电子课程设计
——数字逻辑测试分析仪
学院电子信息工程学院
专业电气工程及其自动化081502班姓名贾普智
学号200815010205
指导老师闫晓梅
2010年12月
数字逻辑测试分析仪
一．设计任务与要求
设计一个能测试高电平、低电平的数字逻辑信号测试仪，具体要求如下：
1、基本功能：能测试高电平、低电平。
2、测量范围：低电平小于0.8V，高电平高于3.5V。
3、当被测信号为高电平时，用1KHz的音响来表示；当被测信号为低电平时，
用800Hz的音响来表示；当被测信号在0.8-3.5V时，用指示灯发出警报。
4、工作电源为5V,自己设计。
二．总体框图
图2.1
1．数字逻辑信号接收处理模块
该模块起到接收被测试信号，并对信号进行比较处理，从而明确信号
是高电平、低电平、0.8-3.5V之间之中的那一种。并将所得结果传输给结果输出模块进行输出。
该模块由比较器及一系列与非门组成。
设计思路：用电阻将5V的电源分压，得到0.8V，3.5V电压。当测试信号输入后，将被测信号与已得的0.8V,3.5V电压进行比较。比较后所得的信号经处理后即可确定被测信号与0.8V，3.5V的关系。
2．脉冲信号产生模块
该模块用于产生结果输出时所需的1kHZ及800Hz的脉冲信号。
该模块由555芯片，电阻，电容组成。
设计思路：使用555芯片，调试电阻电容大小，得到所需频率的脉冲。3．音响输出及指示灯模块
该模块用于输出逻辑测试仪测试产生的结果。当数字信号处理模块传输的信号分别为低电平，高电平，0.8-3.5V时，分别将1kHz信号加于蜂鸣器，将800Hz信号加于蜂鸣器，将高电平加于指示灯。
该模块由蜂鸣器，指示灯，及TTL芯片组成。
设计思路：当信号处理模块给出被测信号为低电平时，将蜂鸣器与800Hz脉冲相连，当信号处理模块给出被测信号为高电平时，将蜂鸣器与1000Hz脉冲相连，当信号处理模块给出被测信号在0.8-3.5V 之间时，令指示灯发光。
4．直流稳压电源模块
该模块用于将220V交流电变换为5V的直流电，供给各个芯片及模块使用。
该模块由稳压电源，二极管，稳压芯片，电阻，电容构成。
设计思路：首先将220V交流电降压，接着运用桥式整流电路使其变为直流电。用稳压芯片对所得直流电稳压。通过电阻分压的方式得到所需的电压值。
三．选择器件
1.74LS04
图3.1.1
提供非逻辑。
管脚图如下
图3.1.2
——
逻辑功能： Y = A
真值表:
2.74LS08
图3.2.1
提供与逻辑。
管脚图如下：
图3.2.2 逻辑功能： Y=AB
真值表：
3.LM339
图3.3.1
提供比较功能。
管脚图如下
图3.3.2
逻辑功能：对+管脚-管脚的电压进行比较，若+管脚电压高于-管脚，则输出高电平反之输出低电平。
4.LM555
图3.4.1
提供时钟脉冲。
内部结构图：
图3.4.2
管脚图：
图3.4.3
555功能表：
图3.4.4
5.LM7812
图3.5.1
提供稳压功能。
管脚图：
图3.5.2
功能：lm7812是指三段稳压集成电路IC芯片元器件，适用于各种电源稳压电路，输出稳定性好、使用方便、输出过流、过热自动保护。在本电路中用于输
出12V电压。
四．功能模块
1数字逻辑信号接收处理
图4.1.1
逻辑功能：此模块用于检测输入端电平，并给出信号于下级。
电阻R4,R5,R6:用于将5V直流电源分压，在节点处产生0.8V，3.5V电压。
U12,U2:用两个比较器将输入端输入的电压与分压所得到的0.8V,3.5V电压进行比较。输出结果如下表：
U4,U5,U6，U1,U3:用于将比较器所得数据处理得到，并输出高电平，低电平，
0.8-3.5V三个信号于下级。输出结果如下表：
连接关系：5V 直流电源处接于直流稳压电源模块的相应部分，高电平、低电平、0.8-3.5V 接于结果输出模块的相应位置。 仿真结果：
图4.2.4
输入信号为0.5V 时，U4输出高电平。
图4.2.5
输入信号为1.5V 时，U5输出高电平。
图4.2.6
输入信号为4V时，U6输出高电平。
以上仿真结果符合图4.2.3中真值表所示。
2脉冲信号产生
图4.2.7
逻辑功能：产生1KHz，800Hz的脉冲。作用于下级
连接关系：5V直流电源处接于直流稳压电源，1KHz，800Hz接于结果输出端相应位置
仿真结果：
图4.2.8
用示波器测量两个输出端信号。
图4.2.9 1KHz输出端信号，可看出周期为1.014ms。
图4.2.10 800Hz输出端信号，可看出周期为1.248ms 3结果输出
图4.3.1
逻辑功能：用于输出测试仪的结果。
模块由与门，蜂鸣器，发光二极管组成。
当上级模块传输来高电平，则U8视为开状态，1KHz脉冲作于蜂鸣器，当上级模块传输来低电平，则U9视为开状态，800Hz脉冲作用于蜂鸣器，当上级模块传输来0.8-3.5V,发光二极管正极接高电平，导通发光。
连接关系：低电平，高电平，0.8-3.5V接于信号处理模块的相应位置。1KHz 脉冲，800Hz脉冲接于脉冲产生模块的相应位置。5V直流电源接于直流稳压电源。
4直流稳压电源
图4.4.1
逻辑功能：该模块用于产生5V直流电。
模块由变压器，MDA2501,LM7812及电容电阻组成。
该模块通过变压器将220V交流电压降压，之后通过MDA组成的单相桥整流将交流电变换为直流电。LM7812将直流电压稳定在12V。通过电阻分压方式取得5V直流电压供给电路使用。
连接关系：5V直流电压处连接至各模块相应位置。
仿真结果：
五．总体设计电路图
整体电路电路按第四部分-功能模块中叙述连接。仿真运行后可实现题目要求的效果（由于输出为不同频率的蜂鸣，无法图示）。
硬件实验：在硬件实验中，我测试了数据逻辑信号接收处理模块，达到实验要求。
六．总结
这次课程设计使我受益良多。
刚着手这个设计时，最困扰我的是如何知晓所测试的电平大小，并能以数字信号的形式送出。最初我的设想是使用施密特触发电路，但苦思良久仍无法拿出方案。后来看到A/D转换器内部结构图时，有了新的想法，由此采用了电阻分压，将被测信号与分压后电压通过比较器后输出结果这一方案。
