贵金属分析仪
贵金属分析仪是分析贵金属成分构成的精密仪器，常用的有化学
有损分析仪器和物理无损分析仪器。鉴于贵金属本身价格昂贵，不能轻
易破坏其外形，故化学有损检测仪在珠宝行业不被常常使用。而快速、
无损、精准明确的无损检测仪，广泛应用于珠宝首饰检测行业。
目录重要特点基本简介
三点。
7.测量值取各测量结果的平均值。
影响贵金属无损分析仪测量结果的因素有如下几点。由于首饰产
品的特别情况，受方法原理的限制，在使用本方法时检测人员应了解和
谙习以下影响结果的因素（这些影响因素在不怜悯况下将对特征谱线强
度的采集产生很大的影响，甚至造成误判）：a）被测样品与标准物质
所含元素构成和含量有较大的差异；b）被测样品的表面有镀层或经化
学处理；c）测量时间；d）样品的形状；e）样品测量的面积；f）贵金
属的含量多少；g）被测样品的均匀程度（包括偏析和焊药等）。
对于测量结果的处理，遵行如下法则。由于被测的首饰产品不同，使用的仪器不同，检测人员的素养水平不同，对检测结果的接收范围建
议在以下范围内选取。随贵金属含量的削减，可接收的范围将增大。
测量结果的误差范围为0.1%—3%，也可以依据委托方的协议确定。对结果如有争议，应以GB/T9288、GB/T11886和QB/T1656的分析结果
为准。
基本简介
贵金属分析仪是分析贵金属成分构成的精密仪器，常用的有化学
有损分析仪器和物理无损分析仪器。鉴于贵金属本身价格昂贵，不能轻
易破坏其外形，故化学有损检测仪在珠宝行业不被常常使用。而快速、
无损、精准明确的无损检测仪，广泛应用于珠宝首饰检测行业。
贵金属无损分析仪，包括两种类型的仪器，一种是依据金属密度
来粗略估算贵金属纯度的水比重分析仪，另外一种是利用荧光光谱来分
析纯度的光谱分析仪。由于比重仪精度低，而自然界与贵金属密度相接
近的金属很多，所以，当今的珠宝界，水比重分析仪基本遭到了市场的
摒弃。在此，重点介绍光谱贵金属分析仪。
光谱贵金属分析仪享有无损、快速、精准明确等特点，被广泛用
于首饰生产、加工、销售、质检等部门。随着贵金属行业的蓬勃进展，
贵金属的业务日益加添，给贵金属行业带来效益的同时我们对产品的工艺，含量的掌控越来越需要高效和精准。近年来由于加工工艺不断提高，各种贵金属在市场上流通的越来越多。
贵金属分析仪 贵金属分析仪是分析贵金属成分构成的精密仪器，常用的有化学 有损分析仪器和物理无损分析仪器。鉴于贵金属本身价格昂贵，不能轻 易破坏其外形，故化学有损检测仪在珠宝行业不被常常使用。而快速、 无损、精准明确的无损检测仪，广泛应用于珠宝首饰检测行业。 目录重要特点基本简介 三点。 7.测量值取各测量结果的平均值。 影响贵金属无损分析仪测量结果的因素有如下几点。由于首饰产 品的特别情况，受方法原理的限制，在使用本方法时检测人员应了解和 谙习以下影响结果的因素（这些影响因素在不怜悯况下将对特征谱线强 度的采集产生很大的影响，甚至造成误判）：a）被测样品与标准物质 所含元素构成和含量有较大的差异；b）被测样品的表面有镀层或经化 学处理；c）测量时间；d）样品的形状；e）样品测量的面积；f）贵金 属的含量多少；g）被测样品的均匀程度（包括偏析和焊药等）。 对于测量结果的处理，遵行如下法则。由于被测的首饰产品不同，使用的仪器不同，检测人员的素养水平不同，对检测结果的接收范围建 议在以下范围内选取。随贵金属含量的削减，可接收的范围将增大。 测量结果的误差范围为0.1%—3%，也可以依据委托方的协议确定。对结果如有争议，应以GB/T9288、GB/T11886和QB/T1656的分析结果 为准。 基本简介 贵金属分析仪是分析贵金属成分构成的精密仪器，常用的有化学 有损分析仪器和物理无损分析仪器。鉴于贵金属本身价格昂贵，不能轻 易破坏其外形，故化学有损检测仪在珠宝行业不被常常使用。而快速、 无损、精准明确的无损检测仪，广泛应用于珠宝首饰检测行业。
