计算CPK的数据取样原则探讨
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计算CPK的数据取样原则探讨
计算Cpk收集数据:
? ?子组容量n:最好是在4~5,
? ?子组个数k:20~25,
? ?子组抽样间隔一般看产品的产量考虑,
? ?? ? 1hr少于10件? ???8hr 1组
? ? 1hr10~19pics? ?? ? 4hr 1组
? ? 1hr20~49pics? ?? ? 2hr 1组
? ? 1hr大于50pics? ?? ?1hr 1组
? ? 抽样一般都是在尽量短的时间完成
计算CmK 数据取样原则探讨
取样条件:必须是连续加工零件组成,且为单一批量
设备必须先进行预热至正常/最佳状态,预热时间视不同设备而具体规定;
设备附件:设备之工装、夹具必须为正常/最佳状态(新工装、夹具需使用至寿命5-10%为正常),且在加工过程中不允许改变和损坏,否则需重新开始;
生产过程:设备在生产过程内要保持其性能稳定性,(如避免受机械故障;停电;损耗;腐蚀等),否则需重新开始;
操作员:只允许指定一名操作人员(为熟练者);
检验员:只允许指定一名检验人员(为熟练者);
量具:只允许使用一个量具(为合格者);
检验过程:保持同一检验方法和检验环境条件不变(如温度、湿度、场地等);
零件测量规定在具体确定位置,并保持每次测量均相同。
.在什么情况下要对机器能力进行测试
回答是,在很多情况下都要进行机器能力系数测试,但是,??最重要的情况有两种:(1)在最终认可以前,证明新设备是合格的;或者(2)确定工序中新发现的造成工序异常波动的原因。
前提条件:
1.在机器能力测试中使用的零件毛坯应从同一供货厂商处购买,并要求其材料相
同,由同一浇铸模铸成或由同一套模具配套件制成。
2.前一道工序(前一台机床)所加工出的零件应符合设计和加工要求,其尺寸须符
合公差要求。
3.对于所选取的零件数目有如下规定:连续地测量每个产品规格中的50个零件
以某种特定的方式记录下来。(如连续的序数)
4.如果一台机床可以加工两种以上的零件,或者是零件编号不同的同种零件,则
对其加工的每一种规格的零件都要求做机器能力的测试。
5.在机器能力测试前,如果刀具是未曾使用过的刀具,则要求先用去刀具总寿命
的5~10%(因为新的刀具磨损剧烈,故而加工出的产品尺寸极不稳定,当用去
刀具总寿命的5~10%以后刀具磨损程度平缓,零件的加工尺寸稳定)。
6.在机器能力测试中所使用的刀具必须是按照大众公司标准制造的刀具,而不用
供货商提供的刀具。
7.在机器能力测试开始之前,必须把可调整的刀具调整到公差中值。
8.在机器能力测试中不允许调整或更换刀具。
9.在机器能力测试中如果出现机械故障,如测试中刀具损坏。停电、则必须重新
开始测试。
10.机器能力测试只允许在已经预热~1小时的机器上进行,对不同的机器来说预热
的情况是不同的。
11.在机器能力测试中,对零件的测量必须按照规定在某个规定的位置上测量。
12.在统计卡上用连续的对应于加工顺序的数字把测量值记录下来。
13.确定统计学的特征数据。
14.计算出Cm和Cmk的值
15.Ppk、Cpk,还有Cmk三者的区别及计算
16.CPK是过程能力指数。PPK是性能指数。CMK是设备能力指数。
CPK和PPK是根据安排好的间隔进行抽样的,每次抽样要连续抽取(其实要只要求算PPK在最后的所有产品里随即抽样也是可以的,当然顾客死拧就别根他争这个了)。CPK与PPK计算公式一样,只是sigma的计算不一样而已,这也就是他们的区别,CPK使用Rbar/d2计算组内变差,PPK用传统的那个公式计算总变差。
CMK是连续抽样的,既然没分组当然计算sigma时就不会用到CPK的公式了,是的也用哪个传统公式计算sigma。
总结:CPK与PPK区别在sigma的计算;CMK与PPK区别在于抽样方法。
CPK是间隔取样但PPK不一定要求间隔取样CPK是研究组内变差而PPK是研究组间变差CPK是能力指数而PPK是性能指数.
CMK是设备能力
Ppk、Cpk,还有Cmk三者的区别及计算
1、首先我们先说明Pp、Cp两者的定义及公式
Cp(Capability Indies of Process):稳定过程的能力指数,定义为容差宽度除以过程能力,不考虑过程有无偏移,一般表达式为:
Pp(Performance Indies of Process):过程性能指数,定义为不考虑过程有无偏移时,容差范围除以过程性能,一般表达式为:
(该指数仅用来与Cp及Cpk对比,或/和Cp、Cpk一起去度量和确认一段时间内改进的优先次序)
CPU:稳定过程的上限能力指数,定义为容差范围上限除以实际过程分布宽度上限,一般表达式为:
CPL:稳定过程的下限能力指数,定义为容差范围下限除以实际过程分布宽度下限,一般表达式为:
2、现在我们来阐述Cpk、Ppk的含义
Cpk:这是考虑到过程中心的能力(修正)指数,定义为CPU与CPL的最小值。它等于过程均值与最近的规范界限之间的差除以过程总分布宽度的一半。即:
Ppk:这是考虑到过程中心的性能(修正)指数,定义为:或的最小值。即:
其实,公式中的K是定义分布中心μ与公差中心M的偏离度,μ与M的偏离为ε=| M-μ| ,则:
于是,,
3、公式中标准差的不同含义
①在Cp、Cpk中,计算的是稳定过程的能力,稳定过程中过程变差仅由普通原因引起,公式中的标准差可以通过控制图中的样本平均极差估计得出: