,找到所要观察的视场。
3.聚焦、消像散选好视场后,放大到合适的倍数聚焦消像散。
先调节聚焦粗调和细调旋钮,使图像达到最佳状态,若图像有拉长现象,则需进行消像散。
调节STIGMATOR/ALIGNMENT X使图像在水平方向的拉长消失,再调节STIGMATOR/ALIGNMENT Y使图像在垂直方向的拉长消失。
4.图像采集及保存用键或BRIGHTNISS/CONTRAST旋钮自动或手动调节图像的对比度和亮度,扫描速度变为慢扫,点击抓拍按钮进行采集。
采集后暂时存放在窗口下侧,选中要保存的图像,点击Save,弹出Image Save对话框,输入文件名,选好存储位置保存即可。
冷场发射扫描电子显微镜S4800操作说明(普通用户)燕山大学材料学院材料管A104(场发射,钨灯丝)编写人:李月晴吕益飞普通用户在熟练操作1个月后,如无不良记录,可申请高级用户培训。
高倍调清晰:局部放大(Red) →聚焦Focus→消像散一、日常开机1,开启冷却循环水电源。
2,按下Display开关至,PC自动开机进入用户界面并自动运行PC_SEM程序,以空口令登入。
3,打开信号采集开关,位置打到1,为打开。
4,打开电源插排的开关。
5,打开装有EDS软件的主机电源。
6,记录仪器运行参数(右下角Mainte),即钨灯丝真空度。
如:IP1:0.0×10-8Pa;IP2:0.0×10-8Pa;IP3:9.6×10-7Pa。
PeG-1,<1×10-3;PeG-2,<1×10+2。
注意:PeG≤1×10-3Pa时才能加高压测量。
记录的参数:①点Flashing时会显示:In2(Ie)Flashing时电流最大值,如32.9μA;②加上高压后会显示,V ext=3.4kV。
二、轰击(点flashing,即在阴极加额外电压)目的:高温去除针尖表面吸附的气体1,最好在每天开始观察样品前一时做flashing;2,选择flashing intensity为2 ;3,若flashing运行时Ie小于20µA,则反复执行直至Ie值超过20µA且不再增加。
4,若flashing后超过8个小时仍继续使用,重新执行flshing 。
三、加液氮容积不要超过1L,能维持4~6h。
四、样品制备及装入样品制备简单,对样品要求较低,只要能放进样品室,都可进行观察。
1,化学上和物理上稳定的干燥固体,表面清洁,在真空中及在电子束轰击下不挥发或变形,无放射性和腐蚀性。
2,样品必须导电,非导电样品,可在表面喷镀金膜。
3,带有磁性的样品,由于物镜有强磁性,制样必须非常小心,防止在强磁场中样品被吸入物镜或分散在样品室中,工作距离(WD) 要大于8.0mm。
S-4800日立扫描电子显微镜(SEM)简易操作指南一、开机前准备1.1制备样品(带口罩与手套进行)SEM样品制备相对简单,原则上只要能放入样品室的样品,都可进行观察。
但需注意以下事项:a)样品在物理上和化学上必须要保持稳定,在真空中和电子束轰击下不挥发或变形,没有腐蚀性和放射性。
(通常是干燥固体。
)b)由于光源是电子,样品必须导电,非导电样品可喷镀金膜。
金膜在一定程度上会影响样品原有形貌。
(若样品本身导电,衬底不导电,如蓝宝石上的ZnO,只需用导电胶把样品表面连到样品台。
)c)由于物镜有强磁性,带有磁性的样品制样必须非常小心,防止在强磁场中样品被吸入物镜或分散在样品室中。
通常磁性样品必须退磁,且工作距离(WD)须大于8mm。
具体操作过程:(1) 按待测样品数量选择样品台,(支持直径d=5mm,15mm,1 inch,2 inch等规格,若要观测截面可选择带角度的样品台)。
(2) 剪一小段导电胶,粘到样品台上。
若样品为粉末,则把粉末撒到导电胶上,用吸耳球或高压氮气吹扫掉导电胶上未粘紧的粉末;若是块状样品,则把样品牢牢粘到导电胶上,用手轻轻推,样品不会左右晃动。
(为观测时方便定位,将样品排列成行(或列),并在行下方(或列左侧)标上数字编号。
)(3) 样品粘贴完成后,用吸耳球或高压氮气吹扫掉样品台上的粉末、灰尘、水珠、唾沫等(会影响照片质量,甚至使真空度下降而无法加高压,推荐认真执行。
)1.2查看真空度打开前面板盖,点击MODE按钮直至IP1指示灯闪,在登记表记下MULT INDICATOR数码显示管的读数,同理读取IP2,IP3并记录。
确认IP1<2E-7,IP2<2E-6,IP3<5E-5。
(通常情况都是IP1显示0E-8,IP2显示0E-8,IP3显示0E-8或aE-7,1<a<9。
)如图1所示:图1 按MODE读取IP1-IP3二、开机操作2.1开机a)开启冷却循环水电源,循环水温度显示应在15-20℃,水位应浸没金属线圈。
扫描电镜运用培训手册(试行)一、场放射扫描电镜操作人员培训(一)学员选拔及考核1、培训时间:各课题组自行提交申请,统一支配培训。
2、考核时间:依据培训状况,管理员统一支配理论和上机考核。
3、学员举荐:导师举荐人员(建议举荐研一、研二的同学2-4名)填写学员培训申请表,分别由导师、管理员、学院签字或盖章后正式统一支配培训。
4、学员要求:各导师举荐的学员肯定要看法端正、大公无私、负责心强、动手实力强,能切实担当起试验室样品的测试任务。
5、培训内容支配:每年的探讨生开学始终到第一学期结束,第一学期结束时进行理论考核和操作考核;其次学期为试操作,由阅历丰富的操作人员(各个课题组的高年级探讨生等)指导下进行操作;试操作未出现任何问题,再独立进行上机操作,合格后发放门禁卡。
具体的培训时间依据一年级探讨生的课程支配,从而确定时间分批培训。
培训时间要在网上预约时注明(当天半天的时间段其他课题组不能预约)且为每周一次,每次半天。
6、培训人员:仪器工程师、仪器管理人员和有操作阅历的高年级探讨生(高年级探讨生要主动帮带和培训自己试验室的低年级探讨生)负责全程培训。
参与培训的人员为经导师举荐和学院同意后确定的硕士或博士探讨生。
7、培训考核:每个参与培训的学生尽量不要缺席任何一次支配的培训课程,若缺席三分之一以上视为不合格。
参与培训的学生具体记录培训人员的讲解内容,课程结束后参与考核,不参与考核视为不合格。
培训不合格和未参与培训人员不得上机操作。
8、门禁卡发放:经理论考核和上机考核双重考核后,具备独立上机资格,取得管理员不在场的上机资格,发放门禁卡。
