一、名词解释(10分每小题 2分
1.X 射线光电效应:当 X 射线的波长足够短时,起光子的能量就很大,以至能把原子中处于某一能级上的电子打出来,而它本身则被吸收。它的能量就传递给该电子了,使之成为具有一定能量的光电子,并使原子处于高能的激发态。这种过程我们称之为光电吸收或光电效应
2. 衍射角:入射线与衍射线的交角。
3. 背散射电子:电子射入试样后,受到原子的弹性和非弹性散射,有一部分电子的总散射角大于 90o , 重新从试样表面逸出,称为背散射电子。
4. 磁透镜:产生旋转对称磁场的线圈装置称为磁透镜。
5. 差热分析:把试样和参比物置于相等的加热条件下,测定两者的温度差对温度或时间作图的方法。记录曲线称为差热曲线。
二、填空(每题 2分,共 10分
1. X射线管中,焦点形状可分为点焦点和线焦点 ,适合于衍射仪工作的是线焦点。
2. X射线衍射方法有劳厄法、转动晶体法、粉晶法和衍射仪法。
3. TEM的分辨率是 0.104— 0.25 nm,放大倍数是 100— 80万倍; SEM 的分辨率是 3— 6 nm,放大倍数是 15— 30万倍。
4. 解释扫描电子显微像镜的衬度有形貌衬度、原子序数衬度和电压衬度三种衬度。
5. XRD是 X 射线衍射分析, TEM 是透射电子显微分析, SEM 是扫描电子显微分析。 EPMA 是电子探针分析
6. 光电子能谱是在近十多年才发展起来的一种研究物质表面的性质和状态的新型物理方法。
三、问答题(42分
1.X 射线衍射的几何条件是 d 、θ、λ必须满足什么公式?写出数学表达式,并说明 d 、θ、λ的意义。 (5分
答:X 射线衍射的几何条件是 d 、θ、λ必须满足布拉格公式。其数学表达式:2dsin θ=λ(2dsin θ=nλ
其中 d 是晶体的晶面间距。θ是布拉格角,即入射线与晶面间的交角。λ是入射 X 射线的波长。
2. 画图说明半高宽中点法确定衍射峰位的方法(5分
答:先连接衍射峰两边的背底 ab ,从强度极大点 P 作PP ’ , 交 ab 于P ’点, PP ’的中点O ’即是峰高一半点。过O ’
作 ab 的平行线与衍射峰交于 M 和 N 点, MN 中点 O 的角位置即定作峰位。
3. 扫描电镜的特点?(7分
答:(1可以观察直径为 10— 30mm 的大块试样,制样方法简单。 (1分
(2场深大,适用于粗糙表面和断口的分析观察,图像富有立体感真实感。 (1分
(3放大倍数变化范围大, 15~300000倍。 (1分
(4分辨率 3~6nm。透射电镜的分辨率虽然高,但对样品厚度的要求十分苛刻,且观察的区域小。
(5可以通过电子学方法有效地控制和改善图像的质量。 (1分
(6可进行多种功能的分析。观察阴极荧光图像和进行阴极荧光光谱分析。 (1分
(7可使用加热、冷却和拉伸等样品台进行动态试验,观察各种环境条件下的项变及形态变化等。 4. 在透射电子显微分析中,电子图像的衬度有哪几种?分别适用于哪种试样和成像方法?
答:质厚衬度、衍射衬度和相位衬度(1分
质厚衬度:适用于非晶体薄膜和复形膜试样所成图象的解释(1分
衍射衬度和相位衬度:适用于晶体薄膜试样所成图象的解释(1分
5. 差热分析中对参比物有哪些要求?常用什么物质作参比物?(5分
答;掺比物的要求:
(1 . 在整个测温范围内无热效应。 (1分
(2 . 比热和导热性能与试样接近。 (1分
(3 . 粒度与试样相近(约 50~150μm 。 (1分
掺比物常用物质:α-Al2O3(1720K煅烧过的高纯 Al2O3粉 (2分
6. 红外光谱分析主要用于哪几方面、哪些领域的研究和分析?红外光谱法有什么特点?(5分
答:红外光谱主要用于(1 . 化学组成和物相分析, (2 . 分子结构研究。 (2分
应用领域:较多的应用于有机化学领域,对于无机化合物和矿物的鉴定开始较晚。 (1分
红外光谱法的特点:(1 . 特征性高; (2 . 不受物质的物理状态限制; (3 . 测定所需样品数量少, 几克甚至几毫克; (4 . 操作方便,测定速度快,重复性好; (5 . 已有的标准图谱较多,便于查阅。
四、论述题(10分
你认为“电子显微分析只能观察显微形貌”这种说法对吗?论述电子显微分析可对无机非金属材料进行哪些方面的分
析?电子显微分析有什么特点?
答:(答题要点
“电子显微分析只能观察显微形貌”这种说法是不对的。 (1分
电子显微分析还可对无机非金属材料进行以下方面的分析:(4分
(1 . 形貌观察:颗粒(晶粒形貌、表面形貌。
(2 . 晶界、位错及其它缺陷的观察。
(3 . 物相分析:选区、微区物相分析,与形貌观察相结合,得到物相大小、形态和分布信息。
(4 . 晶体结构和取向分析。
电子显微分析有以下特点:(5分
(1分辨率高:0.2~0.3nm
(2放大倍数高:20倍 ~80万倍
(3是选区、微区分析方法:可进行纳米尺度的晶体结构和化学成分分析
(4多功能、综合性分析:形貌、成分和结构分析
五、应用题(共 10分
TiO 2有金红石和锐钛矿两种晶型,用溶胶 -凝胶法制备 TiO 2纳米晶,经 600℃煅烧后得到白色粉体。现要分析粉体的
物相和粒度大小,请说明用什么分析方法?并简要说明分析过程。
答:物相分析:1. 用 X 射线衍射进行物相分析 2. 用电子衍射进行物相分析
粒度分析:1. 电镜(透射、扫描 2. 谢乐公式计算
南京工业大学路基路面工 程课程设计 Prepared on 22 November 2020
路面结构与路基边坡稳定性设计 交通1001 朱天南 一、路面结构设计 （一）沥青路面设计 1.交通组成与轴载当量计算 车辆车型与日交通量的选用如下表所示： 交通组成表 表1 设计年限末年日平均交通量为14367，符合二级公路对日平均交通量5000—15000的要求。 (1) 当以设计弯沉值为指标及沥青层层底拉应力验算时： 设计年限末年日平均当量轴次： N =∑ C 1C 2K i=1 n I (P i )4.35=3663 设计年限内一个车道上累计当量轴次： N e =[(1+r )t ?1]×365 r ·N ·η=622.13（万次） (2) 当进行半刚性基层层底拉应力验算时： 设计年限末年日平均当量轴次：
