NVC322全自动光学影像测量仪
产品介绍
NVC322全自动光学影像测量仪是智泰集团推出的针对3C行业零部件尺寸控制的检测设备。仪器采用伺服控制系统搭配美国原装NA VITAR镜头，方便快速实现各种复杂表面工件的精确测量。
产品特点
外形设计美观，功能设计更为人性化。
全新设计可程序控制四十相灯，工件边界更清晰。
丝杆传动，低噪声，定位准确，运行更平稳。
导轨直接架设在00级大理石台面上，保证导轨的运行精度。
新版CNC软件，界面友好，操作简单，稳定性强。
可增加激光及探针测量模组。
技术参数
设备型号NVC322
测量行程(X/Y/Z) 300mm x 200mm x 200mm
X/Y 轴精度(3+L/250) μm
X/Y轴重复性<2μm
光学尺分辨率1μm
X/Y/Z检测速度X:150mm/s; Y:130mm/s; Z:100mm/s 相机Sony高清晰CCD
镜头全自动Navitar变焦镜头 6.5:1
光学放大倍率: 1X-6X;
放大倍率
影像放大倍率: 30X-150X
上表面灯：分区控制40相灯，白色(三基色可选) 灯源
下轮廓灯：白色（三基色可选）
整机尺寸(mm) 1030mm x 766mm x 1958mm
整机重量（kg）575
软件OVM Pro 3.0 机台承重30kg
材质工作台材质：大理石
电源供给：AC220V±10%，50Hz；
使用环境
温度：20±5℃；湿度：45%~55%RH；
保固期1年
1.光学测量：对光学材料、零件及系统的参数和性能的测量。 2.直接测量：无需对被测的量与其他的实测的量进行函数关系的辅助计算，而直接得到被测值的测量。 3.间接测量：直接测量的量与被测的量之间有已知的函数关系，从而得到该被测量的测量。 4.测量误差原因：（测量装置误差）（环境误差）（方法误差）（人员误差）。 5.测量误差按其特点和性质，可分为（系统误差）、（偶然误差）和（粗大误差）。 6.精度：反应测量结果与真实值接近程度的量。 7.精度分为：①正确度:由系统误差引起的测量值与真值的偏离程度②由偶然误差引起......③由系统误差和偶然误差引起的...... 8.偶然误差的评价:(标准偏差)(极限误差)。 9.正态分布特征：（单峰性）（对称性）（有界性）（抵偿性）。 10.确定权的大小的方法：（根据测量次数确定）（由标准偏差确定）。 11.对准（横向对准）是指在垂直于瞄准轴方向上，使目标和比较标记重合或置中的过程，又称横向对准。 12.调焦（纵向对准）指目标和比较标记瞄准轴方向重合或置中的过程。 13..对准误差：对准残留的误差。 14.调焦误差：调焦残留的误差。 15.常用调焦方式：（清晰度法）、（消视差法）。 16.清晰度法：以目标象和比较标志同样清晰为准，其调焦误差由几何景深和物理景深决定。 17.消视差法：以眼睛垂直于瞄准轴摆动时看不出目标象和比较标志有相对错动为准，调焦误差受对准误差影响。 18.平行光管：是光学测量中最常用的部件，发出平行光，用来模拟无限远目标，主要由（望远物镜）和（安置在物镜焦平面上的分划板）构成。 19.调校平行光管的目的：是使分划板的分划面位于物镜焦平面上。调校方法：（远物法）、（可调前置镜法）、（自准直法）、（五棱镜法）和（三管法）。 20.自准直仪：（自准直望远镜）（自准直显微镜）。 21.自准直目镜是一种带分划板和分划板照明装置的目镜。一般不能单独使用，应与望远镜物镜配合构成自准直望远镜；与显微镜物镜配合构成自准直显微镜。它们统称自准直仪。 22.常用自准直目镜：（高斯目镜）、（阿贝目镜）、（双分划板式自准直目镜）。 23.剪切干涉法常见的平板式横向剪切干涉仪，它是以干涉条纹成无限宽，即干涉场中呈均匀一片作为判别光束准直性基准的。 24.双楔板剪切干涉法的原理？ 解：假设楔板的棱边平行于x轴(棱边呈水平状态)，并倾斜至于光路中。一离焦板的光波Kd(x2+y2)经楔板前，后面反射，则反射波沿x方向被横波向剪切。干涉条纹是一组与x轴倾斜的直线簇，在重叠区域形成的条纹可表示为（nkβ）y+(KDs)x=mπ 25.V棱镜法的检测原理：当单色平行光垂直的入射到V棱镜的ED面时，若被检玻璃折射率n与V棱镜折射率n0完全相同，则出射光不发生任何偏折的射出；若n与n0不等，则出射光相对入射光有一偏折角θ，若测出θ，就可计算出折射率。 26.V棱镜折光仪：主要用于平行光管、对准望远系统、读数显微镜系统和标准V块组成。 27.V棱镜折光仪的使用方法：平行光管分划板的刻线是在水平透光宽缝中间刻一细长线。由平行光管射出的单色平行光束经V棱镜和待检试样后，产生偏折角θ，转动望远镜对准平行光管的刻线象。当望远镜对准时，带动度盘转动。有读数显微镜读得角θ，其整数部分由度盘读出，小数部分由测微目镜读出。 28.最小偏向角法的测量原理：单色平行光沿MP方向射出，入射光与出射光的夹角δ为偏
一键式测量仪使用注意事项 安全使用 1.测量期间，请保持环境温度恒定。 2.请在正确的电源电压下使用VX3000一键式测量仪。否则可能引起故 障。 3.测量过程中，请勿关闭电源。否则可能导致部分或全部设定数据丢 失。在关闭电源时，请一定显示主菜单画面。 4.请勿强行弯曲交流电源线组件，或是在组件上放置重物。否则可能 会损坏电缆，进而导致火灾或电击。请勿使用损坏的电源线组件。 5.请勿让金属、灰尘、纸屑、木屑等异物导入本产品。否则可能会导 致火灾、触电、故障或其他事故。 6.禁止移除壳盖,否则触碰产品内部可能会导致触电。 7.请勿将手伸入到平台之间。否则可能会导致手被夹伤。 8.请勿把手伸入到平台与可变照明装置之间。否则可能会导致手被夹 伤。