接下来所遇到的问题是设计555脉冲时，根据书上的理论公式计算后，却无法得到需求频率的脉冲。请教了指导老师后，我按老师的指导使用滑动变阻器进行不断调试，最终得到了满意的脉冲。
接下来的设计就相对简单了。就在我以为整个设计已经完成的时候，指导老师提醒了我电源需要自己设计，我在开始设计时，由于没能理解题目，忽视了这一点。于是我又投入到直流稳压电源的设计中。
这次课程设计，使我熟悉了电子技术中的一部分常用管子，并教会了我如何用自己的思路设计，验证，完善一个电路。巩固了我之前所学习电子技术的相关知识，并提高了我对于自己动手设计电路的兴趣与信心。
在这次课程设计中，如果没有老师的指导，我的设计思路必然没有现在的清晰，很多的漏洞也难以弥补，所以最后我要感谢指导老师耐心的给予我各方面的指导。最后，感谢校方与学院给了我们这次课程设计的机会，使我们能够提高自己。
ENA射频网络分析仪 Agilent E5071C 9 KHz至8.5 GHz 详细说明: Agilent E5071C ENA系列网络分析仪 频率范围： 频率范围端口选件 E5071C 9KHz-4.5GHz 2/4 240/440 9KHz-8.5GHz 2/4 280/480 100KHz-4.5GHz 2/4 245/445 100KHz-8.5GHz 2/4 285/485 系统动态范围： 频率IF 带宽技术指标 SPD
主要特性： ?宽动态范围：在测试端口上的动态范围> 123 dB（典型值） ?极快的测量速度：39 ms（进行完全双端口校准，扫描1601点时） ?低迹线噪声：0.004 dB rms（70 kHz IFBW时） ?集成的2和4端口，带有平衡测量能力 选件： E5071C—008 频率偏置模式 E5071C—010 时域分析能力 E5071C—790 测量向导助手软件 E5071C—1E5 高稳定度时基 E5071C—240 双端口测试仪9KHz-4.5GHz 不带偏置T型接头 E5071C—245 双端口测试仪100KHz-4.5GHz 带偏置T型接头 E5071C—440 4端口测试仪9KHz-4.5GHz 不带偏置T型接头 E5071C—445 4端口测试仪100KHz-4.5GHz 带偏置T型接头 E5071C—280 双端口测试仪9KHz-8.5GHz 不带偏置T型接头 E5071C—285 双端口测试仪100KHz-8.5GHz 带偏置T型接头 E5071C—480 4端口测试仪9KHz-8.5GHz 不带偏置T型接头 E5071C—485 4端口测试仪100KHz-8.5GHz 带偏置T型接头 附件： 校准件 HP85033D/E (3.5mm) 校准件HP85032B (N型) ?宽动态范围：在测试端口上的动态范围> 123 dB（典型值） ?极快的测量速度：39 ms（进行完全双端口校准，扫描1601点时） ?低迹线噪声：0.004 dB rms（70 kHz IFBW时） ?集成的2和4端口，带有平衡测量能力 ?提供频率选件：从9 kHz/100 kHz（带有偏置T型接头）到4.5 GHz/8.5 GHz E5071C网络分析仪具有广泛的频率范围和众多功能，在同类产品中具有最高的射频性能和最快的测试速度。它是制造工程师和研发工程师测量9 kHz至8.5 GHz射频元器件和电路的最佳工具。
2012~ 2013 学年第二学期 《模拟电子技术基础》课程设计报告 题目：数字逻辑信号测试器的设计 专业：电子信息工程 班级： 组成员： 指导教师： 电气工程学院 2013年6月5 日
任务书 课题名称数字逻辑信号测试器的设计 指导教师（职称）倪琳 执行时间2012 — 2013 学年第二学期第 15 周学生姓名学号承担任务 音响信号产生电路 音响信号产生电路 音响信号产生电路 输入信号识别电路 输入信号识别电路 输入信号识别电路及仿真 音响驱动电路及仿真 音响驱动电路及仿真 音响驱动电路及仿真 设计目的1、学习数字逻辑电平测试仪电路的设计方法； 2、研究数字逻辑电平测试仪电路的设计方案。 设计要求 1、技术指标：测试高电平、低电平，发出不同的声响。测量范围：低电平＜0.8V, 高电平＞3.5V ，高低电平分别用1KHZ和800HZ的声响表示；被测信号在0.8～3.5v之间不发声；工作电源为5V ,输入阻抗大于20KΩ。 2、设计基本要求 （1）设计一个数字逻辑电平测试仪电路； （2）拟定设计步骤； （3）根据设计要求和技术指标设计好电路，选好元件及参数； （4）运用仿真软件绘制设计电路图； （5）撰写设计报告。
数字逻辑电平测试仪设计 摘要 在检修数字集成电路组成的设备时，经常需要使用万用表和示波器对电路中的故障部位的高低电平进行测量，以便分析故障的原因。使用这些仪器能较准确的测出被测点信号的电平的高低和被测电平的周期，但是使用者必须一方面用眼睛看着万用表的表盘或示波器的屏幕，另一方面还要寻找测试点，因此使用起来很不方便。本文介绍了一个逻辑信号电平测试器，它可以方便快捷的测量某一点的电位的高低，通过声音的有无和声音的频率来判定被测电位的电平范围，从而能解决平常对电路中某点的逻辑电平进行测试其高低电平时，采用很不方便的万用表或示波器等仪器仪表的麻烦。该测试器采用运算放大器作电压比较器进行电平判断，根据电平高低使音响电路产生不同频率方波驱动扬声器，使扬声器有相应不同的声调输出提示。从而达到了测试效果。 关键词放大器；逻辑信号；电平测试；高电平；低电平
