荧光显微镜(Fluorescence microscope)操作及海洋细菌微藻观察
一.实验目的
?了解荧光显微镜使用原理
?了解荧光显微镜标本制作要求
?了解使用荧光显微镜的注意事项
?荧光图像的记录方法
掌握荧光显微镜对细菌及微藻的观察，提交实验报告（包括拍摄图片）
二．实验原理
某些物质经一定波长的光（如紫外光）照射后，物质中的分子被激活，吸收能量后跃迁至激发态；当其从激发态返回到基态时，所吸收的能量除部分转化为热量或用于光化学反应外，其余较大部分则以光能形式辐射出来，由于能量没能全以光的形式辐射出来，故所辐射出的光的波长比激发光的要长，这种波长长于激发光的可见光部就是荧光(fluorescence)。所谓荧光就是某些物质在一定波长光（如紫外光）的照射下、在极短时间内所发出的比照射光波长更长的可见光。由此可见，被照射物质产生荧光必须具备以下两个条件：①物质分子（或所特异性结合的荧光染料）必须具有可吸收能量的生色团；②该物质还必须具有一定的量子产率和适宜的环境（如溶剂、pH、温度等）。
荧光显微术是利用荧光显微镜结可发荧光的物质进行观测的一种实验技术。某些物质在一定短波长的光(如紫外光)的照射下吸收光能进入激发态，从激发态回到基态时, 就能在极短的时间内放射出比照射光波长更长的光(如见光)，这种光就称为荧光。有些生物体内的物质受激发光照射后可直接产生荧光, 称为自发荧光(或直接荧光)，如叶绿素的火红色荧光和木质素的黄色荧光等。有的生物材料本身不能产生荧光，但它吸收荧光染料后同样却能发出荧光，这种荧光称为次生荧光(或间接荧光)，如叶绿体吸附吖啶橙后便可发出桔红色荧光。
荧光显微镜具特殊光源（多为紫外光光源），提供足够强度和波长的激发光，诱发荧光物质发出荧光。在视场中所所观察到的图像，主要是样品的荧光映像。
三．荧光显微镜标本制作要求
（一）载玻片
载玻片厚度应在0.8～1.2mm之间，太厚的坡片，一方面光吸收多，另一方面不能使激发光在标本上聚集。载玻片必须光洁，厚度均匀，无明显自发荧光。有时需用石英玻璃载玻片。
（二）盖玻片
盖玻片厚度在0.17mm左右，光洁。为了加强激发光，也可用干涉盖玻片，这是一种特制的表面镀有若干层对不同波长的光起不同干涉作用的物质（如氟化镁）的盖玻片，它可以使荧光顺利通过，而反射激发光，这种反射的激发光女可激发标本。
（三）标本
组织切片或其他标本不能太厚，如太厚激发光大部分消耗在标本下部，而物镜直接观察到的上部不充分激发。另外，细胞重迭或杂质掩盖，影响判断。
（四）封裱剂
封裱剂常用甘油，必须无自发荧光，无色透明，荧光的亮度在pH8.5～9.5时较亮，不易很快褪去。所以，常用甘油和0.5mol/l pH9.0～9.5的碳酸盐缓冲液的等量混合液作封裱剂。
（五）镜油
一般暗视野荧光显微镜和用油镜观察标本时，必须使用镜油，最好使用特制的无荧光镜油，也可用上述甘油代替，液体石蜡也可用，只是折光率较低，对图像质量略有影响。
四．使用荧光显微镜的注意事项
（1）严格按照荧光显微镜出厂说明书要求进行操作，不要随意改变程序。
（2）应在暗室中进行检查。进入暗室后，接上电源，点燃超高压汞灯5～15min，待光源发出强光稳定后，眼睛完全适应暗室，再开始观察标本。
（3）防止紫外线对眼睛的损害，在调整光源时应戴上防护眼镜。
（4）检查时间每次以1～2h为宜，超过90min，超高压汞灯发光强度逐渐下降，荧光减弱；标本受紫外线照射3～5min后，荧光也明显减弱；所以，最多不得超过2～3h。
（5）荧光显微镜光源寿命有限，标本应集中检查，以节省时间，保护光源。天热时，应加电扇散热降温，新换灯泡应从开始就记录使用时间。灯熄灭后欲再用时，须待灯泡充分冷却后才能点燃。一天中应避免数次点燃光源。
（6）标本染色后立即观察，因时间久了荧光会逐渐减弱。若将标本放在聚乙烯塑料袋中4℃保存，可延缓荧光减弱时间，防止封裱剂蒸发。
（7）荧光亮度的判断标准：一般分为四级，即“一”—无或可见微弱荧光。“+”—仅能见明确可见的荧光。“++”—可见有明亮的荧光。“+++”—可见耀眼的荧光。
五．荧光图像的记录方法
荧光显微镜所看到的荧光图像，一是具有形态学特征，二是具有荧光的颜色和亮度，在判断结果时，必须将二者结合起来综合判断。结果记录根据主观指标，即凭工作者目力观察。作为一般定性观察，基本上可靠的。随着技术科学的发展，在不同程度上采用客观指标记录判断结果，如用细胞分光光度计，图像分析仪等仪器。但这些仪器记录的结果，也必须结合主观的判断。
荧光显微镜摄影技术对于记录荧光图像十分必要，由于荧光很易褪色减弱，要即时摄影记录结果。方法与普通显微摄影技术基本相同。只是需要采用高速感光胶片如ASA200以上或24。以上。因紫外光对荧光猝灭作
用大，如FITC的标记物，在紫外光下照射30s，荧光亮度降低50%。所以，曝光速度太慢，就不能将荧光图像拍摄下来。一般研究型荧光显微镜都有半自动或全自动显微摄影系统装置。
六．体视荧光显微镜使用方法与注意事项
使用方法：
(1)将材料片放在载物台上。
(2)开启荧光显微镜稳压器．然后按下启动组点燃紫外灯15min内不得关闭，关闭后3min内不得再启动。
(3)将激发滤光片转至v，分色片调到v，选用495或475nm阻挡滤光片。
(4)选用uvFL40、uvFL100荧光接物镜镜检。
(5)在玻片上加无荧光油，先用40 x，再用100 x调焦镜检．呈现荧光。
(7)因荧光物质受紫外光照射时随时间的增长荧光逐渐变弱，因此镜检时应经常变换视野。
(8)亦可用uvFL10或uvFL20低倍镜镜检材料(用低倍镜时不加无荧光油)。
七．荧光显微镜操作程序
1. 开机：
1.1. 打开房间总电源开关
1.2. 打开电脑电源开关
1.3. 打开数码相机电源开关
1.4. 打开显微镜电源开关（打开汞灯电源开关）
2. 调试显微镜光路：
2.1. 把载玻片放到载物台上。调节聚焦。
2.2. 根据物镜指数乘0.8确定聚光镜光圈值，调整到位。
2.3. 将视场光阑缩小，然后调节聚光镜高度，直到从目镜中观察到视场光阑的清晰成像。
2.4. 放大视场光阑，使其在目镜中的黑框扩展到视野以外。
3. 调试数码相机拍摄照片：
3.1. 在显微镜取景器中对好视野及焦距。
3.2. 打开photoshop程序。
3.3. 点击“文件-- 自动…。”调出相机控制窗口。