贵金属无损分析仪，包括两种类型的仪器，一种是依据金属密度 来粗略估算贵金属纯度的水比重分析仪，另外一种是利用荧光光谱来分 析纯度的光谱分析仪。由于比重仪精度低，而自然界与贵金属密度相接 近的金属很多，所以，当今的珠宝界，水比重分析仪基本遭到了市场的 摒弃。在此，重点介绍光谱贵金属分析仪。 光谱贵金属分析仪享有无损、快速、精准明确等特点，被广泛用 于首饰生产、加工、销售、质检等部门。随着贵金属行业的蓬勃进展， 贵金属的业务日益加添，给贵金属行业带来效益的同时我们对产品的工艺，含量的掌控越来越需要高效和精准。近年来由于加工工艺不断提高，各种贵金属在市场上流通的越来越多。
X射线荧光分析技术无损检测贵金属首饰含量中的技巧 随着国内黄金交易市场的全面开放，无损验货接踵而来。本文从贵金属首饰无损检测应用x荧光分析技术的角度，提出一些避免误区的观点。 随着国内黄金交易市场的全面开放，无损验货接踵而来。本文从贵金属首饰无损检测应用x荧光分析技术的角度，提出一些避免误区的观点。 一、x射线荧光分析基本原理 所谓荧光，就是在光的照射下发出的光。x射线荧光就是被分析样品在x射线照射下发出的x射线，它包含了被分析样品化学组成的信息，通过对上述x射线荧光的分析，确定被测样品中各组份含量的仪器就是x射线荧光分析仪。用x射线荧光分析仪测量贵金属首饰含量是一种不接触、非破坏的测试方法。这种方法是将一束初级x射线照射被分析的样品，使样品中的每种元素的原子都发射出各自特征的x射线荧光。于每一种元素的原子能级结构都是特定的，它被激发后跃迁时放出的x射线的能量也是特定的，称之为特征x射线。通过测定特征x射线的能量，便可以确定相应元素的存在，而特征x射线的强弱(或者说x射线光子的多少)则代表该元素的含量。 二、x射线荧光分析仪的分类 1.根据分光方式的不同，x射线荧光分析可分为能量色散和波长色散两类，也就是通常所说的能谱仪和波谱仪。通过测定荧光x射线的能量实现对被测样品分析的方式称之为能量色散x射线荧光分析，相应的仪器称之为能谱仪，通过测定荧光x射线的波长实现对被测样品分析的方式称之为波长色散x射线荧光分析，相应的仪器称之为X射线荧光光谱仪。 2.根据激发方式的不同，x射线荧光分析可分为源激发和管激发两种：用放射性同位素源发出的x射线作为原级x射线的x射线荧光分析仪称为源激发仪器，其特点是体积较小、结构简单，价格低廉;用x射线发生器(又称x光管)产生原级x射线的x射线荧光分析仪称为管激发仪器，特点是体积较大、输出强度高且可调，价格也较昂贵。 以上我们介绍了x射线荧光分析仪的基本原理及其主要类型，下面我们着重阐述一下用x射线荧光分析技术无损检测贵金属首饰含量所应注意避免的误区。 误区1：强调“荧光”。 过分迷信依赖大型仪器。许多用户错误地认为只有用x光管作为激发源的管激发仪器才是x荧光仪，一味地强调所谓“荧光”。事实上，如前所述，无论是采用x光管还是采用放射性同位素作为激发源，只要是由x射线激发，通过测定被测样品发出的荧光x射线得出其化学成分及含量的仪器，都是x荧光分析仪。