9、门禁卡运用留意事项:大仪中心全程配有视频监控,留意行为举止;门禁卡是各个课题组进入大仪中心的凭证(建议各课题组导师统一保管),不能外借,丢失刚好挂失,不刚好挂失导致大仪中心东西丢失或仪器损坏的,由持卡课题组照价赔偿。
(二)培训流程图(三)预约方法学院购买网上预约系统,各课题组每周一登陆网上预约系统进行实名预约下周的上机时间,预约系统开放时间为工作时间。
Operating Procedure for Hitachi S-4800 Scanning Electron MicroscopeCFN Laboratory1L-32C.Black/G.WrightOperation of the Hitachi S-4800 Scanning Electron Microscope (SEM) requires specific user training and authorization. This operating procedure is meant as a general overview of tool operation and is NOT A SUBSTITUTE for obtaining proper training and authorization.Users should have reserved tool access via the FOM calendar.NIRTRILE GLOVES ARE TO BE WORN AT ALL TIMES when handling sample specimens, sample stages, and any parts to be introduced into the tool vacuum chamber. Suitable gloves are located on the workbench to the left of the Hitachi SEM.Sample PreparationSuitable samples for imaging will be mounted on solid flat substrates such as silicon or glass.Sample specimens must be mounted on a sample holder for insertion into the tool. Several different sample holder sizes are available. Sample holders are located on the workbench.Mount sample on sample holder. Specimens should be mounted using either double-sided sticky tape or clips. Silver paint is to be used only if absolutely necessary.Samples may be blown free of dust and debris using the can of compressed air located onthe laboratory workbench.Clean and organize sample preparation area when finished.Microscope PreparationObserve that microscope is energized and ready for operation. If any warning lights indicate a problem then STOP and contact a staff member.Log into the FOM and activate your reserved session to turn on the Hitachi computer.Loading a sampleAfter mounting sample on a sample holder, adjust the specimen height using the specimen height gauge located on the workbench. To adjust the height, loosen the lock screw and adjust the specimen height so that the height of the highest point of the specimen is the same as the bottom of the height gauge. Then tighten the lock screw by holding the fixed upper part of the holder..Move to the SEM console. Verify that there is no sample stage already loaded in the chamber by looking at the small camera monitor showing a view inside the chamber.Click the EXC button on the control panel. The stage inside the SEM will move to the specimen exchange position. Once this occurs the indicator beside the button will turn green. (Normally the stage will be left in the exchange position.)Press the AIR button on the specimen exchange chamber. After 15 sec. a buzzer will sound indicating that the chamber