3.4. ZOOM定为77。拍摄图片格式为640*480。
3.5. 在相机控制窗口上点preview，观察预览图象的亮度。选择适当的曝光时间使预览图片的亮度合适。
3.6. 点拍摄按纽拍摄，等待几秒钟后图片传回电脑并在photoshop窗口里显示。
3.7. 继续拍摄下一张照片。
3.8. 拍摄十来张照片后要及时保存照片。
3.9. 先关闭相机控制按纽。并保存拍摄条件到默认值。
3.10. 在photoshop中保存刚拍摄的照片到指定文件夹中，保存后要关闭照片。
3.11. 保存并关闭全部照片后重新打开相机控制窗口继续拍摄。
3.12. 拍摄全部完成后保存所拍摄的照片。需要时将照片通过网络上传到校园网服务器上，不能使用U盘或软盘转移文件。或者将照片文件刻录到光盘上。
4. 关机：
4.1. 关闭显微镜电源。
4.2. 关闭汞灯电源。
4.3. 关闭数码相机电源。
4.4. 关闭电脑时点“重新启动电脑”，待电脑进入关闭状态并重新启动时按电脑电源开关强制关机。注意不能直接点击“关闭电脑”。
4.5. 关闭房间电源总开关。
注意事项：
1、不要污染物镜镜头。一旦污染，先用擦镜纸擦除一遍，再用显微镜专用擦洗液擦洗，最后用镜纸再擦一遍。用油镜镜头后，以同样方法擦洗。
2、关闭显微镜电源前，先把光源调到最低。
3、用过荧光镜的，注意清洁载物台，防止有害有毒致癌物污染。
4、结束工作，关闭所有电源，清洁工作台和房间。
5、发现漏电和其他故障，及时报告。
Nikon ECLIPSE Ti倒置荧光显微镜使用说明 操作步骤： 本显微镜的荧光光路与明视场（相差、DIC也属明视场）光路相对独立。当使用明视场时，无需打开荧光光源，进打开总电源即可。当使用荧光观察时，可同时打开总电源和荧光电源。 明视场观察： 1.开机：按动总电源开关“1”处接通电源，此时开关和指示灯点亮，打开显微镜底座左侧的透射照明器开关，从小到大调节照明器开关下方的亮度调节旋钮，使照明亮度适当。 2.首先将聚光器模板A放入光路，用10×物镜对样品进行对焦，调节目镜的屈光度调节环，然后换用40×物镜观察样品。 3.关机：将亮度调节旋钮旋至亮度最暗位置，关掉显微镜底座左侧的透射照明器开关，然后按动总电源开关“0”处关闭电源。 DIC微分干涉观察： 开机、关机等与明视场观察相同，区别是要使用聚光器相对应的DIC模板N1及起偏器、检偏器，将其放入光路后，再使用专用的银白色DIC物镜对焦观察。在观察过程中可旋转起偏器，达到最佳的观察效果。 相差观察： 开机、关机等与明视场观察相同，区别是要使用聚光器相对应的相差模板PH1。 荧光观察： 1.开机：先打开荧光灯电源开关，然后按住电源开关上方的荧光灯激发按钮3秒钟后松开，即可见荧光灯点亮。 2.打开荧光转盘上的荧光拨杆至“0”位置，此时荧光光路打开。旋转荧光转盘，转入所对应的滤光片位置即可进行荧光观察；在观察过程中可插入位于荧光灯源前方的减光片，以改变荧光强度，减弱对活细胞样品的损伤。 3.关机：直接关掉荧光灯电源开关即可。 注意事项： 1.短时间内频繁开关荧光灯电源，将极大的缩短荧光灯寿命。 2.荧光光源打开后即可使用，但必须使用20分钟才可以关闭；关闭30分钟以后才可以再次打开，否则会导致荧光灯损坏。 3.不要同时反方向转动显微镜左右两侧的调焦钮，否则会导致显微镜损坏。 4.粗动调焦钮达到限定位置后，如果继续向同一方向旋转会引起显微镜故障。请不要旋转过度。 5.显微镜光源在工作时会产生高温，因此小心不要接触光源以防烫伤，也不要将易燃品如纸张、布、塑料和酒精等放置于光源附近。
原子力显微镜实验报告 原子力显微镜应用技术 一、实验目的 1了解原子力显微镜的工作原理 2掌握用原子力显微镜进行表面观测的方法 二、实验原理 (1)AFM的工作原理 在原子力显微镜的系统中，可分成三个部分：力检测部分、位置检测部分、 反馈系统。主要工作原理如下图：
原子力显微镜的工作原理图 (2)A FM的工作模式 AFM有三种不同的工作模式：接触模式(contact mode) 、非接触模式 (noncontact mode) 和共振模式或轻敲模式(Tapping Mode) 本实验采用轻敲模式：样品扫描时，针尖始终同样品“接触”，即针尖-样品距离在小于零点几个纳米的斥力区域。此模式通常产生稳定、高分辨图像。当沿着样品扫描时，由于表面的高低起伏使得针尖-样品距离发生变化，引起它们之间作用力的变化，从而使悬臂形变发生改变。当激光束照射到微悬臂的背面，再反射到位置灵敏的光电检测器时，检测器不同象限会接收到同悬臂形变量成一定的比例关系的激光强度差值。反馈回路根据检测器的信号与预置值的差值，不断调整针尖一样品距离，并且保持针尖一样品作用力不变，就可以得到表面形貌像。 三、实验仪器及试剂 试剂及材料：石墨烯溶液，云母片
仪器：nano scope 5.31r 四、步骤 依次按下面步骤开启实验仪器： 1.开机：先开电脑再开主控制器 2.打开程序：Nanoscope： 3.安装样品：用双面胶带将云母片粘到圆形铁片上，再将其放置到样品 台上。调节中部拨钮UP控制样品台降低到样品上表面低于样品台两侧的圆球。 4.安装探针：用镊子小心将探针安装到HOLDE中。 5.安装HOLDER调节样品台后面的旋钮，把HOLDE固定紧； 调节拨钮DOW使样品台尽量接近探针针尖； 将激光调至针尖处，同时屏幕的SUM直最大；调节样品台后面横型旋钮，用于控制样品室中的反射镜子，调节旋钮使屏幕上的SUM直最大；调节样品台上面和后面的两个旋钮，使屏幕上VERT和HORZ匀为0左右；将光敏检测器旋至最小；将左边拨钮拨至 on ； 7.开始测试：控制面板左上： (1)T UNE:弹出对话框，点击下方Auto Tune自动调节，完成之后，点击Exit 退出。 (2)下针：弹出表单，表单消失后，自动开始扫描SCAN (3)Capture : Capture file name ，弹出对话框，对图像命名，并选择保 存路径。
荧光显微镜操作手册 Olympus BX51 物镜： 4 ×0.16 （无DIC） 10×0.40 20×0.75 40×1.00 oil 100×1.40 oil 荧光滤色块转盘： 1. WU 蓝 2. WIB 绿（长通） 3. WIBA 绿（带通） 4. WIG 红 5. CFP 青 6. YFP 黄 操作步骤：（注意：样品须在低倍镜下放置和取下） DIC观察：