贵金属鉴定仪-EXF7800 贵金属鉴定方法可分为物理方法和化学方法，物理方法有1、密度法2、X荧光光谱法3、电子探针微区分析法。 二、化学法有以下几种 1、火法试金法（贵金属鉴定仪咨询请电金先生①③⑤③⑧②①⑧⑤②①） 一般用于生金(岩金、砂金)测试。 ①取样，样品包括矿物、精制产品、碎屑等，要求细心地采集具有代表性的样品。由于贵金属常以无规则的分散状态存在于矿物中，往往需要用大量的矿物，才能取出具有代表性的试样，最后还要将试样仔细地粉碎。②熔样，往试样中加入适当的熔剂，例如粉碎的碳酸钠、硼砂、硅酸盐、一氧化铅等，然后加热，使试样和熔剂熔融。一氧化铅还原为金属铅，和贵金属一起沉入容器底部，冷却后变成一种金属小球，其中含有贵金属和大量的金属铅，还有其他金属杂质。反应产生的熔渣弃去。③烤钵试金，将含贵金属和铅的金属小球放在利用骨灰（或素烧瓷）制成的烤钵中，然后将烤钵放在一种特制的能提供强氧化气氛的炉子里加热。这时金属小球中的铅和其他金属杂质都被氧化，生成的氧化铅和其他金属氧化物成为炉渣，或者浸渍到烤钵的孔隙中，只有金和银没有氧化，仍然保持金属状态，与铅和其他金属的氧化物分开。从炉子里取出烤钵，使它缓慢冷却，所得小球经洗净、烘干后，即可当作试样，也可以用锤击或辗压的方法将小球制成薄片状试样。④称量，称出含有金和银的试样的重量，即可测得金和银的总重量。⑤金银分离，用热的稀硝酸处理含金和银的试样，即可将银溶解。⑥称量，将除去银以后只含金的试样洗净、烘干后再称量，即可测得金的重量。 2、原子吸收光谱法 用于成品金测试，测试样品一般需要2g，取样采用梅花式五点法，用电钻新钻头取样，中间点对穿，其余四点按对角线正反半穿。按化学分析步骤溶矿、萃取、测定。 。 EXF7800型贵金属分析仪技术参数
XRF品牌 1.美国Xenemetrix（能量色散） 美国Xenemetrix在过去30年内一直是能量色散X射线荧光光谱分析方面的领先创新者，而X-Calibur更是Xenemetrix多年经验和专业知识的顶峰设计，该仪器占地面积少、性能优越。强大的50kV，50瓦特的X-Calibur能量色散X射线荧光光谱仪装在单机柜中并用于在工作台上运行。Xenemetrix的强大nEXt软件平台提供有全定性、半定量以及定量分析能力。这一软件平台是所有的Xenemetrix产品通用的。 2.荷兰帕纳科（panalytical)（能量色散&波长色散） 荷兰帕纳科公司(PANalytical B.V.)前身是飞利浦公司分析仪器部。于2002年9月18日根据英国思百吉集团（Spectris plc）和荷兰飞利浦电子集团之间的飞利浦分析仪器业务转让协议而成为思百吉集团旗下的专业分析仪器公司。 自上个世纪四十年代公司推出了世界上第一台X射线分析仪器，现已成为全球最大的X射线分析仪器生产厂家。半个多世纪以来，公司一直领导着全球X射线分析仪器技术的发展，为其贡献了大量的创新和发明。为分析工作者提供整体解决方案是我们的工作目标。分享技术，共同推动X射线分析仪器技术的发展是我们一如既往的宗旨。 精工电子纳米科技有限公司，其前身为精工电子有限公司科学仪器事业部，主要生产Axios,Magix FAST,Venus 200,Cubix XRF, PW2830 XRF wafer Analyzer,Epsilon,minipal,semyos等。 3.日本精工（能量色散）分析·测量仪器设备等。为适应公司业务需要，科学仪器事业部于2003年12月1日从精工电子有限公司独立，正式成立了精工电子纳米科技有限公司。 4.美国Amptek Amptek是一家成立于1977年的高科技公司，致力于设计并制造核检测仪表，在该领域处于世界领先水平。公司产品广泛用于人造卫星、X射线和伽玛射线的探测、实验室、分析仪以及工业上的便携式检测仪器。公司建立之初是为现阶段的空间仪表提供高性能、高稳定性、体积小以及低功耗的仪器和部件。