如何使用网络分析仪 德力网络分析仪NA7682A NA7682A矢量网络分析仪吸取了前几代和国内外各款网络分析仪使用的经验，结合了最新国际仪器发展的技术和态势，是Deviser德力仪器最新推出的第四代矢量网络分析仪,作为国内主流的网络分析仪,下面介绍网络分析仪的使用技巧如下。 频率范围从100kHz到8.5GHz频段，为无线通信、广播电视、汽车电子、半导体和医疗器件等行业射频器件、组件的研发和生产的使用提供了高效、灵活的测试手段，进入了民品、工业、科研教育和军工等领域。其主要的特点是和主流网络分析仪是德的E507X系列指标和指令上做到兼容，在客户使用的性价比上非常优秀的选择。 在射频器件、基站天线、手机天线、GPS天线等、通信系统模块分析等领域成功的测试经验使越来越多的客户开始使用这款网络分析仪，在低频、800/900M、1800/1900M、2100M、5G/5.8G等的产品频率使用领域内广泛使用。 深圳市良源通科技有限公司专业服务和销售射频和通信仪表多年，是德力仪器国内最重要的合作伙伴和一级代理商，结合自己多年的技术积累和客户使用的配合测试，得到丰富经验。在仪器的售前和售后服务上面具有自己的优势。提供大量仪器试用和使用方案的设计，给客户在设备开发、产品研制和批量生产上都提供方便和最有优势的选择。 产品特点： 1、12.1英寸1280*800 TFT触摸屏 2、频率覆盖范围: 100 kHz 至 8.5 GHz 3、阻抗：50Ω 4、动态范围: >125 dB （比E5071C宽7-12dB) 5、极低的迹线噪声: <0.005 dBrms (在 3 kHz IFBW) 6、快速的测量速度: 80usec/点 7、分析和误差修正和校准功能 8、通过USB、LAN 和 GPIB 接口进行系统互联 9、时域分析（选件）：时域传输、反射特性分析；距离上的故障定位。 10、数据变换：涉及多种形式的阻抗、导纳变换。 11、滤波器分析：自动分析出：插损、3dB带宽、6dB带宽、带内纹波、带外抑制、Q值、矩形系数
材料现代分析测试方法习题答案 【篇一：2012 年材料分析测试方法复习题及解答】 lass=txt> 一、单项选择题（每题 3 分，共15 分） 1．成分和价键分析手段包括【 b 】 （a）wds 、能谱仪（eds ）和xrd （b）wds 、eds 和xps （c）tem 、wds 和xps （d）xrd 、ftir 和raman 2．分子结构分析手段包括【a】 （a）拉曼光谱（raman ）、核磁共振（nmr ）和傅立叶变换红外光 谱（ftir ）（b）nmr 、ftir 和wds （c）sem 、tem 和stem （扫描透射电镜）（d）xrd 、ftir 和raman 3．表面形貌分析的手段包括【d】 （a）x 射线衍射（xrd ）和扫描电镜（sem ）(b) sem 和透射电镜 （tem ） (c) 波谱仪（wds ）和x 射线光电子谱仪（xps ）(d) 扫描隧道显微 镜（stm ）和 sem 4．透射电镜的两种主要功能：【b】 （a）表面形貌和晶体结构（b）内部组织和晶体结构 （c）表面形貌和成分价键（d）内部组织和成分价键 5．下列谱图所代表的化合物中含有的基团包括：【 c 】 （a）–c-h 、–oh 和–nh2 (b) –c-h 、和–nh2, (c) –c-h 、和-c=c- (d) –c-h 、和co 2．扫描电镜的二次电子像的分辨率比背散射电子像更高。（√）3．透镜的数值孔径与折射率有关。（√） 5．在样品台转动的工作模式下，x 射线衍射仪探头转动的角速度是 样品转动角 速度的二倍。（√） 三、简答题（每题 5 分，共25 分） 1. 扫描电镜的分辨率和哪些因素有关？为什么? 和所用的信号种类和束斑尺寸有关，因为不同信号的扩展效应不同，例如二次电子产生的区域比背散射电子小。束斑尺寸越小，产生信 号的区域也小，分辨率就高。 2．原子力显微镜的利用的是哪两种力，又是如何探测形貌的？
中国石油大学（北京）远程教育学院 《数字逻辑》期末复习题 一、单项选择题 1. TTL 门电路输入端悬空时，应视为( A ) A. 高电平 B. 低电平 C. 不定 D. 高阻 2. 最小项D C B A 的逻辑相邻项是（ D ） A ．ABCD B ．D B C A C ．C D AB D ．BCD A 3. 全加器中向高位的进位1+i C 为( D ) A. i i i C B A ⊕⊕ B.i i i i i C B A B A )(⊕+ C.i i i C B A ++ D.i i i B C A )(⊕ 4. 一片十六选一数据选择器，它应有（ A ）位地址输入变量 A. 4 B. 5 C. 10 D. 16 5. 欲对78个信息以二进制代码表示，则最少需要（ B ）位二进制码 A. 4 B. 7 C. 78 D. 10 6. 十进制数25用8421BCD 码表示为（B ） A.10 101 B.0010 0101 C.100101 D.10101 7. 常用的BCD 码有（C ） A:奇偶校验码 B:格雷码 C:8421码 D:ASCII 码 8. 已知Y A AB AB =++,下列结果中正确的是（C ） A:Y=A B:Y=B C:Y=A+B D: Y A B =+ 9. 下列说法不正确的是（ D ） A:同一个逻辑函数的不同描述方法之间可相互转换 B:任何一个逻辑函数都可以化成最小项之和的标准形式 C:具有逻辑相邻性的两个最小项都可以合并为一项 D:任一逻辑函数的最简与或式形式是唯一的 10. 逻辑函数的真值表如下表所示，其最简与或式是（C ）
A: ABC ABC ABC ++ B: ABC ABC ABC ++ C: BC AB + D: BC AC + 11．以下不是逻辑代数重要规则的是( D ) 。 A. 代入规则 B. 反演规则 C. 对偶规则 D. 加法规则 12．已知函数E)D (C B A F +?+=的反函数应该是( A ) 。 A. [])E (D C B A F +?+?= B. [])E D (C B A F +?+?= C. [])E (D C B A F +?+?= D. [] )E D (C B A F +?+?= 13．组合逻辑电路一般由（ A ）组合而成。 A 、门电路 B 、触发器 C 、计数器 D 、寄存器 14．求一个逻辑函数F 的对偶式，可将F 中的（ A ）。 A 、“·”换成“+”，“+”换成“·”,常数中的“0”“1”互换 B 、原变量换成反变量，反变量换成原变量 C 、变量不变 D 、常数中的“0”换成“1”，“1”换成“0” 15．逻辑函数()()()()=++++=E A D A C A B A F ( A ) 。 A. AB+AC+AD+AE B. A+BCED C. (A+BC)(A+DE) D. A+B+C+D+E 16．下列逻辑电路中，不是组合逻辑电路的有（ D ） A 、译码器 B 、编码器 C 、全加器 D 、寄存器 17．逻辑表达式A+BC=（ C ）