1.打开明场电源开关（“︱”为开，“○”为关） 2.将样品置于载物台上，用样品夹夹好 3.将起偏器、检偏器、DIC棱镜推入光路，荧光滤块转盘拨到“1”位置，DIC棱镜应 与相应的物镜倍数相匹配 4.先选用低倍物镜（“10×”） 5.调节透射光的强度，调节焦距，找到视野 6.换到高倍镜头，观察样品 7.DIC观察时，光路选择拉杆拉到中间位置，既可观察，也可拍照 荧光观察： 1.打开明场电源开关 2.打开汞灯电源开关 3.将样品置于载物台上，用样品夹夹好 4.检偏器、DIC棱镜在光路外 5.将荧光光路shutter打开（“○”为开，“●”为关），需保护样品时关闭shutter 6.光路选择拉杆推至最里边 7.根据样品的标记情况将荧光滤块转盘转到相应的位置 8.通过两组减光滤片调节激发光强度 9.从低倍镜开始观察，调焦，找到预观察视野， 10.依次换到高倍镜头，观察样品 11.拍照时光路选择拉杆完全拉出 普通明场观察： 1.打开明场电源开关（“︱”为开，“○”为关） 2.将样品置于载物台上，用样品夹夹好 3.起偏器、检偏器、DIC棱镜在光路外，荧光滤块转盘拨到“1”位置，DIC棱镜拨到 明场（BF）位置 4.先选用低倍物镜（“4×”） 5.调节透射光的强度，调节焦距，找到视野 6.依次换到高倍镜头，观察样品 7.光路选择拉杆拉到中间位置既可观察，也可拍照 关机： 1.关闭汞灯电源（注意：汞灯需使用半小时以上方可关闭，关闭半小时以后方可再次 开启） 2.将透射光调到最小，关闭明场电源开关 3.将镜头转到低倍镜，取出样品，若使用过油镜用干净的擦镜纸擦拭镜头 4.确认数据已经保存，关闭软件 5.使用光盘拷贝数据（禁止使用移动储存设备拷贝数据） 6.关闭电脑，登记使用时间、荧光数字等使用情况
Zeiss 激光扫描共聚焦显微镜操作手册 目录: 1 系统得组成 系统组成及光路示意图 实物照片说明 2 系统得使用 2、1 开机顺序 2、2 软件得快速使用说明 2、3 显微镜得触摸屏控制 2、4 关机顺序 3 系统得维护 1 系统得组成 激光扫描共聚焦显微镜系统主要由:电动荧光显微镜、扫描检测单元、激光器、电脑工作站及各相关附件组成。 系统组成及光路示意图: 电脑工作站 激光器 电动荧光显微镜扫描检测单元 实物照片说明: 电动荧光显微镜 扫描检测单元 CO2 培养系统控制器 激光器 电脑工作站 2 系统得使用 2、1 开机顺序 (1)打开稳压电源(绿色按钮) 等待2 分钟(电压稳定)后,再开其它开关 (2)主开关[ MAIN SWITCH ]“ON” 电脑系统[ SYSTEMS/PC ]“ON” 扫描硬件系统[ PONENTS ]“ON” (3)打开[ 电动显微镜开关] 打开[ 荧光灯开关] (注:具有5 档光强调节旋钮) (4)Ar 离子激光器主开关“ON” 顺时针旋转钥匙至“—” 预热等待约15分钟, 将激光器[ 扳钮] 由“Standby”扳至 “Laser run”状态,即可正常使用 (5)打开[ 电脑开关],进入操作系统
注:键盘上也具有[ 电脑开关] 2、2 软件得快速使用说明 (1)电脑开机进入操作系统界面后,双击桌面共聚焦软件ZEN 图标 (2)进入ZEN 界面,弹出对话框: “Start System”——初始化整个系统,用于激光扫描取图、 分析等。 “Image Processing”——不启动共聚焦扫描硬件,用于已 存图像数据得处理、分析。 (3)软件界面: 1 功能界面切换:扫描取图(Acquisition)、图像处理(Processing)、维护(Maintain) (注:Maintain仅供Zeiss专业工程师使用) 2 动作按钮; 3 工具组(多维扫描控制); 4 工具详细界面; 5 状态栏; 6 视窗切换按钮; 7 图像切换按钮;8 图像浏览/预扫描窗口;9 文档浏览/处理区域;10 视窗中图像处理模块 动作按钮: Single ——扫描单张图片、并在图像预览窗口显示。 Start ——开始扫描单张图片或一个实验流程(1组图片,如XYZ、XYT 等)。 Stop ——暂停/结束扫描。 New ——建立一个新图像扫描窗口/文档。 激光连接状况检查 眼睛观察/相机/共聚焦LSM 光路切换(ZEN软件界面右上角): Ocular ——通过观察筒用眼睛观察。(激光安全保护装置自动阻断激光、保护眼睛。) Camera ——光路切换至相机。 LSM ——共聚焦扫描成像光路。 显微镜设置: “Ocular”——> “Light Path”——> 点击物镜图标,选择物镜——> 样品聚焦。 透射光控制(Transmitted Light Control) 反射光光闸控制(Reflected Light Shutter) 荧光激发块选择(Reflector) 共聚焦LSM 扫描设置 点击“LSM”(ZEN软件界面右上角),系统切换至共聚焦扫描光路: 光路设置: Smart Setup ——自动预设光路 选取“荧光探针”、“颜色”、扫描方法, 应用“Apply”。 (注:Fastest 为最快速扫描,多条激光谱线同时扫 描。Best signal 为最佳信号扫描,多条激光谱线顺 序扫描。Best promise 为兼顾速度与信号得折
一、实验目的 1.采用探针扫描显微镜进行微纳米级表面形貌测量。 2.了解扫描探针显微镜的工作原理并熟悉原子力显微镜的操纵。 二、实验设备 原子力显微镜、光盘块、装有SPM Console在线控制软件和Image后处理软件的计算机。 三、实验基础 原子力显微镜（Atomic Force Microscope ，AFM），一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器。 原子力显微镜的基本原理是：将一个对微弱力极敏感的微悬臂一端固定，另一端有一微小的针尖，针尖与样品表面轻轻接触，由于针尖尖端原子与样品表面原子间存在极微弱的排斥力，通过在扫描时控制这种力的恒定，带有针尖的微悬臂将对应于针尖与样品表面原子间作用力的等位面而在垂直于样品的表面方向起伏运动。利用光学检测法或隧道电流检测法，可测得微悬臂对应于扫描各点的位置变化，从而可以获得样品表面形貌的信息。