N =∑ C 1′C 2′K i=1 n I (P i P )8=4665 设计年限内一个车道上累计当量轴次： N e =[(1+r )t ?1]×365 r ·N ·η=792.31（万次） 综上，沥青路面交通属于中等交通等级。 2. 路面材料及路面结构的选取与土基模量的确定 由于该二级公路路面属于中等交通等级，故采用以下两种方案备选： 方案一：双层式沥青面层+半刚性基层 方案二：单层式沥青面层+半刚性基层+垫层 由于江苏处于IV 类区划，故土基模量取36MPa 。 3. 设计弯沉值与容许拉应力的确定 路面设计弯沉值 l d 按下式计算： l d =600N e ?0.2 A C A S A B =28.9(0.01mm) 结构层容许弯拉应力 σR 按下式计算： σR = σSP S 其中，对沥青混凝土面层： K S =0.09N e 0.22 /A C 对无机结合料稳定集料： K S =0.35N e 0.11 /A C 对无极结合料稳定细粒土：K S =0.45N e 0.11/A C 通过查表计算得： 细粒式沥青混凝土：σR =0.47MPa 中粒式沥青混凝土：σR =0.36MPa 水泥稳定碎石： σR =0.33MPa 4. 结构层厚度确定于结构分析 (1) 方案一 4cm 细粒式沥青混凝土+6cm 中粒式沥青混凝土+35cm 水泥稳定碎石，如下图所示。 -------------------------------------- 细粒式沥青混凝土 4 cm --------------------------------------- 中粒式沥青混凝土 6 cm ---------------------------------------
材料现代分析方法试题4（参考答案） 一、基本概念题（共10题，每题5分） 1．实验中选择X射线管以及滤波片的原则是什么？已知一个以Fe为主要成分的样品，试选择合适的X射线管和合适的滤波片 答：实验中选择X射线管的原则是为避免或减少产生荧光辐射，应当避免使用比样品中主元素的原子序数大2~6（尤其是2）的材料作靶材的X射线管。 选择滤波片的原则是X射线分析中，在X射线管与样品之间一个滤波片， 以滤掉K β线。滤波片的材料依靶的材料而定，一般采用比靶材的原子序数小1或2的材料。 以分析以铁为主的样品，应该选用Co或Fe靶的X射线管，同时选用Fe和Mn 为滤波片。 2．试述获取衍射花样的三种基本方法及其用途？ 答：获取衍射花样的三种基本方法是劳埃法、旋转晶体法和粉末法。劳埃法主要用于分析晶体的对称性和进行晶体定向；旋转晶体法主要用于研究晶体结构；粉末法主要用于物相分析。 3．原子散射因数的物理意义是什么？某元素的原子散射因数与其原子序数有何关系？ 答：原子散射因数f 是以一个电子散射波的振幅为度量单位的一个原子散射波的振幅。也称原子散射波振幅。它表示一个原子在某一方向上散射波的振幅是一个电子在相同条件下散射波振幅的f倍。它反映了原子将X射线向某一个方向散射时的散射效率。 原子散射因数与其原子序数有何关系，Z越大，f 越大。因此，重原子对X射线散射的能力比轻原子要强。 4．用单色X射线照射圆柱多晶体试样，其衍射线在空间将形成什么图案？为摄取德拜图相，应当采用什么样的底片去记录？ 答：用单色X射线照射圆柱多晶体试样，其衍射线在空间将形成一组锥心角不等的圆锥组成的图案；为摄取德拜图相，应当采用带状的照相底片去记录。
一，名词解释 1，化学位移：共振频率发生了变化，在谱图上反映出了谱峰位置的移动。 2，特征吸收峰：通常把能代表基团存在，并有较高强度的吸收谱带称为基团频率，其所在的位置一般又称为特征吸收峰。 3，熔融指数：指在一定的温度下和规定负荷下，10min内从规定直径和长度的标准毛细管内流出的聚合物的熔体的质量，用MI表示，单位为g/10min。 4，平衡熔点：理论上将在熔点温度附近经长时间结晶得到的晶体完全熔融的温度称之为该聚合物的平衡熔点 5，普适标准曲线：流力学体积与保留体积的关系曲线具有普适性。 6，依数性：依数性是指溶液的热力学性质只与溶质的数量有关而与其性质、种类无关 7，基频性：分子吸收红外辐射后，由基态振动能级（v=0）跃迁至第一振动激发态（v=1)时，所产生的吸收峰 8，入口效应：聚合物熔体在流入一个直径较小的口模时，在管道入口处流线出现收敛，压力降突然增大。 二，填空 1，溶液的依数性包括沸点上升, 冰点下降, 蒸气压和渗透压。高分子溶液只有在浓度极低的情况下才近似与理想溶液的依数性相同利用依数性测得的分子量为数均分子量 2，测定链结构的方法有X射线衍射法、电子衍射法、中心散射法、裂解色谱-质谱、紫外吸收光谱、红外吸收光谱、拉曼光谱、微波分光法、核磁共振法、顺磁共振法、荧光光谱、偶极距法、旋光分光法、电子能谱等。测定聚集态结构的方法有X射线小角衍射、电子衍射法、电子显微镜、光学显微镜、原子力显微镜、固体小角激光光散射等。测定结晶度的方法有X射线衍射法、电子衍射法、核磁共振吸收、红外吸收光谱、密度法、热分析法。测定高聚物取向程度的方法有双折射法、X射线衍射法、圆二色性法、红外二色性法。相对分子质量的测定方法：溶液光散射法、凝胶渗透色谱法、粘度法、扩散法、超速离心法、溶液激光小角散射法、渗透压法、气相渗透压法、沸点升高法、端基滴定法。支化度的测定方法：化学反应法、红外光谱法、凝胶渗透色谱法、粘度法。交联度测定方法：溶胀法、力学测定法。相对分子质量分布的测定方法：凝胶渗透色谱法、熔体流变行为、分级沉淀法、超速离心法。 3，高聚物的力学性能主要是测定材料的强度和模量以及变形。材料本体粘流行为主要是测定粘度以及切变速率的关系、剪应力与切变速率的关系等。采用的仪器有旋转粘度计、熔融指数测定仪、各种毛细管流变仪。材料的热性能主要测材料的导热系数、比热容、热膨胀剂系数、耐热性、耐燃性、分解温度等。测试仪器有：高低温导热系数测定仪、差示扫描量热仪、量热计、线膨胀和体膨胀测定仪、马丁耐热仪、热失重仪、硅碳耐燃烧试验机。材料的电学性能主要测材料的电阻、介电常数、介电损耗角正切、击穿电压。采用仪器有高阻计、电容电桥介电性能测定仪、高压电击穿试验机。 测定材料的密度，采用密度计法和密度梯度管法。测定透光度采用透光度计。测定透气性采用透气性测定仪。测定吸湿性采用吸湿计。测定吸音系统采用声衰减测定仪。 三，问答 1，红外光谱如何表示？峰强、峰位、峰数受什么因素的影响？ 答：横坐标：波数(υ)400～4000 cm-1；表示吸收峰的位置。 纵坐标：透过率（T%），表示吸收强度。T↓，表明吸收的越好，故曲线低谷表示是一个好的吸收带。 峰位——化学键的力常数越大，原子折合质量越小，键的振动频率越大，吸收峰将出现在高波数区；反之，出现在低波数区。