网络分析仪的校准和S参数测量 1.戴上接地手镯（任何人，任何时候！） 2.接通电源（把源放到工作台上）。你需要开启4个“Line/Power”按钮。 3.根据需要把连接器和额外的电缆接到网络分析仪。用网络分析仪电缆时要非常仔细，不要使它们过份弯曲。] 4校准网络分析仪（仅S11或S22反射测量）。 a.按你使用的连接器类型选择校准套件。 b.设置频率范围。在Stimulus控制上按start，键入所要的起始频率。对停止频率重复同样步骤 c.拿走校准装置腾清桌面。然后在屏幕的软键菜单上按more，接着按DELETE CAL SET，最后选择一个数字。 d.选择校准类型。通常是CAL1-7mm，因为这是连接到网络分析仪的电缆类型。 e.选择S11-1端口或S22-1端口（取决于你要使用的电缆）。 f.提示你把校准标准放到电缆终端。它们在木盒中。 1.从短路块开始（贴有标志）。连接短路块，按软键short，在进行测量时（很快）short有下划线。取下短路块，把塑料盖放到标准上，并找到开路块。 2.开路块。它的长度与短路块相同，但直径较小并在末端有一个孔。按open，等到open有下划线，取下开路块，将塑料盖放到原处。 3.找到负载标准。这是盒中长而光滑的圆柱。把它接上并按load，按BROADBA
ND，再按DONE LOADS。假设我们的负载在整个校准频率范围都很精确，因此这是“宽带的”标准。放好塑料盖，将所有标准放回盒中。（注意！这些标准又小又贵，如果丢失我们就没有其它标准了。） 省略隔离测量。 i.按SAVE 1-port CAL。按一个数字，这是你要保存校准设置的位置。它应回答“Correction on”。 ii.检查校准。最坏情况通常是开路，因而要再次放上开路标准。在format菜单上按smith chart。应在smith图右边看到一个小点，但也可能看到的是一条短线。用同样方法检查短路和负载。对于短路，应在smith图左边看到一个点。对于负载，点应在中间。如果这些都不“清晰”，重做这些校准。可能影响校准的因素有：电缆和连接器间，元件间，以及到网络分析仪的连接紧密程度。iii.如果得到好的校准结果，把标准盒放回柜中4b. 校准网络分析仪（对反射和传输测量的全二端口校准）。{a.按你使用的连接器类型选择校准套件。 b.设置频率范围。在Stimulus控制上按start，键入所要的起始频率。对停止频率重复同样步骤。 c.在MENUS控制上按CAL。 d.拿走校准装置腾清桌面。然后在屏幕的软键菜单上按MORE，接着按DELET E CAL SET，最后选择一个数字。 e.选择CAL 1 (7 mm A.1)，因为你用带有7mm连接器的电缆接到网络分析仪。 f.选择REFLECT’N软键（在屏幕的边上）。 g.按上面4a部分f所述，依次连接开路、短路和对S11（端口1）和S22（端口2）
乌斯特条干均匀度仪（USTER tester）。用此仪器可测定条子、粗纱、细纱和股线的均匀度。适合试验的纤维有棉、毛、麻、丝、化学纤维及各种混纺纱条。乌斯特条干均匀度仪是利用非电量转换原理对纱条均匀度进行测定。仪器的具体测试部分为平行平板组成的电容器。电容器的电容量的变化随其中电介质的不同而异，当相同的电介质通过电容器时，其电容量的变化与介质线密度成比例变化。因此，当比空气介电系数大的纱条以一定速度连续通过电容器时，则电容量增加，此时纱条线密度变化将转换为电容量变化。电容量变化△C/C 可由下式表示： △C/C=( -1)/[1+ (1/ -1) (15-1) 式中：C——电容量； ——试样的介电常数； λ——试样在电容器极板间的充满度。 式（15-1）表示电容量的相对变化△C与电容器中试样的充满度λ和试样介电常数ε有关，而其中ε又与试样的含湿量有关。 在仪器电路中，将电容器极板间的电容量变化转换为电流变化，然后带动记录笔运动，当记录纸按一定速度送出时，则可得纱条细度不匀曲线，如图15-1所示。 纱条细度不匀曲线的横坐标为纱条片段长度，纵坐标为纱条单位长度重量或线密度，根据此曲线可求得表示纱条细度不匀的指标—平均差系数或标准差不匀率（变异系数）CV﹪: 如被试验的纱条其质量变异按常态分布，则其不匀率与变异系数之间的换算关系为： CV=1.25U% (15-4) U%或CV%两指标随乌斯特条干均匀度仪的型号不同采用的指标也不同。此两项指标是纱条细度不匀的重要指标，生产厂依此指标来分析研究纱条质量变化，当超过一定范围时，通过改变混配棉成分，工艺参数和调节纺纱机械状态等，以控制纱线质量。 纱条通过乌斯特条干均匀度仪测试，不仅可获得U（%）或CV（%）指标，而且可在纱疵仪上获得细节数、粗节数和棉结数指标。在波谱仪上可获得波谱图。正常细纱的波谱图如图15-2（a）所示，而非正常细纱的波谱图如图15-2（b）所示。波谱图的横坐标为纱条细度不匀的波长，为使全部波长能记录在一张图上，横坐标采用对数标尺，而波谱图的纵坐标为纱条细度不匀的相对振幅，它是波长的函数。
------------- 数字逻辑与数字系统实验指导书 青岛大学信息工程学院实验中心巨春民 2015年3月
------------- 实验报告要求 本课程实验报告要求用电子版。每位同学用自己的学号+班级+姓名建一个文件夹（如2014xxxxxxx计算机X班张三），再在其中以“实验x”作为子文件夹，子文件夹中包括WORD 文档实验报告（名称为“实验x实验报告”，格式为实验名称、实验目的、实验内容，实验内容中的电路图用Multisim中电路图复制粘贴）和实验中完成的各Multisim文件、VerilogHDL源文件、电路图和波形图（以其实验内容命名）。