激光检测原子力显微镜（Atomic Force Microscope Employing Laser Beam Deflection for Force Detection, Laser-AFM）——扫描探针显微镜家族中最常用的一种为例，其工作原理如图1所示。二极管激光器（Laser Diode）发出的激光束经过光学系统聚焦在微悬臂（Cantilever）背面，并从微悬臂背面反射到由光电二极管构成的光斑位置检测器（Detector）。在样品扫描时，由于样品表面的原子与微悬臂探针尖端的原子间的相互作用力，微悬臂将随样品表面形貌而弯曲起伏，反射光束也将随之偏移，因而，通过光电二极管检测光斑位置的变化，就能获得被测样品表面形貌的信息。 在系统检测成像全过程中，探针和被测样品间的距离始终保持在纳米（10e-9米）量级，距离太大不能获得样品表面的信息，距离太小会损伤探针和被测样品，反馈回路(Feedback）的作用就是在工作过程中，由探针得到探针-样品相互作用的强度，来改变加在样品扫描器垂直方向的电压，从而使样品伸缩，调节探针和被测样品间的距离，反过来控制探针样品相互作用的强度，实现反馈控制。因此，
Nikon 80i荧光显微镜使用说明 △荧光显微镜属贵重仪器，未经保管人员同意请勿擅自使用。 △严格按照操作步骤进行，在使用过程中如发现问题应及时向保管人员反映。 △因违反操作规程，而导致仪器损坏，根据本中心《损坏仪器赔偿制度》进行赔偿。 △使用者在使用完毕后应进行登记. 维护和保养 本仪器应定期进行维护和保养。 ●防止镜头霉变，定期除湿。 ●为防止损坏荧光灯泡，荧光光源关闭后，15分钟内不得再重新开启。 ●荧光灯泡的最佳使用期限是200小时，如发现荧光强度明显降低应更换荧光灯泡。 荧光显微镜操作步骤 △显微镜系精密仪器，务请不要碰击，要仔细耐心使用。 △荧光光源关闭后，15分钟内不得再开启。 △荧光灯泡的最佳使用期限是200小时，因此每次使用时请尽量缩短时间。 1.插上电源插座，打开主机电源开关。 2. 将待检标本置于载物台上。 3. 用10×物镜对焦点，根据使用者的眼间距调节双目镜筒的间距。 4. 调节光圈及灯光强度至合适位置。 5. 调节粗调和微调使标本至最清晰。 6. 拔出活动杆，使光路通过CCD至显示器。 7.保存图象至电脑中。 8. 使用完毕后关掉电源，如镜头上有指纹或污迹用擦镜纸将其擦除。 ●荧光光源操作 1.插上荧光光源电源插座，打开荧光光源电源开关。 2. 打开光栅。 3. 根据使用荧光素的不同选择不同的荧光滤光片。 4. 将待检标本置于载物台上。 5. 用10×物镜对焦点，根据使用者的眼间距调节双目镜筒的间距。 6. 调节粗调和微调使标本至最清晰。 7. 拔出活动杆，使光路通过CCD至显示器。 8. 保存图象至电脑中。 9. 使用完毕后关掉电源，如镜头上有指纹或污迹用擦镜纸将其擦除。 10. 登记使用情况。 Nikon 80i主要技术参数：放大倍数40-1000，CFI60无限远光学系统，内置滤色镜，数字成像头。明场、暗场、简单偏光、荧光/明场、荧光/暗场。波长：330-380，450-490，510-560。主电压90~250V。频率：50~60HZ。功率消耗：最大160W。周围环境温度：10~36℃。相对湿度：0~80%。污染级别：2。 应用范围：正置明场、相差及荧光，主要用于细胞及细菌等的观察及荧光摄影。
AFM原子力显微镜技术及应用实验报告 ——指导老师：袁求理 近 代 物 理 实 验 报 告 物理班实验小组 2012年12月18日
引言 在当今的科学技术中，如何观察、测量、分析尺寸小于可见光波长的物体，是一个重要的研究方向。扫描隧道显微镜(STM) 使人们首次能够真正实时地观察到单个原子在物体表面的排列方式和与表面电子行为有关的物理、化学性质。 STM 要求样品表面能够导电，从而使得STM只能直接观察导体和半导体的表面结构。为了克服STM 的不足之处，推出了原子力显微镜(AFM)。AFM是通过探针与被测样品之间微弱的相互作用力(原子力) 来获得物质表面形貌的信息。因此，AFM除导电样品外，还能够观测非导电样品的表面结构，且不需要用导电薄膜覆盖,其应用领域将更为广阔。除物理，化学生物等领域外，AFM在为微电子，微机械学，新型材料，医学等领域有着广泛的应用，以STM和AFM为基础，衍生出一系列的扫描探针显微镜，有激光里显微镜，磁力显微镜，扫描探针显微镜主要用于对物质表面在纳米线上进行成像和分析。 一、实验组员： 邵孙国（10072127）、周柬辉（10072137）、陈俊峰（10072122）、任寿良（10072126）。 二、实验目的： Ⅰ、学习和了解AFM的结构和原理。 Ⅱ、掌握AFM的操作和调试过程，并以之来观察样品表面的形貌。 Ⅲ、学习用计算机软件来处理原始数据图像。 三、实验原理简析： 1. AFM基本原理 原子力显微镜的工作原理就是将探针装在一弹性微悬臂的一端，微悬臂的另一端固定，当探针在样品表面扫描时，探针与样品表面原子间的排斥力会使得微悬臂轻微变形，这样，微悬臂的轻微变形就可以作为探针和样品间排斥力的直接量度。一束激光经微悬臂的背面反射到光电检测器，可以精确测量微悬臂的微小变形，这样就实现了通过检测样品与探针之间的原子排斥力来反映样品表面形貌和其他表面结构。 在原子力显微镜的系统中，可分成三个部分：力检测部分、位置检测部分、反馈系统。如图一显示。
显微镜及数码成像系统操作简要 第一部分观察方法步骤 1、明场观察方法步骤 2、相差观察方法步骤 3、荧光观察方法步骤 第二部分使用IPP拍摄图像流程(相差观察、荧光观察) 第三部分使用BX2-BSW拍摄图像流程(明场观察)
1、明场观察方法步骤 步骤 涉及部件 主开关拨到“I ” 准备工作：柯勒照明光轴中心调节 第一次观察须完成此调试，完成后不需要再调节，直至装卸过部件后，使用过程中请不要扭动聚光镜中心调节旋钮。 ① 聚光镜升高到最高位置 聚光镜高度升降旋钮 ② 用10X 物镜聚焦至清晰 ③ 视场光阑打至最小 视场光阑 ④ 逐步下降聚光镜，使视场中出现清晰正多边形图像 聚光镜升降旋钮 ⑤ 调节聚光镜中心调节旋钮，使正多边形移至视场中心 聚光镜中心调节旋钮 ⑥ 逐步打开视场光阑，使正多边形与视场边缘内切 视场光阑 ⑦ 稍加大视场光阑，使它的图象刚好与视场外切即可 视场光阑
