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电⼦产品检验标准有哪些？电⼦产品检测内容与费⽤现在，随着社会的进步，市⾯上的电⼦产品是越来越多，⽐如⼿表、智能⼿机、电话、电视机等等。
这些电⼦产品在开发出来后，有些公司是没有经过检测就直接流到市场上的，其实，这是不合格的，任何公司都必须对⾃⼰研发的产品进⾏各种检验，确认是否符合标准，只有符合标准，才能推出。
那电⼦产品检验标准有哪些呢？下⾯贤集⽹⼩编来和⼤家说说电⼦产品检测内容与费⽤。
电⼦产品检验标准有哪些？主要有以下⼏个标准，⼀起来看看吧。
电⼦产品检验标准⼀：包装检查1.检查包装是否完好，⽆损坏，彩盒上是否有3C认证标志和证号（适⽤于国家强制认证电⼦产品）。
2.检查附件数量是否正确。
⽆错放，漏放，混放附件情况发⽣。
电⼦产品检验标准⼆：外观检查1.检查产品表⾯不应有划伤、凹坑、污迹、条纹，损伤，裂纹，变形，⾊差，⽑边，不平等。
2.检查产品标识上的主要参数，额定电压、额定频率、电源种类与符号，额定输⼊功率，标称压⼒等。
电⼦产品检验标准三：结构与内部布线检查1.检查产品结构稳定性，⽆装配错位，不允许有异常松动或卡死的现象。
且需摇动整机检查，机器内部不能存在异响。
2.检查产品内部导线、电源线、保险丝、功能元器件等部件必须有国家强制性认证标志。
且产品内部布线应符合GB4706.19标准规定。
电⼦产品检验标准四：功能检查检查产品的实际使⽤功能。
对照产品操作说明书，进⾏相关功能测试。
需严格按照操作说明书中的操作步骤进⾏相关检验。
电⼦产品检验标准五：防触电保护检查1.产品在按正常使⽤⽅式安装和操作，并处于任何使⽤位置时，以及在拆除任何易拆卸零件后，均应具有⾜够的防⽌触及开关带电部分的保护。
产品的⼿柄与⾃锁钮等⼈体可触及的部分应由绝缘材料。
2.检验⽅法：进⾏HI-POT测试，或⽤⾁眼观察或⽤标准试指探触每⼀可能的部位。
电⼦产品检验标准六：耐⽤性测试产品进⾏煲机测试。
4H后，产品⽆死机，INT现象，⽆过度发热，且能正常⼯作。
电子产品的性能测试与验证1.引言随着科技的不断进步和发展，电子产品在我们的日常生活中扮演着越来越重要的角色。
无论是手机、电脑、汽车还是智能家居设备，都离不开电子产品的应用。
因此，在电子产品的制造过程中，性能测试与验证成为了不可或缺的环节。
本文将探讨电子产品性能测试与验证的重要性以及常用的测试方法。
2.电子产品性能测试的意义电子产品性能测试与验证是确保产品质量和性能可靠性的关键步骤。
它通过模拟实际使用条件和环境，对产品的功能、性能参数、电磁兼容性等方面进行测试，以验证产品是否达到设计要求和标准。
通过有效的测试与验证，可以提高产品的可靠性、稳定性和安全性，提供顾客满意的使用体验，同时也可以减少产品的缺陷和故障率，降低售后维修成本。
3.常用的电子产品性能测试方法3.1 功耗测试功耗是衡量电子产品能耗的重要指标之一。
在功耗测试中，可以通过设备连接到负载模拟器，在不同的工作状态下测量产品的功耗。
通过对电子产品在不同负载下的功耗进行测试与分析，可以最大程度地优化产品的能源利用效率。
3.2 信号质量测试信号质量测试是对电子产品的通信性能进行评估的一种方法。
通过使用专业的测试设备，如无线信号发生器和频谱分析仪，可以对电子产品的无线信号强度、信噪比、频谱特征等进行测量和分析，确保产品在各种不同信号环境下的通信稳定性和质量。
3.3 温度和湿度测试温度和湿度是影响电子产品性能和可靠性的重要因素之一。
