衍射光强实验报告

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单缝衍射光强分布研究

教学目的 1、观察单缝衍射现象,加深对衍射理论的理解;

2、学会使用衍射光强实验系统,并能用其测定单缝衍射的光强分布;

3、形成实事的科学态度和严谨、细致的工作作风。

重点:SGS-3型衍射光强实验系统的调整和使用

难点:1)激光光线与光电仪接收管共轴调节;2)光传感器增益度的正确调整

讲授、讨论、实验演示相结合

3学时

一、实验简介

光的衍射现象是光的波动性的一种表现。衍射现象的存在,深刻说明了光子的运动

是受测不准关系制约的。因此研究光的衍射,不仅有助于加深对光的本性的理解,也是

近代光学技术(如光谱分析,晶体分析,全息分析,光学信息处理等)的实验基础。

衍射导致光强在空间的重新分布,利用光电传感元件探测光强的相对变化,是近

代技术中常用的光强测量方法之一。

二、实验目的

1、学会SGS-3型衍射光强实验系统的调整和使用方法;

2、观察单缝衍射现象,研究其光强分布,加深对衍射理论的理解;

3、学会用光电元件测量单缝衍射的相对光强分布,掌握其分布规律;

4、学会用衍射法测量狭缝的宽度。

三、实验原理

1、单缝衍射的光强分布

当光在传播过程中经过障碍物时,如不透明物体的边缘、小孔、细线、狭缝等,

一部分光会传播到几何阴影中去,产生衍射现象。如果障碍物的尺寸与波长相近,那么

这样的衍射现象就比较容易观察到。

单缝衍射[single-slit diffraction]有两种:一种是菲涅耳衍射[Fresnel diffraction],单

缝距离光源和接收屏[receiving screen]均为有限远[near field],或者说入射波和衍射波都

是球面波;另一种是夫琅禾费衍射[Fraunhofer diffraction],单缝距离光源和接收屏均为

无限远[far field]或相当于无限远,即入射波和衍射波都可看作是平面波。

在用散射角[scattering angle]极小的激 光器(<0.002rad)产生激光束[laser beam],

通过一条很细的狭缝(0.1~0.3mm 宽),在狭缝后大于0.5m 的地方放上观察屏,就可以看到衍射条纹,它实际上就是夫琅禾费衍射条纹,如图1所示。

当激光照射在单缝上时,根据惠更斯—菲涅耳原理[Huygens-Fresnel principle],单 缝上每一点都可看成是向各个方向发射球面子波的新波源。由于子波迭加的结果,在屏 上可以得到一组平行于单缝的明暗相间的条纹。

激光的方向性强,可视为平行光束。宽度为d 的单缝产生的夫琅禾费衍射图样 [pattern],其衍射光路图满足近似条件:

D

x

≈≈θθsin ()d D >>

产生暗条纹[dark fringes ]的条件是:

λθk d =sin () ,3,2,1±±±=k

(1) 暗条纹的中心位置为:

d

D k x λ= (2)

两相邻暗纹之间的中心是明纹次极大的中心[center of bright fringes ]。

由理论计算可得,垂直入射于单缝平面的平行光经单缝衍射后光强分布[intensity distribution of light]的规律为:

式中,d 是狭缝宽[width],λ是波长

D 是单缝位置到光电池[photocelll] 如图2所示。

当θ相同,即x 到的光强相同的图样是平行于狭缝的条纹。当0=β时,

2

1I x ()

10

10

-x

图2

0x =,0I I =,在整个衍射图样中,此处光强最强,称为中央主极大[central main maximum];中央明纹最亮、最宽,它的宽度为其他各级明纹宽度的两倍。

当() ,2,1±±==k k πβ,即d D k x λ=时,0I =,在这些地方为暗条纹。暗条纹是

以光轴为对称轴,呈等间隔、左右对称的分布。中央亮条纹的宽度x ∆可用1±=k 的两 条暗条纹间的间距确定,2D x d λ∆=;某一级暗条纹的位置与缝宽d 成反比,d 大,x

小,各级衍射条纹向中央收缩;当d 宽到一定程度,衍射现象便不再明显,只能看到中 央位置有一条亮线,这时可以认为光线是沿几何直线传播的。

次极大[secondary maximum ]明纹与中央明纹的相对光强分别为:

2、衍射障碍宽度d 的测量

由以上分析,如已知光波长λ,可得单缝的宽度计算公式为

x

D k d λ= (5)

因此,如果测到了第k 级暗条纹的位置x ,用光的衍射可以测量细缝的宽度d 。同 理,如已知单缝的宽度d ,可以测量未知的光波长λ。 3、光电检测

光的衍射现象是光的波动性的一种表现。研究光的衍射现象不仅有助于加深对光 本质的理解,而且能为进一步学好近代光学技术打下基础。衍射使光强在空间重新分布, 利用光电元件测量光强的相对变化,是测量光强的方法之一,也是光学精密测量的常用 方法。

当在小孔屏位置处放上硅光电

池和一维光强读数装置,与数字检 流计(也称光点检流计)相连的硅 光电池可沿衍射展开方向移动,那 么数字检流计所显示出来的光电流

的大小就与落在硅光电池上的光强成正比,实验装置如图3所示。

根据硅光电池的光电特性可知,光电流和入射光能量成正比,只要工作电压不太 小,光电流和工作电压无关,光电特性是线性关系。所以当光电池与数字检流计构成的

(4)

单缝