步骤 涉及部件 I ” 载物台、标本夹 3、荧光观察方法步骤 准备工作：高压汞灯对中（第一次观察时调整，以后观察时不需调整，除非更换汞灯） 步骤 涉及部件 主开关拨到“I ” CD+或CD-钮
主开关拨到“I ” ND 片插槽 /孔径光阑 准备工作： 高压汞灯对中（第一次观察时调整，以后观察时不需调整，除非更换汞灯） 调整完成后，请不要触动对中部件，如汞灯对中旋钮，视场光阑对中钮等。 ，待弧 载物台
观察筒 视场光阑中心调节钮 第二部分使用IPP 拍摄图像流程 1. 在桌面点击以下图标打开IPP。 2. 在菜单栏中，（采集）Acquire 菜单下点击（视频/数字图像采集）Video/Digital Capture，或点击工具栏中，即出现控制CCD 拍照的对话框。
荧光显微镜使用方法和荧光显微镜操作规程 荧光显微镜是中的一种。 关键字： 荧光显微镜使用方法 荧光显微镜操作规程 荧光显微镜使用 使用方法和荧光显微镜操作规程 1. 用窗帘遮蔽光线，关闭房间内的灯光，除去显微镜的防尘罩，确保显微镜灯室通风良好、无遮盖。装上汞灯灯箱，并转动灯箱卡圈上的拨杆，将灯箱与镜臂连接。 2. 将汞灯灯箱的电源插头插入荧光电源箱后的插座，再将荧光电源箱的插头插入220V外接电源。 3. 打开电源开关，电压表显示出电源电压，如电源电压波动不大于额定电压值的±5%，即可按下启动开关点燃汞灯，如因天气太冷或电压不稳定等原因，一次启动未点燃汞灯，可以多揿动几次。待超高压汞灯弧光达到稳定状态并达到最大发光效率，即可开始工作。 4. 灯泡的调中： （1）任选一块标本放在载物台上. （2）转动镜臂上的聚光镜旋钮使聚光镜移出光路，转动滤色片组转换手轮，将紫光（Ｖ）或蓝光（Ｂ）或绿光（Ｇ）激发滤色片组转入光路，并将10×荧光物镜转入光路。
（3）调节粗微调手轮，将标本像调焦清晰。 （4）前后推动垂直照明器右边的聚光镜调焦推杆，使视场光栏成像清晰，转动视场光栏拨杆将视场光栏收小，调节视场光栏调中螺钉使视场光栏居中，然后再将视场光栏开至最大。 （5）转动镜臂上的聚光镜旋钮使聚光镜移入光路，前后调节灯箱上的聚光镜拨杆，使汞灯的弧光在视场内成像清晰。 （6）调整灯箱上的灯泡水平调节螺钉和垂直调节螺钉，使汞灯的弧光居中。 （7）调整反光镜水平调节螺钉和垂直调节螺钉，使光源的反射像与汞灯的弧光分开。 （8）转动聚光镜旋钮把聚光镜移出光路，此时视场照明均匀。 5. 荧光观察： （1）将荧光染色标本放到载物台上。 （2）将10×平场物镜或40×荧光物镜转入光路，调节载物台纵横移动手轮，将标本移入光路。 （3）转动滤光片转换拨轮，将荧光染色标本所需要的激发滤光片组转入光路。激发滤光片组编号刻在滤片组转换拨轮上。 滤光片选择正确与否，是荧光显微镜能否得到正确应用的关键。选用滤光片时，必须遵守斯托克斯定律：激发滤光片的透射波长＜双色束分离器的透射波长＜阻断滤光片的透射波长。 由于激发滤光片、双色束分离器和阻断滤光片，出厂时已按其用途和本身的光学特性进行了严格的组合匹配，在观察和摄影时，只需选择滤光片组即可。 （4）调节粗调手轮，当看清荧光图像轮廓后，再用微调手轮调焦，直至看到清晰的荧光图像。 （5）当需要得到较强的荧光图像时，可转动聚光镜旋钮把聚光镜移入光路，可获得较明亮的荧光图像。
荧光显微镜使用指导书 一、荧光显微镜的整体布局说明 图中项目说明: A--荧光显微镜光路部分 B--光路电源及数据采集卡 C--数据采集电脑 A1----汞光 A2----卤素灯 A3----卤素灯(底光) A4----滤光模组 A5----目镜组 A6----观察模式切换(目镜/数据采集) A7----反光镜 A8----差分光度计 1----卤素灯A2电源 2----汞光A1电源 3----数据采集卡 二、观察外延表面状态 1，打开卤素灯A2电源开关1并通过卤素灯A2电源开关1上的旋钮调整其亮度(如图1，具体亮度可根据个人要求决定)。
2，同时确定卤素灯A2与汞灯A1之间的反光镜扳手A7处于如图2所示位置以使卤素灯A2的光线进入主光路。 图1 卤素灯电源1图2 反光镜扳手位置 图3 滤光片插条位置图4 滤光模组A4 3，确定左边的D/UV插条进入光路，调整其余两个ND4和ND32插条以使进入光路的亮度合适(如图3)，如需要微调可以通过改变右侧光栅插条(标注:A.STOP)的状态以达到合适的亮度，如需要调整视野的大小可以通过调整右侧的光圈插条(标注:F.STOP)来达到(一般情况下不需要调整)。 4，转动滤光模组A4的转盘选择4#滤光模组(如图4)。 5，在载物台上放上需要观察的样品，先选择目镜A5中低倍目镜去选取要观察的区域并且调整焦距使视野内的观察物体清晰，然后切换
到合适放大倍数的目镜进行观察。 注意：调焦时先用低倍后用高倍。 调焦时先顺时针旋转粗准焦螺旋(如图5)把载物台升到最高位置并观察不要让物镜碰到物体；然后眼睛靠近目镜观察视场同时逆时针旋转粗准焦螺旋让载物台下降，当观察到视场最亮时切换细准焦螺旋进行调整(如图6)。 图5 粗准焦螺旋的调整图6 细准焦螺旋的调整 6，如需要调整观测样品表面显示的颜色，则需要差分光度计A8中3 个透镜插条同时插入，然后通过其中带旋钮的插条调整表面颜色以方 便观察(如图7)。 图7 差分光度计插条插入状态图8 差分光度计插条退出状态 注意事项：确定目镜转换头A4前的遮光板打开(通过扳手扳动调节)。 确定左边的D/UV插条进入光路以阻挡紫外光伤害眼睛。 三、观察量子阱结构状态 1，按照观察外延表面状态的操作顺序把要观察的片子放号并调整好
