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TDR (时域反射计)测量传输延时

TDR (时域反射计)测量传输延时
TDR (时域反射计)测量传输延时

利用TDR (时域反射计)测量传输延时

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摘要:随着时钟速率的提高,利用高速示波器有源探头测量延时的传统方法很难获得准确结果。这些探头成为高速信号通路的一部分,并造成被测信号的失真,引入误差。探头还必须直接置于器件引脚,以消除PCB (印刷电路板)引线长度产生的延时误差,满足探头位置的这一要求是困难而复杂的过程。本文介绍了如何利用TDR (时域反射计)测量降低探头误差的方法,有助于提高传输延时测量精度。

分析方法

本文基于以下三个前提:

1.利用TDR (时域反射计)减小探头误差。TDR通常用来测量信号通路长度与阻抗变化的关系。TDR 也是测量传输延

2.时的重要工具。

2.避免直接探测。由于加载的原因,有源探头会使测量变得复杂,并引入误差。

3.利用一个实例演示这一方法。本文将以MAX9979为例,该芯片为高速引脚电子电路,适合于ATE 系统。芯片内部集成了双路高速驱动器、有源负载以及工作在1Gbps以上的窗比较器。

此处介绍的方法适用于任何高速器件。

TDR原理

TDR测试方法中,沿信号通路传输高速信号边沿,并观察其反射信号。反射能够说明信号通路的阻抗以及阻抗变化时信号延时的变化,TDR测试的简单示意图如图1所示:

图1. TDR原理,TDR测量基于反射系数ρ,其中ρ = (VREFLECTED/VINCIDENT)。最终,ZO = ρ ×(1 + ρ)/(1 - ρ)。从图1可以得到两个重要概念:

1.TDLY是我们将要测量的PCB (印刷电路板)引线延时。

2.ZO是被测PCB引线的阻抗。

仪器和*估板

为了测量纳秒级的延时,需要非常快的脉冲发生器、高速示波器以及高速探头。我们也可以利用具有TDR测量功能的Tektronix? 8000 (图2)系列示波器(TDS8000、CSA8000或CSA8200),配合80E04 TDR 采样模块使用。本文采用MAX9979EVKIT (*估板)、Hewlett Packard 8082A脉冲发生器和TDS8000/80E04

进行演示。图3所示为MAX9979EVKIT部分电路。可以选择使用任何具有TDR功能的高速示波器和任何高速差分脉冲发生器,同样能够获得相似结果。

图2. Tektronix TDS8000系列具有采样模式的示波器

图3. MAX9979EVKIT (部分)

分析中将进行以下测量:

1.从PCB的SMA边缘连接器DATA1/NDATA1至MAX9979 IC输入引脚DATA1/NDATA1的延时。从MAX9979的DUT1 (被测器件)输出通过SMA连接器J18的延时。

2.连接DUT1输出至CSA8000的测试电缆延时。

3.从DATA1/NDATA1输入至DUT1输出,通过电缆到达CSA8000的总延时。

4.最后,计算MAX9979的实际延时。

DATA1/NDATA1输入建模

由于人们对TDR响应比较困惑,我们首先利用SPICE仿真器构建输入延时的模型。然后我们将仿真结果与实际测量进行比较,参见图4。

图4. 等效输入原理图和最终仿真模型

图4注释:

1.PCB引线设定为6in长,阻抗为65Ω。实际上,这是DATA1/NDATA1 PCB引线的真实阻抗。理想情况下为50Ω,但我们从TDR测量结果将会看到该值为63Ω。

2.NDATA1输出端接至地。由于DATA1和NDATA1对称,而且距离MAX9979引脚的长度相同,所以仅测量DATA1的PCB引线。

3.对信号发生器的12in电缆进行建模,但实际传输延时测量证明并不需要这一建模。

DATA1/NDATA1输入仿

图5所示为TPv3的SPICE仿真波形。

图5. 图4所示模型的SPICE仿真(节点TPv3),在MAX9979EVKIT DATA1输入采集到的数据。

从图5数据可以得出以下几点结论:

1.输入信号为阶跃函数。这次仿真中,阶跃幅度为0.5V。以此模拟CSA8000产生的TDR信号。

2.时间代表模型中不同单元的延时:

a.第1级表示发生器的12in电缆。延时大约为3ns,是实际延时的两倍。实际电缆延时为1.5ns。

b.第2级表示DATA1 PCB引线。延时大约为2ns,PCB延时为该值的一半,或1ns。

c.其它延时为脉冲通过DATA1 PCB引线的反射。

3.Y轴反映了不同元件的阻抗,单位为伏特,可转换为阻抗。

4.X轴为单次输入阶跃信号造成的模拟信号反射,参照图1对信号进行比较。这些信号的长度代表通过不同元件的延时。

MAX9979的传输延时测量

按照以下六个步骤进行传输延时测量。

第1步:测量连接DUT1节点到CSA8000垂直输入的2in长SMA电缆的延时(图6)。

图6. 2in SMA电缆的CSA8000 TDR

测量时:

1.将2in长SMA-SMA电缆连接至80E04 TDR模块的一路输入,另一端保持开路。

2.利用TDR的下拉菜单进行测量。

3.注意,这看起来很像图1中的“开路”示例。此处测得的延时为804ps,由于是两倍的电缆延时,所以电缆延时为402ps。

4.还需注意的是,第2级阶跃实际为顶部和底部之间的一半。根据TDR原理,表示2in长度电缆实际阻抗为50Ω。

5.这条2in电缆是我们测量延时的通路之一。

第2步:测量DATA1输入信号的PCB引线延时/阻抗。

图7. DATA1 PCB TDR阻抗测量

从该数据可以获得以下几项信息:

1.图7与图5中的仿真曲线相同,证明了模型的准确性。

2.光标用于测量线路阻抗。第1级阶跃为49.7Ω,代表CSA8000电缆。与我们的预期结果一致。

3.第二光标显示97.8Ω,为MAX9979内部DATA1/NDATA1两端的100Ω电阻(参见图4)。与我们的预期结果一致。

4.第2级阶跃阻抗不是50Ω。这一级为DATA1 PCB阻抗,大约为63Ω。这意味着DATA1和NDATA1的PCB引线不是我们所希望的50Ω。

5.大幅值为150Ω,是额外的50Ω电缆和100Ω电阻,只存在于第3级反射。

该测量可以简化为:

1.将12in SMA电缆的一端连接至CSA8000。将电缆另一端连接至MAX9979EVKIT的DATA1 SMA 输入连接器。

2.将NDATA1的SMA连接器通过SMA接地,从图4可以看出这一点。12in SMA电缆的长度与延时测量无关,但应尽可能短。

3.无需对MAX9979EVKIT供电。该测量针对焊接到电路板上的MAX9979进行,但不需要上电。有些用户更喜欢使用没有焊接器件的电路板进行测量。断开MAX9979将产生更清晰的3级阶跃信号,仿真图1所示开路状态。两种配置下,实际时间测量结果相同。

