可测性设计技术【摘要】随着微电子技术的迅速发展、芯片集成度的不断提高以及电路板复杂性的不断增加，传统的测试模型和测试方法已经不能满足当前的测试要求,测试费用急剧增加。本文介绍了可测试性设计的内涵、意义和分类，可测试性设计有两种方法：专项可测试性设计和结构化可测试性设计（边界扫描和内建自测试），并讲述了这些方法的基本原理。【关键词】可测试性设计；边界扫描；内建

ATE的可测试性设计

第七章：可测试性设计(上课)

精品文档利用SMT技术所节省的空间通常用来添加更多的电 路，导致使用更复杂的LSI电路、更大的数据总线、更多的Fine-pitch 引脚，而用于网路的空间却越来越少。产业化办公室精

软件可测试性需求设计一、引言1、目的提高软件的可测试性，加快测试进度，提高测试效率。2、范围描述的范围主要是可测性设计的特征，考虑方向及设计方法。3、读者对象系统分析员、设计人员、开发人员。二、测试所需文档1、需求规格说明书2、概要设计说明书3、详细设计说明书4、系统功能清单5、系统运行环境搭建指导书6、系统操作指导书三、可测试性设计需求可测试性主要是指被测

可测性设计-1

PCB设计的可测试性要求1．PCB上应该有两个以上的定位孔（定位孔不能为腰形）；2．定位的尺寸应该符合直径为（3~5cm）要求；3．定位孔的位置在PCB上应该不对称；4．应该有符合规范的工艺边；5．对长或宽> 200MM的制成板应有符合规范的压低杆点；6．需要测试器件管脚间距应该是2.54mm的整数倍；7．不能将SMT元件的焊盘作为测试点；8．测试点的位置都

可测试性设计与ATPG解读

可测试性设计及ATPG

3 “五性”的定义、联系及区别3.1 可靠性产品在规定的条件下和规定的时间内完成规定功能的能力。可靠性的概率度量称为可靠度(GJB451-90)。可靠性工程：为达到产品的可靠性要求而进行的一套设计、研制、生产和试验工作。(GJB451-90) 显然，这个定义适用于各种装备、设备、系统直至零部件的各个产品层次。可靠性是产品的一种能力，持续地完成规定功能的能力，

第九章 可测性设计

可测试性设计基础.ppt

新产品可测试性设计评估表

可测性设计技术摘要本文从可测性设计与VLSI测试，VLSI设计之间的关系出发，将与可测性设计相关的VLSI 测试方法学、设计方法学的内容有机地融合在一起，文中简要介绍了VLSI可测性设计的理论基础和技术种类，可测性设计的现状，发展趋势，可测试性设计的内涵、意义和分类，并且探讨了可测性设计的实现方法。关键词：可测性设计，自动测试生产，扫描技术，边界扫描技术，嵌

Chap11 可测试性设计与ATPG

第五章 可测性设计

华为射频可测试性设计规范

6-可测试性设计DFT(Design For Testability)-介绍

CPU可测试性设计董婕李吉檀彦卓徐勇军李晓维摘 要 可测试性设计（Design-For-Testability，DFT）已经成为芯片设计中不可或缺的重要组成部分。它通过在芯片的逻辑设计中加入测试逻辑提高芯片的可测试性。在高性能通用CPU的设计中，可测试性设计技术得到了广泛的应用。本文结合几款流行的CPU，综述了可应用于通用CPU等高性能芯片设计中的各种可测试

可测试性设计DFT