在温度和湿度测试中，可以使用温湿度测试仪对产品在不同温度和湿度条件下的性能进行验证。
通过模拟产品在极端环境下的使用情况，可以评估产品的稳定性和耐用性。
3.4 电磁兼容性测试电磁兼容性测试是对产品在电磁环境中的干扰和耐受能力进行验证的方法。
在电磁兼容性测试中，可以使用专业的电磁辐射测试仪和电磁抗扰度测试仪对产品在不同频段和功率下的抗干扰性能进行测试。
通过提前发现和解决电磁兼容性问题，可以减少产品在真实环境中的干扰和故障。
4.性能测试与验证的挑战与展望虽然性能测试与验证在电子产品的制造过程中扮演着重要的角色，但也面临一些挑战。
电子产品检验有哪些要点电子产品检验是通过观察和判断，适当时结合测量、测试对电子产品进行的符合性评价.检测项目（1）性能。
性能指产品满足使用目的所具备的技术特性，包括产品的使用性能、机械性能、理化性能、外观要求等。
（2）可靠性。
可靠性指产品在规定的时间内和规定的条件下完成工作任务的性能，包括产品的平均寿命、失效率、平均维修时间间隔等。
（3）安全性。
安全性指产品在操作、使用过程中保证安全的程度。
（4）适应性。
适应性指产品对自然环境条件表现出来的适应能力，如对温度、湿度、酸碱度等地反应。
（5）经济性。
经济性指产品的成本和维持正常工作的消耗费用等。
（6）时间性。
时间性指产品进入市场的适时性和售后及时提供技术支持和维修服务等。
寿命试验是考察产品寿命规律性的试验，是产品最后阶段的试验。
是在规定条件下，模拟产品实际工作状态和储存状态，投入一定样品进行的试验。
试验中要记录样品失效的时间，并对这些失效时间进行统计分析，以评估产品的可靠性、失效率、平均寿命等可靠性数量特征。
同时，为保证电子整机产品的生产质量，通常在装配、调试、检验完成之后，还要进行整机的通电老化。
老化试验是在一定环境前提条件下，让整机产品连续工作若干个小时，然后再检测产品的性能是否仍符合要求。
通过老化可发现产品在制造过程中存在的潜在缺陷。
老化试验包含以下因素：1、老化条件的确定：时间、温度2、静态老化和动态老化（1）静态老化：如果只接通电源、没有给产品注入信号，这种状态叫做静态老化；（2）动态老化：电子整机产品在接通电源的同时还向产品输入工作信号，这种状态就叫做动态老化。
环境试验：一种检验产品适应环境能力的方法，是评价、分析环境对产品性能影响的试验，通常在模拟产品可能遇到的各种自然条件下进行。
环境试验的内容包括机械试验、气候试验、运输试验和特殊试验等。
1、机械试验不同的电子产品，在运输和使用过程中会不同程度的受到震动、冲击、离心加速度以及碰撞、摇摆、静力符合、爆炸等机械力的作用，这种机械应力可能使电子产品内部元器件的电气参数发生变化甚至损坏。
通信电子设备的可靠性测试方法在当今信息化时代，通信电子设备已经成为人们日常生活及各行业生产中不可或缺的重要工具。
然而，在使用过程中，通信电子设备的故障和损坏也是不可避免的。
因此，为了保证通信电子设备的可靠性和稳定性，对其进行可靠性测试就显得尤为重要。
一、可靠性测试的概念及意义所谓可靠性测试，就是在通信电子设备的开发、生产、维护等各个阶段对其质量及性能进行评估、检测，以确定其在特定工作环境下的耐用程度，从而为公司商家提供良好的保障，更好地推广产品，获得消费者的信任。
可靠性测试的实施对于企业来说非常重要，有以下几个方面的意义：1. 能够帮助企业准确了解产品的寿命，并提供数据支撑，为企业提供更好的产品开发方案和生产模式。
2. 通过可靠性测试可以找出产品中存在的问题和缺陷，从而改进产品，提高产品的质量和可靠性。