南工大艺术设计考研真题和经验 各位同学，他人的考研经验能否复制因人而异，但最终目的都是将复习效率最大化。复习效率不仅仅取决于完备的学习计划更需要以平稳的心态为基础，考研复习绝不是让自己每天在高压之下痛不欲生而是在可以承受的学习强度下让自己能够长期坚持。下面，针对工大环艺和展示考生，分为公共课、理论课、手绘和复试四部分分享干货。 公共课方面最先要强调的一点，英语分数至关重要。从今年和去年初试情况来看，英语高分同学甚至能在分数上拉开两位数的差距,总分在各专业中排名领先的同学英语单科也大概率高于60分。因此，英语比较薄弱的同学一定要将英语复习作为重点。英语应试不同于英语综合应用能力需要多年的积淀，即使基础惨烈的同学依然可以在几个月的高效复习中得到显著提高。具体的计划因人而异，但首先一定要将核心词汇熟记，尤其是对于考英语二的同学而言，英语二在阅读题目中套路较少只要看懂文章就可以得到正确答案。简单粗暴一点来说，单词过关之后研究一下近几年的真题再准备一下作文模板60分是不成问题的。当然，背单词的过程比较枯燥，应该按照遗忘曲线规律选择适用于自己的方法并且和做真题加以结合，对真题文章的解析也是高效积累词汇的途径。英语复习要做长线计划，越早越好。 政治方面，不必花费过多的精力，高分往往可遇而不可求，低也低不到哪里去。以掌握基础知识为主，重点把握较难理解的马哲和占分比重较大的毛中特部分，紧密关注与时政相关的考点，重点研究真题。另外，如肖四这种考前预测卷一定要背，真香！即便现在有所谓的反押题，出题组也不可能避开当年的热点话题，考研政治的目的不是为了难住考生，而是让考生接受一定的政治思想教育。 专业理论课方面，参考书目为《艺术设计十五讲》和《设计学概论》。前者以设计史为主，可读性较高但由于此书是将多次讲座内容收录而成，主线并不是非常的清晰。在学习此书的同时，强烈建议以王受之老师于汕头大学的公开课作为辅助材料。这套公开课将世界现代设计史以时间线贯穿起来，这条线几乎囊括了所有重要的设计运动和现代设计师的发展与传承关系。在完成了设计史的线性梳理之后，对于设计史论和设计概论的理解会有如鱼得水的感受。另外王受之老师的知识面很宽，演说能力极强，视频中的很多见解都可以成为你们在大题和面试时的谈资。南工业往年真题非常宝贵，一定要将能够获取的真题牢记，极有可能再次出现。另外，南工大的理论考题试纸是没有格子的白纸，在复习阶段要适当训练一下书写，避免出现段落歪斜，影响得分。 手绘方面在练习阶段不必过于纠结风格，还是以打好基础尤其是练好线稿为主，另外还要具备一定的应变能力，不能只会一味的照搬模版。在南工大具体的手绘试题中，可能会在平面布局上施加规定以制约背图照搬的情况，这时就需要考生将自己准备的效果图与具体试题相结合，在尽量不损失画面效果的情况下进行微调以符合题目，使整套方案得以自圆其说。 对于手绘的具体规划安排，我建议在参加假期的强化集训之后自己练习，可以定期将积累的问题向老师反应或者将近期的作品集中交给老师批改。手绘基础可以在短期内迅速提升，但精益求精还是需要一个沉淀和消化的过程。因此，在平日的练习中并不一定每天要完成很大的作业量，而是要脚踏实地，将每一张图尽力画到极致。在临近考试的月份再进行整套快题的训练来提高速度，完成最后的冲刺。在此针对环境设计专业考生强调一下，环境设计专业的考题从今年来看，初试只考查景观而复试将景观与室内在一套方案中共同考察。假如来年仍然如
一、单项选择题（每题 2 分，共10 分） 3．表面形貌分析的手段包括【 d 】 （a）X 射线衍射（XRD）和扫描电镜（SEM）(b) SEM 和透射电镜（TEM） (c) 波谱仪（WDS）和X 射线光电子谱仪（XPS）(d) 扫描隧道显微镜（STM）和 SEM 4．透射电镜的两种主要功能：【b 】 （a）表面形貌和晶体结构（b）内部组织和晶体结构 （c）表面形貌和成分价键（d）内部组织和成分价键 二、判断题（正确的打√，错误的打×，每题2 分，共10 分） 1．透射电镜图像的衬度与样品成分无关。（×）2．扫描电镜的二次电子像的分辨率比背散射电子像更高。（√）3．透镜的数值孔径与折射率有关。（√）4．放大倍数是判断显微镜性能的根本指标。（×）5．在样品台转动的工作模式下，X射线衍射仪探头转动的角速度是样品转动角 速度的二倍。（√） 三、简答题（每题5 分，共25 分） 1. 扫描电镜的分辨率和哪些因素有关？为什么? 和所用的信号种类和束斑尺寸有关，因为不同信号的扩展效应不同，例如二次电子产生的区域比背散射电子小。束斑尺寸越小，产生信号的区域也小，分辨率就高。 1．透射电镜中如何获得明场像、暗场像和中心暗场像？ 答：如果让透射束进入物镜光阑，而将衍射束挡掉，在成像模式下，就得到明场象。如果把物镜光阑孔套住一个衍射斑，而把透射束挡掉，就得到暗场像，将入射束倾斜，让某一衍射束与透射电镜的中心轴平行，且通过物镜光阑就得到中心暗场像。 2．简述能谱仪和波谱仪的工作原理。 答：能量色散谱仪主要由Si(Li)半导体探测器、在电子束照射下，样品发射所含元素的荧光标识X 射线，这些X 射线被Si(Li)半导体探测器吸收，进入探测器中被吸收的每一个X 射线光子都使硅电离成许多电子—空穴对，构成一个电流脉冲，经放大器转换成电压脉冲，脉冲高度与被吸收的光子能量成正比。最后得到以能量为横坐标、强度为纵坐标的X 射线能量色散谱。 在波谱仪中，在电子束照射下，样品发出所含元素的特征x 射线。若在样品上方水平放置一块具有适当晶面间距 d 的晶体，入射X 射线的波长、入射角和晶面间距三者符合布拉格方程时，这个特征波长的X 射线就会发生强烈衍射。