实验一电子电路仿真方法与门电路实验 一、实验目的 1．熟悉电路仿真软件Multisim的安装与使用方法。 2．验证常用集成逻辑门电路的逻辑功能。 3．掌握各种门电路的逻辑符号。 4．了解集成电路的外引线排列及其使用方法。 5. 学会用Multisim设计子电路。 二、实验内容 1．用逻辑门电路库中的集成逻辑门电路分别验证二输入与门、或非门、异或门和反相器的逻辑功能，将验证结果填入表1.1中。 注：与门型号7408，或门7432，与非门7400，或非门7402，异或门7486，反相器7404. 2．用 L=ABCDEFGH，写出逻辑表达式，给出逻辑电路图，并验证逻辑功能填入表1.2中。 ()' 三、实验总结 四、心得与体会
实验二门电路基础 一、实验目的 1. 掌握CMOS反相器、与非门、或非门的构成与工作原理。 2. 熟悉CMOS传输门的使用方法。 3. 了解漏极开路的门电路使用方法。 二、实验内容 1. 用一个NMOS和一个PMOS构成一个CMOS反相器，实现Y=A’。给出电路图，分析其工作原理，测试其逻辑功能填入表2-1。 表2-1 CMOS反相器逻辑功能表 2. 用2个NMOS和2个PMOS构成一个CMOS与非门，实现Y=(AB)’。给出电路图，分析其工作原理，测试其逻辑功能填入表2-2。 3. 用2个NMOS和2个PMOS构成一个CMOS或非门，实现Y=(A+B)’。给出电路图，分析其工作原理，测试其逻辑功能填入表2-3。 表2-3 CMOS或非门逻辑功能表 4. 用CMOS传输门和反相器构成异或门，实现Y=A B 。给出电路图，测试其逻辑功能填入表2-4。
材料现代分析测试方法 复习题 Document number：WTWYT-WYWY-BTGTT-YTTYU-2018GT
《近代材料测试方法》复习题 1．材料微观结构和成分分析可以分为哪几个层次分别可以用什么方法分析 答：化学成分分析、晶体结构分析和显微结构分析 化学成分分析——常规方法（平均成分）：湿化学法、光谱分析法 ——先进方法（种类、浓度、价态、分布）：X射线荧光光谱、电子探针、 光电子能谱、俄歇电子能谱 晶体结构分析：X射线衍射、电子衍射 显微结构分析：光学显微镜、透射电子显微镜、扫面电子显微镜、扫面隧道显微镜、原 子力显微镜、场离子显微镜 2．X射线与物质相互作用有哪些现象和规律利用这些现象和规律可以进行哪些科学研究工作，有哪些实际应用 答：除贯穿部分的光束外，射线能量损失在与物质作用过程之中，基本上可以归为两大类：一 部分可能变成次级或更高次的X射线，即所谓荧光X射线，同时，激发出光电子或俄歇电子。另一部分消耗在X射线的散射之中，包括相干散射和非相干散射。此外，它还能变成热量逸出。 （1）现象/现象：散射X射线（想干、非相干）、荧光X射线、透射X射线、俄歇效 应、光电子、热能 （2）①光电效应：当入射X射线光子能量等于某一阈值，可击出原子内层电子，产
生光电效应。 应用：光电效应产生光电子，是X射线光电子能谱分析的技术基础。光电效应 使原子产生空位后的退激发过程产生俄歇电子或X射线荧光辐射是 X射线激发俄歇能谱分析和X射线荧光分析方法的技术基础。 ②二次特征辐射（X射线荧光辐射）：当高能X射线光子击出被照射物质原子的 内层电子后，较外层电子填其空位而产生了次生特征X射线（称二次特征辐射）。 应用：X射线被物质散射时，产生两种现象：相干散射和非相干散射。相干散射 是X射线衍射分析方法的基础。 3．电子与物质相互作用有哪些现象和规律利用这些现象和规律可以进行哪些科学研究工作，有哪些实际应用 答：当电子束入射到固体样品时，入射电子和样品物质将发生强烈的相互作用，发生弹性散射和非弹性散射。伴随着散射过程，相互作用的区域中将产生多种与样品性质有关的物理信息。（1）现象/规律：二次电子、背散射电子、吸收电子、透射电子、俄歇电子、特征X射线 （2）获得不同的显微图像或有关试样化学成分和电子结构的谱学信息 4．光电效应、荧光辐射、特征辐射、俄歇效应，荧光产率与俄歇电子产率。特征X射线产生机理。 光电效应：当入射X射线光子能量等于某一阈值，可击出原子内层电子，产生光电效应。
实验9：涤纶短纤维纱线条干均匀度测试 一、实验目的 1.掌握YG136条干均匀度仪的测试原理和测试方法； 2.初步熟悉条干不匀率曲线及波谱图的分析； 3.测定涤纶短纤维纱线的条干不匀率。 二、实验原理 应用电容式电子条干不匀率测定仪（以下简称均匀度仪）测定涤纶短纤维纱线条干不匀率。均匀度仪能将涤纶短纤维纱线质量变化转换为相应的电讯号变化，通过积分换算，计算出被测试样长度内的质量不匀率，即条干不匀率，用CV（% ）表示。 YG136条干均匀度仪，是一种应用电容的原理测定纤维条干均匀度的电子仪器。电容器的电容量随其中介质的不同而异，而对于相同的介质电容器的电容量随介质的质量变化而成比例变化。因此，当纱条连续通过由两个平等金属极板组成的空气电容器时，由于纱条的单位长度重量的变化引起电容量的相应改变。试样以一定的速度受罗拉牵上,通过电容检测槽，将其单位长度的质量（线密度）的变化变为相应的电信号，经放大后，送到信号调理板进行均值调整，经AD采样后暂存于处理板上的FIFO存储器，计算机定时取数，根据滤波系数的不同，将数据分为两路，放至计算机的物理内存，处理系统实时计算CV%、U%及十二档疵点，单次测试完成后，依次计算波谱图、变异-长度曲线、线密度-频率图和偏移率-门限图和所有非实时指标。批次测试完成后，计算批次统计值并存盘、打印等。 三、仪器与试样 1．主仪器部分 YG136条干仪主要由检测仪、主处理机、打印机、成套附件组成。 检测仪的主要功能是牵引被测纱条，使其在适当的张力下通过电容式检测槽，并将纱条线密度不匀转化为相应的电信号送至主处理机。 图1 YG136条干均匀度测试分析仪 主处理机是YG136条干仪的核心，它完成人机对话、系统监控、对纱条不匀信号的采集、处理及综合分析，并对测试结果进行视频显示、自动存盘和打印。 2.试样 试样调湿和试验用标准大气按GB 6529执行。温度为20±2℃，相对湿度为62%～68% 。试样调湿时间应在24h以上。 四、操作程序 1.从样品室取出经调湿处理的实验样品，样品试验长度至少为400m。 2.首先打开稳压器电源开关，然后接通显示器、打印机电源开关，检测仪开关，再接通主处理机电源开关。 3.打开主处理机电源后，计算机进行系统自检后，将启动Windows操作系统，完成后，将显示版权信息，然后自动进入YG136监控软件。YG136条干仪的监控软件为Windows的图形界面，所有操作都借助于菜单进行，如下图所示：