图8. 波形与图7相同,但为扩展后的波形,测量延时。

图8所示,测量第2级阶跃—DATA1 PCB引线延时。注意:

1. 第1级阶跃为电缆,我们对其延时并不感兴趣。

2.测量值为1.39ns,PCB延时为该值的一半,或为0.695ns。这一延时确实大于模型的延时,但我们仅利用模型估算延时加以比较。

3.测量在信号的倾斜沿进行。这些倾斜沿代表电路板SMA和MAX9979 DATA1引脚的电容效应。因此,在这些倾斜沿之间进行测量能够确保测试结果包含了SMA和PIN延时。还需注意的是,波形中存在凸峰:这是SMA连接器与电路板之间的电感产生的。由此,需要在凸峰之前进行测量,以确保获取完整的电路板延时。进一步的TDR测量读数将突显这些电容和电感造成的倾斜沿和凸峰。

第3步:测量DUT1输出信号的PCB引线延时/阻抗。

图9. DUT1 PCB TDR延时和阻抗测量

图9所示示波器波形是采用与图7、图8相同的设置产生的。我们现在采用一条2in长SMA电缆连接CSA8000 80E04模块MAX9979EVKIT的DUT1 SMA。注意:

1.第1级阶跃表示2in电缆。TDR信号为0.5V,第1级阶跃为250mV。说明我们电缆的阻抗为50Ω,与预期情况一致。

2.DUT1延时是在两个倾斜沿之间进行测量得到的,与上述DATA1测量说明相同。然而,需要注意的是:这些倾斜沿之间的电平同样为50Ω。该值表明较短的DUT1 PCB金属线非常接近于理想的50Ω。

3.从上述内容得到DATA1引线阻抗为63Ω,DUT1节点阻抗为50Ω。这意味着DATA1输入的金属线宽比DUT1输出的线宽窄。理想情况下,它们应该相同。TDR测量发现了这一差异,这不一定是系统错误。DUT1引线阻抗稍高是由于较窄的金属线造成的,但它同时也减小了DATA1金属线的电容。数据线是最长的引线,为了保证最宽频带的要求,该电容应尽小。

4.DUT1的PCB延时很难测量,其阻抗与电缆相同。如果MAX9979没有焊接到电路板上,我们将看到“开路”状态的三级阶跃信号。但是,在焊接了MAX9979的条件下仍然可以测量到这一延时。通过检查电容效应产生的倾斜沿,可以看出SMA连接器在电路板的焊接位置以及MAX9979 DUT1引脚的位置。我们同样可以查看SMA连接器电感产生的凸峰,确认它处于两个倾斜沿之间。解决了这些问题,可以测得延时为360ps,将该值减半,得到实际DUT1 PCB电路板的延时,该延时为180ps。

第4步:用两条相同的SMA电缆连接差分信号发生器,测量CSA8000的基线延时。

图10. 测量来自发生器的DATA1/NDATA1信号

图10所示,C1和C2是两个互补PECL信号,幅值大约为450mV。这些DATA1和NDATA1信号直接由外部的信号发生器产生,送入CSA8000输入。我们采用CSA8000的20GHz采样探头,从该数据可得出以下结果:

1.M1是差分信号C1 - C2的数学计算值,幅值为900mV,10%/90%上升和下降时间接近于700ps。这意味着DATA1/NDATA1信号上没有任何干扰。

2.我们还对Crs或M1差分信号的过零点进行测量,测得数据为29.56ns。触发示波器,我们仅关注这些过零点中的一个。给MAX9979上电,然后测量相同过零点,因为它是通过整个电路板的延时。

3.该延时还包括两条输入电缆的延时,因为这些电缆也被用于测量通过电路板的信号延时,其延时相互抵消。尽管如此,最好还是使用尽可能短的电缆,只是该延时对传输延时测量并不重要。

第5步:MAX9979EVKIT上电。

图11. MAX9979上电并为CSA8000的50Ω负载产生3V信号

将DATA1和NDATA1信号连接至已上电的MAX9979EVKIT的DATA1/NDATA1输入。使用与第4步相同的电缆。按照传输延时测量技术资料的规定,将MAX9979设置为规定的0V至3V信号,并将输出端接至50Ω。本例中,50Ω负载为CSA8000输入,从图11获得的数据点显示:

1.当前的输出信号幅值为0V至1.5V,与预期情况一致,由于50Ω负载的存在而被除以2。

2.上升和下降时间完全在MAX9979的技术指标范围内。由此,我们可以确认由干净、有效的

DATA1/NDATA1驱动产生完好、干净、有效的输出。

3. CSA8000保持与第5步相同的设置,触发方式与第4步相同。我们可以看到过零点为33.77ns。

第6步:计算MAX9979的传输延时。

通过MAX9979EVKIT的总延时为:

33.77ns - 29.56ns = 4.21ns

计算测量结果:

1.减去0.695ns的DATA1 PCB引线延时,所得延时为3.515ns。

2. 减去0.18ns的DUT1 PCB引线延时,所得延时为

3.335ns。

3.减去CSA8000的2in电缆延时,该延时为402ps,所得延时为2.933ns。

MAX9979技术指标中,这种配置下的标称延时为2.9ns。这里,我们可以得到焊接了MAX9979的*估板的延时为2.933ns,非常接近于预期值。

总结

1.以上分析表明利用TDR测量传输延时具有以下优势:

2.传输延时测量结果非常准确。

3.无需有源探头(避免由此引入的误差)。

4.简单技巧可用于绝大多数传输测量。

5.阻抗测量保证正确的连接器和PCB引线阻抗。

6.利用TDR信号能够分析信号通路的附加电容和电感,必要时可作为重新设计的反馈信息。

7. 简化模型和仿真工具确保获得正确结果,并可验证测量配置。

8.采用良好的测试方法测量关键指标。

随着信号速率的提高,时序测量的误差和错误会造成不正确的电路规划、器件选择及系统设计。高速测量中保持良好的方法能够避免亡羊补牢造成的损失。本文着重强调了这些良好的设计习惯。(中国电子应用网)

OTDR(光时域反射仪)操作手册

CMA8800光时域反射测试仪 操 作 手 册 郑州维修中心

目录 第一章快速开始 第二章概览 第三章OTDR测量模式 第四章储存及打印功能 附录 CMA8800的特点及日常维护

第一章快速开始 1.1仪器供电 CMA8800是通过220VAC适配器/充电器从外部供电。 注意:CMA8800不能用内置电池供电! 电源开关位于上面板的右侧。按下开关即可启动。 1.2启动顺序 当该单元上电后,首先出现了一个开始画面,包括软件版本及日期,接着单元进行自检。结果显示如图1-2所示。 当自检结束后,按下PAUSE可以读屏幕上的信息。按下“继续”可以继续进行操作。 图1-2典型设备和自检屏幕 1.3操作模式选择屏幕 当上电完成后,将显示一个可供选择模式的屏幕,每一种可见的模式均位于相应软键的旁边,你只要按下相应的键就按相应的模式进行操作。这里为有经验的用户出了每一种模式的快速操作信息,详细的信息见于手册中后面的章节。