波谱仪利用晶体衍射把不同波长的X 射线分开，即不同波长的X 射线将在各自满足布拉格方程的2θ方向上被检测器接收，最后得到以波长为横坐标、强度为纵坐标的X射线能量色散谱。 3．电子束与试样物质作用产生那些信号？说明其用途。 （1）二次电子。当入射电子和样品中原子的价电子发生非弹性散射作用时会损失其部分能量(约30～50 电子伏特)，这部分能量激发核外电子脱离原子，能量大于材料逸出功的价电子可从样品表面逸出，变成真空中的自由电子，即二次电子。二次电子对试样表面状态非常敏感，能有效地显示试样表面的微观形貌。 （2）背散射电子。背散射电子是指被固体样品原子反射回来的一部分入射电子。既包括与样品中原子核作用而形成的弹性背散射电子，又包括与样品中核外电子作用而形成的非弹性散射电子。利用背反射电子作为成像信号不仅能分析形貌特征，也可以用来显示原子序数衬度，进行定性成分分析。 （3）X 射线。当入射电子和原子中内层电子发生非弹性散射作用时也会损失其部分能量(约
西南科技大学 材料科学与工程学院 教师教案 教师姓名：张宝述 课程名称：材料现代分析测试方法 课程代码：11319074 授课对象：本科专业：材料物理 授课总学时：64 其中理论：64 实验：16（单独开课） 教材：左演声等. 材料现代分析方法. 北京工业大 学出版社，2000 材料学院教学科研办公室制
2、简述X射线与固体相互作用产生的主要信息及据此建立的主要分析方法。 章节名称第三章粒子（束）与材料的相互作用 教学 时数 2 教学目的及要求1．理解概念：（电子的）最大穿入深度、连续X射线、特征X射线、溅射；掌握概念：散射角（2 ）、电子吸收、二次电子、俄歇电子、背散射电子、吸收电流（电子）、透射电子、二次离子。 2．了解物质对电子散射的基元、种类及其特征。 3．掌握电子与物质相互作用产生的主要信号及据此建立的主要分析方法。 4．掌握二次电子的产额与入射角的关系。 5．掌握入射电子产生的各种信息的深度和广度范围。 6．了解离子束与材料的相互作用及据此建立的主要分析方法。 重点难点重点：电子的散射，电子与固体作用产生的信号。难点：电子与固体的相互作用，离子散射，溅射。 教学内容提要 第一节电子束与材料的相互作用 一、散射 二、电子与固体作用产生的信号 三、电子激发产生的其它现象第二节离子束与材料的相互作用 一、散射 二、二次离子 作业一、教材习题 3-1电子与固体作用产生多种粒子信号（教材图3-3），哪些对应入射电子？哪些是由电子激发产生的？ 图3-3入射电子束与固体作用产生的发射现象 3-2电子“吸收”与光子吸收有何不同？ 3-3入射X射线比同样能量的入射电子在固体中穿入深度大得多，而俄歇电子与X光电子的逸出深度相当，这是为什么？ 3-8配合表面分析方法用离子溅射实行纵深剖析是确定样品表面层成分和化学状态的重要方法。试分析纵深剖析应注意哪些问题。 二、补充习题 1、简述电子与固体作用产生的信号及据此建立的主要分析方法。 章节第四章材料现代分析测试方法概述教学 4
南京工业大学本科生毕业设计（论文）撰写规范 (2006年修订) 为了加强学生创新能力和工程实践能力的培养，提高本科生毕业设计（论文）的质量，使学生论文撰写更加规范化，对2003年制订的《南京工业大学本科生毕业设计（论文）撰写规范》予以修订。 一、毕业设计（论文）资料的组成、填写与装订 （一）毕业设计（论文）资料的组成 1.毕业设计（论文）任务书； 2.毕业设计（论文）开题报告； 3.毕业设计（论文）评语； 4.毕业设计（论文）答辩纪录； 5.毕业论文或毕业设计技术报告（包括：封面、中英文摘要、目录、正文、参考文献、附录(可选)、致谢(可选)等）； 6.毕业设计（论文）进程记录； 7.外文资料及原文复印件； 8.工程图纸、程序及软盘等。 （二）毕业设计（论文）资料的填写 毕业设计（论文）统一使用学校印制的毕业设计（论文）资料袋和封面。毕业设计（论文）资料按要求认真填写，字体要工整，版面要整洁，手写一律用黑或兰黑墨水。 （三）毕业设计（论文）资料的装订 毕业设计（论文）按统一顺序装订：封面、中外文摘要、目录、正文、参考文献、附录、致谢，装订成册后与任务书、开题报告、评语、答辩记录、进程记录、外文资料及原文复印件、工程图纸、程序及软盘等一起放入填写好的资料袋内上交院系。 二、毕业设计（论文）撰写的内容与要求 一份完整的毕业设计（论文）应由以下部分组成： 1.封面： 由学校统一印刷，按要求填写。 2.论文题目 论文题目应该用简短、明确的文字写成，通过标题把毕业设计（论文）的内容、专业特点概括出来。题目字数要适当，一般不宜超过20个字。如果有些细节必须放进标题，为避免冗长，可以设副标题，把细节放在副标题里。 3.摘要(中文在前，英文在后，样式见附录1、2）
8. 什么是弱束暗场像？与中心暗场像有何不同？试用Ewald图解说明。 答：弱束暗场像是通过入射束倾斜，使偏离布拉格条件较远的一个衍射束通过物镜光阑，透射束和其他衍射束都被挡掉，利用透过物镜光阑的强度较弱的衍射束成像。 与中心暗场像不同的是，中心暗场像是在双光束的条件下用的成像条件成像，即除直射束外只有一个强的衍射束，而弱束暗场像是在双光阑条件下的g/3g的成像条件成像，采用很大的偏离参量s。中心暗场像的成像衍射束严格满足布拉格条件，衍射强度较强，而弱束暗场像利用偏离布拉格条件较远的衍射束成像，衍射束强度很弱。采用弱束暗场像，完整区域的衍射束强度极弱，而在缺陷附近的极小区域内发生较强的反射，形成高分辨率的缺陷图像。图：PPT透射电子显微技术1页 10. 透射电子显微成像中，层错、反相畴界、畴界、孪晶界、晶界等衍衬像有何异同？用什么办法及根据什么特征才能将它们区分开来？ 答：由于层错区域衍射波振幅一般与无层错区域衍射波振幅不同，则层错区和与相邻区域形成了不同的衬度，相应地出现均匀的亮线和暗线，由于层错两侧的区域晶体结构和位相相同，故所有亮线和暗线的衬度分别相同。层错衍衬像表现为平行于层错面迹线的明暗相间的等间距条纹。 孪晶界和晶界两侧的晶体由于位向不同，或者还由于点阵类型不同，一边的晶体处于双光束条件时，另一边的衍射条件不可能是完全相同的，也可能是处于无强衍射的情况，就相当于出现等厚条纹，所以他们的衍衬像都是间距不等的明暗相间的条纹，不同的是孪晶界是一条直线，而晶界不是直线。 