has been vented.Open the exchange chamber door. Be SURE to use the handle to open the chamber door and DO NOT USE THE SAMPLE LOAD ARM. Pulling on the arm in this way can damage the sample lock vacuum. The exchange chamber door is interlocked and will not open unless all vacuum conditions are satisfied.Confirm that the specimen exchange rod is in the UNLOCKED position by turning clockwise until the UNLOCK mark faces upwardsInsert the two spring pins at the end of the rod into holes of the specimen holder.While holding the specimen holder, turn the knob of the specimen exchange rod counterclockwise until the LOCK mark comes upwards. The sample holder is now lockedonto the load arm.Pull out the sample exchange rod completely and close the exchange chamber door.Press the EVAC button on the specimen exchange chamber. This will pump out the loadlock. Press the OPEN button to open the gate valve to the chamber, which will happen when a suitable low pressure has been achieved.After the gate valve opens, slide the specimen exchange rod all the way into the chamber WHILE LOOKING INTO THE CHAMBER on the small microscope screen toensure that the specimen holder inserts into the guide rails.Turn the specimen rod knob to the UNLOCKED position.Pull out the specimen exchange rod completely while VISUALLY WATCHING that the rod disengages from the sample holder.Press the CLOSE button on the specimen exchange chamber to close the gate valve. The sample is now loaded into the chamber.Applying the SEM high voltageClick the ON button on the control panel at the left of the HV DISPLAY area. You will be asked to verify the size (diameter and height) of the sample holder you are using. If the one displayed is in fact the one you are using, click OK. If not, clickCANCEL. Set the size of the sample holder you are using in the STAGE menu. If you are using the cross- section stage then you should select a stage size of 4 inches.High voltage can be applied only if the HV DISPLAY area on the control panel is blinking in yellow and blue. If the indicator is solid blue then the SEM conditions are not appropriate for high voltage application. Once the high voltage has been applied the indicator will display (nonblinking) yellow.Use the HV CONTROL dialog window to set SEM accelerating voltage and emission current.To set the accelerating voltage, select a voltage from the Vacc list box.To set an emission current, set a current in the SET Ie to list box. Hitachi recommends 10uA emission current for normal SEM operation.Click the ON button on the control panel at the left of the HV DISPLAY area. The SEM will automatically turn on