1.3.1故障定位模式 故障定位模式是一种快速确定光纤端/断点位置的方法。当你按下FAULT LOCATE,首先就开始一个光纤接口质量的检查(如果在附加设置中,光纤接口质量的检查功能已启动),这个检查会告诉你基于用户在快速设置菜单中所定义的背向散射系数的连接是不好的、一般的还是好的。当检查进行测试完成后,光纤端/断点显示如图1-4所示。 通过按下硬键TEST/STOP或者模式屏幕软键可使测试取消,

1.3.2配置模式 按“配置模式”键进入“快速设置菜单”屏,在这里设置自动测试功能及测量参数,参见3.1节和3.2关于快速设置和附加设置的信息 按“启动”键显示光纤存储信息屏幕(如图1-5所示),从这里你可以输入描述新的测试的信息,按“继续”就到达了连接光纤屏幕,接着再按“继续”就开始进行测试。 如需要,此时可按“模式屏”回到模式选择屏幕。 1.3.3专家模式 专家级的OTDR模式是为那些想应用CMA8800更先进功能的用户而设计的,所有的OTDR功能均见于这种模式。 按软键“专家模式”进入快速设置菜单(参见图3-1);在此处,你可以在测试之前设置所有的必要的参数;目前的设置决定了自动执行哪些操作功能,如果“全自动”设为开,则所有的操作均被认定为自动执行,如果“全自动”设为关,则你必须选择哪一种操作是自动执行的。 按下“启动”进入显示曲线屏幕,按下硬键“REAL TIME”开始运行实时扫描,再按下硬键“REAL TIME”可以终止实时扫描状态。按下硬键“TEST/STOP即可开始测试。 1.3.3.1曲线显示屏幕 从设置状态按GO就显示了一个与图6-1相似的曲线屏。 1、图标行 在曲线图形区上方的图标行,显示了对比曲线和背景曲线参考的曲线文件名和其他信息,包括该曲线是否已被滤波、是否被施加衰减、是否进行过曲线分析的,测试平均是否未完成等产,对比曲线的文件名在屏幕左边显示,背景曲线(如果存在)的文件名在网络上的屏幕右边显示。 光标行图标:有效结果表 平滑已经运行 正在行进数据采集 差值比较 光标锁定 曲线被施加衰减

光时域反射仪

光时域反射仪 科技名词定义 中文名称:光时域反射仪 英文名称:optical time-domain reflectometer;OTDR 定义:通过对测量曲线的分析,了解光纤的均匀性、缺陷、断裂、接头耦合等若干性能的 仪器。 所属学科:通信科技(一级学科);通信计量(二级学科) 光时域反射仪OTDR(Optical Time Domain Reflectometer), 是利用光线在光纤中传输时的瑞利散射所产生的背向散射而制成的 精密的光电一体化仪表。 OTDR用于光缆线路的施工、维护之中,可以进行光纤长度、光 纤的传输衰减、接头衰减和故障定位等的测量。 编辑本段 9.6.1 光时域反射仪概述 ? 光时域反射仪OTDR(Optical Time Domain Reflectometer),是利用光线 在光纤中传输时的瑞利散射所产生的背向散射而制成的精密的光电一体化仪表,广泛应用于实验、教学和施工现场。OTDR采用背向散射测试技术,能够测试整个光纤链路的衰减,并能提供和长度有关的衰减细节。OTDR同时 可测试接头损耗及故障点。它具有非破坏性且只需在一端测试的优点。OTDR 功能多、操作简便、测量的重复性高、体积小、不许其它仪表配合、 能自动存储和打印测量结果,目前已成为光通信系统工程检测中最重要的仪表。如图9-13所示是HP8147光时域反射仪。光时域反射仪(OTDR)的主要 功能为: ? (1)单光盘光缆传输损耗和光缆长度的检测。

? (2)光缆连接工艺的监测。 ? (3)中继段状态的测量,包括各盘光缆的损耗、各个接头的损耗及整个种极端的平均损耗的测量。 ? (4)线路故障原因及故障点位置的准确判断。 ? (5)OTDR自动存储、打印的背向散射信号曲线可以作为线路的重要技术档案。 9.6.2 OTDR 9.6.2 OTDR工作原理工作原理 1.瑞利散射 瑞利散射:当光线在光纤中传播时,由于光纤中存在着分子 级大小的结构上的不均匀,光线的一部分能量会改变其原有传 播方向向四周散射,这种现象被称为瑞利散射。其强度与波长 的4次方(λ4)成反比,其中又有一部分散射光线和原来的传播 方向相反,被称为背向散射,如图9-14所示。

光时域反射仪OTDR的基本原理

OTDR的基本原理 OTDR勺基本原理 什么是OTDR? 基础 OTDR将激光光源和检测器组合在一起以提供光纤链路的内视图。激光光源发送信号到光纤中,检测器接收从链路的不同元素反射的光。激光光源发送信号到光纤中,检测器在光纤中接收从链路的不同元素反射的光。发送的信号是一个短脉冲,其携带有一定数量的能量。然后,时钟精确计算出脉冲传播的时间,然后将时间转换为距离,便可以得知该光纤的属性。当脉冲沿着光纤传播时,由于连接和光纤自身的反射,一小部分脉冲能量会返回检测器。当脉冲完全返回检测器时,发送第二个脉冲一直到取样时间结束。因此,会立刻执 行多次取样并平均化以提供链路元件的清晰特性图。取样结束后,执行信号处理,除了计算 总链路长度、总链路损耗、光回损(ORL)和光纤衰减外,还计算每个事件的距离、损耗和 反射。使用OTDR的主要优势在于单端测试,只需要一位操作人员和一台仪器来鉴定链路质 量或查找网络故障。图#1显示了OTDR的框图。 图1. OTDR框图 图1 OTOR框图* 反射是关键 如前文所述,OTDR通过读取从所发送脉冲返回的光级别以显示链路情况。请注意,有两种类型的反射光:光纤产生的连续低级别光称为Rayleigh 背向散射,连接点处的高反射 峰值称为Fresnel反射。Rayleigh背向散射用于作为距离的函数以计算光纤中的衰减级别(单位是dB/km),在OTDR轨迹中显示为直线斜率。该现象来源于光纤内部杂质固有的反射 和吸收。当光照射到杂质上时,一些杂质颗粒将光重定向到不同的方向,同时产生了信号衰减和背向散射。波长越长,衰减越少,因此,在标准光纤上传输相同距离所需的功率越小。 图2说明了Rayleigh 背向散射。 图2. Rayleigh 背向散射 -iOR Puuse GEhJERATOft Dlf Ei?Tl JNAL C OUPLER ? Waller —Distance range