反相畴界的衍衬像是曲折的带状条纹将晶粒分隔成许多形状不规则的小区域。 层错条纹平行线直线间距相等 反相畴界非平行线非直线间距不等 孪晶界条纹平行线直线间距不等 晶界条纹平行线非直线间距不等 11.什么是透射电子显微像中的质厚衬度、衍射衬度和相位衬度。形成衍射衬度像和相位衬度像时，物镜在聚焦方面有何不同？为什么？ 答：质厚衬度：入射电子透过非晶样品时，由于样品不同微区间存在原子序数或厚度的差异，导致透过不同区域落在像平面上的电子数不同，对应各个区域的图像的明暗不同，形成的衬度。 衍射衬度：由于样品中的不同晶体或同一晶体中不同部位的位向差异导致产生衍射程度不同而形成各区域图像亮度的差异，形成的衬度。 相位衬度：电子束透过样品，试样中原子核和核外电子产生的库伦场导致电子波的相位发生变化，样品中不同微区对相位变化作用不同，把相应的相位的变化情况转变为相衬度，称为相位衬度。 物镜聚焦方面的不同：透射电子束和至少一个衍射束同时通过物镜光阑成像时，透射束和衍射束相互干涉形成反应晶体点阵周期的条纹成像或点阵像或结构物象，这种相位衬度图像的形成是透射束和衍射束相干的结果，而衍射衬度成像只用透射束或者衍射束成像。
2016 届毕业设计（论文） 题目：题目 专业：专业 班级：班级 姓名：姓名 指导老师：指导老师 起讫日期：2015.12-2016.5 2016年 05 月
目录 摘要【7.1-2 中文摘要摘要文字】 ....................................................................... I Abstract使用样式【7.2-2 英文摘要摘要】 ............................................................ II 第一章说在前面 (1) 1.1 关于这个模板 (1) 第二章使用样式【1.1 一级标题】（自动编号）(一级标题三号宋体居中) (2) 2.1 使用样式【1.2 二级标题】(二级标题四号宋体加粗居左) (2) 2.2 (二级节与节之间空一行) (2) 2.2.1 三级标题使用样式【1.3 三级标题】(三级标题小四号宋体居左)： (2) 第三章学校的规范要求 (3) 3.1 毕业设计（论文）的写作细则（没什么卵用） (3) 3.1.1 书写 (3) 3.1.2 标点符号 (3) 3.1.3 名词、名称 (3) 3.1.4 量和单位 (3) 3.1.5 数字 (3) 3.1.6 标题层次 (3) 3.1.7 注释 (4) 3.1.8 公式 (4) 3.1.9 表格 (4) 3.1.10 插图 (4) 3.1.11 参考文献 (4) 3.1.12 页眉和页脚(见附录6） (5) 第四章模板使用说明 (6) 4.1 总则 (6) 4.2 二级标题 (6) 4.2.1 三级标题 (6) 4.3 关于表格题注的说明 (6)
《现代材料分析方法》期末试卷1 一、单项选择题（每题 2 分，共10 分） 1．成分和价键分析手段包括【b 】 （a）WDS、能谱仪（EDS）和XRD （b）WDS、EDS 和XPS （c）TEM、WDS 和XPS （d）XRD、FTIR 和Raman 2．分子结构分析手段包括【 a 】 （a）拉曼光谱（Raman）、核磁共振（NMR）和傅立叶变换红外光谱（FTIR）（b）NMR、FTIR 和WDS （c）SEM、TEM 和STEM（扫描透射电镜）（d）XRD、FTIR 和Raman 3．表面形貌分析的手段包括【 d 】 （a）X 射线衍射（XRD）和扫描电镜（SEM）(b) SEM 和透射电镜（TEM） (c) 波谱仪（WDS）和X 射线光电子谱仪（XPS）(d) 扫描隧道显微镜（STM）和 SEM 4．透射电镜的两种主要功能：【b 】 （a）表面形貌和晶体结构（b）内部组织和晶体结构 （c）表面形貌和成分价键（d）内部组织和成分价键 5．下列谱图所代表的化合物中含有的基团包括：【 c 】 （a）–C-H、–OH 和–NH2 (b) –C-H、和–NH2, (c) –C-H、和-C=C- (d) –C-H、和CO 二、判断题（正确的打√，错误的打×，每题2 分，共10 分） 1．透射电镜图像的衬度与样品成分无关。（×）2．扫描电镜的二次电子像的分辨率比背散射电子像更高。（√）3．透镜的数值孔径与折射率有关。（√）
4．放大倍数是判断显微镜性能的根本指标。（×）5．在样品台转动的工作模式下，X射线衍射仪探头转动的角速度是样品转动角 速度的二倍。（√） 三、简答题（每题5 分，共25 分） 1. 扫描电镜的分辨率和哪些因素有关？为什么? 和所用的信号种类和束斑尺寸有关，因为不同信号的扩展效应不同，例如二次电子产生的区域比背散射电子小。束斑尺寸越小，产生信号的区域也小，分辨率就高。 2．原子力显微镜的利用的是哪两种力，又是如何探测形貌的？ 范德华力和毛细力。 以上两种力可以作用在探针上，致使悬臂偏转,当针尖在样品上方扫描时，探测器可实时地检测悬臂的状态，并将其对应的表面形貌像显示纪录下来。 3.在核磁共振谱图中出现多重峰的原因是什么？ 多重峰的出现是由于分子中相邻氢核自旋互相偶合造成的。在外磁场中，氢核有两种取向，与外磁场同向的起增强外场的作用，与外磁场反向的起减弱外场的作用。根据自选偶合的组合不同，核磁共振谱图中出现多重峰的数目也有不同，满足“n+1”规律 4．什么是化学位移，在哪些分析手段中利用了化学位移？ 同种原子处于不同化学环境而引起的电子结合能的变化，在谱线上造成的位移称为化学位移。在XPS、俄歇电子能谱、核磁共振等分析手段中均利用化学位移。 5。拉曼光谱的峰位是由什么因素决定的, 试述拉曼散射的过程。 拉曼光谱的峰位是由分子基态和激发态的能级差决定的。在拉曼散射中，若光子把一部分能量给样品分子，使一部分处于基态的分子跃迁到激发态，则散射光能量减少，在垂直方向测量到的散射光中，可以检测到频率为（ν0 - Δν)的谱线，称为斯托克斯线。相反，若光子从样品激发态分子中获得能量，样品分子从激发态回到基态，则在大于入射光频率处可测得频率为（ν0 + Δν)的散射光线，称为反斯托克斯线 四、问答题（10 分） 说明阿贝成像原理及其在透射电镜中的具体应用方式。 