随后，公司的混合前置放大器成为航天工业的配置标准，并在全球范围内用于地表卫星和外层空间探测器。Amptek已经开发出一系列产品如等离子分析器、电子离子探测器以及辐射监控器等，这些产品被广泛用于军事、科研和商贸等领域。 5.美国尼通（Niton）（手持式） Thermo Niton Analyzers，LLC.（Thermo Fisher科技旗下品牌），由美国物理学教授Lee Grodzins 先生在1987年创建，总部设在美国马萨诸塞州的Billerica，是国际公认的设计制造手持式X射线荧光分析仪以及相关技术的领导者。在世界上各个国家及地区设立超过20，000个分支机构，除了我们在美国马萨诸塞州的Billerica的公司总部以外，还分别在美国罗得岛州和俄勒冈州; 德国慕尼黑; 中国上海; 中国香港; 澳大利亚设立办事处。公司自创建以来，被授予多项专利，并获得众多奖项及荣誉，更分别在2008年度、2003年度、1995年度被授予素有“产品研发诺贝尔奖”之誉的R&D 100 大奖。NITON手持式元素分析仪为您带来快速、可靠、无损的现场样品检测。被广泛应用于合金牌号的鉴定与分析，RoHS/WEEE、CPSIA H.R 4040、ASTM F-963、EN71-3等法律法规的应用检测，玩具和消费品中铅含量检测，矿物勘探，环境的现场评估和监测，油漆铅检测，废料回收检测，涂层厚度检测，法医检测以及其他领域的分析应用。我们始终致力于打造世界更尖端效果，更便于使用，更具经济效用的手持式XRF分析仪; 他将是真正帮您实现更高生产力的辅助分析设备; 并承诺让世界更清洁、更安全、更健康。 尼通手持式元素分析仪应对RoHS、CPSIA H.R 4040等法规指令分析仪：Thermo Niton
金属成分分析仪 金属成分分析仪简介： 金属成分分析仪SPECTRO MAXx(LMX06)采用共轴氩气流技术，优化分析过程及分析间隙的氩气流，降低氩气消耗，提高样品分析的精密度和准确度。最新技术的CCD检测器光学系统，谱图解析技术。分析解决方案(ASP)令您轻松获取分析结果。自动控制和快速诊断功能。金属成分分析仪 分析项目： ◆全元素分析或指定元素/成分分析； ◆不锈钢牌号鉴定：304、304L、316等不锈钢； ◆合金成分分析：铜合金、铝合金、锌合金、焊锡及其他合金：碳C，氮N，硫S，磷P，硅Si，铜Cu，铁Fe，铝Al，锡Sn，钼Mo，镍Ni，铬Cr，锰Mn，钛Ti，钨W，铅Pb，锌Zn……； ◆金属材料中常规金属元素分析检测、氧氮氢气体元素检测、贵金属检测、重金属检测、RoHS检测及其他各类材料金属成分检测； ◆金相分析：金相检验、低倍组织缺陷、显微组织检验、晶粒度、夹杂物、脱碳层/渗碳硬化层深度测定。 金属成分分析仪特色： 产品介绍 产品型号：金属成分分析仪SPECTRO MAXx(LMX06) SPECTRO MAXx(LMX06)是一个可提供实验室分析性能的便携式直读光谱仪，您可以随时随地在现场进行元素分析，并在短短几分钟内，体验到卓越的测试结果，从而有效节省由于异地检测带来的昂贵成本。 产品详情 SPECTRO MAXx(LMX06)不仅是一款强大，快速，便携，易于使用的移动型分析仪，同时还具备实验室大型XRF分析仪的重要特征： ◆小点瞄准分析功能：可检测直径小至1mm的区域，并可方便地为被测区域拍照，储存样品检测结果，为将来提供有价值的参考 ◆X-Y定位：可迅速将XRF检测头精确定位到您希望检测的位置 ◆样品旋转器：在分析过程中旋转样品，确保获取分析结果包含样品的全部特征信息 ◆封闭X射线束设计：提供全面的辐射安全防护，符合大多数国家的辐射管理规定 在环境污染监测现场，结合了便携式直读光谱仪SPECTRO MAXx(LMX06)可为您带来更多优势： ◆快速计数统计功能，检测时间更短 ◆P、S和Cl的检测限更低 ◆极大降低了RCRA法规规定的有毒有害元素的最低检测限 ◆可分析液体中浓度小于10ppm的有毒物质 ◆更高的检测性能有效地消除了元素间的谱线干扰与重叠 ◆现场分析问题干墙和流体腐蚀副产品时，可扩展分析元素列表至Mg-S轻元素