3.可靠性测试有助于提高产品的生产效率，减少生产成本，增强公司的市场竞争力。
二、可靠性测试的方法可靠性测试主要分为两种方法：定量分析法和实验法。
1.定量分析法定量分析法是根据不同模型的模型假设，利用各类数学方法，包括故障数据的收集、分析、预测和模拟等方法，来预测产品的故障概率和寿命，以此为基础进行生产过程质量控制。
这种方法的优点是能够分析产品的故障模式和对产品造成影响的因素，缺点是要求有相当的数学基础和编程技能。
2.实验法实验法是通过对产品进行模拟、实验等方式，来检测其寿命和性能，以此评估其可靠性。
实验法是当前企业中比较常用的一种可靠性测试方法，其优点在于操作简单、效率高，缺点是需要一定的试验费用和试验场地。
三、可靠性测试的具体项目对于信电设备的可靠性测试，其具体项目主要包括以下几个方面：1. 应力测试应力测试是最常用的一种可靠性测试方法，通过将产品置于特定的工作状态下进行长时间运行测试，以测试其耐用能力和寿命。
具体应力测试项目包括：（1）温度应力测试：将产品置于不同温度的环境下运行，以测试产品在高温、低温环境下的使用效果；（2）湿度应力测试：将产品置于不同的湿度环境下运行，以测试产品在潮湿环境下的使用效果；（3）振动应力测试：将产品置于振动环境中运行，以测试产品在震动频率下的使用效果；（4）冲击应力测试：将产品置于冲击环境下运行，以测试产品在微震、冲击频率下的使用效果。
电子产品质量检测与认证电子产品质量检测与认证电子产品质量检测与认证1电子产品检测 (1)1.1电子产品检测简介 (1)1.2检测的概念 (1)1.3检测的过程 (1)1.4电子产品检测项目 (2)1.5外观检测 (2)1.6性能检测 (2)1.7任务描述 (3)1.8电子产品的样品试验 (4)2产品质量认证 (6)2.1基本概念 (6)2.2认证依据 (7)2.3认证种类 (7)2.4认证意义 (8)3质量体系认证 (8)3.1质量体系认证的由来 (8)3.2认证释义 (9)3.3认证特点 (10)3.4认证步骤 (11)3.5具体程序 (12)3.6系列标准 (13)1电子产品检测1.1电子产品检测简介产品检验是现代电子企业生产中必不可少的质量监控手段，主要起到对产品生产的过程控制、质量把关、判定产品的合格性等作用。
产品的检验应执行自检、互检和专职检验相结合的“三检”制度。
1.2检测的概念检验是通过观察和判断，适当时结合测量、试测对电子产品进行的符合性评价。
整机检测就是按整机技术要求规定的内容进行观察、测量、试验，并将得到的结果与规定的要求进行比较，以确定整机各项指标的合格情况。
检验的分类：整机产品的检验过程分为全检和抽检。
（1）全检，是指对所有产品100% 进行逐个检验。
根据检测结果对被检的单件产品作出合格与否的判定。
全检的主要优点是，能够最大限度地减少产品的不合格率。
（2）抽检，是从交验批中抽出部分样品进行检验，根据检验结果，判定整批产品的质量水平，从而得出该产品是否合格的结论。
1.3检测的过程检测一般可分为三个阶段：（1）装配器材的检验。
主要指元器件、零部件、外协件及材料等入库前的检测。
一般采取抽检的检验方式。
（2）过程检测。
是对生产过程中的一个或多个工序、或对半成品、成品的检验，主要包括焊接检验、单元电路板调试检验、整机组装后系统联调检验等。
过程检测一般采取全检的检验方式。
（3）电子产品的整机检测。
精选仪器设备检测项目及其检定校准在现代工业和科学领域中，仪器设备的检测和校准是重要的环节。
仪器设备检测项目必须严格按照相关标准和规定进行，并且需要依靠仪器设备的检定校准来确保检测结果的正确性和可靠性。