答：阿贝成像原理（5 分）：平行入射波受到有周期性特征物体的散射作用在物镜的后焦面上形成衍射谱，各级衍射波通过干涉重新在像平面上形成反映物的特征的像。在透射电镜中的具体应用方式（5 分）。利用阿贝成像原理，样品对电子束起散射作用，在物镜的后焦面上可以获得晶体的衍射谱，在物镜的像面上形成反映样品特征的形貌像。当中间镜的物面取在物镜后焦面时, 则将衍射谱放大，则在荧光屏上得到一幅电子衍射花样；当中间镜物面取在物镜的像面上时，则将图像进一步放大,这就是电子显微镜中的成像操作。 五、计算题（10 分） 用Cu KαX 射线（λ=0.15405nm）的作为入射光时，某种氧化铝的样品的XRD 图谱如下，谱线上标注的是2θ的角度值，根据谱图和PDF 卡片判断该氧化铝的类型，并写出XRD 物相分析的一般步骤。 答：确定氧化铝的类型（5 分） 根据布拉格方程2dsinθ=nλ，d=λ/(2sinθ) 对三强峰进行计算：0.2090nm,0.1604nm,0.2588nm,与卡片10-0173 α-Al2O3 符合，进一步比对其他衍射峰的结果可以确定是α-Al2O3。 XRD 物相分析的一般步骤。（5 分） 测定衍射线的峰位及相对强度I/I1： 再根据2dsinθ=nλ求出对应的面间距 d 值。 (1) 以试样衍射谱中三强线面间距d 值为依据查Hanawalt 索引。
计算机科学与技术学院实习报告（2016 — 2017 学年第一学期） 课程名称：project2 班级：电子1401 学号：1402140112 姓名：董路 指导教师：方强,武晓光 2017年1月
目录 第一章：详细描述课题功能要求和指标，介绍课题系统的设计框图 (1) 第二章：硬件介绍 (1) 实验设计思路 (1) 显示模块 (2) AD转换模块 (4) 检测电路： (6) 键盘模块： (6) 第三章：代码介绍 (7) 流程图： (9) 第四章：测试与总结 (9) 电路图： (11)
第一章：详细描述课题功能要求和指标，介绍课题系统的设 计框图 设计温度采样电路，显示现在温度。并包括报警电路，键盘输入温度限制模块，ad转换模块，显示模块，温度采样电路。 使用文档：channel可以选择使用哪一路ad转换得知，按键键盘第一行最后一个按键是设置最高温度限制，第三行是设置最低温度限制，例如（按下最高温度设置按钮后，在按下两位数字，最高温度设置就完成了），当被测温度超过设置温度就会导致蜂鸣器报警，温度测量围是0—100℃，具有工业利用价值。 1. 1 1. 2 第二章：硬件介绍 实验设计思路
温度计的设计分为以下几个模块 1.温度采集 2.温度元素和相关元素的转换 3.Ad转换模块 4.数据收集和处理 5.输出模块 2. 1 对于数字温度计，温度采集模块使用热敏电阻将温度信号转换成电压信号，再通过ad转换模块将电压模拟量转换成数字量，传递给cpu来处理相关数据，最后将处理出来的温度信号在数码管显示出来。 ●温度采集和数据转换： 元器件选择RTD-PT100（PT100温度参数：当在20℃在50℃之间时，电阻值大概是100Ω到120Ω之间） 恒流源产生1mA的恒定电流，PT100的电压值大概是100mV到120mV，由于tlc1543是10位的ad转换，所以最小的采样间隔是5000/1024≈4.88mV,而相应的pt100在20到50℃，变化一度欧姆相应大概变化0.385Ω，所以通过放大器放大到合适的倍数，从而使精度达到要求。 ●数据手机和处理： 由于TLC1543是10位串行输出，所以要将TLC1543和MCU相连，这次我选择使用80c51,因为c51使我们已经使用过的芯片比较容易掌握，通过c51来控制TLC1543的哪一路收集信号，同时来采集TLC1543发送过来的数据，通过算法将采集过来的数据进行处理从而得出温度的数据。 ●显示： 将c51和LCD相连从而显示出相应的温度。 ●按键输入上下限： 通过按键设置温度上下限从而使温度超过时候报警。 硬件相关： ●显示模块
第一章 1.X射线学有几个分支？每个分支的研究对象是什么？ 答：X射线学分为三大分支：X射线透射学、X射线衍射学、X射线光谱学。 X射线透射学的研究对象有人体，工件等，用它的强透射性为人体诊断伤病、用于探测工件内部的缺陷等。 X射线衍射学是根据衍射花样，在波长已知的情况下测定晶体结构，研究与结构和结构变化的相关的各种问题。 X射线光谱学是根据衍射花样，在分光晶体结构已知的情况下，测定各种物质发出的X射线的波长和强度，从而研究物质的原子结构和成分。 2. 试计算当管电压为50 kV时，X射线管中电子击靶时的速度与动能，以及所发射的连续谱的短波限和光子的最大能量是多少？ 解：已知条件：U=50kV 电子静止质量：m0=9.1×10-31kg 光速：c=2.998×108m/s 电子电量：e=1.602×10-19C 普朗克常数：h=6.626×10-34J.s 电子从阴极飞出到达靶的过程中所获得的总动能为： E=eU=1.602×10-19C×50kV=8.01×10-18kJ 由于E=1/2m0v02 所以电子击靶时的速度为： v0=(2E/m0)1/2=4.2×106m/s 所发射连续谱的短波限λ0的大小仅取决于加速电压： λ0（?）＝12400/U(伏) ＝0.248? 辐射出来的光子的最大动能为： E0＝hv＝h c/λ0＝1.99×10-15J 3. 说明为什么对于同一材料其λK<λKβ<λKα? 答:导致光电效应的X光子能量＝将物质K电子移到原子引力范围以外所需作的功hV k = W k 以kα为例: hV kα = E L– E k
h e = W k – W L = hV k – hV L ∴h V k > h V k α∴λk<λk α以k β 为例:h V k β = E M – E k = W k – W M =h V k – h V M ∴ h V k > h V k β∴ λk<λk βE L – E k < E M – E k ∴hV k α < h V k β∴λk β < λk α 4. 如果用Cu 靶X 光管照相，错用了Fe 滤片，会产生什么现象？ 答：Cu 的K α1,K α2, K β线都穿过来了，没有起到过滤的作用。 5. 特征X 射线与荧光X 射线的产生机理有何不同？某物质的K 系荧光X 射线波长是否等于它的K 系特征X 射线波长？ 答：特征X 射线与荧光X 射线都是由激发态原子中的高能级电子向低能级跃迁时，多余能 量以X 射线的形式放出而形成的。不同的是：高能电子轰击使原子处于激发态，高能级电子回迁释放的是特征X 射线；以 X 射线轰击，使原子处于激发态，高能级电子回迁释放 的是荧光X 射线。某物质的K 系特征X 射线与其K 系荧光X 射线具有相同波长。6. 连续谱是怎样产生的？其短波限 与某物质的吸收限 有何不同（V 和 V K 以kv 为单位）？ 答：当X 射线管两极间加高压时，大量电子在高压电场的作用下，以极高的速度向阳极轰 击，由于阳极的阻碍作用，电子将产生极大的负加速度。根据经典物理学的理论，一个带 负电荷的电子作加速运动时，电子周围的电磁场将发生急剧变化，此时必然要产生一个电 磁波，或至少一个电磁脉冲。由于极大数量的电子射到阳极上的时间和条件不可能相同，因而得到的电磁波将具有连续的各种波长，形成连续X 射线谱。 在极限情况下，极少数的电子在一次碰撞中将全部能量一次性转化为一个光量子，这 个光量子便具有最高能量和最短的波长，即短波限。连续谱短波限只与管压有关，当固定
XRD X 射线衍射 TEM 透射电镜—ED 电子衍射 SEM 扫描电子显微镜—EPMA 电子探针（EDS 能谱仪 WPS 波谱仪） XPS X 射线光电子能谱分析 AES 原子发射光谱或俄歇电子能谱 IR —FT —IR 傅里叶变换红外光谱 RAMAN 拉曼光谱 DTA 差热分析法 DSC 差示扫描 量热法 TG 热重分析 STM 扫描隧道显微镜 AFM 原子力显微镜 测微观形貌：TEM 、SEM 、EPMA 、STM 、AFM 化学元素分析：EPMA 、XPS 、AES （原子和俄歇） 物质结构：远程结构（XRD 、ED ）、近程结构（RAMAN 、IR ）分子结构：RAMAN 官能团：IR 表面结构：AES （俄歇）、XPS 、STM 、AFM X 射线的产生：高速运动着额电子突然受阻时，随着电子能量的消失和转化，就会产生X 射 线。产生条件：1.产生并发射自由电子；2.在真空中迫使电子朝一定方向加速运动，以获得 尽可能高的速度；3.在高速电子流的运动路线上设置一障碍物（阳极靶），使高速运动的电 子突然受阻而停止下来。 X 射线荧光：入射的X 射线光量子的能量足够大将原子内层电子击出，外层电子向内层跃迁， 辐射出波长严格一定的X 射线 俄歇电子产生：原子K 层电子被击出，L 层电子如L2电子像K 层跃迁能量差不是以产生一 个K 系X 射线光量子的形式释放，而是被临近的电子所吸收，使这个电子受激发而成为自由 电子，即俄歇电子 14种布拉菲格子特征：立方晶系（等轴）a=b=c α=β=γ=90°；正方晶系（四方）a=b ≠c α=β=γ=90°；斜方晶系（正交）a ≠b ≠c α=β=γ=90°；菱方晶系（三方）a=b=c α=β=γ≠90°；六方晶系a=b ≠c α=β=90°γ=120°；单斜晶系a ≠b ≠c α=β=90°≠ γ；三斜晶系a ≠b ≠c α≠β≠γ≠90° 布拉格方程的推导 含义：线照射晶体时，只有相邻面网之间散 射的X 射线光程差为波长的整数倍时，才能 产生干涉加强，形成衍射线，反之不能形成 衍射线。λθn d hkl =sin 2 讨论 1.当λ一定，d 相同的晶面，必然在θ相 同的情况下才能获得反射。 2.当λ一定，d 减小，θ就要增大，这说 明间距小的晶面，其掠过角必须是较大的，否则它们的反射线无法加强，在考察多晶体衍射 时，这点由为重要。 3.在任何可观测的衍射角下，产生衍射的条件为：d 2≤λ，但波长过短导致衍射角过 小，使衍射现象难以观测，常用X 射线的波长范围是0.25~0.05nm 。 4.波长一定时，只有2/λ≥d 的晶面才能发生衍射—衍射的极限条件。 X 射线衍射方法：1.劳埃法，采用连续的X 射线照射不动的单晶体，用垂直入射的平板底片 记录衍射得到的劳埃斑点，多用于单晶取向测定及晶体对称性研究。2.转晶法：采用单色X 射线照射转动的单晶体，并用一张以旋转轴为轴的圆筒形底片来记录，特点是入射线波长不 变，靠旋转单晶体以连续改变个晶体与入射X 射线的θ角来满足布拉格方程。转晶法可以确 定晶体在旋转轴方向的点阵周期，确定晶体结构。3.粉末法，采用单色X 射线照射多晶试样， 利用多晶试样中各个微晶不同取向来改变θ角来满足布拉格方程。用于测定晶体结构，进行 物相定性、定量分析，精确测量警惕的点阵参数以及材料的应力、织构、晶粒大小。 谢乐公式：30.890.89cos cos N d L λ βθθ==说明了衍射线宽度与晶块在反射晶面法线方向上尺度
毕业设计(论文)开题报告 学生姓名： XXX 学号： 17011001XX 所在学院：工业与艺术设计学院 专业：视觉传达设计 设计(论文)题目：“Y&Y台湾便当”VI设计 指导教师： XXX 2013年11月18日
开题报告填写要求 1．开题报告（含“文献综述”）作为毕业设计（论文）答辩委员会对学生答辩资格审查的依据材料之一。此报告应在指导教师指导下，由学生在毕业设计（论文）工作前期内完成，经指导教师签署意见及所在专业审查后生效； 2．开题报告内容必须用黑墨水笔工整书写或按教务处统一设计的电子文档标准格式（可从教务处网页上下载）打印，禁止打印在其它纸上后剪贴，完成后应及时交给指导教师签署意见； 3．“文献综述”应按论文的格式成文，并直接书写（或打印）在本开题报告第一栏目内，学生写文献综述的参考文献应不少于15篇（不包括辞典、手册）； 4．有关年月日等日期的填写，应当按照国标GB/T 7408—94《数据元和交换格式、信息交换、日期和时间表示法》规定的要求，一律用阿拉伯数字书写。如“2004年4月26日”或“2004-04-26”。