9.请勿在VX3030/3010的平台上放置超过2kg的物体；请勿在 VX3030/3010的平台上放置超过5kg的物体；请勿在VX3300的平台上放置超过7.5kg的物体，否则可能会损坏产品。 安全搬运 1.搬运仪器时，请将电缆从控制器断开，托住基座并握住后部的手柄。 否则可能会由于掉落导致受伤。此外，搬运仪器时抓住其他部分可能会导致损坏。 维护保养 1.请勿使用稀释剂或有机溶剂擦拭VX3000一键式测量仪，否则可能会 损坏产品。
2.如果VX3000一键式测量仪上积有任何脏污，请使用镜头纸或干布擦 拭。 3.请勿踩踏VX3000一键式测量仪，否则可能会损坏仪器。 4.请勿在VX3000一键式测量仪上放置任何物体。否则可能引起故障。 5.在连接或断开交流电源线组件之前，请务必切断主电源。否则可能 引起故障。 6.VX3000一键式测量仪使用了精密光学器件，请勿使之受到振动或冲 击。否则可能会损坏产品。 7.禁止拆解、改装、私自修理VX3000一键式测量仪，否则可能会导致 火灾、触电或产品故障。
眼视光特检技术十二 2007-06-1508:52A.M. 第十二章IOLMaster光学生物测量仪 光学干涉生物测量的原理和概念，眼轴长度、角膜曲率测量、前房深度测量、角膜直径测定和人工晶状体度数计算的操作方法，资料分析和临床应用，晶状体常数优化等技术，操作注意事项。 第一节概述 一、光学生物测量的原理 激光干涉生物测量是基于部分干涉测量的原理，采用半导体激光发出的一束具有短的干涉长度（160μm）的红外光线（波长780nm），并将其分成两束，使之具有相干性；同时，两束光分别经过不同的光学路径后，都照射到眼球，而且都经过角膜和视网膜反射回来。干涉测量仪的一端对准被测量的眼球，另一端装有光学感受器，当两束光相遇时，如果这两束光线路径距离的差异小于干涉长度，光学感受器即能测出干涉信号，根据干涉仪内的反射镜的位置测出的距离就是角膜到视网膜的光学路径（图12-1）。 图12-1利用IOLMaster进行光学生物测量 图中，眼球轴长即是角膜前表面到视网膜色素上皮层的光学路径距离。光学测量曲线显示光学感受器接收到与眼底位置相关的干涉信号曲线。最强的峰值可以认是视网膜色素上皮层；最强峰值旁对称的次级峰是半导体激光的。 二、IOLMaster光学生物测量仪 IOLMaster（图12-2）是一种计算人工晶状体度数进行眼球轴长测量而设计的仪器，它将角膜曲率、角膜直径（white-to-white，白到白角膜直径（white-to-white，白到白）图12-2IOLMaster光学生物测量仪、前房深度、眼球轴长的测量集中于一体，同时还提供足量资料用于眼轴监测，前房型IOL植入术术前检查。 IOLMaster眼球轴长的测量沿着视轴的方向，获得从角膜前表面到视网膜色素上皮层的光学路径距离。它是一种非接触性的测量方法，因探头无需接触角膜，故角膜无需表麻、不会造成角膜上皮损伤和感染；因不需要使用浸入法超声测量所用的罩杯，故患者易接受；能自动判断眼别，方便测量且无眼别错误。检测时患者采取坐位，操作过程与其它生物学测量相似。 该仪器的测量范围：角膜曲率从5ｍｍ～10ｍｍ（角膜前表面半径），前房深度1杄5ｍｍ～6杄5ｍｍ，眼球轴长14ｍｍ～40ｍｍ，根据显示幕所设定的缩放比例，测量结果精确度可达到±0杄02ｍｍ。内置软件提供计算人工晶状体度数的公式包括：SRKⅡ、SRK/T、HolladayI、HofferQ以及Haigis五种，可根据不同眼轴进行选择。同时它提供20种不同类型人工晶状体的资料。 第二节操作技术
全自动影像测量仪 全自动影像测量仪算法的设置，可解决各种各样的寻边难题，从而准确的抓取边界。有自动去毛边功能，对阴暗不明的边界一样可以准确的找出. (3) 宏测量功能: 宏测量功能就是，将一些测量，构造命令关联到一个按钮上。点击按钮，即开始执行宏测量功能，宏测量功能会自动完成构造动作，减少用户操作鼠标次数，提高工作效率。软件提供了16 组宏测量功能，用户可以自己编辑宏测量功能按钮的图标。 (4) 强大的构造功能: 软件提供向导的构造功能，这是软件的一大特色。客户想要什么结果, 直接点击相关按钮，就可以自动得到想要的结果. 软件提供了10 种构造法( 【平移】、【旋转】、【提取】、【组合】、【平行】、【垂直】、【镜像】、【对称】、【相交】、【相切】) (5) 世界先进的小R角测量算法：对于大半径,小弧长的R角，一直是测量界的测量难题，我公司经过大量的实验及算法优化，终于创造出一套行之有效的算法, 很好的解决这一问题. 通过测量弧及弧相邻的两条切线，可解决这一难题.经实践, 重复性可达0.01 之内. (6) 自动判别测量(自动识别线，圆，弧)：只要将鼠标放在工件的边缘上，即可自动寻边得到线，圆或者弧. (7) 显示结果丰富：对各种元素的测量结果显示, 其信息量大, 能满足各种客户的需要。并可设置哪些内容显示, 哪些内容不显示, 也可以单个元素进行单独设置其显示信息。也可对同类元素进行设置. (8) 超差红色警示: 如果测量结果超差，会指示是哪项内容超差，并将该项显示成红色，对应的图形也会变成红色.