本文档将介绍一些精选的仪器设备检测项目及其检定校准。
一、电压表和电阻表检定校准电压表检定校准电压表是用来测量电压的仪器，主要用于电力系统、电子工程、仪表等领域。
电压表需要进行检定校准来确定其准确性和灵敏度。
电压表的检定校准一般需要考虑以下因素：1.标称值误差2.非线性误差3.稳定性误差4.精度等级5.满度6.温度影响电阻表检定校准电阻表是用来测量电阻的仪器，主要用于电力系统、电子工程、仪表等领域。
电阻表需要进行检定校准来确定其准确性和灵敏度。
电阻表的检定校准一般需要考虑以下因素：1.标称值误差2.稳定性误差3.精度等级4.满度5.温度影响二、热电偶和温度计检定校准热电偶检定校准热电偶是一种测量温度的传感器，主要适用于高温环境下的温度测量。
热电偶需要进行检定校准来确定其准确性和灵敏度。
热电偶的检定校准一般需要考虑以下因素：1.热电势误差2.温度误差3.孔径误差4.绝缘电阻误差5.抗干扰能力温度计检定校准温度计是一种测量温度的仪器，它可以分为接触式温度计和非接触式温度计两类，主要用于实验室、工厂和医学等领域。
温度计需要进行检定校准来确定其准确性和灵敏度。
温度计的检定校准一般需要考虑以下因素：1.标称值误差2.响应时间误差3.稳定性误差4.环境影响三、定量分析仪器检定校准定量分析仪器是用来定量分析物质组成和浓度的仪器，例如光谱仪、质谱仪、色谱仪等。
定量分析仪器需要进行检定校准来确定其准确性和灵敏度。
定量分析仪器的检定校准一般需要考虑以下因素：1.稳定性误差2.灵敏度误差3.精度误差4.切换误差5.漂移误差四、，各种仪器设备的检定校准内容和方法不尽相同，但都非常重要。
合格的检定校准可以确保仪器设备的准确性和可靠性，对于科学和工业领域的研究和生产起到至关重要的作用。
电子产品可靠性测试标准引言电子产品的可靠性是指产品在设定的使用条件下，能够保持正常运行的能力。
对于用户来说，可靠性是评判一个产品好坏的重要标准之一。
为了保证电子产品的可靠性，制定一套标准的测试方法是必不可少的。
本文将介绍电子产品可靠性测试的标准和相应的测试方法。
1. 电子产品可靠性测试标准概述电子产品可靠性测试标准是指为了评估产品性能和可靠性而制定的一套规范和准则。
这些标准在制定过程中充分考虑了产品的设计、制造、测试等环节，以确保产品能够在正常使用条件下长期、稳定地工作。
1.1 国际标准国际电工委员会（IEC）是制定国际标准的权威机构之一，其发布的标准被广泛应用于电子产品可靠性测试中。
常见的国际标准有：•IEC 60068：环境试验•IEC 60749：半导体器件可靠性试验方法•IEC 61000：电磁兼容性测试1.2 行业标准除了国际标准，各个行业也会针对不同类型的电子产品制定相应的可靠性测试标准。
例如，汽车行业采用了AEC-Q100等标准，电信行业采用了GR-63-CORE等标准。
这些行业标准主要考虑了产品在特定应用环境下的可靠性需求。
2. 电子产品可靠性测试方法为了确保电子产品的可靠性，需要进行一系列的测试。
常见的可靠性测试方法包括：2.1 温度试验温度试验是通过暴露产品于高温和低温环境中，评估产品在极端温度条件下的可靠性表现。
常用的温度试验方法包括：•热老化试验：将产品置于高温环境下，持续一定时间，观察产品的性能变化情况。
•低温试验：将产品置于低温环境下，观察产品的性能变化情况。
•温度循环试验：将产品在高温和低温之间循环变化，观察产品的性能变化情况。
2.2 振动试验振动试验是通过施加不同频率和振幅的振动载荷，评估产品在振动环境下的可靠性表现。
常用的振动试验方法包括：•正弦振动试验：施加单一频率和振幅的正弦振动载荷，观察产品的性能变化情况。
•随机振动试验：施加随机频率和振幅的振动载荷，模拟实际使用环境中的振动情况。
电子产品的可靠性测试一、电子产品的概念电子产品，是指采用电子信息技术制造的相关产品及其配件，有两个显著特征：一是需要电源才能工作；二是工作载体均是数字信息或者模拟信息的流转。
二、电子产品的分类1）电子元件：指在生产加工时不改变分子成分的成品。如电阻器、电容器、电感器。因为它本身不产生电子，它对电压、电流无控制和变换作用，所以又称无源器件。按分类标准，电子元件可分为11个大类。
2）电子器件：指在生产加工时改变了分子结构的成品。例如晶体管、电子管、集成电路。因为它本身能产生电子，对电压、电流有控制、变换作用（放大、开关、整流、检波、振荡和调制等），所以又称有源器件。按分类标准，电子器件可分为12个大类，可归纳为真空电子器件和半导体器件两大块。
3）电子仪器：是指检测、分析、测试电子产品性能、质量、安全的装置。大体可以概括为电子测量仪器、电子分析仪器和应用仪器三大块，有光学电子仪器、电子元件测量仪器、动态分析仪器等24种细分类。
4）电子工业专用设备：是指在电子工业生产中，为某种电子产品的某一工艺过程而专门设计制造的设备，它是根据电子产品分类来进行分类的，如集成电路专用设备、电子元件专用设备。共有十余类。
三、可靠性试验的定义为评价分析电子产品的可靠性而进行的试验，广义说，包括各种环境条件下的模拟试验和现场试验。按试验项目可分为环境试验、寿命试验和特殊试验；按试验目的可分为筛选试验、鉴定试验和验收试验；按试验性质可分为破坏性试验和非破坏性试验。
通过可靠性试验，可以确定电子产品在各种环境条件下工作或存储时的可靠性特征量，为使用、生产和设计提供有用的数据；也可以暴露产品在设计、原材料和工艺流程等方面存在的问题。通过失效分析、质量控制等一系列反馈措施，可使产品存在的问题逐步解决，提高产品可靠性。
四、可靠性验证的主要项目及检测仪器1）气候环境试验※高温存储试验仪器：烘箱或者高低温试验箱、真空烘箱该试验目的是考核在不施加电应力的情况下，高温存储对产品的影响。有严重缺陷的产品处于非平衡态，是一种不稳定态，由非平衡态向平衡态的过渡过程既是诱发有严重缺陷产品失效的过程，也是促使产品从非稳定态向稳定态的过渡过程。这种过渡一般情况下是物理化学变化，其速率遵循阿伦尼乌斯公式，随温度成指数增加．高温应力的目的是为了缩短这种变化的时间．所以该实验又可以视为一项稳定产品性能的工艺。
试验条件；一般选定一恒定的温度应力和保持时间。微电路温度应力范围为75℃至400℃，试验时间为24h以上。试验前后被试样品要在标准试验环境中，既温度为25土10℃、气压为86kPa~100kPa的环境中放置一定时间。多数的情况下，要求试验后在规定的时间内完成终点测试。
※温度循环试验仪器：高低温交变试验箱、快速温变试验箱该试验目的是考核产品承受一定温度变化速率的能力及对极端高温和极端低温环境的承受能力．是针对产品热机械性能设置的。当构成产品各部件的材料热匹配较差，或部件内应力较大时，温度循环试验可引发产品由机械结构缺陷劣化产生的失效。如漏气、内引线断裂、芯片裂纹等。
试验条件；在气体环境下进行。主要是控制产品处于高温和低温时的温度和时间及高低温状态转换的速率。试验箱内气体的流通情况、温度传感器的位置、夹具的热容量都是保证试验条件的重要因素。其控制原则是试验所要求的温度、时间和转换速率都是指被试产品，不是试验的局部环境。微电路的转换时间要求不大于1min在高温或低温状态下的保持时间要求不小于10min；低温为-55℃或-65-10℃，高温从85+10℃到300+10℃不等，
