TN-100型托盘扭力天平的检定
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《计量与测试技术)2007年第34卷第j期
TN一1 00型托盘扭力天平的检定 Ver if Ication of the Salver Pattern Torsional Weighing Balance.Mode TN一100
郑志翔 (成都市计量监督检定测试所,四川成都610021) 摘要:主要介绍了对托盘扭力天平的检定方法及步骤。 关键词:托盘扭力天平;检定方法;步骤 本检定方法适用于新制的、使用中的和修理后的托 盘扭力天平的检定。 1天平的性能指标 天平的计量性能指标应符合表1的规定 表1
允差 5<e<l0 l0 20 40 20 20 10 l0 (毫克) 游丝校正 (分度) 注:①e:表示天平的分度值。 ②测空、重盘分度值时,在盘中放人测空、重盘分度 值的砝码,指针应偏离原“平衡位置”2_一4个分度。 ③在测一顺差、内外差、角差时,是将砝码偏移称盘 中心位置的三分之一处。 2天平的检定 (1)天平的外壳不得有明显的缝隙。 (2)指针与刻度板之间的间隙应(1~2)mm,指针尖 部应垂直于刻度板,并能盖住最短刻线的二分之一至四 分之三。 (3)游丝刻度盘分度线应均匀,计量数字应清晰并 标有计量单位“克”字字样,转动应自如。 (4)制动机构动作应平稳。 (5)在调整中,如果动过天平的钢带或游丝等主要 元件时,须停放24小时方可检定。 (6)检定托盘扭力天平所用的砝码为4级砝码及托 盘扭力天平最大称量的等量砝码。 (7)托盘扭力天平计量性能的检定: ①测空盘分度值 分度值以指针在刻度板上偏转的刻度为准。将 10mg砝码置于每一称盘上时,指针应偏移“平衡位置” 2__4格。关闭天平,取下10mg砝码。 ②测偏差 压上托盘扭力天平最大称量的等量砝码,测出偏差。 (如等量砝码本身相互问有误差,则要交换一次,将二次 平衡位置的平均值与空盘平衡位置相比,确定偏差)。 偏差是指空、重盘时平衡位置的误差,偏差应小于 10rag,但对运输后的允差应小于20rag。对空、重盘平衡 位置变化,以某一轻的称盘中放10rag(或者20rag)砝码 能压回或超过原来平衡位置为合格标准。 用游丝校正时,以转动一格(或二格),游丝能压回 或超过原来平衡位置为准。 ③测重盘分度值 分度值以指针在刻度板上偏转的刻度为准。将托盘 扭力天平最大称量的等量砝码置于称盘中央读出平衡位 置,放人10rag砝码置于每一称盘上时,指针应偏移“平 衡位置”2__4格。关闭天平,取下10rag砝码。 ④连续开关天平三次,测重盘变动性。 ⑤取下等量砝码,再连续开关天平三次,测空盘变动 性。 ⑥压上托盘扭力天平最大称量的等量砝码,依次测 一顺差、内外差、角差八个位置的误差。 a.一顺差:
右差
一顺差是指两等量砝码同时偏向称盘一边时,相对 于原来砝码居称盘中央时平衡位置的变化。同样也是在 轻的称盘中放人40mg砝码,能压回或超过原来平衡位 置为合格标准。用游丝校正时,以转动4格,游丝能压回 或超过原来平衡位置为准。 b.内、外差:
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内 差
外差 内、外差是指两等量砝码同时偏向称盘内侧或外侧 时,相对于原来砝码居称盘中央时平衡位置的变化。同 样也是在轻的称盘中放人20mg砝码,能压回或超过原 来平衡位置为合格标准。用游丝校正时,以转动2格,游 丝能压回或超过原来平衡位置为准。 c.角差 前 差
后 差
+—一 左前右后差————
--—一 左后右前差——— 角差是指等量砝码同时或单独偏向称盘前后或一前 一后时,相对于原来砝码居称盘中央时平衡位置的变化。 同样也是在轻的称盘中放人20mg砝码,能压回或超过 原来平衡位置为合格标准。用游丝校正时,以转动2格, 游丝能压回或超过原来平衡位置为准。 ⑦游丝误差 检定游丝全量与内部均匀五点。以误差±l格以内 为合格标准。 (8)天平的计量性能一般检定一次,当对检定可靠 性发生疑问时,对发生疑问的项II可进行复检,但示值变 动性发生疑问时,则必须复检全过程。 3检定结果的处理 (1)天平检定合格后,发给检定合格证书。 使用中的天平,如检定不合格,又无法修复到原来的 精度,则将检定结果通知使用单位,作较低精度的衡器使 用。所附砝码应载明砝码名义值和允差值。 (2)天平的检定周期根据具体使用情况确定,一般 不超过一年。 作者简介:郑志翔,男,工程师。工作单位:成都市计量监督检定测试所。 通讯地址:610021成都市东风路北二巷5号。 收稿时间:2007一叭一O4
(上接第11页) 在印制电路板的设计过程中,为了减少电子电路的 辐射发射,应当减少由于电流流过电路导线形成差膜辐 射的环面积,尤其是数字电路的环面积。由于细而长的 回导线呈现高电感,其阻抗随频率增加而增加。为了避 免引起阻抗耦合,使用铜箔板和尽可能宽的迹线。 电源布线,在考虑安全条件下,电源线尽可能地靠近 了地线,以减少差膜辐射的环面积,也有助于减少电路的 交扰。此外,避免了印制电路版导线的不连续性,迹线宽 度不要突变,导线不要突然拐角。 3测试结果与分析 对经工艺考核的产品,按照相应的超小型压力传感 器规定的条件和方法进行了性能测试,产品各项指标全 部满足要求。主要性能指标测试结果见表1。 表1 主要性能指标测试结果
该传感器投产两批用于性能测试,每批生产3只,共 计6只。经全过程工艺考核,其合格率达到100%。考 核结果表明,产品设计合理、工艺设计可行,具有可操作 性,能够满足批量生产的要求。 4结束语 超小型压力传感器(以下简称传感器)是利用单晶 硅的压阻效应原理,采用先进的半导体平面工艺、微机械 加工工艺、温度补偿及固态集成工艺制造的。产品在制 作过程中经过严格的工艺检验和环境性能试验。从社会 效益来看,该传感器的应用研究,为实现我国武器装备国 产化水平的提高奠定良好的基础。根据该传感器的特 点,使该传感器在很多应用领域得以推广,成为航空、航 天压力测量领域的更新换代产品。且该传感器体积小、 重量轻,适用与对体积和重量有特殊要求的领域。 参考文献 [1]刘恩科,朱秉SI ,罗晋生编.半导体物理学[M].国防上业出版社, 1989. [2]乍f霖,李伟,杨灿军等.Power—MEMS研究现状及展望[J].机床 与液压,2004,9:5—54. [3]刘晓为,邓琴.MEMS微电源技术[J].传感 技术,2003,22(7): 77一R0 作者简介:王香文,女,粥级工程师。工作单佗.1fl【乜集团 49研究所。通 t地址:150001哈尔滨第44号信箱。 收稿时间:2006—10—24 o o o o
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