(9) 能显示光学放大倍率和屏幕放大倍率: 下图中显示了光学放大倍率与屏幕放大倍率，屏幕放大倍率是由软件自动计算得到的，并能显示一个像素相当于多少mm。 (10) 能建立多重工件坐标系: 可根据图纸建立多重工件座标系。实现各坐标系的座标变换; 能方便地实现直角坐标系与极坐标系之间的相互转换;能实现各工件坐标系的存储和调用。建立座标系后，如果选择了十字线旋转功能，十字线会作旋转，指示座标系的旋转方向 (11) 建立用户程序方便快捷: 可以通过平移和旋转建立的用户程序。 (12) 编辑修改用户程序, 直观方便: 可以删除，插入任一元素，包括座标系。可以查看某个元素的寻边状况，及改变寻边测量的环境。如果有必要，可以重新测量一个元素，以改变它的测量方法及环境。 (13) 机器自动测量过程中可进行手动测量: 如果客户在测量某个，或某几个元素时，希望手动测量它，而不希望机器自动去测，软件可以轻松实现。软件提供了断点设置功能，可在要手动测量的元素地方，设置断点，则机器运行到该处时，会自动停下来。 (14) 运行用户程序时，可将数据自动对齐导入到Excel 中: (15) 运行用户程序时，可将数据自动导入到专业的SPC软件中：在我们专业的SPC软件中设置好工件资料后，只要测量完一个工件，数据会自动发送到SPC软件数据中，不需要通过TXT文件或第三方软 件进行转换。整个过程都是自动完成的，不需要人为的干涉。 (16) 测量异常时, 可以进行智能处理: 软件提供超差暂停和测量失败暂停功能，比如，在测量的过程，不小心工件动了。这时机器会暂停下来，并让选择作后面的进一步的处
接地阻抗测试仪，接地电阻测试仪 接地阻抗测试仪系列产品可分为： DF9000大型地网变频大电流接地特性测量系统， DF910K大型地网变频大电流接地阻抗测量系统， DF902K变频抗干扰接地阻抗测量仪。 1、DF9000大型地网变频大电流接地特性测量系统：系统输出功率大（2-20KW），电压高（0-1000V），输出电流大（0-50A）。精确测量接地阻抗，接地电抗，接地电阻，接触电压，跨步电位差，场区地表电位梯度，接触电压，接触电位差，跨步电压，转移电位，导通电阻，土壤电阻率等参数，可全面测量大型地网的各项特性参数，完全满足新版DL/T475-2006《接地装置特性参数测量导则》的要求。 2、DF910K大型地网变频大电流接地阻抗测量系统：系统输出功率大（5-20KW），输出电压（0-1000V），输出电流（0-50A）。精确测量接地阻抗，接地电阻，接触电位差，接地电抗，导通电阻，土壤电阻率等参数。 3、DF902K变频抗干扰接地阻抗测量仪：系统输出功率2kW，输出电压（0-200-400V）.测试输出电流（0-10A）。精确测量接地阻抗，接地电阻，接地电抗，导通电阻，土壤电阻率等参数。可满常规接地网的测量。 变频抗干扰接地阻抗测试主要用于 1.精确测量大型接地网接地阻抗、接地电阻、接地电抗； 2.精确测量大型接地网场区地表电位梯度；
3.精确测量大型接地网接触电位差、接触电压、跨步电位差、跨步电压； 4.精确测量大型接地网转移电位； 5.测量接地引下线导通电阻； 6.测量土壤电阻率 变频抗干扰接地阻抗测试： 也称大地网接地电阻测试仪，变频大电流接地阻抗测试仪，大型接地网接地阻抗测试系统、接地装置特性参数测试系统、大地网接地阻抗测试仪，接地阻抗测试仪等 DF9000变频大电流多功能地网接地特性测量系统 一、概述 DF9000变频大电流多功能地网接地特性测量系统是上海大帆电气有限公司和上海交通大学联合研制的最新成果，主要用于精确测量大型接地网特性参数的软硬件系统，系统主要功能：精确测量接地阻抗，接地电阻、接地电抗，场区地表电位梯度，接触电压，跨步电压，土壤电阻率，地网电流分布情况等参数。 DF9000变频大电流多功能地网接地特性测量系统通过对接地网注入一个异于工频的电流，有效地避免了50Hz及其它干扰信号引起的测量误差，可精确、经济、安全的测量接地网接地阻抗，接触电压，跨步电压，场区地表电位梯度等参数，同时使得测量过程变得方便而安全。 DF9000变频大电流多功能地网接地特性测量系统主要包括：大功率
Hans Journal of Ophthalmology 眼科学, 2017, 6(2), 67-73 Published Online June 2017 in Hans. https://www.doczj.com/doc/dc4775390.html,/journal/hjo https://https://www.doczj.com/doc/dc4775390.html,/10.12677/hjo.2017.62012 文章引用: 孙建初, 姚婷婷. 儿童屈光不正光学生物测量的探讨[J]. 眼科学, 2017, 6(2): 67-73. A Discussion about Children with Refractive Errors of Optical Biological Measure Jiancun Sun, Tingting Yao Wuxi Xinshijie Eye Hospital, Wuxi Jiangsu Received: May 22nd , 2017; accepted: Jun. 25th , 2017; published: Jun. 28th , 2017 Abstract Objective: To study the relationship between the children’s eye axis, corneal curvature and refrac-tive errors. Methods: By using mydriatic