原子力显微镜 一、实验目的 1.了解原子力显微镜的工作原理。 2．初步掌握用原子力显微镜进行表面观测的方法。 二、实验原理 1.AFM （1）AFM的工作原理 在AFM中用一个安装在对微弱力极敏感的微悬臂上的极细探针。当探针与样品接触时,由于它们原子之间存在极微弱的作用力(吸引或排斥力) ,引起微悬臂偏转。扫描时控制这种作用力恒定,带针尖的微悬臂将对应于原子间作用力的等位面,在垂直于样品表面方向上起伏运动, 因而会使反射光的位置改变而造成偏移量，通过光电检测系统(通常利用光学、电容或隧道电流方法) 对微悬臂的偏转进行扫描,测得微悬臂对应于扫描各点的位置变化, 此时激光检测器会记录此偏移量，也会把此时的信号给反馈系统，以利于系统做适当的调整。将信号放大与转换从而得到样品表面原子级的三维立体形貌图像。 AFM 的核心部件是力的传感器件, 包括微悬臂(Cantilever) 和固定于其一端的针尖。根据物理学原理,施加到Cantilever 末端力的表达式为： F = KΔZ ΔZ 表示针尖相对于试样间的距离, K 为Can2tilever 的弹性系数，力的变化均可以通过Cantilever 被检测。 （2）AFM关键部位： AFM关键部份是力敏感元件和力敏感检测装置。所以微悬臂和针尖是决定AFM灵敏度的核心。为了能够准确地反映出样品表面与针尖之间微弱的相互作用力的变化,得到更真实的样品表面形貌,提高AFM 的灵敏度,微悬臂的设计通常要求满足下述条件: ①较低的力学弹性系数,使很小的力就可以产生可观测的位移; ②较高的力学共振频率; ③高的横向刚性,针尖与样品表面的摩擦不会使它发生弯曲; ④微悬臂长度尽可能短;⑤微悬臂带有能够通过光学、电容或隧道电流方法检测其动态位移的镜子或电极; ⑥针尖尽可能尖锐。 (3) AFM的针尖技术 探针是AFM的核心部件。如右图。 目前,一般的探针式表面形貌测量仪垂直分辨率已达到0.1 nm , 因此足以检测出物质表面的微观形貌。普通的AFM 探针材料是 硅、氧化硅或氮化硅(Si3N4 ) ,其最小曲率半径可达10 nm。由 于可能存在“扩宽效应”,针尖技术的发展在AFM中非常重要。 探针针尖的几何物理特性制约着针尖的敏感性及样品图像的空 间分辨率。因此针尖技术的发展有赖于对针尖进行能动的、功 能化的分子水平的设计。只有设计出更尖锐、更功能化的探针, 改善AFM 的力调制成像(force modulation imaging) 技术和相 位成像(phase imaging)技术的成像环境,同时改进被测样品的 制备方法,才能真正地提高样品表面形貌图像的质量。 (4) AFM的工作模式 AFM 有三种不同的工作模式: 接触模式( contact mode) 、非接触模式(noncontact mode) 和共振模式或轻敲模式(Tapping Mode) 。 ①接触模式 接触模式包括恒力模式(constant2force mode) 和恒高(constant2height mode) 。在恒力模式中过反馈线圈调节微悬臂的偏转程度不变,从而保证样品与针尖之间的作用力恒定,当
荧光显微镜(Fluorescence microscope)及其操作 某些物质经一定波长的光（如紫外光）照射后，物质中的分子被激活，吸收能量后跃迁至激发态；当其从激发态返回到基态时，所吸收的能量除部分转化为热量或用于光化学反应外，其余较大部分则以光能形式辐射出来，由于能量没能全以光的形式辐射出来，故所辐射出的光的波长比激发光的要长，这种波长长于激发光的可见光部就是荧光(fluorescence)。所谓荧光就是某些物质在一定波长光（如紫外光）的照射下、在极短时间内所发出的比照射光波长更长的可见光。由此可见，被照射物质产生荧光必须具备以下两个条件：①物质分子（或所特异性结合的荧光染料）必须具有可吸收能量的生色团；②该物质还必须具有一定的量子产率和适宜的环境（如溶剂、pH、温度等）。荧光显微术是利用荧光显微镜结可发荧光的物质进行观测的一种实验技术。某些物质在一定短波长的光(如紫外光)的照射下吸收光能进入激发态，从激发态回到基态时, 就能在极短的时间内放射出比照射光波长更长的光(如见光)，这种光就称为荧光。有些生物体内的物质受激发光照射后可直接产生荧光, 称为自发荧光(或直接荧光)，如叶绿素的火红色荧光和木质素的黄色荧光等。有的生物材料本身不能产生荧光，但它吸收荧光染料后同样却能发出荧光，这种荧光称为次生荧光(或间接荧光)，如叶绿体吸附吖啶橙后便可发出桔红色荧光。荧光显微镜具特殊光源（多为紫外光光源），提供足够强度和波长的激发光，诱发荧光物质发出荧光。在视场中所所观察到的图像，主要是样品的荧光映像。 （一）光源 现在多采用200W的超高压汞灯作光源，它是用石英玻璃制作，中间呈球形，内充一定数量的汞，工作时由两个电极间放电，引起水银蒸发，球内气压迅速升高，当水银完全蒸发时，可达50～70个标准大气压力，这一过程一般约需5～15min。超高压汞灯的发光是电极间放电使水银分子不断解离和还原过程中发射光量子的结果。它发射很强的紫外和蓝紫光，足以激发各类荧光物质，因此，为荧光显微镜普遍采用。 超高压汞灯也散发大量热能。因此，灯室必须有良好的散热条件，工作环境温度不宜太高。 新型超高压汞灯在使用初期不需高电压即可引燃，使用一些时间后，则需要高压启动（约为15000V），启动后，维持工作电压一般为50～60V，工作电流约4A左右。200W超高压汞灯的平均寿命，在每次使用2h 的情况下约为200h，开动一次工作时间愈短，则寿命愈短，如开一次只工作20min，则寿命降低50%。因此，使用时尽量减少启动次数。灯泡在使用过程中，其光效是逐渐降低的。灯熄灭后要等待冷却才能重新启动。点燃灯泡后不可立即关闭，以免水银蒸发不完全而损坏电极，一般需要等15min。由于超高压汞灯压力很高，紫外线强烈，因此灯泡必须置灯室中方可点燃，以免伤害眼睛和发生爆炸时造成操作。 超高压汞灯（100W或200W）光源的电路和包括变压、镇流、启动几个部分。在灯室上有调节灯泡发光中心的系统，灯泡球部后面安装有镀铝的凹面反射镜，前面安装有集光透镜。 国产超高压汞灯GCQ-200型性能良好，可以代替HBO-200等型的进口灯泡，平均寿命在200h以上，价格也比较低。 我国研制的一种简易轻便型高色温溴钨荧光光源装置，体积小，重量轻，功率小，交、直流两用（自带直流电源），易于携带，使用方便，已推广应用。