1.1 数电实验仪器的使用及门电路逻辑功能的测试 1.1.1 实验目的 （1）掌握数字电路实验仪器的使用方法。 （2）掌握门电路逻辑功能的测试方法。 1.1.2 实验设备 双踪示波器一台 数字电路实验箱一台 万用表一块 集成芯片：74LS00、74LS20 1.1.3 实验原理 图1.1是TTL系列74LS00（四2输入端与非门）的引脚排列图。 Y A B 其逻辑表达式为：=? 图1.2是TTL系列74LS20（双4输入端与非门）的引脚排列图。 Y A B C D 其逻辑表达式为：=??? 与非门的输入中任一个为低电平“0”时，输出便为高电平“1”。只有当所有输入都为高电平“1”时，输出才为低电平“0”。对于TTL逻辑电路，输入端如果悬空可看作逻辑“1”，但为防止干扰信号引入，一般不悬空。对于MOS逻辑电路，输入端绝对不允许悬空，因为MOS电路输入阻抗很高，受外界电磁场干扰的影响大，悬空会破坏正常的逻辑功能，因此使用时一定要注意。一般把多余的输入端接高电平或者和一个有用输入端连在一起。 1.1.4 实验内容及步骤 （1）测量逻辑开关及电平指示功能 用导线把一个数据开关的输出端与一个电平指示的输入端相连接，将数据开关置“0”位，电平指示灯应该不亮。将数据开关置“1”位，电平指示灯应该亮。以此类推，检测所有的数据开关及电平指示功能是否正常。
（2）检测脉冲信号源 给示波器输入脉冲信号，调节频率旋钮，可观察到脉冲信号的波形。改变脉冲信号的频率，示波器上的波形也应随之发生变化。 （3）检测译码显示器 用导线将四个数据开关分别与一位译码显示器的四个输入端相连接，按8421码进位规律拨动数据开关，可观察到译码显示器上显示0～9十个数字。 （4）与非门逻辑功能测试 ①逻辑功能测试 将芯片74LS20中一个4输入与非门的四个输入端A、B、C、D分别与四个数据开关相连接，输出端Y与一个电平指示相连接。电平指示的灯亮为1，灯不亮为0。根据表1.1中输入的不同状态组合，分别测出输出端的相应状态，并将结果填入表中。 表1.2 ②与非门对脉冲信号的反相传输及控制功能的测试 将芯片74LS00中一个2输入与非门的A输入端接频率为1kHz脉冲信号，B输入端接数据开关，输出端Y接示波器。用双踪示波器同时观察A输入端的脉冲波形和输出端Y的波形，并注意两者之间的关系。按表1.2中的不同输入方式测试，将结果填入表中。 1.1.5 预习要求与思考题 （1）阅读实验原理、内容及步骤。 （2）了解集成芯片引脚的排列规律。 （3）TTL集成电路使用的电源电压是多少？ （4）TTL与非门输入端悬空相当于输入什么电平？为什么？ （5）如何处理各种门电路的多余输入端。 1.1.6 实验报告及要求 （1）画出规范的测试电路图及各个表格。
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Agilent E5071C网络分析仪测试方法-李S 买卖仪器没找到联系方式？请搜索《欧诺谊-李海凤》进入查看联系方式，谢谢！ E5071C网络分析仪测试方法 一．面板上常使用按键功能大概介绍如下： Meas 打开后显示有：S11 S21 S12 S22 （S11 S22为反射，S21 S12 为传输）注意：驻波比和回波损耗在反射功能测试，也就是说在S11或者S22里面测试。 Format 打开后显示有：Log Mag———SWR———-里面有很多测试功能，如上这两种是我们常用到的，Log Mag为回波损耗测试，SWR 为驻波比测试。 Display打开后显示有:Num of Traces (此功能可以打开多条测试线进行同时测试多项指标，每一条测试线可以跟据自己的需求选择相对应的指标，也就是说一个产品我们可以同时测试驻波比和插入损耗或者更多的指标） Allocate Traces (打开此功能里面有窗口显示选择，我们可以跟据自己的需求选择两个窗口以上的显示方式） Cal 此功能为仪器校准功能：我们常用到的是打开后在显示选择：Calibrate（校准端口选择，我们可以选择单端口校准，也可以选择双端口校准） Trace Prev 此功能为测试线的更换设置 Scale 此功能为测试放大的功能，打开后常用到的有：Scale/Div 10DB/Div 为每格测试10DB，我们可以跟据自己的产品更改每格测量的大小，方便我们看测试结果 Reference Value 这项功能可以改变测试线的高低，也是方便我们测试时能清楚的看到产品测试出来的波型。 Save/Recall 此功能为保存功能，我们可以把产品设置好的测试结果保存在这个里面进去以后按下此菜单Save State 我们可以保存到自己想保存的地方，如：保存在仪器里面请按 Recall State 里面会有相对应的01到08，我们也可以按SaveTrace Data 保存在外接的U盘里面，方便的把我们产品的测试结果给客户看。 二．仪器测试的设置方法 1.频率设置：在仪器面板按键打开 Start 为开始频率，Stop 为终止频率。如我们要测量到，我们先按 Start 设置为，再按 Stop 设置为 2.传输与反射测试功能设置：在仪器面板按键打开Meas 打开后显示菜单里面会有S11 S21 S12 S22 （S11 S22为反射，S21 S12 为传输）注意：驻波比和回波损耗在反射功能测试，也就是说在S11或者S22 里面测试，S11和S21为第一个测试端口测试，S22和S12为第二个端口测试。 3.驻波比和插入损耗测试设置：面板选择按键 Format 打开后显示屏菜单里面有好多个测试产品的指标，我们可以跟据自己产品所需要的测试指标选择，如比较常用的SWR(驻波比），Log mag(插入损耗)