retinoscopy and intraocular len-master, we have a total of 44 cases with 88 eyes of refractive errors degree, eye axis, corneal curvature, anterior chamber depth and other parameters. According to the refractive errors degree, it can be divided into hyperopia group, emmetropia group, and the myopia group, and then we used statistical methods to compare the relationship between the refractive errors and refraction parameters. Results: the eye axis: Hyperopia group was 21.58 ± 0.90 mm; emmetropia group was 23.33 ± 0.88 mm; myopia group was 24.62 ± 1.30 mm (P < 0.05). Corneal curvature radius: Hyperopia group was 7.90 ± 0.33; emmetropia group was 7.77 ± 0.29; myopia group was 7.75 ± 0.38 (P > 0.05). AL/CR: Hyperopia group was 2.74 ± 0.13 mm; the result is less than 3 (P < 0.05); Emmetropia group was 3.00 ± 0.03; the result equals to 3; Myopia group was 3.18 ± 0.12; the result is more than 3. At the same time, we also found that using AL/CR to assess the sensitivity of refractive errors and specificity degree was better. Youden index is 0.68; it prompts the titer of diagnosis was better. Conclusion: Through the detection of AL/CR (≤3 or >3), we can well predict the development trend of refractive errors, and provide prospective for myopia prevention and early intervention of guidance. Keywords Refractive Errors, Eye Axis, Corneal Curvature Radius 儿童屈光不正光学生物测量的探讨 孙建初，姚婷婷 无锡新视界眼科医院，江苏 无锡 收稿日期：2017年5月22日；录用日期：2017年6月25日；发布日期：2017年6月28日
液滴形状分析仪 技术指标 1.性能要求： 1.1测量常规样品静态、动态接触角； 1.2测量固体表面能，分析固体极性和非极性组成、路易斯酸碱、和氢键力构成 1.3悬滴法测量液体表面张力/界面张力 2.配件要求及技术指标： 2.1*最大可测样品大于：300 x ∞ x 260 mm（L×W×H） 2.2样品台尺寸不小于：105x 105 mm （L×W） 2.3接触角测量范围：0-180°（设计范围），精度0.1° 2.4表面张力测量范围：0.01-2000mN/m（设计范围），分辨率±0.01mN/m 2.5*光学系统：软件控制7倍放大，最大视野范围不小于24*24mm，一体化聚焦设计，光源采用470nm 单色高亮度LED蓝色光源，内置散热风扇和遮光板。测量较小角度的接触角时需要调节光源的宽度。 2.6*采用红外激光准直系统控制调节CCD观测角度±4°可调，并自动读数带入软件计算。2.7视频系统：最大2000副照片/秒高速相机，采用最新图像顺序扫描技术，要求在150副照片/秒的时候分辨率大于1200*1200像素，数据传输速度5G字节/秒。 2.8*滴定系统：配置两套汉密尔顿管路式注射器，滴定精度0.1-1400μl/min可调；一套手动滴定装置，储液罐最大可装20ml液体。滴定装置可全自动进行补液、滴定、清洗管路等操作。不可采用步进马达式的滴定装置和移液枪式的滴定方式。 2.9*相机和光路采用折叠设计，调整相机的聚焦和放大的时候，要求基线一直保持不动。需提供相机的设计原理图。 2.10样品台调节：样品台可以三维方向手动控制移动，x,y,z三轴方向，水平方向最大位移距离为100mm，垂直方向最大位移为38mm，位移精度为0.1mm 2.11仪器操作：通过蓝牙外接接触角测量仪专用控制器，软件可支持触屏控制。 2.12 接触角拟合方式至少提供5种计算方法，其中必须含有高宽法和多项式拟合方法。 2.13 *软件必须含有中英文操作软件，并可输出中英文报告。 3软件: 3.1.*具有智能测量功能，可预设和存储程序，测量方法可存储和选择，并可一键式按照序列测量；并能智能识别同一图片中多个液滴中的待测液滴。 3.2接触角测量：测量静态、动态接触角（前进角和后退角）和滚动角，测量过程可以拍摄存储或实时分析，提供多种多种自动拟合方法，并可自动测定粘附功，基线调整自动、手动、水平、曲面等方法。 3.3表面能计算：提供九种计算方程，可以给出浸润性分析图谱，可计算固体表面的极性力、色散力和氢键组成。 3.4表面张力测量：悬滴法（杨氏方程）测量液体表面/界面张力\ 4、售后服务