分类编 号 仪器名称国别型号服务功能及应用范围 3.1_01X射线衍射仪日本DMAX-RC 固体材料、晶体结构研究、非晶材料RDF研究，φ扫描、薄膜参量分析 4.1_01付里叶红外光谱 仪 美国尼高力170SX 有机、无机、半导体材料、非金属中的O、C、N分 析，外延层厚度 1.4_01俄歇电子能谱仪美国PH14300测固体表面元素组成及横向、纵向分布及相对含量，适于金属、半导体材料表面玷污失效、变质等问题分析 2.1_02色—质谱联用仪英国VGMD800液体进样、四极质谱检测、质量数2-800适用于毛细管气相色谱样品 2.2_01二次离子质谱仪法国IMS4f 对固体材料中的元素和同位素微区分布、深度分布进行测定 4.5_02ICP-AES瑞士ARL3580可测高纯试剂，金属、合金、非金属、建材、陶瓷、地质、化工、生物、植物、考古样品、电子材料成份分析、定量分析，元素分析、痕量元素 1.2_02扫描电子显微镜英国剑桥S-200用于电子材料、冶金、生物、半导体元件等领域材料形貌、微区分析、失效分析、图象处理 4.3_02原子吸收分光光 度计 美国PE3030B 锡铅焊料、铝箔、Fe２O３、SiO２、铸铁铜等金属 材料中的杂质分析，生物、医药、环境样品的分析 3.3_01X射线光电子能 谱仪 美国PH1-5300 表面元素组成、相对含量、元素材料中的化学价态、 随深度变化情况，对催化、腐蚀表面改性、薄膜等 均可进行分析研究 3.2_02X射线荧光光谱 仪 荷兰飞利浦PW1404适用于5-92号元素定性定量分析 8.2_03氨基酸分析仪二 台 美国贝克曼6300氨基酸的含量 5.2_17液相色谱(三台)美国光谱物理公司各种物质含量的测定 4.1_10红外日本岛津有机与无机物测量 5.1_29气相色谱上分103空气中有机物质 4.7_18分光光度计上分751无机物分析 4.3_27原子吸收北二光WFX地质、矿产、土壤、食品等无机元素 3.1_06X射线衍射仪日本理学对地质样品进行快速定性定量分析 4.5_05ICP发射光谱美国贝尔德2000测油、水、岩石、铝合金中的微量和痕量金属元素8.6_15电位滴定仪瑞土梅特勒DL53水质分析 9.1_08元素分析仪意大利卡劳尔巴EAll08干酪根、原油、煤、有机溶剂抽提物中的C,H,O元素 5.1_11气相色谱美国HP6890有机化合物的成份 9.1_09碳硫分析仪美国力可C. S-344煤、岩石、陶瓷中的C.S分析 3.3_02X射线能谱仪美国NORAN2100形貌、成份分析、元素含量测定，矿物名称及含量8.6_16自动滴定仪日本COMTITE8水质分析 3.1_04X射线衍射仪日本理学D／MAX-3B天然材料合成材料的物相测定和定量分析