the accelerating voltage, the extracting voltage, and the emission current. These values are displayed in the HV DISPLAY area. The electron gun airlock valve will automatically open upon completion of gun turn-on.Once the high voltage is applied the ON button will change to SET, allowing the user to set the emission current during high voltage operation. The OFF button turns off the high voltage. Note that during SEM operation the current will drop gradually over time. You can reset to the specified emission current (typically 10uA) by pressing SET.After high voltage turn-on a message will appear saying: “Stage is at specimen exchange position. Move to Home position?” Selecting YES will move the stage to the Home position such that the center of the sample holder will be directly underneath the electron beam.Obtaining a sample imageThere are many possible imaging variations for using the Hitachi S-4800 tool and these depend on the type of sample being imaged. We include here a summarized list of many commonly- used possibilities but do not provide detailed descriptions or an exhaustive list. The user is directed to the tool operating manual (located on the workbench to the left of the Hitachi SEM) for a complete discussion.Imaging mode:Selecting a Magnification Mode: The SEM has two magnification modes, HIGH MAG and LOW MAG. Most common applications will utilize the HIGH MAG mode.Within HIGH MAG magnification mode, user specifies:Probe current mode: NORMAL of HIGH. Most applications will utilizeNORMALFocus mode: UHR or HR. UHR mode allows full range of working distances.Working distance (WD). Shorter WD means higher resolution. Longer WDallows greater depth of focus and more sample tilting.Focus depth: Best resolution attainable with this value set to 1.0Specimen bias voltage: Specimen can be voltage-biased during imaging tominimize sample charging effects.Magnetic sample: Use this mode for observation of ferromagnetic samplesDegauss operation:Setting ABCC link: Automatically adjusts brightness and contrast during sample imaging.Column Alignment Operation: Obtaining the highest resolution image will involve aligning the electron optical column. This operation is done entirely through an electromagnetic alignment (i.e., using the computer interface) without need for touching any knobs on the SEM column. Alignment conditions are saved for each accelerating voltage and probe current setting such that only minimal alignment adjustment should be necessary.Press TV1 to obtain an image on the screen.Typically the beam can be tuned up using only an APERTURE ALIGNMENT. The procedure is as follows:Set