CNC全自动光学影像测量仪是专为大批量重复检查而设计。具高速、高效能、操作简易、功能强大的特点，特别适用要求高效率、快速精确的大批量检测，是繁忙的质检线上不可缺少的重要设备。 全自动影像测量仪具有人工测量、CNC扫描测量、自动学习测量三种方式，并可将三种方式的模块叠加进行复合测量。可扫描生成鸟瞰影像地图，实现点哪走哪的全屏目标牵引，测量结果的生成图形与影像地图图影同步，它可点击图形自动回味、全屏鹰眼放大。可对任意被测尺寸通过标件实测修正造影成像误差，并对其进行标定，从而提高关键数据的批测精度。 全自动影像测量仪测量软件功能： 一.基本功能： ●笛卡尔坐标/极坐标转换●绝对/相对/工作坐标转换 ●公/英制转换●度/度分秒转换 ●点/点群●两点/多点求线 ●三点/多点求圆及弧●B-spline线
●两点间的距离●两线间的平均距离 ●点线间的距离●两圆心距离 ●圆线距离●两线间的夹角及交点 二.特殊功能： ◆光源控制：全电脑控制光源。 ◆自动变倍：不需要在每次变倍后重新影像校正，并可在测量及编程过程中任意变换放大倍率，能够在测量同一物体不同部分使用不同放大倍率，录入程序。。 ◆自动对焦：由电脑自动判定对焦面，以保证每次对焦的精准度，减少人为判定产生的误差。 ◆坐标功能：量测工件时无需手动调节摆直，软件提供坐标平移、旋转、摆正。 ◆标注功能：直接在影像及几何区标注/移动尺寸，点、线、圆/圆弧及直线端点、中点，圆心、象限点自动捕捉。 ◆自适应功能：可调节CCD参数设定，提高自适应力；去除毛边功能，以正确取得量测数据。 ◆自动捕捉：利用影像工具快速自动抓取基本几何轮廓边界点，直接拟合成线、圆、弧。◆测绘功能：机械图形直接输出.dxf格式，实现2D抄数功能，与AutoCAD、Pro/e、UG等其它软件无缝联接。 ◆拍照功能：量测区工件放大摄像图形化输出，转成(.bmp、.jpg)。 ◆测量报告：对测量数据可设定公差，自动判断，选择需要的测量数据，生成标准的WORD、EXCEL图表报告。 ◆编程功能：操作方便的自学习教导式编程软件，程序可重复执行。 ◆三维测量功能：Z轴方向可满足产品的高度测量要求。 应用行业 机械、电子、模具、注塑、五金、橡胶、低压电器，磁性材料、精密五金、精密冲压、接插件、连接器、端子、手机、家电、计算机（电脑）、液晶电视(LCD)、印刷电路板（线路板、PCB）、汽车、医疗器械、钟表、仪器仪表等。 测量对象 LCD、FPC、PCB、线路板、螺丝、弹簧、钟表、手表、仪表、接插件（连接器、接线端子）、齿轮、凸轮、螺纹、半径样板、螺纹样板、电线电缆、刀具、轴承、五金件、冲压件、筛网、试验筛、网板（钢网、SMT模板）等。 测量元素 长度、宽度、高度、孔距、间距、Pin间距、厚度、圆弧、直径、半径、槽、角度、R角等。 有效测量行程：300×200(mm)Z轴测量调焦范围：≤200mm 承载重量：≤25kg分辨率：0.001mm CCD：美国TEO镜头：高清变倍0.7×－4.5× 影像放大倍率：20×－180×光栅尺：高精度精密光栅尺 照明系统：LED表面光和底光操作方式：软件控制
新型生物测量仪ＡＬ．Ｓｃａｎ与ＩＯＬＭａｓｔｅｒ测量白内障患者 眼球生物参数的比较研究 摘要 目的：评估新型光学生物测量仪ＡＬ．Ｓｃａｎ测量白内障患者眼球结构参数的重复性、再现性及其与ＩＯＬＭａｓｔｅｒ测量结果的一致性，为临床使用提供依据。 方法：前瞻性对照研究。２名观测者运用ＡＬ．Ｓｃａｎ分别测量６８例（６８眼）白内障患者的中央角膜厚度（ＣＣＴ）、前房深度（ＡＣＤ）、角膜曲率（包括角膜中央区直径２．４ｍｍ和３．３ｍｍ范围的平坦子午线曲率Ｋｆ，陡峭子午线曲率Ｋｓ和曲率平均值Ｋｍ）、眼轴长度（ＡＬ）、角膜白到白距离（ＷＴＷ）和瞳孔直径 （ＰＤ）；同时，其中一名观测者运用ＩＯＬＭａｓｔｅｒ重复测量ＡＣＤ、Ｋ值、ＡＬ和ＷＴＷ：随后根据４种人工晶状体（ＩＯＬ）度数计算公式将上述参数带入计算，并比较２种仪器的计算结果；眼别的选择采用随机方式。对ＡＬ．Ｓｃａｎ测量结果的重复性和再现性评价采用组内标准差（Ｓｗ）、试验重复性系数（ＴＲＴ）、变异系数（ＣＯＶ）和组内相关系数（ＩＣＣｓ）等统计学参数，ＡＬ．Ｓｃａｎ和ＩＯＬＭａｓｔｅｒ测量结果的一致性通过采用Ｂｌａｎｄ．Ａｌｔｍａｎ统计分析方法，计算一致性区间 （ＬｏＡ）来评价。 结果：除ＷＴＷ和ＰＤ外，ＡＬ．Ｓｃａｎ测量结果具有较高的重复性和再现性。 Ｂｌａｎｄ．Ａｌｔｍａｎ分析发现，对于ＡＬ、ＡＣＤ和大部分Ｋ值的测量，ＡＬ．Ｓｃａｎ和 ＩＯＬＭａｓｔｅｒ具有很好的一致性。同时，２种仪器测量角膜中央区直径２．４ｍｍ范围Ｋ值的９５％一致性区间（ＬｏＡ）比直径３．３ｍｍ区域的更小。然而，２种仪器测量ＷＴＷ的９５％ＬｏＡ较宽，为（．１．１８～０．６３ｒａｍ）。此外，与采用直径３．３ｒａｍ范围Ｋ值计算ＩＯＬ度数相比，ＡＬ．Ｓｃａｎ根据直径２．４ｍｍ范围Ｋ值计算的ＩＯＬ度数与ＩＯＬＭａｓｔｅｒ计算结果更相近。 结论：除了ＷＴＷ和ＰＤ，ＡＬ．Ｓｃａｎ测量眼球生物参数均具有良好的重复性和再现性。ＡＬ．Ｓｃａｎ和ＩＯＬＭａｓｔｅｒ测量结果除ＷＴｗ外，均具有较好的一致性。ＡＬ．Ｓｃａｎ选择角膜中央区直径２．４ｍｍ范围Ｋ值来计算ＩＯＬ度数更可靠。 关键词：眼球生物参数；部分光学相干生物测量仪；Ｓｃｈｅｉｍｐｆｌｕｇ成像；重复性；再现性；一致性