CT200条干均匀度测试分析仪 使用说明书 FD1.904.004SS 共 56 页 陕西长岭纺织机电科技有限公司 2007年10月16日
CT200条干均匀度测试分析仪 使用说明书 FD1.904.004SS 拟制： 审核： 标准化： 审定： 批准：
尊敬的用户： 感谢您购买我公司CT200条干均匀度测试分析仪。为了您能使用好该产品，请您在使用时注意以下事项： ●请您在使用前仔细阅读《使用说明书》，并将它妥善保存，以便随时 参考。 ●本仪器须由经过培训的专业人员安装和维修，安装时须小心轻放，维 修时必须断电进行。 ●仪器工作环境要远离振动源和强磁场，电源应使用无干扰电源，电源 地线必须可靠接地。 ●若仪器出现故障，请注意关掉电源，并与我公司售后服务部门联系， 以便为您及时处理。 ●若示例图片与实际物品不符时，请以装箱清单为准。 希望您对我们的产品提出宝贵意见和建议，谢谢！
目次 1 组成及工作原理 (1) 1.1 组成 (1) 1.2 工作原理 (2) 2 性能指标及含义 (3) 2.1 指标含义及使用方法 (3) 2.2性能指标 (6) 3 工作间和工作台 (8) 3.1 CT200条干仪工作位置 (8) 3.2 工作间和工作台 (8) 4 检测分机操作说明 (8) 4.1 毛羽单元 (8) 4.2 张力单元 (9) 4.3 检测单元 (9) 4.4 传动单元 (11) 4.5 吸纱单元 (13) 4.6 引纱操作 (13) 5 主处理机操作说明 (13) 6 菜单操作 (14) 6.1 参数设置 (14) 6.2 显示结果 (21) 6.3 测试 (25) 6.4 统计分析 (30) 6.5 专家系统 (32) 6.6 帮助系统 (37)
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实验目的 1.掌握组合逻辑电路的功能测试。 2.验证半加器和全加器的逻辑功能。 3.学会二进制的运算规律。 实验器材 二输入四“与非”门组件3片，型号74SL00 二输入四“异或”门组件1片，型号74SL86 六门反向器门组件1片，型号74SL04 二输入四“与”门组件1片，型号74SL08 实验内容 A：一位全加/全减法器的实现 电路做加法还是做减法是由M决定的。当M=0时做加法运算，输入信号A、B和Cin分别为加数、被加数和低位来的进位，S为和数，Co为向上位的进位；当M=1时做减法运算，输入信号A、B和Cin分别为减数、被减数和低位来的借位，S为差，Co为向上位的借位。 B：舍入与检测电路设计 用所给定的集成电路组件设计一个多输出逻辑电路，该电路的输入为8421码，F1为“四舍五入”输出信号，F2为奇偶检测输出信号。当电路检测到输入的代码大于或等于(5)10时，电路的输出F1=1；其他情况F1=0。当输入代码中含1的个数为奇数时，电路的输出F2=1；其他情况F2=0。
实验前准备 ▽内容A：一位全加/全减法器的实现 ①根据全加全减器功能，可得到输入输出表如下： ②由以上做出相应的卡诺图：
③于是可得其逻辑电路图： ▽内容B：舍入与检测电路设计 ①根据舍入与检测电路功能，可得到输入输出表如下： ②由上做出相应的卡诺图：
③于是可得其逻辑电路图： 实验步骤 1.按要求预先设计好逻辑电路图； 2.按照所设计的电路图接线； 3.接线后拨动开关，观察结果并记录。
实验体会 本次是第一次实验，主要了解了实验平台，同时需要我们将自己设计好的电路，用实验台上的芯片来实现。由于实验所使用的线很多，芯片的接口也多，所以一定要细心，分清楚连接芯片的输入、输出端，以免接错线。
旧站入口 ·教程列表·网站导航·设为首页·加入收藏·购买联系· 发货查询 您现在的位置： 微波EDA网 >> 矢量网络分析仪 >> 技术文章 >> 正文 是不是每次测量一个新的项目前都必须做校准? 这个是不一定需要的，尽量将每次校准的state 存入VNA ，名字最好为校准状态，例如频率范围，输入激励功率等。如果有新的测试项目，但是它的测试条件和已有状态相似，且load state 后，检查校准状态良好，就可用使用以前的校准状态，而不需要重新校准。 将校准state 保存并调用的好处在于：Calibration Kit 也是有使用寿命的，多次的校准，会是的校准件多次和校准电缆接触，可能污染校准件，使得校准件特性发生改变，影响下一次校准。 尽量养成如下习惯：将网络分析仪的port 不用的时候加上防尘套；对测试电缆进行标号，使得VN A 每个port 尽可能固定连接某个电缆；对测试电缆不用时，也需要加上防尘套；尽量不用很脏的测试电缆等。 VNA 的校准是精确测量前必要的准备。 以单端口DUT 测量为例，测试模型参考one port error model ， 由于VNA 的输出和DUT 的待测输入一般都存在中间过渡件/连接件，使得理想网络分析仪的测试平面和DUT 的待测平面间出现了一个误差网络。对于单端口误差模型，有三个误差项。为了求解三个误差项，由线性矩阵理论，需要建立三个不相关的方程来求解。校准的原理就是建立这三个方程。 通过在测试面加入三个已知特性的校准件，例如开路件，反射系数理论上为1，短路件，反射系数理论上为-1，负载件反射系数理论上为0。通过VNA 测量这三个校准件，得到实际测量结果。也就得到包含三个误差模型的线性方程，通过求解就能得到三个误差项。在后续的测量中，在直接获得的测试结果中，先通过数学运算，消除三个误差项带来的影响，显示给用户的就是校准后DUT 的特性。 