the magnification to about 5,000 and position a point of interest in the center of the display.Focus the image and correct astigmatism.Click APERTURE ALIGN in the ALIGNMENT dialog box and make adjustments such that the wobbling motion of the image is minimized.Turn off the APERTURE ALIGN mode by clicking the OFF button.Sample imagingDetector selection: The SEM has two secondary electron detectors, the UPPER and the LOWER detectors. User can select either detector or alternatively image using a mixture of the two signals. Select a detector on the SIGNAL SELECT block of the OPERATION panel.Image Magnification: Select image magnification by dragging the mouse in the MAGNIFICATION INDICATION area on the CONTROL PANEL. The magnification can also be set by rotating the MAGNIFICATION knob on the control box.Focus and astigmatism correction: Iteratively adjust focus and astigmatism using the knobs on the SEM control box.Brightness and Contrast: Adjust brightness and contrast either manually by using BRIGHTNESS and CONTRAST knobs on SEM control panel or by pressing ABCC button for automatic control.The recorded images are stored in a memory buffer and displayed across the screen bottom. At the end of the session you will need to save them in the appropriate folder.Unloading sampleRemember to wear gloves when unloading samples.When finished imaging, turn off the high voltage by clicking OFF on the HV DISPLAY area. Move the sample stage to the exchange position by clicking the EXC button on the control panel. Once this occurs the indicator beside the button will turn green.Press the OPEN button on the specimen exchange chamber to open the gate valveTurn the knob on the specimen exchange rod clockwise so that the UNLOCK mark is facing upwards.Insert the specimen exchange rod straight into the chamber and fit the two spring pins into the holes at the end of the specimen holderTurn the knob counterclockwise so the LOCK mark comes upwards to hook on the sample holder.VISUALLY INSPECT that the sample holder comes out with the rod as you pull the rod all the way out of the chamber.Press the CLOSE button on the specimen exchange chamber to close the gate valve. Press AIR to vent the loadlock.Open the exchange door (by its handle) and turn knob clockwise to UNLOCK position. The sample holder can now be disengaged from the sample rod.Close specimen exchange chamber door and press EVAC to pump the loadlock back down.CleanupLog into the FOM computer and end your session. This will turn off the Hitachi computer.Unmount your samples from the sample holder.Return sample stage to appropriate stage storage box located near the workbench at the rear of the laboratory.Clean workbench area and properly dispose of any materials used during sample preparation.TURN OFF laboratory lights when leaving the room。