Filmetrics光学膜厚测量仪 产品名称: Filmetrics光学膜厚测量仪 产品型号: F20、F30、F40、F50、F70、F10-RT、PARTS 产品展商: 岱美有限公司 简单介绍 美国Filmetrics光学膜厚测量仪，测量膜层厚度从1nm到3.5mm。利用反射干涉的原理进行无损测量，可测量薄膜厚度及光学常数。测量精度达到埃级的分辩率，测量迅速，操作简单，界面友好，是目前市场上最具性价比的膜厚测量仪设备。设备光谱测量范围从近红外到紫外线，波长范围从200nm到1700nm可选。凡是光滑的，透明或半透明的和所有半导体膜层都可以测量。 Filmetrics光学膜厚测量仪的详细介绍 其可测量薄膜厚度在1nm到1mm之间，测量精度高达1埃，测量稳定性高达0.7埃，测量时间只需一到二秒, 并有手动及自动机型可选。可应用领域包括：生物医学（Biomedical）, 液晶显示(Displays), 硬涂层(Hard coats), 金属膜(Metal), 眼镜涂层(Ophthalmic) , 聚对二甲笨(Parylene), 电路板(PCBs&PWBs), 多孔硅(Porous Silicon), 光阻材料(Thick Resist),半导体材料(Semiconductors) , 太阳光伏(Solar photovolt aics), 真空镀层(Vacuum Coatings), 圈筒检查(Web inspection applications)等。 通过Filmetrics膜厚测量仪最新反射式光谱测量技术,最多4层透明薄膜厚度、n、k值及粗糙度能在数秒钟测得。其应用广泛，例如: 半导体工业: 光阻、氧化物、氮化物。 LCD工业: 间距(cell gaps)，ito电极、polyimide 保护膜。 光电镀膜应用: 硬化镀膜、抗反射镀膜、过滤片。 极易操作、快速、准确、机身轻巧及价格便宜为其主要优点，Filmetrics提供以下型号以供选择: F20 : 这简单入门型号有三种不同波长选择(由220nm紫外线区至1700nm近红外线区)为任意携带型，可以实现反射、膜厚、n、k值测量。 F30:这型号可安装在任何真空镀膜机腔体外的窗口。可实时监控长晶速度、实时提供膜厚、n、k值。并可切定某一波长或固定测量时间间距。更可加装至三个探头，同时测量三个样品，具紫外线区或标准波长可供选择。
一键式测量仪OMQ100系列 放置后仅按一键即可测量 艾弗特一键测量仪又叫一键式测量仪，只需一按，即可快速测量。采用大视野影像闪 测、高精度、全自动，开创快速测量新理念。通过将远心成像与智能图像处理软件的 完美结合，任何繁琐的测量任务，都变得无比简单。只需把工件放置到有效测量区 域，然后轻轻按一键，工件所有二维尺寸瞬间完成测量。
一、仪器介绍 大视野影像闪测、高精度、全自动，开创快速测量新理念, 通过将远心成像与智能图像处理软件的完美结合， 任何繁琐的测量任务，都变得无比简单。 只需把工件放置到有效测量区域，然后轻轻按一键， 工件所有二维尺寸瞬间完成测量。 二、应用行业 广泛应用于机械、电子、模具、注塑、五金、橡胶、低压电器、磁性材料、精密冲压、接插件、连接器、端子、手机、家电、印刷电路板、医疗器械、钟表、刀具等尺寸较小的产品及零部件的批量快速测量。
三、仪器特点 1.打破尺寸测量的常规。 仅需要它
2.大口径高景深，实现全视野范围成像清晰，超低畸变。 （传统镜头）(精密双远心镜头) 3.高分辨率数字相机。仪器采用1200万~4300万像素高分辨率数字相 机。 4.软件采用先进的20：1亚像素图象边缘处理。 5.最小二乘法回归处理可自动祛除毛刺和异常点，将对特征位置上 的影响降低到最低。
6.自动识别工件、无需定位。 7.高效的批量测量。 测量范围内一次性可测量大于20000个尺寸，100个尺寸测量时间小于1秒，大幅缩短测量时间，提高测量效率。 8.多个工件任意摆放，自动识别，批量测量。
四、软件介绍 完全自主研发，软件界面简洁、功能强大，极易学习；采用我司自主研发的畸变校正技术，保证在视野的各位置、各角度测量结果稳定精准；自主研发的图像拼接技术，保证拼接误差小于0.003mm。 （特殊软件功能可接受定制） 用户程序： (一)自动匹配工件，任意放置，一键测量。可自动搜索匹配并调出用户程序。可 框选建立匹配、多个位置框选组合建立匹配、用测量元素建立匹配、可导入CAD 建立匹配。可建立程序组，实现工件多个面翻面测量。 (二)全面的测量元素： 点、最高点、线、最高线、圆（中心坐标，半径、直径、真圆度、周长、面积，最大半径、最小半径）、弧、矩形（中心坐标，长、宽、周长、面积）、椭圆（中心坐标，长轴、短轴、周长、面积）、键槽（中心坐标，长、宽、周长、面积）、导入CAD轮廓扫描比对、轮廓PV、面积对比、圆柱直径、密封圈（通过周长计算半径、密封圈最大半径、最小半径、厚度）、测量结果再计算（最大值、最小值、平均值、求和）、二维码识别、条码识别。 (三)标注： 距离、X距离、Y距离、半径、直径、角度。