当然两端口误差模型更加复杂，分为正向和反向，正向具有6个误差项，反向也有6个误差项，总共有12个误差项需要求解，求解方法可用参考“RF Measurement of Die and Packages” 当然一般网络分析仪提供的二端口矢量校准方法为SOLT ，通过单端口的分析，其实校准件的本质是建立误差模型方程，选择不同已知反射系数的校准件，就得到了很多不同的校准方法，例如LR M ，LRRM ，TRL 等等。 当然校准的本质也是去嵌入(De-embedding)的过程，去嵌入的本质得到误差网络的S 参数，通过转换到T 参数，运用级联运算进行消除。去嵌入还能够消除非传输线网络的S 参数，应用也比校准广泛。 实际校准的方法： 尽管一般VNA 的User Guider 上都有仪器校准的方法，但是还有很多细节需要注意的： 1．设定测试参数 选择测试频率范围：一般的频率范围要稍微大于测试指标规定的范围，选择VNA Port 激励功率，对于无源器件，可以选择稍微大的激励功率，例如0dBm ，但是对于测试Amplifier 等小信号器件，一般激励信号要小于器件的1dB 压缩点，对于Power Amplifier 等大功率器件，需要减小VNA 的输入信号功率，同时要在PA 的输出和VNA 的输入间加入衰减器。但是过分减小VNA 的输入信号功率，可能会使得S11和S22测量误差增大。如果对于多端口VNA ，还需要选择测试port 2．选择校准件，选择校准方法，通过仪器校准的Guide 完成校准 每个公司都有不同的规格的校准件，例如N 型的，SMA 型的，这个在校准之前一定要选择好，这个是因为厂家提供的校准件，开路短路负载等也不是理想的反射系数分别为1，－1和0。同公司的VNA 中会定义校准件，将校准件的特性预先存入VNA ，以便校准时求解误差方程。因此，如果校 VNA 使用方法：矢量网络分析仪校准和测试方法 矢量网络分析仪学习套装 矢量网络分析仪是射频工程师最基本的测试仪器，对于各种微波射频电路和器件的特性分析具有至关重要的作用。本站现提供全套矢网学习培训教程，帮助微波射频工程最迅速、全面地熟悉掌握矢量网络分析仪使用...【详细介绍】 矢量网络分析仪使用培训中文视频教程 --￥99 射频网络分析仪测试基础中文视频讲座 --￥45 ENA系列矢量网络分析仪的使用培训视频 --￥45 8753系列矢量网络分析仪操作培训视频 --￥30 清华大学射频电路测试原理课程全套讲义 --￥30安捷伦矢量网络分析仪中文应用指南 --￥20 PNA系列矢量网络分析仪中文操作指南 --￥20 8753 ET/ES网络分析仪中文操作指南 --￥10 【购买联系】 【发货查询】 【微波测量全套】 矢量网络分析仪栏目导航 矢网相关技术文章 ·面向非射频测试工程师的射频测量技术基础 ·Agilent微波射频网络分析产品介绍 ·网络分析仪的校准流程和S参数测量 ·R&S ZVB矢量网络分析仪使用操作说明 ·针对手机RF电路设计的差分散射参数测试方法 面向非射频测… Agilent微波射… 安捷伦PNA系列… 矢网相关资源下载 ·R&S网络分析仪基础 ·安捷伦网络分析仪培训课件 ·使用网络分析仪测量外部品质因子 ·浅析矢量网络分析仪测量误差和误差修正 ·双口网络S参数测量误差校正分析及应用 微波仿真 ADS2008 | HFSS | Microwave Office | Ansoft Designer | CST | Ansoft全集 | IE3D 高校课程 台湾中华大学 | 大陆高校视频 | 美国大学课程 PCB设计 PADS2007 | Cadence Allegro | Mentor Board Station | Mentor Expedition | Protel 微波测量 矢网 | 频谱仪 | 信号源 | 示波器 首 页微波仿真PCB设计高校视频课程微波测量仪器微波器件设计在线工具免费资源购买联系
西南科技大学 材料科学与工程学院 教师教案 教师姓名：张宝述 课程名称：材料现代分析测试方法 课程代码：11319074 授课对象：本科专业：材料物理 授课总学时：64 其中理论：64 实验：16（单独开课） 教材：左演声等. 材料现代分析方法. 北京工业大 学出版社，2000 材料学院教学科研办公室制
2、简述X射线与固体相互作用产生的主要信息及据此建立的主要分析方法。 章节名称第三章粒子（束）与材料的相互作用 教学 时数 2 教学目的及要求1．理解概念：（电子的）最大穿入深度、连续X射线、特征X射线、溅射；掌握概念：散射角（2 ）、电子吸收、二次电子、俄歇电子、背散射电子、吸收电流（电子）、透射电子、二次离子。 2．了解物质对电子散射的基元、种类及其特征。 3．掌握电子与物质相互作用产生的主要信号及据此建立的主要分析方法。 4．掌握二次电子的产额与入射角的关系。 5．掌握入射电子产生的各种信息的深度和广度范围。 6．了解离子束与材料的相互作用及据此建立的主要分析方法。 重点难点重点：电子的散射，电子与固体作用产生的信号。难点：电子与固体的相互作用，离子散射，溅射。 教学内容提要 第一节电子束与材料的相互作用 一、散射 二、电子与固体作用产生的信号 三、电子激发产生的其它现象第二节离子束与材料的相互作用 一、散射 二、二次离子 作业一、教材习题 3-1电子与固体作用产生多种粒子信号（教材图3-3），哪些对应入射电子？哪些是由电子激发产生的？ 图3-3入射电子束与固体作用产生的发射现象 3-2电子“吸收”与光子吸收有何不同？ 3-3入射X射线比同样能量的入射电子在固体中穿入深度大得多，而俄歇电子与X光电子的逸出深度相当，这是为什么？ 3-8配合表面分析方法用离子溅射实行纵深剖析是确定样品表面层成分和化学状态的重要方法。试分析纵深剖析应注意哪些问题。 二、补充习题 1、简述电子与固体作用产生的信号及据此建立的主要分析方法。 章节第四章材料现代分析测试方法概述教学 4