TDR100时域反射土壤水分站

TDR100土壤水分测量系统 时域反射计水分分析系统 Time Domain Reflectometry 一、概述 时域反射计(TDR)广泛用于测量土壤体积含水量、体积电导率和岩体变形。TDR测量没有破坏性,并能提供很好的精确度和准确度。 TDR系统的主要组件是CSI 数据采集器、TDR100反射计、SDMX50系列同轴多路器、连接电缆和TDR探头。 TDR100 由Windows 软件PCTDR 控制,或在CR10X或CR23X 数采中使用TDR100 指令控制。通常情况是,系统由用户提供的深充电池供电,使用20W 的太阳能电池板充电。可能安装交流电源的地方是CR10X使用的PS12LA 密闭可充电池或CR23X的可充电池。 二、系统构成 l TDR100反射计 l SDMX50系列扩展板 l TDR 外壳 l土壤水分测量探头 l岩体变形测量 三、系统介绍 TDR100 时域反射计 紧凑的低价格反射计,远程使用设计 检测土壤和其它多孔隙介质的体积含水量可用于岩体变形测量 当与SDM50 系列同轴多路器通讯时使用 Campbell 公司的SDM 通讯协议CR10X 和CR23X 数采数采使用119 号指令控制TDR100 由以下软件支持英文资料。 PCTDR Windows 软件 与TDR100 一起 当系统设置和处理故障时显示波形 显示体积含水量和电导率 切换SDMX50 通道 采集波形和派生数据文件 进行电导率测量时需检测探头常数值 SDMX50 系列扩展板 SDMX50 系列扩展板是八通道同轴切换设备,用在 TDR 系统中。三个层级的切换允许多达512 个土壤体积含水量或岩体变形电缆连接到一个TDR100。在自动测量中扩展板由一个CR10X 或CR23X 数采控制。当使用PCTDR 时或连接到一台PC 机时,扩展板可由TDR100 控制。有三个扩展板可选:SDMX50,SDMX50LP 和SDMX50SP。这几种都提供可靠和可编程的通道选择,但在一定

时域反射计TDR原理

时域反射计TDR原理 传统时域反射计工作原理 时域反射计TDR是最常用的测量传输线特征阻抗的仪器,它是利用时域反射的原理进行特性阻抗的测量。 图1是传统TDR工作原理图。 图1 时域反射计TDR工作原理 TDR包括三部分组成: 1)快沿信号发生器: 典型的发射信号的特征是:幅度200mv,上升时间35ps,频率250KHz方波。 2)采样示波器: 通用的采样示波器. 3)探头系统: 连接被测件和TDR仪器。 测试信号的运行特征参考图2所示。由阶跃源发出的快边沿信号注入到被测传输线上,

如果传输线阻抗连续,这个快沿阶跃信号就沿着传输线向前传播。当传输线出现阻抗变化时,阶跃信号就有一部分反射回来,一部分继续往前传播。反射回来的信号叠加到注入的阶跃信号,示波器可采集到这个信号。因为反射回来的信号和注入的信号有一定的时间差,所以示波器采集到的这个叠加信号的边缘是带台阶的,这个台阶反映了信号传播反射的时间关系,与传输线电长度对应。 图2 TDR测试信号在传输线上的运动特征 图3是计算被测传输线特征阻抗的计算公式。当示波器采集到这个叠加信号后,容易去掉注入的信号(有些TDR仪器注入信号是从-200mv到0v的,所以示波器采集到的边沿台阶就是反射回来的信号)。这样容易通过图中公式计算出反射系数,由反射系数通过图中公式(测试系统的阻抗是50欧姆)容易计算出发生反射电压点的负载阻抗。

图3 TDR计算被测件特征阻抗的计算公式 TDR比较有意义的一点是,示波器采集到了每一点的反射电压(如果因为阻抗匹配而无反射,则假设反射的电压为0v),从而示波器屏幕上显示了一条TDR曲线,这个曲线与传 输线的每一点有一一对应关系。从这个曲线上可以读出传输线上每一点的特征阻抗。如果知道有效介电常数,可以计算出/读出每一点距离测试点的具体长度,如图14所示。 所以TDR仪器不仅仅可以用来测量传输线的特征阻抗,还可以帮助定位断点或短路点的具体位置,比如有些工程师就用TDR来检验计算机、消费电子设备上的软排线是否有断点 或短路点。计算机和消费电子设备用了很多的软排线来传输高速信号(比如连接显示屏的软排线),这种软排线的每根线都是一个小同轴电缆,由于细小,生产时容易短路或短路,用 TDR仪器可以帮助检查和定位问题。

光时域反射仪使用说明书

AQ7260 OTDR 光时域反射仪 简易操作手册 第1版 2005年3月

前言 感谢您购买AQ7260。本操作手册循序渐进地介绍了实际测量工作流程,简单的仪表操作,使初学者容易上手。同 时我们还提供AQ7260用户手册(英文版),该手册介绍仪表的所有功能以及使用时的安全注意事项。使用前请阅 读两本手册。 目录 第一章 测量前的准备事项..............................................31-1 连接光模块和连接适配器.............................................3 1-2 打开电源..........................................................31-2-1 连接电源....................................................3 1-2-2 接通电源....................................................31-3 连接测量光纤......................................................3第二章 按键和显示画面说明...........................................42-1 按键..............................................................4 2-2 显示画面..........................................................4 2-3 画面显示设定......................................................5第三章 测量..........................................................63-1 使用单键进行自动测量...............................................63-1-1 开始测量....................................................6 3-1-2 停止测量....................................................6 3-1-3 确认和改变测量条件..........................................7 3-1-4 初始化测量条件..............................................83-2 手动测量..........................................................93-2-1 设置测量条件................................................9 3-2-2 实时测量...................................................10 3-2-3 平均化操作.................................................11 3-2-4 放大、缩小和移动波形........................................11 3-2-5 距离测量...................................................12 3-2-6 测量连接损耗...............................................14 3-2-7 测量回波损耗量.............................................153-3 自动搜索.........................................................16第四章 测量数据的记录...............................................174-1 保存.............................................................17 4-2 调用.............................................................19 4-3 删除.............................................................20 4-4 打印.............................................................214-4-1 打印显示画面...............................................21 4-4-2 打印文件数据...............................................214-5 复制.............................................................23 1