光学基本测量仪器 1 望远镜 1.1 结构 望远镜是用来观察远距离目标的一种助视光学仪器，其结构如图1所示。物镜L l是一块消色差复合正透镜，镶嵌在套筒M1的前端，M1套在镜筒N上，可前后移动。目镜L2通常由两块凸透镜组成，装在目镜筒M2的两端，靠近物镜的透镜称接场镜，靠近眼睛的称接目镜，M2可套入镜筒N并可前后移动。实验用测量望远镜在镜筒N内靠近物镜的一侧还装有十字准线K。 图1 望远镜的结构特点是两分立系统的光学间隔为零，即物镜的后焦平面和目镜的前焦平面重合。这样远处物体经物镜在其后焦平面上成一倒立缩小的实像，此像作为目镜的物再经目镜成一视角放大的虚像为眼睛接受。 1.2 调节方法 1.调节目镜即改变L2和K之间的距离，使得能清晰地看到十字准线像。 2.物镜调焦即改变L l和K之间的距离，使得能清晰地同时看到准线和观察物的像，且无视差。产生视差的原因，是观察物通过物镜所成的像与准线不在同一平面上，当左右或上下稍微改变视线方向时，可看到两个像之间有相对位移，这时称之为有视差。 2 读数显微镜 2.1 结构 和普通观察显微镜不同，测量用显微镜的物镜应在严格而准确的横向放大率下工作。为此，在预先确定放大率的物镜像平面处安置一块分划板，并与物镜固结为一个整体。为使各种视度眼睛的人都能使用，测量用显微镜的目镜必须可以进行视度调节。 读数显微镜由测微螺旋和测量用显微镜组成，可直接用来精密测量微小物体的长度、孔距、直径等。根据不同的测量要求，读数显微镜的量程、分度值和视角放大率等有不同的规格。常用的JCD-Ⅱ读数显微镜结构如图2所示。
图2 JCD-II型读数显微镜 1—目镜 2—调焦旋钮 3—方轴 4—接头轴 5—测微手轮 6—标尺 7—镜筒支架 8—物镜 9—旋手 10—弹簧压片 11—载物台 12—底座 图中1是目镜及显微镜镜筒。旋转测微手轮5，可使镜筒支架带动镜筒沿导轨移动。显微镜用调焦旋钮2调焦。测微装置分度值为0.01mm，其读数方法与螺旋测微计相同。测量架方轴可插入接头轴4的十字孔中，并可前后移动。接头轴可在底座内旋转、升降，并用旋手9固定。 2.2 调节方法 1)将被测物体置于载物台面玻璃上，用弹簧压片压紧，使其处于镜筒下方。 2)调节目镜，至看清十字分划板。 3)转动调焦旋钮调节物镜，使被测物体清晰可见，并消除与分划板的视差。调整被测量物，使其被测部分的横向和显微镜移动方向平行。 4)转动测微手轮，使十字分划板纵丝对准待测长度的起点，记下此时读数A，沿同一方向转动测微手轮，使分划板纵丝恰好止于待测长度的终点，记下读数B，则所测长度 A 。 L=B 2.3 注意事项 1)转动调焦旋钮时，注意应避免使显微镜与被测物相接触。正确的作法是首先使物镜接近被测物，然后调节镜筒缓慢上移。 2)测量过程中，测微手轮只能向一个方向转动，中途不能逆转，以免引入螺距误差。 3 测微目镜 3.1 结构
1.用途 该仪器用于检测电梯限速器轮盘线速度及限速器动作速度。适用于质量技术监督局、商检局、电梯安装部门等单位对电梯限速器的现场检测，同时适用于电梯及限速器生产厂家的在线检测。 2 .仪器组成 电梯限速器测试仪有两大部分组成：控制检测部分和驱动部分。 2.1控制检测部分 控制检测部分包括液晶屏、电源接口、通讯接 口、霍尔传感器 2.2驱动部分： 驱动部分为29W、24V安全驱动电机 3.主要参数及性能指标： ●测量范围：0.25—6m/s ●测量精度：﹤±0.5% ●保存测量次数：4G内存，不限次数 ●电源：AC180～240V ●手持电机：29W、DC24V安全电压电机 ●测量过程一键操作，自动结束试验，简单方便 ●7吋电容液晶屏、中文虚拟仪器界面、速度曲线和数值动态显示 ●自适应加速曲线，测量速度快 ●中文输入，可输入产品制造商、型号等产品档案信息。 ●4吋热敏打印机 ●内存：4G（可升级到64G），海量档案数据存储 ● 4.使用说明： 4.1试验准备 4.1.1鳄鱼夹连接 仪器引出线共有2组鳄鱼夹，分别夹在限速器的两个动作开关上，如果限速器只有一个开关，没用到的鳄鱼夹相互夹在一起。 4.1.2传感器安放 HS01传感器为菲康电子专门为限速器测试仪设计的磁敏传感器，使用很方便。把它吸附在限速器支座上，位置对应圆磁钢，测试仪如果此时通电状态，HS01背后LED灯会亮。 圆磁钢吸附在限速器轮的边缘，有色标的一边朝外。 4.1.3电机握持方法 用双手握持电机，驱动轮靠在限速器轮的外圆上，轻微靠近即可。 4.1.4打开仪器电源进入用户界面，填好信息，点 击“OK”进入参数设置界面，输入被测限速器额定速度，点击“ok”进入测试界 面。 4.1.5电机旋转方向
数字式测量投影仪又名光学投影仪、轮廓投影仪，是一种光、机、电、计算器一体化的精密高效光学测量仪器，适用于精密工 业二维尺寸测量。本仪器能高效地检测各种形状复杂工件的轮廓和表面形状，如样板、冲压件、凸轮、螺纹、齿轮、成形锉刀、丝攻等各种刀具、工具和零件等，被广泛地应用于机械、仪表、电子、轻工业等行业，院校、研究所以及计量部门的计量室、试验 室和生产车间。 测量投影仪分类： 测量投影仪品类繁多，商业名称和俗称五花八门，按成像分为成像区分：正像和反像；反像是利用投影仪光学成像原理，工件 与图像成反向；正像是通过对投影仪的认知对其加一个棱镜将其成像改为正像,工件与图像同步。常用的为反像，为方便测量，有 时特意加上正像系统把反像变成正像，但这无疑会增加成本而且测量精度也会随之有所降低。因此，若无绝对必需，选择反像是正 确的选择。 就投影方式而言测量投影仪只有两类：即立式测量投影仪、卧式测量投影仪两种。 立式测量投影仪卧式测量投影仪
测量投影仪使用原理： 被测工件置于工作台上，在透射或反射照明下，它由物镜成放大实像（倒像）并经 2 个反光镜反射于投影屏的磨沙面上。当反 光镜换成正像系统后，即成为正像，一个与工作完全同向的影像，观察很直观，给使用者带来极大的方便。 a. 立式测量投影仪：这类投影仪的主光轴平行于影屏平面，多数投影仪均属此类，它们最适合测量平面型零件或体积较小的工件。 立式轮廓投影仪仪器工作原理如下图 1 所示，被测工件Y 置于工作台上，在透射或反射光照明下，它由物镜0 成放大实像Y’并经反射镜M反射于投影屏P 的磨砂面上。 P Y' M M 2 S 2 S Y 1 K 1 S 1 C 图1 在投影屏上可用标准玻璃工作尺对Y’进行测量，也可以用预先绘制好的标准放大图对它进行比较测量，测得数值除以物镜 的放大倍数即工件的测量尺寸。还可以利用工作台上的数字测量系统对工件Y 进行坐标测量：也可以利用投影屏旋转角度数数显系 统对工件的角度进行测量。 图中S1 为透射照明光源，2-S2 为用于反射照明的二支光导纤维（VP系列立式投影仪为 3.2V/10W 透射LDE灯照片组），K1为透射聚光镜，C1 为球面反射镜。视工件的性质，两种照明可分别使用，也可以同时使用。 b. 卧式测量投影仪：这类投影仪的主光轴垂直于投影屏平面，中型和大型投影仪多属此类，它们最适合测量轴类零件或体积较大的 重型工件。 仪器工作原理如下图 2 所示，被测工件Y 置于工作台上，在透射或反射光照明下，它由物镜0 成放大实像Y’并经反射镜M反射于投影屏P 的磨砂面上。 P Y' M S2 M C1 S1 K1 Y 0