致测维产品用户： 感谢您明智地选择了测维-里万光电的产品。 从您开始使用测维产品的那一刻起，测维便与您结下了不解之缘，无论何时，无论何地，您将享受测维切实和认真的服务。 测维更希望把您的要求作为我们的追求，以使测维产品的质量、性能、服务日臻完善。因此，您的任何建议和意见，我们都将予以充分的重视。 测维的信箱是：cwsh@https://www.doczj.com/doc/9115815074.html, 如果您想更多地了解测维的产品，欢迎登陆测维的网站：https://www.doczj.com/doc/9115815074.html,/或拨打我们的全国客服热线：400-711-6930。 手册导读 请您在使用仪器前务必仔细阅读本手册。 特别提示： 在操作前，务必把仪器左侧粗微动内侧的限位圈松开。 用途： LWD300-38LFT型倒置荧光显微镜是由倒置显微镜和落射荧光显微镜组成。倒置显微镜具有在培养瓶或培养皿内进行显微观察的特点；落射荧光显微适用于荧光显微术。仪器配有长工作距离平场消色差物镜、大视野目镜、双目观察，还配有特长或长工作距离聚光镜、同时配有相衬装置及相衬物镜，可以观察不经染色的透明活体；落射荧光显微镜采用落射光激发，荧光图象清晰。该仪器特别适用于对活体细胞和组织、流质、沉淀物等进行显微研究，是生物学，细胞学，肿瘤学，遗传学，免疫学等研究工作的理想仪器。可供科研、高校、医疗、防疫和农牧等部门使用一、规格1.目镜 2.物镜
3.总放大倍数 4.聚光镜：特长工作距离聚光镜（带相衬装置）：工作距离75mm； 5.大台面载物台：移动范围: 75mm×50mm； 6.带限位和调节松紧装置的同轴粗微动调焦系统；微动手轮格值为: 0.002mm； 7.瞳距调节范围：53mm~75mm； 8.照明系统: A.透射照明光源12V30W卤素灯（亮度可调）； B.落射荧光光源100W超高压直流汞灯； 9. 电源电压：110V（60Hz）或230V（50Hz） 10.激发滤色片组： 紫外光(UV)：激发光谱区域：330-400nm；可见荧光起始光谱：425nm. 紫光(V)：激发光谱区域：395-415nm；可见荧光起始光谱：455nm. 蓝光(B)：激发光谱区域：420-485nm；可见荧光起始光谱：515nm. 绿光(G)：激发光谱区域：460-550nm；可见荧光起始光谱：590nm. 11.防霉。
浙江师范大学Zhejiang normal university 论文 作者： 专业： 完成日期：2013年12月21日
第一元素 实验 实验一 XRD 衍射 一、实验目的 1. 了解X 射线衍射仪的结构及工作原理 2. 熟悉X 射线衍射仪的操作 3. 掌握运用X 射线衍射分析软件进行物相分析的方法 二．X 衍射原理： X 射线在晶体中的衍射现象，实质上是大量的原子散射波互相干涉的结果。 晶体所产生的衍射花样都反映出晶体内部的原子分布规律。概括地讲，一个衍射花样的特征，可以认为由两个方面的内容组成： 一方面是衍射线在空间的分布规律，（称之为衍射几何），衍射线的分布规律是晶胞的大小、形状和位向决定 另一方面是衍射线束的强度,衍射线的强度则取决于原子的品种和它们在晶胞中的位置。 X 射线衍射理论所要解决的中心问题: 在衍射现象与晶体结构之间建立起定性和定量的关系。 布拉格方程： λθn dSin =2 根据布拉格方程，Sin θ不能大于1， 因此：对衍射而言，n 的最小值为1，所以在任何可观测的衍射角下，产生衍射的条件为λ<2d ，这也就是说，能够被晶体衍射的电磁波的波长必须小于参加反射的晶面中最大面间距的二倍，否则不能产生衍射现象。 若将布拉格方程中的n 隐含在d 中得到简化的布拉格方程： λθλθ===Sin d n d d Sin n d HKL hkl HKL hkl 2,2 则有：令 把（hkl ）晶面的n 级反射看成为与（hkl ）晶面平行、面间距为(nh,nk,nl) 的晶面的一级反射。面间距为dHKL 的晶面并不一定是晶体中的原子面，而是为了简化布拉格方程所引入的反射面，我们把这样的反射面称为干涉面。干涉面的面指数称为干涉指数。 三、使用仪器、材料 XRD ，带测试的未知材料
南京大学-原子力显微镜实验报告
原子力显微镜实验报告 一．实验目的 1．了解原子力显微镜的工作原理 2．掌握用原子力显微镜进行表面观测的方法 二．实验原理 1．AFM工作原理 在原子力显微镜的系统中，可分成三个部分：力检测部分、位置检测部分、反馈系统。在AFM中用一个安装在对微弱力极敏感的微悬臂上的极细探针。当探针与样品接触时,由于它们原子之间存在极微弱的作用力(吸引或排斥力) ,引起微悬臂偏转。扫描时控制这种作用力恒定,带针尖的微悬臂将对应于原子间作用力的等位面,在垂直于样品表面方向上起伏运动, 因而会使反射光的位置改变而造成偏移量，通过光电检测系统(通常利用光学、电容或隧道电流方法)
对微悬臂的偏转进行扫描,测得微悬臂对应于扫描各点的位置变化, 此时激光检测器会记录此偏移量，也会把此时的信号给反馈系统，以利于系统做适当的调整。将信号放大与转换从而得到样品表面原子级的三维立体形貌图像。AFM 的核心部件是力的传感器件, 包括微悬臂(Cantilever) 和固定于其一端的针尖。根据物理学原理,施加到Cantilever末端力的表达式为： =? F K Z ?表示针尖相对于试样间的距离, K为Cantilever的弹性Z 系数，力的变化均可以通过Cantilever被检测。 AFM 有三种不同的工作模式：接触模式、非接触模式和共振模式或轻敲模式。本实验采用接触模式：样品扫描时，针尖始终同样品“接触”，即针尖-样品距离在小于零点几个纳米的斥力区域。此模式通常产生稳定、高分辨图像。当沿着样品扫描时，由于表面
的高低起伏使得针尖-样品距离发生变化，引起它们之间作用力的变化，从而使悬臂形变发生改变。当激光束照射到微悬臂的背面，再反射到位置灵敏的光电检测器时，检测器不同象限会接收到同悬臂形变量成一定的比例关系的激光强度差值。反馈回路根据检测器的信号与预置值的差值，不断调整针尖一样品距离，并且保持针尖一样品作用力不变，就可以得到表面形貌像。 2．粗糙度的概念 表面粗糙度是反映零件表面微观几何形状误差的一个重要指标。表面粗糙度的评定参数很多，这里选用轮廓算数平均偏差Ra，微观不平度十点高度Rz，轮廓最大高度Ry作为系统纳米粗糙度测量的三个轮廓高度评定参数。 轮廓算数平均偏差Ra为取样长度内轮廓偏距绝
Leica TCS SP2 激光共聚焦显微镜系统操作手册一、荧光显微镜Leica DMRE的使用 A：步距调节 B：电动升台按钮 C：电动降台按钮 D：微调 E：上限设置 F：下限设置 1、观察、扫描转换拉杆 2、卤素灯开关 3、透射光探测器开光横档 4、荧光光路开关 5、荧光滤镜转盘1：DAPI；2：TRITC；3：FITC；4：SCAN 6、镜头侧DIC棱镜转盘 7、与镜头相配DIC滤块 8、起偏器 9、检偏器