TDR (时域反射计)测量传输延时

利用TDR (时域反射计)测量传输延时 Samtec连接器完整的信号来源开关,电源限时折扣最低45折每天新产品时刻新体验ARM Cortex-M3内核微控制器最新电子元器件资料免费下载完整的15A开关模式电源首款面向小型化定向照明应用代替 摘要:随着时钟速率的提高,利用高速示波器有源探头测量延时的传统方法很难获得准确结果。这些探头成为高速信号通路的一部分,并造成被测信号的失真,引入误差。探头还必须直接置于器件引脚,以消除PCB (印刷电路板)引线长度产生的延时误差,满足探头位置的这一要求是困难而复杂的过程。本文介绍了如何利用TDR (时域反射计)测量降低探头误差的方法,有助于提高传输延时测量精度。 分析方法 本文基于以下三个前提: 1.利用TDR (时域反射计)减小探头误差。TDR通常用来测量信号通路长度与阻抗变化的关系。TDR 也是测量传输延 2.时的重要工具。 2.避免直接探测。由于加载的原因,有源探头会使测量变得复杂,并引入误差。 3.利用一个实例演示这一方法。本文将以MAX9979为例,该芯片为高速引脚电子电路,适合于ATE 系统。芯片内部集成了双路高速驱动器、有源负载以及工作在1Gbps以上的窗比较器。 此处介绍的方法适用于任何高速器件。 TDR原理 TDR测试方法中,沿信号通路传输高速信号边沿,并观察其反射信号。反射能够说明信号通路的阻抗以及阻抗变化时信号延时的变化,TDR测试的简单示意图如图1所示: 图1. TDR原理,TDR测量基于反射系数ρ,其中ρ = (VREFLECTED/VINCIDENT)。最终,ZO = ρ ×(1 + ρ)/(1 - ρ)。从图1可以得到两个重要概念: 1.TDLY是我们将要测量的PCB (印刷电路板)引线延时。 2.ZO是被测PCB引线的阻抗。 仪器和*估板 为了测量纳秒级的延时,需要非常快的脉冲发生器、高速示波器以及高速探头。我们也可以利用具有TDR测量功能的Tektronix? 8000 (图2)系列示波器(TDS8000、CSA8000或CSA8200),配合80E04 TDR 采样模块使用。本文采用MAX9979EVKIT (*估板)、Hewlett Packard 8082A脉冲发生器和TDS8000/80E04

光时域反射仪(OTDR)操作规程

光时域反射仪(OTDR)操作规程 1、试验目的:测量光纤长度、光纤的传输衰减、接头衰减和故障定位 2、试验人员:试验协助员负责连接光纤、操作仪器,试验负责人负责监护 3、试验设备:Micro-OTDR光时域反射仪,其工作电源为5V电池可靠供电,测量范围:500m—240kM可自适应选择,平均时间为15秒—3分钟可供选择,脉冲宽度为 30—300ns、1us—2.5us,波长可选1550波长或1310波长 4、注意事项: 4.1避免设备磕碰损坏 4.2 禁止非专业人员拆卸或任意打开部件 4.3 使用完毕后拧紧法兰头 5、操作步骤: 5.1 OTDR试验前的准备 5.1.1 检查光缆两端有无光源;有光源须通知试验协助员关闭两侧设备光源,无 光源可直接测试 5.1.2检查设备接口是否良好确无异物,有异物须用酒精棉擦拭干净 5.1.3 通知试验协助人员取下需测量光纤并记录光纤序号 5.2试验设备与测量准备 5.2.1 准备测试仪 5.2.2 连接光纤前确认设备电源处于关闭状态 5.2.3 开机检查仪器电池电源充足检查设备状态完好 5.3 试验设备操作 5.3.1 打开电源开关,进入设备主菜单 5.3.2 连接尾光纤至设备上端OTDR接口处并拧紧接头

图1:连接尾光纤至设备 5.3.3 测试实验前检查设备参数信息设置(可选择自动模式) 图2:检查设备参数设置注意接口牢固可靠 选择测 量参数 按下选择参 数信息配置 当前配置参数

5.3.4 点击键测试键开始测试 图3:按下Real 键测试 5.3.5 点击info 查看测试结果 图4:试验参数记录 1、查看当前光纤通道总长度 2、查看测试记录波长 3、记录当前光纤总衰减(平均距离衰减度0.2—0.5dB 为合格) 观察测试状态 点击测试

JW3302F系列光时域反射仪

JW3302F单多模一体光时域反射仪(OTDR) 产品名称:光时域反射仪(OTDR) 型号:JW3302F系列 生产厂家:上海嘉慧光电子 产地:上海 使用范围:骨干或城域光网络施工运维 FTTx接入光网络施工运维 CATV工程与维护 产品描述 随着城市及农村通信网络的日益光纤化,对于光纤网络的测试由过去的长距化、集中化渐渐演变为如今的短距化和分散化。由此带来的可能是用户的成本投入增加,以及大量新增施工运维人员对于仪表的使用要求上手更快更简便等。针对这些问题,光维通信推出了新一代智能化JW3302F系列光时域反射仪。 JW3302F采用了全新的设计理念与外观,结构更加紧凑,并且涵盖了从骨干网、城域网至FTTx接入网测试在内的多种动态范围和波长组合,操作简单易学。在当前的光纤网络架构下,它可以很好地帮助用户进行成本控制,并且不以降低测试性能为代价,满足用户的不同测试需求。 无论您是在光纤网络构建与安装阶段进行链路鉴定,还是要执行快速高效的维护与故障排查测试,相信JW3302F都会成为您的得力助手。 主要特点 ◆多种动态范围及波长组合可供选择 ◆具有多模光纤链路的测试能力 ◆可选1625nm测试波长,带滤波器,可进行FTTH/PON光网络的在线测试 ◆多种测量模式,操作极其简单,一键式可以完成测量 ◆具有线路光告警功能,最大程度地保护仪表光模块 ◆实时测试功能,方便观察光纤实时对接效果 ◆内置大功率红光源,可方便肉眼检测近端光纤线路中的故障点 ◆可选配光功率计功能 ◆支持中英文输入,拥有友好的输入界面,完全模拟电脑键盘输入 ◆自带4GB内存,可存储超过40000条曲线 ◆带有截图功能,可截取仪表屏幕显示的当前界面,并自动保存为图片格式文件

光时域反射仪otdr的工作原理及测试方法

光时域反射仪otdr的工作原理及测试方法 OTDR的工作原理:光纤光缆测试是光缆施工、维护、抢修重要技术手段,采用OTDR(光时域反射仪)进行光纤连接的现场监视和连接损耗测量评价,是目前最有效的方式。这种方法直观、可信并能打印出光纤后向散射信号曲线。另外,在监测的同时可以比较精确地测出由局内至各接头点的实际传输距离,对维护中,精确查找故障、有效处理故障是十分必要的。同时要求维护人员掌握仪表性能,操作技能熟练,精确判断信号曲线特征。 OTDR测试是通过发射光脉冲到光纤内,然后在OTDR端口接收返回的信息来进行。当光脉冲在光纤内传输时,会由于光纤本身的性质,连接器,接合点,弯曲或其它类似的事件而产生散射,反射。其中一部分的散射和反射就会返回到OTDR中。返回的有用信息由OTDR的探测器来测量,它们就作为光纤内不同位置上的时间或曲线片断。从发射信号到返回信号所用的时间,再确定光在玻璃物质中的速度,就可以计算出距离。 d=(ct)/2(IOR) 在这个公式里,c是光在真空中的速度,而t是信号发射后到接收到信号(双程)的总时间(两值相乘除以2后就是单程的距离)。因为光在玻璃中要比在真空中的速度慢,所以为了精确地测量距离,被测的光纤必须要指明折射率(IOR)。IOR是由光纤生产商来标明。OTDR使用瑞利散射和菲涅尔反射来表征光纤的特性。瑞利散射是由于光信号沿着光纤产生无规律的散射而形成。OTDR就测量回到OTDR端口的一部分散射光。这些背向散射信号就表明了由光纤而导致的衰减(损耗/距离)程度。形成的轨迹是一条向下的曲线,它说明了背向散射的功率不断减小,这是由于经过一段距离的传输后发射和背向散射的信号都有所损耗。 菲涅尔反射是离散的反射,它是由整条光纤中的个别点而引起的,这些点是由造成反向系数改变的因素组成,例如玻璃与空气的间隙。在这些点上,会有很强的背向散射光被反射回来。因此,OTDR就是利用菲涅尔反射的信息来定位连接点,光纤终端或断点。OTDR的工作原理就类似于一个雷达。它先对光纤发出一个信号,然后观察从某一点上返