※冷热冲击试验仪器：冷热冲击试验箱（两箱、三箱）该试验目的是考核产品承受温度剧烈变化，即承受大温度变化速率的能力。试验可引发产品由机械结构缺陷劣化产生的失效．热冲击试验与温度循环试验的目的基本一致，但热冲击试验的条件比温度循环试验要严酷得多。
试验条件：被试样品是置于液体中。主要是控制样品处于高温和低温状态的温度和时间及高低温状态转换的速率。试验箱内液体的流通情况、温度传感器的位置、夹具的热容量都是保证试验条件的重要因素。其控制原则与温度循环试验一样，试验所要求的温度、时间和转换速率都是指被试样品，不是试验的局部环境。微电路的转换时间要求不大于lo，：转换时被试样品要在5min内达到规定的温度；在高温或低温状态下的停留时间要求不小于2min；高低温条件分为三档，A档为0+2-10℃~100+10-2℃，B档为一55”llc～125+10℃，c档为-655,0℃一150+10℃．A档一般用水作载体，B档和C档用过碳氟化合物作载体。作载体的物质不得含有氯和氢等腐蚀性物质或强氧化剂物质。
※耐湿试验仪器：高低温湿热试验箱该试验是以施加加速应力的方法评定微电路在潮湿和炎热条件下抗衰变的能力，是针对典型的热带气候环境设计的。微电路在潮湿和炎热条件下衰变的主要机理是由化学过程产生的腐蚀和由水汽的浸入、凝露、结冰引起微裂缝增大的物理过程。试验也考核在潮湿和炎热条件下构成微电路材料发生或加剧电解的可能性，电解会使绝缘材料电阻宰发生变化，使抗介质击穿的能力变弱。
试验条件：潮热试验有两种，即文变潮热试验和恒定潮热试验。交受潮热试验要求被试样品在相对湿度为90％～100％的范围内，用一定的时间(‘般2．5h)使温度从25℃上升到65℃，井保持3h以上；然后再在相对湿度为80％一100％的范围内，用一定的时间(—般2.5h)使温度从6s℃下降到25℃，再进行一次这样的循环后再在任意湿度的情况下将温度下降到一10c，并保持3h
以上‘再恢复到温度为25℃，相对湿度等于或大于80％的状态。这就完成了一次文变潮热的大循环，大约需要24h。一般一次耐湿试验，上述交变潮热的大循环要进行10次．试验时被试样品要施加—定的电压。试验箱内每分钟的换气量要求大于试验箱容积的5倍。被试样品应该是经受过非破坏性引线牢固性试验的样品．
※低气压试验仪器：低气压试验箱、真空烘箱该试验目的是考核产品对低气压工作环境(如高空工作环境)的适应能力。当气压减小时空气或绝缘材料的绝缘强度会减弱；易产生电晕放电、介质损耗增加、电离；气压减小使散热条件变差，会使元器件温度上升。这些因素都会使被试样品在低气压条件下丧失规定的功能，有时会产生永久性损伤。
试验条件：被试样品置于密封室内，加规定的的电压，从密封室降低气压前20min直至试验结束的一段时间内，要求样品温度保持在25+-1.0℃的范围。密封室从常压降低到规定的气压再恢复到常压，并监视这‘过程中被试样品能否正常工作，微电路被试样品所施加电压的频率在直流到20MHz的范围内，电压引出端出现电晕放电被视为失效。试验的低气压值是与海拔高度相对应的，并分若干档．如微电路低气压试验的A档气压值是58kPa，对应高度是4572m，E档气压值是1.1kPa，对应高度是30480m等等。
※盐雾试验仪器：盐雾腐蚀试验机该试验日的足以加速的方法评定元器件外露部分在盐雾、潮湿和炎热条件下抗腐蚀的能力，是针对热带海边或海上气候环境设计的．表面结构状态差的元器件在盐雾、湘湿和炎热条件下外露部分会产生腐蚀．