10、镜头侧DIC棱镜微调旋钮 11、光强调节纽 12、减光滤光片 13、孔径光阑 14、视场光阑 选择合适的镜头 Leica TCS SP2 镜头配置 镜头类型使用介质放大倍率/数值孔径编号 HC PL APO CS DRY 10X /0.4 506511 HC PL APO CS DRY 20X/ 0.7 506513 HC PL APO CS DRY 40 X 0.85/ CORR 506140 HC PL APO Ibd.BC OIL 63X /1.4 506192 Leica TCS SP2 AOBS 镜头配置 镜头类型使用介质放大倍率/数值孔径编号 HC PL FLUOTAR DRY 10X/0.3 506505 HC PL FLUOTAR DRY 20X/0.5 506503 HCX PL APO OIL 40X/1.25-0.75 506176 HC PL APO Ibd.BC OIL 63X/1.4 506192 HCX PL APO CS OIL 100X/1.40-0.70 506038 WATER HCX APO L U-V-I WA TER 63X/0.9 506148 荧光观察 荧光光路开关至“O”位， 转轮至“1.0×”位， 转换拉杆完全推进， 荧光滤块换到相应号位（1：DAPI；2：TRITC；3：FITC；4：SCAN） 图像输出扫描 荧光光路开关至“I”位， 转轮至“UV”位， 转换拉杆完全拉出， 荧光滤块换到4：SCAN） 荧光观察（以油镜观察为例） 1、样品正面朝上正确放在显微镜样品台上，点上镜油。 2、长按电动升台按钮，使镜头和样品上镜油接触，调节微调旋钮，找到样品。 3、将光路转换成荧光观察位置，找到预扫描目标，将光路转换至扫描状态。
教育部《基础课实验教学示范中心》建设标准（讨论稿） 一、体制与管理 1、基础课实验教学示范中心（以下简称“中心”）属于校级实验中心，建制相对独立。中心实施校、院（系）两级管理，全面负责本科学生基础课实验教学工作。 2、学校负责中心的建设，提供其正常运转、维修及更新经费，教育部必要时给予支持。 3、中心实行主任负责制，主任由学校任免。中心实行人才流动、竞争上岗、定期考核的管理机制。 4、中心除承担学校本科基础课实验教学工作外，同时开展实验教学课程体系、内容、理论和技术方法、手段的研究，负责人员培训并提供开放服务。 5、中心向校内外开放，对外服务的收入可作为运行经费的补贴。 6、中心应具备先进的多媒体开放实验教学软硬件环境，实现实验教学、基本工作信息和仪器设备的计算机网络化管理，可作为向全国院校提供资源的网站和网络系统。 7、中心必须贯彻《高等学校实验室工作规程》（国家教委主任20号令），执行《高等学校仪器设备管理办法》（教高[2000]9号文件），在按照《高等学校基础课教学实验室评估办法和标准表》（教备[1995]33号文件），在按照《高等学校基础课教学实验室评估验收的基础上申请作为“基础课实验教学示范中心”，教育部经组织专家组审查认定后，授予“教育部基础课实验教学示范中心”称号。之后每四年复查一次，审查不合格的将取消资格。 二、实验教学 1、实验课程体系 实验课程同理论课程一样，是构成高等学校课程教学的重要组成部分。中心的基础课实验教学原则上应独立设课并形成完整、科学的实验教学课程体系。 中心应按照新世纪经济建设和社会发展对高素质人才培养的需求，在综合各个层次实验内容的基础上，建立相关内容融合、贯通和渗透，形成科学的相互联系的实验教学课程新体系。中心通过科学的设置实验项目，全面培养学生的实验技能、综合分析和解决问题的能力，使学生具有创新精神和实践能力。 2、实验教学项目 实验教学应包括以下几个层次： 基本实验教学； 提高型实验教学（综合性、设计性等）； 研究创新型实验教学。 其中，基本实验项目应根据学科的不同占到所开实验项目的50%左右。 3、实验教学方法
荧光显微镜使用说明及注意事项 （1）严格按照荧光显微镜厂家说明书要求进行操作，不要随意改变程序。 （2）观察对象必须是可自发荧光或已被荧光染料染色的标本。 （3）应在暗室中进行检查。进入暗室后，接上电源，点燃超高压汞灯5～15min，待光源发出强光稳定后，眼睛完全适应暗室，再开始观察标本。 （4）载玻片、盖玻片及镜油应不含自发荧光杂质，载玻片的厚度应在0.8～1.2mm之间，太厚可吸收较多的光，并且不能使激发光在标本平面上聚焦。载玻片必须光洁，厚度均匀，无油渍或划痕。盖玻片厚度应在0.17mm左右。 （5）防止紫外线对眼睛的损害，在调整光源时应戴上防护眼镜。 （6）选用效果最好的滤光片组。 （7）检查时间每次以1～2h为宜，超过90min，超高压汞灯发光强度逐渐下降，荧光减弱；标本受紫外线照射3～5min后，荧光也明显减弱；所以，最多不得超过2～3h。 （8）荧光标本一般不能长久保存，若持续长时间照射（尤其是紫外线）易很快褪色。因此，如有条件则应先照相存档，再仔细观察标本。 （9）荧光显微镜光源寿命有限，启动高压汞灯后，不得在15min内将其关闭，一经关闭，必须待汞灯冷却后方可再开启。严禁频繁开闭，否则，会大大降低汞灯的寿命。标本应集中检查，以节省时间，保护光源。天热时，应加电扇散热降温，新换灯泡应从开始就记录使用时间。灯熄灭后欲再用时，须待灯泡充分冷却后才能点燃。一天中应避免数次点燃光源。 （10）标本染色后立即观察，因时间久了荧光会逐渐减弱。若将标本放在聚乙烯塑料袋中4℃保存，可延缓荧光减弱时间，防止封裱剂蒸发。 （11）若暂不观察标本时，可拉过阻光光帘阻挡光线。这样，既可避免对标本不必要的长时间照射，又减少了开闭汞灯的频率和次数。 （12）荧光亮度的判断标准：一般分为四级，即“一”—无或可见微弱荧光。“+”—仅能见明确可见的荧光。“++”—可见有明亮的荧光。“+++”—可见耀眼的荧光。 （13）较长时间观察荧光标本时，一定要戴能阻挡紫外光的护目镜，加强对眼睛的保护。在未加入阻断滤光片前不要用眼直接观察，否则会损伤眼睛。 (14) 激发光长时间的照射，会发生荧光的衰减和淬灭现象，因此尽可能缩短观察时间，暂时不观察时，应用挡板遮盖激发光。 (15) 作油镜观察时，应用“无荧光油”。 (16) 荧光几乎都较弱，应在较暗的室内进行。