光时域反射

实验二十八、光时域反射实验(OTDR ) 一、实验目的 1、光时域反射仪的原理和使用操作。 2、掌握OTDR 的实验系统中光路、电路的调节方法。 3、光纤传输长度的测量。 二、实验原理 光时域反射仪OTDR 工作原理图如图1。由激光器发出的光脉冲注入到光纤后,在开始端接收到的光能量可以分为两种类型:一种是光纤断面或者连接界面的菲涅尔反射光;另一种是瑞利散射光。通过测量分析这些后向散射光的功率,可以得到沿光纤长度分布的衰减曲线。 通过分析衰减曲线,可以知道光纤对光信号的衰减程度,光纤中的联结点、耦合点和断点的位置,以及光纤弯曲和受压过大的情况也可以容易测到(如图2所示)。 图1 OTDR 工作原理图 图2 OTDR 测量图像 对于菲涅耳反射光,设入射光功率为fin P ,反射光功率为fre P ,则由菲涅耳公式可得: 2 22112 211fin fre cos n cos n cos n cos n P P ??? ? ??+-=θθθθ (24.1) 上式中21θθ、分别为入射角和折射角,其反射率(用dB 表示) 为: ?? ?????????? ??+-?==2 22112211fin fre f f cos n cos n cos n cos n P P 10l g R 10lg dB R θθθθ)()( (24.2)

至于瑞利散射,它是由介质材料的随机分子结构相联系的本征介质常数分布的微观不均匀性所引起的电磁波的散射损耗。在微观分子尺度上来看,当电磁波沿介质传播时,可以从单个分子产生散射,这种散射使波的传播受到阻碍,从而使速度减慢,产生相位滞后。偏离出原来波的传播方向的散射光有随机的相位,这些随机相位的散射子波大部分能相互抵消,而沿传播方向的散射光则相干叠加继续向前传 播,其速度为/c 或c/n 。与此同时,尚有少量由分子散射的不相干光没有完全抵消,这些子波逸出传输光束从而形成瑞利散射损耗,其中部分散射功率朝反向传播,此后向散射光功率即为OTDR 的物理基础。 当激光不断射入光纤中时,光纤本身会不断产生反向的瑞利散射,通过测量分析瑞利散射光的功率,可以得到沿光纤长度分布的衰减曲线。 入射光功率为0P ,频率为ν。当光纤中l 处的反向散射光传播到光纤初始端时的功率为s P ,光纤l 处的损耗为)(l α,则有: )(l 2P P ln dz d 0s α=?? ???????? ?? (24.3) 由上式知一根好的光纤的OTDR 曲线应该趋于一条斜率不变的直线。根据上式,光纤中1l 和2l 之间的平均衰减系数为: ???? ??=?? ???????? ??-???? ??=211202011212P P ln 2l 1P P ln P P ln 2l 1 α (24.4) 上式的量纲为1/km ,将其化为dB/km 后,衰减系数公式变为: ??? ? ??=211212P P lg 2l 10α (24.5) 利用OTDR 进行光纤线路的测试,一般有三种方式:自动方式、手动方式、实时方式。当需要概览整条线路的状况是,采用自动方式,它只需要设置折射率、波长最基本的参数,其它由仪表在测试中自动设定,按下自动测试键,整条曲线和事件表都会被显示,测试时间短、速度快、操作简单,宜在查找故障的段落和部位时使用。手动方式需要对几个主要的参数全部进行设置,主要用于对测试曲线上的时间进行详细分析,一般通过变换、移动游标、放大曲线的某一段落等功能对事件进行准确定位,提高测试的分辨率。增加测试的精度,在光纤线路的实际测试中常被采用。实时方式是对曲线不断的扫描刷新,可以对光纤网路进行实时监测。 OTDR 可测试的主要参数有:(1)纤长和事件点的位置;(2)光纤的衰减和衰减分布情况;(3)光纤的接头损耗;(4)光纤全回损的测量。光纤距离的测量是以激光进入光纤到它遇到故障点返回光时域反射仪的时间间隔来计量纤长的。为了提高测量的精确度,应根据被测纤的长度设置合适的“距离范围”和“脉冲宽度”,距离一般选被测纤长的1.5倍,使曲线占满屏的2/3为宜。脉冲宽度直接影响着OTDR 的动态范围,随着被测光纤长度的增加,脉冲宽度也应逐渐加大,脉冲越大,功率越大,可测的距离越长,但分辨率变低。脉宽越窄,分辨率越高,测量也就越精确。一般根据所测纤长选择一个适当大小的脉冲宽度,经常是测试两次后,确定一个最佳值。

光时域反射仪OTDR测量复杂鬼影分析

“鬼影”是使用光时域反射仪(OTDR)测量时经常会出现的现象,是一种与事实不相符合的影像。常常在测量较短光纤链路中出现。我们知道,OTDR测量是通过发出探测光脉冲对光纤进行探测,在遇到有介质不同(折射率不同)的位置,如机械式连接器、冷接端子等就会发生反射,OTDR会检测到这些反射光,在曲线上反应出来的就是反射事件。 “鬼影”产生的原因一般是由于反射光遇到连接器发生了第二次反射,有时由于反射光能量较强,链路又较短会发生多次反射,对光纤链路进行了多次的探测,形成多个“鬼影”。如下图: 由以上原因,我们可以了解到由于再次探测光纤在曲线上又会反应出另一个反射事件,因此“鬼影”的位置信息一定是实际反射位置信息的整倍数关系。如上图,a=b。那么判断“鬼影”主要利用这种位置信息的关系来判断。 下面给大家分析一些实例,这些实例远比上图复杂的多。 1、鬼影实例一