ICP电感耦合等离子体发射光谱仪作为一种大型精密无机分析仪器，可测定各种物质中从微量到常量的七十多种元素(如Mn、P、Si、Cr、Ni、Cu、Mo、Ti、Zn、Al、Au、Ag、Fe、Co)等的定量分析.广泛应用于稀土分析、贵金属分析、合金材料、电子产品、医药卫生、冶金、地质、石油、化工、商检、环保等部门和钕铁硼、硅、硅铁、钨、钼等领域需要检测元素的定量分析及各种高纯材料的杂质成份分析.仪器性能达到JJG768-2005A类标准(中华人民共和国国家发射光谱仪计量检定规程),综合性能达到国际同类仪器的先进水平. DGS-III型电感耦合等离子单道扫描光谱仪特点: 单道顺序扫描单色仪:设计为C-T型单色仪,焦距为1000mm.由于采用大面积光栅,光学系统具有极高的光通量,这种系统具有极高的信背比(SBR)和光谱分辨率.使仪器的光路谱线清晰,杂散光低,检出限大为改善.保证了该系统在分析复杂样品时获得可靠数据. 色散元件;采用3600gr/mm的大面积(110mmX80mm)离子刻蚀闪耀全息光栅. 波长范围:190-500nm; 优良的分辨率:≤0.008mm 采用40.68MH的RF发生器;输出功率:600W----1100W连续可调. 输出功率稳定度:≤0.1%. 有安全保护系统监控水路,气路及抽风的工作状态,保证仪器的安全运行. 可一次测定谱线与背景强度,提高痕量元素的测定精密度和准确度; 测定每一个元素可同时选用多条谱线; 全中文软件,方便用户使用仪器; 容易操作,分析快速,结果准确; 整机技术指标: 1分析速度:1分钟10个元素以上 2重复性:RSD≤1.5% 3稳定性:RSD≤2%(测量2小时以上) 4 检出限低:ppb级 5. 分析元素多可对70余种元素进行定量分析 6 操作便捷操作方便的中文分析软件更加符合国人使用习惯
贵金属探测仪原理 贵金属探测仪是一种常用的仪器设备，用于检测和分析贵金属的成分和含量。其原理基于贵金属的电磁特性和物理特性进行测量和分析。下面将详细介绍贵金属探测仪的原理及其应用。 一、电磁特性 贵金属具有良好的电导性和磁导性，这是贵金属探测仪能够检测贵金属的基础。贵金属的电导性是指贵金属对电流的导电能力，通常使用电阻率或电导率来表示。贵金属的磁导性是指贵金属对磁场的反应能力，通常使用磁导率来表示。 二、物理特性 贵金属具有高密度和高熔点的特点，这些物理特性也是贵金属探测仪能够检测贵金属的重要指标。通过测量贵金属的密度和熔点，可以判断贵金属的纯度和真伪。 基于以上的电磁特性和物理特性，贵金属探测仪采用不同的原理来进行贵金属的检测和分析。 1. 电导率测量原理 电导率测量原理是利用贵金属的电导性来判断其纯度和含量。贵金属探测仪通过传感器将电流引入贵金属样品中，测量样品的电阻，然后根据电阻值计算样品的电导率。根据贵金属的电导率和标准曲
线，可以判断贵金属的纯度和含量。 2. 磁导率测量原理 磁导率测量原理是利用贵金属的磁导性来判断其纯度和含量。贵金属探测仪通过传感器产生磁场，并测量贵金属样品对磁场的反应。根据贵金属样品对磁场的反应，可以计算出样品的磁导率。根据贵金属的磁导率和标准曲线，可以判断贵金属的纯度和含量。 3. 密度测量原理 密度测量原理是利用贵金属的高密度来判断其纯度和含量。贵金属探测仪通过传感器测量贵金属样品的重量和体积，然后根据密度的定义计算样品的密度。根据贵金属的密度和标准曲线，可以判断贵金属的纯度和含量。 4. 熔点测量原理 熔点测量原理是利用贵金属的高熔点来判断其纯度和含量。贵金属探测仪通过加热贵金属样品，并测量样品的熔点。根据贵金属的熔点和标准曲线，可以判断贵金属的纯度和含量。 贵金属探测仪广泛应用于珠宝、金银饰品、金属制品等行业。通过贵金属探测仪，可以快速准确地判断贵金属样品的纯度和含量，避免购买到假冒伪劣产品。同时，在贵金属的生产和加工过程中，贵金属探测仪也起到了重要的作用，可以帮助生产商控制贵金属的质量，提高产品的竞争力。