试验条件：盐雾试验要求被试样品上不同方位的外露部分都要在温度、湿度及接收的盐淀积速率等方面处于相同的规定条件。这一要求是通过样品在试验箱内放置的相互间的最小距离和样品的放置角度来满足的。试验温度一般要求为(35+-3)'C、在24h内盐淀积速率为2X104mg／m2~5X104mg／m2。盐淀积速率和湿度是通过产生盐雾的盐溶液的温度、浓度及流经它的气流决定的，气流中氧气和氮气比份要与空气相同。试验时间一般分为24h、48h、96h和240h
4档。
※辐照试验仪器：UV耐气候试验箱试验目的是考核微电路在高能粒子辐照环境下的工作能力。高能粒子进入微电路会使微观结构发生变化产生缺陷或产生附加电荷或电流。从而导致微电路参数退化、发生锁定、电路翻转或产生浪涌电流引起烧毁失效。辐照超过某一界限会使微电路产生永久性损伤。
试验条件：微电路的辐照试验主要有中子辐照和γ射线辐照两大类。又分总剂量辐照试验和剂量率辐照试验。剂量率辐照试验都是以脉冲的形式对披试微电路进行辐照的。在试验中要依据不同的微电路和不同的试验目的严格控制辐照的剂量串和总剂量。否则会由于辐照超过界限而损坏样品或得不到要寻求的闽值。辐照试验要有防止人体损伤的安全措施。
※特殊试验仪器：防尘试验箱、霉菌试验箱试验目的是检查产品适应特殊工作环境的能力。3）可靠性试验※高温低温寿命仪器：高低温试验箱※高温高湿寿命仪器：高温湿热试验箱（双85）※交流电容器试验电源仪器：630V400μF※高温试验房仪器：大型老化房
3）机械环境试验※恒定加速度试验仪器：离心式恒加速度试验机该试验目的是考核傲电路承受恒定加速度的能力。它可以暴露由微电路结构强度低和机械缺陷引起的失效。如芯片脱落、内引线开路、管壳变形、漏气等。
试验条件：在微电路芯片脱出方向、压紧方向和与该方向垂直的方向施加大于1mm的恒定加速度，加速度取值范围一般取为49000m／s：-1225000m／sV5000~125000z)之间．试验时微电路的壳体应刚性固定在恒定加速器上．
※机械冲击试验仪器：冲击试验台该试验目的是考核微电路承受机械冲击的能力。即考核微电路承受突然受力的能力。在装卸、运输、现场工作过程中会使微电路突然受力。如跌落、碰撞时微电路会受到突发的机械应力．这些应力可能引起微电路的芯片脱落、内引线开路、管壳变形、漏气等失效。
试验条件：试验时微电路的壳体应刚性固定在试验台基上，外引线要施加保护。对微电路的芯片脱出方向、压紧方向和与该方向垂直的方向各施加五次半正弦波的机械冲击脉冲．冲击脉冲的峰值加速度取值范围—般取为4900m／s2~294000m／s2(500g~30000g)脉冲持续时间为0.1ms—1.0ms，允许失真不大于峰值加速度的20％。
※机械振动试验仪器：振动试验台振动试验主要有四种，即扫频振动试验、振动疲劳试验。振动噪声试验和随机振动试验。目的是考核微电路在不同振动条件下的结构牢固性和电特性的稳定性．
扫频振动试验使微电路作等幅谐振动，其加速度峰值一般分为196m／s：(20e)、490m／s2(50g)和686m/s2(70g)三档．振动频率从20Hz一2000Hz范围内随时间校对数变化。振动频率从20Hz~2000Hz再回到20Hz的时间要求不小于4mm，并且在互相垂直的三个方向上(其中一个方向与芯片垂直)各进行五次。
振动疲劳试验也要使微电路作等幅谐振动，但是其振动频率是固定的，一般为几十到几百赫兹，其加速度峰值一般也分为196m／s2(20g)、490m／s2(50g)