这条测试曲线看起来反射事件非常多,复杂得令人眩目。但我们仔细分析一下就会发现,大多数反射事件均是鬼影,只有峰1和峰2才是真正得反射事件。应用鬼影发生得原因可以分析出那些是鬼影。这些鬼影对实际测试影响很大,如果不仔细进行分析很难分辨。为什么会出现如此复杂的测试曲线呢?究其原因是几个原因造成。 1、链路短。因此反射光能量很强,造成多次反射,形成多个鬼影。 2、链路中存在多个机械连接器,且距离较近。峰2的反射到峰1就发生再次反射,重新探测以峰1作为开始点的光纤链路,由于峰1与峰2距离很近,这股连续反射光始终保持了相当的强度。因此后边连续出现了多个峰2的鬼影。 2、鬼影实例二 上图中,真正的反射事件只有1、2、3、5几个,其他均是鬼影,结束点应该是峰5。其形成原因与分析方法与实例一是一样的,只是该曲线更具有隐蔽性,需要仔细研究光路才能作出正确分析。

光时域反射计知识

光时域反射计知识 一、概述 (一)用途 光时域反射计(简称OTDR)主要用于测量光纤光缆的长度、连接损耗、平均损耗、链路损耗及对光缆链路中的事件点准确分析和定位,广泛应用于光纤通信系统中的工程施工、验收及维护测试、光纤光缆的研制与生产检测等,还可以应用于光纤传感领域的测试及大中院校的教学实验及演示。 (二)分类与特点 ●按结构类型分类的特点 OTDR按照结构类型可以分为台式、便携式、手持式、掌上型、卡式及模块化等类型产品。 台式和便携式OTDR体积较大、重量较重,携带不方便,一般适用于实验室,早期产品中存在,目前已不再生产。 手持式和掌上型OTDR体积小、重量轻、便于携带,是目前OTDR市场上的主力产品。 卡式及模块化OTDR不能独立作为测试仪器,必须借助PC机平台,通过在PC 机上运行相应的应用软件,并通过PC机内部的总线接口或外部接口与卡式或模块化OTDR通信,最终实现OTDR测试功能,该类OTDR一般适用于用户进行二次开发,主要应用于光缆监控系统中。 ●按所测光纤类型分类的特点 按照所测试的光纤类型也可以分为单模OTDR、多模OTDR及单多模一体化OTDR。 顾名思义,单模OTDR适用于对单模光纤的测试,多模OTDR适用于对多模电气的测试,而单多模一体化OTDR既能测试单模光纤,又能测试多模光纤,不过,这种一体化OTDR具有两两个OTDR测试口,一个为单模测试口,另一个为多模测试口。 ●按提供测试波长数量分类的特点 按照能够提供的测试波长数量,OTDR可分为单波长、双波长、三波长及四波长等类型产品。 目前,根据测试需要,OTDR可以提供多种测试波长,如多模850nm、1300nm,单模1310nm、1383nm、1550nm、1490nm、1625nm或1650nm等,基于测试需要和成本的考虑,OTRD可以内置一个或多个测试波长。 (三)产品国内外现状 国内研制和生产OTDR的厂家主要有:中国电子科技集团41所、天津德力等单位。其中,国产OTDR有手持式、掌上型和模块化三种结构类型,最大动态范围达45dB,最小事件盲区0.8m,测距分辨率0.05m,具备多达4波长集成测试能力。国外OTDR厂家主要有加拿大EXFO公司、美国JDSU公司及日本安立公司和横河公司等,最大动态范围45dB,最小事件盲区0.8m,最高测距分辨率0.04m。(四)技术发展趋势 ●超大动态范围、超短事件盲区一直是各OTDR厂商追求的目标; ●小体积、多功能是OTDR产品主要的发展趋势,目前主流OTDR产品除具有OTDR 功能外,还具备光源、光功率计及可视红光故障定位(VFL)等功能;

电缆故障测试仪:时域反射技术

电缆故障测试仪:时域反射技术 华天电力专业生产电缆故障测试仪(又称电缆故障仪器),接下来为大家分享电缆故障测试仪:时域反射技术。 时域反射(TDR)是易于使用的测试仪器,通常与查找电缆和天线中的故障相关。它们的工作方式很简单:将具有快速上升时间的脉冲发送到被测电缆中,并测量反射阻抗信号,这些反射信号通常是由于线路中断或干扰而在特征阻抗(通常为50Ω)偏离标称值的情况下发生的。这种发现故障的方法也可以应用到使用光脉冲的光缆中。发射信号和反射信号的比较可以提供有关线路长度,线路损耗以及线路中不连续和中断位置的信息。TDR已与雷达系统进行了比较,后者可以发射脉冲并测量照明目标的反射。 TDR通过分析反射引起的电压随时间的变化来发现通过传输线,电缆或天线的阻抗变化。这与频域反射仪(FDR)形成对比,后者通常将扫频信号发送到传输线,并研究由于阻抗结处的反射而对信号产生的影响。TDR可以仅通过一个端口(例如电缆连接器)进行测量,如距离故障测试。基于FDR的测量使用散射参数(S参数)来测量正向和反射电压,从而发现故障,但是它们需要访问被测电缆的至少两个(输入和输出)端口。 可以使用在计算机上运行的脉冲或步进发生器,示波器和测试软件来进行TDR测量,但是通常可以在专用于该任务的单个仪器上执行TDR测量。此类专用TDR具有机

架安装式台式或便携式电池供电的单元,非常适合现场测试。它们可用于在金属电缆和光缆上进行测量,并具有内置的计算机电源和内存,可自动设置以用于在具有特定阻抗和介电类型的金属电缆或不同波长的光缆上进行测量。拥有合适的性能水平后,TDR 可以处理广泛的应用,从发现同轴电缆的故障到隔离印刷电路板(PCB)的阻抗失配。

光时域反射计工作原理

光时域反射计 光时域反射计(OTDR,Optical Time Domain Reflectometer)是光缆线路工程施工和光缆线路维护工作中最重要也是使用频率最高的测试仪表,它能将光纤链路的完好情况和故障状态,以曲线的形式清晰的显示出来。根据曲线反映的事件情况,能确定故障的位置和判断障碍的性质。OTDR所作的最重要也是最基本的测试就是光纤长度测试和损耗测试。精确的光纤长度测试有助于光缆线路和光钎线路的障碍定位,OTDR光纤损耗测试能反映光纤链路全程或局部的质量(包括光缆敷设质量、光纤接续质量以及光纤本身质量等)。 OTDR的工作原理 OTDR根据背向瑞利散射和菲涅尔反射理论制成的。OTDR的激光光源向光纤中发射探测光脉冲,由于光在光纤中传输时,光纤本身折射率的微小起伏可引起连续的瑞利散射,光纤端面、机械连接或故障点折射率突变会引起菲涅尔反射。OTDR利用观察背向瑞利散射和菲涅尔反射光强度变化和返回仪表时间,即可从光纤的一端非破坏性的迅速探测光纤特性,显示光纤沿长度的损耗分布特性曲线,测试光纤的长度、断点位置、接头位置、光纤衰耗系数和链路损耗、接头损耗、弯曲损耗、反射损耗等。OTDR因此被广泛应用于光纤通信系统研制、生产、施工、监控及维护等环节。 光时域反射计OTDR原理框图 光源(E/O变换器)在脉冲发生器的驱动下产生窄光脉冲,此光脉冲