能量色散 X射线荧光光谱法测定贵金属 首饰中的铅 ,汞 摘要：应用能量色散x荧光光谱法分析，采用基本参数法，较好地解决了 样品的大小、光洁度、形状和成分等对检测结果的影响，检测仪的高性能较好地 解决了黄金饰品纯度在环境和测量条件有较大改变时对检测结果的影响，并具有 较好的精密度和准确度。在能量色散X射线荧光光谱仪上对金首饰和铂首饰的空 白标样进行检测，得出铅和汞的检出限。本文阐述了用X射线荧光光谱法进行金 首饰合金中铅、镉元素的检测。同等条件下,对各种金合金样品进行铅、镉含量 的分析测试,获得检测值。结合仪器检出限,评估检测值的校正系数,给出判定结果,最后,本文对方法实验中的影响因素进行了讨论。 关键词能量色散X荧光光谱法；金首饰；铂首饰；铅；汞 0 引言 x射线荧光EDXRF光谱仪，采用si-PIN探测器并具有高稳定性、高精度、高 分辨率、同时分析和基于Windows2000/XP的强大分析软件功能,建立起基本参数 法数学校正模型，利用该方法对基体元素的吸收增强效应进行校正，同时由于在 其浓度归一化的过程中能够消去测量面积和探测立体角项,因此具有校正样品测 量面积和形状影响的能力。通过标准样品实验验证和不同黄金饰品验证以及不同 检测仪器和方法的比对，证明该方法对检测黄金饰品纯度具有较好的精密度和准 确度。本方法采用能量色散X射线荧光光谱仪测定贵金属饰品中铬、镉、汞、铅、镍元素的含量。此方法所用的仪器能率低，对人体伤害小，且样品无需过多预处理，检测快速、准确且满足GB28480-2012中定量筛选的要求。 1 方法原理 当原子受到X射线光子(原级X射线)或其他微观粒子的激发，使原子内层电 子电离而出现空位，原子内层电子重新配位，较外层的电子跃迁到内层电子空位，
测金仪贵金属分析仪安全操作及保养规程 前言 测金仪贵金属分析仪是一种高精度、多功能的检测设备，广泛应用 于金银、铂钯等贵金属的检测和控制领域。为了保证测金仪的正常工 作和操作人员的人身安全，特制定以下操作及保养规程，希望所有使 用测金仪的人员严格遵守。 一、操作规程 1.1 准备工作 在操作测金仪之前，需要进行以下准备工作： 1.确保使用环境的空气流通、干燥； 2.根据实际需要，选择合适的测金仪型号，并将其放置于稳 定、平整的工作台上； 3.检查测金仪的电源线、接线端口、连接线等电气元件是否 正常，并检查测金仪本身及配件是否完好无损。如发现任何问题，应立即停止使用，并通知技术人员进行修理； 4.使用之前需要对测金仪进行加热处理，同时需要清理测金 仪测试仓内的残留杂质等杂物。 1.2 操作流程 测金仪的操作流程如下：
1.将贵金属样品加入到测试仓中； 2.将测试仓插入测金仪并启动； 3.准确读取测金仪上显示出来的分析结果； 4.根据实际需要，进行数据记录及样品保留。 需要注意的是，在操作过程中，应避免使用手部操作或接触测金仪 的任何电气部件，避免电击或其他意外伤害的发生。 1.3 操作技巧 为了避免操作过程中的误操作，以下是建议的操作技巧： 1.对样品进行预处理，确保样品的品质符合测金仪的测试要 求； 2.按照测金仪说明书的要求，进行测量操作，严格掌握测量 参数和测试方法； 3.将测金仪上显示的数字测试结果进行记录，以备后续数据 分析和处理； 4.移除测试仓时需要注意避免样品溢出或造成对操作人员的 伤害。 二、维护及保养规程 为了最大程度地延长测金仪的寿命、优化其测试性能及准确度，需 要进行以下维护和保养： 2.1 日常维护 1.在每次使用之后，清洗测试仓和测金仪外壳以保持其干净；