日立扫描电子显微镜(SEM)维护手册S-48001、每一个月检查冷却循环水,及时记录水面是否下降并补充。
换水以及清洗过滤网(频率:1年1次以上)2、空气压缩机的维护(频率:半个月一次,1个月1次以上)压缩机内部排水3、机械泵、干泵的维护(频率:半年1次以上(机械泵),1年1次(油泵))机械泵:半年1次以上,当油雾收集器附着油液或有油烟时立即更换。
当油的颜色变为茶色时或换油过了6个月时:停机→交换油→开机油泵:1年1次,委托服务人员维护保养。
4、烘烤与机械对中(频率:1年1次以上)烘烤1. 关闭电脑,前面板Display,和循环水。
2. 拧开X轴向的两个小螺丝,取下最上端的电磁罩3. 松开电子枪的螺纹盖,取下电子枪套入左侧两个圆环处。
注意手不要碰到电子枪内壳4. 松开Y轴向两个螺丝,注意用手掩护防止螺丝往里掉。
取下镜筒罩。
5. 拿烘烤装置围在镜筒上,并用专用帽子盖上,拧紧螺丝。
6. 把两根内加热线插入电子枪桶的两个X轴向的小凸起上,并整理好内外电线,使其不接触到加热部位,防止烧坏,并引到右侧后台的接线盖处。
7. 松开右侧后台的接线盖,分别插入内外线插槽,用螺丝拧紧接线盖。
8. 设置前面板,通常烘烤必须保证冷却6 Hour,加热时间可变,常用8小时,且外烘烤先启动,两个小时后内烘烤才启动。
故可设Mode/Bake 闪动时按下sel ect 0u 8( =out 8hour) In 6。
此时转到后面板调整开关为Bake 开,Display 关,其他勿动。
再回到前面板按下start。
若无意外,烘烤设置成功,倒计时几秒后即开始。
判断烘烤是否成功开始标志:a) 按下start 后无报警现象b) 烘烤镜筒部位发热c) IP1-3真空度下降,由E-7到E-6简单版烘烤流程拆下最上端电磁罩→拆下电子枪→取下镜筒罩→装上Outer加热器→装上Inner导线→把两队导线连接到后面板→放置高温牌提醒→前面板定时→开后面板总开关→开始烘机械对中1. 软件设置1KV,flash 记下电流值2. 电子束光阑由1逆时针调到0,物镜可动光阑由3调到03. 软件菜单栏setup/column 下聚光镜cond len1、cond len2前面的勾去掉。
冷场发射扫描电子显微镜S4800操作说明(普通用户)燕山大学材料学院材料管A104(场发射,钨灯丝)编写人:李月晴吕益飞普通用户在熟练操作1个月后,如无不良记录,可申请高级用户培训。
高倍调清晰:局部放大(Red) →聚焦Focus→消像散一、日常开机1,开启冷却循环水电源。
2,按下Display开关至,PC自动开机进入用户界面并自动运行PC_SEM程序,以空口令登入。
3,打开信号采集开关,位置打到1,为打开。
4,打开电源插排的开关。
5,打开装有EDS软件的主机电源。
6,记录仪器运行参数(右下角Mainte),即钨灯丝真空度。
如:IP1:0.0×10-8Pa;IP2:0.0×10-8Pa;IP3:9.6×10-7Pa。
PeG-1,<1×10-3;PeG-2,<1×10+2。
注意:PeG≤1×10-3Pa时才能加高压测量。
记录的参数:①点Flashing时会显示:In2(Ie)Flashing时电流最大值,如32.9μA;②加上高压后会显示,V ext=3.4kV。
二、轰击(点flashing,即在阴极加额外电压)目的:高温去除针尖表面吸附的气体1,最好在每天开始观察样品前一时做flashing;2,选择flashing intensity为2 ;3,若flashing运行时Ie小于20µA,则反复执行直至Ie值超过20µA且不再增加。
4,若flashing后超过8个小时仍继续使用,重新执行flshing 。
三、加液氮容积不要超过1L,能维持4~6h。
四、样品制备及装入样品制备简单,对样品要求较低,只要能放进样品室,都可进行观察。
1,化学上和物理上稳定的干燥固体,表面清洁,在真空中及在电子束轰击下不挥发或变形,无放射性和腐蚀性。
2,样品必须导电,非导电样品,可在表面喷镀金膜。
3,带有磁性的样品,由于物镜有强磁性,制样必须非常小心,防止在强磁场中样品被吸入物镜或分散在样品室中,工作距离(WD) 要大于8.0mm。
操作过程:(1) 剪一小段导电胶,粘到样品台上。
(非导电样品可以用双面胶。
)(2) 把粉末撒到导电胶上,用吸耳球或高压氮气吹扫掉导电胶上未粘紧的粉末;若是块状样品,则把样品牢牢粘到导电胶上,用手轻轻推,样品不会左右晃动。
(3)样品若不导电,需要喷镀金膜。
喷镀金膜:真空6~8Pa,电流调到10mA左右(通过降低真空度来调节电流,点按检验按钮可以查看电流值),喷金时间一共30s(习惯先20s后10s)。
五、样品装入放样品是电镜操作中最容易出现问题的环节,请特别重视1,粘好样品后,用标准高度规(8mm高度)检测样品高度,使样品的最高处和高度规的下边缘精确对齐,误差在1mm范围内。
如图1所示。
同时确认样品台和调节螺杆固定好,紧固盘片已固定。
图12,在样品交换室上按Air键,放空气进入该交换室,等听到“滴”的声音后,可以打开该交换室。
如图2所示图23,Air→装样品→EV AC→Open→推入到底→Close→HOME最后在软件操作界面上点击Home键,等绿色显示条停止闪烁后,说明腔室内样品座已完全回归原位。
如图3所示:图3确认样品杆在unlock位置,稍微推样品杆使样品杆前端可见,然后将图1中的样品台装入样品杆前端,lock样品杆后,将样品杆拉回到底。
合上交换室的门后,按样品交换室上的Evac键,抽交换室真空,等听到“滴”的声音后,再按Open键,可以打开交换室和主机腔室之间的阀门,可以清楚的看到阀门打开,听到“滴”的提示声音。
确认阀门打开后,将样品杆轻推入到底,然后旋转样品杆至unlock位置,抽出样品杆到底,这样样品就已经放在主机腔室中了。