用在多层板的内外层或高密度双面板表面质量的检查。但是在其它方面的应用也比较多，特别是对高密度互连结构（HDI）微通孔和表面的检查。而且还应用在IC封装和装配中的印制板的检查。AOI很有效地应用诸多方面，为提高印制板的表面质量，发挥了重要的作用。 一．底片的检查 自动光学系统的设计是根据底片检查工艺特性，采用透射的模式即将需要检查的底片放置在玻璃桌台上，而不采用抽真空台面，而是通过玻璃桌面的下的光束透过玻璃进行对底片的扫描来检查底片相应位置上的缺陷。使用这种方法对底片进行表面质量的检查，为更加清晰的将印制板表面缺陷呈现出来，对该系统的放大装置作了很大的改进，达到了既是印制板表面的很小的缺陷都能检查出来。当在印制板生产过程中使用该系统时，就能将印制板面的5μm和5μm以下的缺陷检查出来，并且能够适当的区别错误的真假，就是采用高级的识别系统大大的减少故障缺陷的发生。 在反射模式将白色的纸放置在光具（底片）之下,介于光具透明和不透明范围之间，以提高其对比度。经过交替的变换达到或接近所使用的标准的AOI系统。这种方法不是通用的的，更多的倾向是由于微小的划伤，才会出现假的缺陷报告。另外,容易产生错误的是由于光具表面银粒子无光泽，再通过AOI的反射模式，特别是焦点不是在光具银乳胶膜上，就很容易出现假的读出。而表面无光泽的粒子致使真空度下降。这些粒子是甲基丙烯酸树脂，直径大约7微米，它能够使光发出散光。 如果AOI是开始并记录应该发现的缺陷，唯一的其缺陷的尺寸应比10微米要大，这样用它来检查就能解决所存在的质量问题，而且还有可能解决对精细导线（S/L=30/50微米）的检查。对于有阻抗要求的导线宽度公差控制不会比±5-10微米变化更大是可能的。而AOI的灵敏度不会记录这样的线宽变化。检查光具（即底片）通常应该在清洁的、黄光室内进行，不建议到AOI作业区进行检查，应此区域清洁度不够。因此，实际上AOI机不是检查内层或外层的光具膜的机器。. AOI实际上也可以检验玻璃底版的图像质量，即玻璃上镀铬膜。这些底版通常制作和检验是通过转包公司再送交PWB制造厂的。典型的要求就是底版上的缺陷的尺寸在5微米或更大些。许多使用玻璃底版的用户也使用检查玻璃的工具进行检查，以延长使用的寿命。但使用玻璃底版也很贵。 玻璃底版至少要曝光百次以上，最典型的次数为200-500次，就必须使用AOI对玻璃底版图像进行质量检查，还可以通过曝光试验，如底版的图像好就可以接着使用，或者进行修整。 二．覆盖有光敏抗蚀剂的板在进行显影前的潜像质量的检查 这一步最基本的想法就是在湿处理前，对板的图像与孔对准度进行检查，及早发现如有质量缺陷就很容
频率特性测量仪 摘要 该频率特性测量仪采用89C52最小系统为控制核心，主要由正弦波发生器、数据采集存储、处理、显示、打印等功能模块组成。通过键盘控制来实现幅频特性和相频特性的测量，包括参数预置、点测结果的显示与打印，以及用普通示波器单独或同时显示幅频特性曲线和相频特性曲线。 本系统采用可编程器件（CPLD）和DDS技术实现信号发生电路，频率值与步长均能灵活准确地预置。被测网络采用有源带通双T网络，中心频率及带宽均达到要求：f0=5KHZ 、50 Q。 另外，我们还制作了线性稳压电源，扩展了幅频特性曲线和相频特性曲线的打印功能。设计中，较好地应用了EDA工具，软件设计模块化，总体较好地完成了基本部分和发挥部分的要求。 关键词：DDS，EDA，CPLD，双T网络，有源滤波，鉴相，数据采集
一．总体方案论证 ㈠．总体设计思想 本频率特性测试仪的设计思想为： 1、尽量做到测试准确，自动化、智能化程度高，操作方便。 2、尽量采用大规模集成电路如可编程逻辑器件等，使系统简洁、调试修改方便，可靠性高。 3、尽量采用现代化设计工具和EDA软件平台，使设计快捷，先进。㈡．总体设计方案 基于以上设计思想，本系统采用单片机和可编程器件（CPLD）作为控制及数据处理的核心，将设计任务分解为正弦信号发生器、被测网络、数据采集与存储、幅频特性测量、相频特性测量、结果显示、打印等功能模块。图1－１给出该系统的总体框图。 图1－１系统总框图
如上图所示正弦波发生器采用DDS直接数字频率合成技术，其逻辑控制部分用可编程器件CPLD实现。幅度测量采用峰值检波技术，相位测量则利用数字鉴相器实现。检波电路和鉴相电路输出分别经A/D 采集后由89C52 读进存储在RAM 中，再经分析处理后输出到ＬＥＤ显示电路、波形显示控制电路或控制打印输出电路，以实现频率特性参数和频率特性曲线的显示或打印。 由于使用了89C52 单片机和ＣＰＬＤ器件，使系统具有很大的灵活性，便于实现各种复杂控制，从而能方便地对系统进行功能扩展和性能改进。 二．频率特性测试仪信号源的设计与制作（一）、信号源方案选择 产生该系统所需测试信号源的方法有多种： 1．采用锁相环(PLL)及可预置分频器实现测试信号的产生,其实现框图如图２－１所示。 图2－１锁相环实现信号发生方框图 现有集成PLL的VCO一般都产生方波，而不是正弦波，而且在不