经定向耦合器入射在被测光纤;在光纤中传播的光脉冲会因瑞利散射和菲涅尔反射产生反射光,该反射光再经定向耦合器后由光检测器(O/E变换器)收集,并转换成电信号;最后对该微弱的电信号进行放大,并通过对多次反射信号进行平均化处理以改善信噪比后,由显示器显示出来测试波形和结果。

相位敏感光时域反射仪的技术原理和激光器的选择

相位敏感光时域反射仪(Φ-OTDR )的技术和激光器的选择

目录 ?光纤中的散射及分布式光纤传感的基本概念?Φ-OTDR的技术原理 ?Φ-OTDR系统对激光器的要求 ?上海瀚宇CoSF-D型DFB单频光纤激光器?单频光纤激光器和单频半导体激光器?CoSF-D型DFB单频光纤激光器的可靠性?上海瀚宇针对Φ-OTDR系统的解决方案?总结

光纤中的散射-分布式光纤传感 基本概念

基本概念 ?OTDR:Optical Time Domain Reflectometer光时域反射仪 ?Φ-OTDR :Phase Sensitive Optical Time Domain Reflectometer相位敏感光时域反射仪 ?BOTDR:Brillouin Optical Time Domain Reflectometer布里渊光时域反射仪 ?ROTDR:Raman Optical Time Domain Reflectometer拉曼光时域反射仪?Rayleigh Scattering:瑞利散射 ?SBS:Stimulated Brillouin Scattering受激布里渊散射 ?EOM:Electrical Optical Modulator电光调制器 ?AOM:Acoustic Optical Modulator声光调制器 ?EDFA:Erbium-Doped Fiber Amplifier掺铒光纤放大器

光纤中光的散射 ?瑞利散射用于相位敏感光时域反射仪-Φ-OTDR ?拉曼散射用于分布式温度传感器--ROTDR

光纤中光的散射 ?瑞利散射:入射光子与介质分子发生弹性碰撞产生,瑞利散射光的波长于入射光的波长相同,是光纤中强度最高的散射光成分 ?布里渊散射:光纤中入射光的光子和介质材料的声学声子发生非弹性碰撞产生,强度比瑞利散射低20-30dB,在1550nm波长布里渊频移大约为11.2GHz ?拉曼散射:入射光子和光纤介质的分子运动相互作用,非弹性碰撞产生,光学光子和光学声子作用,频移量大于布里渊频移,容易与入射光分离,频移最高约为 13.2THz,对于1550nm来说,拉曼散射光波长差大约100nm。强度比布里渊散 射低一个数量级 瑞利散射的主要特征: 1.散射波与入射波的频率(或者波长)相同 2.散射光的强度与入射光波长的四次方成反比

光时域反射仪(OTDR)工作原理及测试方法

光时域反射仪(OTDR)工作原理及测试方法 关键字:光时域反射仪光纤光缆测试 一、OTDR的工作原理:光纤光缆测试光纤光缆测试是光缆施工、维护、抢修重要技术手段,采用OTDR(光时域反射仪光时域反射仪)进行光纤连接的现场监视和连接损耗测量评价,是目前最有效的方式。这种方法直观、可信并能打印出光纤后向散射信号曲线。另外,在监测的同时可以比较精确地测出由局内至各接头点的实际传输距离,对维护中,精确查找故障、有效处理故障是十分必要的。同时要求维护人员掌握仪表性能,操作技能熟练,精确判断信号曲线特征。 美国安捷伦E6000C 加拿大EXFO FTB150 日本安立MT9080 日本横河AQ7275 美国JDSU MTS6000 美国网泰 CMA4000I OTDR的英文全称是Optical Time Domain Reflectometer,中文意思为光时域反射仪。OTDR 是利用光线在光纤中传输时的瑞利散射和菲涅尔反射所产生的背向散射而制成的精密的光电一体化仪表,它被广泛应用于光缆线路的维护、施工之中,可进行光纤长度、光纤的传输衰减、接头衰减和故障定位等的测量。 OTDR测试是通过发射光脉冲到光纤内,然后在OTDR端口接收返回的信息来进行。当光脉冲在光纤内传输时,会由于光纤本身的性质,连接器,接合点,弯曲或其它类似的事件而产生散射,反射。其中一部分的散射和反射就会返回到OTDR中。返回的有用信息由OTDR的探测器来测量,它们就作为光纤内不同位置上的时间或曲线片断。从发射信号到返回信号所用的时间,再确定光在玻璃物质中的速度,就可以计算出距离。 d=(c×t)/2(IOR) 在这个公式里,c是光在真空中的速度,而t是信号发射后到接收到信号(双程)的总时间(两值相乘除以2后就是单程的距离)。因为光在玻璃中要比在真空中的速度慢,所以为了精确地测量距离,被测的光纤必须要指明折射率(IOR)。IOR是由光纤生产商来标明。 OTDR使用瑞利散射和菲涅尔反射来表征光纤的特性。瑞利散射是由于光信号沿着光纤产生无规律的散射而形成。OTDR就测量回到OTDR端口的一部分散射光。这些背向散射信号就表明了由光纤而导致的衰减(损耗/距离)程度。形成的轨迹是一条向下的曲线,它说明了背向散射的功率不断减小,这是由于经过一段距离的传输后发射和背向散射的信号都有所损耗。 菲涅尔反射是离散的反射,它是由整条光纤中的个别点而引起的,这些点是由造成反向系数改变的因素组成,例如玻璃与空气的间隙。在这些点上,会有很强的背向散射光被反射回来。因此,OTDR就是利用菲涅尔反射的信息来定位连接点,光纤终端或断点。 OTDR的工作原理就类似于一个雷达。它先对光纤发出一个信号,然后观察从某一点上返回来的是什么信息。这个过程会重复地进行,然后将这些结果进行平均并以轨迹的形式来显示,这个轨迹就描绘了在整段光纤内信号的强弱(或光纤的状态)。 测试距离:由于光纤制造以后其折射率基本不变,这样光在光纤中的传播速度就不变,这样测试距离和时间就是一致的,实际上测试距离就是光在光纤中的传播速度乘上传播时间,对测试距离的选取就是对测试采样起始和终止时间的选取。测量时选取适当的测试距离可以生成比较全面的轨迹图,对有效的分析光纤的特性有很好的帮助,通常根据经验,选取整条光路长度的1.5-2倍之间最为合适。 脉冲宽度:可以用时间表示,也可以用长度表示,在光功率大小恒定的情况下,脉冲宽度的大小直接影响着光的能量的大小,光脉冲越长光的能量就越大。同时脉冲宽度的大小也直接

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