按close键关闭阀门,听到“滴”的提示声音后,说明已关闭。
下面即可开始样品观察了。
[注]: 以上放样品步骤,2分钟左右即可完成,所以不要着急,要一步步来。
六、样品观察及拍照1,样品放好后,在软件界面上选择合适的高压和发射电流,然后点击”ON”加高压,如图4所示。
在加高压时会弹出样品台大小、高度确认对话框,如图5所示。
高度前面已确认是8mm 标准高度,如果样品台大小(平面尺寸)和对话框中数值不相符,则要点击cancel,在软件面板中的Stage部分,选择合适的样品台大小,如图6所示图4图5(注:该提示为15mm,但在本台仪器上显示为5 inch,属于正常情况。
15毫米=0.59inch。
)图62,在L/M(低放大倍率)下找到要看的样品,使用stage里面的导航图,在上图6中点击Disp,弹出导航图,找到要观察的样品后,点击Reg,即可在导航图中记录相应的位置。
观察中发现图象过亮或过暗,用鼠标点击,自动调节对比度和亮度。
3,然后切换到H/M模式。
单击操作界面上的Align键,如图7所示,点击其中的Beam Align,做电子束对中调整,调整好后点击off。
图74,在要观察样品区域,旋转Magnification旋钮,把图象调到合适放大倍数,然后调节Focus旋钮中的Coarse (粗调)旋钮将图象大致调清楚,滚动轨迹球对所要观察的细节进行搜索。
Focus 调焦发现图像移动,需要做Aperture Align ,点击图7界面上的Aperture Align ,使图像象心脏一般跳动,然后点击off 。
5,如果调焦时,发现图像向一个方向变模糊,需要调Stigmator ,进行象散校正。
需对x 和y 进行单独校正,可反复多次校正,同时调节Fine 旋钮聚焦。
4)和5)步的调整总结在下图8中。
图8说明:扫描速度的选择,速度越慢图象质量越高,漂移和荷电现象越严重。
图象调节过程中用TV ,Fast 或Red; 图象观察和确认用CSS 或Slow 。
6,得到清晰的图像后,选择Slow (分辨率高)或CSS (对于轻微荷电样品用)或TV/Fast (对于强荷电样品,不耐高压且慢扫易变形图像)扫描模式,然后点击拍照键,如图9所示,即可拍照片。
图97,在Captured Image 中选择欲保存的照片,点击右下方SA VE 按钮。
选择保存位置、使用者及样品信息后保存。
如图10。
七、EDS(或EMAX)扫描EDS分辨率为133ev选项→电镜控制→电镜设置→感兴趣区→采集图谱→确认元素→定量分析设置(传送,保存)→报告(保存Word);同时项目另存。
保存完word后可关闭word小窗口。
每个采集的图谱都要进行元素确认。
看含量≤offset的3倍的元素删掉以后,要重新传送保存。
存图:图像光谱结果汇总。
1,EMAX探头限位:到达黑色台。
2,升加速电压Vacc至20KV,电流Probe Current设为High。
,3,聚焦。
(图像大致清晰即可,如2K倍,因为EMAX分辨率低,为μm级)。
能谱范围是微米级(因为电子束光斑是微米级别,即打能谱的区域越大越靠谱)。
4,调节工作距离。
给定工作距离为15mm(与EMAX探头有关)。
场发射SEM工作距离为8mm。
此时,需增加工作距离为15mm(工作距离以扫描图片上的为准)。
如SEM图片距离为9.2mm,此时要想调节工作距离到真实距离15mm的话,需将工作距离设为13.8mm,点按stage导航图里面的go即可。
重新聚焦。
5,打开EMAX软件,以创建新项目。
做完上一个样品的能谱后,EMAX软件都要关闭再重新打开,目的是创建新项目。
(也可以不关闭,直接新建。
关闭的目的是为了防止误操作)6,选项>> 电镜控制。
需要输入和扫描匹配的参数,2000倍,20KV,15mm(扫描图片上的真实值为准)。
按回车以确认参数输入进去,点关闭。
7,电镜设置。
该步骤类似于预扫,参数要看死时间。
死时间可简单理解为无效时间所占百分比,处理时间与死时间基本成正比,处理时间某个参数设为4或者5都行,以保证死时间在20~30%即可。
8,点扫描需要设置为——point&ID线扫描和面扫描需要设置为——Mapping(1)点扫描:感兴趣区>> 采集(点按圆点,鼠标划过时有中文提示)——采集图谱——点扫描——确认元素——图谱1(增删元素)——定量分析设置——传送——保存——定量分析—报告——word 保存,另存项目。
(2)线扫描:感兴趣区——SmartMap,线扫描预扫——添加已知元素——线扫描——等到强度足够的时候,回到SmartMap点按停止扫描——报告SmartMap——word保存,另存项目。
(2)面扫描:以后补充上!!!!!!!!!!!!!!!!!!注意:元素存在的一般判断准则:在未知元素的前提下,测量值超过误差的三倍,一般判断为含有此元素;在已知元素的前提下,可删除不可能存在的元素,而不理会测量得出的数值。
八、取样品取样品也是电镜操作中最容易出现问题的环节,请特别重视1)需要取样品时,先点击图4中的OFF键关电子束。
然后点击图2中的EXC 键,,直到不闪烁为止。
2)然后点击图3中的”Open”,等隔离阀打开后(听到”滴“的声音),将处于Unlock位置的样品杆轻推入到底,然后Lock样品杆,将样品台拉出到底。
3)点击图3中的“Close”,等隔离阀关闭后(听到”滴“的声音后),点击”Air”,放空气进入交换室,等听到“滴”的声音后,可以打开该交换室。
4)打开交换室后,稍微推样品杆使样品杆前端可见,旋转样品杆至”unlock”位置,然后将样品台卸下,将样品杆拉回到底。
合上交换室的门后,按样品交换室上的Evac键,抽交换室真空。
5)将样品从样品台卸下,并清除导电胶带,保持样品台清洁。
九、关机1,Vacc降为15KV,Probe Current设为Norm。
2,File >> Exit3,EMAX探头归位。
一直旋,旋的同时注意把持住仪器,直到探头露出来,位置在7以上就能看到。
4,关EMAX软件的电脑。
5,关信号采集开关,位置打到0,为关闭。
6,关电源插排的开关,以防雷电击坏。
7,关Display8,关循环水,在隔壁屋,点OFF/ON,cool灯灭即可。