X射线荧光光谱法黄金含量分析仪校准 结果的不确定度分析 曹小勇郭剑明 【摘要】贵金属含量测量检验方法种类繁多，无损检验仅仅只是其中一种，因操作不当、测量设备误差问题，测量结果也会呈现不确定性，本文针对X射线荧光光谱法黄金含量分析仪对黄金标准物质的校准，以足金、玫瑰金标样作为标准物质对其进行测量、分析、计算，从而达到对X射线荧光光谱法黄金含量分析仪进行校准的目的，减少因设备误差而导致的不确定因素。并详细阐述 Au750标准样品校准结果的不确定度评定。
【Key】校准不确定度标准物质 X射线荧光光谱法黄金含量分析仪因为其可对样品进行快速、非破坏性检测的特点，是目前实验室最常用的一种贵金属检测方法[1]。它可以快速、准确的检测出贵金属元素的含量值。其主要由辐射源、探测器、信号分析系统和样品室四部分组成。因为其属于一种定性半定量的检测设备，其检测的重复性、稳定性受设备的型号及性能、样品的状态影响较大，所以，学会对其进行校准及校准结果的不确定度评估对我们正常检测结果的合格判定和企业管控标的准制定有着非常重要的指导意义。 1 X射线荧光光谱法黄金含量分析仪的校准 1.1 X射线荧光光谱法黄金含量分析仪的校准项目[2]、仪器及标准物质 校准项目包括：黄金标准物质测量的基本误差、重复性及稳定性等项目。 仪器：X射线荧光光谱法黄金含量分析仪，型号为EDX-7000； 标准物质：GSB 04-3265-2015玫瑰色金合金标准样品（SZB202）、GSB 04-3266-2015足金标准样品（SZB108、SZB103、SZB101）。 1.2 X射线荧光光谱法黄金含量分析仪的校准方法及结果 1.2.1基本误差 选用4个黄金标准物质，对每个标准物质上选取1个均匀分布的点连续测量10次，测量时间为常用测量时间100s，每个标准物质的仪器测量示值的平均值与其标准值的差则为该校准点的偏差，测量结果见表1，N为测量次数。从表可知，校准点偏差E均在标准值±0.30%范围内，符合校准规范要求。 1.2.2重复性
ICP AES（原子发射光谱仪）。它主要用于无机元素的定性和定量分析。ICP-AES电感耦合原子发射光谱仪是用于无机分析的大型，精密仪器。广泛用于稀土分析，贵金属分析，合金材料，电子产品，医药卫生，冶金，地质，石油，化工，商检，环保等部门。 简单的介绍 由于使用了计算机技术，仪器的智能，屏幕上显示的图形和文本以及数据采集和处理已达到中国的先进水平。它是许多行业的理想分析仪器。 仪器功能 与其他光学方法相比，ICP-AES具有明显的优势 A.分析速度快 ICP-AES稳定的线性干扰范围，低时间分布 Sps8000电感耦合等离子体发射光谱仪 Sps8000电感耦合等离子体发射光谱仪 周边可以同时读出许多被测元素的特征光 通过光谱分析同时定量和定性分析多种元素 每个样品可以在三分钟内分析五个元素 B.检出限低且分析灵敏度高（可以检测到ng / ml水平） C.分析的准确性和准确性高 通常，相对标准偏差小于10％。当分析物浓度超过检测限的100倍时，相对标准偏差小于1％ 确定范围广
它可以用于确定紫外线和可见光区域中几乎所有的光谱线。被测元素的范围很大，可以一次确定数十个元素。 e分析的动态范围很小。（工作曲线的线性范围可以达到4-5个数量级） F矩阵的影响很小。 可以进行定性和定量分析，一次注射即可实现多种元素的同时分析。分析软件和数据处理系统易于操作且功能强大。 控制与数据处理系统：中文软件，windows系统界面操作，使用非常方便，大大提高了分析效率。 分析条件和数据文件可以编辑 我们可以为定量分析和定性分析创建必要的测量条件 可以完成定量和定性分析 可以分析和确定从各种分析获得的数据 它具有许多功能，例如控制等离子点火，灭火和波长定位 可以离线使用该软件随时查看数据库数据并修改参数