毕业设计（论文）开题报告 1．结合毕业设计（论文）课题情况，根据所查阅的文献资料，每人撰写2000字左右的文献综述： “Y&Y台湾便当”系列设计 摘要 Y&Y台湾便当VI设计是包含点餐册、外卖卡、宣传招贴、外卖包装等内容在内的视觉识别系统设计。Y&Y台湾便当VI设计是传播企业经营理念、建立企业知名度、塑造企业形象的快速便捷之途。Y&Y台湾便当利用设计到位、实施科学的视觉识别系统，传达了企业理念、企业价值观。Y&Y台湾便当VI设计充分体现“对一切美好的坚持热情，相信自己一直年轻并有不可估计的能量”这一设计内涵。Y&Y的意思为yummy and young ，即美味与年轻。Y&Y台湾便当VI设计通过一定创意设计和图像设计试图提醒每个人享受美味餐饮的同时享受人生，享受生活。 关键词：视觉传达设计；VI设计；餐饮；Y&Y台湾便当 前言 快节奏的都市生活，孕育了快餐文化的产生，同时也促进了快餐事业的不断成长壮大。快餐正日益成为一种新的餐饮时尚。“‘Y&Y台湾便当’VI设计”就是一个紧贴时尚，关注社会的真实课题。 民以食为天，任何人都离不开饮食。美味的食品、精致的摆盘、独特的包装是我们都不会拒绝的东西。美食常常可以牵动我们内心最细腻的那根弦，通过品尝美食的过程得到心底的满足。但美食的诱惑力并不是我们单单用文字话语就能够完全表达清楚的。美食需要创意，美食需要灵动。现实中快餐遍布各地，市场上出现了中式快餐、美式快餐、日式快餐、韩式快餐等众多风格快餐。而使Y&Y台湾便当在众多的快餐店脱颖而出是具有一定的难度和挑战性的。我选择做“Y&Y台湾便当”VI设计，也是希望通过独特的设计来表达出快餐不仅只是填饱肚皮的东西也还可以是灵动的，也是可以在快节奏的生活中让人们体会一丝温暖这个深层的含义。缓解现代都市人充满压力的生活，给人一
1《现代材料分析方法》期末试卷 一、单项选择题（每题 2 分，共 10 分） 1．成分和价键分析手段包括【 b 】 （a）WDS、能谱仪（EDS）和 XRD （b）WDS、EDS 和 XPS （c）TEM、WDS 和 XPS （d）XRD、FTIR 和 Raman 2．分子结构分析手段包括【 a 】 （a）拉曼光谱（Raman）、核磁共振（NMR）和傅立叶变换红外光谱（FTIR）（b） NMR、FTIR 和 WDS （c）SEM、TEM 和 STEM（扫描透射电镜）（d） XRD、FTIR 和 Raman 3．表面形貌分析的手段包括【 d 】 （a）X 射线衍射（XRD）和扫描电镜（SEM） (b) SEM 和透射电镜（TEM） (c) 波谱仪（WDS）和 X 射线光电子谱仪（XPS） (d) 扫描隧道显微镜（STM）和 SEM 4．透射电镜的两种主要功能：【 b 】 （a）表面形貌和晶体结构（b）内部组织和晶体结构 （c）表面形貌和成分价键（d）内部组织和成分价键 5．下列谱图所代表的化合物中含有的基团包括：【 c 】 （a）–C-H、–OH 和–NH2 (b) –C-H、和–NH2, (c) –C-H、和-C=C- (d) –C-H、和 CO 二、判断题（正确的打√，错误的打×，每题 2 分，共 10 分） 1．透射电镜图像的衬度与样品成分无关。（×）2．扫描电镜的二次电子像的分辨率比背散射电子像更高。（√）3．透镜的数值孔径与折射率有关。（√）4．放大倍数是判断显微镜性能的根本指标。（×）5．在样品台转动的工作模式下，X射线衍射仪探头转动的角速度是样品转动角 速度的二倍。（√） 三、简答题（每题 5 分，共 25 分） 1. 扫描电镜的分辨率和哪些因素有关？为什么? 和所用的信号种类和束斑尺寸有关，因为不同信号的扩展效应不同，例如二次电子产生的区域比背散射电子小。束斑尺寸越小，产生信号的区域也小，分辨率就高。 2．原子力显微镜的利用的是哪两种力，又是如何探测形貌的？ 范德华力和毛细力。
《近代材料测试方法》复习题 1．材料微观结构和成分分析可以分为哪几个层次？分别可以用什么方法分析？ 答：化学成分分析、晶体结构分析和显微结构分析 化学成分分析——常规方法（平均成分）：湿化学法、光谱分析法 ——先进方法（种类、浓度、价态、分布）：X射线荧光光谱、电子探针、 光电子能谱、俄歇电子能谱 晶体结构分析：X射线衍射、电子衍射 显微结构分析：光学显微镜、透射电子显微镜、扫面电子显微镜、扫面隧道显微镜、原 子力显微镜、场离子显微镜 2．X射线与物质相互作用有哪些现象和规律？利用这些现象和规律可以进行哪些科学研究工作，有哪些实际应用？ 答：除贯穿部分的光束外，射线能量损失在与物质作用过程之中，基本上可以归为两大类：一部 分可能变成次级或更高次的X射线，即所谓荧光X射线，同时，激发出光电子或俄歇电子。另一部分消耗在X射线的散射之中，包括相干散射和非相干散射。此外，它还能变成热量逸出。 （1）现象/现象：散射X射线（想干、非相干）、荧光X射线、透射X射线、俄歇效 应、光电子、热能 （2）①光电效应：当入射X射线光子能量等于某一阈值，可击出原子内层电子，产 生光电效应。
应用：光电效应产生光电子，是X射线光电子能谱分析的技术基础。光电效应 使原子产生空位后的退激发过程产生俄歇电子或X射线荧光辐射是 X射线激发俄歇能谱分析和X射线荧光分析方法的技术基础。 ②二次特征辐射（X射线荧光辐射）：当高能X射线光子击出被照射物质原子的 内层电子后，较外层电子填其空位而产生了次生特征X射线（称二次特征辐射）。 应用：X射线被物质散射时，产生两种现象：相干散射和非相干散射。相干散射 是X射线衍射分析方法的基础。 3．电子与物质相互作用有哪些现象和规律？利用这些现象和规律可以进行哪些科学研究工作，有哪些实际应用？ 答：当电子束入射到固体样品时，入射电子和样品物质将发生强烈的相互作用，发生弹性散射和非弹性散射。伴随着散射过程，相互作用的区域中将产生多种与样品性质有关的物理信息。 （1）现象/规律：二次电子、背散射电子、吸收电子、透射电子、俄歇电子、特征X射 线 （2）获得不同的显微图像或有关试样化学成分和电子结构的谱学信息 4．光电效应、荧光辐射、特征辐射、俄歇效应，荧光产率与俄歇电子产率。 特征X射线产生机理。 光电效应：当入射X射线光子能量等于某一阈值，可击出原子内层电子，产生光电效应。 荧光辐射：被打掉了内层电子的受激原子，将发生外层电子向内层跃迁的过程，同时辐射出波长严格一定的特征X射线。这种利用X射线激发而产生的特征辐射为二次特