计算机组成原理实验五存储器读写实验

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实验五存储器读写实验

一、实验目的

1.掌握存储器的工作特性。

2.数学静态存储器的操作过程,验证存储器的读写方法。

二、实验原理

存储器是计算机的主要部件,用来保存程序和数据。从工作方式上分类,存储器可分成易失性和非易失性存储器,易失性存储器中的数据在关电后将不复存在,非易失性储器又可分为动态存储器和静态存储器,动态存储器保存信息的时间只有2ms,工作时需要不断更新,既不断刷新数

据;静态存储器只要不断电,信息是不会丢失的。为简单起见,计算机组成实验用的是容量为2K的镜头存储器6116。

1.静态存储器芯片6116的逻辑功能

6116是一种数据宽度为8位(8个二进制位),容量为2048字节的态存储器芯片,封在24引脚的封装中,封装型式如图2-7所示。

6116芯片有8根双向三态数据线D7-D0,所谓三态是指输入状态、输

出状态和高阻状态,高阻状态数据线处于一种特殊的“断开”状态;

11根地址线A10-A0,指示芯片内部2048个存储单元号;3根控制线片选控制信号,低电平时,芯片可进行读写操作,高电平时,芯片保存信息不能进行读写;为写入控制信号,低电平时,把数据线上

的信息存入地址线A10-A0指示的存储单元中;为输出使能控制信

号,低电平时,把地址线A10-A0指示的存储单元中的数据读出送到数

据线上。芯片控制信号逻辑功能见表2-9。

芯片状态控制信号状态D0-D7

CS

数据状态保持 1 ××高阻抗

保持0 1 1 高阻抗

读出0 1 0 6116→总线

写入0 0 1 总线→6116

无效0 0 0

图2-7 存储器部件电路图

2.存储器实验单元电力路

因为在计算机组成原理实验中仅用了256个存储单元,所以6116芯片的三根地址线A11-A8接地也没有多片联用问题,片选信号接地使芯片总是处于被选中状态。芯片的WE和信号分别连接实验台的存储器写信号和存储器读写信号,存储器实验单元逻辑电路如图2-7所示。这种简化了控制过程的实验电路可方便实验进行,存储器实验单元电路控制信号逻辑功能见表2-10。

芯片状态控制信号状态D0-D7

数据状态

M−R

保持 1 1 高阻抗

读出0 1 6116→总线

写入 1 0 总线→6116 无效0 0 报警

3.存储器实验电路

存储器读/写实验需呀三部分电路共同完成:存储器单元(MEM UNIT)、地址寄存器单元(ADDRESS UNIT)和输入、输出单元(INPUT/OUTPUT UNIT)。存储器单元以6116总线上的数据送入地址寄存器,向存储器单元电路提供地址信息,输入、输出单元作用与以前相同。存储器实验的逻辑原理如图2-8所示。

图2-8 存储器实验电路逻辑图

三、实验过程

1.连线

(1)连接实验一(输入、输出实验)的全部连线。

(2)按实验逻辑原理图连接、两根信号低电平有效信号线。

(3)连接A7-A0 8根地址线。

(4)连接B-AR正脉冲有效信号线。

2.顺序写入存储单元实验操作过程

(1)把B-AR控制开关拨到0(因此信号是正脉冲有效),把其他控制开关全部拨到1,使全部控制信号都处于无效状态。

(2)在输入数据开关上拨一个地址数据(如00000001,即16进制01H),拨下IO−R开关,把地址数据送总线。

(3)拨动一下B-AR开关,实现“0-1-0”,产生一个正脉冲,把地址数据送地址寄存器(AR)保存。

(4)在输入数据开关上拨一个实验数据(如10000000,即16进制数80H),拨下控制开关,把实验数据送到总线。

(5)拨动控制开关,即实现“0-1-0”,产生一个负脉冲,把实验数据存入存储器的01H号单元。

(6)按表2-11所示的地址数据和实验数据,重复上面(1)(2)(3)(4)(5)5个步骤,顺序在存储器单元中存放不同的实验数据。

地址单元实验数据

01H 80H

02H 40H

03H 20H

04H 10H

05H 08H

36H 55H

3.顺序读出存储单元实验操作过程

(1)在输入数据开关上拨一个地址数据(如00000001,即16进制数01H),拨下开关把地址数据送地址总线。

(2)拨动一下B-AR开关,即实现“0-1-0”,产生一个正脉冲,把地址数据送地址寄存器(AR)保存。

(3)把IO−R开关拨上,切断输入开关与总线的联系。

(4)拨下控制开关,把实验数据从存储器的01H好单元读出送总线,验证实验数据是否与表2-11中的内容相符合。

(5)拨动开关,即实现“0-1-0”,产生一个负脉冲,把从存储器读出的实验数据从总线送出显示电路L7-L0。

(6)拨上控制开关,使存储器处于保持状态。

(7)重复上面的(1)-(6)6个步骤,按顺序从地址01H-05H的存储器单元中读出的实验数据送输出显示电路L7-L0,验证读出数据与表

2-11中的内容是否相符。

4.随机读出存储器单元实验操作过程

重复上面(1)-(6)6个步骤,分别从地址36H,25H,03H 3个不连续的存储器单元中读出数据,验证实验数据是否与表2-11中的内容

相符合,注意地址25H这个存储单元中没有写入过实验数据,读出的内容应是随机值。

四、结果与总结

实验结果记录:

地址写入数据读出数据结果说明

01H 80H 10000000 一致

02H 40H 01000000 一致

03H 20H 00100000 一致

04H 10H 00010000 一致